材料结构表征重点 (2)

材料结构表征重点 (2)
材料结构表征重点 (2)

1紫外光谱

1紫外吸收光谱:电子跃迁光谱,吸收光波长范围200-400nm(近紫外区),可用于结构鉴定和定量分析。产生:外层电子从基态跃迁到激发态。

2四种电子能级跃迁所需能量ΔΕ大小顺序:n→π*< π→π*< n→σ*< σ→σ*3生色基:可以产生π→π* 和n→π*跃迁的基团。如—C=C—,—N=N—,C=O,C=S,芳环,共轭双键

4助色基;本身不具有生色基作用,但与生色基相连时,通过非键电子的分配,扩展了生色基的共轭效应,影响生色基的吸收波长,增大吸收系数,因常使化合物的颜色加深,故称助色基。

5红移:由于化合物结构变化(共轭、引入助色团取代基)或采用不同溶剂后,吸收峰位置向长波方向的移动,叫红移(长移)。

6蓝移:由于化合物结构变化(共轭、引入助色团取代基)或采用不同溶剂后,吸收峰位置向短波方向的移动,叫蓝移(紫移,短移)

7吸收谱带的类型:R吸收带,K吸收带,B吸收带,E吸收带

8.高强度的吸收为共轭重键,270nm以上左右的低强度吸收可能为醛酮的羰基吸收,210nm 左右的低强度吸收可能为羧基及其衍生物,250~300nm左右的中等强度吸收表明有芳环存在

2红外光谱

1红外光谱定义:当样品受到频率连续变化的红外光照射时,分子吸收某些频率的辐射,并由其振动运动或转动运动引起偶极矩的净变化,产生的分子振动和转动能级从基态到激发态的跃迁,从而形成的分子吸收光谱称为红外光谱。又称为分子振动转动光谱。

2红外光谱图:纵坐标为吸收强度,横坐标为波长λ(微米)和波数1/λ单位:cm-1。可分为两个区,即官能团区和指纹区。

https://www.360docs.net/doc/638002968.html,mbert-Beer 定律:

A=log(I0/I)=klc

A: 吸光度I0,I: 入射光和透射光的强度k: 吸光系数l: 样品厚度c: 样品浓度

4.IR产生的条件:(1)辐射应具有能满足物质产生振动跃迁所需的能量;

(2)辐射与物质间有相互偶合作用。对称分子:没有偶极矩,辐射不能引起共振,无红外活性。如:N2、O2、Cl2 等。非对称分子:有偶极矩,红外活性。

5.分子中基团的基本振动形式:伸缩振动(包括对称伸缩振动,反对称伸缩振动)弯曲振动(包括面内弯曲与面外弯曲)

6.影响基团频率发生位移的因素:A诱导效应。吸电子基团使吸收峰向高频位移

B共轭效应。共轭效应使碳碳双键的伸缩振动频率向低频位移

C空间效应;场效应,空间位阻,环张力

D氢键效应:伸缩振动向低频位移,弯曲振动向高频位移7常见的基团频率:羰基伸缩振动在1600~1900cm-1之间,往往是谱图的第一强峰,特征非常明显;C=C伸缩振动出现在1600~1660cm-1之间,一般强度较弱;单核芳烃的C=C伸缩振动出现在1500~1480cm-1和1600~1590cm-1两个区域。是鉴定芳核的重要标志。2000~2500cm-1是叁键和累积双键区。1370~1380cm-1为甲基的弯曲振动区

8.多原子的简振振动数目为3n-6,如水分子共有三个简振振动,直线型分子有3n-5个简振振动。简振振动包括伸缩振动(键长发生变化)与弯曲振动(键角发生变化)

9.不饱和度=(2×碳原子数+2-氢原子数-卤原子数+氮原子数)÷2,氧硫原子不影响不饱和度,Na与氢原子等价。

10.材料结构表征的三个任务:成分分析,结构测定,形貌观察。结构测定以衍射方法为主,形貌观察主要是依靠显微镜。

3核磁共振氢谱

1.产生核磁共振的条件:(1)I≠0的自旋核

(2)外磁场B0

(3)与B0相互垂直的射频场B1,

且v1 = v0,v= γ?B0/2π

2.弛豫过程:在电磁波的作用下,当hv对应于分子中某种能级(分子振动能级、转动能级、电子能级、核能级等)的能量差△E时,分子可以吸收能量,由低能态跃迁到高能态。在电磁波的作用下,激发态的分子可以放出能量回到低能态,重建Boltzmann分布。即高能态的核以非辐射的形式放出能量回到低能态重建Boltzmann分布。两种弛豫过程:自旋-晶格弛豫与自旋-自旋弛豫

3.核外电子云的密度高,σ较大,核的共振吸收高场(或低频)位移,核外电子云的密度低,σ较小,核的共振吸收低场(或高频)位移

4.为什么选用TMS(四甲基硅烷)作为标准物质?

(1)屏蔽效应强,共振信号在高场区(δ值规定为0),绝大多数吸收峰均出现在它的左边。(2)结构对称,是一个单峰。

(3)容易回收(b.p低),与样品不反应、不缔合。

5.NMR图谱:图中的横坐标为化学位移δ. δ=0处的峰为TMS的谱峰.

横坐标左向右, 磁场增强, 频率减小

纵坐标:峰的强度

阶梯状曲线为积分曲线,积分高度为对应积分面积,可定量反映氢核的信息

6影响化学位移的因素:诱导效应,使化学位移增大

共轭效应,取代基的共轭效应分拉电子和推电子,分别使化学位移

增大和减小。如苯环上键入—OH和—OCH3,均为给电子基团,使得邻位碳上电子云密度增加,屏蔽效应增加,化学位移向高场移动,值减小。而—CHO为拉电子基团,使得邻位碳上的氢表现为顺磁去屏蔽,化学位移向低场移动。值增大

化学键的各向异性:乙烯,乙炔,苯分子中化学位移顺序是苯(7.3)>乙烯>乙炔。炔类氢化学位移介于烷烃氢和烯烃氢之间。烯烃氢化学位移一般在4.5~8.0之间。碳碳单键的价电子是σ电子,也能产生各向异性效应,当碳上的逐渐被烷基取代时,剩下的氢受到越来越强的去屏蔽效应,而使共振信号移向低场,化学位移增大。

氢键效应:氢键使质子在较低场发生共振,无论是分子间氢键还是分子内氢键均使氢核受到去屏蔽作用而向低场移动,即化学位移增大

7.对于邻碳磁等价核之间的偶合,其偶合裂分规律如下:

1)一个(组)磁等价质子与相邻碳上的n个磁等价质子偶合,将产生n+1重峰。如,CH3CH2OH (2+1;3+1;1)

2)一个(组)磁等价质子与相邻碳上的两组质子(分别为m个和n个质子)偶合,如果该两组碳上的质子性质类似的,则将产生m+n+1重峰,如CH3CH2CH3;如果性质不类似,则将产生(m+1)(n+1)重峰,如CH3CH2CH2NO2;

3)裂分峰的强度比符合(a+b)n展开式各项系数之比;

4)一组多重峰的中点,就是该质子的化学位移值

5)磁全同质子之间观察不到自旋偶合分裂,如ClCH2CH2Cl,只有单重峰。

6)化学等价:分子中若有一组氢核,它们的化学环境完全相同,化学位移也严格相等,则这些核称为化学等价的核。

7)磁等价:分子中相同种类的核(或相同基团),不仅化学位移相同,而且还以相同的偶合常数与分子中其它的核相偶合,只表现一个偶合常数,这类核称为磁等同的核

8. 1.孤立体系:

单峰:相邻碳上无H,或没有与C相连(独立体系)

季碳,羰基,O-C-,酯基等孤立体系

2.耦合体系:

双重峰:相邻的碳上只有一个H

三重峰:相邻碳上有二个等价H(-CH2-)或

(-CH1-CHx-CH1 ,)

四重峰: 相邻碳上有三个H或-CH2-CHx-CH1 ,)

4-3裂分峰为,-CH2CH3

3、复杂的多重峰:与之相邻有多个碳(≥2)上都有H;情况较复杂。

4.质谱

1.分子受到裂解后,形成带正电荷的离子,这些离子按照其质量m和电荷z的比值m/z(质荷比)大小依次排列成谱被记录下来,成为质谱(MS)。

红外光谱(拉曼光谱):原子(基团)

紫外光谱:外层电子(共轭结构)

核磁共振谱:原子核(分子骨架)

质谱:离子(碎片信息)

2.质谱表示法:横坐标为质荷比,从左到右逐渐增大。纵坐标为离子流强度,各种离子流强度的百分数之和为100%,最强峰为100%

3.质谱裂解表示法:正电荷表示法,电荷转移表示法。共价键断裂方式:均裂、异裂、半异裂。质谱中的离子有分子离子,碎片离子,同位素离子(同位素离子峰一般出现在相应分子离子峰或碎片离子峰的右侧附近,m/e用M+1,M+2等表示。)亚稳离子,多电荷离子。

4.氮规则:在分子中只含C,H,O,S,X元素时,相对分子质量Mr为偶数;若分子中除上述元素外还含有N,则含奇数个N时相对分子质量Mr为奇数,含偶数个N时相对分子质量Mr 为偶数。

5.各类化合物质谱特征

烷烃质谱

特征:a、直链烷烃的M常可观察到,其强度随相对分子质量增大而减小;

b、M-15峰最弱,长链烃不易失去甲基;

c、直链烷烃有典型的CnH+2n+1离子,其中m/z 43(+C3H7)和m/z 57(+C4H9)总是很强(基准峰,很稳定);枝链烃往往在分枝处裂解形成的峰强度较大(仲或叔正离子),且优先失去最大烷基使得CnH+2n+1 和CnH+2n离子明显增加;

d、环烷烃的M峰一般较强;环开裂时一般失去含两个碳的碎片,出现m/z 28(C2H4)+.,

m/z 29(C2H5)+和M-28、M-29的峰

烯烃质谱

特征:a、烯烃易失去一个π电子,其分子离子峰明显,强度随相对分子质量增大而减弱;

b、烯烃质谱中最强峰(基准峰)是双键β位置Cα-Cβ键断裂产生的峰,带有双键的碎片带正电荷;

c、烯烃往往发生McLafferty重排裂解,产生CnH2n离子;

d、环己烯类发生逆向狄尔斯阿尔德裂解;

e、无法确定烯烃分子中双键的位置。

芳烃质谱

特征:a、分子离子峰明显,M+1和M+2可精确量出,便于计算分子式;

b、带烃基侧键的芳烃常发生苄基型裂解,产生Tropylium ion m/z=91(往往是基准峰);若基准峰的m/z比91大n×14,则表明苯环α-碳上另有甲基取代;

c、带有正丙基或丙基以上侧键的芳烃(含γ-H)经McLafferty重排产生C7H8+.离子(m/z=92);

d、侧键α裂解发生机会很小,但也有可能。

X射线衍射

1.X射线的波长范围为0.01~10nm,特征:X射线对物质有很强的穿透能力,可用于无损检测等;X射线的波长正好与物质结构中的原子,离子间的距离相当,使它能被晶体衍射;X 射线光子的能量与原子内层电子的激发能相当

2.X射线连续谱实验规律:

连续谱的形成与短波限的解释:

X射线标识谱的定义:当加在X射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值V 在连续谱的某一特定的波长位置上,会出现一系列强度很高,波长范围很窄的线性光谱,它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值,此波长可作为阳极靶材的识标故称识标X 谱

3光电效应:以光子激发原子所发生的激发和辐射过程,就叫做光电效应。

4X射线衍射分析的基本原理:衍射线的分布规律由晶胞的大小,形状和位向决定的;而强度则由原子在晶胞中得位置,数量和种类决定的

5布拉菲点阵:14种,7个晶系(立方四方三方六方正交单斜三斜)面间距公式:立方,四方,正交。课本224页

6布拉格方程:2dsinθ=nλ,θ为入射线或反射线与反射面的夹角,λ为X射线的波长,n 为整数,称为反射级数。布拉格方程是X射线在晶体中产生衍射的基本条件,反映了衍射线方向与晶体结构之间的关系。

7衍射线的相对强度主要由哪几个因子决定?结构因子多重性因子角因子吸收因子温度因子

8德拜相机底片的安装及衍射花样的计算公式:底片安装方式有正装法,倒装法不对称装法正装法:若相机半径为R,则θ= S/4R(θ:弧度)倒装法:θ= π/2 - S/4R(弧度)不对称装法: 4θ/S = 180o/W(前反射)(360o - 4θ) /S=180o/W(背反射)

9.照相机的分辨本领与什么因素有关?照相机的分辨本领是指衍射花样中两条相邻线条分离程度的定量表征。 1相机半径越大,分辨本领越高 2,θ角越大,分辨本领越高 3 X射线的波长越大,分辨本领越高 4,面间距越大,分辨率越低。P240

10.获取物质衍射图样的方法按使用的设备可分为两大类,粉晶照相法和衍射仪法

11.X射线衍射仪包括X射线发生器,测角仪、自动测量与记录系统等一整套设备。衍射仪

法的优点:衍射仪法是用计数管来接受眼射线的,它可省去照明法中暗室内装底片,长时间曝光,冲洗和测量底片等繁复费时的工作,又具有快速,精确,灵敏,易于自动化操作及扩展功能的优点。

12.衍射花样的基本要素:1衍射线的峰位:可以测定晶体常数;2,衍射线线形:可以测晶粒大小;3,衍射线强度:可以测物相含量等。

10.定量分析原理及主要方法:原理——在多物质中各相的衍射线强度I随其含量x的增加而提高;主要方法:内标法,外表法,无标样相分析法

11.定性分析的原理及步骤:原理——根据晶体对X射线的衍射特征—衍射线的方向及强度来达到鉴定结晶物质的。步骤:A用照相法或衍射法摄得试样的衍射谱,B确定衍射线峰位,C取三强线作为检索依据查找Hannawalt索引。

应用:1,多晶体点阵常数的精确测定;2,晶面取向度的测定;3,晶体结晶度的测定;4,转动晶体法测聚合物结构;5,晶粒尺寸的测定

1. 试确定下面晶体的衍射图样中,最小的三个2θ角,入射X射线波长为0.154 nm:

1) 简单立方(a = 0.300 nm);

2) 简单正方(a = 0.200 nm,c = 0.300 nm);

3) 简单正方(a = 0.300 nm,c = 0.200 nm)

2. 现有某种立方系晶体,其每个单位晶胞含有位于:0 ?0 ; ?0 0 ; ???; 0 0 ?上的四个同类原子,试导出F2的简化表达式,并讨论消光条件以及(100),(002),(111),(011)晶面的F2值是多少?

3. 利用λ= 0.1790 nm的X射线照射一个立方晶系的晶体,其反射依次发生在下列Bragg 角处:10.6,17.6,20.8,21.7,25.4,31.6,33.8度,试计算a值,并确定其晶体类型。

电子显微技术

1. 二次电子:入射电子射到试样后,使表面物质发生电离,被激发的电子离开试样表面而形成的电子。二次电子对试样表面状态非常敏感,能非常有效地显示试样表面的微观形貌

2.饿歇电子:由于从高能级跃迁到低能级而电离逸出试样表面的电子。

3透射电子:当试样很薄时,入射电子与试样作用引起弹性或非弹性散射透过试样的电子。4透射电镜(TEM)的成像原理:是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨本领,高放大倍数的电子光学仪器。

5.透镜的误差及改善方法:球差—球差恒大于零,只能通过适当减少孔径角来减少球差,但孔径角会影响亮度,而且会产生衍射差;畸变—解决方法一是在不破坏真空条件下根据所需要的放大倍率选择不同孔径的极靴。低倍率时,用孔径较大的极靴可得到畸变量较小的低倍率,另方法是使用两个投影镜,使他们的畸变相反,达到相互抵消的目的;象散—在物镜,第二聚光镜或中间镜中加一个消除象散。

6.电镜高质量的三大要素:高地分辨率,适宜的放大倍率,衬度。透射电镜像的三类衬度:吸收衬度,衍射衬度,位相衬度

7.透射电镜的主要构成:

1, 电子光学部分:照明系统,成像系统,观察和记录系统 2、真空系统 3、电源系统

8.成像系统中哪个镜要求最高?物镜,决定了透射电镜的分辨本领

9.为什么要求尽可能高地真空度:没有良好的真空,电镜就不能进行正常的工作。这是因为高速电子与气体分子相遇相互作用导致随电子散射,引起炫光和消弱像的忖度;电子枪会发生电离和放电,引起电子束不稳定或“烁光”;残余气体腐蚀灯丝,缩短灯丝寿命,而且会

污染样品,特别在高分辨率拍照时更为严重。

材料结构与性能历年真题

材料结构与性能历年真 题 -CAL-FENGHAI-(2020YEAR-YICAI)_JINGBIAN

2009年试题 1.一外受张应力载荷力500MPa的无机材料薄板(长15cm,宽10cm,厚,其 中心部位有一裂纹(C=20μm)。该材料的弹性模量为300GPa,(1Pa=1N/m2)断裂能为15J/m2(1J=1Nm)。 a)计算该裂纹尖端应力强度因子K I (Y=) b)判断该材料是否安全 ,可知,即材料的裂纹尖端应力强度应子超过了材料的临界断裂应子,则材料不安全。 2.测定陶瓷材料的断裂韧性常用的方法有几种并说明它们的优缺点。 答: 方法优点缺点 单边切口梁法(SENB)简单、快捷①测试精度受切口宽度的影响,且过分要求窄的切口;②切口容易钝化而变宽,比较适合粗晶陶瓷,而对细晶体陶瓷测试值会偏大。 Vickers压痕弯曲梁法 (SEPB)测试精度高,结果较准 确,即比较接近真实值 预制裂纹的成功率低;控制裂纹的深度尺 寸较困难。 直接压痕法(IM)①无需特别制样;②可 利用很小的样品;③测 定H V的同时获得K IC, 简单易行。 ①试样表面要求高,无划痕和缺陷;②由 于压痕周围应力应变场较复杂,没有获得 断裂力学的精确解;③随材料性质不同会 产生较大误差;④四角裂纹长度由于压痕 周围残余应力的作用会发生变化;产生压 痕裂纹后若放置不同时间,裂纹长度也会 发生变化,影响测试精度。

3.写出断裂强度和断裂韧性的定义,二者的区别和联系。 答: 断裂强度δr断裂韧性K IC 定义材料单位截面承受应力而不发生断裂的能力材料抵抗裂纹失稳扩展或断裂能力 联系①都表征材料抵抗外力作用的能力;②都受到E、的影响,提高E、既可提高断裂强度,也可提高断裂韧性;③在一定的裂纹尺寸下,提高K IC也会提高δr,即增韧的同时也会增强。 区别除了与材料本身的性质有关外,还与 裂纹尺寸、形状、分布及缺陷等有关 是材料的固有属性,是材料的结构和显微 结构的函数,与外力、裂纹尺寸等无关 4.写出无机材料的增韧原理。 答:增韧原理:一是在裂纹扩展过程中使之产生有其他能量消耗机构,从而使外加负载的一部分或大部分能量消耗掉,而不致集中于裂纹扩展上;二是在陶瓷体中设置能阻碍裂纹扩展的物质场合,使裂纹不能再进一步扩展。 根据断裂力学,抗弯强度,断裂韧性,可以看出要提高陶瓷材料强度,必须提高断裂表面能和弹性模量以及减小裂纹尺寸;要提高断裂韧性,必须提高断裂表面能和弹性模量。 5.试比较以下材料的热导率,并按大小顺序排列,说明理由。氮化硅(Si3N4)陶 瓷、氧化镁(MgO)陶瓷、镁橄榄石(2MgO·SiO2)、纯银(Ag)、镍铬合金 (NiCr)。 答:热导率大小顺序:纯银>镍铬合金>氮化硅>氧化镁>镁橄榄石 理由:1)一般金属的热导率比非金属的热导率高,这是由于金属中存在大量的自由电子,电子质量轻,平均自由程很大,故可以快速的实现热传导;而非金属主要是通过声子来进行热传导的,声子的平均自由程要比自由电子的小很多,自由电子的热传导速率是声子的20倍,故纯银和镍铬合金的热导率高。2)单质的热导率要比混合物质的热导率高,故纯银大于镍铬合金。3)固溶体的热导率要比纯物质的小,故镁橄榄石的热导率小于氮化硅和氧化镁。4)共价键强的晶体热导率高,故氮化硅的热导率强于氧化镁。 6.对于组成范围为0-50%K2O,100-50%SiO2的玻璃,推断其膨胀系数的变 化,试通过玻璃的结构来解释所得的结果。

材料结构与表征 高分子复习题 答案

高分子部分 一、简答题 1、什么是高分子缩聚反应? 缩合聚合反应(简称缩聚): 由含有两种或两种以上单体相互缩合聚合而形成聚合物的反应称为缩聚反应,同时会析出水、氨、醇、氯化氢等小分子物质。 若缩聚反应的单体为一种,反应称为均缩聚反应,产品为均缩聚物;若缩聚反应的单体为多种,反应称为共缩聚反应,产品为共缩聚物。 2、什么是复合材料?复合材料区别于传统材料有什么特点? 简单地说,复合材料是用两种或两种以上不同性能、不同形态的组分材料通过复合手段组合而成的一种多相材料。 复合材料区别于传统材料的一个重要特点是依靠不同的组分材料分散和承载负荷。 (1)特点 ①可设计性 ②材料与结构的同一性 ③发挥复合效应的优越性 ④材料性能对复合工艺的依赖性 (2)优点 ①比强度、比模量大 ②耐疲劳性能好 ③阻尼减震性好 ④破损安全性高 3、举例说明什么是超分子聚合物及其与传统聚合物的区别。 超分子聚合物和化学键联聚合物的最大区别:成键弱,可逆过程。 把单体结构组元之间由非共价键这种弱分子间相互作用组装而成的分子聚集体称为超分子聚合物。 之所以将其称为超分子聚合物, 一方面是因为这种聚集体中的长链或网络结构类似聚合物结构,另一方面是因为弱分子间作用力赋予这种材料各种软性的类聚合物性能。 如:氢键超分子聚合物(氢键型超分子聚合物是指重复单元通过与氢键相关的自组装生成的稳定超分子聚合物),配合物型超分子聚合物(金属- 超分子聚合物是由金属离子与配体之间的相互作用形成的, 是一类具有多样化几何构造和拓扑结构的新型功能高分子),∏-∏堆积超分子聚合物(∏-∏堆积又称∏-∏共轭、芳环堆积。当2个芳环平行或近似平行排列时,由于∏电子云相互排斥,相邻芳环平面间距小于芳香环的范德华厚度,这种想象就是∏-∏堆积),离子效应超分子聚合物。 4、简述有机发光二极管的工作过程。 OLED由以下各部分组成(自下而上): 基层(透明塑料,玻璃,金属箔)——基层用来支撑整个OLED。 阳极(透明)——阳极在电流流过设备时消除电子(增加电子“空穴”)。 导电层——该层由有机塑料分子构成,这些分子传输由阳极而来的“空穴”。可采用聚苯胺作为OLED的导电聚合物。 发射层——该层由有机塑料分子(不同于导电层)构成,这些分子传输从阴极而来的电子;

2010材料结构与性能表征考试B卷参考答案

选课课号:04000150 北京理工大学2009-2010学年第二学期 2006 级《材料结构与性能表征》学期末试题B 卷参考答案 班级 学号 姓名 成绩 1、下图是在DMSO-d 6中测定得到的、用于自由基活性/可控聚合的大分子引发剂 的1H NMR 谱图。 ① 试在分子式中标出各NMR 谱峰所对应的质子。(10分) 答案如下图所示: ② 利用谱图中所给出相应峰的积分面积求出数均分子量的数值,同时写出根据1H NMR 分析计算该大分子引发剂数均分子量的公式。(10分) 答案: (1)根据以上谱图指认,考虑到两侧的b 共振谱峰共对应有四个氢质子,而聚乙二醇链段中d 共振谱峰对应氢质子的数量为4n ,由两者积分面积之比,即可确定出以上大分子单体的聚合度m : 4/)3(4-=n b d 的积分面积 峰的积分面积峰 8703.1/01.983≈=-n 903=+=n m ② 根据每个结构单元的分子量,聚合度n ,以及两端基的分子量,即可求出

预聚物的分子量。 + 90= 44 ? . = ? Mn + . 00 4278 03 16 2 151 0. 其中44.03为乙二醇结构单元的分子量,151.0为2-溴异丁酰基的分子量, 16.00为氧原子的原子量。 ③也可以利用其它相应峰的积分面积之比求出聚合度,进而得到分子量。因 误差的原因,结果略有差别。 2、以下分别是采用原子转移自由基活性聚合方法制备得到的聚丙烯酸乙酯的分子式和以2,5-二羟基苯甲酸为基质、三氟乙酸钠为离子化试剂测定得到的大分子质谱图: 根据谱图中各峰的位置,试判断该聚合物结构是否正确?(计算时每一谱峰所对应的分子量可保留一位小数)(20分)

最新材料结构表征重点知识总结

第一章,绪论 材料研究的四大要素:材料的固有性质,材料的结构,材料的使用使用性能。 材料的固有性质大都取决于物质的电子结构,原子结构和化学键结构。 材料表征的三大任务及主要测试技术:1、化学成分分析:质谱,色谱,红外光谱,核磁共振;2、材料结构的测定,X射线衍射,电子衍射,中子衍射;3、形貌观察:光学显微镜,电子显微镜,投射显微镜。 第二章,红外光谱及激光拉曼光谱 2.1红外光谱的基本原理 红外光谱的定义:当一束具有连续性波长的红外光照射物质时,该物质的分子就有吸收一定的波长红外光的光能,并将其转变为分子的振动能和装动能,从而引起分子振动—转动能级的跃迁,通过仪器记录下来不同波长的透射率的变化曲线,就是该物质的红外吸收光谱。中红外去波数范围(4000—400cm-1) 简正振动自由度(3n-6或3n-5)及其特点:3n-6是分子振动自由度3n-5是直线分子的振 动自由度 特点:分子质点在振动过程中保持不变,所有的原子都在同一瞬间通过各自的平衡位置。每 个简谐振动代表一种振动方式,有它自己的特 征频率 简正振动的类型:1、伸缩振动2、弯曲振动 分子吸收红外辐射必须满足的条件:主要振动过程中偶极矩的变化、振动能级跃迁几率 2.2红外光谱与分子结构 红外光谱分区:官能团去(4000-1330cm-1)指纹区(1330-400cm-1) 基团特征频率定义:具有相同化学键或官能团的一系列化合物有共同的吸收频率,这种频率就叫基团特征频率 影响因素,内部因素:诱导效应,共振效应,键应力的影响,氢键的影响,偶合效应,费米共振;外部因素:物态的变化的影响,折射率和粒度的影响,溶剂的影响 诱导效应:在具有一定极性的共价键中,随着取代基的电负性不同而产生不同程度的静电诱导作用,引起分子中电荷分布的变化,从而改变了键的常熟,使振动的频率发生改变,这就是诱导效应。 2.3红外光谱图的解析方法 普带的三个特征:1位置:基因存在的最有用的特征;2形状:有关基因存在的一些信息;3相对强度:把红外光谱中一条普带的强度和另一条谱带相比,可以得出一个定量的概念 影响谱图质量的因素:1仪器参数的影响;2环境的影响:空气湿度,样品污染等;3厚度的影响(要求10——50um) 2.7激光拉曼光谱 基本概念: 拉曼散射:人射光照射在样品上,人射光子与样品之间发生碰撞有能量交换称为拉曼散射斯托克斯线:拉曼散射中,散射光能量减少,在垂直方向测量到散射光中,可以检测到频率为()的线,称为斯托克斯线。 反斯托克斯线:相反,若样子分子获得能量,在大于人射光频率出收到散射光线 拉曼位移:斯托克斯线或反斯托克斯线与人射光频率之差称了拉曼位移

材料结构与表征

基本概念集锦 1、材料(materials):人类能用来制作有用物件的物质。 2、材料的四大家族 A. 金属材料 B. 无机非金属材料 C. 高分子材料 D. 复合材料 3、材料的结构与组成 第一层次:原子结构(电子构型、化学键、原子与电子性缺陷)。 第二层次:原子在空间的排列(单晶、多晶、非晶)。 第三层次:材料的显微组织形貌(各种缺陷)。 4、简正振动: 整个分子质心不变、整体不转动、各原子在原地作简谐振动且频率及相位相同、所有的原子都在同一瞬间通过各自的平衡位置,此时分子中的任何振动可视为所有上述简谐振动的线性组合。 将振动形式分成两类: a. 伸缩振动(νs、νas) b. 变形振动(又称弯曲振动或变角振动,用符号δ表示) 同一键型: ?反对称伸缩振动的频率大于对称伸缩振动的频率; ?伸缩振动频率远大于弯曲振动的频率; ?面内弯曲振动的频率大于面外弯曲振动的频率。 vas > vs >>δ面内>δ面外 5、分子吸收红外光谱的条件 (1)振动必须能够引起分子偶极矩的变化 (2)红外辐射光的频率与分子振动的频率相当 6、红外光谱信息区 ① 4000~2500 cm-1 X—H伸缩振动区 ② 2500~2000 cm-1 叁键、累积双键伸缩振动区 ③ 2000~1500 cm-1 双键伸缩振动区 ④ 1500~ 670 cm-1 单键振动(X—Y伸缩,X—H变形振动区)及指纹区

7、振动偶合: 当两个振动频率相同或相近的基团相邻并由同一原子相连时,两个振动相互作用(微扰)产生共振,谱带一分为二(高频和低频)。 8、Fermi(费米)共振: 当一振动的倍频或组频与另一振动的基频接近时,由于发生相互作用而产生很强的吸收峰或裂分分裂成两个不同频率的峰。 9、 1. >3200:O—H(1个峰,强,宽)或N—H(H个峰,中强,锐) 2. 3000左右:C—H 3. Ω≥4:苯环(单取代双峰、邻位单峰、间位三峰、对位单峰兰移) 4. 3050、1600、1500:苯环 5. 1700:C=O 6. -CH3:4个峰(2960、2870、1460、1380) 7. -CH2-:3个峰( 2930、2850、1460) 8. 异丙基:1385、1375等强双峰 9. C=C:单取代双峰,多取代单峰;顺式(690)、反式(970)

东华大学材料结构表征及其应用作业答案

“材料研究方法与测试技术”课程练习题 第二章红外光谱法 1.为什么说红外光谱是分子振动光谱?分子吸收红外光的条件是什 么?双原子基团伸缩振动产生的红外光谱吸收峰的位置主要与哪些因素有关? 答案:这是由于红外光谱是由样品分子振动吸收特定频率红外光发生能级跃迁而形成的。分子吸收红外光的条件是:(1)分子或分子中基团振动引起分子偶极矩发生变化;(2)红外光的频率与分子或分子中基团的振动频率相等或成整数倍关系。双原子基团伸缩振动产生的红外光谱吸收峰的位置主要与双原子的折合质量(或质量)和双原子之间化学键的力常数(或键的强度;或键的离解能)有关。 2.用诱导效应、共轭效应和键应力解释以下酯类有机化合物的酯羰 基吸收峰所处位置的范围与饱和脂肪酸酯的酯羰基吸收峰所处位置范围(1735~1750cm-1)之间存在的差异。 芳香酸酯:1715~1730cm-1 α酮酯:1740~1755cm-1 丁内酯:~1820cm-1 答案:芳香酸酯:苯环与酯羰基的共轭效应使其吸收峰波数降低;α酮酯:酯羰基与其相连的酮羰基之间既存在共轭效应,也存在吸电子的诱导效应,由于诱导效应更强一些,导致酯羰基吸收峰的波数上升;丁内酯:四元环的环张力使酯羰基吸收峰的波数增大。

3.从以下FTIR谱图中的主要吸收峰分析被测样品的化学结构中可能 存在哪些基团?分别对应哪些吸收峰? 答案:3486cm-1吸收峰:羟基(-OH);3335cm-1吸收峰:胺基(-NH2或-NH-);2971cm-1吸收峰和2870cm-1吸收峰:甲基(-C H3)或亚甲基(-CH2-);2115cm-1吸收峰:炔基或累积双键基团(-N=C=N-);1728cm-1吸收峰:羰基;1604cm-1吸收峰、1526cm-1吸收峰和1458cm-1吸收峰:苯环;1108cm-1吸收峰和1148cm-1吸收峰:醚基(C-O-C)。1232cm-1吸收峰和1247cm-1吸收峰:C-N。 第三章拉曼光谱法 1. 影响拉曼谱峰位置(拉曼位移)和强度的因素有哪些?如果分子的同一种振动既有红外活性又有拉曼活性,为什么该振动产生的红外光谱吸收峰的波数和它产生的拉曼光谱峰的拉曼位移相等?

材料结构与性能历年真题

2009年试题 1.一外受应力载荷力500MPa的无机材料薄板(长15cm,宽10cm,厚0.1mm), 其中心部位有一裂纹(C=20μm)。该材料的弹性模量为300GPa,(1Pa=1N/m2)断裂能为15J/m2(1J=1Nm)。 a)计算该裂纹尖端应力强度因子K I (Y= ) b)判断该材料是否安全? ,可知,即材料的裂纹尖端应力强度应子超过了材料的临界断裂应子,则材料不安全。 2.测定陶瓷材料的断裂韧性常用的方法有几种?并说明它们的优缺点。 答: 方法优点缺点 单边切口梁法(SENB) 简单、快捷①测试精度受切口宽度的影响,且过分要求窄的切口;②切口容易钝化而变宽,比较适合粗晶陶瓷,而对细晶体陶瓷测试值会偏大。 Vickers压痕弯曲梁法 (SEPB) 测试精度高,结果较准 确,即比较接近真实值 预制裂纹的成功率低;控制裂纹的深度尺 寸较困难。 直接压痕法(IM) ①无需特别制样;②可 利用很小的样品;③测 定H V 的同时获得K IC ,简 单易行。 ①试样表面要求高,无划痕和缺陷;②由 于压痕周围应力应变场较复杂,没有获得 断裂力学的精确解;③随材料性质不同会 产生较大误差;④四角裂纹长度由于压痕 周围残余应力的作用会发生变化;产生压

痕裂纹后若放置不同时间,裂纹长度也会 发生变化,影响测试精度。 3.写出断裂强度和断裂韧性的定义,二者的区别和联系。 答: 断裂强度δr断裂韧性K IC 定义材料单位截面承受应力而不发生断裂的能力材料抵抗裂纹失稳扩展或断裂能力 联系①都表征材料抵抗外力作用的能力;②都受到E、的影响,提高E、既可提高 断裂强度,也可提高断裂韧性;③在一定的裂纹尺寸下,提高K IC 也会提高δr,即增韧的同时也会增强。 区别除了与材料本身的性质有关外,还与裂 纹尺寸、形状、分布及缺陷等有关 是材料的固有属性,是材料的结构和显微 结构的函数,与外力、裂纹尺寸等无关 4.写出无机材料的增韧原理。 答:增韧原理:一是在裂纹扩展过程中使之产生有其他能量消耗机构,从而使外加负载的一部分或大部分能量消耗掉,而不致集中于裂纹扩展上;二是在陶瓷体中设置能阻碍裂纹扩展的物质场合,使裂纹不能再进一步扩展。 根据断裂力学,抗弯强度,断裂韧性,可以看出要提高陶瓷材料强度,必须提高断裂表面能和弹性模量以及减小裂纹尺寸;要提高断裂韧性,必须提高断裂表面能和弹性模量。 5.试比较以下材料的热导率,并按大小顺序排列,说明理由。氮化硅(Si3N4) 陶瓷、氧化镁(MgO)陶瓷、镁橄榄石(2MgO·SiO2)、纯银(Ag)、镍铬合金(NiCr)。

材料结构与表征复习整理(周玉第三版)

材料结构与表征 2017-2018复习整理 2018-1-4 暨南大学 ——D.S

2017-2018材料结构与表征重点整理 目录 绪论 (1) 第一章 X射线物理学基础 (2) 第二章 X射线衍射方向 (3) 第三章 X射线衍射强度 (3) 第四章多晶体分析方法 (4) 第五章物相分析及点阵参数精确测定 (5) 第六章(不考) (5) 第七章(不考) (5) 第八章电子光学基础 (5) 第九章透射电子显微镜 (6) 第十章电子衍射 (7) 第十一章晶体薄膜衍衬成像分析 (7) 第十二章(不考) (8) 第十三章扫描电子显微镜 (8) 第十四章(不考) (8) 第十五章电子探针显微镜分析 (8) 第十六章 (9) 参考文献 (10)

2017-2018材料结构与表征重点整理 绪论 1.组织结构与性能 本书主要介绍X射线衍射和电子显微镜分析材料的微观结构。 材料的组织结构与性能:a.结构决定性能;b.通过一定方法控制其显微组织形成条件。 加工齿轮实例: a.预先将钢材进行退火处理,使其硬度降低,以满足容易铣等加工工艺性能要求; b.加工好后再进行渗碳处理,使其强度、硬度提高,以满足耐磨损等使用性能的要求。 2. 显微组织结构分析表征: a.表面形貌观察(形态、大小、分布和界面状态等——光学显微镜、电子显微镜、原子力显微镜等; b.晶体结构分析(物相,晶体缺陷,组织结构等)——X射线衍射、电子衍射、热谱分析; c.化学成分分析(元素与含量、化学价态、分子量、分子式等)——光谱分析,能谱分析等。 3.传统测试方式 a.光学显微镜——分辨率200nm——只能观察表面形态而不能观察材料内部的组织结构,更不能进行对所观察的显微组织进行同位微区分析; b.化学分析——能给出试样的平均成分,不能给出元素分布,和光谱分析相同。 4.X射线衍射与电子显微镜 1.XRD——分辨率mm级——是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、不同结构相的含量及内应力的方法,可以计算样品晶体晶体结构与晶格参数。 2.电子显微镜 透射电子显微镜——分辨率0.1nm——通过透过样品的电子束成像,可以观察微观组织形态并对观察区域进行晶体结构鉴定; 扫描电子显微镜——分辨率1nm——利用电子束在样品表面扫描激发出的代表样品表面特征的信号成像,观察表面形貌(断口)和成分分布; 电子探针显微分析——利用聚焦很细的电子束打在样品微观区域,激发出特征X射线,可以确定样品微观区域的化学成分,可与扫描电镜同时使用进行化学成分同位分析。

材料结构与性能地关系

关于新型材料结构与性能的关系相关文章读后感 通过阅读文献,我了解了关于新型材料的一些基础知识。 新型材料是指那些新近发展或正在发展的、具有优异性能和应 用前景的一类材料。新型材料的特征: (1)生产制备为知识密集、技术密集和资金密集; (2)与新技术和新工艺发展密切结合。如:大多新型材料通过 极端条(如超高压、超高温、超高真空、超高密度、超高频、 超高纯和超高速快冷等)形成。 (3)一般生产规模小,经营分散,更新换代快,品种变化频繁。 (4)具有特殊性能。如超高强度、超高硬度、超塑性,及超导 性、磁性等各种特殊物理性能。 (5)其发展与材料理论关系密切。 新型材料的分类,根据性能与用途分为新型结构材料和功能材料。新型结构材料是指以力学性能为主要要求,用以制造各种机器零件和工程结构的一类材料。新型结构材料具有更高力学性能(如强度、硬度、塑性和韧性等),能在更苛该介质或条件下工作。功能材料指具有特定光、电、磁、声、热、湿、气、生物等性能的种类材料。广泛用于能源、计算机、通信、电子、激光、空间、生命科学等领域。根据材料本性或结合键分为金属材料、元机非金属材料、高分子材料、复合材料

新型材料,在国民经济中具有举足轻重的地位。对新一代材料的要求是:(1)材料结构与功能相结合。(2)开发智能材料。智能材料必须具备对外界反应能力达到定量的水平。目前的材料还停留在机敏材料水平上,机敏材料只能对外界有定性的反应。(3)材料本身少无污染,生产过程少污染,且能再生。(4)制造材料能耗少,本身能创造新能源或能充分利用能源。 材料科学发展趋势:(1)研究多相复合材料。指两个或三个主相都在一个材料之中,如多相复合陶瓷材料,多相复合金属材料,多相复合高分子材料,金属—陶瓷、金属—有机物等。(2)研究并开发纳米材料。①把纳米级晶粒混合到材料中,以改善材料脆性。②利用纳米材料本身的独特性能。 基于材料结构和性能关系研究的材料设计,其核心科学问题有三: (l)寻找决定材料体系特性的关键功能基元; (2)材料微观结构和宏观功能特性的关系的研究; (3)基于功能基元材料体系的设计原理。 各种新型材料的开发研究越来越引起人们的重视,活性碳纤维(ACF)(或纤维状活性碳(FAC)是近几十年迅速发展起来的一种新颖的高效吸附材料。 ACF的吸附性能与其结构特征有密切关系.影响性能的结构因素可分为两个方面:其一为孔结构因素,如比表面积、孔径、孔容等。在通常情况下,比表面积与吸附量有正比关系;其二为表面官能团的种类和含量,例如含氮官能团的ACF对含硫化合物有优异的吸附能力.

材料结构表征及应用知识点总结

第一章绪论 材料研究的四大要素:材料的固有性质、材料的结构、材料的使用性能、材料的合成与加工。 材料的固有性质大都取决于物质的电子结构、原子结构和化学键结构。 材料结构表征的三大任务及主要测试技术: 1、化学成分分析:除了传统的化学分析技术外,还包括质谱(MC)、紫外(UV)、可见光、红外(IR)光谱分析、气、液相色谱、核磁共振、电子自旋共振、二次离子色谱、X射线荧光光谱、俄歇与X射线光电子谱、电子探针等。如质谱已经是鉴定未知有机化合物的基本手段;IR在高分子材料的表征上有着特殊重要地位;X射线光电子能谱(XPS)是用单色的X射线轰击样品导致电子的逸出,通过测定逸出的光电子可以无标样直接确定元素及元素含量。 2、结构测定:主要以衍射方法为主。衍射方法主要有X射线衍射、电子衍射、中子衍射、穆斯堡谱等,应用最多最普遍的是X射线衍射。在材料结构测定方法中,值得一提的是热分析技术。 3、形貌观察:光学显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜。 第二章X射线衍射分析 1、X射线的本质是电磁辐射,具有波粒二像性。 X射线的波长范围:0.01~100 ? 或者10-8-10-12 m 1 ?=10-10m (1)波动性(在晶体作衍射光栅观察到的X射线的衍射现象,即证明了X射线的波动性); (2)粒子性(特征表现为以光子(光量子)形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量)。 2、X射线的特征: ①X射线对物质有很强的穿透能力,可用于无损检测等。 ②X射线的波长正好与物质微观结构中的原子、离子间的距离相当,使它能被晶体衍射。晶体衍射波的方向与强度与晶体结构有关,这是X射线衍射分析的基础。 ③X射线光子的能量与原子内层电子的激发能量相当,这使物质的X射线发射谱与吸收谱在物质的成分分析中有重要的应用。 一、X射线的产生 1.产生原理 高速运动的电子与物体碰撞时,发生能量转换,电子的运动受阻失去动能,其中一小部分(1%左右)能量转变为X射线,而绝大部分(99%左右)能量转变成热能使物体温度升高。 2.产生条件 (1)产生自由电子;(2)使电子作定向的高速运动;(3)在其运动的路径上设置一个障碍物使电子突然减速或停止。 3.X射线管的结构 封闭式X射线管实质上就是一个大的真空二极管。基本组成包括: ①阴极:阴极是发射电子的地方。 ②阳极:亦称靶,是使电子突然减速和发射X射线的地方。 ③窗口:窗口是X射线从阳极靶向外射出的地方。 ④焦点:焦点是指阳极靶面被电子束轰击的地方,正是从这块面积上发射出X射线。 二、X射线谱 由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型:(1)连续X射线;(2)标识X射线。 1、连续X射线 具有连续波长的X射线,构成连续X射线谱,它和可见光相似,亦称多色X射线。 (1)产生机理

材料结构与性能答案(DOC)

1.材料的结构层次有哪些,分别在什么尺度,用什么仪器进行分析? 现在,人们通过大量的科学研究和工程实践,已经充分认识到物质结构的尺度和层次是有决定性意义的。 在不同的尺度下,主要的,或者说起决定性的问题现象和机理都有很大的差异,因此需要我们用不同的思路和方法去研究解决这些问题。更值得注意的是空间尺度与时间尺度还紧密相关,不同空间尺度下事件发生及进行的时间尺度也很不相同。一般地讲,空间尺度越大的,则描述事件的时间尺度也应越长。不同的学科关注不同尺度的时空中发生的事件。现代科学则按人眼能否直接观察到,且是否涉及分子、原子、电子等的内部结构或机制,而将世界粗略地划分为宏观(Macro-scopic)世界和微观(Microscopic)世界。之后,又有人将可以用光学显微镜观察到的尺度范围单独分出,特别地称作/显微结构(世界)。随着近年来材料科学的迅速发展,材料科学家中有人将微观世界作了更细致地划分。而研究基本粒子的物理学家可能还会把尺度向更小的方向收缩,并给出另外的命名。对于宏观世界,根据尺度的不同,或许还可以细分为/宇宙尺度/太阳系尺度/地球尺度和/工程及人体尺度等。人类的研究尺度已小至基本粒子,大至全宇宙。但到目前为止,关于/世界的认识还在不断深化,因而对其划分也就还处于变动之中。即使是按以上的层次划分,其各界之间的边界也比较模糊,有许多现象会在几个尺度层次中发生。 在材料科学与工程领域中,对于材料结构层次的划分尚不统一,可以列举出许多种划分方法,例如:有的材料设计科学家按研究对象的空间尺度划分为三个 层次: (1)工程设计层次:尺度对应于宏观材料,涉及大块材料的加工和使用性能的设计研究。 (2)连续模型尺度:典型尺度在1Lm量级,这时材料被看作连续介质,不考虑其中单个原子、分子的行为。 (3)微观设计层次:空间尺度在1nm量级,是原子、分子层次的设计。 国外有的计算材料学家,按空间和时间尺度划分四个层次〔1〕,即 (1)宏观 这是人类日常活动的主要范围,即人通过自身的体力,或借助于器械、机械等所能通达的时空。人的衣食住行,生产、生活无不在此尺度范围内进行。其空间尺度大致在0.1mm(目力能辨力最小尺寸)至数万公里人力跋涉之最远距离),时间尺度则大致在0.01秒(短跑时人所能分辨的速度最小差异)至100年(人的寿命差不多都在百年以内)。现今风行的人体工程学就是以人体尺度1m上下为主要参照的。 (2)介观 介观的由来是说它介于/宏观与/微观之间。其尺度主要在毫米量级。用普通光学显微镜就可以观察。在材料学中其代表物是晶粒,也就是说需要注意微结构了,如织构,成分偏析,晶界效应,孔中的吸附、逾渗、催化等问题都已开始显现。现在,介观尺度范围的研究成果在材料工程领域,如耐火材料工业、冶金工业等行业中有许多直接而成功的应用。 (3)微观 其尺度主要在微米量级,也就是前面所说/显微结构(世界)0。多年以来借助于光学显微镜、电子显微镜、X)衍射分析、电子探针等技术对于晶态、非晶态材料在这一尺度范围的行为表现有较多的研究,许多方法已成为材料学的常规手段。在材料学中,这一尺度的代表物有晶须、雏晶、分相时产生的液滴等。 (4)纳观 其尺度范围在纳米至微米量级,即10-6~10-9m,大致相当于几十个至几百个原子集合体的尺寸。在这一尺度范围已经显现出量子性,已经不再能将研究对象作为/连续体0,不能再简单地

材料分析与表征方法实验报告

材料分析与表征方法实验报告 热重分析实验报告 一、实验目的 1.了解热重分析法的基本原理和差热分析仪的基本构造。 2.掌握热重分析仪的使用方法。 二、实验原理 热重分析指温度在程序控制时,测量物质质量与温度之间的关系的技术。热重分析所用的仪器是热天平,它的基本原理是,样品重量变化所引起的天平位移量转化成电磁量,这个微小的电量经过放大器放大后,送入记录仪记录;而电量的大小正比于样品的重量变化量。当被测物质在加热过程中有升华、汽化、分解出气体或失去结晶水时,被测的物质质量就会发生变化。 三、实验原料 一水草酸钙CaC2O4·H2O 四、实验仪器 美国TA公司TGA55 升温与降温速率(K/min) 0.1-100℃/min 天平灵敏度(μg) 0.1μg 温度范围(°C)室温-1000℃ 五、操作条件 第一组:10℃/min空气条件下和20℃/min空气条件下,对TG和DTG曲线进行对比。 第二组:10℃/min空气条件下和10℃/min氮气条件下,对DSC进行对比。 第三组:10℃/min氮气条件下,得到TG、DTG、DSC曲线。 六、结果与讨论

含有一个结晶水的草酸钙(242CaC.OHO)在100℃以前没有失重现象,其热重 曲线呈水平状,为TG曲线的第一个平台。DTG曲线在0刻度。 在100℃和200℃之间失重并出现第二个平台。DTG曲线先升后降,在108.4℃达到最大值,即失重速率的最大值。DSC曲线先降后升,在188.4℃达到最小值,即热功率的最小值。这一步的失重量占试样总质量的12.47%,相当于每 mo CaC2O4·H2O失掉1mol H2O,其热分解反应为: CaC2O4·H2O CaC2O4 + H2O 在400℃和500℃之间失重并开始呈现第三个平台,DTG曲线先升后降,在510.4℃达到最大值,即失重速率的最大值。DSC曲线先降后升,在103.1℃达到最小值,即热功率的最小值。其失重量占试样总质量的18.76%,相当于每 mol CaC2O4分解出1mol CO,其热分解反应: CaC2O4 CaCO3 + CO 在600℃和800℃之间失重并开始呈现第四个平台,DTG曲线先升后降,在749.2℃达到最大值,即失重速率的最大值。DSC曲线先降后升,在758.9℃达到最小值,即热功率的最小值。其失重量占试样总质量的29.38%,相当每 mol CaC2O4分解出1mol CO2,其热分解反应: CaCO3 CaO + CO2 六、结论

材料表征与仪器分析

材料表征与仪器分析 引言 一. 通用X射线粉末衍射 二. 无定形结构、纤维和层状结构的衍射 三. EXAFS 四. HRTEM 五. 电子衍射 六. 光谱 七. 结构预测 引言 材料表征或结构测定是大部分材料和化学研究工作重要的第一步。Accelrys的软件可帮助研究者用先进算法预测结构,模拟、解释及应用由分析仪器得到的数据。这些工具集成于Cerius2软件,一个支持分子结构的模型搭建、操纵和高质量三维结构显示的成熟的软件环境。 了解你制备出了什么物质以及它的物理性质怎样,是能够明智和有益地使用一种材料所必需的。基于晶体结构和原子组成的可靠的材料表征技术的使用仅有50年历史。这些工具的存在对科学家们了解材料的结构带来了巨大变化。 计算技术的使用可以有两种方式: · 通过分析解释传统分析手段的结果来鉴别一种实验化合物; ·通过模拟分析仪器来预测分子模型的性质。 分析手段可分为下面三大类: · 衍射 · 光谱 · 显微技术 对上述分析方法计算机都可以进行模拟。 衍射 衍射是电磁辐射波动性的一种表现,当辐射经过一边缘或通过一小孔时发生弯曲而形成。当电磁辐射经过一化合物时波的干涉就揭示了材料的结构信息。 辐射的种类影响所得衍射图像的分辨率,并由此判断是否适合测定该种材料。常用的有电子衍射、中子衍射和X射线衍射,而X射线衍射是用于确定晶体结构的最常用的工具。 粉末衍射是X射线在粉末状晶体物质上的衍射。粉末X射线衍射给出的信息比单晶X射线衍射少,但更简单和快捷。 光谱 光谱技术根据原子或分子(或者原子和分子的离子)对电磁波的吸收、发射或散射来定性定量研究原子、分子或物理过程。 IR(红外)光谱测定样品对中红外线的吸收波长和强度。对红外发射的吸收取决于化学键。 显微技术 显微技术是利用辐射和光学来得到一物体的放大图像。电子显微学分析手段有扫描电镜(SEM)、扫描隧道电镜(STM)和透射电镜(TEM)。 结构预测 用分子动力学可以对分子体系进行快速近似的能量计算,快速得到最低能量结构。量子力学技术提供精确的第一原理的原子和电子结构预测。

材料基本表征方法

化学化工学院材料化学专业实验报告 实验名称:材料基本表征方法 年级: 2010级 日期: 2012—9—12 姓名: 学号: 同组人: 一、预习部分 1、材料的表征方法: 1.1 X 一射线衍射物相分析 粉末X 射线衍射法,除了用于对固体样品进行物相分析外,还可用来测定晶体 结构的晶胞参数、点阵型式及简单结构的原子坐标。X 射线衍射分析用于物相分析 的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d 以及它们的相对强度Ilh 是物 质的固有特征。而每种物质都有特定的晶胞尺寸和晶体结构,这些又都与衍射强 度和衍射角有着对应关系,因此,可以根据衍射数据来鉴别晶体结构。此外,依 据XRD 衍射图,利用Schercr 公式: θ λθβcos )2(L K = 式中p 为衍射峰的半高宽所对应的弧度值;K 为形态常数,可取0.94或0.89;为X 射线波长,当使用铜靶时,又1.54187 A; L 为粒度大小或一致衍射晶畴大小;e 为 布拉格衍射角。用衍射峰的半高宽FWHM 和位置(2a)可以计算纳米粒子的粒径。 1.2热分析表征 热分析技术应用于固体催化剂方面的研究,主要是利用热分析跟踪氧化物制 备过程中的重量变化、热变化和状态变化。. 1.3扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜有原子量级的高分辨率,其平行和垂直于表面方向的分辨率 分别为0.1 nm 和0.01nm ,即能够分辨出单个原子,因此可直接观察晶体表面的近原 子像;其次是能得到表面的三维图像,可用于测量具有周期性或不具备周期性的 表面结构。通过探针可以操纵和移动单个分子或原子,按照人们的意愿排布分子 和原子,以及实现对表面进行纳米尺度的微加工,同时,在测量样品表面形貌时, 可以得到表面的扫描隧道谱,用以研究表面电子结构。 1.4透射电子显微镜 透射电镜可用于观测微粒的尺寸、形态、粒径大小、分布状况、粒径分布范 围等,并用统计平均方法计算粒径,一般的电镜观察的是产物粒子的颗粒度而不 是晶粒度。高分辨电子显微镜(HRTEM)可直接观察微晶结构,尤其是为界面原 子结构分析提供了有效手段,它可以观察到微小颗粒的固体外观,根据晶体形貌 和相应的衍射花样、高分辨像可以研究晶体的生长方向。 1.5 X 射线能量弥散谱仪 每一种元素都有它自己的特征X 射线,根据特征X 射线的波长和强度就能得 出定性和定量的分析结果,这是用X 射线做成分分析的理论依据。EDS 分析的元 素范围Be4-U9a ,一般的测量限度是0.01%,最小的分析区域在5~50A ,分析时 间几分钟即可。X 射线能谱仪是一种微区微量分析仪。用谱仪做微区成分分析的 最小区域不仅与电子束直径有关,还与特征X 射线激发范围有关,通常此区域范

材料结构和性能解答(全)

1、离子键及其形成的离子晶体陶瓷材料的特征。 答:当一个原子放出最外层的一个或几个电子成为正离子,而另一个原子接受这些电子而成为负离子,结果正负离子由于库仑力的作用而相互靠近。靠近到一定程度时两闭合壳层的电子云因发生重叠而产生斥力。这种斥力与吸引力达到平衡的时候就形成了离子键。此时原子的电中性得到维持,每一个原子都达到稳定的满壳层的电子结构,其总能量达到最低,系统处于最稳定状态。因此,离子键是由正负离子间的库仑引力构成。由离子键构成的晶体称为离子晶体。离子晶体一般由电离能较小的金属原子和电子亲和力较大的非金属原子构成。离子晶体的结构与特性由离子尺寸、离子间堆积方式、配位数及离子的极化等因素有关。 离子键、离子晶体及由具有离子键结构的陶瓷的特性有: A、离子晶体具有较高的配位数,在离子尺寸因素合适的条件下可形成最密排的结构; B、离子键没有方向性 C、离子键结合强度随电荷的增加而增大,且熔点升高,离子键型陶瓷高强度、高硬度、高熔点; D、离子晶体中很难产生自由运动的电子,低温下的电导率低,绝缘性能优良; E、在熔融状态或液态,阳离子、阴离子在电场的作用下可以运动,故高温下具有良好的离子导电性。 F、吸收红外波、透过可见波长的光,即可制得透明陶瓷。 2、共价键及其形成的陶瓷材料具有的特征。 答:当两个或多个原子共享其公有电子,各自达到稳定的、满壳层的状态时就形成共价键。由于共价电子的共享,原子形成共价键的数目就受到了电子结构的限制,因此共价键具有饱和性。由于共价键的方向性,使共价晶体不密堆排列。这对陶瓷的性能有很大影响,特别是密度和热膨胀性,典型的共价键陶瓷的热膨胀系数相当低,由于个别原子的热膨胀量被结构中的自由空间消化掉了。 共价键及共价晶体具有以下特点: A、共价键具有高的方向性和饱和性; B、共价键为非密排结构; C、典型的共价键晶体具有高强度、高硬度、高熔点的特性。 D、具有较低的热膨胀系数; E、共价键由具有相似电负性的原子所形成。 3、层状结构材料的各向异性。 答:层状结构中范德华力起着重要的作用,陶瓷的层状结构间有较强的若键存在使得层与层之间连接在一起。蒙脱石和石墨的结构层内键合类型不同于层间键合类型,因此材料显示出较高的各向异性。所有的这些层状结构的层与层之间很容易滑移,粘土矿物中的这种层状结构使它在有水的情况下容易发生塑性变形。 4、影响陶瓷材料密度的因素。 答:密度是指单位体积的质量,陶瓷材料的密度有四种表示方式,分别是:结晶学密度、理论密度、体积密度、相对密度。前三种在制作过程中没有形成气孔,在结构内的原子间只有间隙。陶瓷材料的密度主要取决于元素的尺寸,元素的质量和结构堆积的紧密程度。相对原子质量大的元素构成的陶瓷材料显示出较高的密度,如碳化钨、氧化铪等。金属键合和离子键合陶瓷中的原子形成紧密堆积,会使其密度比共价键键合陶瓷(较开放的结构)的密度更奥一些,如锆石英。 5、硬度所反映的材料的能力;静载荷压入法测定硬度的原理。

材料的表征方法总结

2.3.1 X 一射线衍射物相分析 粉末X 射线衍射法,除了用于对固体样品进行物相分析外,还可用来测定晶体 结构的晶胞参数、点阵型式及简单结构的原子坐标。X 射线衍射分析用于物相分析 的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d 以及它们的相对强度Ilh 是物 质的固有特征。而每种物质都有特定的晶胞尺寸和晶体结构,这些又都与衍射强 度和衍射角有着对应关系,因此,可以根据衍射数据来鉴别晶体结构。此外,依 据XRD 衍射图,利用Schercr 公式: θ λθβcos )2(L K = 式中p 为衍射峰的半高宽所对应的弧度值;K 为形态常数,可取0.94或0.89;为X 射线波长,当使用铜靶时,又1.54187 A; L 为粒度大小或一致衍射晶畴大小;e 为 布拉格衍射角。用衍射峰的半高宽FWHM 和位置(2a)可以计算纳米粒子的粒径, 由X 一射线衍射法测定的是粒子的晶粒度。样品的X 一射线衍射物相分析采用日本理 学D/max-rA 型X 射线粉末衍射仪,实验采用CuKa 1靶,石墨单色器,X 射线管电压 20 kV ,电流40 mA ,扫描速度0.01 0 (2θ) /4 s ,大角衍射扫描范围5 0-80 0,小角衍 射扫描范围0 0-5 0o 2.3.2热分析表征 热分析技术应用于固体催化剂方面的研究,主要是利用热分析跟踪氧化物制 备过程中的重量变化、热变化和状态变化。本论文采用的热分析技术是在氧化物 分析中常用的示差扫描热法(Differential Scanning Calorimetry, DSC)和热重法 ( Thermogravimetry, TG ),简称为DSC-TG 法。采用STA-449C 型综合热分析仪(德 国耐驰)进行热分析,N2保护器。升温速率为10 0C.1 min - . 2.3.3扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜有原子量级的高分辨率,其平行和垂直于表面方向的分辨率 分别为0.1 nm 和0.01nm ,即能够分辨出单个原子,因此可直接观察晶体表面的近原 子像;其次是能得到表面的三维图像,可用于测量具有周期性或不具备周期性的 表面结构。通过探针可以操纵和移动单个分子或原子,按照人们的意愿排布分子 和原子,以及实现对表面进行纳米尺度的微加工,同时,在测量样品表面形貌时, 可以得到表面的扫描隧道谱,用以研究表面电子结构。测试样品的制备:将所制 的纳米Fe203粉末分散在乙醇溶液中,超声分散30 min 得红色悬浊液,用滴管吸取 悬浊液滴在微栅膜上,干燥,在离子溅射仪上喷金处理。采用JSM-6700E 场发射扫 描电子显微镜旧本理学),JSM-6700E 场发射扫描电子显微镜分析样品形貌和粒 径,加速电压为5.0 kV o 2.3.4透射电子显微镜 透射电镜可用于观测微粒的尺寸、形态、粒径大小、分布状况、粒径分布范 围等,并用统计平均方法计算粒径,一般的电镜观察的是产物粒子的颗粒度而不 是晶粒度。高分辨电子显微镜(HRTEM)可直接观察微晶结构,尤其是为界面原 子结构分析提供了有效手段,它可以观察到微小颗粒的固体外观,根据晶体形貌 和相应的衍射花样、高分辨像可以研究晶体的生长方向。测试样品的制备同SEM 样品。本研究采用 JEM-3010E 高分辨透射电子显微镜(日本理学)分析晶体结构, 加速电压为200 kV o 2.3.5 X 射线能量弥散谱仪 每一种元素都有它自己的特征X 射线,根据特征X 射线的波长和强度就能得

材料结构表征及应用复习资料.

材料结构表征及应用复习资料 --2013材料化学 第一章绪论 1.材料研究的四大要素:材料的固有性质、材料的结构、材料的使用性能、材料的合成与加工; 2.材料的固有性质大都取决于物质的电子结构、原子结构和化学键结构。 3.材料结构表征的三大任务及主要测试技术: ①化学成分分析:传统的化学分析技术、质谱、色谱、红外光谱、核磁共振、X射线光电子能谱; ②结构测定:X射线衍射、电子衍射、中子衍射、热分析; ③形貌观察:光学显微镜、扫描电镜、透射电镜、原子力显微镜; 第二章红外光谱及激光拉曼光谱 2.1 红外光谱的基本原理 1.红外光谱定义:当用一束具有连续波长的红外光照射物质时,该物质的分子 就要吸收一定波长的红外光的光能,并将其转变为分子的振动能和转动能,从而引起分子振动—转动能级的跃迁。通过仪器记录下不同波长的透过率(或吸光度)的变化曲线,即是该物质的红外吸收光谱。 2.中红外区波数范围:4000-400cm-1; 3.简正振动振动自由度(3n-6或3n-5)。 4.简正振动的特点是,分子质心在振动过程中保持不变,所有的原子都在同一 瞬间通过各自的平衡位置。每个简正振动代表一种振动方式,有它自己的特征振动频率。 5.简正振动类型主要分为两大类,即伸缩振动和弯曲振动。伸缩振动是指原子 沿着键轴方向伸缩使键长发生变化的振动;弯曲振动即指的是键角发生变化的振动 6.实际观测到的红外基频吸收数目却往往少于3n-6个,为什么? ①如振动过程中分子不发生瞬间偶极矩变化,则不引起红外吸收; ②频率完全相同的振动彼此发生简并; ③强宽峰往往要覆盖与它频率相近的弱而窄的吸收峰; ④吸收强度太弱,以致无法测定; ⑤吸收峰落在中红外区之外。 7.分子吸收红外辐射必须满足的条件? ①只有在振动过程中,偶极矩发生变化的那种振动方式才能吸收红外辐射,从而在红外光谱中出现吸收谱带。这种振动方式称为红外活性的。反之,在振动过程中偶极矩不发生改变的振动方式是红外非活性的,虽有振动,但不能吸收红外辐射。 ②振动光谱的跃迁规律是Δυ=±1,±2,…。因此当吸收的红外辐射其能量与能力间的跃迁相当时才会产生吸收谱带。 8.吸收谱带的强度决定于?

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