分立器件MOSFET测试系统_B2900A

北京市海淀区马甸东路19号金澳国际中心602,100088

Tel: 010-******** https://www.360docs.net/doc/139807561.html,

1 ● 系统原理

系统采用源表B2912A/02A 双通道源测量单元CH1作为

MOSFET 电压控制单元在栅源极之间加一定的偏置电压，CH2

连接漏极和源极之间扫描电压的同时测量导通电流Id ，从而

得出MOSFET 的转移特性。可通过不同的测试方法测量

MOSFET 其它静态特性。系统提供免费的IV 测试软件，通过

以太网和USB 均可以控制仪器完成测试。配合探针台或者

测试夹具可测量Wafer 管芯或者封装好的器件。

● 系统测试参数

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