基于平板模型的X射线散射特性研究
基于TracePro的空间目标光学散射特性建模与仿真

基于TracePro的空间目标光学散射特性建模与仿真
孙成明;赵飞;张泽
【期刊名称】《光子学报》
【年(卷),期】2014(0)11
【摘要】为给空间目标光学探测与识别提供数据支持,建立了基于TracePro的空
间目标光学散射特性计算模型.以空间目标天基红外系统为例,综合考虑目标的结构
特性、材料特性、背景特性及轨道特性,通过TracePro中建立几何模型、设定材质、设定光源、计算光线路径等环节,对目标光学散射特性进行仿真分析.结果表明,目标的光谱辐照度曲线与太阳一致.镜反射时,目标的等效光谱反射率曲线与砷化镓电池
片一致,随着目标旋转,目标的等效光谱反射率曲线趋向于与包覆材料一致,而后保持不变.为空间目标光学散射特性研究思路提供了借鉴.
【总页数】5页(P54-58)
【关键词】空间光学;空间目标;散射特性;TracePro;建模与仿真
【作者】孙成明;赵飞;张泽
【作者单位】中国科学院光电研究院
【正文语种】中文
【中图分类】O432.1;O435.1
【相关文献】
1.基于STK的空间目标可见光散射特性建模与仿真 [J], 李艳杰;金光;钟兴
2.基于目标可见光散射特性的空间目标成像仿真研究 [J], 黄建明;刘鲁江;王盈;魏
祥泉
3.基于光学散射特性的失稳空间目标旋转分析 [J], 田琪琛;李智;徐灿;李鹏
4.空间目标的可见光散射特性建模与仿真研究 [J], 吴英;杨玲;范剑英;王洋;吴岩;王长劲
5.基于光学仿真Tracepro软件对多面微结构导光板光学性能的研究 [J], 王佳佳;贺建芸;谢鹏程;申增强;马旭
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电磁波的散射与反射特性研究

电磁波的散射与反射特性研究电磁波在空间传播中会被遇到的物体进行散射和反射,这种特性对于电磁波的应用和技术发展具有重要意义。
通过研究电磁波的散射与反射特性,可以深入了解电磁波的传播规律和相互作用机制。
1. 表面散射表面散射是指电磁波与物体表面的相互作用过程。
当电磁波遇到粗糙的表面时,会因为表面不规则造成的散射现象。
这种表面散射主要有两种类型:布儒斯特散射和兰伯特散射。
布儒斯特散射是指当电磁波的波长小于物体表面不规则的尺度时,在各个方向上均匀地散射。
而兰伯特散射则是指当电磁波的波长大于物体表面不规则的尺度时,散射角度主要集中在反射角度的附近。
2. 多次反射在实际环境中,电磁波与物体的相互作用往往是多次反射的过程。
当电磁波遇到一个物体后,会被反射回来,然后再次遇到其他物体,继续进行反射和传播。
这种多次反射会导致信号的稀疏和衰减,同时也会引起复杂的相干和干扰现象。
因此,研究和理解多次反射对电磁波传播和应用的影响,对于无线通信和雷达技术的发展具有重要意义。
3. 散射角度与频率的关系根据电磁波的散射理论,散射角度与波长和物体的特性有关。
当电磁波的波长远大于物体的表面特征时,散射现象会更加明显。
而当电磁波的波长接近或小于物体的表面特征时,散射角度会减小。
这种散射角度与频率的关系被称为布拉格散射,是在X射线衍射实验中首先被发现的。
4. 电磁波的相位和幅度在电磁波的散射与反射过程中,电磁波的相位和幅度会发生变化。
当电磁波与物体表面发生散射时,其相位和幅度会发生随机的变化,导致信号的相干性和幅度失真。
针对这种现象,人们通过调整发射和接收设备的参数,可以降低散射对信号质量的影响。
5. 散射与反射的应用电磁波的散射与反射特性广泛应用于无线通信、雷达探测、遥感测量和医学成像等领域。
在无线通信中,人们可以通过合理设计天线和接收设备,利用散射与反射现象来实现信号的传输和接收。
在雷达探测中,通过分析目标物体的散射特性,可以获取物体的位置、尺寸和形状等信息。
天文学报 第51卷(2010) 总目次

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星 系
发 射线 星系 『 ]32 / 0IA7 7H ̄谱线 流量 比的研 究 … … … … … … … … … … . I . 高 峰 孔 旭 林 宣滨 张 伟 李 金荣 () 8 赛 弗特 星系恒 星速度 弥散 度 的测量 … … … … … … … … … … 付 晓鑫 顾 秋生 (8 1) 3 4 C 3 5和 3 7 C 2 3的光变 分析 … … … … … … … … … … … . 洪涛 杨俊英 (7 .王 2) 带权 重 的相关 函数在 半解 析模 型和 S S数据 中的应用 … … … … … … 杨宇飞 (4 DS 3) 用 ww z变换 分析 类星体 3 4 C 3 5的光变 周期 … … . … … . … … . … … . . . . . 董 富通 张皓 晶 毛李胜 张 雄 郑永 刚 唐 玲 (1) 17 P C 4等 三维旋 涡星 系盘 等效厚 度 的测定 … … … … 李 港 罗志全 彭 秋和 (2 ) G 5 17 处理 相关 光变 时 间延迟 的新方 法 … … … … … … … … … … … … … . 袁 聿海 (2 ) . 2 8 耀变 体 3 7 C 2 3在 2 0kV 的光 变特 性研 究 … … . ~1 e .… … . .… … . … … . . . 吴 霄 刘智 敏 闫大 海 包 昆森 戴 本忠 (3 ) 2 6 星 系 团 Ab l8 el 5的动 力学子 结构 … … … … … … … … … … . 吉莉 袁 启荣 (4 ) 万 2 5 喷 流吸收 对 3 7 C 2 9非热辐 射谱 的影 响 … … … … … … … … . 周 向仁 张 力 (4 ) . 31 OJ2 7的引力 波辐射 研 究 … … … … … … … … … … … … … … … … 8 孙 玉涛 刘 杰英 刘进 忠 艾艳 丽 周 明 乔 二林 (4 ) 3 8
平板胸部X射线成像与存储荧光体X射线成像及胶片屏幕X射线成像的图像质量比较

Marika Ganten1, Boris Radeleff, Annette Kampschulte, Mark D. Daniels, Günter W. Kauffmann and Jochen Hansmann1 All authors: Department of Diagnostic Radiology, Ruprecht-Karls-University of Heidelberg, Radiological University Hospital, Im Neuenheimer Feld 110, 69120 Heidelberg, Germany.摘要目的为了评价大面积直接读出平板探测系统胸部X射线成像图像的质量,我们展开了一项观测者倾向性研究。
用临床对比研究方法对平板系统与存储荧光体和标准的胶片屏幕系统展开对比研究。
材料与方法使用平板、存储荧光体、胶片屏幕系统获得了对30名患者进行常规胸部X射线成像检查图像(后前位),然后对其进行比较研究。
10处解剖部位的可见度与整个图像的质量标准由三位放射学家通过5分类法独立进行鉴定。
诊断结果的差异显著性使用Wilcoxon's符号秩检验进行判断。
同时也进行了三种模式的剂量测定。
结果在大多数解剖结构中,平板X射线成像系统与一流的常规胶片屏幕系统相比图像可见度有所改善;与存储荧光体系统相比其可见度相当。
平板系统在对细小结构的描绘质量上有极大的提高(p<0.05),并且,这是在整体放射剂量减少50%的情况下获得的。
结论尽管减少了放射剂量,平板探测器系统提供的解剖结构可见度即使没有超越常规和存储荧光体系统,但至少也跟它们一样好。
简介数字X射线成像技术的最近发展主要局限于直接读出平板探测器领域。
人们要求这一技术至少要与传统的标准胶片屏幕系统同样精确,同时,还必须具有数字图像“归档”系统。
初步模型研究显示,与传统的胶片屏幕系统相比,平板X射线成像图像能够提高空间和对比分辨率并且允许放射剂量的减少[1-3]。
平板探测器X射线数字成像质量

摘 要:以提高 图 质量为 目的, 像 对平板探测器数字成像 系统进行全 面分析 , 讨其成像 质量 的影 响因素, 为几何 探 认
结构和噪声是影响成像质量 的主要 因素 , 并建 立相应 的数学模 型. 以此为基础 , 用约束最小 二乘方滤波器 对降质 采 后 的图像进行 滤波复原. 仿真结果表明, 所建立的数学模 型是有效 的, 复原后图像 的质量 一定程度上得到 了改善. 关键词 :平板探测器 ;X射 线;数字成像 ;噪声;图像质量
Ab ta t no d rt n a c h g u l y h a t r h t fe t h ma i gq aiywe eds u s d sr c :I r e o e h n et ei eq a i ,t efco st a fc ei gn u l r ic s e ma t a t t
文章编号 :1 7-1 6 20 )20 2—5 6 35 9 (0 7 0 -0 00
平板探测 器 x射线数字成像质量
马跃洲h , 艾维平 ,张 昌青
(.兰州理工大学 材料科学与工程 学院, 2 兰州理工大学 甘肃省有色金属新 材料省部共建 国家重点实验室 , 甘肃 兰州
有许多优点 , 例如无边缘几何畸变、 存储方便可靠 , 量子检测效率高 、 系统噪声小 、 灵敏度和分辨率高 、 动态 范 围及成 像 面积较大 、 可编程控 制特 性 、 用 有 应
灵活和实时成像等. 它是 目前 唯一可 以取代传统胶 片照相的技术 , 近年来逐步在工业无损探伤领域 中 得到 应用 . ¨ 在 x射线平板探测器数字成像检测系统 中, 因 受各种硬件设备 的制 约, 图像存在 噪声大 、 其 反差
Ke r s:fa a e e e t r y wo d ltp n ld tco ;X-a ;dgt l ma ig;n ie ma eq ai ry ii gn ai os ;i g u l y t
2013 年11 月25 日同济大学授予博士学位名单

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2013 年 11 月 25 日同济大学授予博士学位名单
(共 351 人,其中:学术型学位 338 人,职业型学位(专业学位)13 人) 一、学术型学位(338 人)
平板模型的散射规律

一
。
27 r
、 d—h d
、
式 中,
,P, ,X ,h和 d分别 表示 隐式俘 获 因子 、发生康普 顿散 射概率 因子 、散射记 录 的指 向概 率 o
因子 、材料 的线吸 收系数 、 l 处 x 光 的照 射量 、平 板客 体厚度 和板 前平面 到探 测器 的距离 。 m
客 体 的密 度提 取精度 。 因而要求对 MC模 拟散射 分量 及其 正确 性进行 检验 。
散射 问题 是高 能辐射成像 研 究 中的重要 问题 ,采 用 MC模 拟 来确定 散射对 提取 客体信 息 的影响 是一种
重 要研 究手段 。针对 闪光 照相特 点 ,编 制 了光 子 输运程 序 F MC FahX— do rp ymo t cr ) XR (ls r igah ne al ,该程 a o 序 在 闪光 照相 研究 中发挥 了重要 的作用 , 但一直 没 开展 F MC在 散射检 验方面 的工 作 。 XR 首先 通过 F R X MC
射 的规律 。平板 厚度相 应 的 x光 光程 为 1  ̄ .,散 射照 射量 最大 。 . 20 0 利用 KenNi ia公式计 算 了不 同能量下康 普 顿散射 的指 向概率 。 1 出了不 同能量下 的康普 顿散 li- s n h 图 给 射 的指 向概率前 点 的康 普顿 散射 的指 向概 率最 大 。 表 由高能下材料 的特 性知 ,x光 与材料 相互 作用 中 以康普 顿散 射为 主 。图 2给 出了探测 到的 20Me . V光
维普资讯
2 0 中国工程 物理研究院科 技年报 7
假 设 R = zR = 4 IR = 3R =R,上式便 可写成 V=o /+ g。可见 ,当锰铜 计 的引线 电阻相对 于敏 感 区电阻不 oI( 2 R ) R
xrd透射原理范文

xrd透射原理范文X射线衍射(X-ray diffraction,简称XRD)是一种研究晶体结构和材料性质的非常有用的实验技术。
它通过测量晶体中X射线的散射模式,可获得关于晶体中原子排列方式和晶格参数的详细信息。
X射线是一种电磁辐射,具有波长在0.01到10纳米之间,能量范围为120至120,000电子伏特。
它的波长非常接近晶体的原子间距,因此透过晶体的X射线将被散射和干涉。
X射线衍射实验使用一台X射线衍射仪。
该仪器包括X射线源(通常是钨或铜的X射线管)、样品台、探测器和一系列光学和机械元件。
样品台可调节样品和X射线的相对位置,以便观察到所需的散射图样。
在X射线穿过晶体时,会与晶体内原子发生相互作用。
这种相互作用包括散射和吸收。
散射可分为弹性散射和非弹性散射。
弹性散射是指入射X射线的能量和波长在与出射X射线相同的情况下,只改变了入射X射线的传播方向。
而非弹性散射则会导致X射线的能量和波长发生变化。
当入射X射线与晶体中的原子相互作用时,会发生衍射现象。
晶体中原子的排列方式决定了衍射的强度和角度。
当入射X射线的波长等于晶体一些晶面间距的一倍时,衍射会发生最强。
这种衍射极大地反映了晶体结构的信息。
根据布拉格方程,X射线衍射的角度和波长之间存在着关系。
方程如下:n × λ = 2d × sinθ其中,n是一个整数,λ是入射X射线的波长,d是晶面间距,θ是衍射的角度。
这个方程说明了通过测量衍射角度和波长,可以确定晶面间距。
实际的X射线衍射实验是通过旋转样品台来改变衍射图样的观察角度,从而测量不同角度下的衍射强度。
这些强度数据可以通过数学模型进行分析和计算,从而确定晶体的晶格参数和原子的排列方式。
X射线衍射在材料科学、生物化学和地质学等多个领域中有广泛的应用。
它被用来研究晶体的结构、相变、应力分布、晶体定向以及谱学等问题。
在材料科学中,X射线衍射可用于研究金属、合金、超导体、半导体、纳米材料等的结构与性质之间的关系。
高能X-射线数字平板成像系统中的射线背散射问题探讨

线 ( 经典散射, 瑞利散射) 也有 入 入。 , > 的射线 ( 康
普 顿散 射 ) 。原子 量小 的物 质 , 普顿散 射较 强 ;原 康
子 量大 的物 质 ,康普 顿效 应较 弱 。
2 高能 X 射线 的背散射影 响 一
图 2所示 是在 实验室 条件 下做 的 背散射 接 收实 验, 目的是验证 背散 射对数 字平 板成 像 系统 的影 响 。 射 线 源 为 4M 电 子 直 线 加 速 器 , 接 收 器 为 eV
1 电子对等组成 . 3
电子对 生成 的 能量 阈值 时是 ! 2 V,在能 量 . Me 0 高 于 4 V的 X一 线 的衰减 中 ,电子对 生成 过程 是 Me 射
很 显著 的 。
V I N 的 P XS A 4 3 字平板 成像 系统 l。 AR A A C N 0 0数 3 l
Abs r c : i a e t d c e I f e c f h a k r u d s a t r s ui n i n r yX-a t a tTh s p p r n r u e t l n e o e B c g o n c t & olt s i hghe e g r y i o h n u t e o n d g t l a i g a h c i gig s s e . i i d o r p i a r ma n y t m
Ke y wor s: ihe eryX—a d hg n g ry DR; a k r n c t r la hedn b c gou ds at ;e d s ilig e
1 高能 X 射 线的吸收及 散射 种类 一
11 光 电吸 收 .
当高 能 X 射 线照射 物体 时 , 一 由于光 子 与物体 中 的原子 核 及原 子 的电子 相互 作用 , 一 线就 被 衰减 X射 了 ,由文献 [] 道 ,在能 量为 01 V 以下 时 ,光 1知 .Me 电吸 收 会发 生在 钢 铁材 料 中 ,在 能量 超 过 0 1 V .Me
X射线衍射

测角仪的分类
(a)为结晶的低分子物质,每个 衍射峰都非常尖锐,说明该物质 具有严格三维周期性的结构; (b)为结晶较好的高聚物,如聚 -羟基乙酸,但与结晶的低分子 物质比较,各衍射峰均变宽; (c)为结晶度低的高聚物,衍射 角小时,峰还比较尖锐;随衍射 角的增加,衍射峰越来越平缓, 如聚丙烯腈就属此类型;(d)为 非晶高聚物的衍射曲线,没有明 显的尖锐峰,只有一个或两个 “钝峰”的连续强度分布曲线; (e)可以认为是典型半结晶高聚 物的X射线衍射图,具有 (b)(c)(d)三者的特征。
高分子研究方法
X 射线衍射
X射线的发生和性质
1895年德国的物理学家伦琴在研究阴极射线时,发现在 相对阴极的金属阳极上发射出一种新的射线,虽肉眼不可见, 但可从其引致铂氰化钡荧光屏发光而察知。由于当时人们从 未知晓此类射线,所以称之为X射线,后来人们为了纪念伦 琴的发现,也称之为伦琴射线。 X射线的性质与可见光线有差异,例如:穿透力强, 可透过一些可见光不能透过的物质,如黑纸、皮肤等;荧光 效应,可引致荧光物质如ZnS、CdS、NaI等发出荧光;电离 效应,可使气体发生电离;感光效应,即使底片感光;杀伤 效应,可以杀伤生物细胞;在电场作用下仍作直线传播;穿 透物质时可以偏振化,各种物质对它的吸收系数各不相同; 各种物质对X射线的折射率,n1,所以它不可能像可见光那 样利用折射效应来聚焦和放大;基于上一点的原因,其在两 种物质界面上全反射的临界角仅为10’~30’;当它穿过晶体物 质时,出现衍射现象等等。
聚乙烯的衍射花样(非晶和结晶)
丝蛋白的衍射花样(非晶部分结晶)
平板照相测点阵面间距
公式:tg 2 =L/D L-底片上测得衍射环的半径 D-试样到底片的距离 缺点:误差大
X射线的散射

1X射线的散射---根据散射前后能量变化与否,可将散射分为相干或非相干相干散射---由于散射波与入射波的波长相等位相差很定故在相同的方向上各散射波可能符合相干条件发生干涉故称相干散射2非相干散射---由于散射波的位相与入射波的位相不存在固定关系这种散射是不相干的故称非相干散射3X射线的吸收---是指X射线与物质作用时,其能量被转化为其他形式的能量,X射线的强度随之衰减4光电效应---当X射线的能量足够高时,同样可见物质原子的内层电子击出称为自由电子,并在内层产生空位,使原子处于激发状态,外层电子自发回迁填补空位,降低原子能量,产生辐射,这种由入射X射线激发原子产生辐射的过程称为光电效应5俄歇效应与荧光效应---入射X射线击出原子内层电子称为光电子后,原子处于被激发状态,此时有两种可能,一种是2次特征X射线即外层电子回填内层空位,原子以2次特征X射线的形式释放能量,该过程称为荧光效应或光致发光效应;另一种是外层电子回填内层空位后,原子所释放的能量杯同层电子吸收,并且挣脱核的束缚称为自由电子,在同层中发生两次电离,这种2次电离的电子被称为俄歇电子,这种现象称为俄歇效应。
6物相的定性分析基本原理:每种物相均有自己特定的结构参数,因而表现出不同的衍射特征,即衍射线的数目峰位和强度,对某种物质进行物相分析时,只需将所测的衍射图谱与标准图谱对照,就可以确定所测材料的物相。
步骤:1.运用X射线仪,获得待测样品前反射区的衍射花样,同时由计算机获得各衍射峰的相对强度,衍射晶面的面间距或面指数。
——2.当已知被测样品的主要化学成分时,可利用字母索引查找卡片在包含主元素各种可能的物相中,找出三强线符合的卡片,取出卡片,核对其余衍射峰,一旦符合,便能确定样品中含有该物相。
——3.当未知被测样品的组成元素时,需利用数字索引,进行定性分析,将衍射花样中相对强度最强的三强峰所对应的d1,d2,d3,由d1在索引中找到其所在大组,再按次强线的面间距d2在大组中找到与d2接近的几行,在d1d2符合后再对照第3.4 第8强线,若8强峰钧符合,则可取出卡片,对照剩余的d值和I/I1,若d值在允许的误差范围内均符合,即可定向。
x光子束穿过物体时其强度与穿透物体厚度指数衰减

x光子束穿过物体时其强度与穿透物体厚度指数衰减1.引言1.1 概述概述部分应该对文章的主题进行简要说明,以引起读者的兴趣。
X光子束的强度与穿透物体厚度的指数衰减关系是一个重要的研究领域,它对于理解和应用X射线技术具有重要意义。
随着医学、工业和科学领域对X射线成像需求的增加,对X光子束在穿透物体时的强度变化规律有着更深入的探索。
而正是通过研究X光子束的指数衰减现象,我们能够更好地了解物质的结构和组成。
本文将深入研究X光子束在穿透物体过程中的特性,并探讨其强度与穿透物体厚度之间的衰减关系。
首先,我们将简要介绍X光子束的特性,包括其波长、能量和穿透能力。
然后,我们将详细分析X光子束穿透物体的过程,包括与物质相互作用的主要机制和影响穿透的因素。
最后,我们将通过实验证据阐述X光子束强度与穿透物体厚度之间的指数衰减关系。
通过本文的阐述,读者将能够更好地理解X光子束的特性和穿透物体的过程,以及它们之间的关系。
此外,本文还将讨论该衰减关系在医学诊断、工业探测和材料分析等领域的应用前景与展望。
接下来的章节中,我们将逐步展开对这个问题的详细讨论,以进一步探索X光子束穿透物体时的强度变化规律。
1.2 文章结构文章结构:本篇文章主要分为引言、正文和结论三个部分。
引言部分从概述、文章结构和目的三个方面进行阐述。
首先,文章概述部分将介绍x光子束穿过物体时的强度变化情况,并提出穿透物体厚度与强度之间的指数衰减关系。
其次,文章结构部分将说明本篇文章的整体组织结构,包括引言、正文和结论三个部分。
最后,目的部分将明确本篇文章的研究目的,即探讨x光子束在穿透物体过程中强度与厚度的关系。
正文部分将拆分为两个小节,分别讨论x光子束的特性和x光子束穿透物体的过程。
在2.1小节中,将详细介绍x光子束的特性,包括其波长、频率、能量和穿透力等方面。
在2.2小节中,将探讨x光子束穿透物体的过程,包括通过物体的过程、与物体相互作用的方式以及与物体厚度的关系等内容。
X射线平板探测器性能比较研究

X射线平板探测器性能比较研究德润特数字影像科技(北京)有限公司张军毅,王同乐[摘要] 目的研究X射线平板探测器的性能及成像特点。
方法比较平板探测器的结构特点、成像性能和临床使用的优缺点。
结果探测器结构和材料是影响成像性能的主要因素。
结论非晶硒探测器和碘化铯-非晶硅探测器的成像性能及临床使用优于硫氧化钆-非晶硅探测器。
[关键词] 数字X射线摄影;非晶硒平板探测器;碘化铯-非晶硅平板探测器;硫氧化钆-非晶硅探测器;影像质量Comparison of performance on different X-ray flat panel detectorAbstract: Objective To Study the performance and imaging characteristics of the X-ray flat panel detector. Methods The different flat panel detector were compared and analysed by the structure feature, imaging performance and clinical application. Results The structure and material is the main factors of influence imaging performance for the flat panel detector. Conclusion The image quality and clinical application of the flat panel detector based on Amorphous Selenium and Cesium Iodide - Amorphous Silicon were more than the detector based on Gd2O2S – Amorphous Silicon.Key words: digital radiography, amorphous selenium flat panel detector, Cesium Iodide - Amorphous Silicon, Gd2O2S – Amorphous Silicon, image qualit数字摄影(Digital Radiography,DR)成为数字X射线摄影技术的主要发展方向,其更快的成像速度、更便捷的操作及更高的成像分辨率等特性得到影像专家的认可。
XRD物相分析原理及应用

XRD物相分析原理及应用X射线衍射(XRD)是一种无损的分析技术,用于对材料的晶体结构和物相进行研究。
它基于X射线的特性,利用物质被X射线散射而产生的衍射现象,推断出样品中存在的晶体结构和物相。
nλ = 2d sinθ其中,n是整数,λ是X射线的波长,d是晶格面间距,θ是X射线的散射角度。
XRD实验中,X射线通过样品时会被样品中的原子散射。
当满足布拉格方程时,入射X射线的相位与被散射X射线的相位相同,从而形成一个相干的干涉述态。
干涉导致X射线能量的增强或抑制。
通过测量散射角度和相干效应,可以得到样品中晶体的结构参数。
物相分析是XRD的主要应用之一、不同物质的晶体结构各异,通过比对样品的XRD衍射图谱与已知模式,可以确定样品中的晶体结构和物相。
这对于材料科学和矿物学领域的研究非常重要,可以帮助识别材料的组成和纯度,并验证材料的合成方法。
物相分析在材料科学中有广泛的应用。
一些常见的应用领域包括:1.化学合成:对于新合成的材料,物相分析可以帮助确定其是否具有理想的晶体结构。
这对于改善材料性能和开发新材料非常重要。
2.晶体学:物相分析可以用来确定晶体的晶格结构和晶胞参数。
这对于制定晶胞模型和研究晶体生长机制非常重要。
3.矿物学:物相分析可以用来确定矿物样品中不同相的存在。
这对于研究地球物质的组成和地质历史非常重要。
4.材料表征:物相分析可以确定材料中存在的杂质和缺陷。
这对于评估材料质量和控制生产过程非常重要。
5.相变研究:物相分析可以通过测量材料在不同温度和压力下的XRD 图谱,研究材料的相变行为和相变温度。
总之,XRD物相分析是一种强大的工具,用于研究材料的晶体结构和物相。
它在材料科学、矿物学和地球科学等领域具有广泛的应用价值。
通过物相分析,我们可以更好地了解材料的特性,促进材料科学的发展和应用。
物理实验技术中的散射实验方法与技巧

物理实验技术中的散射实验方法与技巧引言:物理实验技术是科学研究的基础,而散射实验在物理实验中占据了重要地位。
散射实验是通过研究物质与辐射或其他粒子之间的相互作用来了解物质的性质和结构。
它被广泛应用于材料科学、粒子物理学、核物理学等领域。
本文将介绍散射实验的基本原理、常用的散射实验方法以及一些技巧。
一、散射实验的基本原理散射实验基于散射现象的研究,散射现象是指粒子在物质中运动时与物质的原子或分子发生碰撞,使得其方向、速度等发生改变的现象。
散射实验通过测量入射粒子的入射方向、速度和出射方向、速度等参数来研究物质的性质和结构。
其基本原理可用散射截面、散射角等物理量来描述。
二、常用的散射实验方法1. 光学散射实验:光学散射实验是利用光与物质的相互作用来研究物质的方法。
常用的光学散射实验有斯托克斯散射实验和拉曼散射实验。
斯托克斯散射实验通过测量入射光的散射角和散射强度来研究物质的结构。
拉曼散射实验则通过测量光子的散射频率和散射角来研究物质的分子谱学特性。
2. X射线散射实验:X射线散射实验是利用X射线与物质的相互作用来研究物质结构的方法。
常用的X射线散射实验有衍射实验和散射衍射实验。
在衍射实验中,通过测量X射线的衍射角和衍射强度来研究物质的晶体结构。
在散射衍射实验中,通过测量X射线的散射角和散射强度来研究物质的非晶态结构。
3. 中子散射实验:中子散射实验是利用中子与物质的相互作用来研究物质结构的方法。
中子散射实验具有渗透力强、灵敏度高等特点,在材料科学和生物科学领域有广泛应用。
常用的中子散射实验有弹性散射实验和无弹性散射实验。
弹性散射实验通过测量入射中子的散射角和散射强度来研究物质的结构。
无弹性散射实验则通过测量入射中子的散射能谱来研究物质的动力学性质。
三、散射实验的技巧1. 样品制备技巧:样品制备对散射实验结果的准确性和可靠性有着重要影响。
在样品制备过程中,需尽量避免杂质的引入和样品的损伤,同时要保证样品的均匀性和稳定性。
第四章X射线衍射与散射详解

(3)随微晶趋向不完善性增加,县委涂上衍射斑点逐渐变成一个弧; (4)独立反射点数有限(40~100,多者200)。小分子单晶多于 1000。故 polymerX-Ray分析多采用尝试法。
二. Bragg方程的讨论
1.产生衍射的条件 衍射只产生在波的波长和散射中间距为同一数量级或更小 的时候,因为 nλ/2dˊ=sinθ<1 所以。nλ必须小于2dˊ。由于产生衍射时的n的最小值为1, 故λ<2dˊ大部分金属的dˊ为0.2~0.3nm,所以X射线的波长也是 在这样的范围为宜,当λ太小时,衍射角(angle of diffraction) 变得非常小,甚至于很难用普通手段测定。
二. X射线的性质
1 .波长范围:0.001~10nm,对高分子有用的是 0.05~0.25nm,最有用的是CuKα线,入=0.1542nm, 与聚合物微晶单胞0.2~2nm相当。
2 . X-Ray的产生 X-射线管效率: E=1.1×10-9 Z V 上面的“E”—效率,“Z”—原子序数,“V” —电压。 电能的0.2%转变为X-Ray,绝大部分变成热,帮阳 极靶须导 热良好,同时水冷。 3 .连续X-Ray和特征X-Ray (1)连续(白色)X-Ray:由于极大数量的电子射到阳 极时穿透阳极物质深浅程度不同,动能降低多少不一, 产生各种波长的X-Ray。
3.典型聚集态衍射谱图的特征 衍射谱图是记录仪上绘出的衍 射强度(I)与衍射角(2θ)的关 系图。右图中:a 表示晶态试样衍 射,特征是衍射峰尖锐,基线缓平。 同一样品,微晶的择优取向只影响 峰的相对强度。图b为固态非晶试 样散射,呈现为一个(或两个)相 当宽化的“隆峰”。图c与d是半晶 样品的谱图。C有尖锐峰,且被隆 拱起,表明试样中晶态与非晶态 “两相”差别明显;d呈现为隆峰 之上有突出峰,但不尖锐,这表明 试样中晶相很不完整。 四种典型聚集态衍射谱图的特征示意图
X射线衍射分析技术在药物研究中的应用_常颖

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物理
X 射线衍射应用专题 立地完成样品的结构、 组分、 含量、 构型、 构象、 溶剂、 晶型等各类分析研究 . 它可以应用于小分子化学药 物 ( 天然产物 与合成化 合物 ) 、 大分子生 物药物 (多肽类与蛋白质类 ) 以及药物与受体靶点等分子 的立体结构研究 , 其测定结构分子量可达数百万, 因 此 , 是现代药物结构与功能研究领域中一种必备的 物理分析方法与常用技术. 单晶 X 射线衍射 结构分析是一种定量的分析 技术, 可以提供分子的三维立体结构信息 , 包括原子 坐标、 原子间键长与键角值、 扭角 ( 二面角 ) 值、 成环 原子的平面性质、 氢键 ( 分子内、 分子间 ) 、 盐键、 配 位键等相关晶体学参数 , 同时也是确定手性药物分 子绝对构型、 分子立体结构中差象异构体的权威分 析技术 . 此外 , 在晶型固体化学药物研究中, 单晶 X 射线衍射分析技术不仅能够提供同质异晶 ( 相同物 质 , 不同晶型 ) 样品的分子排列规律, 同时可以给出 样品中结晶水与各种溶剂的定量数值, 并能阐明造 成固体化学药物形成多晶型的原因, 为寻找高效低 毒的晶型固体化学药物 , 为人们安全用药 , 提供可靠 的技术保障
# 454#
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物理
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X 射线衍射应用专题 利用结构可靠因子 R 值测定分子绝对构型 : 当 分子中含有卤素或更重的元素时, 可以分别对正反 构型分子的原子坐标参数 , 同步进行最小二乘修正 计算, 获得不同 R 值, 其中 R 值小者为正确的分子 绝对构型. 关附甲素盐酸盐药物的构型确定就是利用氯原 子对 Cu KA 的反常散射效应 , 通过对正反型分子的 R f 响药物的疗效 , 分子构象在药物的结构与功能研究 中具有十分重要作用. 晶态下药物分子的活性构象 应该属低能构象, 也是药物客观存在的一种构象 . 单 晶 X 射线衍射分析可以提供定量的药物分子骨架、 组成各环的构象、 环与环间的顺反连接方式、 环自身 的平面性质、 环与环之间的扭转角、 侧链的相对取向 位置、 原子坐标等, 为药物分子立体结构与功能提供 了基础研究数据. ( C 18H 20 O8N aP ) 4 # ( H 2 O ) 6 为一种 药物, 晶 态 下一个不对称单位中含 4 个药物分子和 6 个结晶水 分子 . 由于单键旋转造成 4 个药物分子中苯环空间 构象不同 , 所以结构不能叠合 . 4 个药物分子的 A /B 环二面角值分别为 : 55 . 2b 、 58 . 3b 、 50 . 0b 、 48 . 8b .图 7 ( a) , ( b) , ( c) 分别为药物分子结构图、 4 个药物分 子叠合图与分子立体结构投影图.
基于FDTD的随机粗糙面模拟及散射特性研究

2
连接边界上的点
rK′
=
xx
+
yy
kˆi
=
x
sin
θi
−
cosθi
y
在入射波方向上的投影 d
为
(11)
d = kˆi ⋅ rK′ = x sinθi − y cosθi
(12)
通过内插决定距离 d 的入射电磁波的大小
Einc (d ) = [1 − d + floor(d )]Einc[ floor(d )] + [d − floor(d )]Einc[ floor(d ) + 1] (13)
y θi θ s
x
PEC PML 计算边界
输出边界 散射场区域 总场区域
高度f(x)
ki
Hi
Ei
ki d
rK′
θi
PEC PEC
计算边界 图 2. 任意入射角度在连接边界上的投影
图 1. 几何模型和分开的计算区域
*基金项目:高等学校博士学科点专项科研基金(201030701006)
j
+ 1)]
(7)
H
n+0.5 y
(i
+
1 2
,
j)
=
H
n y
−0.5
(i
+
1 2
,
j)
+
∆t µ∆
[Ezn (i
+ 1,
j)
−
E
n z
(i,
j)]
(8)
为了保证算法是精确的和稳定的, ∆ 和 ∆t 必须满足一定的条件[2][3]
∆ ≤ λ /12
小角x射线散射实验流程

小角x射线散射实验流程
小角x射线散射实验是一种常见的结构分析方法,可用于研究材料的晶体结构、蛋白质的折叠构象等问题。
下面是小角x射线散射实验的基本流程:
1. 准备样品:选取符合实验要求的样品,并进行适当的处理,
如溶解、纯化、浓缩等。
2. 调整光束:调整x射线的波长和强度,以及光束的形状和尺寸,保证能够得到清晰的散射图像。
3. 实施散射:将样品放置在光束路径上,通过x射线与样品相
互作用,产生散射光。
同时,将散射光收集并记录下来,以便后续数据处理。
4. 数据处理:对收集到的散射数据进行处理,如校正、平滑、
模型拟合等,得到样品的散射强度分布图。
5. 分析结果:根据散射数据分析结果,得出样品的结构参数,
如分子尺寸、形态、分子量等。
6. 结论与讨论:根据实验结果,进一步讨论样品的结构特征和
物理学意义,为相关领域的研究提供参考。
需要注意的是,小角x射线散射实验需要使用高精度仪器和设备,操作过程需要经过专业培训和实践,以保证实验结果的可靠性和准确性。
- 1 -。
x射线照相原理

x射线照相原理
x射线照相是一种利用x射线穿透物体的特性,获取物体内部结构信息的技术。
它基于x射线的穿透力强,能够通过固体物体,而信号不会衰减或发生变形。
首先,x射线源会产生一束平行的x射线。
这些射线会经过一个筛选系统,确保只有一定能量范围内的x射线通过。
然后,这束x射线会照射到待检测的物体上。
当x射线照射到物体上时,它会被物体内部的不同组织结构所吸收或散射。
这些射线在穿过物体后,会进入到一个特殊的探测器中。
探测器会测量通过物体的x射线的强度和位置。
根据不同物质对x射线的吸收能力不同,探测器可以获得不同的信号强度。
这些信号可以转化成灰度或颜色差异显示。
通过将探测器的位置移动,可以获取物体不同平面上的x射线影像。
这些平面上的影像集合在一起,形成一个三维的物体内部结构模型。
最后,这个模型可以通过计算机进行进一步处理和分析。
医生或研究人员可以利用这些x射线影像来观察物体的不同组织结构,检测疾病或进行科学研究。
总的来说,x射线照相利用x射线经过物体时的吸收和散射特
性,获取物体内部结构的影像信息。
这种非侵入性的技术在医学诊断、材料科学等领域有着重要的应用。
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基于平板模型的 ! 射线散射特性研究
刘!进! !刘!军! ! 李必勇 ! ! 施将君
" 中国工程物理研究院 流体物理研究所 !四川 绵阳 * # ( ! B ) )
"
以 平 板 为 模 型! 通过解析方法和蒙特卡罗" 数值模 :8# !! 摘 ! 要 ! ! 为了进一步研究高能 C 光散射的 特 性 ! 拟研究了 C 光散射的规律 $ 研究结果表明 % 高能 C 光的 散 射 以 康 普 顿 散 射 为 主 ! 当平板厚度相应的 C 光光程 小于 (& 平板散射中的一次康普顿散射超过 A 当到达探测 器 的 散 射 照 射 量 最 大 时 ! 平板厚度相应的 C )时! DE & 光光程介于 !& ) 与 (& ) 之间 $ !! 关键词 ! ! 闪光照相 & ! 散射 & ! 光程 & ! 平板 ? @ ?& !& " ! ?& @!!!! 文献标识码 ! !! 中图分类号 ! !/ !2 !4
" " % " % ! ’’ ! )+" (’)$ 康普顿散射的指向概率为 " " " " " $ +) $" $# $#
! " %
" " % 其中 !# % * $’) &’)* " " " ! $ 分别为作用前后的 & 光能量比和发生作用的 & 光能量 $ 常数分别为 # ’ $# ( $#
)! ! !! " $ ! ! ,"" " +! !! , ! !! !! 其中 , 是作用前后 & 光方向的夹角余弦 $ 指向概率为 +’$.$ !! 电子对生成的散射 & 光是各向同性的 #
表 "! 不同能量不同材料下一次康普顿散射在总散射中的比例 # $ % & ’"!( ) * + ,. / , . 1+ 2 $ , , ’ * 3 +0 * . . * , ) . 1 ) 1, . , $ & + 2 $ , , ’ *4 1 5 ’ *2 . 1 5 ) , ) . 16 ) , 75 ) 8 8 ’ * ’ 1 ,/ $ , ’ * ) $ & +$ 1 5’ 1 ’ * ) ’ + 0 0 9
@* 和离散坐标的 :8 数值模拟法 $ 不变量嵌入法从宏观的角度利用输运方程和矩阵方法来计算出 C 量嵌入法 ) 光的散射 & 而 :8 数值模拟则是从微观的角度 ! 以粒子形式进行详细的输运模拟 $
"! 理论
F F G > 3 < H I F G J定律 ! C 光穿透材料时具有下列特性 !! 根据 9 " " # !K " !) F L $# ! #! M 式中 % !K 和 !) 分别表示穿透$ 厚度材料的和入射到平板的直 穿照射 量 & ! 表示 材料的 线吸收 系数 $ 则 在$ 处
" # @ 考虑隐式俘获 " 即简单物理处理时把 C 光的光电吸 收效 应隐含 在权重 衰减因 子中 # 和康 !! 在点探测系统中 !
普顿散射 ’ 电子对生成的发生几率后 ! 探测器接收的康普顿散 C 光与厚度为 & 的 材料 相互作 用的一 次散 射 后 ! 射照射量 K 和电子对生成的散射照射量 表达式分别为 !N K !N O M M
& 光与材料相互作用中以康普顿散射为主 $ 图 " 给出了探测到的 "$1 ( = !! 由高能情况下材料的特性知 # 光源时 2 # # 平板中的一次康普顿散射在总散射中比例随平板对应的 光光程的变化关系 $ 图 表明随 89 :; & " 着光程的减小 # 一次康普顿散射所占的比例增加 # 即在薄平板的散射中一次康普顿散射占绝对主导地位 $ 表 ) 列出了 " 个光程 ( 多种能量下 # 不同材料的一次康普顿 散射在总散射中的比例 $ 从 表 中 可 以 看 出 # 一次康普顿 散射的比例都高于 0 可以把一次康普顿散射近似为总散射 $ .P $ 因而在光程小于 " 的情形下 #
) ?*
K $ 的厚度中与材料发生相互作用的 C 光的照射量为 K !K K " " K $ " !) F L $# K $% !) $ F L $# ! K $ #! #! M M ! K $ K $ D* " # 式中右边第二项表示线吸收系数能谱效应 ) $ 在单能光源条件下 ! 能谱效应为零 ! 此时 " # 式简化为 ( ( " K !N " !) F L $# K $ #! M ! K !N "# " # (
并且随着材料线吸收系数的增大而 减 小 并 趋 近 于 )! 图 ## 的双对数坐标中线吸收系数与 )$ 和 "$ 之间 " :$ 材料厚度的渐近的负 Q 线性关系也表明相同的结论 ! . S
* ( ) # * + ) " # * K !N (O F L &#$ K ! ( + $ #! " ! M ) O "’ * ( ) # * + ) " # * K !N (M F L &#$ K ! ( + $ #! " ! M ’ ) M M M "(
" # ? " # D
* 式中 % # 分别表示隐式俘获因子 ’ 康普顿散射几率因子 ’ 电子对生成几率因子 ’ 散 射记录 的 (O! (M $ ’! )! M! ! 和+"
"卷!第!期 !第! ) ) *年!月 !(
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33 "
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# $ ) )
" % # $ # ) " 4 " $5 01 # 0 0 . 1Q $$ # $ 给出了由公式 # $ 解析 得 到 的 探 测 到 最 大 散 射 照 射 量 时 不 同 线 吸 收 系 数 材 料 对 应 的 & 光 光 程! E ) " !! 图 # 图# # $ 为图 # # $ 对应的材料厚度 ! 图 # 表明探测到 最 大 散 射 时 " 不同吸收系数材料相应的 & 光光程6 介于 : E
%1 ( @ ( I ( = F M " 5 6 #! ! 7 ( # " " 2 8 #! " 9 : #! ;" #!
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"$ $% ) $% ) $% ) $% / $% .
Q$ $% . $% . $% . $% , $% %
第)期
刘 ! 进等 & 基于平板模型的 & 射线散射特性研究
) 0 .
替研究总散射的规律 ! 在此条件下 " 康普顿散射的作用前后材料的吸收系数不变 " 即$ ’$! 使用上述平板模
型" 散射碰撞点到正前点探测器距离的表达式为 # $" 0 1/ # $ ) $ . / 研究模型中 0’) 其中 0 为板的前平面到探测器距离 " 在单能源 & 光垂直于平板入射条件下 " $ $3 4! 同时 " )" 而与发生碰撞的 具体位置/ 无关 ! 因此 " 一次康普顿散射的表达式简化 23" + 都只是与能量和材料相关的量 " 为 # # 4$4 4$ 23 3$ 23 3$ ( R ( R )$ 1$ ) 1$ L L ) + ) + $ $ # ) ! /" 1 " # $ $ ) " " $ $ ) $ $14 ) $ $1/ ! ! 求导 " 得到一次康普顿散射最大值 % 的条件为 方程 # $ 对厚度 ! 4 33 ! 4’$ ) )
指向概率因子 ’ 材料对散射 C 光的线吸收系数 ! 以及散射点到碰撞点的距离 $ 它们对应的积分形式为
&
!N O " !N M M
% F Q = > ’ Q N R Q = < 公式表示 !! 康普顿散射的理论由 P
( ) ) D > ) * > ! D& ( ) ) D > ! ) > ! " " 收稿日期 ! !! 修订日期 !
医学 8 废物监测等 领域得 到了广 泛的 应用 $ 图像 的品质 一直 是闪光 照 7’ !! 闪光照相技术已经在工业探伤 ’ 相领域人们关心的话题 $ 在闪光照相中由于散射的存在而降低了图像的品质 $ 散射照射量与直穿照射量的比
! > (* 值( ( ( 散直比是衡量图像品质的特征量 ! 散直比越 小 ! 图 像 的 品 质 越 高) $ 当 C 光 照 射 材 料 时! 一部分 C 光
其近光源端在 " 点探测器位于 # $ $3 4 处# $ $3 4 处 $ 板的厚度范围为 !! 12 模拟的模型是一维无限大平板 # 板的组成材料为 5 # # 能量范围为 $."# $$3 4# 6 7 ( 2 8# 9 : 或 ;$ 模 拟 所 用 的 单 能 源 & 光 垂 直 于 平 板 入 射 # $ < %"" $$1 ( =$ 6 ( ? @ A B ? C D ? @ E 公式计算出了不同能量下康普顿 散 射 的 指 向 概 率 $ 图 ) 给 出 了 不 同 能 量 下 的 康 普 顿 !! 利用 > 散射的指向概率随方向余弦的分布 $ 图 ) 表明在任意能量下最前点 # 即在余弦为 ) 的方向上 # 康普顿散射的指 向概率最大 $ 因而在散射中一次康普顿散射对正前点的贡献最大 $