公差分析

公差分析
公差分析

例子1公差(Tolerancing)

1-1概论

公差分析将有系统地分析些微扰动或色差对光学设计性能的影响。公差分析的目的在于定义误差的类型及大小,并将之引入光学系统中,分析系统性能是否符合需求。Zemax内建功能强大的公差分析工具,可帮助在光学设计中建立公差值。公差分析可透过简易的设罝分析公差范围内,参数影响系统性能的严重性。进而在合理的费用下进行最容易的组装,并获得最佳的性能。

1-2公差

公差值是一个将系统性能量化的估算。公差分析可让使用者预测其设计在组装后的性能极限。设罝公差分析的设罝值时,设计者必须熟悉下述要点:

●选取合适的性能规格

●定义最低的性能容忍极限

●计算所有可能的误差来源(如:单独的组件、组件群、机械组装等等…)

●指定每一个制造和组装可允许的公差极限

1-3误差来源

误差有好几个类型须要被估算

制造公差

●不正确的曲率半径

●组件过厚或过薄

●镜片外型不正确

●曲率中心偏离机构中心

●不正确的Conic值或其它非球面参数

材料误差

●折射率准确性

●折射率同质性

●折射率分布

●阿贝数(色散)

组装公差

●组件偏离机构中心(X,Y)

●组件在Z.轴上的位置错误

●组件与光轴有倾斜

●组件定位错误

●上述系指整群的组件

周围所引起的公差

●材料的冷缩热胀(光学或机构)

●温度对折射率的影响。压力和湿度同样也会影响。

●系统遭冲击或振动锁引起的对位问题

●机械应力

剩下的设计误差

1-4设罝公差

公差分析有几个步骤须设罝:

●定义使用在公差标准的」绩效函数」:如RMS光斑大小,RMS波前误差,MTF需求,

使用者自定的绩效函数,瞄准…等

●定义允许的系统性能偏离值

●规定公差起始值让制造可轻易达到要求。ZEMAX默认的公差通常是不错的起始点。

●补偿群常被使用在减低公差上。通常最少会有一组补偿群,而这一般都是在背焦。

●公差设罝可用来预测性能的影响

●公差分析有三种分析方法:

?灵敏度法

?反灵敏度法

?蒙地卡罗法

●公差分析需要对误差值的来源范围作设罝。

1-5公差操作数

公差分析会运用下面的操作数:

●TRAD, TCUR, TFRN:所有描述表面焦度的误差

●TTHI:描述组件或空间厚度的误差

●TCON;描述Conic常数的误差

●TSDX, TSDY:表面离轴的误差(镜片长度单位)

●TSTX, TSTY:表面倾斜的误差(角度)

●TIRX, TIRY:表面倾斜的误差(镜片长度单位)

●TIRR:表面不平整度的误差(用球差和像散)

●TEXI, TEZI:表面不平整度的误差(用Zernike条纹或标准多项式)

●TIND, TABB:折射率,阿贝数的误差

●TPAR, TEDV:参数或外加资料值的误差

●TEDX, TEDY:组件的机构离轴

●TETX, TETY, TETZ:组件的机构倾斜

●TUDX, TUDY, TUTX, TUTY, TUTZ:组件的离轴或倾斜由使用者自订的座标定义

增加可用于非序列性组件的新参数

1-6双透镜的公差分析

载入Samples\Tutorial folder中的「Tutorial tolerance.zmx」文件。这是一个近轴的双透镜设计。我们将建立本系统的公差分析。

1-7制造与组装公差

在开始本设计的公差分析之前,我们需要定义所有可能的误差来源。首先从ZEMAX 主选单上点击Editors->Tolerance Data,即可开启Tolerance Data Editor(TDE)。然后在TDE 视窗中的主选单中,点击Tools->Default Tolerance 开启Default Tolerance 对话框。直接点击「OK」产生默认的公差操作数。如此即是同意默认的公差容忍度。此外背焦的距离是默认的补偿部份。

1-8 误差描述

Tolerance Data Editor 现在包括有41个项目。第一个操作数「COMP 」定义表面4的厚

度做补偿部份。而「TW A V 」这个操作数,系指针对任何条纹误差的测试波长。其它的操作数分别用于定义下列误差:

●四个面的曲率半径

●四个面的面不平整度

●两个组件和一个间隙的厚度误差

●两个玻璃的折射率或阿贝数的误差

●四个面皆有两个方向的离轴和倾斜。针对球面,公差分析仅有楔形或离轴

●两个组件皆有两个方向的离轴和倾斜

如此便包括所有设计上可能的制造和组装的公差

1-9灵敏度分析

灵敏度分析定义各个缺陷对系统性能的影响。这些影响经由统计上的总和以估算出系统

性能。藉由给定公差的范围,以了解那些会造成系统性能的改变?

一系列独立的公差估计:

●半径的改变

●厚度的改变

●倾斜或离轴的改变

每一个操作数,补偿部份会修正标准值至最小。我们皆认同所有的默认操作数除了一个参数,两个组件间的距离。虽然设罝两者的间距为「0」,其是以顶点为量测的基准,公差的范围最小为「0」最大为「0.2」。如此第二面将不会进入第一面。

1-10初步公差分析

在默认公差范围完成灵敏度分析后开始公差分析。在开启的文件中减低RMS光斑的大小将会使缺陷突显。开始公差分析需点击主选单中的Tools>>Tolerancing(或Ctrl+T),此举将会开启公差分析的对话框。请务必确认「Comp:Paraxial Focus」已选取,此举利用近轴焦点的修正来重新定义成像面的位置。

使用RMS光斑半径做为公差分析的标准。公差分析的方式选灵敏度法。

如果有需要的话,请确认「 Show compensators」已勾选。将「Monte Carlo」的选项设为0。如此即可点击OK。

1-11公差分析结果

运算完成后,「文本阅读器」将会列出公差分析的结果。第一部份描述所有的公差操作数。接下来列出使用在分析的公差标准值。这是依据每个操作数独立公差分析的结果,包括参数的改变量,标准值的结果,标准值改变量与微小值的关系,焦点补偿的改变量。

1-12统计分析

下列灵敏度分析是统计上的资讯:

微小的RMS 光斑半径:

●基本的标准值

估计改变量:

●每个操作数的基准为

●每个操作数利用平方或平均将最大和最小的误差值

●取其均方根(应用在最严苛的条件)

估算RMS光斑半径:

●加总微小值和估算改变量(定义有效的范围在系统性能上)

可见默认公差的范围太宽松

1-13反灵敏度分析

反灵敏度分析常用在限制公差参数的范围以控制系统性能最大的降幅。允许的误差皆由误差来源分裂出来的。

反灵敏度的方法:

●反最大值的模式:旨在单独地修正参数的范围使得最后的标准值所对应的参数近乎极

限。

●反增加量的模式:旨在单独地修正参数的范围使得最后的标准值改变量符合参数的范

围几乎等于增加量。

在反最大值的模式,有提供使用者自定极限的方法。

●极限定义了每个公差分析参数的最大标准值。

●极限值必须较一般条件严苛。

分析性能可藉由最小参数值来定义。

●比较绩效函数到极限

?假使低于最大值,移动范围的极限内对组件不会有影响

?假使超过最大标准,将会缩小公差范围直到符合极限值

●运行某些在最大参数的数值

●参数的范围一般不会是对称的

运行的过程将会不断的重复直到评价系统的绩效函数降至预期的程度。反增加量的模式也是近似的,除了标准最大增加量是自订的而非求极限。

1-14个别分析视场角/组态

假使分离视场角/组态的功能未选取,反灵敏度分析将会平均所有的视场角及组态。

●某些视场角或组态也许对某些扰动有明显的冲击

●关于这些资讯在默认的灵敏度分析条件下可能会隐藏在平均值内

假使选取分离视场角/组态的功能,在每个视场角每个组态都是独立计算。每个视场角皆须符合反最大值模式的极限值。

●公差分析的参数范围皆须修正到每个视场角每个组态都在极限值内。

在反增加值模式,每个公差参数范围皆须修正至每个视场角每个组态的值降低至不超过增加量。最差的视场角的位置即可定义参数的范围。

1-15限制公差范围

举个例子来说,假设其需求为 RMS 光斑大小不能较正常的差150%。求得正常的绩效函数值,请开启Tolerance对话框(Ctrl+T)并点击其中的"?"标签。而mode则选 Inverse的类型。正常的绩效函数值为 3.5microns(0.0035 mm)。这表示我们设罝的绩效函数必须小于5.25microns。我们需要展开这些误差在所有可能的因素。假使任何一个参数所造成的误差多于对系统的贡献,则其整体效应就会是明显的不好。

1-16设罝限制条件

假设没有参数可以让标准值降低超过0.5microns,或产生一绩效函数超过4.0microns。响应范围:

●假设所有的参数有相同的贡献且平均分配误差由全部的参数

●假设某些统计相依且平均分配误差由均方根的参数,真实的结果在中间的部份

在对话框中的」?」。在# Monte Carlo Runs键入20。这是产生20条由随机数打到镜片上。在Save Monte Carlo Runs键入20将会在计算后保存。点击OK开始运行反向公差分析

1-17修正公差范围

在反灵敏度里,参数的范围将会被修正,假如需要的话,所以就是最大标准值。检查统计摘要。计算的标准值超过期望的最大值。整个焦点的位置需要0.66mm。

统计公差分析方法概述

统计公差分析方法概述(2012-10-23 19:45:32) 分类:公差设计统计六标准差 统计公差分析方法概述 一.引言 公差设计问题可以分为两类:一类是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸和公差,确定装配后需要保证的封闭环公差;另一类是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸和公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法和统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环和组成环公差的分析方法称为统计公差法.本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二.Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC),也叫最差分析法,即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop:E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D(Max.)=(20+0.3)+(15+0.25)+(10+0.15)=45.7,出现在A、B、C偏上限之状况 D(Min.)=(20-0.3)+(15-0.25)+(10-0.2)=44.3,出现在A,B、C偏下限之状况 45±0.7适合拿来作设计吗? Worst Case Analysis缺陷: ?设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难; ?公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。

以上例Part A +Part B+ Part C,假设A、B、C三个部材,相对于公差规格都有3σ的制程能力水平,则每个部材的不良机率为1-0.9973=0.0027;在组装完毕后所有零件都有缺陷的机率为:0.0027^3=0.000000019683。这表明几个或者多个零件在装配时,同一部件的各组成环,恰好都是接近极限尺寸的情况非常罕见。 三.统计公差分析法 ?由制造观点来看,零件尺寸之误差来自于制程之变异,此变异往往呈现统计分布的型态,因此设计的公差规格常被视为统计型态。 ?统计公差方法的思想是考虑零件在机械加工过程中尺寸误差的实际分布,运用概率统计理论进行公差分析和计算,不要求装配过程中100 %的成功率(零件的100 %互换) ,要求在保证一定装配成功率的前提下,适当放大组成环的公差,降低零件(组成环) 加工精度,从而减小制造和生产成本。 ?在多群数据的线性叠加运算中,可以进行叠加的是『变异』值。 四.方和根法 计算公式(平方相加开根号) 假设每个尺寸的Ppk 指标是1.33并且制程是在中心

公差分析

例子1公差(Tolerancing) 1-1概论 公差分析将有系统地分析些微扰动或色差对光学设计性能的影响。公差分析的目的在于定义误差的类型及大小,并将之引入光学系统中,分析系统性能是否符合需求。Zemax内建功能强大的公差分析工具,可帮助在光学设计中建立公差值。公差分析可透过简易的设罝分析公差范围内,参数影响系统性能的严重性。进而在合理的费用下进行最容易的组装,并获得最佳的性能。 1-2公差 公差值是一个将系统性能量化的估算。公差分析可让使用者预测其设计在组装后的性能极限。设罝公差分析的设罝值时,设计者必须熟悉下述要点: ●选取合适的性能规格 ●定义最低的性能容忍极限 ●计算所有可能的误差来源(如:单独的组件、组件群、机械组装等等…) ●指定每一个制造和组装可允许的公差极限 1-3误差来源 误差有好几个类型须要被估算 制造公差 ●不正确的曲率半径 ●组件过厚或过薄 ●镜片外型不正确 ●曲率中心偏离机构中心

●不正确的Conic值或其它非球面参数 材料误差 ●折射率准确性 ●折射率同质性 ●折射率分布 ●阿贝数(色散) 组装公差 ●组件偏离机构中心(X,Y) ●组件在Z.轴上的位置错误 ●组件与光轴有倾斜 ●组件定位错误 ●上述系指整群的组件 周围所引起的公差 ●材料的冷缩热胀(光学或机构) ●温度对折射率的影响。压力和湿度同样也会影响。 ●系统遭冲击或振动锁引起的对位问题 ●机械应力 剩下的设计误差 1-4设罝公差 公差分析有几个步骤须设罝: ●定义使用在公差标准的」绩效函数」:如RMS光斑大小,RMS波前误差,MTF需求, 使用者自定的绩效函数,瞄准…等 ●定义允许的系统性能偏离值 ●规定公差起始值让制造可轻易达到要求。ZEMAX默认的公差通常是不错的起始点。 ●补偿群常被使用在减低公差上。通常最少会有一组补偿群,而这一般都是在背焦。 ●公差设罝可用来预测性能的影响 ●公差分析有三种分析方法: ?灵敏度法 ?反灵敏度法

codev公差分析

问题背景 对于任何需要制造的系统,公差分析都是一个必需的复杂的互动过程。包括:?确定制造和装配公差目标?确定制造和调校补偿器,以及补偿方案 成功公差分析需要能够精确预测单个公差的灵敏度和整个系统的实际加工性能,包括补偿器的影响。当使用了合适的工具,公差分析能够降低:?非重复成本如设计时间,定义装调过程?重复性成本如系统制造,装配和调校因此公差分析可以帮助降低成本。 显微物镜案例?数值孔径0.65?放大率40倍?筒长180mm?视场直径0.5mm?可见光波长(d,F,C)?目标分辨率450线对每毫米 系统结构图

光扇图和场曲图 轴上视场和全视场点列图 MTF曲线和数值

从上面的图形可以看出,标称系统受限于:?轴向色差?横向色差?色球差?场曲 预期的公差分配目标:?限制450线对多色MTF下降■0.7视场内最大下降0.1■全视场最大下降0.15 公差方案?以默认TOR分析起始,确立基准性能并找出问题所在■默认反灵敏度模式计算引起相同性能下降的每个公差值?根据中间结果,执行额外分析■添加或删除被偿器■调整公差极限■固定单个公差到指定值■修改公差,符合光机模型 操作步骤1)运行默认公差,确定问题所在 轴上视场TOR结果

2)尝试替代偏心补偿偏心由表面8..9构成的透镜, 轴上视场TOR结果 3)确定可以修改的公差极限对于回滚和元件偏心,优质的制造设备可以保证±0.0065mm的总体指示偏差

对于此显微物镜,我们允许元件偏心和胶合元件回滚公差比默认值更严格一些,同样允许0.25环的不规则度。 保持套样板公差,最后一个透镜的厚度和偏心公差。此时,公差设置已经在轴上和全视场达到目标要求,但是在0.7视场依然不达标。

公差分析

美国戴克伊公司(Tec-Ease, Inc.) 戴克伊35年,美国著名GD&T培训机构,拥有美国强大的GD&T专家团队,是美国ASME标准列出的GD&T 培训机构。总部在美国纽约州罗切斯特,在加拿大,英国,巴西和中国设有分支机构。为北美和世界数千家企业包括500强,提供GD&T系列培训和咨询。戴克伊颁发的培训证书在全球被广泛认可。 戴克伊有10位ASME-Y14系列标准委员,其中ASME-Y14.5标准有4位,Y14.43和Y14.8标准6位,委员是标准作者。戴克伊创始人Don Day是Y14.8标准主席,戴克伊首席咨询师Frank Bakos是Y14系列 GD&T标准主席,是1983年ASME-Y14.5标准创始人之一,戴克伊35年深度参与制定标准,戴克伊是标准创始人和标准作者,为您提供世界一流培训。 作者介绍:龙东飞 (Mike Long) 美国戴克伊公司亚洲区代表,美国ASME-Y14.43 GD&T检具设计标准(标准委员),Y14.8 GD&T铸造、锻造和注塑标准(标准支持委员),Y14.48 GD&T方向符号标准(标准委员),Y14.5 GD&T标准(参与制定标准),中国国标SAC/TC240产品几何技术规范ISO-GPS(标准委员),ASME认证GDTP高级专家(国内获证第一人), 北美15年,美国堪萨斯州立大学机械工程硕士和MBA(完成GD&T硕士课程),美国国家航空研究院(研究助理),美国高斯印刷机系统公司(设计工程师),北美通用汽车和德尔福汽车公司(北美10年设计和GD&T高级工程师),美国德尔福认证GD&T专家(美国本土专家),美国ASME-Y14系列GD&T标准首位华人委员,国内唯一美国ASME-Y14系列GD&T标准委员,为亚洲600多家包括许多世界500强企业培训和咨询,有5本GD&T著作。 内容简介: GD&T的GD定义完美的零件,只能从几何理论上能满足装配功能要求,GD&T 的GT定义几何理论上允许偏差的范围,具体说就是公差值给多少,才能满 足实际功能要求,这就需要做尺寸链公差叠加分析,决定在一个零件或一个 装配,两个形体之间理论上最大或最小距离,也就是从几何形状的角度,保 证零件能装配或满足间距要求。尺寸链公差叠加分析是一个数学方法,用来 评估零件或装配件的尺寸和几何公差,来确保实现形状,装配和功能要求, 确保产品设计良好,实现稳健性设计,获得最好的成本效率设计,研究一个 装配尺寸关系决定零件公差,决定分配零件或装配允许的制造公差。

统计公差分析方法概述

统计公差分析方法概述(总5 页) -CAL-FENGHAI.-(YICAI)-Company One1 -CAL-本页仅作为文档封面,使用请直接删除

统计公差分析方法概述(2012-10-23 19:45:32) 分类:公差设计统计六标准差 统计公差分析方法概述 一.引言 公差设计问题可以分为两类:一类是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸和公差,确定装配后需要保证的封闭环公差;另一类是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸和公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法和统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环和组成环公差的分析方法称为统计公差法.本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二.Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC),也叫最差分析法,即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop:E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D(Max.)=(20++(15++(10+=,出现在A、B、C偏上限之状况 D(Min.)=++=,出现在A,B、C偏下限之状况 45±适合拿来作设计吗 Worst Case Analysis缺陷: 设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难; 公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。

统计公差分析方法概述

统计公差分析方法概述 一、引言 公差设计问题可以分为两类:一类就是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸与公差,确定装配后需要保证的封闭环公差;另一类就是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸与公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法与统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环与组成环公差的分析方法称为统计公差法、本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二、Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC),也叫最差分析法,即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop:E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D(Max、)=(20+0、3)+(15+0、25)+(10+0、15)=45、7,出现在A、B、C偏上限之状况 D(Min、)=(20-0、3)+(15-0、25)+(10-0、2)=44、3,出现在A,B、C偏下限之状况 45±0、7适合拿来作设计不? Worst Case Analysis缺陷: ?设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难; ?公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。 以上例Part A +Part B+ Part C,假设A、B、C三个部材,相对于公差规格都有3σ的制程能力水平,则每个部材的不良机率为1-0、9973=0、0027;在组装完毕后所有零件都有缺陷的机率为:0、0027^3=0、3。这表明几个或者多个零件在装配时,同一部件的各组成环,恰好都就是接近极限尺寸的情况非常罕见。 三、统计公差分析法 ?由制造观点来瞧,零件尺寸之误差来自于制程之变异,此变异往往呈现统计分布的型态,因此设计的公差规格常被视为统计型态。?统计公差方法的思想就是考虑零件在机械加工过程中尺寸误差的实际分布,运用概率统计理论进行公差分析与计算,不要求装配过程中100 %的成功率(零件的100 %互换) ,要求在保证一定装配成功率的前提下,适当放大组成环的公差,降低零件(组成环) 加工精度,从而减小制造与生产成本。 ?在多群数据的线性叠加运算中,可以进行叠加的就是『变异』值。

PROE中公差分析参考指南

Parametric Technology Corporation Pro/ENGINEER? Wildfire? 4.0 Tolerance Analysis Extension Powered by CETOL?Technology 参考指南

? 2008 Parametric Technology Corporation 版权所有。保留所有权利。 Parametric Technology Corporation 及其子公司 (通称“PTC”) 的用户和培训文档受美国和其它国家/地区版权法的保护,并受许可协议的约束,复制、公开发行和使用此文档受到严格限制。PTC 在此同意,依据适用软件的许可协议规定,拥有软件使用权的用户允许以印刷形式复制本文档 (如果软件媒介中提供),并且仅限内部/个人使用。任何复印件都应包括 PTC 版权通告和由 PTC 提供的其它专利通告。未经 PTC 明确授权许可,不得复制培训材料。未经 PTC 事先书面许可,本文档不得公开、转让、修改或简化为任何形式 (包括电子媒介),也不允许以任何手段传播、公开发行或出于此目的进行复制。 此处所描述的信息仅作为一般信息提供,如有更改恕不另行通知,并且不能将其解释为 PTC 的担保或承诺。本文档中如有错误或不确切之处,PTC 概不负责。 本文档中所述软件在有书面许可协议的条件下提供,其中包括重要的商业秘密和专利信息,并受美国和其它国家/地区版权法的保护。未经 PTC 事先书面许可,本软件不能以任何形式在任何媒介中复制或分发、公开至第三方,或者以任何软件许可证协议所不允许的方式使用。 未经授权使用软件或其文档,将会引起民事赔偿和刑事诉讼。 若需了解重要的版权、商标、专利和授权信息,请考虑如下选项:针对 Windchill 产品,请选择产品页面底部的“关于Windchill”。针对 InterComm 产品,请在“帮助”主页上单击 2007 年版权信息链接。其他产品,则单击产品主菜单上的“帮助”>“关于”。 美国政府有限权利说明 依据FAR 12.212(a)-(b) (1995年10月) 或 DFARS 227.7202-1(a) 和227.7202-3(a)(1995年6月),本文档以及其中所述的软件属于商用计算机文档和软件,只在有限商业许可下提供给政府。对于上述条款规定日期之前政府获得的文档资料和软件,其使用、复制或公开受 DFARS 252.227-7013(1988 年 10 月)中“技术资料和计算机软件条款权利”(Rights in Technical Data and Computer Software Clause) 下的 (c)(1)(ii) 子条款或 FAR 52.227-19(c)(1)-(2)(1987 年 6 月) 中“商用计算机软件限制权 利”(Commercial Computer Software-Restricted Rights) 所适用限制条件的约束。 01012008 Parametric Technology Corporation, 140 Kendrick Street, Needham, MA 02494 USA

公差分析基本知识

公差分析基本知识 This manuscript was revised on November 28, 2020

公差分析 一、误差与公差 二、尺寸链 三、形位公差及公差原则 一、误差与公差 (一)误差与公差的基本概念 1. 误差 误差——指零件加工后的实际几何参数相对于理想几何参数之差。 (1)零件的几何参数误差分为尺寸误差、形状误差、位置误差及表面粗糙度。 尺寸误差——指零件加工后的实际尺寸相对于理想尺寸之差,如直径误差、孔径误差、长度误差。 形状误差(宏观几何形状误差)——指零件加工后的实际表面形状相对于理想形状的差值,如孔、轴横截面的理想形状是正圆形,加工后实际形状为椭圆形等。 相对位置误差——指零件加工后的表面、轴线或对称面之间的实际相互位置相对于理想位置的差值,如两个面之间的垂直度,阶梯轴的同轴度等。 表面粗糙度(微观几何形状误差)——指零件加工后的表面上留下的较小间距和微笑谷峰所形成的不平度。 2. 公差

公差——指零件在设计时规定尺寸变动范围,在加工时只要控制零件的误差在公差范围内,就能保证零件的互换性。因此,建立各种几何公差标准是实现对零件误差的控制和保证互换性的基础。 (二)误差与公差的关系 由图1 (三)公差术语及示例 图2 以图2为例: 基本尺寸——零件设计中,根据性能和工艺要求,通过必要的计算和实验确定的尺寸,又称名义尺寸,图中销轴的直径基本尺寸为Φ20,长度基本尺寸为40。 实际尺寸——实际测量的尺寸。 极限尺寸——允许零件实际尺寸变化的两个极限值。两个极限值中大的是最大极限尺寸,小的是最小极限尺寸。 尺寸偏差——某一尺寸(实际尺寸,极限尺寸)减去基本尺寸所得到的代数差。 上偏差=最大极限尺寸-基本尺寸,用代号(ES)(孔)和es(轴) 下偏差=最小极限尺寸-基本尺寸,用代号(ES)(孔)和es(轴) 尺寸公差——允许尺寸的变动量

公差分析软件CETOL-6-sigma实例

使用公差分析软件CETOL 6 σ进行公差分析的实例 ----汽车锁具公差分析案例 针对汽车锁具Pro/E模型,采用Pro/E完全集成环境下的公差分析软件CETOL 6 σ,来做公差模型的创建,基于CETOL提供的系统矩(SOTA法)算法,做统计和极限二种情况下的公差分析。 一.锁具质量关心焦点 作为汽车座椅锁具,其质量的好坏,关系到汽车驾乘人员乘坐的舒适性和安全性。锁具在开锁时,希望能够充分打开,不要与其他零部件之间产生干涉,即顺利打开。锁具在闭锁时,能够经受得住外力的冲击,不至于产生突然脱开现象。在锁具的任何状态,都要求锁具动作部件能够与电器设备很好地连接,在电控装配的驱动下,锁具能够准确地运转到指定的位置。根据设计功能要求,把项目细分到具体的状态上,在运动部件的具体指定位置,做功能要求的详细设定。 1)一个关键质量要求就是爪轮在打开时要远离侧板的开口槽,这是为了确保爪轮不会与锺棒产生干涉。如图1所示。 test

2)锁轮上的孔,在完成机械装配后,需要从这个孔里穿电缆线,来接通电源。根据座椅的设计要求,为了保证电缆线能与

机械设备能可靠地连接,电缆线过孔必须在位于基准孔名义值的正负2个mm之间。如果尺寸超过了上极限,锁具就会出现卡死现象,如果超过了下极限,电缆线就不能很好地与电器设置连接,导致零件废弃和成本增加。 图 2 闭锁时的测量尺寸 另外一个关键尺寸就接触力位置,这个接触力与作用方向一致,是在爪轮和中轮之间,接触力矢量的位置决定了是否有足

够的闭锁运动来保持锁具在冲压载荷的情况仍能正常闭锁,加工和装配偏差都有可能这些关键质量要求产生失效,过紧的公差会增加成本也有可能导致产品无法加工。为了生产高质量低成本的产品,有必要在设计阶段就能理解所有这些问题。 二. 创建公差分析目标 公差分析的前提首先要确定装配性能尺寸,对于锁具装配体,需要确定具体的装配状态。实施步骤如下: 1) 启动CETOL软件的分析器。 a.启动Pro/E。 b.启动CETOL,路径:开始/程序/sigmetrix/CETOL 6 sigma v8.2 for Pro ENGINEER/CETOL v8.2 Modeler。 c.打开锁具装配体。 d. 配置CETOL与Pro/E同步 2) 打开CETOL选项菜单。 a.从工具-选项栏目选择,在偏差标签栏设置 ,如图3 b. 在图表和高亮显示设置栏,设置如下:如图4

公差分析的方法与比较

公差分析的方法與比較 PSBU-RDD4-MDD 工程師朱誠璞 alex.chu@https://www.360docs.net/doc/0712464269.html, 2002/11/14 PM 04:32 version 1.1 A.公差分析的傳統方法( I)----Worst Case 法 首先,必須解釋在公差分析時所用的兩種方法: 公差合成與公差分配. 而在以下兩個例子中用來運算公差範圍的數學方法為 Worst Case 法,這是傳統的做法 : 1.公差的合成(使用Worst Case 法運算) Part A 與 Part B 必須接合在一起,合成後的尺寸與公差範圍會是如何呢? 在這個例子中,可以得到一個很直觀的結果------當Part A 與 Part B相接後所得到的 Part A+B 長度和公差範圍都是Part A + Part B 的結果. 也就是說:合成後的公差範圍會包括到每個零件的最極端尺寸,無論每個零件的尺寸在其公差範圍內如何變化,都會 100% 落入合成後的公差範圍內. 聽起來相當合理,不是嗎? 稍後會解釋這樣做的缺點.

2.公差的分配(使用Worst Case 法運算) 現在 Part A+B 必須放入 Part C 的開口處,而開口的尺寸與公差如圖所示,那麼 Part A 與 B 的分別的公差範圍又應該是多少呢? 我們以最簡單的方法 : 平均分配給其中所有的零件,所以 Part A 與 B 各得50 %,當然也可以按照其他的比例來調整,並沒有絕對的優劣之分. B. Worst Case法的問題 1.控制公差範圍難以被控制在設計的需求範圍中. 由於 Worst Case 法合成時要求100 % 的可以容許單一零件的公差變化,會造成合成後的公差範圍變的較大,對設計者而言,是非常容易造成零件組裝後相互干涉或間隙過大. 在以上的例子中,如果要將 Part A+B 放入 Part C 時,會發生過緊干涉的情況,因為 Part C 最窄只有 10.75 mm,但是 Part A+B 卻可能有 11.50 mm的情況則有 0.75 mm 的干涉;另一方面,當 Part C 最寬11.25 mm,而 Part A+B 為10.5 mm 的最小值時,又有 0.75 mm的間隙產生.由此可知公差範圍過大所造 成的難以控制的缺點. 2.決定公差範圍的過程缺乏客觀及合邏輯的程序 以此類方式決定的公差範圍尺寸,必須仰賴設計者的經驗,且必須經過多次的試作才可真正決定;若生產條件改變:如更換生產廠商,模具修改…等,皆有可能使原訂之公差範圍無法達成,而被迫放寬或產生大量不良品的損失.

公差分析技术在特种车设计与制造中的应用

公差分析技术在特种车设计与制造中的应用 发表时间:2019-01-25T14:20:25.223Z 来源:《建筑细部》2018年第14期作者:高一恺 [导读] 随着科技的发展和消费者对产品要求的提高,企业亟需在产品制造、装配、使用等阶段减少成本,减低研发周期以提高自身竞争力。 扬州伏尔坎机械制造有限公司江苏扬州 225000 摘要:随着我国综合实力的不断提升,我国的生产技术水平有了较大的改善,在这样的现实条件之下,特种车设计实现了快速的发展,在制造以及设计特种车的过程之中,大部分的工作人员会采取公差分析技术来积极的缩短开发周期,在保障车辆生产质量的前提之上,更好的实现各类生产资源的优化配置和利用,文章以公差分析技术为切入点,深入分析该技术在特种车设计和制造之中的应用情况。 关键词:公差分析;特种车设计;制造 1 前言 随着科技的发展和消费者对产品要求的提高,企业亟需在产品制造、装配、使用等阶段减少成本,减低研发周期以提高自身竞争力。零件的制造偏差、装配偏差和工况偏差直接影响装配体关键尺寸的分布,从而影响产品使用性能。因此,在产品开发阶段进行公差分析,研究制造、装配和工况偏差对装配体关键尺寸的影响,有助于提高产品质量,降低生产成本。在过去的几十年中有大量的学者投身于公差分析的研究中,且已取得大量成果。提出了一种在CAD支撑环境下的制造误差建模方法,用齐次坐标变换来描述制造偏差的传递;利用小位移旋量的原理,对三维公差建模方法进行了研究;在公差分析时综合考虑了零件的尺寸、形位公差以及零件配合相对位置,研究了零件偏差累积对产品性能的影响。 2 公差分析技术 公差分析技术以不同零部件的尺寸为切入点,通过工差计算的形式来积极的分析各类零部件在装配之后闭环公差验证的不同技术手段,因此相关的技术操作者以及设计工作人员在应用该技术时,直接将其称之为工程的验证技术。在对工程分析结果进行分析时,如果最终所计算出来的结果不符合设计的时间要求和标准,那么就必须要对尺寸链环以及各零部件的工差进行不断的优化和升级。从目前来看,公差分析技术在使用时主要以三种不同的类型为主,具体包括极值法方和根法以及蒙特卡洛模拟法,其中蒙特卡洛模拟法需要以前期的实验方案制定为切入点和核心,通过对随机变量的深入分析和研究来了解最终的期望值,积极地凸显不同变量的数字特征和优势。 相关的操作工作人员在实践时提出,这种方法能够有效的对非线性的装配函数尺寸工差进行后续的分析和处理,另外对于车辆制造以及设计领域来说,大部分主要以整车四轮定位为切入点,积极的对不同的整车外观间隙进行分析和研究,每一个方法都需要耗费大量的时间和精力,技术人员需要以大量系统的样本采集为切入点,通过对前期具体装备的深入分析来了解后期的装配函数情况,最终的函数方程分量会产生一定的变化,因此需要进行重新的运算和分析。 从目前来看,大部分的分析软件都在实践之中获得了广泛的应用,方和根法则需要在保障闭环公差以及各组成环公差服从于正态分布的基础之上,深入的研究项同线性状态函数之间的相关性,该方法能够以更为贴切的计算手段保障实际的分析结果符合生产装配工差。其中工作人员需要通过对特种车车身公差进行分析,了解不同计算方法的应用要求,保证该方法能够真正的体现一定的可操作性和实用性。 但是在实际生产的过程之中,零件极有可能会受到组装的影响,其中焊接方法和工装磨损以及装配手法会导致实际的数值产生较大的变化,同时最终所获取的计算结果不符合实际的工作要求。如果采取极值法来进行工程分析,那么就需要假设各个零部件的尺寸都为极限值,但是实际上这种现象的产生概率比较低,大部分的装备函数主要以非线性的为主,大部分的操作环节相对比较简单,同时计算量较小,因此可以以现有的汽车零部件计算为切入点,了解各环节之间的相关性,充分的发挥不同尺寸公差分析的作用。 3 公差分析技术在特种车设计与制造中的应用 特种车设计与制造分析: 如果站在宏观的角度对特种车的制造以及设计进行分析,那么不管是重量还是外扩的尺寸都极大的超过了普通车辆的设计极限值,同时该车辆的用途相对比较特殊,设计人员需要充分的考虑各种影响因素,结合制造以及设计的实质要求积极的采取有效的设计手段和技术,不断提高特种车的制动性能和稳定性。设计工作者需要充分的考虑在不同行驶状态之下,车辆的真实表现,保障其能够在坡道行驶时不产生倾翻和滑动,同时还能够及时的制动。为了有效的实现这一目的,工作人员需要保证前期设计的整体性和全面性,结合车辆总体结构设计的实质要求,积极的分析稳定性提升的具体情况。其次,在车辆设计时,工作人员需要做好前期的四轮定位,保证特种车能够在稳定直线行驶的过程之中,尽量的避免转向机件磨损,保证车辆机械的完成特殊的作业任务和运输任务。 另外在质量制造时必须要落实好前期的车辆装配工作,从整体上促进性能作用的发挥,在前期制造以及设计环节,工作人员需要以公差分析技术为切入点,积极的结合开发设计过程之中的各类现实问题继续研究。为了能够保障零部件以及工装工差分配的合理性,实现各类环节的优化升级,管理部门以及供应商需要在保障产品尺寸质量系统管理优化的基础之上,不断的加强不同生产制造环节之间的联系,有效的解决零部件工差匹配的问题,从而更好的将特种车的设计和制造成本控制在最低的范围之内。另外在前期整体设计阶段之中,工作人员需要以公差分析技术为依据,明确前期四轮定位的参数尺寸公差值,并为该环节的工作提供坚实的技术保障和依据,促进整体设计质量和水平的提升,尽量避免后期生产制造所存在的各类缺陷和不足。 4 在特种车制造中的应用 在特种车制造阶段,工作人员可以结合公差分析技术了解装配尺寸公差的数据要求,积极的开展不同环节的分析工作,从整体上促进车辆装配质量的提升。对于不同类型的特种车型装配来说,实际的装配极易出现各类问题,技术操作者在对各类缺陷进行分析以及研究时,首先需要了解不同的状态分布情况,采取方和根法来进行尺寸公差分析,只有这样才能够从整体上促进特种车设计质量和水平的提升。 5 在特种车设计中的应用 在前期车辆整体设计的过程中,工作人员需要结合特种车设计的实质要求,明确和前期四轮定位的实质情况。一般来说,前期的四轮定位会受到车身自身稳定性的影响,同时实际的安装会存在许多的偏差,不管是零部件制造偏差还是后期的装配偏差都会导致最终的参数

公差分析

公差分析(Tolerance Analysis) 與 蒙地卡羅模擬(Monte Carlo Simulation) 註:本課程感謝李艮生(Allen Lee)博士提供大部份材料與指導 I. Cp與Cpk的概念 製程能力指數﹝Process capability index─傳統上簡稱為Cp﹞,係統計製程管制SPC的一個很重要的指標。代表著我們產品製程的品質有多好或不良率是多少。傳統上品管使用正負3 SIGMA﹝標準差﹞,它是假設量產產品的品質特性值遵守常﹝正﹞態分配,而中心值加減 3 SIGMA的界線,一般稱之為管制上限和管制下限,產品品質特性值出現在管制上下限內的機率值為99.73%,這個部分構成品質管制中所謂統計製程管制─SPC的主體。 標準差 Standard deviation

自從1950年代SPC普及以來,大抵使用Cp這樣的一個能力指數,來反映品質水準的狀況。但遂著時間的推移,電子產業的興起,以前的品質水準不良率以百分比%為單位就足以勝任,因為電子元件的數量龐大,百分比的不良率不敷使用,所以演化成以PPM為不良率的單位。同時更自1980年代因為美國的汽車產業也不堪日本汽車業的競爭,從而將製程能力指數修正成Cpk,近年來電子產業多以追求Cpk為準。 深究Cpk的內容,你會發現它不是什麼新東西,只是舊瓶新酒,只是過去在談論SPC時,大家都假設實際品質特性值的中心值是和目標值一致的。傳統品管上針對這個問題是以Ca處理,但通常都帶過未加以刻意強調。而時下流行的Cpk只是對舊有的Cp做了中心值的修正。 需要注意的是傳統上Cp時代,我們對製程能力指數的要求是Cp=1,易言之,良品率是99.73%,而多年前Cpk出現時要求的是Cpk=1.33,而這兩年則要求提升到Cpk=1.67。而當Cpk=1.63時即可進入個位數的PPM世界。 公差T Cpk=( 1 - K ) * --------------- = ( 1 - K ) *------------- 六倍標準差6* σ

公差分析报告基本知识

公差分析 一、误差与公差 二、尺寸链 三、形位公差及公差原则

一、误差与公差 (一)误差与公差的基本概念 1. 误差 误差——指零件加工后的实际几何参数相对于理想几何参数之差。 (1)零件的几何参数误差分为尺寸误差、形状误差、位置误差及表面粗糙度。 尺寸误差——指零件加工后的实际尺寸相对于理想尺寸之差,如直径误差、孔径误差、长度误差。 形状误差(宏观几何形状误差)——指零件加工后的实际表面形状相对于理想形状的差值,如孔、轴横截面的理想形状是正圆形,加工后实际形状为椭圆形等。 相对位置误差——指零件加工后的表面、轴线或对称面之间的实际相互位置相对于理想位置的差值,如两个面之间的垂直度,阶梯轴的同轴度等。 表面粗糙度(微观几何形状误差)——指零件加工后的表面上留下的较小间距和微笑谷峰所形成的不平度。 2. 公差 公差——指零件在设计时规定尺寸变动范围,在加工时只要控制零件的误差在公差范围内,就能保证零件的互换性。因此,建立各种几何公差标准是实现对零件误差的控制和保证互换性的基础。

(二)误差与公差的关系 图1 由图1可知,零件误差是公差的子集,误差是相对于单个零件而言的;公差是设计人员规定的零件误差的变动范围。 (三)公差术语及示例 图2 以图2为例: 基本尺寸——零件设计中,根据性能和工艺要求,通过必要的计算和实验确定的尺寸,又称名义尺寸,图中销轴的直径基本尺寸为Φ20,长度基本尺寸为40。 实际尺寸——实际测量的尺寸。 极限尺寸——允许零件实际尺寸变化的两个极限值。两个极限值中大的是最大极限尺寸,小的是最小极限尺寸。

尺寸偏差——某一尺寸(实际尺寸,极限尺寸)减去基本尺寸所得到的代数差。 上偏差=最大极限尺寸-基本尺寸,用代号(ES)(孔)和es(轴) 下偏差=最小极限尺寸-基本尺寸,用代号(ES)(孔)和es(轴) 尺寸公差——允许尺寸的变动量 尺寸公差=最大极限尺寸-最小极限尺寸 公差带 零线——在极限与配合图解中,标准基本尺寸是一条直线,以其为基准确定偏差和公差。通常,零件沿水平方向绘制,正偏差位于其上,负偏差位于其下,如下图。 图3公差带图解 公差带——在公差带图解中,由代表上极限偏差和下极限偏差的两条直线所限定的一个区域。它是由公差带大小和其相对零线的位置来确定。 二、尺寸链

统计公差分析方法概述

统计公差分析方法概述 TTA standardization office【TTA 5AB- TTAK 08- TTA 2C】

统计公差分析方法概述(2012-10-2319:45:32) 分类: 统计公差分析方法概述 一.引言 公差设计问题可以分为两类:一类是公差分析(Tolerance Analysis,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸和公差,确定装配后需要保证的封闭环公差;另一类是公差分配(Tolerance Allocation,又称反计算) ,即已知装配尺寸和公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法和统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环和组成环公差的分析方法称为统计公差法.本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二.Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC),也叫最差分析法,即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100%落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop:E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D(Max.)=(20++(15++(10+=,出现在A、B、C偏上限之状况 D(Min.)=++=,出现在A,B、C偏下限之状况 45±适合拿来作设计吗 Worst Case Analysis缺陷: ?设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难; ?公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。 以上例Part A +Part B+ Part C,假设A、B、C三个部材,相对于公差规格都有3σ的制程能力水平,则每个部材的不良机率为=;在组装完毕后所有零件都有缺陷的机率为:^3=。这表明几个或者多个零件在装配时,同一部件的各组成环,恰好都是接近极限尺寸的情况非常罕见。 三.统计公差分析法 ?由制造观点来看,零件尺寸之误差来自于制程之变异,此变异往往呈现统计分布的型态,因此设计的公差规格常被视为统计型态。 ?统计公差方法的思想是考虑零件在机械加工过程中尺寸误差的实际分布,运用概率统计理论进行公差分析和计算,不要求装配过程中100 %的成功率(零件的100 %互换) ,要求在保证一定装配成功率的前提下,适当放大组成环的公差,降低零件(组成环)加工精度,从而减小制造和生产成本。 ?在多群数据的线性叠加运算中,可以进行叠加的是『变异』值。 四.方和根法 计算公式(平方相加开根号) 假设每个尺寸的Ppk指标是并且制程是在中心

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