材料测试方法复习

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第一章X射线衍射分析

1、什么是晶体?什么是非晶体?

晶体是离子、原子或分子按一定的空间结构排列所组成的固体,其质点在空间的分布具有周期性和对称性,因而,晶体具有规则的外形。

相对于晶体而言,熔体和玻璃体中质点排列具有不规则性,至少在长距离范围结构具有无序性,因此,这类材料属于非晶态材料

2、有几种基础类型的空间格子?有几大晶系?

简单格子(S)、底心格子(C)、体心格子(I)及面心格子(F)

7大晶系:立方、六方、三方、四方、斜方、单斜、三斜

3、X射线是怎样产生的?

产生X射线的最简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。

4、什么是Kα和Kβ?

答:Kα是L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线,Kβ射线是M壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线,Kα比Kβ强度大,因为L层电子跳入K层空位的几率比M层电子跳入K层空位的几率大。Kβ波长短,X射线衍射用的是Kα射线,Kα射线是由Kα1和Kα2组成,它们分别是电子从L3和L2子能级跳入K层空位时产生的。

5、X射线与物质相互作用产生哪些现象?

6、X射线谱的种类?

答:两种类型:连续X射线谱和特征X射线谱

连续X射线谱:指X射线管中发出的一部分包含各种波长的光的光谱。从管中释放的电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同,绝大多数电子要经历多次碰撞,产生能量各不相同的辐射,因此出现连续X射线谱

特征X射线谱:也称标识X射线谱,它是由若干特定波长而强度很大的谱线构成的,这种谱线只有当管电压超过一定数值Vk(激发电压)时才能产生,而这种谱线的波长与X射线管的管电压、管电流等工作条件无关,只取决于阳极材料,不同元属制成的阳极将发出不同波长的谱线,并称为特征X射线谱

7、什么叫X射线的衍射?

部分X射线遇到晶体后,改变其前进的方向,与原来入射方向不一致了,这些X射线实际上是晶体中各个原子对X射线的相干散射波干涉叠加而成的,称之为衍射线。

8、布拉格方程的表达式以及所讨论的问题?

答:布拉格方程有两种表达

1)普通形式:2dsinθ=nλ

2)标准形式:2 d hkl sinθ=λ

布拉格方程阐明的问题:仅当射向相邻原子面上的入射光程差为波长λ的整数倍时,相邻面的反射波才能干涉加强形成衍射线,产生衍射。

布拉格方程所讨论的问题:

1)一组晶面(λ、d定)只能在有限几个方向“反射” X射线,且满足面间距>λ/2时

2)由d hkl=d/n,说明面网间距为d hkl的面网的n级衍射看成面网间距为d/n的面网的一级衍射

9、 Lu2O3立方晶系,已知a=1.0390nm,用CuKα=0.17980nm的射线照射,问(4,0,0)面网能产生几条衍射线?

10、X射线在晶体中产生衍射的充分必要条件是什么?

1、满足布拉格方程

2、结构因子不为0

11、四种基本类型点阵的衍射规律?

S 无;底心C :h+l=偶数;面心F:h,k,l全奇或全偶;体心I:h+k+l=偶数

12、X射线衍射线相对强度与什么因素有关?

与结构因子、多重性因数、角度因数、温度因素有关

第二章电子显微分析

1、电子与物质相互作用可以得到哪些物理信息?

二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、阴极荧光、特征X射线

2、显微镜的分辨本领?

r=0.61/nsinα

提高分辨本领的方法:1、提高介质的折射率2、增大物镜的孔径半角3、使用短波长的光源

3、电子衍射花样的特征?

单晶体:一系列按一定几何图形配置的衍射斑点

多晶体:一系列的不同半径的同心圆环

4、SEM二次电子衍射像和背散射电子像各反映的是试样的何种信息?谁的分辨

率高?

二次电子像主要反映的是试样表面的形貌;背散射电子像包含了试样表面的形貌和原子序数信息;二次电子像的分辨率高,原因是(1)二次电子来自试样表面很浅的深度,信息束斑小,分辩率高,背散射电子是来自试样表面较深的范围,信息束斑大,分辨率小。(2)二次电子像无影像,背散射电子像是有影像的,因此,二次电子像分辨率高。

5、EPMA的原理?Mosoley定律?

用聚焦的电子束(电子探测针)照射在试样表面待测的微小区域上,激发试样中诸元素的不同波长(或能量)的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X 射线,得到X射线谱。根据这些特征X射线波长(或能量)进行元素定性分析;根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。

Mosoley定律:对于一定线系的某条谱线而言,其波长与原子序数的平方近似成反比关系。

6、什么是质厚衬度像?衍射衬度像?相位衬度像?

质厚衬度:由于试样各部分的密度、厚度和原子序数不同形成的衬度

衍射衬度:由于试样各部分满足衍射条件的程度不同而形成的衬度

相位衬度:电子束传播过非常薄的试样,试样中原子核和核外电子产生的库伦场会使电子波的相位有起伏,如果能把这个相位变化转变为象衬度,则称为相位衬度。

第三章热分析

1、什么是热重分析?

利用加热或冷却过程中物质质量的变化的特点,可以区别鉴定不同的物质,这种方法叫做热重分析

2、什么是DTA,其原理是什么?

差热分析是把试样和参比物置于相同的温度下,测定两者的温度差对温度或时间作图的方法

3、差热曲线的影响因素?

内因:晶体的结构,阳离子的电负性、离子半径和电价、氢氧离子浓度

外因:升温速度、试样的形状、粒度、称量及装填

4、差示扫描量热分析DSC?

示差扫描热分析是把试样和参比物置于相等的温度条件,在程序控温下,测定试样与参比物的温度差保持为0时所需要的能量对温度或时间作图的方法

5、什么是外推始点温度?

曲线开始偏离基线那点的切线与曲线最大斜率切线的交点

6、差热分析鉴定物质的依据是什么?

峰位置所对应的温度尤其是外延起始温度是鉴别物质及其变化的定性依据,峰面积是反映热效应总热量,是定量计算热效应的依据,峰的形状则可求得热效应的动力学参数;试样在升温或降温过程中的物理化学变化是试样本身的热特性,相对应差热曲线也具有其本身特性,借此可以判定物质的组成及反应机理。

7、综合热分析?

第四章振动光谱

1、红外光谱的基本原理?

连续的红外光与分子相互作用时,若分子中原子间的振动频率恰与红外光波段的某一频率相等时就引起共振吸收,使光的透射强度减弱

2、分子振动数目?

非线性:3n-6;

线性:3n-5

3、简介红外振动吸收的条件?

1、振动频率与红外光光谱某频率相等

2、有偶极距的变化

4、红外光谱定性分析的参数?

答:四大表象:谱带的位置、谱带的强度、谱带的形状、谱带的数目。

谱峰三要素:峰位置、峰强度、峰形状。

5、中红外光区的划分?

答:中红外光谱区分成: 基团频率区和指纹区

基团频率区(官能团区): 4000 cm-1 -1400 cm-1

由伸缩振动产生的吸收带,比较稀疏,容易辨认,常用于鉴定官能团。其中:(1)4000 -2500 cm-1 X-H伸缩振动区,X可以是O、N、C或S等原子。(2)2500-1900 为叁键和累积双键伸缩振动区。

(3)1900-1200 cm-1为双键伸缩振动区

无机物中;除水、OH-外,CO2、CO32-、N-H等少数键有振动吸收.

指纹区:单键的伸缩振动和变形振动产生的谱带,与整个分子的结构有关。吸收带数量密集而复杂

(1)1400cm-1-900 cm-1区域

C-O、C-N、C-F、C-P、C-S、P-O、Si-O等单键的伸缩振动

C=S、S=O、P=O等双键的伸缩振动吸收。

其中≈1375 cm-1的谱带为甲基的δC-H对称弯曲振动,对识别甲基十分有用,C-O的伸缩振动在1300~1000 cm-1 ,是该区域最强的峰,也较易识别。(2)900-650 cm-1 :确认化合物的顺反构型

(3)无机化合物的红外吸收基频基本上都处于1500cm-1以下。

6、简述拉曼光谱的原理及特点?

7、拉曼光谱图的表示?

横坐标:拉曼位移,纵坐标:散射光的强度

8、拉曼位移?

拉曼位移即为拉曼散射光的与入射光频率之差。它只与能级差有关,与入射光波长无关。

第五章光电子能谱分析

1、XPS是一种什么分析方法?它的基本原理?

利用X射线光子激发原子的内层电子,产生光电子:不同元素的内层能级的电子结合能具有特定的值,通过测定这些特定的值可以定性鉴定除H和He之外的全部元素,对峰的强度采用灵敏度因子进行定量分析

2、什么是光电效应?

答:当具有一定能量hν的入射光子与样品中的原子相互作用时,单个光子把全部能量交换给原子某壳层上一个受束缚的电子,这个电子就获得了这个能

量。如果该能量大于该电子的结合能Eb,该电子就将脱离原来受束缚的能级;若还有多余的能量可以使电子克服功函数W,则电子就成为自由电子、并获得一定的动能Ek,并且hν=Eb+Ek+W。该过程就称为光电效应。

3、什么是化学位移?

答:由于原子所处的化学环境不同而引起的原子内壳层电子结合能的变化,在谱图上表现为谱线的位移,这种现象称为化学位移。

4、化学位移的影响因素?

1)氧化作用使内层电子的结合能升高,氧化中失电子数增加,上升幅度增大;2)还原作用使内层电子的结合能降低,还原中得电子数增加,下降幅度增大;3)对于给定的价壳层结构的原子,所有内层电子的位移几乎相同;

4)内层电子的结合能与成键离子的电负性有关,电负性增大,键的离子特性增大,电子结合能也越大;

5)若化合物中有不同电负性的离子取代时,电子结合能会发生位移,取代离子的电负性越大,位移越大。

5、什么叫电子结合能?如何获得电子结合能?

电子从结合状态移到无穷远时所做的功

材料物理专业《材料分析测试方法A》作业

材料物理专业《材料分析测试方法A 》作业 第一章 电磁辐射与材料结构 一、教材习题 1-1 计算下列电磁辐射的有关参数: (1)波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长(μm ); (2)5m 波长射频辐射的频率(MHz ); (3)588.995nm 钠线相应的光子能量(eV )。 1-3 某原子的一个光谱项为45F J ,试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。 1-5 下列原子核中,哪些核没有自旋角动量? 12C 6、19F 9、31P 15、16O 8、1H 1、14N 7。 1-8 分别在简单立方晶胞和面心立方晶胞中标明(001)、(002)和(003)面,并据此回答: 干涉指数表示的晶面上是否一定有原子分布?为什么? 1-9 已知某点阵∣a ∣=3?,∣b ∣=2?,γ = 60?,c ∥a ×b ,试用图解法求r *110与r *210。 1-10 下列哪些晶面属于]111[晶带? )331(),011(),101(),211(),231(),132(),111(。 二、补充习题 1、试求加速电压为1、10、100kV 时,电子的波长各是多少?考虑相对论修正后又各是多 少? 第二章 电磁辐射与材料的相互作用 一、教材习题 2-2 下列各光子能量(eV )各在何种电磁波谱域内?各与何种跃迁所需能量相适应? 1.2×106~1.2×102、6.2~1.7、0.5~0.02、2×10-2~4×10-7。 2-3 下列哪种跃迁不能产生? 31S 0—31P 1、31S 0—31D 2、33P 2—33D 3、43S 1—43P 1。 2-5 分子能级跃迁有哪些类型?紫外、可见光谱与红外光谱相比,各有何特点? 2-6 以Mg K α(λ=9.89?)辐射为激发源,由谱仪(功函数4eV )测得某元素(固体样品) X 射线光电子动能为981.5eV ,求此元素的电子结合能。 2-7 用能级示意图比较X 射线光电子、特征X 射线与俄歇电子的概念。 二、补充习题 1、俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同?为什么? 2、简述X 射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 第三章 粒子(束)与材料的相互作用 一、教材习题 3-1 电子与固体作用产生多种粒子信号(教材图3-3),哪些对应入射电子?哪些是由电子 激发产生的?

报表测试方法总结

报表测试方法总结 1.提高对业务的熟悉程度 和功能测试以及其他测试一样,报表测试也需要熟悉业务,包括业务流程、业务规则以及数据存储,不同点是报表测试要理解每个指标的算法、数据来源以及要明白具体的业务动作和指标之间的关系,例如:要统计保费收入,首先要考虑正常保单,其次要考虑批增、批减以及注销、全单退以及其他特殊批改,这些业务类型都可以对此指标的统计结果产生影响。所以如果不能分析业务动作和指标之间的关系,那就无法验证报表中数据的准确性。 2.数据准备 数据对报表测试来说是非常重要的问题,因为报表的基本功能就是通过各种查询统计分析的方法为用户提供准确的数据,帮助用户进行决策以及分析,所以在报表测试前要保证准备足够多准确、有效的数据。在实际测试的时候一定要覆盖到报表所要求的每个维度,要保证所有的指标都要有对应的数据,不能出现指标为零的情况,当然也不需要过多,只要覆盖了所有的类型就可以了。一下总结了两种数据准备的方法: 1>对测试后期比如冻结测试时产生的数据进行备份,用于报表测试,前提一定要保证 数据的原始性,不允许对任何人对数据进行修改; 2>自己手工对数据进行准备并且精心设计,要分析影响所测指标的各种因素,以及每 个因素可能出现的不同变化,这样才有可能覆盖各种查询统计方法,并且要考虑需 要考虑的是对各种正常的、异常的业务流程和业务规则的组合的遍历或覆盖,从而 来验证报表是否取到的该取的数据、没有取不该取的数据,并且最后计算出了正确 的结果。最后要将自己准备的数据用excel保存,并对数据的特点进行记录,以提 高测试时的效率,并可以减少回归测试工作量; 3.数据正确性验证 对于客户来说,使用报表就是期望通过报表系统这个平台能够快速简单的查到自己所需要的数据,所以测试报表最主要的内容就是要验证数据的正确性,总结方法如下: 1 > 要弄清楚数据的来源,来源于哪张表、哪个字段; 2 > 时间条件:统计区间具体应该以业务中的什么时间在卡,并且考虑需求中是否包括 统计区间的边界值; 3>要弄清楚所测表以及所测指标的特定条件,比如要统计2009-01-01——2009-01-31 这个月份所有代理业务,那特定条件就是将保单的业务来源要限制在代理业务中; 4>Sql准备,这个过程是将上面三个过程进行总结,也是后续和开发人员进行分析数 据的基础,所以提高自己编写sql的能力。另外当测试时间不充裕的情况下,对一

材料测试分析方法(究极版)

绪论 3分析测试技术的发展的三个阶段? 阶段一:分析化学学科的建立;主要以化学分析为主的阶段。 阶段二:分析仪器开始快速发展的阶段 阶段三:分析测试技术在快速、高灵敏、实时、连续、智能、信息化等方面迅速发展的阶段4现代材料分析的内容及四大类材料分析方法? 表面和内部组织形貌。包括材料的外观形貌(如纳米线、断口、裂纹等)、晶粒大小与形态、各种相的尺寸与形态、含量与分布、界面(表面、相界、晶界)、位向关系(新相与母相、孪生相)、晶体缺陷(点缺陷、位错、层错)、夹杂物、内应力。 晶体的相结构。各种相的结构,即晶体结构类型和晶体常数,和相组成。 化学成分和价键(电子)结构。包括宏观和微区化学成份(不同相的成份、基体与析出相的成份)、同种元素的不同价键类型和化学环境。 有机物的分子结构和官能团。 形貌分析、物相分析、成分与价键分析与分子结构分析四大类方法 四大分析:1图像分析:光学显微分析(透射光反射光),电子(扫描,透射),隧道扫描,原子力2物象:x射线衍射,电子衍射,中子衍射3化学4分子结构:红外,拉曼,荧光,核磁 获取物质的组成含量结构形态形貌及变化过程的技术 材料结构与性能的表征包括材料性能,微观性能,成分的测试与表征 6.现代材料测试技术的共同之处在哪里? 除了个别的测试手段(扫描探针显微镜)外,各种测试技术都是利用入射的电磁波或物质波(如X射线、高能电子束、可见光、红外线)与材料试样相互作用后产生的各种各样的物理信号(射线、高能电子束、可见光、红外线),探测这些出射的信号并进行分析处理,就课获得材料的显微结构、外观形貌、相组成、成分等信息。 9.试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施 衍射花样要素:衍射线的峰位、线形、强度 答:(I)花材的选用影晌背底; (2)滤波片的作用影响到背底;(3)样品的制备对背底的影响 措施:(1)选靶靶材产生的特征x射线(常用Kα射线)尽可能小的激发样品的荧光辐射,以降低衍射花样背底,使图像清晰。(2)滤波,k系特征辐射包括Ka和kβ射线,因两者波长不同,将使样品的产生两套方位不同得衍射花样;选择浪滋片材料,使λkβ靶<λk滤<λkα,Ka射线因因激发滤波片的荧光辐射而被吸收。(3)样品,样品晶粒为50μm左右,长时间研究,制样时尽量轻压,可减少背底。 11.X射线的性质; x射线是一种电磁波,波长范围:0.01~1000à X射线的波长与晶体中的原子问距同数量级,所以晶体可以用作衍射光栅。用来研究晶体结构,常用波长为0.5~2.5à 不同波长的x射线具有不同的用途。硬x射线:波长较短的硬x封线能量较高,穿透性较强,适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。软x射线:波长较长的软x射线的能量较低,穿透性弱,可用干分析非金属的分析。用于金属探伤的x射线波长为0.05~0.1à当x射线与物质(原子、电子作用时,显示其粒子性,具有能量E=h 。产生光电效应和康普顿效应等 当x射线与x射线相互作用时,主要表现出波动性。 x射线的探测:荧光屏(ZnS),照相底片,探测器

Monkey测试方法总结

monkey测试方法总结 测试策略:全模块、单模块 测试步骤: 1、测试前准备: 1.PC侧安装adb驱动,使用adb shell命令不报错 2.手机设置:锁屏方式设置为无,屏幕亮度建议设成最低(防止电量消耗过大导致关机) 3.手机为刚刷的新版本或者进行一次恢复出厂设置 备注:或测试前请先删除自行安装的第三方:手机助手、测试工具apk等等 4.休眠设成最长时间或不休眠 5.设置-开发者选项中勾选不锁定屏幕 6.设置手机时间为当前正确时间 7.若要测试上网请连接可用wifi或打开数据业务 8.测试前需开启aplog*#*#201206#*#* 备注:测试前请确保日志功能开启,测试完成后先保存日志 adb root adb remount adb shell rm -rf /data/logs/* 作用就是删除以前的旧log 工具使用前请确定手机版本为debug版本,PC 的adb命令使用正常 附件解压到任意目录,双击InstalllogClient.bat会自动安装logClient客户端并重

启 手机配置: 1. 连接热点360WiFi-6CDC31,连接密码为xdjatest 2. 输入密码后勾选下面的高级选项-》将DHCP选项改为静态-》设置IP地址为11.12.112.196至199之间的IP,设置完IP直接点击连接,连接上热点后即配置完毕 2、测试执行: 先执行命令adb shell 再输入如下的命令: 全模块: monkey--throttle500--ignore-crashes--ignore-timeouts--ignore-security-exc eptions--ignore-native-crashes--monitor-native-crashes-v-v-v180000>/st orage/sdcard0/monkey_log.txt& 单模块: monkey-p.xdja.ncser--throttle500--ignore-crashes--ignore-timeouts--ign ore-security-exceptions--ignore-native-crashes--monitor-native-crashes-v-v-v180000>/storage/sdcard0/monkey_log.txt& 备注: 1、单模块命令加:-p模块包名; 2、测试9小时使用180000,测试18小时使用375000

材料测试方法习题与解答

第一部分X-射线衍射物相分析 一、名词解释 1、倒点阵:一种虚构的数学工具,若以a、b、c表示正点阵的基矢,则与之对应的倒格子基矢满足于a*a=b*b=c*c=1或a*b=a*c=b*a=b*c=c*a=c*b=0则(a*、b*、c*)的点阵为正点阵(a、b、c)的倒点阵。 2、:光程差为波长的整数倍即2d sinO=ny这就是布拉格公式。 3、结构因子:为了表达晶胞的散射能力,定义F=一个晶胞的相干散射振幅/ 一个电子的相干散射振幅=Eb/Ee。 4、相互作用体积:电子射入固体试样后,受到原子的弹性和非弹性散射,入射电子发生扩散或漫散射,使电子与物质的相互作用不限于电子入射方向,而是具有一定的体积范围,称为相互作用体积。 5、电磁辐射是指在空间传播的交变电磁场。电磁辐射也可称为电磁波(有时也将部分谱域的电磁波泛称为光)。 6、原子中的一个或几个电子由基态所处能级跃迁到高能级上,这时的原子状态称激发态,是高能态;而原子由基态转变为激发态的过程称为激发。 7、辐射的发射是指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。辐射发射的实质在于辐射跃迁,即当物质的粒子吸收能量被激发至高能态(E2)后,瞬间返回基态或低能态(E1),多余的能量以电磁辐射的形式释放出来。 8、热激发:电弧、火花等放电光源和火焰等通过热运动的粒子碰撞而使物质激发称为热激发 电(子)激发:通过被电场加速的电子轰击使物质激发则称为电(子)激发。 9、荧光:物质微粒受激后辐射跃迁发射的光子(二次光子)称为荧光或磷光。 10、若K层产生空位,其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为K系特征辐射。 11、入射X射线通过物质,沿透射方向强度显著下降的现象称为X射线的衰减

材料测试方法

2010年: 1.说明产生特征X射线谱的原理以及如何命名特征X射线。 答:X射线的产生与阳极靶物质的原子结构紧密相关,原子系统中的电子遵从泡利不相容原理不连续的分布在K L M N 等不同能级的壳层上,而且按照能量最低原理首先填充最靠近原子核的K壳层,再依次填充L M N壳层。各壳层能量由里到外逐渐增加。 E k

常用材料测试方法总结

成分分析: 成分分析按照分析对象和要求可以分为微量样品分析和痕量成分分析两种类型。 按照分析的目的不同,又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析,其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X 射线荧光与X 射线衍射分析方法;其中前三种分析方法需要对样品进行溶解后再进行测定,因此属于破坏性样品分析方法;而X射线荧光与衍射分析方法可以直接对固体样品进行测定因此又称为非破坏性元素分析方法。 表面与微区成份分析: X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS);(10纳米,表面) 俄歇电子能谱(Auger electron spectroscopy,AES);(6nm,表面) 二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS);(微米,表面) 电子探针分析方法;(0.5微米,体相) 电镜的能谱分析;(1微米,体相) 电镜的电子能量损失谱分析;(0.5nm) 为达此目的,成分分析按照分析手段不同又分为光谱分析、质谱分析和能谱分析。 1.光谱分析:主要包括火焰和电热原子吸收光谱AAS,电感耦合等离子体原子发射光谱 ICP-OES,X-射线荧光光谱XFS 和X-射线衍射光谱分析法XRD; (1)原子吸收光谱(Atomic Absorption Spectrometry, AAS) 又称原子吸收分光光度分析。原子吸收光谱分析是基于试样蒸气相中被测元素的基态原子对由光源发出的该原子的特征性窄频辐射产生共振吸收,其吸光度在一定范围内与蒸气相中被测元素的基态原子浓度成正比,以此测定试样中该元素含量的一种仪器分析方法。 原子吸收分析特点: (a)根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量; (b)适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定,检测限低,ng/cm3,10-10—10-14g; (c)测量准确度很高,1%(3—5%); (d)选择性好,不需要进行分离检测; (e)分析元素范围广,70多种; 应该是缺点(不确定):难熔性元素,稀土元素和非金属元素,不能同时进行多元素分析;(2)电感耦合等离子体原子发射光谱(Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry, ICP-AES)

材料分析测试技术A卷

一、选择题(每题1分,共15分) 1、X射线衍射方法中,最常用的是() A.劳厄法 B.粉末多晶法 C.转晶法 2、已知X射线定性分析中有三种索引,已知物质名称可以采用() A.哈式无机相数值索引 B.无机相字母索引 C.芬克无机数值索引 3、电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中能用于测试1nm厚度表层成分分 析的信号是() A. 背散射电子 B.俄歇电子 C.特征X射线 4、测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用的方法是() A.外标法 B.内标法 C.直接比较法 D.K值法 5、下列分析方法中分辨率最高的是() A.SEM B.TEM C. 特征X射线 6、表面形貌分析的手段包括() A.SEM B.TEM C.WDS D. DSC 7、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将 另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生() A.光电子 B.二次电子 C.俄歇电子 D.背散射电子 8、透射电镜的两种主要功能() A.表面形貌和晶体结构 B.内部组织和晶体结构 C.表面形貌和成分价键 D.内部组织和成分价键 9、已知X射线光管是铜靶,应选择的滤波片材料是() A.Co B.Ni C.Fe D.Zn 10、采用复型技术测得材料表面组织结构的式样为() A.非晶体样品 B.金属样品 C.粉末样品 D.陶瓷样品 11、在电子探针分析方法中,把X射线谱仪固定在某一波长,使电子束在样品表面 扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像,这种分析方法是()

A.点分析 B.线分析 C.面分析 12、下列分析测试方法中,能够进行结构分析的测试方法是() A.XRD B.TEM C.SEM D.A+B 13、在X射线定量分析中,不需要做标准曲线的分析方法是() A.外标法 B. 内标法 C. K值法 14、热分析技术不能测试的样品是() A.固体 B.液体 C.气体 15、下列热分析技术中,()是对样品池及参比池分别加热的测试方法 A.DTA B.DSC C.TGA 二、填空题(每空1分,共20分) 1、由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型,即和。 2、常见的几种电子衍射谱为单晶衍射谱、、、高级劳厄带斑 点、。 3、透射电镜的电子光学系统由、、和四部分组成 4、今天复型技术主要应用方法来截取第二相微小颗粒进行分析。 5、扫描电子显微镜经常用的电子信息是、和 6、德拜照相法中的底片安装方法有、和 7、产生衍射的必要条件是 8、倒易点阵的两个基本特征是和 9、透射电镜成像遵循原理 三、名词解释(每题5分,共20分) 1、X射线强度 2、结构因子 3、差热分析

材料测试方法..

测试方法分章思考题(答案版) 第一章 1.X射线的产生P3 答:实验室中用的X射线通常由X射线机产生,阴极灯丝产生电子,经过加速轰击阳极靶,一部分能量转化为X射线,大部分能量转化为热能。 2.X射线谱有哪两种类型?何谓Kα射线?何谓Kβ射线?为什么Kα射线中包含 Kα1 和Kα2?P7-P8 答:X射线谱有连续X射线和特征X射线两种。 按照原子结构的壳层模型,原子中的电子分布在以原子核为核心的若干壳层中,光谱学依次称为K、L、M、N...壳层。L→K的跃迁产生的射线称为Kα射线。M→K 的跃迁产生的射线称为Kβ射线。L壳层能级实际上由三个子能级构成,由L3和L2子能级向K能级跃迁产生的射线分别为Kα1 和Kα2。 3.晶体对X射线的散射有哪两类?X射线衍射用的是哪一类?P10 答:X射线的散射分为相干散射和不相干散射两类。 X射线衍射用的是相干散射。 4.布拉格方程的表达式、阐明的问题以及所讨论的问题.P23 答:布拉格方程:2dsinθ=nλ d为晶面间距,θ为入射束与反射面的夹角,λ为X射线的波长,n为衍射级数。讨论:1、sinθ=nλ/2d 由sinθ≤1,得到nλ≤2d,n最小值为1,因而λ≤2d。说明X 射线的波长必须小于晶面间距的二倍,才能产生衍射现象; 2、由nλ≤2d,得到d≥λ/2,因而只有那些晶面间距大于入射X射线波长一半的晶面才能发生衍射;(d hkl/n)*sinθ=λ,令d hkl/n=d HKL,则2d HKL sinθ=λ,得到d HKL=d hkl/n,因而把(hkl)晶面的n级反射看成为与(hkl)晶面平行,面间距为 d HKL=d hkl/n的晶面的一级反射。 3、原子面对X射线的衍射并不是任意的,而是具有选择性的。 4、一种晶体结构对应独特的衍射花样。 5.粉晶X射线衍射卡片检索手册的基本类型有哪几种?每种手册的编排特点是什么?P66-P67 答:索引共有三种:字顺索引(Alphabetical Index);哈那瓦特法(Hanawalt Method);

材料测试总结

XRD: 1.作用:X射线衍射分析是研究晶体结构内部原子排列状况最有力的工具。 2.由原子排列规律与标准数据库对照可直接得到结晶物质的相,因为世界上有七十万种(2008年底)结晶物质都有其特有的原子排列。 3.对X射线衍射峰强度和峰形函数分析又可得到物相的精确点阵参数、晶格畸变、微观尺寸、微观应力、结晶度、织构等。 4.X射线是在1895年由德国科学家伦琴在研究阴极射线时发现的。1912年德国科学家劳埃首次将X射线穿透晶体时发现衍射现象,从而既证明了它电磁波的性质和对应超短的波长,现已证明它的波长介于γ射线和紫外线之间,由0.01到100?。 5.X射线的产生是由高速运动的电子轰激金属靶子,电子的动能转变成X光能,其X射线成分很复杂,由各种波长各种强度的X射线混合而成,从本质上可分成两组: 6.例1.要想得到α-Fe的(222)面的衍射线,应该选用何种靶? 解:α-Fe属立方晶系,查数据库资料得知a=2.8664?,那么(222)晶面间距根据公式可得:d222=a/(H2+K2+L2)1/2 =2.8664/√12=0.8225 ? 将d值代入布拉格公式2dsinθ=nλ得λ=1.6450 ?,即λ≤1.6450 ? 时才满足α-Fe的(222)面的衍射线,根据上面的表可知铜、钼靶满足此条件,但此仅只满足衍射条件而已,如果考虑其他原因如避免激发试样荧光辐射,铜靶也不合适。 例2.如上例,求出不同靶对α-Fe的(222)面的衍射角。 根据公式sinθ=λ/2*0.8225,θ=sin-1(λ/1.6450) 若用铜靶λ=1.541,θ=69.72 衍射角2 θ=139.44 若用钼靶λ=0.708,θ=25.49 衍射角2 θ=50.98 7.K值法应用实例:锐钛矿(A-TiO2)和金红石(R-TiO2)都由TiO2组成的不同结构的同质异构体,他们是重要的光催化材料,两者的性能差别很大。由锐钛矿加温在一定的条件下转化为稳定的金红石相,因此对它们的转化条件及转化过程研究尤为重要。从PDF卡片上查到R-TiO2用d=0.325nm的线条K=3.4,A-TiO2用d=0.351nm的线条K=4.3。 通过实测样品W-54号样,IR=1628,IA=10006,那么: WA/WR=( IA/ IR)*(KR/KA)=(10006/1628)*(3.4/4.3)=4.87. 因W A+ WR=1,故W A=0.8296=82.96%,即锐钛矿占82.96,相应的金红石占17.04%。W-57号样是在上面样品基础上提高温度的产物,此时明显金红石相增加,I3.25=3163,I3.51=8453,W A/WR=2.11,得到W A=67.85%,相应的金红石占32.15%。 8.

材料分析测试方法

材料分析测试方法 一、课程重要性 二、课程主要内容 三、本课程教学目的基本要求 四、本课程与其他课程的关系 材料分析测试方法 二、课程的主要内容 材料分析的基本原理(或称技术基础)是指测量信号与材料成分、结构等的特征关系。 采用各种不同的测量信号(相应地具有与材料的不同特征关系)形成了各种不同的材料分析方法。 1、X-射线衍射分析:物相成分、结晶度、晶粒度信息 2、电子显微镜:材料微观形貌观察 3、热分析:分析材料随温度而发生的状态变化 4、振动光谱:分子基团、结构的判定 5、X-射线光电子能谱:一种表面分析技术,表面元素分析 6、色谱分析:分析混合物中所含成分的物理方法 三、课程教学目的和基本要求 本课程是为材料专业本科生开设的重要的专业课。 其目的在于使学生系统地了解现代主要分析测试方法的基本原理、仪器设备、样品制备及应用,掌握常见测试技术所获信息的解释和分析方法,最终使学生能够独立地进行材料的分析和研究工作。 四、本课程与其他课程的关系 本门课程是以高等数学、大学物理、无机及分析化学、有机化学、物理化学、晶体学等课程为基础的,因此,学好这些前期课程是学好材料现代分析测试方法的前提。 同时,材料现代分析测试方法又为后续专业课程如材料合成与制备方法、陶瓷、功能材料、高分子材料等打下基础。 X 射线衍射分析 X射线物理基础 晶体学基础:几何晶体学、倒点阵 X射线衍射原理:X射线衍射线的方向和强度 晶体的研究方法:单晶、多晶的研究、衍射仪法 X射线衍射分析的应用 物相分析 晶胞参数的确定 晶粒尺寸的计算等 X 射线衍射分析 需解决的问题 科研、生产、商业以及日常生活中,人们经常遇到这种问题:某种未知物的成分是什么?含有哪些杂质或有害物质?用什么方法来鉴定? X射线衍射分析(简称XRD)的原理?仪器组成?样品要求? XRD除物相分析外,还能检测分析物质的哪些性能? 如何从XRD所给出的数据中提取更多的信息?(包括成分、结构、形成条件、结晶度、晶粒度等)

方案测试经验总结

项目测试经验总结 说明:以下项目测试经验是我在原来公司工作中的实际经验,拿出来和大家一起交流。我相信之前的项目测试工作中有不少可以改进的地方,还希望大家多多交流。 项目测试经验 ——Judy Shen 本文是对我近几年测试工作经验的总结,并以简报的方式在研发中心内进行分享及交流。 1测试团队介绍 在介绍我们之前项目测试工作之前,需要首先介绍一下之前我所在团队的组织架构及测试人员在项目中的工作。 我们的测试团队属于质量改进中心下的测试部,它和研发团队属于两个不同的中心。测试团队有6个人,从图一可以看出来,一个人可以参与多个处于不同阶段的项目测试工作。 图一测试团队组织架构 参与项目的测试人员以测试组的形式进入项目,测试组和需求组、开发组并列。每个测试组有一个测试组长负责项目测试工作。项目经理不直接面对测试组成员,而是通过测试组长进行任务安排、协调、沟通。测试部经理知情测试人员的项目测试工作,项目测试组的工作汇报均需要抄送给测试部经理。如图二所示: 图二项目组织架构(旧) 上面说到的是旧的测试人员工作模式,在去年年底,为了有效利用公司测试人员资源,我们开始了测试外包的尝试。这里的测试外包模式是指,测试组不进入项目,而是由项目组将测试工

作以一个项目的方式分包给测试部,由测试部根据项目组提供的信息,进行计划、执行测试,并按照项目要求提交测试成果给项目组。 这个模式还在探索中,如图三所示,测试部经理直接负责项目的测试工作,测试组的工作情况抄送给项目经理。这种模式需要进行独立核算,包括成本估算、预算、结算等。但是这种模式的整体思路还不是很成熟,从这个组织架构上大家也可以看出来,很多东西还没有理顺,所以一直都处于尝试过程中。后面提到的内容,如果没有特殊说明,都是在旧的模式下进行的。 图三项目组织架构(测试外包方式) 我想不可否认,大家都认为测试人员应该是测试技术上的专家,但是,测试人员是否需要熟悉并擅长一定的业务呢?不管答案是什么都没有关系,但是我认为一个好的测试人员不仅是测试专家,他同时也是业务专家。有一些测试人员,因为系统的业务知识很复杂,就一头扎进去,几乎全力去学习业务知识,测试技术的学习和研究没有跟上,结果不是设计出大量冗余的测试用例,就是很多方面没考虑到,面对客户的不当请求,也没有底气说测试应该怎么做,弄得做起项目来辛苦异常,个个苦不堪言! 有着样的说法:“软件测试人员要两条腿走路,左腿是测试技术,右腿是业务知识。只有两条腿的健壮差不多,走路才稳当。”出于这种思想的考虑,在原来的测试团队,我们每个人都有两个学习、研究方向,一个是技术方向,一个是业务方向。例如: ●技术方向: ?功能自动化测试 ?性能测试 ?单元测试 ?测试管理 ●业务方向: ?物流业务 ?智能交通 ?知识管理 但这种方式在工作开展上有些困难。如果公司认为测试人员应该绝大部分时间用在项目测试工作上,那么测试团队既要研究测试技术,又要挤出时间学习业务知识,在操作上是比较困难的。在我们以前的测试团队的工作中,有一部分工作时间是用来进行部门建设的,部门建设工作中包括前面说到的技术研究、业务学习,还有就是部门搭建所需要进行的一些工作(如部门制度建设)。当时公司允许我们团队有30%的工作量投入部门建设上。将部门建设工作分开,主要是用于统计部门成本和测试成本用的。 前面说到了测试人员是以测试组身份进入项目开展测试工作的,但不是每个成员上去都从事同样的工作。在进入项目组工作时,每个测试人员所充当的角色是不同的,项目的测试角色划分为以下四种,如表一所示。在实际工作中因为测试人员数量有限,所以经常是一个人担任多个角色。

材料测试分析方法答案

第一章 一、选择题 1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是() A.X射线透射学; B.X射线衍射学; C.X射线光谱学; D.其它 2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称() A.Kα; B. Kβ; C. Kγ; D. Lα。 3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选() A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。 4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称() A.短波限λ0; B. 激发限λk; C. 吸收限; D. 特征X射线 5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题) A.光电子; B. 二次荧光; C. 俄歇电子; D. (A+C) 二、正误题 1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。() 2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。() 3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。() 4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。() 5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。() 三、填空题 1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。 2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、 、、、。 3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。 4. X射线的本质既是也是,具有性。 5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称 ,常用于。 习题 1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。 3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、 “吸收谱”? 4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量 描述它? 5. 产生X 射线需具备什么条件? 6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中? 7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短 波限和光子的最大动能。 8. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同?某物质的K 系荧光X 射线波长是否等 于它的K 系特征X 射线波长? 9. 连续谱是怎样产生的?其短波限V eV hc 3 01024.1?= =λ与某物质的吸收限k k k V eV hc 3 1024.1?= =λ有何不同(V 和V K 以kv 为单位)? 10. Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对x 射线分析有何影响?反冲电子、光电 子和俄歇电子有何不同? 11. 试计算当管压为50kv 时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续 谱的短波限和光子的最大能量是多少? 12. 为什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而L 吸收限有三个?当激发X 系荧光 Ⅹ射线时,能否伴生L 系?当L 系激发时能否伴生K 系? 13. 已知钼的λK α=0.71?,铁的λK α=1.93?及钴的λK α=1.79?,试求光子的频率和能量。 试计算钼的K 激发电压,已知钼的λK =0.619?。已知钴的K 激发电压V K =7.71kv ,试求其λK 。 14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm ,试计算这种铅屏对CuK α、MoK α辐射 的透射系数各为多少? 15. 如果用1mm 厚的铅作防护屏,试求Cr K α和Mo K α的穿透系数。 16. 厚度为1mm 的铝片能把某单色Ⅹ射线束的强度降低为原来的23.9%,试求这种Ⅹ射 线的波长。 试计算含Wc =0.8%,Wcr =4%,Ww =18%的高速钢对MoK α辐射的质量吸收系数。 17. 欲使钼靶Ⅹ射线管发射的Ⅹ射线能激发放置在光束中的铜样品发射K 系荧光辐射,问 需加的最低的管压值是多少?所发射的荧光辐射波长是多少? 18. 什么厚度的镍滤波片可将Cu K α辐射的强度降低至入射时的70%?如果入射X 射线束 中K α和K β强度之比是5:1,滤波后的强度比是多少?已知μm α=49.03cm 2 /g ,μm β =290cm 2 /g 。 19. 如果Co 的K α、K β辐射的强度比为5:1,当通过涂有15mg /cm 2 的Fe 2O 3滤波片后,强 度比是多少?已知Fe 2O 3的ρ=5.24g /cm 3,铁对CoK α的μm =371cm 2 /g ,氧对CoK β的 μm =15cm 2 /g 。 20. 计算0.071 nm (MoK α)和0.154 nm (CuK α)的Ⅹ射线的振动频率和能量。(答案:4.23

材料分析测试方法复习重点

《材料分析测试方法》期末复习要点 0909273版权所有 2012610 第一部分X射线衍射分析 1、X射线的发展历史: 1895年,德国物理学家伦琴发现X射线;1912年,德国物理学家劳埃发现X射线在晶体中的衍射现象,X射线晶体学诞生。 2、X射线的本质 X射线本质上是一种电磁波,波长在10-cm作用,具有波粒二象性,遵循爱因斯坦关系式e =h v =hc/ , p=h/ 入 3、X射线产生条件 (1) 产生自由电子;(2)使自由电子作定向高速运动;(3)在电子运动的路径上设置 使其突然减速的障碍物。 4、X射线谱:X射线强度与波长的关系曲线,称之为X射线谱。分为连续X射线谱和特征X 射线谱。 5、对连续X射线谱的解释 (1)根据经典物理学的理论,一个带负电荷的电子作加速运动时,电子周围的电磁场 将发生急剧变化,此时必然要产生一个电磁波,或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子 射到阳极上的时间和条件不可能相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续 X射线谱。 (2)量子力学概念,当能量为eV的电子与靶的原子整体碰撞时,电子失去自己的能 量,其中一部分以光子的形式辐射出去,每碰撞一次,产生一个能量为h v的光子,即“韧 致辐射”。大量的电子到达靶面的时间、条件均不同,而且还有多次碰撞,因而产生不同能 量不同强度的光子序列,即形成连续谱。 6、短波限的概念 短波限的定义:极限情况下,能量为eV的电子在碰撞中一下子把能量全部转给光子, 那么该光子获得最咼能量和具有最短波长,即短波限加。强度的最大值在X)的1.5倍处。即eV = h v max = hc/ 0 入 短波限与激发电压的关系X = 1.24/V (n m)

材料分析测试方法

《材料分析测试方法》作者:黄新民。该书主要介绍材料的X 射线衍射分析、透射电子显微分析、扫描电子显微镜分析和电子探针微区分析,同时简要介绍了光谱分析、扫描探针显微镜和X射线光电子能谱。 内容简介该书主要介绍材料的X射线衍射分析、透射电子显微分析、扫描电子显微镜分析和电子探针微区分析,同时简要介绍了光谱分析、扫描探针显微镜和X射线光电子能谱。 X射线衍射分析内容包括X射线物理学基础、X射线衍射原理、多晶材料X射线衍射分析方法和部分X射线衍射的实际应用。透射电子显微分析内容包括电子光学基础和电镜结构、电子衍射和电子显微图像衬度原理。扫描电子显微镜分析和电子探针微区分析内容包括仪器的工作原理和分析方法。光谱分析内容包括光谱学基础、原子光谱和分子光谱的简介。扫描探针显微镜内容包括扫描隧道显微镜和原子力显微镜的工作原理、工作模式及应用,介绍了X射线光电子能谱的原理与应用。 本书可以作为材料科学与工程学科的本科生教材,也可以作为研究生和从事材料科学研究与分析测试的工程技术人员的参考书。 该书主要介绍材料的X射线衍射分析、透射电子显微分析、扫描电子显微镜分析和电子探针微区分析,同时简要介绍了光谱分析、扫描探针显微镜和X射线光电子能谱。X射线衍射分析内容包括X射线物理学基础、X射线衍射原理、多晶材料X射线衍射分析方法和部

分X射线衍射的实际应用。透射电子显微分析内容包括电子光学基础和电镜结构、电子衍射和电子显微图像衬度原理。扫描电子显微镜分析和电子探针微区分析内容包括仪器的工作原理和分析方法。光谱分析内容包括光谱学基础、原子光谱和分子光谱的简介。扫描探针显微镜内容包括扫描隧道显微镜和原子力显微镜的工作原理、工作模式及应用,介绍了X射线光电子能谱的原理与应用。本书可以作为材料科学与工程学科的本科生教材,也可以作为研究生和从事材料科学研究与分析测试的工程技术人员的参考书。

材料分析测试方法考点总结

材料分析测试方法 XRD 1、x-ray 的物理基础 X 射线的产生条件: ⑴ 以某种方式产生一定量自由电子 ⑵ 在高真空中,在高压电场作用下迫使这些电子做定向运动 ⑶ 在电子运动方向上设置障碍物以急剧改变电子运动速度 →x 射线管产生。 X 射线谱——X 射线强度随波长变化的曲线: (1)连续X 射线谱:由波长连续变化的X 射线构成,也称白色X 射线或多色X 射线。每条曲线都有一强度极大值(对应波长λm )和一个波长极限值(短波限λ0)。 特点:最大能量光子即具有最短波长——短波限λ0。最大能量光子即具有最短波长——短波限λ0。 影响连续谱因素:管电压U 、管电流 I 和靶材Z 。I 、Z 不变,增大U →强度提高,λm 、λ0移向短波。U 、Z 不变,增大I ;U 、I 不变,增大Z →强度一致提高,λm 、λ0不变。 (2)特征X 射线谱:由一定波长的若干X 射线叠加在连续谱上构成,也称单色X 射线和标识X 射线。 特点:当管电压超过某临界值时才能激发出特征谱。特征X 射线波长或频率仅与靶原子结构有关,莫塞莱定律 特定物质的两个特定能级之间的能量差一定,辐射出的特征X 射线的波长是特定。 特征x 射线产生机理:当管电压达到或超过某一临界值时,阴极发出的电子在电场加速下将靶材物质原子的内层电子击出原子外,原子处于高能激发态,有自发回到低能态的倾向,外层电子向内层空位跃迁,多余能量以X 射线的形式释放出来—特征X 射线。 X 射线与物质相互作用:散射,吸收(主要) (1)相干散射:当X 射线通过物质时,物质原子的内层电子在电磁场作用下将产生受迫振动,并向四周辐射同频率的电磁波。由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称相干散射→ X 射线衍射学基础 (2)非相干散射:X 射线光子与束缚力不大的外层电子或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子,X 射线光子离开原来方向,能量减小,波长增加,也称为康普顿散射。 (3)吸收:光电效应,俄歇效应 λK 即称为物质的K 吸收限 短波限λ0与管电压有关,而每种物质的K 激发限波长λK 与该物质的K 激发电压有关,即都有自己特定的值。 X 射线与物质的相互作用可以看成是X 光子与物质中原子的相互碰撞。当X 光子具有足够能量时,可以将原子内层电子击出,该电子称为光电子。原子处于激发态,外层电子向内层空位跃迁,多余能量以辐射方式释放,即二次特征X 射线或荧光X 射线。这一过程即为X 射线的光电效应。 对于某特定材料的特定俄歇电子具有特定的能量,测定其能量(俄歇电子能谱)可以确定原K K K K K K K V eV hc eV W hc h 2 104.12?==→=≥=λλν()σλ-=Z K 1

App常用测试方法总结

APP常用测试方法总结 一、安全测试 1.软件权限 1)扣费风险:包括短信、拨打电话、连接网络等。 2)隐私泄露风险:包括访问手机信息、访问联系人信息等。 3)对App的输入有效性校验、认证、授权、数据加密等方面进行检测 4)限制/允许使用手机功能接入互联网 5)限制/允许使用手机发送接收信息功能 6)限制或使用本地连接 7)限制/允许使用手机拍照或录音 8)限制/允许使用手机读取用户数据 9)限制/允许使用手机写入用户数据 10)限制/允许应用程序来注册自动启动应用程序 2.安装与卸载安全性 1)应用程序应能正确安装到设备驱动程序上 2)能够在安装设备驱动程序上找到应用程序的相应图标 3)安装路径应能指定 4)没有用户的允许,应用程序不能预先设定自动启动 5)卸载是否安全,其安装进去的文件是否全部卸载 6)卸载用户使用过程中产生的文件是否有提示 7)其修改的配置信息是否复原 8)卸载是否影响其他软件的功能 9)卸载应该移除所有的文件 3.数据安全性 1)当将密码或其它的敏感数据输入到应用程序时,其不会被存储在设备中,同时密码也不会被解码。 2)输入的密码将不以明文形式进行显示。 3)密码、信用卡明细或其他的敏感数据将不被存储在它们预输入的位置上。4)不同的应用程序的个人身份证或密码长度必须至少在4-8个数字长度之间。5)当应用程序处理信用卡明细或其它的敏感数据时,不以明文形式将数据写到其他单独的文件或者临时文件中。以防止应用程序异常终止而又没有删除它的临时文件,文件可能遭受入侵者的袭击,然后读取这些数据信息。 6)党建敏感数据输入到应用程序时,其不会被存储在设备中。 7)应用程序应考虑或者虚拟机器产生的用户提示信息或安全警告

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