伽马射线强度和能量的测量 - 副本
伽马射线强度和能量的测量读书报告
一．引言
γ射线（包括X射线）的强度和能谱测量是核辐射探测器的一个重要方面。在核物理的研究中，测量原子核激发态能级、研究核的衰变纲图、测定短的核寿命、进行核反应实验研究等都离不开对γ射线的测量。在放射性分析、技术应用等方面都有应用。
二、γ射线测量的一般考虑
γ射线的测量从获取信号的方式看可以分为两类：测量单个脉冲，从测量的大量脉冲事件中得到有关入射γ射线的信息；和测量累计电流，从平均输出电流中定出入射γ射线的强度。前者使用更为普遍。对其细分。对于不同的实验目的可分为三种类型：1.测量γ射线的强度，常用的有G—M计数器、正比计数器、各种闪烁计数器等。2.测量γ射线的能谱，典型的以NaI（Tl）闪烁谱仪与HPGe谱仪为代表。3.测量时间信息常用有机闪烁探测器等。对于探测的性能和指标，主要有能量分辨率、探测效率、峰总比和峰康比、能量线性、晶体形状和大小的选择。
三、γ射线能谱分析和能量刻度
γ射线谱形的形成，主要为光电效应、康普顿效应和电子对效应，其输出能谱也比较复杂，在能谱中形成全能峰、康普顿坪、单逃逸峰和双逃逸峰等。除了考虑以上三种效应外，在实际测量中情况更复杂，还需要考虑散射光子和反散射峰、湮没辐射峰、特征X射线、轫致辐射、累计效应、和峰效应、碘逃逸峰、边缘效应等。归纳起来，可以分为（1）γ射线的能量和分支比；（2）放射源的特性；（3）探测器物理性质（4）实验条件和环境布置为了根据γ射线的能量确定所測谱的峰位(道址），或反过来,根据所测峰位确定γ射线的能量都需要预先对谱仪进行能量刻度。能量刻度就是在谱仪所确定的条件下（包括谱仪的组成元件和使用参数，如高压、放大倍数、时间常数等），利用一组已知能量的γ源，測出对应能量的全能峰峰位,然后作出能量和峰位(道址）的关系曲线。有了这样的能量刻度，那末測到了未知γ射线的峰位即可求出γ射线的能量。根据能暈刻度结果还可以检验谱仪的线性范围和线性好坏。
四、γ射线强度测量与效率刻度
要确定γ射线的強度,必须知道探渕器的探测效率，探测效率既与γ射线的能量有关，又与探測器的类型、晶体的大小、形状及源与探測器的几何位置等因素有关,所以要对每一台谱仪单独进行效率刻度。
全能峰法确定γ射线强度，根据计数脉冲的幅度分布情况，有全谱法和全能峰法。
对于NaI（Tl）闪烁谱仪的效率刻度的确定，有以下方法。
1.由本征效率和蜂总比来确定源峰探測效率
2.源峰探测效率的实验測定
3.蒙特卡罗计算
4.NaI（Tl）效率曲线随能量的关系
对于HPGe谱仪的效率刻度原则上用确定NaI（Tl）闪烁谱仪的刻度方法也是可行的，
可根据Ge探测器的特点再进一步做些讨论。主要是全能峰效率和双逃逸蜂效率、探測效率的刻度方法、探測效率随能量的关系。
五、符合反符合谱仪
单晶γ谱仪侧到的能谱一般比较复杂，这是由于对每一能量尤其高能区的γ射线在谱形上都有好几个峰(如全能峰，逃逸峰)和康普顿坪与之对应，这样对于包含多种能量的复杂γ谱的分析极其困难。目前已发展了多种谱仪装置，它们的探头具有两个或多个晶体并使用符合或反符合技术，使得每一能量只产生一个峰或尽量增强某个峰而抑制谱的其它部分，这样测到的能谱就变得简单，持别适用于多种核素的下能谱分析。本节首先介绍几种符合反符合谱仪装置，然后介绍丫能谱的符合侧量，特别是多探头符合测量方法
全吸收反符合谱仪
全吸收反符合谱仪能有效地抑制康普顿坪和逃逸峰,从而使单晶谱仪在所测能谱上尽量突出全能峰。它通过两个方面实现这种改进：①尽可能采用体积大的主晶体，当体积增大时，可通过增大累计效应来增强全能峰。②采用第二个包围在主晶体外面的晶体，并使用反符合技术。这样仅当主晶体单独有输出即相当于在其中产生全能峰事件时,该输出才能被记录和分析；而当两个晶体同时有输出，即相当于在主晶体内犮生康普顿散射或电子对效应并有次级光子逸出而在外围晶体中被吸收时，就用外围晶体的输出通过反符合阻止主晶体输出的记录和分析
为了保证谱仪的良好性能,一般说应注意以下几个问题：
（1）主晶体的选择。
（2）反符合环。
（3）在几何结构安排上，反符合环尽可能地包住主晶体。
此外还有康普顿谱仪、电子对谱仪、多探头符合能谱仪。
六、γ能谱的数据分析
实际测量中γ射线的谱形是极其复杂的，其原因是除了本底与干扰等因素的影响外，所测谱中含有多种能量的强度不同的γ射线，这些丫射线的单能谱加在一起都在输出谱形中出现，特别是能量很接近的γ射线,往往以重峰形式出现，而强度弱的γ谱线又容易被强峰或本底所掩盖。复杂的γ谱中往往包含几十条甚至上千条入射γ射线的信息。所以对测量γ射线的能谱进行分析与处理是一个很重要的问题。
一般讲，根据测量的目的,对γ谱的数据处理可分为两类，其一是确定源发出的γ射线的能量与强度，从所測能量与强度，可获知样品中某元素的含量，或识别未知元素含量，也可确定核反应产生的未知γ射线等。其二是对某一核素的髙激发态的退激γ谱或衰变γ谱进行符合分析,以确定所测γ射线在能级图中的位置,从而建立起新的能级图。相比而言，前一方面的内容比较广泛,应用的方面很多，对γ谱的数据分析的论著也很多，详细的论述可参考文献,后一部分的工作面相对窄些，数据分析的论著较少。以下只对数据分析中的一些问题作简要的论述。
1.峰面积的求法主要有计数相加法、函数拟合法。
2.对于NaI（Tl）γ射线谱的解析主要有逆矩阵法、权重最小二乘法。
3.对于Geγ谱的峰的分析主要包括下面步骤；①谱数据的光滑;②寻峰及确定待分析的峰区范围；③选用合适的峰面积计算方法计箅峰面积及峰位能量；④利用效率刻度求出每个峰所对应的γ射线强度，从而进一步求出待测样品的元素含量或放射性活度等。其中最主要的是峰面积的计箅。
4.多探头γ-γ符合的数据分析
在第五节中提到的多探头符合測量装置中，记录到的数据是各探测器间的γ符合数据，并旦以逐个事件的形式记录在磁带上，称为“原始事件带。在“在线获取”实验中，每次实验可获得几十盘甚至上百盘的“原始事件带”，实验完成后，对这些“原始事件带”作
进一步的处理与分析，称为“离线分析”，以获得原子核的有关实验数据-最重要的是建立复杂的能级图，包括级联跃迁关系，各跃迁的能量、强度，能级的寿命、自旋、宇称等等。数据分析要在容量较大的计箅机上进行,并且要有图形处理终端，以随时观察、处理所测γ能谱。
对γ-γ符合的数据分析一般步骤如下：
（1）实验测量能量刻度与效率刻度数据。
（2）对“原始数据带”进行预处理。
（3）建立γ-γ符合关联矩阵。
（4）“开门”符合谱分析。
（5）确定跃迁的能量与强度。
参考文献【原子核物理实验方法】第十章
抗弯强度的测定原理.
抗弯强度的测定 一、 实验目的 抗弯强度（或称抗折强度）是无机非金属材料力学性能的指标之—。本实验介绍三点弯曲加载法测试材料的抗弯强度。通过试验掌握测试方法和原理。 二、实验内容 1. 原理 把条形试样横放在支架上，用压头由上向下施加负荷（如图29-1），根据试样断裂时的应力值计算强度。此种情况下，材料的抗弯强度σf 为 Z M f =σ （1） M 一断裂负荷P 所产生的最大弯距 Z 一试样断裂模数 对于矩形截面的试样有： PL M 41= （2） 2 61bh Z = （3） P — 试样断裂时读到的负荷值 （牛顿） L — 支架两支点间的跨距（米） b — 试样横截面宽（米） h — 试样高度（米） 因此对于矩形截面的试样，抗弯强度为： 621023-?=bh Pl f σ （兆牛顿/米2） （4） 2、试验设备 LJ —500拉力试验机 3、试验步骤： (1) 试样制备：将烧成的陶瓷试块用外圆切割机割成矩形截面的长条状试条。试条尺寸为截面4?4mm 左右，长度50mm 左右。将切割好的试条表面磨光。因为粗糙表面的微裂纹很多，会大大影响强度的测试值。
(2) 按所需的测量范围，在拉力试验机背面装相应的平衡砣，将刻度盘上的主动针调到零点， 并将被动针转到与主动针附近，调节两支架的间距为40mm，并使压头位于两支点的中线上。 (3) 将试条放在支架上，开动电动机，选择给定速度，扮下操纵手柄，使压头下移时对试条 加载。 (4) 当试条断裂时，立即将操纵手柄扳回中间位置，以停止压头运行。 (5) 读取刻度盘上被动针所指定数位。（换算成国际单位制），将测量断面的宽和高（b，h） 代入公式（4）计算。 三、思考题 1. 请说明抗弯强度的测定原理及方法。 2. 实验中的注意事项有哪些？
交流电路参数的测定实验报告
交流电路参数的测定实验报告 一、实验目的: 1.了解实际电路器件在低频电路中的主要电磁特性，理解理想电路与实际电路的差异。明确在低频条件下，测量实际器件哪些主要参数。 2.掌握用电压表、电流表和功率表测定低频元件参数的方法。 3.掌握调压变压器的正确使用。 二、实验原理: 交流电路中常用的实际无源元件有电阻器、电感器和电容器。 在低频情况下，电阻器周围的磁场和电场可以忽略不计，不考虑其电感和分布电容，将其看作纯电阻。可用电阻参数来表征电阻器消耗电能这一主要的电磁特征。 电容器在低频时，可以忽略引线电感，忽略其介质损耗和漏导，可以用电容参数来表征其储存和释放电能的特征。 电感器的物理原型是导线绕制成的线圈，导线电阻不可忽略，在低频情况下，线匝间的分布电容可以忽略。用电阻和电感两个参数来表征。 交流电流元件的等值参数R、L、C可以用专用仪器直接测量。也可以用交流电流表、交流电压表以及功率表同时测量出U、I、P，通过计算获得，简称三表法。 本实验采用三表法，由电路理论可知，一端口网络电压电流及 将测量数据分别记入表一、表二、表三。每个原件各测三次，求其平均值。 三、仪器设备
1.调压变压器 2.交流电压表 3.功率表 4.交流电流表 5.电感电容电阻。 四、注意事项: 1.测量电路的电流限制在1A以内。 2.单相调压器使用时，先把电压调节手轮调在零位，接通电源后再从零位开始升压。每做完一项实验随手把调压器调回零再断开电源。 六、报告要求: 根据测试结果，计算各元件的等效参数，并与实际设备参数进行比较。 五、思考题 若调压变压器的输出端与输入端接反，会产生什么后果,
【CN109860070A】电子束检测样品及检测方法【专利】
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910285568.5 (22)申请日 2019.04.10 (71)申请人 德淮半导体有限公司 地址 223302 江苏省淮安市淮阴区长江东 路599号 (72)发明人 李丰阳 黄仁德 方桂芹 (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 代理人 吴敏 (51)Int.Cl. H01L 21/66(2006.01) H01L 23/544(2006.01) (54)发明名称 电子束检测样品及检测方法 (57)摘要 一种电子束检测样品及检测方法，检测方法 包括提供晶圆，所述晶圆表面形成有半导体器 件；在所述半导体器件表面覆盖氧化层；电子束 照射所述半导体器件，利用逸出的二次电子来反 应被检测的所述半导体器件表面的形貌特征，在 所述半导体器件表面形成所述氧化层，电子束照 射时要通过所述氧化层之后再进入所述半导体 结构表面，所述氧化层避免电子束能量直接照射 到所述半导体器件内部，防止所述半导体器件内 电流变大产生电弧击穿， 提高检测效率。权利要求书1页 说明书4页 附图3页CN 109860070 A 2019.06.07 C N 109860070 A
权 利 要 求 书1/1页CN 109860070 A 1.一种电子束检测方法，其特征在于，包括： 提供晶圆，所述晶圆表面形成有半导体器件； 在所述半导体器件表面覆盖氧化层； 电子束通过所述氧化层对所述半导体器件进行检测。 2.如权利要求1所述电子束检测方法，其特征在于，所述氧化层的厚度为1nm-5nm。 3.如权利要求1所述电子束检测方法，其特征在于，形成所述氧化层的方法为化学气相沉工艺积或扩散工艺。 4.如权利要求3所述电子束检测方法，其特征在于，所述化学气相沉积工艺为常压化学气相沉积法或低压化学气相沉积法。 5.如权利要求1所述电子束检测方法，其特征在于，所述氧化层的材料为氧化硅。 6.如权利要求1所述电子束检测方法，其特征在于，电子束检测采用的能量为2KeV-2.5KeV。 7.如权利要求1所述电子束检测方法，其特征在于，检测之后，还包括步骤：除去所述氧化层。 8.如权利要求7所述电子束检测方法，其特征在于，除去所述氧化层的工艺为湿法去除工艺。 9.如权利要求8所述电子束检测方法，其特征在于，所述湿法去除工艺包括：采用DHF熔液冲洗所述氧化层。 10.一种电子束检测样品，其特征在于，包括： 晶圆，所述晶圆表面具有半导体器件； 氧化层，覆盖在所述半导体器件表面。 2
测量电功率要点
测量电功率的几种特殊方法 同学们都熟悉用如图1的方法测量小灯泡 的电功率，这是测量电功率的标准方法，除过 这种方法外，还有几种测量电功率得特殊方 法，这里就结合几道考题予以介绍。 例1、要测出一只额定电压为3.8V的小灯泡的额定功率，器材有：电源（电压恒为6V）、阻值合适的滑动变阻器一个、开关一个、导线 若干、电流表一块、电压表一块，其中电流表 的量程完好，电压表的量程只有0～3V档可 用。请设计电路，并回答：闭合开关，调节滑 动变阻器，使电压表的示数达到＿＿＿V时， 小灯泡恰好正常发光。若此时电流表的示数为 0.3A，则小灯泡的额定功率为＿＿＿W。 解析：显然，小灯泡的额定电压3.8V大于电压表的最大量程3V，所以我们不能用电压表直接测量小灯泡两端的电压；但是，由于电源电压已知，我们可考虑通过测量滑动变阻器两端的电压间接测量出小灯泡两端的电压。因为电源电压为6V，小灯泡的额定电压为3.8V，这时滑动变阻器两端的电压为2.2V，而2.2V正好小于3V，所以可以这样来测量。因此可得如图2的电路图。然而，由于电压表测量的是滑动变阻器两端的电压，所以，要测量小灯泡的额定功率，电压表的示数应为2.2V。而小灯泡的额定功率应为其额定电压（一定要注
意是 3.8V 而不是 2.2V ）和此时电流的乘积，所以有：W A V UI P 14.13.08.3=?==。 可以看出，用这样的电路测量电功率时，当电流表示数变大时电压表示数变小；而当电流表示数变小时电压表示数变大。有时命题者也依此命题，请同学们注意。 例2、在一次测定小灯泡额定功率的实验中，老师给出了如下器材：额定电压为U 0的小灯泡、电源（电压未知）、一个阻值为R 的电阻、一个滑动变阻器、一只电流表、一只电压表、一个单刀双掷开关和若干导线。实验时不能忽略灯丝的电阻随温度的变化。 ⑴小张同学设计的实验电路图如图3，请你 根据这个电路图写出测量小灯泡额定功率的主 要步骤和需要测量的物理量（物理量用字母表 示）。 ⑵本实验中，小灯泡额定功率的表达式P=＿＿＿＿＿＿＿。 ⑶若在给出的器材中只将其中的一只电流表改为一只电压表，请你重新设计一个实验电路图，测量小灯泡的额定功率（只画出电路图，不需要说明测量步骤）。 解析：⑴由于题目中只给了电流表，所以设法使小灯泡两端的电压等于其额定电压是解决问题的关键。从电路图可以看出，小灯泡与定值电阻并联，它们两端的电压相等，而定值电阻两端的电压为U=I R R ，这样，如果将S 掷向1时，当电流表的示数为R U 0时，它们两端的电压就为小灯泡的额定电压U 0。因此，我们可以这样测量小
绝缘电阻抗电强度测试规范
绝缘电阻抗电强度测试规范 文件编号 文件名绝缘电阻和抗电强度试验检测规范版本 A00 (1).测试目的 本实验是为了确保产品电气绝缘设计达到预先设计所需的要求，并符合相关标准，减小操作人员和可能与设备接触的人员遭受电击或伤害的危险。 (2).测试条件:可参考GB19510.1-2004和GB8898-2001“10.2-10.3”。 a.用耐压测试仪和绝缘阻抗测试仪进行实验。 b.抗电强度电压值设定和P-S绝缘阻抗设定值见下表: 表一介电强度试验电压 工作电压 U (V) 试验电压 (V) U?42 500 基本绝缘 2U+1,000 发 42,U?1,000 补充绝缘 2U+1,750 双重或加强绝缘 4U+2,750 在既采用加强绝缘又采用双重绝缘的情况下，应该注意不应使施加在加强绝缘的电压过度超过基本绝缘或补充绝缘的负荷 表二绝缘电阻值受试绝缘部位绝缘电阻(MΩ) 带电部件与壳体之间: 10 —基本绝缘—加强绝缘 20 输入线路与输出线路之间 20 只用基本绝缘与带电部件隔离的?类灯具驱动器的金属部件与壳体之20 间 与绝缘材料外壳的内表面和外表面相接触的金属箔之间 10 另外对于某些产品在客户有特殊要求时，按客户要求的标准测试。 (3). 检验方法:
将被测试产品的电源输入端L，N短接在一起，所有的输出端也短接在一起。连接到绝缘阻抗测试仪或抗电强度测试仪进行实验。 第C- 1 页 (4). 测试步骤: a. 将抗电强度测试仪和绝缘阻抗测试仪设定在标准值上，对绝缘电阻施加1 分钟的 绝缘电阻不小于表二所给值。对抗电强度按下列规定: 直流500V电压测试, 1.对承受直流(无纹波)电压应力的绝缘，用直流电压进行试验; 2.对承受交流电压应力的绝缘，用电网电源频率的交流电压进行试验。 b. 将被测试产品短接好，连到测试仪的输出线上。 c. 开始测试，先用绝缘阻抗测试仪检测绝缘电阻;再用抗电强度测试仪测试抗电强度。并做好相关记录。 (5). 测试后检验: a.测试期间不能有火花、电弧产生;被测试样品绝缘应无闪络、击穿现象，耐压测试仪不报警。 b(测试完成后检测被测试样品的所有性能均需正常。 (6). 注意要点: a.抗电强度测试时预先施加的试验电压不应大于规定电压值的一半，然后迅速将试验电压升高到全值并持续1min，漏电流不大于10mA。 b.设备的安全不应受到在预期使用中可能出现的湿热环境的损害，因此除另有特殊规定外，都应在湿热处理后，再立即进行绝缘电阻和抗电轻度测试来检验是否合格。
实验十五 交流电路功率的测量
实验十五 交流电路功率的测量 实验目的 1．学习交流电路中功率及功率因数的测定方法； 2．加深对功率因数概念的理解，进一步了解交流电路中电阻、电容、电感等元件消耗功率的特点； 3．学习一种提高交流电路功率因数的方法． 仪器和用具 负载（铁芯电感为 40W 日光灯镇流器，阻值为 300Ω左右的变阻器）、电动型瓦特表（低功率因数瓦特表W -D34型额定电流为 0.5A 、1A ，额定电压为 150V 、300V 、600V ，功率因数20.φcos =）、铁磁电动型交流电压表、电磁型电流表、电容（0.5μF 、l μF 、2μF 、4μF 、10F 各一个）、调压变压器、示波器、音频信号发生器.-MF 20型晶体管万用表、双刀双掷开关两个等． 实验原理 一、交流功率及功率因数 在直流电路中、功率就是电压和电流的乘积，它不随时间改变．在交流电路中，由于电压和电流都随时间变化，因而它们的乘积也随时间变化，这种功率称为瞬时功率p ． 设交流电路中通过负载的瞬时电流i 为 t ωI i sin m = （C.13.1） 负载两端的瞬时电压u 为 ()φt ωU u +=sin m （C.13.2） 则瞬时功率 ()()φt ωt ωI U i u p +=?=sin sin m m （C.13.3） 平均功率 R 图C.13.1
()()()[]???+-?=+==T T T dt φt ωφI U T dt φt ωt ωI U T pdt T P 0m m 0 m m 02cos cos 2 1 1sin sin 11 其中第二项积分为零，所以 φUI φI U dt φI U T P T cos cos 2 1 cos 211m m 0m m ===? （C.13.4） 平均功率不仅和电流、电压的有效值有关，并和功率因数φcos 有关． 由图C.13.1所示可知 I U φUI P R ==cos （C.13.5） 故平均功率也就是电路中电阻上消耗的功率，也称有用功率．由于电压与电流有效值的乘积称为总功率，也称视在功率S ，即 UI S = （C.13.6） 故 φUI φ UI S P cos cos == （C.13.7） 功率因数φcos 就是电源送给负载的有用功率P 和总功率S 的比值，它是反映电源利用率大小的物理量． 测量功率的方法很多，最常用的是瓦特表，此外示波器也可测量功率（示波器适用于测量高频情况下较小的功率）． 二、瓦特表测量功率及功率因数 1．瓦特表测功率 本实验采用电动型瓦特表，电动型瓦特表的测量机构示意图如图C.13.2所示． 电动型瓦特表内部测量机构有两个线圈，线圈A 为固定线圈，它与负载串联而接人电路，通过固定线圈的电流就是负载电 流，因此称固定线圈A 为瓦特表的电流线圈；线圈B 为动圈，线圈本身电阻很小，往往与扩程用的高电阻相串联，测量时与负载相并联，动圈支路两端的电压就是负载电压1U ，因此图C.13.2 电动型仪表测量机构示意图 1．固定线圈；2．可动线圈；3、4．支架； 5．指针；6．游丝
电子束流能量测量
直线加速器电子束流能量的测量 电子直线加速器最重要的束流参数是束流的能量、流强、能散度和发射度 束流能量是影响电子直线加速器性能最重要的因素之一 对于脉冲型电子直线加速器，电子束的能量测量方法通常有：磁偏转法、半价层法、射程法等 一测量原理 1.1磁偏转法 能谱测量原理示意图 磁偏转法通常用于测量电子束的能谱，进而得出电子束的能量E0。 磁偏转法测量电子束能谱的原理如上图所示：从加速器引出的电子垂直于磁场射，会受到洛伦兹力的作用而发生偏转，其偏转半径为R，磁场B 与偏转半径的关系为： 其中，B 为磁场中的磁感应强度，e 为电子电量，R 为回旋半径，v 为电子运动速度。 考虑相对论效应，可以将上式写为： 其中β=v/c，c 为光速，γ 为相对论因子，γ 与β 满足关系： 电子的动能为： 由上述几个公式可以求得电子能量E 与磁感应强度B的关系为：
因此，对于已知磁场B，理论上只需要测出电子的回旋半径R，即可进一步算出电子的能量。为提高测试精度，在电子进入磁分析器之前，需要对其进行准直。通常采用带狭缝的石墨块，其厚度略大于电子在其中的射程；设准直缝距磁极边缘为L，此即分析器的物点O 由于从加速器引出的电子能量具有一定的能散ΔE，因此，对于流强较大的电子束，常用的方法是采用扫描的工作方式，在位置J 处放置一个法拉第筒用于接收电子，使偏转半径为R 的电子能够被接收，通过改变磁场B 使不同能量的电子都被法拉第筒接收，得到一条B-I 曲线，由于B 与能量存在公式所示的定量关系，因此通常直接做出E-I 曲线，即能谱分布曲线，如下图所示的是一条能谱分布曲线，其中纵坐标表示归一化电流，横坐标为能量。 采用磁分析法得到的能谱分布曲线 其中峰值处的横坐标值即对应电子束的能量E0 1.2 半价层法 加速器加速电子打靶所产生的X 射线本质上是具有相当能量的电磁辐射光子，光子的能量近似等于入射电子的能量，因此可以通过测量光子能量的方法间接得到电子能量。辐射光子流在物质中的衰减规律服从简单的指数关系如下：
抗电强度测试方法
抗电强度试验的概念与方法 江苏省电子信息产品质量监督检验研究院杨东岩 作为电子电器设备安全性能考核的重要手段之一，有关安全标准都会给出抗电强度试验的要求。那么这种试验的目的和要求是什么呢？ 一、试验的目的 评价在设备中作隔离用的绝缘耐高压冲击的性能。 1．考核电气设备中带电部件与可触及件之间的用作隔离措施的绝缘材料的性能。 我们知道电流通过人体会引起病理生理效应，通常毫安级的电流就会对人体产生危害，更大的电流甚至会造成人的死亡。因此，在各类电子电气设备的安全设计中防触电保护是一个很重要的内容。 通常产生电击危险的原因有： z触及带电件 z正常情况下带危险电压零部件和可触及的导电零部件（或带非危险电压的电路）之间的隔离用的绝缘击穿 z接触电流过大 z大容量电容器放电 在安全设计中采用的措施之一就是通过使用双重绝缘或加强绝缘，将带危险电压的零部件与可触及件隔离。这样防止危险带电件与可触及件之间的绝缘击穿就是个关键点，产品内所有绝缘都必须能够承受产品在正常工作条件下和单一故障条件下产品内部产生的相关电压，还必须承受来自电网电源和从通信网络传入的瞬态冲击电压，而不飞弧、击穿。 击穿的概念： 当绝缘承受的电压足够高而使得绝缘电阻无法再限制电流的增大，此时在施加电压的两极间发生放电，称为击穿。此时施加在绝缘上的电压引起的电流以失控的方式迅速增大。 击穿的途径：可能是固体绝缘材料内部；或沿两电极之间的绝缘体表面（即所谓的“爬电”）；或沿两电极之间最短的空间路径（即气体介质中的“飞弧”） 击穿的主要形式： 电击穿----绝缘材料的电介质结构直接为电场力所破坏而致。 热击穿----由于绝缘材料的介质损耗导致电介质发热所致。 在交变正弦电压作用下绝缘材料的介质损耗为 P=U2ˉ2πˉfˉCˉtgδ 式中：U—电压（V） f—频率（Hz） C—电容（F） tgδ--损耗角正切 在直流电压作用下绝缘材料的介质损耗为 P=U2/R 式中：U—电压（V） R—绝缘电阻（Ω） 电化学击穿----由于外加电压的作用，致使电介质内部发生化学变化而引起。 为考核设计的有效性，。要求在施加相应的试验电压下用于安全隔离的绝缘不能被击穿。 二、试验原理 1．试验电压 电气设备在使用过程中，其绝缘长期承受各种因素引起的瞬态过电压的作用，这些电压
交流电路元件参数的测定
深圳大学实验报告 课程名称：电路与电子学 实验项目名称：交流电路元件参数的测定 学院：信息工程学院 专业：无 指导教师：吴迪 报告人：王文杰学号：2013130073 班级：信工02 实验时间：2014/5/22 实验报告提交时间：2014/5/26 教务部制
一、实验目的与要求： 1．正确掌握交流数字仪表（电压表、电流表、功率表）和自耦调压器的用法。 2．加深对交流电路元件特性的了解。 3．掌握交流电路元件参数的实验测定方法。 二、方法、步骤： 电阻器、电容器和电感线圈是工程上经常使用的基本援建。在工作频率不高的条件下，电阻器、电容器可视为理想电阻和理想电容。一般电感线圈存在较大电阻，不可忽略，故可用一理想电感和理想电阻的串联作为电路模型。 电阻的阻抗为：Z=R 电容的阻抗为：Z=jX C=－j(1/ωC) 电感线圈的阻抗为：Z=r+ jX L=r+jωL=|Z|∠ 电阻器、电容器、电感线圈的参数可用交流电桥等一起测出，若手头没有这些设备，可大减一个简单的交流电路，通过测阻抗算出元件参数值。 1.三表法 利用交流电流表、交流电压表、相位表（或功率表）测量元件参数称为三表法、这种方法最直接，计算简便。实验电路如图1所示。元件阻抗为： 对于电阻 对于电容 对于电感 由已知的电源角频率ω，可进一步确定元件参数。
2.二表法 若手头上没有相位表或功率表，也可只用电流表和电压表测元件参数，这种方法称为二表法。由于电阻器和电容器可看作理想元件，已知其阻抗为0或者90度，故用二表法测其参数不会有什么困难。 二表法测电感线圈参数如图2所示。途中的电阻R是一个辅助测量元件。由图2课 件，根据基尔霍夫电压定律有，而，其中和为假想电压，分别代表线圈中等效电阻r和电感L的端电压。各电压相量关系如图3所示，忧郁U、U1、U2可由电路中测的，故途中小三角△aob的各边长已知，再利用三角形的有关公式（或准确地画出图3，由图3直接量的）求出bc边和ac边的长度，即电压U r 和U L可求。最后，由式及已知的电源角频率ω可求得线圈的参数。 3.一表法 只用一个交流电压表测量元件参数的方法称为一表法，其原理与二表法相同，不同
载流子迁移率测量方法总结
载流子迁移率测量方法总结 引言 迁移率是衡量半导体导电性能的重要参数，它决定半导体材料的电导率，影响器件的工作速度。已有很多文章对载流子迁移率的重要性进行研究，但对其测量方法却少有提到。本文对载流子测量方法进行了小结。 迁移率μ的相关概念 在半导体材料中，由某种原因产生的载流子处于无规则的热运动，当外加电压时，导体内部的载流子受到电场力作用，做定向运动形成电流，即漂移电流，定向运动的速度成为漂移速度，方向由载流子类型决定。在电场下，载流子的平均漂移速度v与电场强度E成正比为： 式中μ为载流子的漂移迁移率，简称迁移率，表示单位电场下载流子的平均漂移速度，单位是m2／V·s 或cm2／V·s。 迁移率是反映半导体中载流子导电能力的重要参数，同样的掺杂浓度，载流子的迁移率越大，半导体材料的导电率越高。迁移率的大小不仅关系着导电能力的强弱，而且还直接决定着载流子运动的快慢。它对半导体器件的工作速度有直接的影响。 在恒定电场的作用下，载流子的平均漂移速度只能取一定的数值，这意味着半导体中的载流子并不是不受任何阻力，不断被加速的。事实上，载流子在其热运动的过程中，不断地与晶格、杂质、缺陷等发生碰撞，无规则的改变其运动方向，即发生了散射。无机晶体不是理想晶体，而有机半导体本质上既是非晶态，所以存在着晶格散射、电离杂质散射等，因此载流子迁移率只能有一定的数值。 测量方法 (1)渡越时间(TOP)法 渡越时间(TOP)法适用于具有较好的光生载流子功能的材料的载流子迁移率的测量，可以测量有机材料的低迁移率。 在样品上加适当直流电压，选侧适当脉冲宽度的脉冲光，通过透明电极激励样品产生薄层的电子一空穴对。空穴被拉到负电极方向，作薄层运动。设薄层状况不变，则运动速度为μE。如假定样品中只有有限的陷阱，且陷阱密度均匀，则电量损失与载流子寿命τ有关，此时下电极上将因载流子运动形成感应电流，且随时间增加。在t时刻有：
2019人教版初中物理中考实验专题--电功率的测量
中考专题 电功率的测量1 1.图中是测量额定电压为3.8V的小灯泡的电功率的实物电路图，小灯泡的电阻约为10Ω。 (1)请在右侧空白处画出与实物图对应的电路图。 (2)实物电路中连接不合理的是电压表量程选小了。开关闭合前，滑动变阻器滑片应置于 A (选填“A”或“B”)端，目 的是保护电路。 (3)调节滑动变阻器，分别读出电流表和电压表的示数，记录如下表： 小灯泡的额定功率为 1.52 W。小灯泡逐渐变亮的原因是实际功率逐渐变大(选填“变大”、“变小”或“不变”) 2.小华做“测定小灯泡的电功率”实验，实验器材齐全且完好，电源的电压有2、4、6、8、10和12伏六档，滑动变阻器有A、B两个(A标有“10Ω1A”字样、B标有“20Ω2A”字样)，待测小灯泡标有“2.5V”字样。小华选用电源的电压为6伏档，并选取一个变阻器进行实验。他正确连接电路且实验步骤正确，闭合电键时，发现小灯泡发光较亮，电压表、电流表的示数分别如图(a)、(b)所示。 (1)测定小灯泡的额定功率需要测量和记录的物理量是额定电压与电流，判定该小灯泡正常发光的方法是电压 表示数为额定电压2.5V 。 (2)小华在实验中，选用的变阻器是 A (选填“A”或“B”)。 (3)若要测出该小灯泡的额定功率，小华可采用的方法有： 方法一：更换滑动变阻器； 方法二：更换4V档电源。 3.现有两只小灯泡L1、L2，它们的额定电压分别为2.5 V和3.8 V。 (1)如图甲是小明测定灯泡L1额定功率的实物电路图(不完整) ①请用笔画线代替导线将实物电路图连接完整。 ②正确连接电路后，闭合开关前，应将滑动变阻器的滑片P移到 A (填“A”或“B”)端。闭合开关后，移动滑片P，当 电压表示数为2.5V时，电流表的示数如图乙所示，则灯泡L1的额定功率为0.8 W。 (2)小华利用图丙所示的电路测出了灯泡L2的额定功率。图中R为阻值已知的定值电阻，还缺两个开关和一只电表(电流表
用弹性电子测量能谱仪能量分辨率和电子倍增器的工作曲线
第23 卷第2 期真空科学与技术 2003 年3、4 月VACUUM S CI ENCE AND T E C H NOLOGY(C H INA) 1 01 技术交流 用弹性电子测量能谱仪能量分辨率 和电子倍增器的工作曲线 吴正龙 ( 北京师范大学分析测试中心北京 100875 ) Stud ies of Energy Resolution of Electron S p ec t r osco p y and C h a nn el t r o n Characteristics Using Elastic Seco nd a r y E lec t r o n s Wu Z hen g l o n g ( A n a l y t i cal an d T e s ti n g Center , B e i j ing N ormal University , 1008 75, C hi n a ) Abstract El a st i c s e condary elect r ons w e re used to s t u dy th e ch a nn e ltron characteristi c s an d th e energy res o lut i o n o f th e m u lt-i f u nct i on el e ct r on spectroscopy, including Auger spect r o s c opy( A E S), ultra v i o l e t photoelectron sp e ctr o s c o p y(U P S)and X-ra y photoelectron s p ectr o sc o p y ( XPS) et c. The preliminary result s w e re found t o agree w e l l w i th t h ose o bt a i n e d w i th c o n v ent i onal techniques. H o w e ver , when elect r on curren t exceeds a certain value, an abnormal el ast ic elect ron peak can be observed, because t he channel t ron works in sat urat ion mode. The p o ss ible s at-urat i on mechanism of t h e chann e lt r on w a s also t e nt a t i vely dis c uss e d . K eyw o r d s Electron spectrometer, Chaneltron, Work curve 摘要重点介绍了利用弹性二次电子方便快捷地测量多功能电子能谱的能量分辨率和通道倍增器的工作曲线。并与常规方法进行了比较, 结果一致。测量发现当电子束流增大到一定程度时, 测出的弹性电子峰严重畸变, 电子倍增器工作在饱和状态。对出现饱和的机理进行了讨论。 关键词电子能谱仪通道式倍增器工作曲线 中图分类号: O571. 1 文献标识码: A 文章编号: 0253- 9748( 200 3) 02-0101- 03 电子能谱仪是表面分析中最常使用的仪器, 其中的通道式电子倍增器( Channel Electron Device 简写为Channeltron, 以下简称为通道倍增器) 是真空探测离子, 电子( 光电子, 俄歇电子, 二次电子) 的电子倍增计数器。它的工作情况直接影响所采集谱的质量。通道倍增器有工作电压低( 一般为3 k V) , 探测粒子的能量动态范围广等优点, 在10 e V ~ 10 ke V 粒子能量范围内都有好的线性关系[ 1] 。 通道倍增器是用一种玻璃制成螺旋状的管, 内壁涂有高阻材料, 典型电阻3000 M 。两极加上高压,通常为1 5 k V ~ 4 0 kV。此时, 螺旋管可看成是由多个电阻串联起来的多级小型倍增管。被接收的电子撞击到内壁上, 级联倍增产生二次电子, 总增益可至108 倍, 最终被通道倍增器的正极接收, 转化为电流信号。 通道倍增器的工作电压, 对所收集谱的影响很大。因此, 首先要测定工作曲线, 根据电子能谱仪工作模式, 确定最佳工作电压。正确使用通道倍增器不但可收集到正确的高质量谱, 而且可延长倍增器的寿命。通常的测量方法是在不同的倍增器电压下,测定标样( 如: C u,Ag 等) 的元素特征光电子峰或俄歇峰的强度, 绘制出倍增器的工作曲线。这种方法较繁琐, 而且很难测定诸如强信号的响应。而利用电子弹性峰方便快捷测量通道倍增器工作曲线。 收稿日期: 2002-09-12
电功率的特殊测量方法
电功率的特殊测量方法 常规条件下,测量小灯泡额定功率是用“伏安法”。但在缺少部分实验器材的情况下要求同学们自行设计实验来进行测量,考查同学们灵活运用知识解决问题的能力和设计实验方案的能力。下面介绍几例测量小灯泡额定电功率的特殊方法。 一、安阻法（缺电压表，用电流表和定值电阻替代） 例1小阳利用已有的实验器材，为了测定标有“2.5V”字样小灯泡的额定功率，设计了如图甲所示的电路图，其中定值电阻R0的阻值为5Ω． （1）请你依据电路图用笔画线代替导线，把图乙连接完整．（导线不得交叉） （2）正确连接好电路后，闭合开关S，调节滑动变阻器滑片，使电流表A1示数为______A 时，小灯泡正常发光．此时电流表A2的示数如图丙所示，则小灯泡的额定功率为______W．（3）在实验测量过程中，电流表A1与R0串联起来作用相当于______． 二、伏阻法（缺电流表，用电压表和定值电阻替代） 例2小明利用电压表和阻值为R0的定值电阻，测量额定电压为2.5V的小灯泡L正常发光时的电功率PL。他选择了满足实验要求的实验器材，并连接了部分实验电路，如图所示。（1）为了测量出PL的阻值，请只添加两条导线完成图所示的实验电路的连接； （2）请把小明的实验步骤补充完整： ①断开开关S2、闭合开关S1、S3，移动滑动变阻器的滑片P，使；保持滑动变阻器的滑片位置不变，断开开关S3、闭合开关S2，记录电压表的示数为U； ②请用R0及实验数据表示出P L= 。 三、等效替代法（用电阻箱代替小灯泡） 小明用电源,电流表,滑动变阻器,电阻箱各1个,两个开关及若干根导线,对额定电流为0.1A的小灯泡的额定功率进行了测定 （1）请画出他设计的电路图 （2）写出实验步骤 （3）测定额定功率的表达式.
电器安规标准及测量方法
电器安规标准及量测方法 1、相关法规、标准要求。 GB4706.1—1998 家用和类似用途电器的安全 GB/T3797—2005 电气控制设备 GB19212.1—2003 电力变压器﹑电源装置和类似产品的安全（第一部分：通用要求和试验） GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验－试验Fc和导则：振动（正弦） GB/T17626.2-1998 电磁兼容试验与测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.1-1998 电磁兼容抗扰度试验总论勺 GB/T17626.4-1998 电磁兼容电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T17626.11-1998 电磁兼容电压暂降﹑短时中断和电压变化的抗扰度试验 2、电缆或软线横截面积与电流关系。 3、保护性接地端子或接地触点与被接地的金属部件之间的连接应是低电阻的。
用一个空载电压不超过12V的电源提供一个等于1.5倍额定输入电流或等于25A的电流（二者中取较大值），依此从接地端子或接地触点与每个易触及的金属部件之间通过，持续1min，测量期间的电阻值应不大于0.1Ω。试验按照接地电阻测试仪的操作规程进行，符合GB19212.1—2003第24.4条规定。 4、灰尘﹑固体异物和潮湿有害进入的防护 电控系统各独立部件的外壳具有和标在铭牌上的IP代码相一致的防飞尘﹑固体异物和潮湿进入的防护等级，要求的防护等级为IP20 (表示防护等级的代号由特征字母IP和后加两位数字组成。其中的两位数字分别表示符合表1和表2规定的条件)，符合GB19212.1—2003第17.2条规定。 表1 第一位特征数字代表的防护等级 表2 第二位特征数字代表的防护等级
电子荷质比测定
实验8 电子荷质比的测定 电子比荷（荷质比，e/m ）首先由英国物理学家J.J.汤姆逊（J.J.Thomson. 1856-1940）于1897 年在英国剑桥卡文迪许实验室测出的。并因此于1906年获诺贝尔物理学奖。在物理学中，测定电子比荷的实验方法有多种，但都是采用电场、或磁场、或电场和磁场来控制电子的运动，从而测定电子的荷质比。本实验是采用由亥姆霍兹线圈产生的磁场，控制洛仑兹力管中电子的运动，测定电子荷质比的。 一、实验目的 1、观察电子束在电场作用下的偏转。 2、观察运动电荷在磁场中受洛仑兹力作用后的运动规律。 3、 测定电子的比荷。 4、 加深对相对论的理解。 二、预习问题 1、 电子在磁场中运动时所受洛仑兹力的方向及运动轨迹。 2、 相对论理论，物体的质量与运动速度的关系。 3、 亥姆霍兹线圈的结构。 4、 开始通电前，仪器面板上各控制开关和旋钮应放在什么位置上？ 5、 在转换线圈电流前，应先将线圈电流值调到多少？为什么？ 6、 实验结束后，将阳极电压和线圈电流调到多少？偏转电压开关和线圈电流开关都拨到什么位置 上？ 三、实验仪器 DH4520型电子荷质比测定仪包括：洛仑兹力管、亥姆霍兹线圈、供电电源和读数标尺等部分。如图1所示。 1、洛仑兹力管：洛仑兹力管又称威尔尼管如图2所示，是本实验仪的核心器件。它是一个直径 为153mm 的大灯泡，泡内抽真空后，充入一定压强的混合惰性气体。泡内装有一个特殊结构的电子枪，由热阴极、调制板、锥形加速阳极和一对偏转极板组成，如图3所示。经阳极加速后的电子，经过锥形阳极前端的小孔射出，形成电子束。具有一定能量的电子束与惰性气体分子碰撞后，使惰性气 图1 DH4520型电子荷质比测定仪
测量电功率实验的目的和原理
?测量电功率实验的目的和原理： 1. 实验目的： 1）测定小灯泡额定电压下的电功率； 2）测定小灯泡略高于额定电压下的电功率； 3）测定小灯泡略低于额定电压下的电功率。 2. 实验原理：P=UI 应测量的物理量：小灯泡两端的电压U，和通过的电流I。 3. 实验方法：伏安法 ?伏安法测小灯泡的电功率：
?伏安法测电阻与测功率的异同点： ?补充： (1)伏安法测功率。滑动变阻器的作用是保护电路和控制灯泡两端电压。多次测量的目的是为了测量不同电压下小灯泡的实际功率，不 是为了多次测量求平均值。所以设计的表格中没有“平均功率”这一栏。 (2)伏安法测定值电阻时，滑动变阻器的作用是保护电路和改变电路中的电流和电阻两端电压，因电阻阻值不变，这是为了多测几组对 应的电压、电流值，多测几次电阻值，用多次测量求平均值来减小误差。 (3)伏安法测小灯泡电阻时，由于灯丝电阻大小与温度有关。在不同的工作状态下，小灯泡温度不同。灯丝电阻也不同。因此测灯丝电 阻时滑动变阻器的作用是为了保护电路和改变电路中的电流，不是为了多次测量求平均值。 ?“伏安法测功率”中常见故障及排除: “伏安法测功率”是电学中的重要实验。同学们在实验过程中，容易出现一些实验故障，对出现的实验故障又束手无策，因此，能够找出实验故障是做好实验的“法宝”。下面就同学们在实验中易出现的故障从以下几方面进行分析。 1．器材选择不当导致故障 故障一：电流表、电压表指针偏转的角度小。 [分析原因]①电压表、电流表量程选择过大；②电源电压不高。 [排除方法]选择小量程，如果故障还存在，只有调高电源电压。实验中若电表指针偏转的角度太小，估读电流或电压时由于视觉造成的误差将增大。为了减小实验误差，选择量程时既不能使电表指针超过最大刻度，又要考虑到每次测量时应该使电表指针偏过刻度盘的中线。 2．器材连接过程中存在故障 故障二：电压表、电流表指针反向偏转。 [分析原因]两表的“+”“-”接线柱接反了，当电流从“一”接线柱流入时，指针反向偏转，甚至出现指针打弯、损坏电表的情况。 [排除方法]将两电表的“+”“-”接线柱对调。
电源测试规范
电源设计验证测试规范 目录 一、目的 (2) 二、范围 (2) 三、权责 (2) 四、测试项目及测试方法 (2) *1. 绝缘电阻和抗电强度测试 (2) *2. 综合电气性能测试 (3) 2.1.输入电流 (3) 2.2.满载输入功率、输入功率因数及输出电压 (3) 2.3.PS ON/OFF电压（遥控电平） (3) 2.4.线性调整率 (4) 2.5.负载调整率 (4) 2.6.交越调整率 (4) 2.7.效率测试 (4) 2.8.开机冲击电流 (5) 2.9.省电测试（待机功耗） (5) 2.10.输出电压纹波及噪声 (5) 2.11.输出过流保护值和短路保护（OCP 和SCP） (5) 2.12.输出电压过压保护（OVP） (6) 2.13.启动时间及维持时间 (6) 2.14.输出超调电压 (6) 2.15.输出上升时间 (6) 2.16. Inverter电气规格测试（带INVERTER部分） (7) 3.振动测试(单机裸体) (7) 4.包装跌落测试 (7) *5.老化测试 (8) *6.温升测试 (8) *7.冷机启动实验 (9) *8.高温高湿工作实验 (9) *9.低温工作实验 (9) *10.高低温变化工作实验 (10) *11.输入电源开/关循环可靠性实验 (11) 12.连续工作可靠性实验 (11) 13.泄漏电流测试 (11) *14. C.E.传导测试 (12) 15. R.E.辐射测试 (12) 16.Harmonics谐波电流 (12) 17.ESD 静电抗扰度 (12) 18.Surge 雷击浪涌抗扰度 (12) 19.DIP/i 电压跌落/短时中断 (12) 20.EFT/B电快速瞬变脉冲群 (12)
抗电强度试验浅析转
抗电强度试验浅析(转) 抗电强度 很多感性和容性器件在磁场和电路中都会具有贮存能量的性质。通常，磁场中的能量会转换成其他能量形式，有时，磁能被释放为高压脉冲进入配电系统，而且这样的释放是经常的（如在电动机启动过程中）。因为高压脉冲会通过配电系统进入设备的电源线上，而配电系统的所有绝缘（包括产品的内部绝缘），都必须具有足够的抗电强度以承受不仅是系统的正常工作电压，而且要经受正常的系统过压。因此，产品产品中的绝缘必须能承受高压试验以确定出现在配电系统中受到高压脉冲作用时绝缘不会被击穿。 常用的几个定义： ——破坏性放电：固体、液体、气体介质及组合介质在高电压作用下，介质强度丧失的现象。破坏性放电时，放电完全桥接被试绝缘，电极间的电压迅速下降到零或接近于零。 ——闪络：沿绝缘介质表面发生的破坏性放电。 ——火花放电：在气体或液体介质中发生的破坏性放电。 ——击穿：在固体介质中发生的破坏性放电。 ——纹波：纹波是对直流电压算术平均值的周期性脉动。 ——纹波幅度：纹波的最大值与最小值之差的一半。
试验电压施加：对试品施加电压时应从足够低的电压值开始，以防止操作瞬变过程引起的过电压的任何影响，然后应缓慢地升高电压以便能在仪器仪表上准确读数，但也不能太慢，以免造成接近试验电压时试品上承受电压时间过长。 对于型式试验，若试验电压达75%以上，以每秒5%试验电压的速率上升，通常可以满足上述要求。将试验电压保持到规定的时间后，切断充电电源，通过适当电阻由滤波电容器和试品放电来降低电压。达到稳态的时间取决于试品部件的电阻和电容。 稳态达到规定的电压后，在该电压下保持1min 试验电压如果不是正弦波，在同一电压有效值的振幅值，可能比正弦波时增高，绝缘容易发生击穿。试验电压的频率越高，电压作用的时间越长，绝缘中由介质产生的热量越多，发生击穿的可能性越大。抗电强度试验电压波形应为两个半波相同的近似正弦波且峰值与方均根值之比应在21/2±0.07以内，如满足这些要求，则认为高压试验结果不受波形崎变的影响。在整个试验过程中试验电压的测量值应保持在规定电压值的±1%以内。当试验持续时间超过60s，在整个试验过程中试验电压测量值可保持在规定值的±3%以内。 50/60Hz供电的设备推荐试验60Hz的交流电压试验可能会得到更接近实际使用情况的结果。 试验步骤： ——功能检查：主要检查仪器的功能是否正常，输出电压是否能准确实在地加到了试品上。首先确定需施加的电压值和设置的漏电流报
9. 三相交流电路功率测量
三相交流功率的测量 一、实验目的 1. 掌握用一瓦特表法、二瓦特表法测量三相电路有功功率与无功功率的方法 2. 进一步熟练掌握功率表的接线和使用方法 二、原理说明 1．对于三相四线制供电的三相星形联接的负载（即Y o接法），可用一只功率表测量各相的有功功率P A、P B、P C，则三相负载的总有功功率ΣP＝P A＋P B＋P C。这就是一瓦特表法，如图9-1所示。若三相负载是对称的，则只需测量一相的功率，再乘以3 即得三相总的有功功率。 图9-1 图 9-2 2. 三相三线制供电系统中，不论三相负载是否对称，也不论负载是Y接还是△接，都可用二瓦特表法测量三相负载的总有功功率。测量线路如图9-2所示。若负载为感性或容性，且当相位差φ＞60°时，线路中的一只功率表指针将反偏(数字式功率表将出现负读数), 这时应将功率表电流线圈的两个端子调换（不能调换电压线圈端子），其读数应记为负值。而三相总功率∑P=P1+P2（P1、P2本身不含任何意义）。 除图9 -2的I A、U AC与I B、U BC接法外，还有I B、U AB与I C、U AC以及I A、U AB与I C、U BC两种接法。 3. 对于三相三线制供电的三 相对称负载，可用一瓦特表法测得 三相负载的总无功功率Q，测试原 理线路如图9-3所示。 图示功率表读数的倍，即为 对称三相电路总的无功功率。除了 此图给出的一种连接法（I U、U VW） 外，还有另外两种连接法，即接成图 9-3 （I V、U UW）或（I W、U UV）。
三、实验设备 四、实验内容 1. 用一瓦特表法测定三相对称Y0接以及不对称Y0接负载的总功率ΣP。实验按图9-4线路接线。线路中的电流表和电压表用以监视该相的电流和电压，不要超过功率表电压和电流的量程。 图 9-4 经指导教师检查后，接通三相电源，调节调压器输出，使输出线电压为220V，按表9-1的要求进行测量及计算。