测试技术复习资料
《无机材料测试技术》试卷（一）
得分阅卷人
一、名词解释（每题2分，共20分）
1．相干散射波长不变的散射,又称经典散射.
2．
系统消光由原子在晶胞中的位置不同而引起某些方向上衍射线的消失称为系统消光.
3．μm
4．粉晶衍射仪法利用X射线的电离效应及荧光效应，由辐射探测器（各种计数器）来测定记录衍射线的方向和强度。
5．
6．EPMA 电子探针工
7．几何像差透镜磁场几何上的缺陷所产生,包括球差、像散和畸变.
8．相位衬度像利用电子束相位变化由两束以上电子束相干成像
9． AES
10．DSC 差示扫面量热法
10．微商热重分析能记录TG曲线对温度或时间的一阶导数的一种技术，也即质量变化速率作为温度或时间的函数被连续记录下来。
得分阅卷人
二、填空题（每题4分，共20分）
1．吸收限的应用主要是：合理的选用滤波片材料害人辐射源的波长（即选阳极靶材料）以便获得优质的花样衍射。
。
2．影响衍射线强度的因子是：1.多重性因子2. 结构因子3.脚因子4.温度因
子5.吸收因子
。
3．透射电镜制备样品的方法主要有：直接法：粉末颗粒样品、超薄切片、直接薄膜样品间接法：一级复型、二级复型；半直接法：萃取复型
。
4．SEM的主要工作方式有：发射方式、反射方式、吸收方式、投射方式、俄歇电子方式、X射线方式、阴极发光方式、感应信号方式。
。
5．DTA中用参比物稀释试样的目的是： . j减少被测样品的数量
。
得分阅卷人
三、判断题（每题2分，共10分）
1.滤波片的K吸收限应大于或小于Kα和Kβ。
2.满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线。
3.当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像。（√）
4. 原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（×）
5. TG曲线上基本不变的部分叫基线。
得分阅卷人
四、问答及计算题（每题10分，共50分）
1．简述特征X射线产生的机理？
1.答：入射电子能量等于或大于物质原子中K层电子的结合能,将K层电子激发掉,外层电子会跃迁到K层空位,因外层电子能量高,多余的能量就会以X射线的形式辐射出来,两个能级之间的能量差是固定的,所以此能量也是固定,即其波长也是固定的。
2．试推导面心点阵晶胞的系统消光规律。（面心点阵有四个同类原子，其坐标为000、1/2 1/2 0、1/2 0 1/2、0 1/2 1/2，原子散射振幅为f a）
3．精确测定点阵常数时，在实验技术和数据处理上都应注意什么问题？
4．二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？
4.答：相同点：两者都是通过调制物理信号得到的像衬度
不同点：二次电子的强度与原子序数没有明确的关系，但对微区表面相对于入射电子束的方向却十分敏感。而背散射电子对原子序数或化学成分的变化敏感。
5．与现有一些常用的测试技术相比，试述热分析具有的主要特点？并举例说明。
5.答：（1）不受式样分散的限制，即使是粒度小于1μm的高分散的材料，也同样能在
温度变化过程中显示出固有的物化性能变化；（2）无论式样是否是晶体，只要在温度变化过程中有物化反应发生，就可以用此法进行研究。举例如下（1）研究无机非金属材料工业中所用原料，尤其是天然原料在加热时的变化特性，了解原料的主矿成分，进行主矿原料的定量分析；（2）研究矿化剂的效能；（3）研究固相反应机理；(4) 确定物质熔融和结晶温度（5）根据试样是热效应特点，为改进工艺，改良配方、克服产品缺陷提供重要的参考资料（6）研究与制定烧成制度与烧成曲线。
《无机材料测试技术》试卷（二）
得分阅卷人
一、名词解释（每题2分，共20分）
1．特征X射线具有特定波长的X射线
2．X射线强度是指垂直于x射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和。
3．光电效应X射线与物质作用，具有足够能量的X射线光子也能激发掉K层的电子，外层电子跃迁填补，多余的能量辐射出来，此时这里
被X射线激发出来的电子成为光电子，所辐射出来的X射线成为荧光
X射线，这个过程称为光电效应。
4． XRF
5． TEM 透射电镜
6．球差是由电磁透镜中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不
同而产生的。
7．衍射衬度象
8． AES
9．差示扫描量热法DSC
10． DTA 差热分析
得分阅卷人
二、填空题（每题4分，共20分）
1．滤波片的K吸收限应刚好位于和之间，且大于，小于。
2．衍射花样由两个方面组成：一方面是，另一方面是。
3．景深是指在保持的前提下，试样在
上下沿镜轴所允许移动的距离。
4．SEM的主要性能有：
。
5．影响热重曲线的主要因素是： .
。
得分阅卷人
三、判断题（每题2分，共10分）
1.有λ0的X射线光子的能量最大。
2.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。
3.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的像平面重合，叫衍射方式操作。
4.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。
5.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶面间距增加。
得分阅卷人
四、问答及计算题（每题10分，共50分）
1．什么是莫赛莱定律，莫赛莱定律的物理意义是什么？
2．试推导体心点阵晶胞的系统消光规律。（每个晶胞中有2个同类原子，其坐标为000和1/2 1/2 1/2，原子散射振幅为f a）
3．简述特征X射线谱与连续谱的发射机制的主要区别？
4．透射电镜中经投影的二次复型样品怎样形成形貌像？该像是如何改善衬度的？
5．陶瓷原料在加热过程中出现哪些热效应？
《无机材料测试技术》试卷（三）
得分阅卷人
一、名词解释（每题2分，共20分）
1、相对强度
2、步进扫描
3、指标化
4、F
5、JCPDS
6、色差
7、弹性散射
8、EPMA
9、热分析
10、TG
得分阅卷人
二、填空题（每题4分，共20分）
1．获得X射线的条件是：
。
2．X射线衍射仪有二种扫描方式：
。
3．电磁透镜有以下特点：
。
4．SEM的主要性能有：
。
5．影响差热曲线的主要因素是： .
。
得分阅卷人
三、判断题（每题2分，共10分）
1、当高速电子的能量全部转换为x射线光子的能量时产生λ0，此时强度最大，能量最高。
2、弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推，与衍射峰曲线相交的点。
3、减弱中间镜的电流，增大其物距，使其物平面与物镜的后焦平面重合，叫衍射方式操
作。
4、SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。
5、基线是ΔΤ=0的直线。
得分阅卷人
四、问答及计算题（每题10分，共50分）
1、简述x射线衍射物相定性分析的一般步骤。
2、试推导体心点阵系统消光规律。
3、TEM萃取复型样品的散射衬度像形成原理是什么？
4、有金的多晶样品（面心立方结构，a=4.07?）的电子衍射花样，量得R1、R2、R3值分别为8.8、10.3、14.3(mm)，请列表计算有效相机常数K值。
5、如何利用综合热分析曲线制定陶瓷的烧成制度？
《无机材料测试技术》试卷（四）
题号一二三四总分复检人
得分
得分阅卷人
二、名词解释（每题2分，共20分）
1．特征X射线
2．衍射线的相对强度
3．多重性因子
4．XRD
5．AES
6．静电透镜
7．焦深
8．TEM
9．热分析
10．DTA
得分阅卷人
二、填空题（每题4分，共20分）
1．一束X射线通过物质时，它的能量可分为三部分：
。2．衍射线的分布规律是由决定
的，而衍射线的强度则取决于。3．扫描电镜的主要结构分为四大系统：
。4．在陶瓷原料中发生的主要热效应有：
。5．热分析的主要方法是： .
。
得分阅卷人
三、判断题（每题2分，共10分）
1．连续X射谱中，随V增大，短波极限值增大。
2．凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。
3．色差是由于能量非单一性引起的。
4．当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时，可看到形貌像。
5．非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。
得分阅卷人
四、问答及计算题（每题10分，共50分）
1．试推导体心点阵晶胞（原子坐标为0、0、0，1/2、1/2、1/2）的系统消光规律。
2．简述多晶试样X衍射定性分析的步骤。
3．薄膜样品在透射电镜中如何形成散射衬度像?
4．简述扫描电镜中二次电子像的成像原理。
5．绘出高岭、多水高岭的DTA曲线并解释之。
《无机材料测试技术》试卷（五）
题号一二三四总分复检人
得分
得分阅卷人
三、名词解释（每题2分，共20分）
1．衍射线的相对强度
2．连续X射线
3．俄歇效应
4．K S j
5．PDF
6．色差
7．衬度
8． SEM
9．热分析
10．ICTA
得分阅卷人
二、填空题（每题4分，共20分）
1．X射线辐射探测器分为三种类型：
。
2．误差校正方法有：
。
3．电磁透镜有以下特点：
。
4．粉末样品的分散方法主要有：
。
5．影响热重曲线的主要因素是： .
。
得分阅卷人
三、判断题（每题2分，共10分）
1.有λ0的X射线光子的强度最大。
2.满足布拉格方程就能产生衍射。
3.衍射方式操作能看到样品的形貌像。
4.电磁透镜的色差是由于透镜磁场几何上的缺陷引起的。
5.△T热偶的工作原理是由于两种金属间的接触电位差。
得分阅卷人
四、问答及计算题（每题10分，共50分）
1．透射电镜中塑料二级复型（经重金属投影）样品的形貌像是如何形成的?
2．简述特征X射线谱与连续谱的发射机制的主要区别。
3．简述XRD定性物相鉴定的程序。
4．电子探针与扫描电镜有何异同？
5．热重分析在无机材料中具体有哪些应用？试举例说明。
Um：物质的质量吸收线密度，指单位质量某物质在单位值长度上对X射线的吸收。XRF: X射线荧光光谱
TEM 透射电子显微镜，是以波长比极短的电子束作为照明源，用电磁透射聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。
球差是由电磁透镜中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的。
衍射衬度象：晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异形成的衬度象。
2、步进扫描又称阶梯扫描，将计数器在某些位置停下，在足够长的时间内进行定时计数测定后使此转过一个适当小的角度，再进行下次测量。
6、色差由于成像电子波长（能量）变化引起电磁透镜焦距变化而产生的一种像差。处理方法：尽可能减小样品的厚度，以利于提高分辨率。
9、热分析利用物质在温度变化过程中发生一系列物质变化显现的一系列热效应，质量变化，体积变化，与宏观表现，分析判断测试样中的物样组成、所含杂质，了解试样的热变化特性的一种方法。
三、判断题
1.滤波片的K吸收限应大于或小于Kα和Kβ。（×）
2.满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线。（√）
3.当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像。（×）
4. 原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（×）
5. TG曲线上基本不变的部分叫基线。（√）
6.有λ0的X射线光子的能量最大。（√）
7.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。（√）
8.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的像平面重合，叫衍射方式操作。（×）
9.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（×）
10.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶面间距增加。（×）
1、当高速电子的能量全部转换为x射线光子能量时产生λ0，此时强度最大，能量最高。（×）
2、弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推，与衍射峰曲线相交的点。（×）
3、减弱中间镜的电流，增大其物距，使其物平面与物镜的后焦平面重合，叫衍射方式操作。（√）
4、SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。（√）
5、基线是ΔΤ=0的直线。（×）
1．连续X射谱中，随V增大，短波极限值增大。（×）
2．凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。（×）
3．色差是由于能量非单一性引起的。（√）
4．当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时，可看到形貌像。（×）
5．非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。（√）
1.有λ0的X射线光子的能量最大。（×）
2.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。（×）
3.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的像平面重合，叫衍射方式操作。（×）
4.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（×）
5.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶面间距增加。（√）
四、问答题
简述特征X射线产生的机理？
答：入射电子能量等于或大于物质原子中K层电子的结合能,将K层电子激发掉,外层电子会跃迁到K层空位,因外层电子能量高,多余的能量就会以X射线的形式辐射出来,两个能级之间的能量差是固定的,所以此能量也是固定,即其波长也是固定的。
二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？
答：相同点：两者都是通过调制物理信号得到的像衬度
不同点：二次电子的强度与原子序数没有明确的关系，但对微区表面相对于入射电子束的方向却十分敏感。而背散射电子对原子序数或化学成分的变化敏感。
与现有一些常用的测试技术相比，试述热分析具有的主要特点？并举例说明。
答：（1）不受式样分散的限制，即使是粒度小于1μm的高分散的材料，也同样能在温度变化过程中显示出固有的物化性能变化；（2）无论式样是否是晶体，只要在温度变化过程中有物化反应发生，就可以用此法进行研究。举例如下（1）研究无机非金属材料工业中所用原料，尤其是天然原料在加热时的变化特性，了解原料的主矿成分，进行主矿原料的定量分析；（2）研究矿化剂的效能；（3）研究固相反应机理；(4) 确定物质熔融和结晶温度（5）根据试样是热效应特点，为改进工艺，改良配方、克服产品缺陷提供重要的参考资料（6）研究与制定烧成制度与烧成曲线。
什么是莫赛莱定律，莫赛莱定律的物理意义是什么？
答：物理意义：只要同一种元素，不论其处于何种物理化学状态，其所发射的特征X 射线具有相同波长。
简述特征X射线谱与连续谱的发射机制的主要区别？
答：连续X射线谱与特征X射线谱。产生机制的主要区别为，两者的X射线能量来源不同。
连续X射线：电子束电子撞击阳极靶后，固自身能量不足，无法激发阳极靶材原子内层电子，只作瞬间的减速，损失动能一部分转化为内能另一部分以X射线光子形式辐出，由于电子束中大量电子的速度不同，减速情况不同，故可形成连续谱即连续X射线能量来源于电子束电子动能。
特征X射线：电子束电子撞击阳极靶后，由于具有足够能量，可将阳极靶材原子内层电子激发，能量升高，外层电子全跃迁填空以降低能量同时其多余能量以X射线光子形式辐出，由于原子各能级间能量未确定，不同原子相同能级间能量差不同，故可得到具有特定波长的特征X射线，波长仅与原子序数有关，即特征X射线光子能量来自阳极靶材原子内部电子跃迁释放的能量，即能量级能量差。
透射电镜中经投影的二次复型样品怎样形成形貌像？该像是如何改善衬度的？
答：经投影的二级复型样品二，其不同部分厚度不同，其对应散射电子束强度不同，即形成衬度，得到衬度像。
该像是通过投影重金属加强衬度。
陶瓷原料在加热过程中出现哪些热效应？
答：脱水，有机物燃烧，分解，重结晶，晶型转变，变价离子变价（氧化还原）1、简述x射线衍射物相定性分析的一般步骤。
简述x射线衍射物相定性分析的一般步骤。
答：1：通过一定实验方法获得待测物的X射线衍射花样；2：计算各衍射峰对应晶面网的d值及衍射强度；3：与已知物质的标准衍射花样进行比对，鉴定出物相成分。试推导体心点阵系统消光规律。
答：体心点阵每个晶胞中，含有2个类同原子000，1/2 1/2 1/2,设原子散射振幅为f
F2hkl= [f (cos2π(hx+hy+lz) ]2 +[f (sin2π(hx+hy+lz)]2
=f2[1+ (cos(h+k+l) π]2 +[f (sin2π(hx+hy+lz)]2
当h+k+l为奇F2hk= f2[1+(-1)]2+0=0，系统消光
当h+k+l为偶F2hk= f2[1+(1)]2+0=4f2，衍射加强
3TEM萃取复型样品的散射衬度像形成原理是什么？
答：萃取复型样品中，除变形材料外，还含有一些物相颗粒，这些物相颗粒的存在使复形型样品不同位置对电子散射能力有所不同，同时样品各处厚度不同，其电子散射能力不同，从而在显示装置上呈现明暗不同的衬度来。
有金的多晶样品（面心立方结构，a=4.07?）的电子衍射花样，量得R1、R2、R3值分别为8.8、10.3、14.3(mm)，请列表计算有效相机常数K值。
答：（如最下表）
K=k1+k2+k3/3=20.739(mma)
如何利用综合热分析曲线制定陶瓷的烧成制度？
答：⑴利用差热曲线分析陶瓷原料烧成的热效应，分析确定失水温度、析晶温度等，从而确定烧成制度的预热烧成制度。⑵由升温速率及差热曲线，推算各过程所用时间⑶对胚体和烧成体分别做热膨胀分析，测定热膨胀系数，以确定烧成制度的升温，冷却速率。
简述多晶试样X衍射定性分析的步骤。
答：1、制备待测样品通过一定实验方法获得试样的X射线衍射花样。
2、由衍射花样计算各衍射线对应面网的d值和强度。
3、与已知物相的衍射数据进行比对，鉴定试样物相。
薄膜样品在透射电镜中如何形成散射衬度像?
答：因各处厚度不同，以及各处可能存在化学组成差异使各处对电子的散射能力不同，从
而在显示装置上显示明暗不同的衬度像。
简述扫描电镜中二次电子像的成像原理。
答：二次电子像又叫表向形貌衬度，由于来照射样品表面时，激发表层原子产生二次电子，二次电子——与表向形貌特点密切相关，由于各处表向形貌不同，二次电子的——不同，二次电子的——不同，——信号强度也不同，在显示器上显示具有明暗——的衬度像。
绘出高岭、多水高岭的DTA曲线并解释之。
答：多水高岭在100——150℃左右有一吸热峰；600℃有一吸热峰，为脱去结构水产生，同时晶格破坏成非晶水950℃左右由于非晶重结晶放出热量，并以1050℃左右发生晶型转变，产生一个小的放热峰；
高岭石无100-150℃的脱去吸附水的吸热峰，只在600℃左右脱去结构水，吸热峰，950℃左右非晶态重结晶的放热峰及1050℃晶型转变放热峰，生成过渡态莫来石和方石英。
透射电镜中塑料二级复型（经重金属投影）样品的形貌像是如何形成的?
答：各处厚度不同，电子散射能力不同，同时，由于重金属投影。使得存在重金属的地方散射能力非常大，增大了不同位置的衬方差。
简述XRD定性物相鉴定的程序。
答：通过实验获得待测试样的衍射花样，从衍射花样上列出d值和相对强度I/I1，然后根据三强线（或八强线）查索引并核对卡片上全部数据，最后综合做出鉴定结果。
电子探针与扫描电镜有何异同？
EPMA与SEM的主要区别在于，EPMA用于成分分析，形貌观察，以成分分析为主。主要用WDS进行成分分析，检出角大，附有光学显微镜，可以准确定位工作距离，束流大、稳定，所以定量结果准确度高，检测极限低，缺点是真空腔体大，成分分析束流大，所以电子光路，光阑等易污染，图像质量不如SEM。EPMA二次成像分辨率分别为3nm（场发射）、5nm（LaB6）、6nm（W灯丝）SEM同样用于形貌分析，成分分析，但以形貌观察为主，束流稳定度为10-2/h左右，大量数据测量时稳定时间不能满足要求。其图像分辨率高，分别为0.4-1nm（场发射）、3nm（W灯丝）。
热重分析在无机材料中具体有哪些应用？试举例说明
答：陶瓷矿物原料的组分定性、定量无机和有机化合物的的热分解蒸发、升华速度的测量反应动力学（活化能和反应级数的测定）催化剂和添加剂评定吸水和脱水测定
举例：确定化合物热分析的中间产物确定化合物的制备条件
一、名词解释
相干散射波长不变的散射,又称经典散射.
系统消光由原子在晶胞中的位置不同而引起某些方向上衍射线的消失称为系统消光.
粉晶衍射仪法利用X射线的电离效应及荧光效应，由辐射探测器（各种计数器）来测定记录衍射线的方向和强度。
EPMA 电子探针工
几何像差透镜磁场几何上的缺陷所产生,包括球差、像散和畸变.
相位衬度像利用电子束相位变化由两束以上电子束相干成像
DSC 差示扫面量热法
微商热重分析能记录TG曲线对温度或时间的一阶导数的一种技术，也即质量变化速率作为温度或时间的函数被连续记录下来。
特征X射线具有特定波长的X射线
X射线强度是指垂直于x射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和。
光电效应X射线与物质作用，具有足够能量的X射线光子也能激发掉K层的电子，外层电子跃迁填补，多余的能量辐射出来，此时这里被X射线激发出来的电子成为光电子，所辐射出来的X射线成为荧光X射线，这个过程称为光电效应。
TEM 透射电镜
球差是由电磁透镜中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的。
衍射衬度象
差示扫描量热法DSC
DTA 差热分析
1、相对强度
2、步进扫描
3、指标化
4、F
5、JCPDS
6、色差
7、弹性散射
9、热分析
10、TG
1．特征X射线
2．衍射线的相对强度
3．多重性因子
4．XRD
5．AES
6．静电透镜
7．焦深
9．热分析
10．DTA
衍射线的相对强度
连续X射线
俄歇效应
K S j
衬度
ICTA
二、填空题
1.吸收限的应用主要是：合理的选用滤波片材料害人辐射源的波长（即选阳极靶材
料）以便获得优质的花样衍射。
2．影响衍射线强度的因子是：1.多重性因子2. 结构因子3.脚因子4.温度因子5.
吸收因子
3.透射电镜制备样品的方法主要有：直接法：粉末颗粒样品、超薄切片、直接薄膜样品间接法：一级复型、二级复型；半直接法：萃取复型
4．SEM的主要工作方式有：发射方式、反射方式、吸收方式、投射方式、俄歇电子方式、X射线方式、阴极发光方式、感应信号方式。
5．DTA中用参比物稀释试样的目的是：减少被测样品的数量1．滤波片的K吸收限应刚好位于和之间，且大于，小于。2．衍射花样由两个方面组成：一方面是，另一方面是。3．景深是指在保持前提下，试样在上下沿镜轴所允许移动的距离。4．SEM的主要性能有：
5．影响热重曲线的主要因素是： .
1．获得X射线的条件是：
2．X射线衍射仪有二种扫描方式：
3．电磁透镜有以下特点：
4．SEM的主要性能有：
5．影响差热曲线的主要因素是： .
1．一束X射线通过物质时，它的能量可分为三部分：
2．衍射线的分布规律是由决定的，而衍射线的强度则取决于。3．扫描电镜的主要结构分为四大系统：
4．在陶瓷原料中发生的主要热效应有：
5．热分析的主要方法是： .
1．X射线辐射探测器分为三种类型：
2．误差校正方法有：
3．电磁透镜有以下特点：
4．粉末样品的分散方法主要有：
5．影响热重曲线的主要因素是： .
三、判断题
1.滤波片的K吸收限应大于或小于Kα和Kβ。
2.满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线。
3.当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像。（√）
4. 原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（×）
5. TG曲线上基本不变的部分叫基线。
1.有λ0的X射线光子的能量最大。
2.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。
3.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的像平面重合，叫衍射方式操作。
4.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。
5.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶面间距增加。
1、当高速电子的能量全部转换为x射线光子的能量时产生λ0，此时强度最大，能量最高。
2、弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推，与衍射峰曲线相交的点。
3、减弱中间镜的电流，增大其物距，使其物平面与物镜的后焦平面重合，叫衍射方式操作。
4、SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。
5、基线是ΔΤ=0的直线。
1．连续X射谱中，随V增大，短波极限值增大。
2．凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。
3．色差是由于能量非单一性引起的。
4．当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时，可看到形貌像。
5．非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。
1.有λ0的X射线光子的强度最大。
2.满足布拉格方程就能产生衍射。
3.衍射方式操作能看到样品的形貌像。
4.电磁透镜的色差是由于透镜磁场几何上的缺陷引起的。
5.△T热偶的工作原理是由于两种金属间的接触电位差。
四、问答题
1．简述特征X射线产生的机理？
1.答：入射电子能量等于或大于物质原子中K层电子的结合能,将K层电子激发掉,外层电子会跃迁到K层空位,因外层电子能量高,多余的能量就会以X射线的形式辐射出来,两个能级之间的能量差是固定的,所以此能量也是固定,即其波长也是固定的。
2．试推导面心点阵晶胞的系统消光规律。（面心点阵有四个同类原子，其坐标为000、1/2 1/2 0、1/2 0 1/2、0 1/2 1/2，原子散射振幅为f a）
3．精确测定点阵常数时，在实验技术和数据处理上都应注意什么问题？
4．二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？
4.答：相同点：两者都是通过调制物理信号得到的像衬度
不同点：二次电子的强度与原子序数没有明确的关系，但对微区表面相对于入射电子束的方向却十分敏感。而背散射电子对原子序数或化学成分的变化敏感。
5．与现有一些常用的测试技术相比，试述热分析具有的主要特点？并举例说明。
5.答：（1）不受式样分散的限制，即使是粒度小于1μm的高分散的材料，也同样能在温度变化过程中显示出固有的物化性能变化；（2）无论式样是否是晶体，只要在温度变化过程中有物化反应发生，就可以用此法进行研究。举例如下（1）研究无机非金属材料工业中所用原料，尤其是天然原料在加热时的变化特性，了解原料的主矿成分，进行主矿原料的定量分析；（2）研究矿化剂的效能；（3）研究固相反应机理；(4) 确定物质熔融和结晶温度（5）根据试样是热效应特点，为改进工艺，改良配方、克服产品缺陷提供重要的参考资料（6）研究与制定烧成制度与烧成曲线。
1．什么是莫赛莱定律，莫赛莱定律的物理意义是什么？
2．试推导体心点阵晶胞的系统消光规律。（每个晶胞中有2个同类原子，其坐标为000和1/2 1/2 1/2，原子散射振幅为f a）
3．简述特征X射线谱与连续谱的发射机制的主要区别？
4．透射电镜中经投影的二次复型样品怎样形成形貌像？该像是如何改善衬度的？
5．陶瓷原料在加热过程中出现哪些热效应？
1、简述x射线衍射物相定性分析的一般步骤。
2、试推导体心点阵系统消光规律。
3、TEM萃取复型样品的散射衬度像形成原理是什么？
4、有金的多晶样品（面心立方结构，a=4.07?）的电子衍射花样，量得R1、R2、R3值分别为8.8、10.3、14.3(mm)，请列表计算有效相机常数K值。
5、如何利用综合热分析曲线制定陶瓷的烧成制度？
1．试推导体心点阵晶胞（原子坐标为0、0、0，1/2、1/2、1/2）的系统消光规律。2．简述多晶试样X衍射定性分析的步骤。
3．薄膜样品在透射电镜中如何形成散射衬度像?
4．简述扫描电镜中二次电子像的成像原理。
5．绘出高岭、多水高岭的DTA曲线并解释之。
1．透射电镜中塑料二级复型（经重金属投影）样品的形貌像是如何形成的?
2．简述特征X射线谱与连续谱的发射机制的主要区别。
3．简述XRD定性物相鉴定的程序。
4．电子探针与扫描电镜有何异同？
5．热重分析在无机材料中具体有哪些应用？试举例说明。
软件测试大纲样本
中远程无人侦察机突防生存力评估系统 测试大纲
目录 1.测试目的 (3) 2.主要技术指标要求 (3) 2. 1 主要战术技术指标 (3) 2. 2 使用要求 (3) 3.测试要求 (4) 4.测试仪器及辅助设备 (4) 4.1 测试设备 (4) 4.2 测试连接 (4) 5.测试方法和步骤 (4) 5.1 测试方法和步骤 (4) 5.2 测试用例说明 (5) 5.3 中远程无人侦察机突防生存力评估系统测试用例 (7)
为了确保中远程无人侦察机突防生存力评估系统的产品质量，使产品能够顺利交付验收，需要测试中远程无人侦察机突防生存力评估系统是否满足任务书规定的主要技术指标和使用要求。 2.主要技术指标要求 2. 1主要战术技术指标 该系统具有如下功能： ?可进行航路设定； ?可进行突防过程中威胁环境的设定； ?可显示突防过程中的地理环境； ?可动态显示无人机飞行航迹； ?具备无人机三维动态视景仿真功能； ?具备无人机突防生存力评估功能。 2.2使用要求 1.本系统独立运行,能为无人机生存力评估提供一个三维动态仿真平台，能形象、直观、逼真地演示无人机对防空系统雷达网突防的过程；在确定的飞机性能、自然地理环境下选择合理的飞行航路，使无人机受到敌方防空系统的探测降低到最低限度，提高无人机的突防概率；方便地评估无人机的生存能力，还可用于任务规划人员的日常训练； 2.硬件环境：计算机CPU采用Inter酷睿i7 2.0GHz以上，内存不小于2GB，硬盘容量不小于256GB，具有标准网络接口，包含鼠标、键盘等通用外设； 3. 软件环境：操作系统Windows 7/Windows XP。
机械工程测试技术基础实验指导书讲解
《机械工程测试技术基础》实验指导书实验一观测50Hz非正弦周期信号的分解与合成 一、实验目的 1、用同时分析法观测50Hz非正弦周期信号的频谱，并与其傅立叶级数各项的频率与系数作比较。 2、观测基波和其谐波的合成 二、实验设备 1、信号与系统实验箱：TKSS-A型或TKSS-B型或TKSS-C型： 2、双综示波器。 三、实验原理 1、一个非正弦周期函数可以用一系列频谱成整数倍的正弦函数来表示，其中与非正弦具有相同频率的成分称为基波或一次谐波，其它成分则根据其频率为基波频率的 2、 3、 4、。。。、n等倍数分别称二次、三次、四次、。。。、n次谐波，其幅度将随谐波次数的增加而减小，直至无穷小。 2、不同频率的谐波可以合成一个非正弦周期波，反过来，一个非正弦周期波也可以分解为无限个不同频率的谐波成分。 3、一个非正弦周期函数可用傅立叶级数来表示，级数各项系数之间的关系可用一个频谱来表示，不同的非正弦周期函数具有不同的频谱图，各种不同波形及其傅氏级数表达式如下，方波频谱图如图2-1表示 图2-1方波频谱图
1、方波 ()?? ? ??++++= t t t t u t u m ωωωωπ7sin 715sin 513sin 31sin 4 2、三角波 ()?? ? ??++-= t t t U t u m ωωωπ5sin 2513sin 91sin 82 3、半波 ()?? ? ??+--+= t t t U t u m ωωωππ4cos 151cos 31sin 4212 4、全波 ()?? ? ??+---= t t t U t u m ωωωπ6cos 3514cos 1512cos 31214 5、矩形波 ()?? ? ??++++= t T t T t T U T U t u m m ωτπωτπωτππτ3cos 3sin 312cos 2sin 21cos sin 2图中LPF 为低通滤波器，可分解出非正弦周期函数的直流分量。BPF 1～BPF 6为调谐在基波和 各次谐波上的带通滤波器，加法器用于信号的合成。 四、预习要求 在做实验前必须认真复习教材中关于周期性信号傅立叶级数分解的有关内容。 五、实验内容及步骤 1、调节函数信号发生器，使其输出50Hz 的方波信号，并将其接至信号分解实验模块 BPF 的输入端，然后细调函数信号发生器的输出频率，使该模块的基波50Hz 成分BPF
能源与动力工程测试技术复习资料
1、热电偶测温的原理、基本定律及应用、热电偶测温冷端温度补偿方法 （温差电动势可以忽略不计，在热电偶回路中起主要作用的是接触电动势） 热电偶回路的热电动势只与组成热电偶的材料及两端接点的温度有关；与热电偶的长度、粗细、形状无关。导体材料确定后，热电动势的大小只与热电偶两端的温度有关，而且是T的单值函数，这就是利用热电偶测温的基本原理。 (1) 均质导体定律 如果热电偶回路中的两个热电极材料相同，无论两接点的温度如何，热电动势均为零；反之，如果有热电动势产生，两个热电极的材料则一定是不同的。根据这一定律，可以检验两个热电极材料的成分是否相同(称为同名极检验法)，也可以检查热电极材料的均匀性。 (2) 中间导体定律 在热电偶回路中接入第三种导体C，只要第三种导体的两接点温度相同，则回路中总的热电动势不变。 (3) 标准电极定律
如果两种导体分别与第三种导体组成的热电偶所产生的热电动势已知，则由这两种导体组成的热电偶所产生的热电动势也就可知。为分度表的制作提供理论基础 (4) 中间温度定律 热电偶在两接点温度分别为T、T0时的热电动势等于该热电偶在接点温度分别为T、Tn和接点温度分别为Tn、T0时的相应热电动势的代数和。为分度表的应用提供理论基础 由于热电偶产生的电势与两端温度有关，只有将冷端温度保持恒定才能使热电势正确反映热端的被测温度。由于有时很难保证冷端温度在恒定0℃，故常采取一些冷端补偿措施。 1.冷端恒温法 (1) 冰点槽法 (2) 其它恒温器 2.补偿导线法：将冷端延伸到温度恒定的场所 3.计算修正法 4.电桥补偿法
5.显示仪表零位调整法 6.软件处理法 2、霍耳传感器的工作原理、特点 原理：半导体薄片置于磁感应强度为B 的磁场中，磁场方向垂直于薄片，当有电流I 流过薄片时，在垂直 于电流和磁场的方向上将产生电动势EH，这种现象称为霍尔效应。作用在半导体薄片上的磁场强度B越 强，霍尔电势也就越高。霍尔电势用下式表示： 特点： 1、为提高灵敏度, 霍尔元件常制成薄片形状。 2、要求霍尔片材料有较大的电阻率和载流子迁移率。 3、只有半导体材料适于制造霍尔片。 4、霍尔集成电路可分为线性型和开关型两大类。 5、霍尔传感器广泛用于电磁测量、压力、加速度、振动等方面的测量。
软件测试教学大纲
《软件测试》课程教学大纲 一、课程基本信息 课程编号：×××× 课程名称：软件测试 学时：32学时 实验学时：8学时 课程类别：专业课 课程性质：必修课 先行课程：C语言，数据结构，面向对象开发工具，数据原理 适用专业：计算机科学与技术，计算机软件技术 责任单位：计算机工程系 二、课程性质、目的与任务 本课程是计算机科学与技术及软件技术专业的专业必修课。其教学目的是通过本课程学习，使学生系统地学习软件测试的基本概念和基本理论，深刻理解和掌握软件测试和软件测试过程的基本方法和基本技术。了解和掌握现代各种新的软件测试技术和主要发展方向。为学生将来从事实际软件测试工作和进一步深入研究打下坚实的理论基础和实践基础。 三、课程的内容及要求、教学重点与难点 （一）软件测试概述 1、主要教学内容及要求 1）理解软件测试的背景，软件缺陷和故障的概念 2）理解软件测试的意义 3）理解软件开发过程与软件测试的关系 4）理解软件质量的概念及质量保证体系 5）了解软件测试职业与素质的要求
2、知识点与能力点要求 1）知识点：软件测试等相关概念。 （二）软件测试策略与过程 1、主要教学内容及要求 1）理解软件测试的方法与策略 2）明确单元测试的主要任务和过程 3）理解软件测试的复杂性 4）明确集成测试的方法和确认测试的准则 5）明确系统测试的八个领域测试要点 6）明确验收测试的主要内容和相关配置 2、知识点与能力点要求 1）知识点：软件测试方法与策略 2）能力点：单元测试、集成测试、系统测试及验收测试的方法3、教学的重点与难点 1）教学重点：软件测试方法与策略 （三）黑盒测试及其用例的设计 1、主要教学内容及要求 1）理解黑盒测试的基本概念 2）理解黑盒测试的两个典型问题 3）掌握黑盒测试的等价类划分法 4）掌握黑盒测试的边界分析法 5）掌握黑盒测试的因果图法和决策表法 2、知识点与能力点要求 1）知识点：黑盒测试方法 2）能力点：黑盒测试方法 3、教学的重点与难点 1）教学重点：黑盒测试方法 （三）白盒测试及其用例的设计 1、主要教学内容及要求
机械工程测试技术基础复习提纲
Chapter 1 1、信号的三种分类方法及其定义 （1）确定性信号与随机信号。若信号可表示为一个确定的时间函数，因而可确定其任何时刻的量值，这种信号称为确定性信号（分为周期信号，非周期信号）；随机信号是一种不能准确预测未来瞬时值，也无法用数学关系式来描述的信号。 （2）连续信号和离散信号。若信号数学表示式中的独立变量取值是连续的，为连续信号；若独立变量取离散值，为离散信号。 （3）能量信号和功率信号。电压信号x（t）加到电阻R上，其瞬时功率P（t）=x2（t）/R。把信号x（t）的平方x2（t）及其对时间的积分分别称为信号的功率和能量。 2、周期信号频谱的三个特点 （1）周期信号的频谱是离散的（2）每条谱线只出现在基波频率的整数倍上，基波频率是诸分量频率的公约数（3）各频率分量的谱线高度表示该谐波的幅值或相位角。 3、傅里叶变换的性质（P30 表1-3） 时域 频域 δ（t）? 1 （单位瞬时脉冲）（均匀频谱密度函数） 1 ?δ（f）（幅值为1的直流量）在（f=0处有脉冲谱线） δ（t-t0）?e-j2πfto δ函数时移t0 （各频率成分分别相移2πfto 角） ej2πfot ?δ （f-f0） （复指数函数）（将δ（f）频移到f0） 正、余弦函数的频谱密度函数： 由sin2πf0t=j（e-j2πfot-ej2πfot）/2，cos2πf0t=（e-j2πfot+ej2πfot）/2，变换为sin2πf0t?j[δ（f+f0）-δ（f-f0）]/2,cos2πf0t? [δ（f+f0）+δ（f-f0）]/2
第 2 页 共 7 页 5、各态历经平稳随机过程定义及其性质 定义：平稳随机过程是指其统计特征参数不随时间而变化的随机过程。 性质：当取样在时间轴上作任意平移时，随即过程的所有有限维分布函数是不变的。 6、随机信号的主要特征参数及其含义 参数：（1）均值、方差和均方值（2）概率密度函数（3）自相关函数（4）功率谱密度函数。 含义：均值μx 表示信号的常值分量，方差σx2描述随机信号的波动分量，均方值φ2描述随机信号的强度。概率密度函数表示信号幅值落在指定区间的概率。自相关函数，假如x(t)是某各态历经随机过程的一个样本记录，x （t+τ）是时移的样本，在任何t=ti 时刻，从两个样本上可以分别得到两个值x(ti ）和x （ti +τ），而且x(t) 和x （t+τ）具有相同的均值和标准差。功率谱密度函数，.对于具有连续频谱和有限平均功率的信号或噪声，表示其频谱分量的单位带宽功率的频率函数。 习题1-3求指函数x （t ）=Ae-at （a>0,t ≥0）的频谱。 解：指函数的频谱 x （t ）=X （f ）? ∞∞ -x （t ）e-j2πftdt=? ∞ Ae-ate-j2π ftdt=A/(a+j2πf) 习题1-6求指数衰减振荡函数x （t ）=e -at sinw 0t 的频谱。 解：指数衰减振荡函数的频谱x （t ）=X （f ）?∞ ∞-x （t ）e -j2πft dt=?∞ （e -at sin2πf 0t ）e -j2πft dt=?∞0 e -at 2j （e -j2πfot - e j2πfot ）e -j2π ft dt=2 j ( ） π（）π（fo -f j2a 1-fo f 2j a 1+++) Chapter 2 1、测试装置的静态特性参数有哪几个？各自的含义？ 参数及含义：(1)线性度，测量装置输入、输出之间的关系与理想比例关系（即理想直线关系）的偏离程度(2)灵敏度，单位输入变化引起的输出变化，通常使用理想直线的斜率作为测量装置的灵敏度值(3)回程误差（迟滞），描述测量装置同输入变化方向有关的输出特性(4)分辨力， 引起测量装置的输出值产生一颗可察觉变化的最小输入量（被测量）变化值称为分辨力(5)零点漂移和灵敏度漂移，零点漂移是测量装置的输出零点偏离原始零点的距离；灵敏度漂移则是由于材料性质的变化引起的输入与输出的关系（斜率）的变化。总误差是零点漂移与灵敏度漂移只和。 2、传递函数的分母由什么决定？分子由什么决定？ 传递函数H （s ）=Y （s ）/X （s ），分母X （s ）取决于系统的结构。分母中s 的最高次幂n 代表系统微分方程的阶数。分子Y （s ）则和系统同外界之间的关系。如输入（激励）点的位置、输入方式、被测量及测点布置情况有关。 3、一阶系统的传递函数、频率响应函数、幅频特性和相频特性 传递函数：H （s ）=1/（τs+1），频响函数：H （w ）=1/（j τw+1），幅频特 性：A （w ）= 2 w 11 ） （τ+，ψ（w ）=-arctan （τw ），负号表 示输出信号滞后于输入信号。 4、二阶系统的传递函数、频率响应函数、幅频特性和相频特性 传递函数：2 n n 2 2 n s 2s s H ωξωω++=）（，频响函 数： n 2n j 2]- 1[1 H ωωξωωω+= ）（）（，幅频 特性： 2 n 222n 4]1[1 A ）（）（ ）（ωωξωωω++= ，相频特性： 2 n n -12-arctan ） （）（ ）（ωωωω ξωψ= 5、实现不失真测试的条件 设有一个测量装置，其输出y （t ）和输入x （t ）满足y （t ）=A0x （t-t0），
测试技术基础习题答案-江征风
测试技术基础部分题目答案 第二章 2-21．求正弦信号)2sin( )(t T A t x π =的单边、 双边频谱、实频图、虚频图，如该信号延时4/T 后，其各频谱如何变化？ 解： (1)由于22()sin()cos()2 x t A t A t T T πππ==-，符合三角函数展开形式，则 在 2T π 处：1n A =，所以，单边频谱图为图1的（a ）。 对)2sin()(t T A t x π =进行复指数展开：由于222()sin( )()2 j t j t T T jA x t A t e e T ππ π-==- 所以，在2T π -处：2n jA C =，0nR C =，2nI A C =，||2n A C =，2n πθ= 在2T π处：2n jA C =-，0nR C =，2nI A C =-，||2n A C =，2 n πθ=- 所以，实频图、虚频图、双边幅频图、双边相频图分别如图1的(b)、(c)、(d)、(e)。 T T - (a)单边幅频图 (b) 实频图 (c) 虚频图 (d) )双边幅频图 (e) 双边相频图 图1 正弦信号x (t)的频谱 （2）当延迟4/T 后，()x t 变为2()sin ()4T x t A t T π ??=-? ???，由于 222()sin ()cos ()cos 442T T x t A t A t A t T T T πππππ?????? =-=--=- ??????????? ，符合三角函数 展开形式，则 在 2T π 处：1n A =，所以，单边频谱图为图2的（a ）。 对222()sin ()sin()cos()42T T x t A t A t A t T T T π ππ??=-=-=-? ???进行复指数展开， 由于222()cos()()2 j t j t T T A x t A t e e T ππ π--=-=+ 所以，在2T π -处：2n A C =-，2nR A C =-，0nI C =，||2n A C =，n θπ=
计算机三级考试软件测试技术考试大纲
计算机三级考试软件测试技术考试大纲 全国计算机等级考试三级软件测试技术 考试大纲(2013年版) 基本要求 1.熟悉软件质量、软件测试及软件质量保证的基础知识。 2.掌握代码检查、走查与评审的基本方法和技术。 3.掌握白盒测试和黑盒测试的测试用例的设计原则和方法。 4.掌握单元测试和集成测试的基本策略和方法。 5.了解系统测试、性能测试和可靠性测试的基本概念和方法。 6.了解面向对象软件和WEB应用软件测试的基本概念和方法。 7.掌握软件测试过程管理的基本知识和管理方法。 8.熟悉软件测试的标准和文档。 9.掌握QESuite软件测试过程管理平台和QESat/C++软件分析和测试工具的使用方法。 考试内容 一、软件测试基本概念 1.软件质量的概念。 2.软件测试的目标和原则。 3.软件测试的心理学。 4.软件测试的经济学。
5.软件质量保证。 二、软件测试的类型及其在软件开发过程中的地位 1.软件开发阶段。 2.规划阶段的测试。 3.设计阶段的测试。 4.编码阶段的测试。 5.验收和维护阶段的测试。 三、代码检查、走查与评审 1.桌面检查。 2.代码走查。 3.代码检查。 4.同行评审。 四、覆盖率(白盒)测试 1.覆盖率概念。 2.逻辑结构的覆盖测试。 3.路径覆盖测试。 4.数据流测试。 5.程序变异测试。 6.基于覆盖的测试用例选择。 五、功能(黑盒)测试 1.边界值测试。 2.等价类测试。
3.基于因果图的测试。 4.基于决策表的测试。 5.基于状态图的测试。 6.基于场景的测试。 7.比较测试。 六、单元测试和集成测试 1.单元测试的目标和模型。 2.单元测试策略。 3.单元测试分析。 4.单元测试的测试用例设计原则。 5.集成测试基本概念。 6.集成测试策略。 7.集成测试分析。 8.集成测试用例设计原则。 七、系统测试 1.系统测试概念。 2.系统测试方法。 3.系统测试的实施。 八、软件性能测试和可靠性测试 1.软件性能的概念。 2.性能测试的执行。 3.软件可靠性的概念。
机械工程测试技术基础试题及复习资料
《机械工程测试技术基础》课后答案 章节测试题 第一章 信号及其描述 （一）填空题 1、 测试的基本任务是获取有用的信息，而信息总是蕴涵在某些物理量之中，并依靠它们来 传输的。这些物理量就是 ，其中目前应用最广泛的是电信号。 2、 信号的时域描述，以 为独立变量；而信号的频域描述，以 为独立变量。 3、 周期信号的频谱具有三个特 点： ， ， 。 4、 非周期信号包括 信号和 信号。 5、 描述随机信号的时域特征参数有 、 、 。 6、 对信号的双边谱而言，实频谱（幅频谱）总是 对称，虚频谱（相频谱）总是 对 称。 （二）判断对错题（用√或×表示） 1、 各态历经随机过程一定是平稳随机过程。（ ） 2、 信号的时域描述与频域描述包含相同的信息量。（ ） 3、 非周期信号的频谱一定是连续的。（ ） 4、 非周期信号幅频谱与周期信号幅值谱的量纲一样。（ ） 5、 随机信号的频域描述为功率谱。（ ） （三）简答和计算题 1、 求正弦信号t x t x ωsin )(0=的绝对均值μ|x|和均方根值x rms 。 2、 求正弦信号)sin()(0?ω+=t x t x 的均值x μ，均方值2x ψ，和概率密度函数p(x)。 3、 求指数函数)0,0()(≥>=-t a Ae t x at 的频谱。 4、 求被截断的余弦函数???≥<=T t T t t t x ||0 ||cos )(0ω的傅立叶变换。 5、 求指数衰减振荡信号)0,0(sin )(0≥>=-t a t e t x at ω的频谱。 第二章 测试装置的基本特性 （一）填空题 1、 某一阶系统的频率响应函数为121 )(+=ωωj j H ，输入信号2 sin )(t t x =，则输出信号)(t y 的频率为=ω ，幅值=y ，相位=φ 。 2、 试求传递函数分别为5.05.35.1+s 和222 4.141n n n s s ωωω++的两个环节串联后组成的系统的 总灵敏度。 3、 为了获得测试信号的频谱，常用的信号分析方法有 、 和 。 4、 当测试系统的输出)(t y 与输入)(t x 之间的关系为)()(00t t x A t y -=时，该系统能实现 测试。此时，系统的频率特性为=)(ωj H 。 5、 传感器的灵敏度越高，就意味着传感器所感知的 越小。 6、 一个理想的测试装置，其输入和输出之间应该具有 关系为最佳。 （二）选择题 1、 不属于测试系统的静特性。 （1）灵敏度 （2）线性度 （3）回程误差 （4）阻尼系数 2、 从时域上看，系统的输出是输入与该系统 响应的卷积。 （1）正弦 （2）阶跃 （3）脉冲 （4）斜坡
软件测试工程师考试历年试题及解答
软件评测师考试历年试题及解答 软件评测师考试大纲（2005年版） 一、考试说明 1. 考试要求 （1）熟悉计算机基础知识； （2）熟悉操作系统、数据库、中间件、程序设计语言基础知识； （3）熟悉计算机网络基础知识； （4）熟悉软件工程知识，理解软件开发方法及过程； （5）熟悉软件质量及软件质量管理基础知识； （6）熟悉软件测试标准； （7）掌握软件测试技术及方法； （8）掌握软件测试项目管理知识； （9）掌握C语言以及C++或Java语言程序设计技术； （10）了解信息化及信息安全基础知识； （11）熟悉知识产权相关法律、法规； （12）正确阅读并理解相关领域的英文资料。 2. 通过本考试的合格人员能在掌握软件工程与软件测试知识的基础上，运用软件测试管理办法、软件测试策略、软件测试技术，独立承担软件测试项目；具有工程师的实际工作能力和业务水平。 3. 本考试设置的科目包括: （1）软件工程与软件测试基础知识，考试时间为150分钟，笔试，选择题； （2）软件测试应用技术，考试时间为150分钟，笔试，问答题。 二、考试范围 考试科目1：软件工程与软件测试基础知识 1．计算机系统基础知识 1.1 计算机系统构成及硬件基础知识 ·计算机系统的构成 ·处理机 ·基本输入输出设备 ·存储系统 1.2 操作系统基础知识 ·操作系统的中断控制、进程管理、线程管理 ·处理机管理、存储管理、设备管理、文件管理、作业管理 ·网络操作系统和嵌入式操作系统基础知识 ·操作系统的配置 1.3 数据库基础知识 ·数据库基本原理 ·数据库管理系统的功能和特征 ·数据库语言与编程
1.4 中间件基础知识 1.5 计算机网络基础知识 ·网络分类、体系结构与网络协议 ·常用网络设备 ·Internet基础知识及其应用 ·网络管理 1.6 程序设计语言知识 ·汇编、编译、解释系统的基础知识 ·程序设计语言的基本成分（数据、运算、控制和传输、过程（函数）调用）·面向对象程序设计 ·C语言以及C++（或Java）语言程序设计基础知识 2．标准化基础知识 ·标准化的概念（标准化的意义、标准化的发展、标准化机构） ·标准的层次（国际标准、国家标准、行业标准、企业标准） ·标准的类别及生命周期 3．信息安全知识 ·信息安全基本概念 ·计算机病毒及防范 ·网络入侵手段及防范 ·加密与解密机制 4．信息化基础知识 ·信息化相关概念 ·与知识产权相关的法律、法规 ·信息网络系统、信息应用系统、信息资源系统基础知识 5．软件工程知识 5.1 软件工程基础 ·软件工程概念 ·需求分析 ·软件系统设计 ·软件组件设计 ·软件编码 ·软件测试 ·软件维护 5.2 软件开发方法及过程 ·结构化开发方法 ·面向对象开发方法 ·瀑布模型 ·快速原型模型 ·螺旋模型 5.3 软件质量管理 ·软件质量及软件质量管理概念 ·软件质量管理体系 ·软件质量管理的目标、内容、方法和技术 5.4 软件过程管理
中南大学机械工程测试技术实验指导书
机械工程测试技术基础 实验报告 学号：0801130801 学生: 俞文龙 指导老师：邓春萍
实验一电阻应变片的粘贴及工艺 一、实验目的 通过电阻应变片的粘贴实验，了解电阻应变片的粘贴工艺和检查方法及应变片在测试中的作用，培养学生的动手能力。 二、实验原理 电阻应变片实质是一种传感器，它是被测试件粘贴应变片后在外载的作用下，其电阻丝栅发生变形阻值发生变化，通过阻桥与静动态应变仪相连接可测出应变大小，从而可计算出应力大小和变化的趋势，为分析受力试件提供科学的理论依据。 三、实验仪器及材料 QJ－24型电桥、万用表、兆欧表、电烙铁、焊锡、镊子、502胶、丙酮或酒精、连接导线、防潮材料、棉花、砂纸、应变片、连接片。 四、实验步骤 1、确定贴片位置 本实验是在一梁片上粘贴四块电阻应变片，如图所示： 2、选片 1）种类及规格选择 应变片有高温和常温之分，规格有3x5，2x4，基底有胶基箔式和纸基箔式。常用是3*5
胶基箔式。 2)阻值选择： 阻值有120欧，240欧，359欧，500欧等，常用的为120欧。 3)电阻应变片的检查 a.外观检查，用肉眼观察电阻应变是否断丝，表面是否损坏等。 b.阻值检查：用电桥测量各片的阻值为配组组桥准备。 4)配组 电桥平衡条件：R1*R3 = R2*R4 电桥的邻臂阻值小于0.2欧。 一组误差小于0.2% 。在测试中尽量选择相同阻值应变 片组桥。 3．试件表面处理 1) 打磨，先粗打磨，后精细打磨 a. 机械打磨，如砂轮机 b. 手工打磨，如砂纸 打磨面积应大于应变片面积2倍，表面质量为Ra = 3.2um 。应成45度交叉打磨。因为这样便于胶水的沉 积。 2)清洁表面 用棉花粘积丙酮先除去油污，后用酒精清洗，直到表面干净为止。 3)粘贴。涂上502胶后在电阻应变片上覆盖一薄塑料模并加压，注意电阻应变片的正反面。反面涂胶，而正面不涂胶。应变片贴好后接着贴连接片。 4)组桥：根据要求可组半桥或全桥。 5)检查。 用万用表量是否断路或开路，用兆欧表量应变片与被测试件的绝缘电阻，静态测试中应大于100M欧，动态测试中应大于50M欧。 6)密封 为了防止电阻应变被破坏和受潮，一般用AB胶覆盖在应变片上起到密封和保护作用，为将来长期监测做好准备。 五实验体会与心得 本次亲自动手做了应变片的的相关实验，对应变片有了进一步的认识，通过贴应变片组成电桥，认识并了解了应变片的粘贴工艺过程，以及对应变片在使用之前是否损坏的检查。通过实验，进一步了解了应变片在试验中的作用，同时也锻炼了自身的动手能力。
机械工程测试技术期末考试试题A
机械工程测试技术期末 考试试题A Document number【AA80KGB-AA98YT-AAT8CB-2A6UT-A18GG】
《机械工程测试技术基础》课程试题A 一、填空题（20分，每空1分） 1.测试技术是测量和实验技术的统称。工程测量可分为_____和_____ 。 2.测量结果与_____ 之差称为_____ 。 3.将电桥接成差动方式习以提高_____ ，改善非线性，进行_____ 补偿。 4.为了_____温度变化给应变测量带来的误差，工作应变片与温度补偿应变片应接在 _____。 5．调幅信号由载波的_____携带信号的信息，而调频信号则由载波的_____ 携带信号的信息。 6．绘制周期信号()x t 的单边频谱图，依据的数学表达式是 _____，而双边频谱图的依据数学表达式是 _____。 7．信号的有效值又称为_____，有效值的平方称为_____，它描述测试信号的强度(信号的平均功率)。 8．确定性信号可分为周期信号和非周期信号两类，前者频谱特点是_____，后者频谱特点是_____。 9.为了求取测试装置本身的动态特性，常用的实验方法是_____和_____。 10.连续信号()x t 与0()t t δ-进行卷积其结果是：0()()x t t t δ*-= _____。其几何意义是_____。 二、选择题（20分，每题2分） 1．直流电桥同一桥臂增加应变片数时，电桥灵敏度将( )。 A ．增大 B ．减少 C.不变 D.变化不定 2．调制可以看成是调制信号与载波信号( )。 A 相乘 B ．相加 C ．相减 D.相除 3．描述周期信号的数学工具是( )。 A ．相关函数 B ．拉氏变换 C ．傅氏变换 D.傅氏级数 4．下列函数表达式中，( )是周期信号。 A ． 5cos100()00t t x t t π?≥?=??
计算机应用技术专业职业技能测试大纲
《计算机应用技术》专业职业技能测试大纲 一、测试的性质与目的 2019年安徽城市管理职业学院城市计算机应用技术专业职业技能测试，是面向中等职业学校相关专业毕业生的选拔性测试，侧重考察考生的基本科学素养、理科基础知识以及对计算机软硬件知识的掌握情况。 二、测试形式及分值 1．测试形式：采用面试形式，每位考生面试时间为5分钟左右。 2. 测试分值：满分为300分。 三、测试内容 1.计算机基本知识 （1）计算机的大致组成； （2）计算机各部分的基本功能。 2.计算机操作系统的常识 （1）计算机操作系统的大致分类； （2）计算机操作系统的主要功能模块。 3.计算机软件的基本知识 （1）计算机软件的功能； （2）计算机软件的开发流程； （3）计算机软件的开发工具基本使用。 4.计算机硬件的基本知识 （1）计算机硬件的分类； （2）计算机硬件的作用。
5.计算机网络的基本知识 （1）计算机网络的划分； （2）IP地址的基本概念。 四、评分标准 评分标准分以下5个方面： 1．精神面貌与心理素质：考生的仪表是否整洁；精神是否饱满，言谈举止是否适当。 2.语言表达能力：考生回答问题是否详略得当；语言表达是否连贯流畅、清晰。 3.逻辑思维能力：考生回答问题的层次是否清晰；前后逻辑关系是否严密；思维是否敏捷；回答问题能否自圆其说。 4.理解沟通能力、应变组织协调能力：考生能否正确理解考官提问的内容；回答问题能否抓住关键点；处理问题是否有决断力。 5.创新能力与发展潜力：考生分析与解决问题有无创新意识；是否发展潜力。 五、题型举例 1．考生说出至少三种常用操作系统（包括微型计算机用操作系统和手机用操作系统）。 2．什么是计算机软件？什么是计算机硬件？两者的区别和联系是什么？
机械工程测试技术试卷4,有答案
一、 填空题（20分，每空1分） 1.测试技术是测量和实验技术的统称。工程测量可分为 静态测量 和 动态测量 。 2.测量结果与 被测真值 之差称为 测量误差 。 3.将电桥接成差动方式习以提高 灵敏度 ，改善非线性，进行 温度 补偿。 4.为了 补偿 温度变化给应变测量带来的误差，工作应变片与温度补偿应变片应接在 相邻 桥臂上。 5．调幅信号由载波的 幅值携带信号的信息，而调频信号则由载波的 频率 携带信号的信息。 6．绘制周期信号()x t 的单边频谱图，依据的数学表达式是 傅氏三角级数中的各项系数 ，而双边频谱图的依据数学表达式是 傅氏复指数级数中的各项系数 。 7．信号的有效值又称为 均方根值 ，有效值的平方称为 均方值2ψ ，它描述测试信号的强度(信号的平均功率)。 8．确定性信号可分为周期信号和非周期信号两类，前者频谱特点是 离散的 ，后者频谱特点是 连续的 。 9.为了求取测试装置本身的动态特性，常用的实验方法是 频率响应法 和 阶跃响应法 。 10.连续信号()x t 与0()t t δ-进行卷积其结果是：0()()x t t t δ*-= 0()x t t - 。其几何意义是 把原函数图像平移至0t 位置处 。 二、 选择题（20分，每题2分） 1．直流电桥同一桥臂增加应变片数时，电桥灵敏度将(C)。 A ．增大 B ．减少 C.不变 D.变化不定 2．调制可以看成是调制信号与载波信号(A)。
A 相乘 B ．相加 C ．相减 D.相除 3．描述周期信号的数学工具是(D)。 A ．相关函数 B ．拉氏变换 C ．傅氏变换 D.傅氏级数 4．下列函数表达式中，(B)是周期信号。 A ．5cos100()00 t t x t t π? ≥?=? ?
工程测试技术_复习资料
第1章 信号分析基础 ⒈信息：描述事物运动的状态和方式 ⒉信号：信息是客观存在或运动状态的特征，它总是通过某些物理量的形式表现出来，这些物 理量就是信号 ⒊信息与信号之间的关系：信号时信息的载体，是物质，具备能量；信息是信号所载的内容，不等于物质，不具 备能量。同一个信息，可以用不同的信号来运载；同一种信号，也可以运载不同的信息 ⒋谐波信号：在周期信号中，按正弦或余弦规律变化的信号。表达式为)cos(x )(?+=wt t x 圆频率T 2π= w ，频率为π2w f =，周期w f π21T == ⒌周期信号的频谱特性：①周期信号各谐波频率必定是几波平率的整数倍频率分量（谐波性） ②频谱是离散的（离散性） ③有幅频谱线看出，谐波复制总的趋势是随谐波次数增多而减小（收敛性） 6.傅里叶级数定理：以T 为周期的函数)(t x ，如果在[2,2T T - ]上满足狄利克雷条件，即)(t x 在[2 ,2T T -]上满足：①连续或只有有限个第一类间断点 ②只有有限个极值点。则在[2 ,2T T -]上可展开成傅里叶级数。 0w 为基频。连续点处： ∑∞=++=1 000)sin cos (2)(n n n t nw b t nw a a t x =∑∞ =++100)cos(2n n n t nw A a ? = ) cos(][0) (1 00000n n c t nw j n t jnw n n n t jnw n t jnw n c t nw c e c e c e c e c c n ∠+===++∑∑∑∑∞ ∞ -∠+∞ ∞ -∞ -∞ =∞ =- dt nw t x T b dt nw t x T a dt t x T a T w T T n T T n T T ???---====22 002 22200sin )(2,cos )(2,)(2,2π n n n n n n a b b a A arctan ,22-=+= ?， 2 sin ,2cos ? ?????j j j j je je e e --+-= += n n n n n n n n n n a b arc c c A b a c c ?==-=-∠∠=+==,2 222 的傅里叶逆变换 的傅里叶变换和这种变换称为构成了一种变换，既与傅里叶变换：)()(),()()()()()(,)()(.722f X t x f X t x f X t x dt e t x f X df e f X t x ft j ft j ?==??∞ ∞ --∞ ∞ -ππ其中为频谱函数的傅里叶像函数。为的傅里叶原函数，为)()()()()(f X t x f X f X t x 。 ⒏傅里叶变换的主要性质：①奇偶虚实性质 ②线性叠加性质 ③对称性质 ④时间 尺度改变性质 ⑤时移性质 ⑥频移性质 ⑦卷积定理 ⑧微分性质 ⑨积分性质
2016年测试技术基础试题库综合版(带答案)
各章节复习题(答案在后面) 第一章 信号及其描述 （一）填空题 1、 测试的基本任务是获取有用的信息，而信息总是蕴涵在某些物理量之中，并依靠它们来 传输的。这些物理量就是 ，其中目前应用最广泛的是电信号。 2、 信号的时域描述，以 为独立变量；而信号的频域描述，以 为独立变量。 3、 周期信号的频谱具有三个特 点： ， ， 。 4、 非周期信号包括 信号和 信号。 5、 描述随机信号的时域特征参数有 、 、 。 6、 对信号的双边谱而b ，实频谱（幅频谱）总是 对称，虚频谱（相频谱）总是 对 称。 （二）判断对错题（用√或×表示） 1、 各态历经随机过程一定是平稳随机过程。（ ） 2、 信号的时域描述与频域描述包含相同的信息量。（ ） 3、 非周期信号的频谱一定是连续的。（ ） 4、 非周期信号幅频谱与周期信号幅值谱的量纲一样。（ ） 5、 随机信号的频域描述为功率谱。（ ） （三）简答和计算题 1、 求正弦信号t x t x ωsin )(0=的绝对均值μ|x|和均方根值x rms 。 2、 求正弦信号)sin()(0?ω+=t x t x 的均值x μ，均方值2 x ψ，和概率密度函数p(x)。 3、 求指数函数)0,0()(≥>=-t a Ae t x at 的频谱。 4、 求被截断的余弦函数?? ?≥<=T t T t t t x ||0 ||cos )(0ω的傅立叶变换。 5、 求指数衰减振荡信号)0,0(sin )(0≥>=-t a t e t x at ω的频谱。
第二章 测试装置的基本特性 （一）填空题 1、 某一阶系统的频率响应函数为1 21 )(+= ωωj j H ，输入信号2 sin )(t t x =，则输出信号)(t y 的频率为=ω ，幅值=y ，相位=φ 。 2、 试求传递函数分别为5.05.35 .1+s 和2 2 2 4.141n n n s s ωωω++的两个环节串联后组成的系统 的总灵敏度。 3、 为了获得测试信号的频谱，常用的信号分析方法有 、 和 。 4、 当测试系统的输出)(t y 与输入)(t x 之间的关系为)()(00t t x A t y -=时，该系统能实现 测试。此时，系统的频率特性为=)(ωj H 。 5、 传感器的灵敏度越高，就意味着传感器所感知的 越小。 6、 一个理想的测试装置，其输入和输出之间应该具有 关系为最佳。 （二）选择题 1、 不属于测试系统的静特性。 （1）灵敏度 （2）线性度 （3）回程误差 （4）阻尼系数 2、 从时域上看，系统的输出是输入与该系统 响应的卷积。 （1）正弦 （2）阶跃 （3）脉冲 （4）斜坡 3、 两环节的相频特性各为)(1ωQ 和)(2ωQ ，则两环节串联组成的测试系统，其相频特 性为 。 （1） )()(21ωωQ Q （2）)()(21ωωQ Q + （3）) ()() ()(2121ωωωωQ Q Q Q +（4） )()(21ωωQ Q - 4、 一阶系统的阶跃响应中，超调量 。 （1）存在，但<5％ （2）存在，但<1 （3）在时间常数很小时存在 （4）不存在 5、 忽略质量的单自由度振动系统是 系统。 （1）零阶 （2）一阶 （3）二阶 （4）高阶 6、 一阶系统的动态特性参数是 。 （1）固有频率 （2）线性度 (3)时间常数 （4）阻尼比 7、 用阶跃响应法求一阶装置的动态特性参数，可取输出值达到稳态值 倍所经 过的时间作为时间常数。 （1）0.632 （2）0.865 （3）0.950 （4）0.982 （三）判断对错题（用√或×表示） 1、 一线性系统不满足“不失真测试”条件，若用它传输一个1000Hz 的正弦信号，则 必然导致输出波形失真。（ ） 2、 在线性时不变系统中，当初始条件为零时，系统的输出量与输入量之比的拉氏变换 称为传递函数。（ ） 3、 当输入信号)(t x 一定时，系统的输出)(t y 将完全取决于传递函数)(s H ，而与该系 统的物理模型无关。（ ） 4、 传递函数相同的各种装置，其动态特性均相同。（ ） 5、 测量装置的灵敏度越高，其测量范围就越大。（ ） 6、 幅频特性是指响应与激励信号的振幅比与频率的关系。（ ）
工程测试技术试题及答案
复习总结 一、概念题 1.测试过程中，若所测试的信号不随时间变化或变化非常缓慢，称这种测试称为静态测试。 如果所测试的信号随时间周期变化或变化很快，这种测试称为动态测试。 2.传感器是把被测量转换成易于变换、传输和处理的一种器件或装置。 3.按构成原理分类，电阻应变片、热敏电阻、压电晶片属物性型传感器。 4.按构成原理分类，电容传感器、自感型电感式传感器属结构型传感器。 5.为提高和改善传感器的技术性能，可采取以下技术措施：差动技术、平均技术以及补偿 与修正技术。 6.传感器的定度曲线（或标定曲线）与拟合直线之间的偏离程度称为传感器的线性度。 7.传感器的灵敏度是指稳态时，输出变化量与输入变化量之间的比值。 8.对于一阶传感器系统，当其时间常数（或τ）越小，其频率响应特性越好。 9.激波管标定系统中，激波管的作用是一种动态标定设备，能产生阶跃压力信号输出。 10.金属电阻应变片的规格一般以面积（或长×宽）和初始阻值表示。 11.用电阻应变片测量构件的变形，影响电阻应变片电阻变化的因素有：应变片的灵敏度和 初始阻值、被测构件的应变量、以及应变片沿构件的粘贴方向。（因为：△R=KεR，K 为灵敏度，R为应变片初始阻值，ε被测构件的应变量） 12.将电阻丝绕成应变片后，由于存在横向效应，其灵敏系数一般会减小。 13.在电桥测量中，由于电桥接法不同，输出电压的灵敏度也不同，全桥接法可以得到最大 灵敏度输出。 14.应变片的温度误差补偿方法通常可分为：桥路补偿法、应变片自补偿法。 15.根据工作原理，变气隙型自感式传感器的灵敏度具有理论上的非线性。 16.电涡流接近开关结构简单，根据其工作原理，不可用来进行类似如玻璃瓶、塑料零件以 及水的液位的检测。 17.在差动式自感传感器中，若采用交流桥路为变换电路，常出现零点残余电压现象，该现 象使传感器灵敏度下降，灵敏阈值增大，非线性误差增大。 18.差动变压器式位移传感器是将被测位移量的变化转换成线圈互感系数的变化，两个次级 线圈要求反向串接。 19.电容传感器的转换电路包括：交流电桥、变压器电桥、调频电路、运算放大器电路。 20.压电式传感器是一种可逆型传感器，即可将机械能转换为电能。也可反之实现逆向变换。 21.压电传感器中压电晶片的等效电路，可以看作是一个电荷源与一个电容器的并联。 22.压电传感器测量电路常接电压或电荷放大器。其中若传感器输出接电荷放大器，则其输 出基本不受连接电缆长度的影响。 23.压电式传感器的测量电路中，前置放大器的作用是阻抗变换和信号放大。 24.目前，用压电陶瓷制作的力传感器一般不能用于测量静态力，而只能用来测量动态力。 25.热电偶热电动势的形成是由于接触电动势和温差电动势共同作用的结果。 26.若组成热电偶的两导体材料相同，当参比端温度为20℃、工作端温度为100℃时，则其