JF-QIGG-012超声波探伤仪期间核查规程D0
超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1. 目的：确保UT 检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2. 范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A 型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3. 引用标准3.1《A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999）3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82）3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999）3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063—1999）3.6《A 型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（J B/T92 1 4－1 999）4. 职责4.1 应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心UT川级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UT川级人员提出，并报中心主任批准。
校验人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）5.1 各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定）5.2 CSK—IA 标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）531 JB4730— 94规定的阶梯试块（DB —D i试块）5.3.2 Z20 —1 （80 225 G1. 25）Z20 —2（80 225 G2 25）Z20 —4 （80 225 G4 25 ）5.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6. 校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备a .各种频率的常用直探头b对比试块：Z20 —2或Z20 —4c .探头压块6.1.2测试步骤a .连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20 —2试块上并对准①2孑L,调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100% （满刻度），且衰减器至少有30d B余量；b .调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B,然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d（+）与最大负偏差d （-）之绝对值的和为垂直线性误差，如△ d=| d（+）|+|d（-）| ;c .将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复b调节衰减器方法，重复测试;d .在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b、c方法进行测试。
超声波探伤仪期间核查方法
超声探伤仪期间核查方法文件编号：版次号：编写人员：NSS审核人员：批准人员：受控状态：分发号：发布日期：2021-04-10 实施日期：2021-04-111、目的为保证超声波探伤仪在两次检定期间仪器检测精度，确保检测结果的准确可靠，特制订本规程。
2、范围本方法适用本单位脉冲反射式超声探伤仪进行期间核查。
3、基本要求3.1水平线性误差：允许值≤1%3.2垂直线性误差：允许值≤3%4、核查条件4.1标准块：CSK-IB、DB-P(Z20-2)4.2 环境条件：温度：0℃~60℃，相对湿度：小于85%；4.3耦合剂选用机油以保证探头与试块通过耦合剂能达到很好的耦合效果。
5、核查项目和方法5.1校准方法：参考JB/T9214-2010。
5.1.1水平线性：仪器抑制置于“0”，其他调整至适当值。
将探头压在CSK-IB试块厚度20mm部位，中间施加适当耦合剂，保持稳定的声耦合。
调节检测仪器的增益和扫描控制器，使屏幕上显示6次底波。
5.1.2当底波B1和B6回波的幅度分别为50%满屏时（分别调到此幅度，而不是同时达到），将他们的前沿分别对准刻度0和100（水平全刻度为100格）。
B1和B6的前沿位置在调整中如相互影响，则应反复进行调整。
5.1.3再依次分别将B2、B3、B4、B5调整到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、B4、B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差α2、α3、α4、α5（以格数计），然后取其中最大的偏差值αmax。
水平线性误差=|αmax|% 。
5.2垂直线性：仪器抑制置于“0”，将探头压在DB-P(Z20-2)试块上，中间施加适当耦合剂，保持稳定的声耦合，并将平底孔的回波调至屏幕上时基线适当位置。
5.2.1调节增益使平底孔回波高度恰为100%满刻度，此时增益值至少有30dB。
以每次2dB的增量降低增益，每次调节后用满刻度的百分值记下回波幅度，一直继续到增益减少26dB，测量准确度为0.1%。
超声波探伤仪操作规程
70°(k2、5、k2、o)
70°或60°(k2、5、k2、o、k1、5)
B
>25—50
单面双侧或双面单侧
直射法
45°或60°;45°与60°,45°与70°并用(k1、o或k1、5, (k1、o与k1、、5,k1.0与k2.O并用)
C
>50—100／>100／
双面双侧
直射法
45°与60°并用(k1.0与k1.5或k2.O)
6、2.3为确定缺陷得位置、方向、形状、观察缺陷动态波形或区分缺陷讯号与伪讯号,可采用前后、左右、转角、环绕等四种
探头基本扫查方式、
拟定:
审核:
批准:
生效日期:
文件编号:Ｙ
作 业指 导书
页数
第4页共6页
名称:超声波探伤仪操作规程
版本号:C章修改状态:00
6、3曲面工作对接焊缝得检验
6。3、1探伤面为曲面时,按规定选用对比试块,并采用６.2条得方法进行检验。C级检验时,受工件几何形状限制,横向缺陷探测无法实施时,应在检验记录中予以注明、
6初始检验
6.1一般要求
6.1、1超声检验应在焊缝及探伤表面经外观检查合格并满足ＧBlｌ345—89第8。１。3条得要求后方可进行。
6。1.2检验前,探伤人员应了解受检工件得材质、结构、曲率、厚度、焊接方法、焊缝种类、坡口形式、焊缝余高及背面衬垫、沟槽等情况。
6.1、3探伤灵敏度应不低于评定线灵敏度。
8、1、２最大反射波幅位于Ⅱ区得缺陷,其指示长度小于10mm时按5mm计。
８、1、3相邻两缺陷各向间距小于8ｍｍ时,两缺陷指示长度之与作为单个缺陷得指示长度。
8、2检验结果得等级分类
8、2。1最大反射波幅位于Ⅱ区得缺陷,根据缺陷指示长度按表8。2、1得规定,予以评级、
超声波探伤仪核查规程
超声波探伤仪核查规程SX-03-02-20091. 总则（1）为了规范超声波探伤仪的核查工作，特制订本规程。
（2）本规程适用于CTS-2020数字式及模拟式超声波探伤仪的使用核查，其它型号的超声波探伤仪的核查工作可参照本核查规程，编制相应的专用核查规程。
2. 职责（1）设备专管人员与专业工程师负责超声波探伤仪的期间核查工作。
（2）主任工程师负责核查3. 核查项目及方法核查应在基准试块上进行，校准中应使超声波主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。
3.1 仪器校准仪器在使用过程中，每3个月应进行一次水平线性和垂直线性的测定，测定方法按JB/T4730.3-2005的规定进行。
核查时应重复进行3次，垂直线性平均值＞5%或水平线性平均值＞1%时为不合格。
3.2 探头校核3.2.1 单晶探头声束轴线水平偏离角不大于2°，主声束垂直方向不应有明显的双峰。
3.3 仪器和探头系统性能的复核组合频率与公称频率误差不大于±10%；仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试每次检测前均应对扫描线、灵敏度进行复核，遇有下列情况应随时对其进行重新核查：a.校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时；b.开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时；c.连续工作4h以上时；d.工作结束时。
4. 注意事项校准、复核和线性检验时，任何影响仪器线性控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。
5. 核查周期设备专管人制定核查计划，填写“期间核查计划表”，至少3个月进行一次，特殊要求除外。
6. 记录按以上各项目核查完毕后，核查人员填写“期间核查记录表”，由设备管理人员归档管理。
超声波检验操作规程
超声波检验操作规程
1．超声波检验员应按相关标准进行相应工业门类及级别的培训、考核，并持有相应考核机构颁发的资格证书。
2．超声波检测仪器必须经法定检定机构检定合格，并符合专业标准规定的性能要求。
3．操作人员在检验之前，应仔细查阅图纸和与产品相关的技术规格书及相应的规范、标准及检验程序等文件。
了解所要检验的工件材质、厚度、焊接方法、坡口型式。
并根据产品的实际情况选择超声波探伤仪、探头、试块和耦合剂等。
4．操作人员每次检验之前必须仔细制作或校验距离-波幅曲线和调节扫描速度及探伤灵敏度等。
5．操作人员确认探伤面的宽度及光洁度合格后方可进行探伤操作。
如果遇到管子（道）与管件对接只能从单面单侧探伤等特殊情况时，应采取相应技术措施保证扫查整个焊缝截面。
检验过程中需对缺陷定位、定量，标注超标缺陷位置、返修范围。
返修之后，应及时对该部位进行复探。
6．操作人员在检验前、检验中、检验后需校核系统探伤灵敏度。
7．设备或工作系统发生故障时，不得擅自处理，必须立即报告设备管理员，并由他们和主管部门处理。
8．检测工作结束后，填写好仪器使用记录，交设备保管员验收。
9．超声探伤进行时，应做好原始记录，超声探伤结束后，应发检验报告，探伤报告应有以下内容：工程及焊缝编号、缺陷编号、探头入射点及折射角、缺陷的水平距离X和深度D、缺陷反射
波幅区域、缺陷指示长度等。
报告的签发人必须具备二级或以
上的超声检验资格，并对书面报告负责。
制定：审核（技术监督员）：批准：
日期：日期：日期：。
超声波探伤仪校验规程
5.4.2.
a)仪器[增益]至最大，[抑制]至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
1.
本规适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2.
2.1.
2.2.
2.3.
3.
3.1.
3.2.
3.3.
4.
4.1.
4.2.
5.
5.1.
5.1.1.
5.1.2.
表1
衰减量△dB
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
24
26
理论相对波高%
100
79.4
63.1
50.1
39.8
31.6
25.1
20.0
15.8
12.5
10.0
7.9
6.3
5.0
实测波高Hi
实测相对波高%
偏差%
上表中：理论相对波高%=Hi（衰减△dB后波高）/H0（衰减0dB时波高）×100%；
实测相对波高%=10（-△i/20）×100%。
6.1.3计算垂直线性误差
D=（|d(+)|+|d(-)|）×100%
式中d(+)——最大正偏差；
b)左右移动探头,使85、91两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
c)调节[衰减器],使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
实验室仪器期间核查作业指导书
实验室仪器期间核查作业指导书1、目的对检测用设备在两次检定之间的技术指标进行期间核查以保持设备校准状态的可信度，确保检测结果准确可靠。
2、适用范围本中心主要或重要检测仪器设备、现场检测仪器设备的期间核查。
3、职责3.1质量负责人负责编制年度期间核查计划。
3.2项目负责人具体实施期间核查，检测室负责人负责对核查结果进行确认。
3.3质量监督员负责督促完成期间核查计划。
4、期间核查时机仪器的期间核查时间间隔一般在仪器的检定或校准周期内进行1～2次核查为宜，当出现以下情况应考虑实施期间核查。
4.1因使用环境条件发生变化，如温度、湿度变化较大，有可能影响仪器的准确性；4.2在检测过程中，发现可疑数据，对仪器设备提出怀疑时；4.3遇到重要的检测，如发生重大水质污染事故或委托用户对检测结果有争议时。
5、期间核查方法5.1使用有证标准物质进行核查，标准物质包括各种标准样品，如pH计、电导率仪等采用定值溶液进行核查。
使用标准物质核查时应注意所用的标准物质的量值能够溯源，并且有效。
5.2使用仪器附带设备核查，仪器带有的自动校准系统可以用来核查。
如电子天平自带的标准工作砝码能够自动校准。
5.3仪器设备之间的比对，实验室中有多台相同或类似的仪器设备，可以同另一台相同或更高精度的仪器设备进行比对。
5.4使用不同检测方法进行比对，如溶解氧仪采用碘量法进行比对。
5.5对保留样品量值重新测量，只要保留的样品性能稳定，可以用来作为期间核查的核查标准。
如对无校准源的放射性检测仪器使用特定的样品。
5.6检测标准方法、技术规定中有关要求和方法，可以直接作为期间核查的方法。
5.7期间核查可以参照仪器设备检定规程操作，采用其中需要核查的部分（常用仪器设备检定规程见表1）。
如果没有该类仪器设备的检定规程，还可以参照类似仪器设备的检定规程。
表15.8仪器设备使用说明书及产品标准或供应商提供的方法。
5.9对于没有方法来源的仪器设备，可以编制期间核查实施细则。
超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1. 目的：确保UT 检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2. 范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A 型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3. 引用标准3.1《A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999） 3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82） 3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999） 3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063－1999）3.6《A 型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（JB/T9214－1999）4. 职责4.1应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心UT Ⅲ级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UT Ⅲ级人员提出，并报中心主任批准。
校验人员应熟悉A 型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的） 5.1各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定） 5.2 CSK －IA 标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）5.3.1 JB4730－94规定的阶梯试块（DB －D 1试块） 5.3.2 Z20－1（25122580Φ⨯⨯φ）Z20－2（25222580Φ⨯⨯φ） Z20－4（25422580Φ⨯⨯φ）5.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6.校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备ａ.各种频率的常用直探头ｂ.对比试块：Z20－2或Z20－4ｃ.探头压块6.1.2测试步骤ａ.连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20－2试块上并对准Φ2孔，调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），且衰减器至少有30d B余量；ｂ.调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B，然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d(+)与最大负偏差d(-)之绝对值的和为垂直线性误差，如△d=| d(+)|+|d(-)| ；ｃ.将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复b调节衰减器方法，重复测试；ｄ.在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b、c方法进行测试。
超声波探伤仪操作规程完整
探头基本扫查方式。
拟定：
审核：
批准：
生效日期:
文件编号：Y
作 业 指 导 书
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名称： 超声波探伤仪操作规程
版本号：C 章修改状态：00
6.3 曲面工作对接焊缝的检验
6.3.1 探伤面为曲面时，按规定选用对比试块，并采用6.2条的方法进行检验。C级检验时，受工件几何形状限制，横向缺陷探测无法实施时，应在检验记录中予以注明。
质检部
文件编号：
作 业 指 导 书
页 数
第1页 共6页
名称： 超声波探伤仪操作规程
版本号：C 章修改状态：00
1 适用围
本作业指导书适用于母材厚度不小于8mm的铁素体类钢全焊透熔化焊对接焊缝脉冲反射法手工超声波检验。
不适用于铸钢及奥氏体不锈钢焊接，外径小于159mm钢管对接焊缝， 径小于等于200mm的管座角焊缝及外径小于250mm和径小于80％的纵向焊缝。
检验频率f一般在2-5MHZ的围选择，推荐选用2—2.5MHZ区称频率检验，特殊情况下，可选用低于2MHZ区或高于2.5MHZ的检验频率，但必须保证系统灵敏度的要求。
3.2.6 检验等级，探伤面及使用k值(折射角) 见表3.2.6
表3.2.6
检验等级
板厚mm
探伤面
探伤法
使用折射角或k值
A
≤25
单面单侧
7.2 最大反射波幅的测定
7.2.1 对判定的缺陷的部位，采取6.2.3条的探头扫查方式，增加探伤面、改变探头折射角度进行探测，测出最大反射波幅并与距离一波幅曲线作比较，确定波幅所在区域，波幅测定的允许误差为2dB。
超声波探伤仪期间核查规程
（文件编号：****-012）共4页 第1页版本/版次：D/ 0 生效日期：2016-01-01 1.总则本规程适用于超声波探伤仪定期进行的性能校验，以查明该设备是否达到足够的精度要求，从而保证所用仪器处于合格状态。
2.校验步骤2.1 水平线性的校验方法：2.1.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意合格直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值（见图2.1）。
2.1.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合。
调节探伤仪的水平和增益旋钮，使屏幕上显示出第6次底波。
2.1.3 当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100（设水平全刻度为100格）。
2.1.4 在依次分别将底波B2、B3、B4、B5调到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、B4、B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差（以格数计），取其中最大的偏差值则为仪器的水平线性误差。
2.2 垂直线性的校验方法。
2.2.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0” 或“断”，其它调整取适当值（见图2.2）。
2.2.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合，并将某一次回波调至屏幕上时基线的近中央处。
2.2.3 调节衰减器和增益值，使回波高度恰为100%满刻度。
2.2.4 以每次2dB 的增量调节衰减器，每次调节后用满刻度的百分值记下回波幅度，一直继续到衰减值为26dB ，测量精度为0.1%。
波高测试值与理论值之差为偏差值，其最大正偏差与最大负偏差的绝对值之和即为仪器的垂直线性误差。
2.3 直探头分辨力的校验方法。
2.3.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值（见图2.3）。
2.3.2 将探头压在试块上如图2.3所示，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，调整仪器的增益并左右移动探头，使来自A 、B 两个方面的回波幅度相等并约为20%～30%满刻度，如图2.3中的h 1。
10 超声波探伤仪检定规程
超声波探伤仪检定规程1 目的为规范超声波探伤仪的检定工作，保证检定质量，确保检测数据的正确性，特制定本规程。
2 范围本规程适用于各类型号的超声波探伤仪的首次和后续检定。
3 职责检定人员应熟悉有关规程及相应说明书等有关技术资料，熟悉仪器的操作程序，对检定结果的正确性负责。
4 要求4.1术语和计量单位4.1.1术语4.1.1.1超声波频率高于20000Hz的机械波称为超声波。
4.1.1.2标准试块由权威机构制定的试块，试块的材质、形状、及表面状态都由权威部门统一规定。
4.1.1.3动态范围仪器示波屏容纳信号大小的能力。
4.1.1.4波速超声波在单位时间内所传播的距离。
4.1.1.5探头与工件接触，用于发射和接收超声波并进行电声信号能量转换的装置。
4.1.1.6耦合剂在探头与工件表面之间施加的一层透声介质。
4.1.1.7水平线性仪器示波屏上时基线显示的水平刻度值与实际声程之间成正比的程度。
4.1.1.8垂直线性仪器示波屏上的波高与探头接收的信号之间成正比的程度。
4.1.1.9分辨力示波屏上区分相邻两缺陷的能力。
4.1.1.10盲区从探测面到能够发现缺陷的最小距离。
4.1.2计量单位4.1.2.1厚度H-------mm4.1.2.2声速C--------- m/s4.1.2.3温度t-----------℃4.1.2.4频率f---------Hz4.2概述超声波探伤仪是利用电声转换原理和超声波在介质中的传播特性对工件进行检测，通过分析示波屏上回波的位置和高度来判断缺陷有无和大小的一种装置。
4.3计量性能要求4.3.1主要技术参数4.3.1.1工作频率：1～5MHz（钢）4.3.1.2总衰减量：≥80dB4.3.1.3衰减误差：≤ 1 dB4.3.1.4垂直线性误差：≤5%4.3.1.5水平线性误差：≤ 1%4.3.1.6动态范围：≥30 dB。
4.3.1.7远场分辨力：直探头≥30dB；斜探头≥6dB。
超声波探伤校验规程
超声波探伤校验规程
1 适用范围
本规程适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2 检验周期
2.1探伤仪性能（水平线性、垂直线性、动态范围）每隔半年进行校验一次；2.2探伤仪和探头的系统性能（灵敏度余量、始脉冲宽度及盲区、分辨力）使用前需进行校验，相关数据录入报告即可，不需专门检验报告。
3 人员要求
3.1超声波探伤仪校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的Ⅱ级或Ⅱ级以上的超声波检验人员资格证书；
3.2超声波探伤仪校验人员应熟悉设备的各部分的作用及本规程；
3.3超声波探伤仪校验人员应严格按照本规程操作超声波探伤仪，并对设备使用的安全性负责。
4 认可需用标准器具
4.1标准试块CSK-ⅠA试块及200/Ф2平底孔试块；
4.2所用试块必须是具有相应认证企业生产。
5 操作步骤
5.1.垂直线性
5.1.1.用5MHZ或其它频率的常用直探头，用压块将探头固定在200/Ф2平底孔试块上并对准Φ2孔（或其它试块25mm底面）。
调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），作为“0”dB，且衰减器至少有30dB余量；
5.1.2.调节增益，依次记下每衰减2dB时相应的波高值Hi，并将实测相对波高值填入表1中，直至底波消失。
表一。
超声波探伤仪期间核查规程
（文件编号：****-012）共4页 第1页版本/版次：D/ 0 生效日期：2016-01-01 1.总则本规程适用于超声波探伤仪定期进行的性能校验，以查明该设备是否达到足够的精度要求，从而保证所用仪器处于合格状态。
2.校验步骤2.1 水平线性的校验方法：2.1.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意合格直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值（见图2.1）。
2.1.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合。
调节探伤仪的水平和增益旋钮，使屏幕上显示出第6次底波。
2.1.3 当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100（设水平全刻度为100格）。
2.1.4 在依次分别将底波B2、B3、B4、B5调到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、B4、B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差（以格数计），取其中最大的偏差值则为仪器的水平线性误差。
2.2 垂直线性的校验方法。
2.2.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0” 或“断”，其它调整取适当值（见图2.2）。
2.2.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合，并将某一次回波调至屏幕上时基线的近中央处。
2.2.3 调节衰减器和增益值，使回波高度恰为100%满刻度。
2.2.4 以每次2dB 的增量调节衰减器，每次调节后用满刻度的百分值记下回波幅度，一直继续到衰减值为26dB ，测量精度为0.1%。
波高测试值与理论值之差为偏差值，其最大正偏差与最大负偏差的绝对值之和即为仪器的垂直线性误差。
2.3 直探头分辨力的校验方法。
2.3.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值（见图2.3）。
2.3.2 将探头压在试块上如图2.3所示，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，调整仪器的增益并左右移动探头，使来自A 、B 两个方面的回波幅度相等并约为20%～30%满刻度，如图2.3中的h 1。
超声波测厚仪标准装置期间核查方法
1、目的
为有效证明超声波测厚仪检定装置在两次溯源之间，仍保持正常工作状态，保证检定/校准量值的准确可靠，特制定本期间核查方法。
2、适用范围
本方法适用于本所用于检定/校准超声波测厚仪的标准厚度块在两次溯源之间状态置信度的核查、验证。
3、依据的技术规范
JJF 1126-2004《超声波测厚仪校准规范》
4、期间核查方法
4.1 在标准厚度块两次溯源之间，根据使用频率的多少，不定期的进行期间核查，至少一次。
检定/校准过程中出现可疑情况时，也应进行核查。
4.2 核查时，首先对标准厚度块外观进行检查。
然后针对不同规格的标准厚度块选择量块，在0～25mm长度测微计上进行比较测量，测出标准厚度块的实际值。
5、判定
标准厚度块的标注值与实际值之差应小于等于标准厚度块允许误差限的绝对值a，即：
否则仪器停用，查找原因并予以解决。
超声波测厚仪检定装置期间核查记录温度：核查日期年月日
标准厚度块量程： 0~197.97mm 、器号： 0547
量块量程： 0.5mm~500mm 、器号： 20466 、40312 长度测微计量程： 0～25mm 、器号： 349797-07
外观：
厚度块标
注值
y（mm）量块中心
长度
（mm）
长度测微
计
读数
（mm）
厚度块实际
值（mm）
厚度块误
差
（mm）
厚度块允
许误差
（mm）
3.25
49.98
150.2
判定：
标准厚度块的标注值与实际值之差绝对值标准厚度块允许误差限的绝对值条件，即：。
结论：
核查员：核验员：。
仪器设备期间核查作业指导书[1]
![仪器设备期间核查作业指导书[1]](https://img.taocdn.com/s3/m/cdc2d26265ce050877321395.png)
全站仪及棱镜光学对点仪核查指导书1、目的对测量设备在两次检定之间的部分技术指标进行期间核查以保持设备检定、校准状态的可信度,确保测量结果准确可靠。
2、适用范围本中心所有的全站仪及棱角光学对点仪。
3、职责3.1技术负责人负责编制年度期间核查计划。
3.2各测量组具体实施期间核查,技术负责人对核查结果进行确认。
3.3质量监督小组员负责督促完成期间核查计划。
4、期间核查时机仪器的期间核查时间间隔一般在仪器的检定或校准周期内进行1~2次核查为宜,当出现以下情况应考虑实施期间核查。
4.1因使用环境条件发生变化,如温度、湿度变化较大,有可能影响仪器的准确性;4.2在检测过程中,发现可疑数据,对仪器设备提出怀疑时;4.3因意外情况使得仪器发生可疑数据。
如仪器发生碰撞等;5、期间核查方法5.1全站仪及棱镜光学对点仪的核查:对全站仪及棱镜光学对点仪进行检查,首先用CAD制图软件打印直径为1.4mm 圆点,把此圆点固定于地面,用GTS-332N全站仪严格进行整平对中,确认仪器已整平后,观测光学对点仪的圆点是否于地面圆点重合,然后旋转全站仪180°,观测仪器对中十字是否在地面圆点之内。
以此方法对本中心所有的全站仪及棱镜光学对点仪进行核查。
5.2全站仪测距系统的核查:用仪器设备之间的比对,对本中心的全站仪进行核查,具体操作步骤为:首先按5.1的要求对两台全站仪进行照准部的检查,确保两台仪器对中误差均在范围之内,然后在大约50m外,条件通视处架设一棱镜,分别用两台全站仪对此棱镜进行3次测量,取其平均值为测量结果。
5.3全站仪测角系统的核查:5.3.1 2C差的核查:分别架设两台棱镜和一台全站仪,并确认各仪器均以进行整平,各仪器间距离不小于20m,用全站仪正镜瞄准1号棱镜,把仪器水平角置为0°00′00″,然后旋转全站仪望远镜,用倒镜瞄准1号棱镜,记录读数,以此方法分别把全站仪水平角置为60°00′00″、120°00′00″、180°00′00″、240°00′00″、300°00′00″,分别记录测量数据。
无损检测仪器设备的期间核查方法
管电压（KV）无损检测仪器设备的期间核查方法一、射线检测1、曝光曲线的核查方法1.1核查周期射线设备均应制作曝光曲线，曝光曲线每年至少核查一次；射线设备更换重要部件或经较大修理后，应及时对曝光曲线进行核查。
1.2准备准备一块阶梯试块（图1）和2块补充试块，材料与被透照工件相同或相近。
其中补充试块尺寸长*宽*高为210*100*10（mm）。
胶片、增感屏等材料与制作曝光曲线时一致。
图1 制作曝光曲线的阶梯试块1.3 透照各机型按表一选择低、中、高三个管电压进行曝光三次，曝光时其他参数（曝光时间、焦距）与制作曝光曲线时一致。
得到一组胶片。
表一机型低中高1605 60 100 1402005 80 130 1802505 120 180 2303005 140 210 2801.4 暗室处理：按照制作曝光曲线时的暗室处理条件进行冲洗胶片。
1.5 测定：分别测定底片黑度为3.0（该黑度值与曝光曲线一致）时，对应的阶梯试块厚度。
1.6 核查结果判定：当上述测定的三个厚度值，与低、中、高管电压查原曝光曲线的厚度值之差在±2mm范围内，曝光曲线合格。
否则为不合格，应重新制作。
1.7 曝光曲线核查记录，按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL120”的表格进行记录。
2、黑度计（光学密度计）的核查方法2.1. 适用范围本规程用于对射线照相底片的黑度测量的黑度计的校验，使黑度计能够对射线底片黑度作出可靠的测定。
黑度计应每6个月校验一次，标准黑度片应每2年送计量单位检定一次。
2.2. 校验需用标准器具检定合格的标准黑度片一个。
2.3 操作步骤2.3.1 接通黑度计电源和测量开关，预热10min 左右。
2.3.2 用标准黑度片的零黑度点校准黑度计零点。
校准后顺序测量黑度片上不同黑度的各点的黑度，记录测量值。
2.3.3 按3.2的规定反复测量三次。
2.3.3 计算出各点测量值的平均值，以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。
超声波探伤检验操作规程完整
超声波探伤检验操作规程1适用范围本检验规程叙述的是使用A型脉冲反射式超声波探伤仪对承压设备用原材料及零部件等内部进行的一种无损检测。
2引用标准、规范ASME 第五卷第五章材料及制品的UT检验方法、API规范4F，6A，7K，8C，16A，16C。
JB/T 7913-1995 超声波检验用钢制对比试块的制作与校验方法、JB/T 4730.1-2005 承压设备无损检测第1部分：通用要求、JB/T 4730.3-2005 承压设备无损检测第3部分：超声检测、JB/T 9214-1999 A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试法、JB/T 10061-1999 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件、JB/T 10062-1999 超声探伤用探头性能测试方法、JB/T 10063-1999 超声探伤用1号标准试块技术条件、ASNT-TC-1A 无损检测人员的资格鉴定3超声波检测人员3.1从事承压设备的原材料和零部件等无损检测的人员，应按照《特种设备无损检查人员考核与监督管理规定》和ASNT-TC-1A的要求取得相应无损检测资格。
3.2无损检测人员资格级别分为：Ⅲ（高）级、Ⅱ（中）级、Ⅰ（初）级。
取得不同无损检测方法各资格级别的人员，只能从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作，并负相应的技术责任。
3.3无损检测人员应根据ASNT-TC-1A的规定每年进行一次视力检查。
4检验设备、器材和材料4.1超声检测设备均应具有产品质量合格证或合格的证明文件。
4.2超声波探伤仪A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为0.5 MHz ~10MHz，仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。
探伤仪应具有80dB以上的连续可调衰减器，步进级每档不大于2dB，其精度为任意相邻12dB的误差在±1dB以内，最大累计误差不超过1dB。
水平线性误差不大于1%，每次连续使用周期开始（或每三个月）应对垂直线性进行评定，误差不大于5%。
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超声波探伤仪期间核查规程
（文件编号：JF-QIGG-012）
共4页第1页版本/版次：D/ 0 生效日期：2016-01-01
1.总则
本规程适用于超声波探伤仪定期进行的性能校验，以查明该设备是否达到足够的精度要求，从而保证所用仪器处于合格状态。
2.校验步骤
2.1 水平线性的校验方法：
2.1.1 采用CSK-ⅠA型（或ⅡW型）试块和一任意合格直探头，探伤仪的抑制置于“0”
或“断”，其它调整取适当值（见图2.1）。
2.1.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合。
调节
探伤仪的水平和增益旋钮，使屏幕上显示出第6次底波。
2.1.3 当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100
（设水平全刻度为100格）。
2.1.4 在依次分别将底波B2、B3、B4、B5调到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、
B4、B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差（以格数计），取其中最大的偏差值则为仪器的水平线性误差。
2.2 垂直线性的校验方法。
2.2.1 采用CSK-ⅠA型（或ⅡW型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，
其它调整取适当值（见图2.2）。
2.2.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合，并将
某一次回波调至屏幕上时基线的近中央处。
2.2.3 调节衰减器和增益值，使回波高度恰为100%满刻度。
2.2.4 以每次2dB的增量调节衰减器，每次调节后用满刻度的百分值记下回波幅度，一直
继续到衰减值为26dB，测量精度为0.1%。
波高测试值与理论值之差为偏差值，其最大正偏差与最大负偏差的绝对值之和即为仪器的垂直线性误差。
2.3 直探头分辨力的校验方法。
2.3.1 采用CSK-ⅠA型（或ⅡW型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，
其它调整取适当值（见图2.3）。
2.3.2 将探头压在试块上如图2.3所示，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，调整
仪器的增益并左右移动探头，使来自A、B两个方面的回波幅度相等并约为20%～30%满刻度，如图2.3中的h1。
2.3.3 调节衰减器，使A、B两波峰间的波谷升到原来波峰高度，此时衰减器所释放的dB
数（等于用衰减器读出的缺口深度h1/h2之值）即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力X。
2.4 斜探头分辨力的校验方法。
2.4.1 采用CSK-ⅠA型（或ⅡW型）试块和一任意斜探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，
其它调整取适当值（见图2.4）。
2.4.2 根据斜探头的折射角或K值，将探头压在CSK-ⅠA试块上，中间加适当的耦合剂，
以保持稳定的声耦合，移动探头位置使来自φ50mm和φ44mm两孔的回波A、B高度相等，并约为20%～30%满刻度，如图2.4中的h1。
2.4.3 调节衰减器，使A、B两波峰间的波谷上升到原来波峰高度，此时衰减器所释放的
dB数（等于用衰减器读出的缺口深度h1/h2之值）即为用dB值表示的超声波探伤系统
超声波探伤仪期间核查规程
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（斜探头）的分辨力Z。
2.5 斜探头灵敏度余量的校验方法。
2.5.1 采用CSK-ⅠA型（或ⅡW型）试块和一任意斜探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，
其他调整取适当值（见图2.5）。
2.5.2 将超声波探伤仪灵敏度调至最大，深度旋钮调至最小，探头悬空，调节衰减器使电
噪声电平降至10%满刻度，设此时衰减器的读数为a0。
2.5.3 将探头压在试块上，位置如图2.5所示，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，
调节衰减器使来自R100曲面回波高度降至50%满刻度，设此时衰减器的读数为a1
2.5.4 斜探头灵敏度余量由下式给出a=a1-a0
3.判定标准
3.1 经过6次测得的水平线性误差，取算术平均值即为该仪器的水平线性误差，当a≤1%
时，则认为水平线性良好，反之则为异常。
3.2 当垂直线性误差在±5%范围之内，则为垂直线性良好，反之则为异常。
3.3 当直探头的分辨力x≥30dB时，则为该分辨力良好，反之则为异常。
3.4 当斜探头的分辨力z≥6dB时，则为该斜探头分辨力良好，反之则为异常。
3.5 当斜探头的灵敏度余量大于评定灵敏度10dB以上时，则为良好，反之则为异常。
4.检测人员及检验周期
4.1 检测人员。
4.1.1 从事焊缝探伤的检测人员必须掌握超声波探伤的基础技术，具有足够的焊缝超声波
探伤经验，并掌握一定的材料和焊接基础知识。
4.1.2 焊缝超声波检测人员应按有关规程或技术条件的规定经严格的培训和考核，并持有
相应考核组织颁发的等级资格证书，从事相对应考核项目的检测工作。
4.1.3 超声检测人员的视力应每年检查一次，校正视力不得低于1.0。
4.2 检验周期。
仪器检验周期见下表：
5.相关记录
5.1超声波探伤仪期间核查记录(JF-QRGG-024)
超声波探伤仪期间核查规程
（文件编号：JF-QIGG-012）
共4页第3页版本/版次：D / 0 生效日期：
图2.5 斜探头灵敏度余量的校验
R 1
00
CSK－ⅠA试块
探头
图2.4 斜探头分辨力的校验
CSK－ⅠA试块
探头
h1
h2
A
B
编制/日期：批准/日期：。