可靠性评估实验规范

可靠性评估实验规范
可靠性评估实验规范

可靠性评估实验规范

一目的

1,跟踪生产中间过程,掌握产品参数变化数据,做好每批产品的过程质量控制,保证产品满足设计要求和出货标准2,规范公司新产品设计、工艺更改,规定需要进行的评估实验项目、样品数量、判别标准、工作过程等。保证产品 设计评估的一致性、规范性、可追溯性和系统性;并确保实验数据的真实,准确和完整。

二本规范适用范围

公司所有生产的产品、新设计的系列产品,主要包括MOS管、IGBT、可控硅、放电管。

三相关文件

评估流程、高温高压蒸煮测试流程和操作规范、高低温交变测试流程和操作规范、高低温冲击测试流程和操作规

范、恒温恒湿测试流程和操作规范、Rdson测量流程和操作规范、冲击测试流程和操作规范、温升实验流程和操作

规范、应用测试流程和操作规范。

四相关记录

高温高压蒸煮测试记录、高低温交变测试记录、高低温冲击测试记录、恒温恒湿测试记录、Rdson测量记录、冲击

测试记录、温升实验记录、应用测试报告。

五实验室人员职责

5.1 检查送测的样品是否完好;

5.2 确认对申请表中所述的测试方法,判断是否能够出具准确、真实测试报告。

六申请部门

6.1 保证其所提供的测试样品性能良好;

6.2 填写测试申请表,确保测试方法的合理性。

七工作程序

7.1 测试样品的申请:申请人在申请测试前,应确认样品的完好性,并根据申请表的格式和实验室的能力填写好测

试申请表;对于超出公司实验室能力的实验项目,需要请示领导进行协商。

7.2 测试员应根据申请人的要求做测试,在测试过程中,样品应有标识语“测试中,请勿动”字样,以避免被其它

人关闭测试或触摸。

7.3 异常处理:在测试中, 如出现任何异常的现象,测试人员应停止测试并保持测试的现状,先通知实验室工程师

确认,然后通知申请人并且用邮件的形式发给相关的人员,一起检查,如申请人当天不能作任何回应,实验室 工程师可根据实际情况进行处理。

7.4 测试结果的确认: 同申请人和相关人员一起进行数据分析并确认。

7.5 实验室工程师对实验数据进行归纳、整理,出具分析报告。实验室负责人确认并签署。

7.6 样品是否报废或保存由测试申请者决定。

7.7 实验记录和报告的保存: 实验室的所有实验记录和报告至少要保存三年。

八样品来源、抽样数量的规定、评判的标准。

8.1 冲击测试:

8.1.1 样品来源:生产检测中心准备出货的合格产品;抽样样品数量为100个。

8.1.2 评判标准:如果出现1个以上不良品,对该批次产品再进行200个抽样测试,如果没有不良品出现,该批

次产品判定为:可接受。如果还有1个以上不良品出现,该批次产品判定为:不合格,进行降档使用操作。

8.2 每批生产样品抽样例行实验:

8.2.1 样品来源:每批生产线上第一次封装好的样品;样品数量为5个~10个;

8.2.2 评判标准:性能参数满足出货检验标准,温升实验数据不超过客户使用要求的上限值,或者25℃环境温

度下,元器件表面温度不超过最高结温的60%。

8.3 批量生产成品环境可靠性实验:

8.3.1 样品来源:生产检测中心准备出货的合格产品;抽样样品数量为100个~200个;

8.3.2 评判标准:所有环境实验结束后,按照出货检验标准检验性能参数,不良率<=0.3%为合格;

0.3%<不良率<=0.5%为可接受;0.5%<不良率<=0.8%为有条件放行;不良率>0.8%为不合格,进行整改。

8.4 新产品设计评估

8.4.1 样品来源:第一次生产的样品;抽样样品数量为5个~20个;

8.4.2 评判标准:性能参数满足出货检验标准,温升实验数据不超过客户使用要求的上限值,或者25℃环境温

度下,元器件表面温度不超过最高结温的60%。

8.4.3 第一次大批量生产,所有实验结束后,按照出货检验标准检验性能参数,不良率<=0.3%为合格;

0.3%<不良率<=0.5%为可接受;0.5%<不良率<=0.8%为有条件放行;不良率>0.8%为不合格,进行整改。

8.5 设计变更

8.5.1 样品来源:第一次生产的样品;抽样样品数量为5个~20个;

8.5.2 评判标准:性能参数满足出货检验标准,温升实验数据不超过客户使用要求的上限值,或者25℃环境温 度下,元器件表面温度不超过最高结温的60%。

8.5.3 第一次大批量生产,所有实验结束后,按照出货检验标准检验性能参数,不良率<=0.3%为合格;

0.3%<不良率<=0.5%为可接受;0.5%<不良率<=0.8%为有条件放行;不良率>0.8%为不合格,进行整改。

8.6 工艺变更

8.6.1 样品来源:第一次生产的样品;抽样样品数量为5个~20个;

8.6.2 评判标准:性能参数满足出货检验标准,温升实验数据不超过客户使用要求的上限值,或者25℃环境温 度下,元器件表面温度不超过最高结温的60%。

8.6.3 第一次大批量生产,所有实验结束后,按照出货检验标准检验性能参数,不良率<=0.3%为合格;

0.3%<不良率<=0.5%为可接受;0.5%<不良率<=0.8%为有条件放行;不良率>0.8%为不合格,进行整改。

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