实验1-TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

实验1-TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验1-TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

实验1 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

一、实验目的

1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法

2、掌握TTL器件的使用规则

3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法

二、实验原理

本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图5-2-1(a)、(b)、(c)所示。

(b)

(a) (c)

图5-2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列

1、与非门的逻辑功能

与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。)

其逻辑表达式为 Y=

2、TTL与非门的主要参数

(1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH

与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。ICCL是指所有输

入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。ICCH是指输出端空截,每个

门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。通常

ICCL>ICCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件的最大功耗为PCCL

=VCCICCL。手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的

功耗。ICCL和ICCH测试电路如图5-2-2(a)、(b)所示。

[注意]:TTL电路对电源电压要求较严,电源电压VCC只允许在+5V±10%的范

围内工作,超过5.5V将损坏器件;低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a) (b) (c) (d)

图5-2-2 TTL与非门静态参数测试电路图

(2)低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。IiL是指被测输入端接地,

其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。在多级门电路中,

IiL相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级

门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望IiL小些。

IiH是指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,流入被测

输入端的电流值。在多级门电路中,它相当于前级门输出高电平时,前级门的拉

电流负载,其大小关系到前级门的拉电流负载能力,希望IiH小些。由于IiH

较小,难以测量,一般免于测试。

IiL与IiH的测试电路如图5-2-2(c)、(d)所示。

(3)扇出系数NO

扇出系数NO是指门电路能驱动同类门的个数,它是衡量门电路负载能力的

一个参数,TTL与非门有两种不同性质的负载,即灌电流负载和拉电流负载,因

此有两种扇出系数,即低电平扇出系数NOL 和高电平扇出系数NOH 。通常IiH <IiL ,则NOH >NOL ,故常以NOL 作为门的扇出系数。

NOL 的测试电路如图5-2-3所示,门的输入端全部悬空,输出端接灌电流负载RL ,调节RL 使IOL 增大,VOL 随之增高,当VOL 达到VOLm (手册中规定低电平规范值0.4V )时的IOL 就是允许灌入的最大负载电流,则

通常NOL ≥8

(4)电压传输特性

门的输出电压vO 随输入电压vi 而变化的曲线vo =f(vi) 称为门的电压传输特性,通过它可读得门电路的一些重要参数,如输出高电平 VOH 、输出低电平VOL 、关门电平VOff 、开门电平VON 、阈值电平VT 及抗干扰容限VNL 、VNH 等值。测试电路如图5-2-4所示,采用逐点测试法,即调节RW ,逐点测得Vi 及VO ,然后绘成曲线。

图5-2-3 扇出系数试测电路 图5-2-4 传输特性测试电路 (5)平均传输延迟时间tpd

tpd 是衡量门电路开关速度的参数,它是指输出波形边沿的0.5Vm 至输入波形对应边沿0.5Vm 点的时间间隔,如图5-2-5所示。

(a) 传输延迟特性 (b) tpd 的测试电路

图5-2-5

iL

OL

OL I I N

图5-2-5(a)中的tpdL为导通延迟时间,tpdH为截止延迟时间,平均传输延迟时间为

tpd的测试电路如图5-2-5(b)所示,由于TTL门电路的延迟时间较小,直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高,故实验采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。其工作原理是:假设电路在接通电源后某一瞬间,电路中的A点为逻辑“1”,经过三级门的延迟后,使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”;再经过三级门的延迟后,A点电平又重新回到逻辑“1”。电路中其它各点电平也跟随变化。说明使A点发生一个周期的振荡,必须经过6 级门的延迟时间。因此平均传输延迟时间为

TTL电路的tpd一般在10nS~40nS之间。

74LS20主要电参数规范如表5-2-1所示

表5-2-1

参数名称和符号

规范

单位测试条件

直流参数通导电源电流

ICC

L

<14 mA VCC=5V,输入端悬空,输出端空载截止电源电流

ICC

H

<7 mA VCC=5V,输入端接地,输出端空载低电平输入电流IiL ≤1.4 mA

VCC=5V,被测输入端接地,其他输

入端悬空,输出端空载

高电平输入电流IiH

<50 μA

VCC=5V,被测输入端Vin=2.4V,

其他输入端接地,输出端空载。

<1 mA

VCC=5V,被测输入端Vin=5V,其

他输入端接地,输出端空载。

输出高电平VOH ≥3.4 V

VCC=5V,被测输入端Vin=0.8V,

其他输入端悬空,IOH=400μA。输出低电平VOL <0.3 V

VCC=5V,输入端Vin=2.0V,

IOL=12.8mA。

扇出系数NO 4~8 V 同VOH和VOL

)

t

t(

2

1

t pdH

pdL

pd+

=

6

T

t pd=

流参数平均传输延迟时

tpd ≤20 ns

VCC=5V,被测输入端输入信号:

Vin=3.0V,f=2MHz。

三、实验设备与器件

1、+5V直流电源

2、逻辑电平开关

3、逻辑电平显示器

4、直流数字电压表

5、直流毫安表

6、直流微安表

7、74LS20×2、1K、10K电位器,200Ω电阻器(0.5W)

四、实验内容

在合适的位置选取一个14P插座,按定位标记插好74LS20集成块。

验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能按图5-2-6接线,门的四个输入端接逻辑开关输出插口,以提供“0”与“1”电平信号,开关向上,输出逻辑“1”,向下为逻辑“0”。门的输出端接由 LED发光二极管组成的逻辑电平显示器(又称0-1指示器)的显示插口,LED亮为逻辑“1”,不亮为逻辑“0”。按表5-2-2的真值表逐个测试集成块中两个与非门的逻辑功能。74LS20有4个输入端,有16个最小项,在实际测试时,只要通过对输入1111、0111、1011、1101、1110五项进行检测就可判断其逻辑功能是否正常。

图5—2—6 与非门逻辑功能测试电路

表5-2-2

2、74LS20主要参数的测试

(1)分别按图5-2-2、5-2-3、5-2-5(b)接线并进行测试,将测试结

果记入表5-2-3中。

表5-2-3

ICCL (mA) ICCH (mA) IiL (mA) IOL

(mA)

tpd = T/6 (ns)

(2)接图5-2-4接线,调节电位器RW ,使vi 从OV 向高电平变化,逐

点测量vi 和vO 的对应值,记入表5-2-4中。

表5-2-4 Vi(V) 0

0.2

0.4

0.6

0.8 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0

… VO(V)

五、实验结果

六、实验心得

输 入 输 出 An Bn Cn Dn Y1 Y2 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1

1

iL OL

O I I N

数电实验报告 实验二 组合逻辑电路的设计

实验二组合逻辑电路的设计 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的设计方法及功能测试方法。 2.熟悉组合电路的特点。 二、实验仪器及材料 a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b) 参考元件:74LS86、74LS00。 三、预习要求及思考题 1.预习要求: 1)所用中规模集成组件的功能、外部引线排列及使用方法。 2) 组合逻辑电路的功能特点和结构特点. 3) 中规模集成组件一般分析及设计方法. 4)用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。 2.思考题 在进行组合逻辑电路设计时,什么是最佳设计方案 四、实验原理 1.本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录 2.用集成电路进行组合逻辑电路设计的一般步骤是: 1)根据设计要求,定义输入逻辑变量和输出逻辑变量,然后列出真值表; 2)利用卡络图或公式法得出最简逻辑表达式,并根据设计要求所指定的门电路或选定的门电路,将最简逻辑表达式变换为与所指定门电路相应的形式; 3)画出逻辑图; 4)用逻辑门或组件构成实际电路,最后测试验证其逻辑功能。 五、实验内容 1.用四2输入异或门(74LS86)和四2输入与非门(74LS00)设计一个一位全加器。 1)列出真值表,如下表2-1。其中A i、B i、C i分别为一个加数、另一个加数、低位向本位的进位;S i、C i+1分别为本位和、本位向高位的进位。 A i B i C i S i C i+1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 0 1 0 10 1 1 1 00 1 1 1 1 1 1 2)由表2-1全加器真值表写出函数表达式。

数电实验__门电路逻辑功能及测试

一、实验目的 1、熟悉门电路逻辑功能。 2、学习数字电路实验的一般程序及方法。 3、熟悉数字电路设备的使用方法。 二、实验仪器及材料 1、数字万用表 2、器件: 74LS00 二输入端四“与非”门2片 4LS20 四输入端二“与非”门1片 74LS86 二输入端四“异或”门1片 三、预习要求 1、复习门电路的工作原理及相应的逻辑表达式。 2、熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途(功能)。 四、实验内容 实验前先检查设备的电源是否正常。然后选择实验用的集成电路,按设计的实验原理图(逻辑图)接好连线,特别注意V CC及地线(GND)不能接错。线接好后经检查无误方可通电实验。实验中改动接线须断开电源,改接好线后再通电实验。 1、测试门电路逻辑功能 ⑴、选用四输入端二“与非”门芯片74LS20一片,按图1.1接线。输入端接四只电平开关(电平开关输出插口),输出端接任意一个电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.1置位,分别测输出电压及逻辑状态。 2、异或门逻辑功能测试 ⑴、选二输入端四“异或”门芯片74LS86一片,按图1.2接线。输入端A、B、C、D接四只电平开关,E点、F点和输出端Y分别接三只电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.2置位,将结果填入表中。

4、用“与非”门组成其它门电路并测试验证⑴、组成“或非”门。用一片二输入端四“与非”门芯组成一个“或非”门:Y=A+B,画出逻辑电路图,测试并填表1.5。 ⑵、组成“异或”门。 A、将“异或”门表达式转化为“与非”门表达式。 B、画出逻辑电路图。 C、测试并填表1.6。

思考题: (1)、怎样判断门电路的逻辑功能是否正常? 答:门电路功能正常与否的判断:(1)按照门电路功能,根据输入和输出,列出真值表。(2)按真值表输入电平,查看它的输出是否符合真值表。(3)所有真值表输入状态时,它的输出都是符合真值表,则门电路功能正常;否则门电路功能不正常。 (2)、“与非”门的一个输入端接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过? 答:与非门接髙电平则其他信号可以通过,接低电平则输出恒为0,与非门的真值表是“有0出1,全1出0”。所以一个输入接时钟,就是用时钟控制与非门,当时钟脉冲为高电平时,允许信号通过,为低电平时关闭与非门。 (3)、“异或”门又称可控反相门,为什么? 答:“异或”函数当有奇数个输入变量为真时,输出为真! 当输入X=0,Y=0 时输出S=0 当输入X=0,Y=1 时输出S=1 0代表假1代表真 异或门主要用在数字电路的控制中! 实验小结 由于是第一次数字电路动手试验,操作不是很熟悉,搞得有些手忙脚乱,加之仪器有一点陈旧,电路板上有些地方被烧过,实验中稍不留神接到了烧过的电路板就很难得出正确的结果。 本次试验加深了我对门电路逻辑功能的掌握,对数字电路实验的一般程序及方法有了一定的了解,对数字电路设备的使用方法也有了初步掌握。 在以后的实验中,我会好好预习,认真思考,实验的时候小心仔细,对实验结果认真推敲,勤于思考勤于动手,锻炼自己的动手能力。

机构设计技术机构运动与力参数测试实验报告

机构运动与力参数测试实验报告 院、系专业班级姓名同组人 实验日期年月日 一、机构运动方案设计(绘制机构运动简图,简要说明其结构特点和工作原理及使用场合) 结构特点:上图实际为曲柄滑块机构,曲柄滑块机构具有的运动副为低副(上图机构有一组皮带轮构成的高副),构成低副两元件的几何形状比较简单,加工方便,易于得到较高的制造精度等优点。

工作原理:此机构常用于将曲柄得回转运动变换为滑块的往复直线运动,或者将滑块的往复直线运动转换为曲柄滑块运动,上图为前者。其工作原理为:由电动机带动皮带轮5顺时针转动,从而带动结构3转动,再通过连接在齿轮上的连杆2带动滑块1做往复直线运动。适用场合:自动送料机构、机床、内燃机、空气压缩机等。 二、绘制平面机构的运动学曲线s、v和a曲线。 三、根据数据曲线分析搭建的机构,包括是否有运动冲击,运行状况如何。并分析波动、冲击、不稳定的原因。 根据搭建机构及数据曲线分析,运动有几个局部位置有运动冲击,但对整体影响不大,运动

状况较为顺利。 1.根据角位移分析,可看出角速度线并不是水平直线,而是有一个微小的上下跳动的幅度。其产生的原因可能是本身频率不稳定,或者是滑块来回摩擦系数不一致产生。 2.根据直线位移曲线图,可看出位移曲线并不是光滑的曲线,在波峰跟波谷都有一段是直线。与直线的末端相连的曲线一开始便有较大的斜率,这会对测量器材造成一定的冲击,同时也造成机构的不稳定。排除构件连接之间的偏差,为了更好测量滑块的往复运动,而不导致滑块卡死;连接滑块的测量器材在连接点有较大的松弛度,从而导致滑块在最左端和最有端有一段测量的空窗期,导致不能测量进而产生速度曲线的波峰、波谷有一段直线。 四、测量各构件尺寸,利用机械原理知识编程绘制所搭建机构的运动学曲线,求解各杆件的轴向力,并分析误差产生的原因。

机构运动实验方案设计

机构运动实验方案设计 机构运动设计是根据机械的设计任务和要求,拟定机械中各机构的方案,。XX为大家收集整理的机构运动实验方案设计,喜欢的小伙伴们不要错过啦。 机构运动实验方案设计1 1、掌握机构运动参数测试的原理和方法。了解利用测试结果,重新调整、设计机构的原理。 2、体验机构的结构参数及几何参数对机构运动性能的影响,进一步了解机构运动学和机构的真实运动规律。 3、熟悉计算机多媒体的交互式设计方法,实验台操作及虚拟仿真。独立自主地进行实验内容的选择,学会综合分析能力及独立解决工程实际问题的能力,了解现代实验设备和现代测试手段。 1、曲柄滑块机构及曲柄摇杆机构类型的选取。 2、机构设计,既各杆长度的选取。 3、动分析。 4、分析动态仿真和实测的结果,重新调整数据最后完成设计。 平面机构动态分析和设计分析综合实验台,包括:曲柄滑块机构实验台、曲柄摇杆机构实验台,测试控制箱,配套的测试分析及运动仿真软件,计算机。 1、曲柄摇杆机构综合试验台

①曲柄摇杆机构动态参数测试分析:该机构活动构件杆长可调、平衡质量及位置可调。该机构的动态参数测试包括:用角速度传感器采集曲柄及摇杆的运动参数,用加速度传感器采集整机振动参数,并通过A/D板进行数据处理和传输,最后输入计算机绘制各实测动态参数曲线。可清楚地了解该机构的结构参数及几何参数对机构运动及动力性能的影响。 ②曲柄摇杆机构真实运动仿真分析:本试验台配置的计算机软件,通过建模可对该机构进行运动模拟,对曲柄摇杆及整机进行运动仿真,并做出相应的动态参数曲线,可与实测曲线进行比较分析,同时得出速度波动调节的飞轮转动惯量及平衡质量,从而使学生对机械运动学和动力学,机构真实运动规律,速度波动调节有一个完整的认识。 ③曲柄摇杆机构的设计分析:本试验台配置的计算机软件,还可用三种不同的设计方法,根据基本要求,设计符合预定运动性能和动力性能要求的曲柄摇杆机构。另外还提供了连杆运动轨迹仿真,可做出不同杆长,连杆上不同点的运动轨迹,为平面连杆机构按运动轨迹设计提供了方便快捷的虚拟实验方法。 2、曲柄滑块机构综合试验台 ①曲柄滑块动态参数测试及分析:该机构活动构件杆长可调、平衡质量及位置可调,该机构的动态参数测试包括:用角速度传感器采集曲柄滑块的运动参数,用加速度传感器

实验一组合逻辑电路设计

实验一 组合逻辑电路的设计 一、实验目的: 1、 掌握组合逻辑电路的设计方法。 2、 掌握组合逻辑电路的静态测试方法。 3、 加深FPGA 设计的过程,并比较原理图输入和文本输入的优劣。 4、 理解“毛刺”产生的原因及如何消除其影响。 5、 理解组合逻辑电路的特点。 二、实验的硬件要求: 1、 EDA/SOPC 实验箱。 2、 计算机。 三、实验原理 1、组合逻辑电路的定义 数字逻辑电路可分为两类:组合逻辑电路和时序逻辑电路。组合逻辑电路中不包含记忆单元(触发器、锁存器等),主要由逻辑门电路构成,电路在任何时刻的输出只和当前时刻的输入有关,而与以前的输入无关。时序电路则是指包含了记忆单元的逻辑电路,其输出不仅跟当前电路的输入有关,还和输入信号作用前电路的状态有关。 通常组合逻辑电路可以用图1.1所示结构来描述。其中,X0、X1、…、Xn 为输入信号, L0、L1、…、Lm 为输出信号。输入和输出之间的逻辑函数关系可用式1.1表示: 2、组合逻辑电路的设计方法 组合逻辑电路的设计任务是根据给定的逻辑功能,求出可实现该逻辑功能的最合理组 合电路。理解组合逻辑电路的设计概念应该分两个层次:(1)设计的电路在功能上是完整的,能够满足所有设计要求;(2)考虑到成本和设计复杂度,设计的电路应该是最简单的,设计最优化是设计人员必须努力达到的目标。 在设计组合逻辑电路时,首先需要对实际问题进行逻辑抽象,列出真值表,建立起逻辑模型;然后利用代数法或卡诺图法简化逻辑函数,找到最简或最合理的函数表达式;根据简化的逻辑函数画出逻辑图,并验证电路的功能完整性。设计过程中还应该考虑到一些实际的工程问题,如被选门电路的驱动能力、扇出系数是否足够,信号传递延时是否合乎要求等。组合电路的基本设计步骤可用图1.2来表示。 3、组合逻辑电路的特点及设计时的注意事项 ①组合逻辑电路的输出具有立即性,即输入发生变化时,输出立即变化。(实际电路中 图 1.1 组合逻辑电路框图 L0=F0(X0,X1,···Xn) · · · Lm=F0(X0,X1,···Xn) (1.1) 图 1.2 组合电路设计步骤示意图图

实验1门电路的功能测试

实验一门电路的功能测试 1.实验目的 (1)熟悉数字电路实验装置,能正确使用装置上的资源设计实验方案; (2)熟悉双列直插式集成电路的引脚排列及使用方法; (3)熟悉并验证典型集成门电路逻辑功能。 2.实验仪器与材料 (1)数字电路实验装置1台; (2)万用表1块 (3)双列直插集成电路芯片74LS00、74LS86、74LS125各1片,导线若干。 3.知识要点 (1)数字电路实验装置的正确使用 TPE-D6A电子技术学习机是一种数字电路实验装置,利用装置上提供的电路连线、输入激励、输出显示等资源,我们可以设计合理的实验方案,通过连接电路、输入激励信号、测试输出状态等一系列实验环节,对所设计的逻辑电路进行结果测试。该实验装置功能模块组成如图1.1所示。 图中①为集成电路芯片区,有15个IC插座及相应的管脚连接端子,其中A13是8管脚插座,A11、A12是14管脚插座,A1、A2、A3、A7、A8是16管脚插座,A4、A5是18管脚插座,A9、A14、A16、A7、A8是20管脚插座,A10、A15是24管脚插座。根据双列直插式集成电路芯片的管脚数可以选择相同管脚数的IC插座,并将集成电路芯片插入IC插座(凹口侧相对应),可以通过导线将管脚引出的接线端相连,实现电路的连接。 图中②为元件区,内有多个不同参数值的电阻、电容以及二极管、三极管、稳压管、蜂鸣器等元件可供连接电路时选择。 图中③为电位器区,内有1k、10k、22k、100k、220k阻值的电位器等元件可供连接电路时选择。 图中④为直流稳压电源区,是装置内部的直流稳压电源提供的+5V、-5V、+15V、-15V 电源输出引脚,可以为有源集成芯片提供工作电源电压。

数电实验 组合逻辑电路

实验报告 课程名称: 数字电子技术实验 指导老师: 成绩:__________________ 实验名称: 组合逻辑电路 实验类型: 设计型实验 同组学生姓名:__________ 一、实验目的和要求(必填) 二、实验内容和原理(必填) 三、主要仪器设备(必填) 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析(必填) 七、讨论、心得 一.实验目的和要求 1. 加深理解典型组合逻辑电路的工作原理。 2. 熟悉74LS00、74LS11、74LS55等基本门电路的功能及其引脚。 3. 掌握组合集成电路元件的功能检查方法。 4. 掌握组合逻辑电路的功能测试方法及组合逻辑电路的设计方法。 5. 熟悉全加器和奇偶位判断电路的工作原理。 二.实验内容和原理 组合逻辑电路设计的一般步骤如下: 1.根据给定的功能要求,列出真值表; 2. 求各个输出逻辑函数的最简“与-或”表达式; 3. 将逻辑函数形式变换为设计所要求选用逻辑门的形式; 4. 根据所要求的逻辑门,画出逻辑电路图。 实验内容: 1. 测试与非门74LS00和与或非门74LS55的逻辑功能。 2. 用与非门74LS00和与或非门74LS55设计一个全加器电路,并进行功能测试。 专业: 电子信息工程 姓名: 学号: 日期: 装 订 线

3. 用与非门74LS00和与或非门74LS55设计四位数奇偶位判断电路,并进行功能测试。 三. 主要仪器设备 与非门74LS00,与或非门74LS55,导线,开关,电源、实验箱 四.实验设计与实验结果 1、一位全加器 全加器实现一位二进制数的加法,他由被加数、加数和来自相邻低位的进数相加,输出有全加和与向高位的进位。输入:被加数Ai,加数Bi,低位进位Ci-1输出:和Si,进位Ci 实验名称:组合逻辑电路 姓名:学号: 列真值表如下:画出卡诺图: 根据卡诺图得出全加器的逻辑函数:S= A⊕B⊕C; C= AB+(A⊕B)C 为使得能在现有元件(两个74LS00 与非门[共8片]、三个74LS55 与或非门)的基础上实现该逻辑函数。所以令S i-1=!(AB+!A!B),Si=!(SC+!S!C), Ci=!(!A!B+!C i-1S i-1)。 仿真电路图如下(经验证,电路功能与真值表相同):

实验一TTL各种门电路功能测试

实验序号实验题目 TTL各种门电路功能测试 实验时间实验室 1.实验元件(元件型号;引脚结构;逻辑功能;引脚名称) 1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个 2.数字万用表1块 3.74LS20双四输入与非门1片 4.74LS02四二输入或非门1片 5.74LS51双2-3输入与或非门1片 6.74LS86 四二输入异或门1片 7.74LS00四二输入与非门2片 (1)74LS20引脚结构及逻辑功能(2)74LS02引脚结构及逻辑功能 (3)74LS51引脚结构及逻辑功能(4)74LS86引脚结构及逻辑功能 (5)74LS00引脚结构及逻辑功能

2.实验目的 (1)熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。(2)熟悉万用表的使用方法。 3.实验电路原理图及接线方法描述: (1)74LS00实现与电路电路图 (2)74LS00实现或电路电路图

(3)74LS00实现或非电路电路图 (4)74LS00实现异或电路

4.实验中各种信号的选取及控制(电源为哪些电路供电;输入信号的分布位置;输出信号的指示类型;总结完成实验条件) 5.逻辑验证与真值表填写 (1)74LS00实现与电路电路图逻辑分析 逻辑运算过程分析: 1 21 Y=AB Y=Y=AB=AB 真值表: (2)74LS00实现或电路电路图 逻辑运算过程分析: 1 2 312 Y=AA=A Y=BB=B Y=Y Y=AB=A+B=A+B 真值表: 输入输出 A B 2 Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 输入输出 A B 3 Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1

机构参数测试实验

实验四机构运动参数测试 机构运动参数测试实验以曲柄摇杆机构、曲柄滑块机构、双曲柄机构和凸轮机构等典型运动机构作为被测对象。 本着理论联系实际的作法,在实验中必须将实验检测结果与理论数据进行对比,并从中分析实验误差产生的原因及其主要影响因素。因此,实验前大都需要按实验指导书规定的待定检测对象及其原始数据,通过在计算机上进行理论计算,求解理论数据,然后方可进行实验。 在进行实验操作之前,需要通过阅读实验装置的使用说明书,熟悉实验装置的工作原理和仪器仪表的使用操作方法。然后才能进行独立实验操作。 一、实验目的 1、通过运动参数测试实验,掌握机构运动的周期性变化规律,并学会机构运动参数如:位移、速度和加速度(包括角位移、角速度和角加速度)的实验测试方法; 2、通过利用传感器、工控机等先进的实验技术手段进行实验操作,熟悉LabVIEW软件的一些常用功能和程序的编写方法,训练掌握现代化的实验测试手段和方法,增强工程实践能力; 3、通过进行实验结果与理论数据的比较,分析误差产生的原因,增强工程意识,树立正确的设计理念。 二、实验装置及工具 1、实验装置的组成 (1)实验装置的特点 该实验以培养学生的综合设计能力、创新设计能力和工程实践能力为目标。打破了传统的演示性、验证性、单一性实验的模式,建立了新型的设计型、搭接型、综合性的实验模式。本实验提供多种搭接设备,学生可根据功能要求,自己进行方案设计,并将自己设计的方案亲手组装成实物模型。形象直观,安装调整简捷,并可随时改进设计方案,从而培养学生的创造性和正确的设计理念。 (2)实验装置的功用 实验中,可组合出:①曲柄滑块;②双曲柄;③摆动导杆;④曲柄摇杆;⑤滑块为输出构件的简单的平面六杆机构;⑥直动从动件凸轮机构;⑦摆动从动件凸轮机构实验台等多种典型

实验一组合逻辑电路设计

电子信息工程晓旭 2011117147 实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试) 一.实验目的 1掌握常用门电路的逻辑功能。 2掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。 3掌握组合逻辑电路的功能测试方法。 二.实验设备与器材 数字电路实验箱一个 双踪示波器一部 稳压电源一部 数字多用表一个 74LS20 二4 输入与非门一片 74LS00 四2 输入与非门一片 74LS10 三3 输入与非门一片 三 .实验任务 1对74LS00,74LS20逻辑门进行功能测试。静态测试列出真值表,动态测试画出波形图,并说明测试的门电路功能是否正常。 2分析测试1.7中各个电路逻辑功能并根据测试结果写出它们的逻辑表达式。 3设计控制楼梯电灯的开关控制器。设楼上,楼下各装一个开关,要求两个开关均可以控制楼梯电灯。 4某公司设计一个优先级区分器。该公司收到有A,B,C,三类,A,类的优先级最高,B 类次之,C类最低。到达时,其对应的指示灯亮起,提醒工作人员及时处理。当不同类的同时到达时,对优先级最高的先做处理,其对应的指示灯亮,优先级低的暂不理会。按组合逻辑电路的一般设计步骤设计电路完成此功能,输入输出高低电平代表到

实验一: (1)74LS00的静态逻辑功能测试 实验器材:直流电压源,电阻,发光二极管,74LS00,与非门,开关,三极管 实验目的:静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表,确认门电路的逻辑功能正确与否 实验过程:将74LS00中的一个与非门的输入端A,B分别作为输入逻辑变量,加高低电平,观测输出电平是否符合真值表描述功能。 电路如图1: 图1 真值表1.1: 实验问题:与非门的引脚要连接正确,注意接地线及直流电源 实验结果:由二极管的发光情况可判断出74LS00 实现二输入与非门的功能 (2)71LS00的动态逻辑功能测试 实验器材:函数发生器,示波器,74LS00,与非门,开关,直流电压源 实验目的:测试74LS00与非门的逻辑功能 实验容:动态测试适合用于数字系统中逻辑功能的检查,测试时,电路输入串行数字

实验一基本门电路的逻辑功能测试

实验一基本门电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理 实验中用到的基本门电路的符号为: 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。 三、实验设备与器件 1、数字逻辑电路用PROTEUS 2、显示可用发光二极管。 3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。 四、实验内容 1.测试TTL门电路的逻辑功能: a)测试74LS08的逻辑功能。(与门)000 010 100 111 b)测试74LS32的逻辑功能。(或门)000 011 101 111 c)测试74LS04的逻辑功能。(非门)01 10 d)测试74LS00的逻辑功能。(两个都弄得时候不亮,其他都亮)(与非门)(如果只接一个的话,就是非门)001 011 101 110 e)测试74LS02(或非门)的逻辑功能。(两个都不弄得时候亮,其他不亮)001 010 100 110 f)测试74LS86(异或门)的逻辑功能。 2.测试CMOS门电路的逻辑功能:在CMOS 4000分类中查询 a)测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。(与门) b)测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。(或门) c)测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。(非门) d)测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。(与非门)(如果只接一个的话,就是非门)

e)测试CC4001(74HC02)(或非门)的逻辑功能。 f) 测试CC4030(74HC86)(异或门)的逻辑功能。 五、实验报告要求 1.画好各门电路的真值表表格,将实验结果填写到表中。 2.根据实验结果,写出各逻辑门的逻辑表达式,并分析如何判断逻辑门的好坏。 3.比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。 4.查询各种集成门的管脚分配,并注明各个管脚的作用与功能。 例:74LS00 与门 Y=AB

实验六 凸轮机构实验

实验六 凸轮机构实验 一、实验目的 1.熟悉凸轮机构的结构组成,学会控制并观察它们的运动过程; 2.掌握机构运动参数测试的原理和方法,了解两种机构从动件位移、速度、加速度的变化规律。 二、实验设备及工具 1.凸轮机构实验台; 2.活动扳手,固定扳手,内六角扳手,螺丝刀,钢直尺。 三、 实验台结构及工作原理 1.凸轮机构实验台 凸轮机构实验台,由盘形凸轮、圆柱凸轮和滚子推杆组件构成,提供了等速运动规律 、等加速等减速运动规律、多项式运动规律、余弦运动规律、正弦运动规律、改进等速运动规律、改进正弦运动规律、改进梯形运动规律等八种盘形凸轮和一种等加速等减速运动规律的圆柱凸轮供检测使用,可拼装平面凸轮和圆柱凸轮两种凸轮机构。 主要构件尺寸参数如下: 盘形凸轮:基圆半径为 mm R 400= 最大升程为 mm H 15max = 圆柱凸轮:升程角为 150=α 升程为 mm H 5.38= 2.数据采集系统 实验台采用单片机与A/D 转换集成相结合进行数据采集,处理分析及实现与PC 机的通信,达到适时显示运动曲线的目的。该测试系统先进、测试稳定、抗干扰性强。同时该系统采用光电传感器、位移传感器作为信号采集手段,具有较高的检测精度。数据通过传感器与数据采集分析箱将机构的运动数据通过计算机串口送到PC 机内进行处理,形成运动构件运动参数变化的实测曲线,为机构运动分析提供手段和检测方法。 本实验台电机转速控制系统有两种方式:手动控制:通过调节控制面板上的液晶调速菜

单调节电机转速。软件控制:在实验软件中根据实验需要来调节。其原理框图如下: 四、注意事项 1.机构运动速度不易过快。 2.机构启动前一定要仔细检查联接部分是否牢靠;手动转动机构,检查曲柄是否可整转。 3.运行时间不宜太长,隔一段时间应停下来检查机构联接是否松动。 4.因振动和干扰等原因,采集曲线会有毛刺。 六、实验报告及思考题 1.选取合理的数据,绘制凸轮机构的从动件运动规律曲线(主动件旋转一周,从动件的位移、速度、加速度的变化规律)。 2.试举两个例子说明凸轮机构各有何运动特点?并说明其结构组成。

组合逻辑电路实验与解答

湖北第二师范学院实验 组合逻辑电路 物机学院-11应用物理学 一、实验目的 1.掌握用与非门组成的简单电路,并测试其逻辑功能。 2.掌握用基本逻辑门设计组合电路的方法。 二、实验原理 数字电路按逻辑功能和电路结构的不同特点,可分为组合逻辑电路和时序逻辑电路两大类。组合逻辑电路是根据给定的逻辑问题,设计出能实现逻辑功能的电路。用小规模集成电路实现组合逻辑电路,要求是使用的芯片最少,连线最少。一般设计步骤如下: 1.首先根据实际情况确定输入变量、输出变量的个数,列出逻辑真值表。 2.根据真值表,一般采用卡诺图进行化简,得出逻辑表达式。 3.如果已对器件类型有所规定或限制,则应将函数表达式变换成与器件类型相适应 的形式。 4.根据化简或变换后的逻辑表达式,画出逻辑电路。 5.根据逻辑电路图,查找所用集成器件的管脚图,将管脚号标在电路图上,再接线 验证。 三、实验仪器及器件 数字实验箱一台,集成芯片74LS00一块、74LS20三块,导线若干。 四、实验内容 1.用非与门实现异或门的逻辑功能 (1) 用集成电路74LS00和74LS20(74LS20管脚见图1所示),按图2连接电路(自己设计接线脚标),A、B接输入逻辑,F接输出逻辑显示,检查无误,然后开启电源。 图1 74LS20集成电路管脚图 (2) 按表1的要求进行测量,将输出端F的逻辑状态填入表内.

表1 输出真值表 图 2-电路接线图 (3) 由逻辑真值表,写出该电路的逻辑表达式 F= B A B A ?+? 2. 用与非门组成“三路表决器” (1) 用74LS00和74LS20组成三路表决器,按图3连接电路(自己设计接线脚标),A ,B ,C 接输入逻辑,F 接输出逻辑显示,检查无误,然后开启电源。 (2) 按表2的要求进行测量,将输出端F 的逻辑状态填入表内。 A 表 2输出真值表 & B F C 图 3 电路接线图 3. 设计一个“四路表决器”逻辑电路并测试 设计一个四变量的多路表决器。当输入变量A 、B 、C 、D 有三个或三个以上为1时,输出F 为1;否则输出F 为0。 (1)根据设计要求列出表3四人表决器真值表。 (2)用卡诺图化简逻辑函数,写出逻辑 表达,F= D C B D C A D B A C B A ??+??+??+??. (3)用74LS20与非门实现“四人表决器”,画出实验电路,标出接线脚并测试,验证所列真值表。 输 入 输 出 A B F 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 输 入 输 出 A b CF 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 & & & & && & & & A B F

门电路逻辑功能及测试实验报告记录

门电路逻辑功能及测试实验报告记录

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深圳大学实验报告实验课程名称:数字电路实验 实验项目名称:门电路逻辑功能及测试学院:信息工程学院 报告人:许泽鑫学号:201 班级:2班同组人: 指导教师:张志朋老师 实验时间:2016-9-27 实验报告提交时间:2016-10-11

一、实验目的 (1)熟悉门电路逻辑功能,并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。 (2)熟悉RXS-1B数字电路实验箱。 二、方法、步骤 1.实验仪器及材料 1)RXS-1B数字电路实验箱 2)万用表 3)器件 74LS00四2输入与非门1片 74LS86四2输入异或门1片 2.预习要求 1)阅读数字电子技术实验指南,懂得数字电子技术实验要求和实验方 法。 2)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 3)熟悉所用集成电路的外引线排列图,了解各引出脚的功能。 4)学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。 3.说明 用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。 非逻辑关系:Y=A 与逻辑关系:Y=A B + 或逻辑关系:Y=A B 与非逻辑关系:Y=A B + 或非逻辑关系:Y=A B + 与或非逻辑关系:Y=A B C D ⊕ 异或逻辑关系:Y=A B

三、实验过程及内容 任务一:异或门逻辑功能测试 集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路,逻辑关系式为1Y=1A ⊕1B ,2Y=2A ⊕2B , 3Y=3A ⊕3B ,4Y=4A ⊕4B ,其外引线排列图如图1.3.1所示。它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A 、1B 、2A 、2B 、3A 、3B 、4A 、4B ,3、6、8、11号引脚为输出端1Y 、2Y 、3Y 、4Y ,7号引脚为地,14号引脚为电源+5V 。 (1)将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B 数字电路实验箱的任意14引脚的IC 空插座中。 (2)按图1.3.2接线测试其逻辑功能。芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔,输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。14号引脚+5V 接至数字电路实验箱的+5V 电源的“+5V ”插孔,7号引脚接至数字电路实验箱的+5V 电源的“⊥”插孔。 (3)将电平开关按表1.3.1设置,观察输出端A 、B 、Y 所连接的电平显示器的发光二极管的状态,测量输出端Y 的电压值。发光二极管亮表示输出为高电平(H ),发光二极管不亮表示输出为低电平(L )。把实验结果填入表1.3.1中。 图1.3.1 四2输入异或门74LS86外引线排列图 1A 1B 1Y 2A 2B 74LS86 V CC 4B 4A 4Y 3B 4A 3Y 1 2 3 4 5 14 13 12 11

门电路逻辑功能及测试(完成版)

实验一门电路逻辑功能及测试 计算机一班组员:2014217009赵仁杰 一、实验目的 1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。 2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。 3、学会检测基本门电路的方法。 二、实验仪器及材料 1、仪器设备:双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件: 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片

三、预习要求 1. 预习门电路相应的逻辑表达式。 2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。 四、实验内容及步骤 实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常,然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座,按自己设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯片不能插反。实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。每个芯片的电源和GND引脚,分别和实验台的+5V 和“地(GND)”连接。芯片不给它供电,芯片是不工作的。用实验台的逻辑开关作为被测器件的输入。拨动开关,则改变器件的输入电平。开关向上,输入为1,开关向下,输入为0。 将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯连接。指示灯亮表示输出电平为1,指示灯灭表示输出电平为0。 1.与非门电路逻辑功能的测试 (1)选用双四输入与非门74LS20一片,插入数字电路实验箱中对应的IC座,按图1.1接线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K4的逻辑开关输出插口,输出端接电平显示发光二极管D1~D4中任意一个。注意:芯片74LS20的14号引脚要接试验箱下方的+5V电源,7号引脚要接试验箱下方的地(GND)。用万用表测电压时,万用表要调到直流20V档位,因为芯片接的电源是直流+5V。 表1.1

QTD-III型 曲柄滑块、导杆、凸轮组合实验指导书实验一、机构运动参数的测试和分析实验教学提纲

实验一、机构运动参数的测试和分析实验 一、实验目的 1.掌握机构运动的周期性变化规律,并学会机构运动参数如位移、速度和加速度等的测试原理和方法; 2. 学会运用多通道通用实验仪器、传感器等先进实验技术手段开展实验研究的方法; 3. 利用计算机对平面机构动态参数进行采集、处理,作出实测的动态参数曲线,并通过计算机对该平面机构的运动进行数值仿真,作出相应的动态参数曲线,从而实现理论与实际的紧密结合。 二、实验内容 1.测试曲柄导杆机构、曲柄滑块机构、凸轮机构等机构的构件转角、移动位移等运动参数; 2.比较实测参数曲线与理论仿真曲线的差异。 三、实验仪器 QTD-III型曲柄、导杆、凸轮组合实验台 该组合实验装置,只需拆装少量零部件,即可分别构成四种典型的传动系统。他们分别是曲柄滑块机构、曲柄导杆机构、平底直动从动杆凸轮机构和滚子直动从动杆凸轮机构。具体结构示意图如下图所示。 (a)曲柄滑块机构

(b)曲柄导杆机构 (c)平底直动从动件凸轮机构 (d)滚子直动从动件凸轮机构 1、同步脉冲发生器 2、涡轮减速器 3、曲柄 4、连杆 5、电机 6、滑块 7、齿轮8、光电编码器9、导块 10、导杆11、凸轮12、平底直动从动件 13、回复弹簧14、滚子直动从动件15、光栅盘 四、实验原理 本实验仪由单片机最小系统组成。外扩 16 位计数器,接有 3 位 LED 数码显示器可实时显示机构运动时曲柄轴的转速,同时可与 P C 机进行异步串行通讯。在实验机构动态运动过程中,滑块的往复移动通过光电脉冲编码器转换输出具有一定频率(频率与滑块往复速度成正比),0-5伏电平的两路脉冲,接

电子线路基础数字电路实验1 门电路逻辑功能及逻辑变换

实验一门电路逻辑功能及逻辑变换 一、实验目的 1、熟悉门电路逻辑功能及测试方法。 2、熟悉门电路的逻辑变换方法。 3、熟悉数字电路实验箱的使用方法。 二、实验仪器 1、示波器1台 2、数字电路实验箱1台 3、器件 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片 74LS04 六反相器1片 三、实验原理 集成逻辑门是最基本的集成数字部件,任何复杂的逻辑电路都可以用多个逻辑门通过适当的连接方式组合而成。目前,虽然中、大规模数字集成器件的应用已很普遍,在设计数字电路时,不必从单个逻辑门出发去组合,但为了满足所有数字电路的需要,各种逻辑门电路仍然是不可缺少的。 基本逻辑门有与门、或门和非门。除基本门以外,常用的门电路还有与非门、或非门、异或门等。其中与非门有较强的通用性,其通用性在于任何复杂的逻辑电路都可以用多个与非门组合而成,而且用与非门可以组合成其它各种逻辑门。下面以异或逻辑为例,介绍用与非门组成其它逻辑门的方法和步骤。 (1)利用逻辑代数将异或逻辑表达式变换成与非逻辑表达式。变换过程如下:Y+ = A B B A A A+ = B + + ( ) B ) (B A A+ = AB B AB A =(1-14-1) AB B AB (2)按与非逻辑表达式画出与非门组成的逻辑图。图1-14-1为用与非门实现异或逻辑的逻辑图。

图1-14-1 用与非门实现异或逻辑的逻辑图 三、实验内容及步骤 1、测试门电路逻辑功能 (1)选用双四输入与非门74LS20一只, 按图1-14-2接线,输入端接逻辑电平开关, 输出端接电平显示发光二极管。 (2)将逻辑电平开关按表1-14-1置位, 分别测输出电压及逻辑状态。 图1-14-2 表1-14-1

实验一-组合逻辑电路

东南大学电工电子实验中心 实验报告 课程名称:计算机结构与逻辑设计实验 第一次实验 实验名称:组合逻辑电路 院(系):专业: 姓名:学号: 实验室: 实验组别: 同组人员:实验时间:2015年10月29 日 评定成绩:审阅教师:

一、实验目的 ①认识数字集成电路,能识别各种类型的数字器件和封装 ②掌握小规模组合逻辑和逻辑函数的工程设计方法 ③掌握常用中规模组合逻辑器件的功能和使用方法 ④学习查找器件资料,通过器件手册了解器件 ⑤了解面包板的基本结构、掌握面包板连接电路的基本方法和要求 ⑥了解实验箱的基本结构,掌握实验箱电源、逻辑开关和LED点平指示的 用法 ⑦学习基本的数字电路的故障检查和排除方法 ⑧学Mulitisim逻辑化简操作和使用方法 ⑨学习ISE软件操作和使用方法 二、实验原理 1.组合逻辑电路: 组合逻辑电路又称为门网络,它由若干门电路级联(无反馈)而成,其特点是(忽略门电路的延时):电路某一时刻的输出仅由当时的输入变量取值的组合决定,而与过去的输入取值无关。 其一般手工设计的过程为: ①分析其逻辑功能 ②列出真值表 ③写出逻辑表达式,并进行化简 ④画出电路的逻辑图 2.使用的器件: 1)74HC00(四2输入与非门):芯片内部有四个二输入一输出的与非门。 2)74HC20(双4输入与非门):芯片内部有两个四输入一输出的与非门。注意,四输入不能有输入端悬空。 3)74HC04(六反相器):芯片内部有六个非门,可以将输入信号反相。当然,也可以通过2输入与非门来实现,方法是将其一个输入端信号加高电平。 4)74HC151(数据选择器):其功能犹如一个受编码控制的单刀多掷开关,可用在数据采集系统中,选择所需的信号。它有8个与门,各受信号A2、A1、A0的一组组合控制,再将这8个与门的输出端经一个或门输出,是一个与—或电路。 5)74HC138(3线-8线译码器):其有三个使能端E1、E2、E3,可将地址段(A0、A1、A2)的二进制编码在Y0至Y7对应的输出端以低电平译出。 三、实验内容 必做实验: ①数值判别电路 a)设计一个组合逻辑电路,它接收一位8421BCD码B3B2B1B0,仅当2 < B3B2B1B0 < 7时 输出Y才为1(第6周实验课内指导教师验收)

实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试 一.实验目的 1.掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。 2.熟悉各种门电路参数的测试方法。 3. 熟悉集成电路的引脚排列,如何在实验箱上接线,接线时应注意什么。 二、实验仪器及材料 a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b)1)CMOS器件: CC4011 二输入端四与非门 1 片 CC4071 二输入端四或门 1片2)TTL器件: 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片 74LS00 二输入端四与非门 1片 74ls125 三态门 1片 74ls04 反向器材 1片 三.预习要求和思考题: 1.预习要求: 1)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 2)常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。 3)三态门的功能特点。 4)熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。 5)用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。 2.思考题 1)TTL门电路和CMOS门电路有什么区别? 2)用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么? 四.实验原理 1.本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。 2.门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。 TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路,其管脚识别方法:将TTL集成门电路正面(印有集成门电路型号标记)正对自己,有缺口或有圆点的一端置向左方,左下方第一管脚即为管脚“1”,按逆时针方向数,依次为1、2、3、4············。如图1—1所示。具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知,本书实验所使用的器件均已提供其功能。 图1—1

11凸轮机构运动参数的测定

课题十一凸轮机构运动参数的测定凸轮机构主要是由凸轮,从动件和机架三个基本构件组成的高副机构。其中凸轮是一个具有曲线轮廓或凹槽的构件,一般为主动件,作等速回转运动或往复直线运动。从动件与凸轮轮廓接触,传递动力和实现预定的运动规律故从动件的运动规律取决于凸轮轮廓曲线。由于组成凸轮机构的构件数较少,结构比较简单,只要合理地设计凸轮的轮廓曲线就可以使从动件获得各种预期的运动规律。 凸轮机构能将主动件的连续运动转变为从动件的移动或转动,因而广泛用于各种机械中,特别是自动机械、自动线中的机械控制装置中。 1.凸轮机构运动参数的测定实验台及其工作原理 进行凸轮机构运动参数的测定实验台有多种形式,现以如图11—1所示的连杆机构与凸轮组合实验台,完成凸轮机构运动参数的测定。 图11—1 连杆机构与凸轮组合实验台 a)b)

图11—2 凸轮机构实验台的运动简图 1--同步脉冲发生器 2—减速器 3--电机 4—传感器 5--光栅盘 6--凸轮 7--平底直动从动件 8--回复弹簧 9--滑块 10--滚子直动从动件 如图11—2a)、b)所示,凸轮机构的实验台是电机、减速器、凸轮、直动从动件、滑块、传感器、同步脉冲发生器、光栅盘和回复弹簧等组成。 通过调速器调节电机的转速输出后,经蜗杆减速器带动凸轮转动,驱动从动件运动,其位移量通过直线位移传感器由模/数转换模块在嵌入式计算机系统的控制下,将位移量转换成数字信号,计算出其往复移动的周期、线速度、线加速度等机构运动参数。也可更换不同廓线的盘形凸轮,从而调节从动件的偏心距。 2.凸轮机构运动参数的测定实验注意事项 (1) 调节电机的转速时应缓慢转动调速旋钮,在关闭实验台电源前,应将电动机的转速调到最小。 (2) 用手转动凸轮盘1~2 周,检查各运动构件的运行状况,各螺母紧固件应无松动,各运动构件应无卡滞现象。 (3) 测试时,凸轮的转速不应过高,以免产生大的冲击,造成零件损坏。 (4) 调节从动件偏心距时,偏心距不宜过大,否则有可能使凸轮机构卡死,造成零件损坏。 2.凸轮机构运动参数的测定的操作过程 (1) 按要求组装凸轮机构,分析凸轮机构的组成。 (2) 轻轻转动凸轮,分析凸轮机构的运动特性,找出基圆、推程、远休止程、回程、近休止程,并量出对应的推程角、远休止角、回程角、近休止角。 (3) 以从动件在最低位置开始,轻轻转动凸轮,每转5°,量出从

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