中国科学院科技成果鉴定实施办法
中国科学院科技成果鉴定实施办法 中国科学院科技成果鉴定实施办法 总则 第一条实事求是地评价科技成果是管理工作的一项重要内容。为贯彻执行“中华人民共和国国家科学技术委员会科学技术成果鉴定办法”，正确评价科技成果，促进科技成果的推广应用，加强科技成果管理，特制定本办法。 第二条本办法所指的科技成果包括： 一、阐明自然现象、特征、规律及其内在联系的，在学术上具有新见解并对科学技术发展具有指导意义的科学理论成果，包括基础研究理论成果和应用基础研究理论成果。 二、解决科学实验和生产建设中科学技术问题的具有新颖性、先进性和实用价值的应用技术成果，包括新产品、新技术、新工艺、新材抖、新设计和生物、矿物新品种等。 三、推动决策科学化和管理现代化，对促进科学技术、经济与社会的协调发展起重大作用的科技情报和软件科学方面的研究成果。 第三条科学理论成果的评价应当实行百家争呜的方针，以是否在国内外学术刊物或学术会议上公开发表，得到学术界的公认为准，-般不组织鉴定。 应用技术成果的评价，应当根据其实施后的经济、社会效益，通过市场机制来进行鉴别、评价，凡得到社会的公认并转入商品化的，-般可以不组织鉴定。 第四条执行国家和院科研计划项目所的科技成果；申报国家和院(省、部委)级科技奖励的成果，及根据国家有关规定应当进行鉴定的其他科技成果应按照本办法进行鉴定和评价，鉴定报告供有关部门参考。 鉴定形式 第五条科技成果鉴定可以采取以下形式： -、检测鉴定由国家级、省(部委)级专业检测机构按照国家标准、行业标准或有关技术指标进行检验、测试和评价，并作出结论，必要时可聘请少数同行专家参与进行咨询、评议。 二、验收鉴定由验收单位(或其委托、指定的单位)按照计划任务书或所规定验收标准和方法进行测试和评价，必要时，验收单位可视具体情况遨请少数同行专家参与验收。
砷化镓晶片表面损伤层分析 - 中国科学院半导体研究所机构
稀有金属 CHINEXE JOURNAL OF RARE METALS 1999年7月 第23卷 第4期 vol.23 No.4 1999 砷化镓晶片表面损伤层分析 郑红军 卜俊鹏 曹福年 白玉柯 吴让元 惠 峰 何宏家 摘 要： 采用TEM观测与X射线双晶回摆曲线检测化学腐蚀逐层剥离深度相结合的方法，分析了SI-GaAs晶片由切、磨、抛加工所引入的损伤层深度。比较两种方法测量结果上的差异，得出了TEM观测到的只是晶片损伤层厚度，而X射线双晶回摆曲线检测化学腐蚀逐层剥离所得的深度是晶片损伤层及其形成应力区的总厚度的结论。 关键词： 砷化镓 切片 磨片 抛光片 表面损伤层 Analyses of Surface Damage in SI-GaAs Wafers Zheng Hongjun, Bu Junpeng, Cao Funian, Bai Yuke, Wu Rangyuan, Hui Feng and He Hongjia (Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China) Abstract： The surface damage Layer in the SI-GaAs wafer induced by cutting, grining and polishing was analyzed by means of transmission electron microscopy and X-ray rocking curve measurements after the wafer was chemically etched. A method for determining the depth of surface damage layer of SI-GaAs wafer according to the quantitative difference in the results obtained by the two methods is proposed. Key Words: SI-GaAs, Cutting wafer, Grinding wafer, Polishing wafer, Surface damage 许多重要的砷化镓器件及砷化镓高速数字电路、微波单片电路均在砷化镓晶片表面制造， 集成度越高，对表面的要求越严格。所以，材料表面加工的质量直接影响着器件的性能、成品率及寿命等。 半导体材料表面因切、磨、抛加工而引入的损伤层深度一直是人们深入研究的工作。加工后的晶片表面损伤层可能是由非晶层、多晶层、嵌镶块层和弹性畸变层等构成的多层结构［1］。 测定这些表面损伤层厚度的通常方法有恒定化学腐蚀速率法［2，3］、椭圆偏振仪［4］、透射电子显微镜［5］、光背散射［6］以及Knudsen［7］提出的X射线双晶摆动曲线观测腐蚀剥层晶片表面损伤层法。但这些方法都有一定的局限性。本文采用X射线双晶回摆曲线检测化学腐蚀逐层剥离损伤层深度与TEM观测相结合的方法，定量地分析了材料加工过程中 (切、磨、抛) 引入的损伤层深度。根据两种测量结果的差异，得出了TEM观测到的只是晶片损伤层厚度，而X射线双晶回摆曲线检测化学腐蚀逐层剥离损伤层深度是晶片损伤层及其形成应力层的总厚度的结论。
中科院微电子所介绍
招生简介 中国科学院微电子研究所是一所专业从事微电子领域研究与开发的国立研究机构，是中国科学院微电子技术总体和中国科学院EDA中心的依托单位。微电子所本着“惟精惟一、求是求新”的办所精神，面向国家战略需求，积极承担重点科技攻关与产品开发任务，一方面拓展前沿技术与基础研究领域，发展交叉学科方向；同时通过全方位合作积极推进成果的应用开发和产业化，推动产业发展。微电子所致力于打造现代化的高技术研究机构，成为我国IC技术和产业领域一个技术创新基地和高素质高层次人才培养基地，为促进国家微电子技术进步和自主创新，实现产业的可持续发展做出贡献。 微电子研究所是国务院学位委员会批准的博士、硕士学位授予单位，2004年批准建立博士后流动站。现有职工622人，其中中国科学院院士2人，高级研究人员91人，上岗研究生导师74名（其中博士生导师34名），在读研究生近300多人。 主要研究方向：1.硅器件及集成技术；⒉微细加工与新型纳米器件集成；3.微波电路与化合物半导体器件；4.集成电路设计与系统应用（包括专用集成电路与系统、通信与多媒体片上系统芯片、集成电路设计与应用开发、电子封装）。 本专业一级学科为电子科学与技术。作为一门交叉与综合性学科，跨专业学习具有极大的发展前景与潜力，因此微电子所欢迎并鼓励微电子专业及通讯与通信工程类、计算机类、自动化类、软件类、光电技术、物理与应用物理学、材料学等相关专业的同学报考。 除招收普研（学术型）外，我所还计划在电子与通信工程（代码：430109）和集成电路工程（代码：430110）两个领域招收全日制专业学位研究生。我所2011年度研究生招生仍为国家计划内公费。 专业代码： 080903 专业名称：微电子学与固体电子学 学科专业研究方向与导师 w 硅器件及集成技术 该方向为一室、九室、十室研究方向，主要从事CMOS及SOI CMOS器件与集成电路、功率器件与集成电路、高可靠性器件与集成电路、微系统及集成技术研究等的研究、设计、制造及测试。这些研究室一直致力于硅基器件与集成电路主流工艺技术的研究, 曾先后完成“VDMOS功率器件”、“0.8微米CMOS工艺”、“亚微米SOI CMOS电路的研究”、“0.35微米CMOS集成电路关键技术”、“0.1微米级CMOS FET”等国家重点攻关项目的研究，具有很强的硅器件、电路与工艺技术研发能力，并在诸多技术方面一直保持着国内领先地位。目前正在致力于下一代纳米级的 CMOS新结构器件与电路、新工艺技术、高可靠性集成电路设计技术与新型MEMS器件与集成，以及先进电子封装技术的研究。 导师简介 韩郑生男 1962年出生研究员博士生导师 杜寰男 1963年出生副研究员硕士生导师 欧毅男 1975年出生副研究员硕士生导师 罗家俊男 1973年出生副研究员硕士生导师 孙宝刚男 1969年出生副研究员硕士生导师 李多力男 1977年出生副研究员硕士生导师 朱阳军男 1980年出生副研究员硕士生导师 万里兮男 1955年出生研究员博士生导师 曹立强男 1974年出生研究员硕士生导师 陈大鹏男 1968年出生研究员博士生导师 王文武男 1973年出生研究员博士生导师
中科院数学分析考研
读书破万卷下笔如有神 中科院研究生院硕士研究生入学考试 《数学分析》考试大纲 本《数学分析》考试大纲适用于中国科学院研究生院数学和系统科学等学科各专业硕士研究生入学考试。数学分析是一门具有公共性质的重要的数学基础课程，由分析基础、一元微分学和积分学、级数、多元微分学和积分学等部分组成。要求考生能准确理解基本概念，熟练掌握各种运算和基本的计算、论证技巧，具有综合运用所学知识分析和解决问题的能力。 一、考试基本要求 要求考生比较系统地理解数学分析的基本概念和基本理论，掌握数学分析的基本思想和方法。要求考生具有抽象思维能力、逻辑推理能力、运算能力和综合运用所学的知识分析问题和解决问题的能力。 二、考试方法和考试时间 数学分析考试采用闭卷笔试形式，试卷满分为150分，考试时间为180分钟。 三、考试内容和考试要求 （一）考试内容 1. 分析基础 (1) 实数概念、确界 (2)函数概念 (3) 序列极限与函数极限 (4) 无穷大与无穷小 (5)上极限与下极限 (6) 连续概念及基本性质，一致连续性 （7）收敛原理 2. 一元微分学 (1) 导数概念及几何意义 (2) 求导公式求导法则 (3) 高阶导数 (4) 微分 (5) 微分中值定理 (6) L'Hospital法则 (7) Taylor公式 (8) 应用导数研究函数 一元积分学3. 读书破万卷下笔如有神 (1) 不定积分法与可积函数类 (2) 定积分的概念、性质与计算 (3) 定积分的应用
(4) 广义积分 4. 级数 (1) 数项级数的敛散判别与性质 (2) 函数项级数与一致收敛性 (3) 幂级数 (4) Fourier级数 5. 多元微分学 (1) 欧氏空间 (2) 多元函数的极限 (3) 多元连续函数 (4) 偏导数与微分 (5) 隐函数定理 (6) Taylor公式 (7) 多元微分学的几何应用 (8) 多元函数的极值 6. 多元积分学 (1) 重积分的概念与性质 （2）重积分的计算 （3）二重、三重广义积分 （4）含参变量的正常积分和广义积分 （5）曲线积分与Green公式 （6）曲面积分 （7）Gauss公式、Stokes公式及线积分与路径无关 （8）场论初步 （二）考试要求 1．分析基础 (1)了解实数公理，理解上确界和下确界的意义。掌握绝对值不等式及平均值不等式。 (2)熟练掌握函数概念（如定义域、值域、反函数等）。 (3)掌握序列极限的意义、性质（特别，单调序列的极限存在性定理）和运算??N方法。法则，熟练掌握求序列极限的 (4)掌握函数极限的意义、性质和运算法则（自变量趋于有限数和趋于无限两???方法，了解广义极限和单侧极限种情形），熟练掌握求函数极限的的意义。 (5)熟练掌握求序列极限和函数极限的常用方法（如初等变形、变量代换、两边夹法则等），掌握由递推公式给出的序列求极限的基本技巧，以及应用Stolz公式求序列极限的方法。 (6)理解无穷大量和无穷小量的意义，了解同阶和高（低）阶无穷大（小）量的意义。 (7)了解上极限和下极限的意义和性质。 理解函数两类间断点的熟练掌握函数在一点及在一个区间上连续的概念，(8)． 读书破万卷下笔如有神 意义，掌握初等函数的连续性，理解区间套定理和介值定理。理解一致连续和不一致连续的概念。 (9)掌握序列收敛的充分必要条件及函数极限（当自变量趋于有限数及趋于无穷两种情形）存在的充分必要条件。 2．一元微分学 (1)掌握导数的概念和几何意义，了解单侧导数的意义，解依据定义求函 数在给定点的导数。
中国科学院杰出科技成就奖(个人)
中国科学院杰出科技成就奖（个人） 推荐书 推荐单位或专家姓名： 联系人：联系电话： 专业评审组： 重大成果类型：A B C （在对应类型 画√） 年月日
《中国科学院杰出科技成就奖（个人）推荐书》填写说明 推荐单位(或推荐专家)必须详实、准确、客观地填写《中国科学院杰出科技成就奖(个人)推荐书》。 一、封面要求 1、推荐单位应填写单位名称、联系人及电话、拟推荐专业评审组和重大成果类型，并加盖单位公章。 2、推荐专家应填写姓名、联系人及电话、拟推荐专业评审组和重大成果类型。 3、专业评审组：按照4个专业评审组负责评审的范围选择某一专业评审组。4个专业评审组分别挂靠院基础科学局（评审范围：数学、物理（含核物理）、核科学技术、化学、纳米科技、天文学和空间科学、力学、大科学工程）、生命科学与生物技术局（评审范围：生物学、生物技术、生物医学与医药、农业生物学、环境生物学）、资源环境科学与技术局（评审范围：地球科学、农业项目、国土资源与利用、遥感、大气海洋、生态环境）和高技术研究与发展局（评审范围：信息科技、先进制造、材料科学、化工过程、先进能源、工程科学、交通、空间技术、光电科学、专用项目）。 4、重大成果类型：A（在基础研究或应用基础研究中做出前人尚未发现或者尚未阐明、得到国内外同行公认的重大科学发现或重大技术发明）；B（在关键技术创新与集成或高技术产业化中，为我国经济建设、国家安全、社会可持续发展或科学技术进步做出重大贡献并创造显著经济效益或显著社会效益）；C（在基础性、公益性科技活动中，做出重大贡献并创造显著社会效益）。 二、推荐意见 1、推荐单位（或推荐专家）应推荐院属单位近五年来在科技创新活动中做出重大成果（即亮点科技成就）的个人。 如单位推荐，只填写“一、推荐单位意见”，并加盖单位公章；如专家推荐，只填写“二、推荐专家意见”，每位专家应单独填写推荐意见、工作单位、专业技术职务和专业领域，并亲笔签名。 2、根据不同类型的重大成果，按下述要求撰写推荐意见： A、基础研究或应用基础研究重大成果：应重点叙述重大科学发现或重大技术发明的科学技术贡献、论文论著情况、知识产权情况和国内外公开发行的科技书刊中的引用和评价情况； B、关键技术创新与集成或高技术产业化重大成果：应重点叙述主要技术创新成就、满足国家战略需求与应用情况和经济效益或社会效益情况； C、基础性、公益性科技活动重大成果：应重点叙述主要科技工作的基础积累、对科技进步的推动作用和社会效益。 三、装订要求 《推荐书》按A4格式打印、竖装，左边为装订边，宽度不小于25毫米，正文内容所用字型为4号字。
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半导体激光器
半导体激光器 摘要：由于三五族化合物工艺的发展与半导体激光器的多种优点，近几十年来，半导体激光器发展十分迅速，而且在各个领域发挥着越来越重要的作用。本文将介绍半导体激光器的基本理论原理、相关发展历程、研究现状以及其广泛的应用。 1.引言 自1962 年世界上第一台半导体激光器发明问世以来, 半导体激光器发生了巨大的变化, 极大地推动了其他科学技术的发展, 被认为是二十世纪人类最伟大的发明之一[1], 近十几年来, 半导体激光器的发展更为迅速, 已成为世界上发展最快的一门激光技术[2]。激光器的结构从同质结发展成单异质结、双异质结、量子阱（单、多量子阱）等多种形式，制作方法从扩散法发展到液相外延(LPE)、气相外延(VPE)、分子束外延(MBE)、金属有机化合物气相淀积(MOCVD)、化学束外延(CBE) 以及它们的各种结合型等多种工艺[3]。由于半导体激光器的体积小、结构简单、输入能量低、寿命较长、易于调制及价格低廉等优点, 使得它目前在各个领域中应用非常广泛。 2.半导体激光器的基本理论原理 半导体激光器又称激光二极管(LD)。它的实现并不是只是一个研究工作者的或小组的功劳，事实上，半导体激光器的基本理论也是一大批科研人员共同智慧的结晶。 早在1953年，美国的冯·纽曼（John Von Neumann）在一篇未发表的手稿中第一个论述了在半导体中产生受激发射的可能性；认为可以通过向PN结中注入少数载流子来实现受激发射；计算了在两个布里渊区之间的跃迁速率。巴丁在总结了这个理论后认为，通过各种方法扰动导带电子和价带空穴的平衡浓度，致使非平衡少数载流子复合而产生光子，其辐射复合的速率可以像放大器那样，以同样频率的电磁辐射作用来提高。这应该说是激光器的最早概念。 苏联的巴索夫等对半导体激光器做出了杰出贡献，他在1958年提出了在半导体中实现粒子数反转的理论研究，并在1961年提出将载流子注入半导体PN结中实现“注入激光器”，并论证了在高度简并的PN结中实现粒子数反转的可能性，而且认为有源区周围高密度的多数载流子造成有源区边界两边的折射率有一差值，因而产生光波导效应。1961年，伯纳德和杜拉福格利用准费米能级的概念推导出了半导体有源介质中实现粒子数反转的条件，这一条件为次年半导体激光器的研制成功提供了重要理论指导。 1960年，贝尔实验室的布莱和汤姆逊提出了用半导体的平行解理面作为产生光反馈的谐振腔，为激发光提供反馈。 回顾这些理论发展历程，可以总结半导体激光器的基本理论原理：在直接带隙半导体PN结中，用注入载流子的方法实现伯纳德—杜拉福格条件所控制的粒子数反转；由高度简并的电子和空位复合所产生的受激光辐射在光学谐振腔内震荡并得到放大，最后产生相干激光输出[4]。 3.半导体激光器发展历程 在上述理论的影响下，以及1960年产生的红宝石激光器的刺激下，美国和苏
中科院半导体所科技成果——基于TDLAS技术的气体传感器
中科院半导体所科技成果——基于TDLAS技术的气体 传感器 项目成熟阶段生长期 项目来源公益行业（气象）专项资金 成果简介基于可调谐二极管激光器吸收光谱技术（TDLAS）的气体传感器，是结合光电子学，光谱学，以及微弱信号处理等高新技术的气体传感器系统。该设备与传统的气体传感器装置（电化学法，气象色谱法，吸附法）相比具有更高的灵敏度，更精确的测量数据，更快的响应速度，以及在线实时测量等特点。 通过内建程序及显示屏，可以实时显示当前的待测气体浓度，以及各测量量随时间变化的曲线。标准的RS232通信接口可以方便的向上位机传输实时测量数据。通过光纤和电缆的延伸，可以进行远端在
线测试。通过可更换的气室选择，完成不同环境下的测试任务。并且我们可以根据客户的要求进行定制气体（H2O、NO、CH4、HF）的测试。 技术特点 基于可调谐二极管激光吸收光谱技术，通过向待测气体发射特定波长的激光，并对穿过气体的激光信号进行解调，分析气体的组分和浓度。利用光吸收技术进行气体浓度测试，不会对气体组分造成影响，并且响应速度很快，可以进行实时监测及数据采集。通过延长的光纤和电缆，可以将传感器深入到人身无法达到的地方及环境，进行远程测试。 专利情况 多项专利技术申请中，其中已授权1项。 市场分析
根据我们目前的调研情况，目前能够很容易检测的气体包括H2O、NH3、NO、HF、HBr、HI、CH4，其中H2O和HF的检测灵敏度可以高达100个ppb，是目前同类型传感器中灵敏度最高的检测手段。上述气体都是化工生产、气象监测、特种气体测量（如SF6中的水汽测量、矿井的瓦斯监测等），因此该类传感器具有非常广阔的应用前景。另外，目前国家在环境监控非常重视，其中一些危险气体的检测缺乏体积小、灵敏度高、响应时间快的传感器技术，因此该技术还能在国家安全和环境控制方面发挥重要的作用。 合作方式技术入股 产业化所需条件 企业提供厂房、基础建设、资金、可靠性试验设备、人员配合。
中科院计算、软件、信工、电子各所保研经历
2015年推免生参加夏令营的经历（计算所、软件所、信工所、电子所、声学所…） 2014/7/24 在此，只是写下我及我的同学的经历和感受 今年参加中科院的夏令营时，发现相关的资料很少，于是就自己写了，送给后来人，希望大家能很开心的完成这一“终身大事”。 首先说一下我的情况，211高校，成绩学院前3，低空飞过了6级，比较烂，无奖项，无额外项目。 因为关注的时间较晚（我比较懒，还有拖延症），所以在真正登录保研论坛时已经6月上旬了，这时候很多高校的夏令营报名都结束了，而因为一些原因我又不能赶在中旬报名北大软微（后来得知只招专硕）和中科院自动化所（以下中科院XX所均简称为XX所），所以我就瞄准了计算、软件、声学、信工……（建议还是多报几个，因为你觉得可以的不一定就可以，我在计算所已联系了导师，老师和我通过话，问过我一些数学问题，说对我印象不错，欢迎我去他们实验室参观，本以为十拿九稳结果没被录，然后…（详情请见“一、计算所”）…） 一、计算所 计算所等级分明，互相称谓都是“10F 张三；7F李四”，还配秘书，而且即将搬到环保园，貌似离中关村挺远。 计算所的经历很曲折，没去之前我对他印象很好，去了之后，我再也不想和他打交道。我报的是智能信息处理重点实验室（好吧，嘲笑我的不自量力吧）。 研修班（计算所的就叫这个，私以为可以作为不拟录取的借口）没录我的事情我在名单公布的当天就以短信形式通知在计算所联系的A老师，但是A老师没有回复，我认为没戏了，就安心准备其他的夏令营，结果面试当天A老师突然让我去参加面试。 智信今年只有面试，具体流程如下： 首先按照人数分为三组面试，每组大约10个学生5个老师。首先每人5分钟自我介绍（需要PPT），要开排练计时。通过这一点大约就可以看出了你行不行了，因为老师感兴趣会多问，有的人10分钟都不出来，像我这样的就5分钟完事。 等全部学生组员都自我介绍后，老师会分别在不同地方等学生去找，每个老师问不同的问题，有问数学的，有问英语的，有问日常的…… A老师先问我（没错就是A老师，也是在他这里被打击了），他问我哪门数学课学的困难，我很诚实的回答了，然后被问了一系列此门课程的问题，一个都没答上来，结果可想而知。话说我天真的以为问了第一问题不会就会换科目，没想到一问到死！！！真心觉得老师不想收我可以直说！！！也怪我太自不量力，自找没脸。后来有个学生和我说他在课程问题上答的是信号系统，然后A老师就无语了\(^o^)/。 换到B老师那里，B老师是问日常的，结果从对话开始他就一直低头玩手机，我不说话他也不说，我这时候充分发挥了不要脸的精神，主动和他聊，结果得到的也是脑瓜顶以及“嗯，啊”的敷衍，长句子譬如“那你说吧”，之后再没下文。我就算不要脸也还有几分泥性，恰好问英语的C老师空出来了，我就去了。 C老师先让我读了一个英文论文的第一句，大约3——4行并翻译，话说过了六级就没再学过英语了（学校不准刷分，貌似很多学校都这样）。我翻译的磕磕绊绊还有几个词不认识。然后老师就说行了，开始用中文问问题，譬如贝叶斯公式（很多实验室都喜欢问这个问题，一定要背下来！！！），我说了个大概，老师就问我“你还有什么问题吗”，好了我又秒懂了，不过还是借机问了几个问题，不问白不问。 接下来是D老师。老师问我学过什么相关课程，我答了，他又举了实际例子让我分析，但是我们那门课因为课时紧张没有完全学，没学到他问的那块，我只能按照自己的想法说，他很鄙视我；后来又问“函数z(x,y)和向量X(x,y),求z对X的导数”，怎么说咱都学过链式法则，我就答了，结果D老师说“还真叫你蒙对了”，我都被鄙视3次了，而且这次是我动脑了，忍不住争辩，结果老师改口说“对，你不是蒙的，
中科院各大研究所
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计算机科学数学理论
计算机自从其诞生之日起，它的主要任务就是进行各种各样的科学计算。文档处理，数据处理，图像处理，硬件设计，软件设计等等，都可以抽象为两大类：数值计算与非数值计算。作为研究计算机科学技术的人员，我们大都对计算数学对整个计算机科学的重要性有一些了解。但是数学对我们这些专业的研究和应用人员究竟有多大的用处呢？我们先来看一下下面的一个流程图： 上图揭示了利用计算机解决科学计算的步骤，实际问题转换为程序，要经过一个对问题抽象的过程，建立起完善的数学模型，只有这样，我们才能建立一个设计良好的程序。从中我们不难看出计算数学理论对用计算机解决问题的重要性。下面我们将逐步展开对这个问题的讨论。 计算机科学的数学理论体系是相当庞杂的，笔者不敢随意划分，参考计算机科学理论的学科体系，我们谈及的问题主要涉及：数值计算，离散数学，数论，计算理论四大方向。 [一]数值计算（Numerical Computation）主要包括数值分析学、数学分析学、线性代数、计算几何学、概率论与数理统计学。 数值分析学又常被称为计算方法学，是计算理论数学非常重要的一个分支，主要研究数值型计算。研究的内容中首先要谈谈数值计算的误差分析，误差是衡量我们的计算有效与否的标准，我们的算法解决问题如果在误差允许的范围内，则算法是有效的，否则就是一个无效的问题求解。另外就是数值逼近，它研究关于如何使用容易数值计算的函数来近似地代替任意函数的方法与过程。感觉应用比较广的不得不提切雪比夫逼近和平方逼近了。笔者曾经尝试过的就是通过最佳平方逼近进行曲线的拟合，开发工具可以选择VC++或者Matlab。插值函数是另外一个非常重要的方面，现代的计算机程序控制加工机械零件，根据设计可给出零件外形曲线的某些型值点，加工时走刀方向及步数，就要通过插值函数计算零件外形曲线及其他点函数值。至于方程求根、线性方程组求解，一般的计算性程序设计问题都会多多少少的涉及一些，我们这里就不赘述了。关于数值分析学的一个学习误区就是仅仅学习理论知识，而很难和程序设计结合起来，实际上通过上面的论述，大家已经能够初步地认识到这个学科是应当与程序设计紧密联系才能够体现它的重要性的。关于理论的学习，推荐华中科技大学李庆扬老师的《数值分析》。然而理论学习毕竟是个过程，最终的目标还是要用于程序设计解决实际的计算问题，向这个方向努力的书籍还是挺多的，这里推荐大家高等教育出版社（CHEP）和施普林格出版社(Springer)联合出版的《计算方法（Computational Methods）》,华中理工大学数学系写的（现华中科技大学），这方面华科大做的工作在国内应算是比较多的，而个人认为以这本最好，至少程序设计方面涉及了：任意数学函数的求值，方程求根，线性方程组求解，插值方法，数值积分，场微分方程数值求解。 数学分析学很多学校在近些年已经替代高等数学被安排到了本科教学当中。原因是很简单的，高等数学虽然也是非常有用的工程数学，介绍的问题方法也被广泛的应用，但是正如大家所知道的，高等数学不太严格的说，基本上就是偏向于计算的数学分析，当然省去了数学分析非常看重的推理证明，然而我们认为这一部分正是我们最需要的。这对我们培养良好的分析能力和推理能力极有帮助。我的软件工程学导师北工大数理学院的王仪华先生就曾经教导过我们，数学系的学生到软件企业中大多作软件设计与分析工作，
中国科学院杰出科技成就奖条例
中国科学院杰出科技成就奖条例 第一章总则 第一条为奖励在科技创新活动中做出重大成果的个人和集体，推动我国科学技术事业的发展，设立中国科学院杰出科技成就奖（以下简称院杰出科技成就奖）并制定本条例。 第二条院杰出科技成就奖不分等级，每年评选一次，每次授奖总数不超过10个。 第三条院杰出科技成就奖评审与授予坚持公开、公平、公正的原则，接受社会监督。 第四条院杰出科技成就奖评审的组织管理工作由中国科学院发展规划局负责，并以中国科学院科学技术奖励工作办公室（以下简称院奖励办）名义开展工作。 第二章奖励范围与评审标准 第五条院杰出科技成就奖授予院属单位在科技创新活动中做出重大成果的个人或集体，集体包括突出贡献者等主要完成人员。 第六条获得院杰出科技成就奖的个人或集体应做出符合下列标准之一的、近五年内完成或显示影响的重大成果： （一）解决重大科学问题。主要是解决本领域公认的重大科学问题，解决经济社会发展、国家安全中的关键科学问题。 （二）开辟新方向。主要是提出新的理论主张或认知框架，发现新现象或重要物质体系并提出新的理论解释，发展一种新方法使理论假设得到检验，发明新的仪器从而开辟新的研究领域。 （三）突破关键核心技术。重点是突破产业共性关键技术、新兴产业关键技术、国防安全重大关键技术和开辟新的应用领域的变革性技术。 （四）形成系统解决方案。重点是有核心技术突破，并集成多种技术、形成用户公认的先进系统级解决方案。创造性建设和高效运行国际一流水平的重大科技基础设施，并为重大科学发现或关键技术突破提供不可或缺的研究手段。 （五）重大社会经济效益。重点是在转移转化科技活动中，开发、应用、推广科技成果，形成新标准、新产业、规模化应用示范等，并创造显著经济社会效益。
