电解电容高频性能的测量尝试与分析

电容的损耗因数是什么,它为什么会变大,怎样在业余条件下进行测量?本文从理论和实践两方面进行了分析计算和解答。

电解电容高频性能的测量尝试与分析

索杨军

2001年7月20日

在彩电维修中,许多故障是由电容的高频性能下降引起的。这些故障电容多数外观良好,用指针万用表测其充放电正常且不漏电,用数字电容表测其容量也正常,因而往往使人错判,维修误入歧途,只有通过代换才能真相大白。

电容的高频性能能否直观有效地测量呢?笔者进行了尝试,测量仪器选用CM-8601A数字电容表和COS5041CH示波器。将示波器置于直流耦合方式,探头针接电容表正表笔,探头地接电容表负表笔。被测电容为三洋80P开关电源的脉宽调制故障电容C314(47μF/50V)和同规格的正常电容。将电容表置于2000μF档,测得的正常电容和故障电容波形分别示于图1的【a】和【b】。由图1可见两者有明显差别:在波形剧变处,故障电容从0.6V充电至1.5V,或从2.6V放电至1.8V几乎不需要时间。之所以说不需要时间,是因为这两段波形轨

电解电容高频性能的测量尝试与分析

迹在示波器上因速度太快而看不见,这表明在此瞬间故障电容的容量几乎为零。

1

相关推荐
相关主题
热门推荐