LDRA Testbed静态分析操作步骤

使用LDRA Testbed对代码进行静态分析

静态分析的主要操作：

①分析对象选择

②分析前的设置

③分析项的选择与分析过程

④分析结果的查看

详细操作如下：

一、分析对象的选择，即如何选择你的分析对象(被分析的文件)；

有两种方式：单个文件分析和以集(set)的形式分析，以集的形式分析可每次分析多个文件

1.单个文件分析选择

打开程序LDRA Testbed，点击Testbed的菜单File select file 通过文件浏览窗口打开文件要分析的文件，如C:\LDRA_Workarea\Examples\C_testbed_examples\Testrian\Testrian.c 。

点击select之后，可以在工具快捷按钮栏的下方看见目前选择的文件

2.以集(set)的形式分析选择

①创建集合(set),设置集合属性

打开程序LDRA Testbed，点击Testbed的菜单Set Select/Create/Delete Sets 弹出set创建窗口

在图中上部的Select/Create Sets区域写入set的名字，然后点击下部的Create按钮创建set，此时会弹出set的属性设置对话框，有两种属性可以设置”Group”和”System;”

此两种属性的区别：

Group 只是把set中的多个文件孤立的分析，不会分析文件间代码的相互关系，可作为批量分析使用。

System把set中的多个文件作为一个工程来分析，能够分析文件间的代码的关联，一般

都会采用此种属性。

Set创建之后可在窗口中确认如下：

其中demo为set的名字，system为set的属性，(0 files)代表set中目前没有文件

②向集合中添加文件

点击Testbed的菜单Set→List/Add/Remove Files in Sets 弹出添加文件窗口

点击图中的Add按钮，通过文件浏览窗口可添加多个文件到set中。

二、分析前的设置

在分析前需要对工具进行简单的设置，主要包括用户头文件的设置和编码规则集的设置。

1.基本的静态设置，包含头文件和编译宏设置。

点击Testbed菜单configure→static option，弹出static analysis optin对话框，

在选项卡Include files中的内容是对头文件的设置，可关注的设置有，

“Analysis Include files”区域设定头文件的展开方式(即分不分析头文件)，建议选择第二种

Analysis the first instance of each found include

“Interactive include file analysis”区域设定代码中出现头文件包含语句时，工具与用户的

交互方式，建议选择第三种Display dialog only when

include file not found

“Include Search Directories”区域设置用户头文件的查找目录和系统头文件的处理方式

按钮Search Options可设置用户头文件的查找目录，可通过

浏览方式添加目录

按钮Systen Include Search可设置系统头文件的展开方式，建

议设为Don’t Expand

在选项卡macros中设定用户代码编译宏的处理方式

“sysppvar”区域是对编译宏的定义设置，对于在编译命令中定义的宏，而在代码中使用此宏影响代码的编译的情况，需要用户把此宏添加到工具的设置文件中，可点击Edit Default按钮打开文件sysppvar.dat，在此文件中添加相应的宏定义，宏定义的方式可通过点击蓝色的Example显示样例；

“Interactive conditional Preprocessing Options”区域是设置针对代码中未识别的宏的处理及交互方式；如果选中” Interactive Preprocessing”，当出现未识别的宏时会弹出对话框，让用户定义此宏，如果不选当出现未识别的宏则不弹窗口；”AutoMacro”设定宏的自动定义处理方式，

”Enable – promt for macro vaule”弹窗提示并让用户指定宏值

”Enable – no promt, use default”不弹窗提示，使用默认值

”Disable – stop static analysis”弹窗，并停止分析

2.代码评审报告设定。

在Testbed菜单configure code review report options点击，弹出code review report 对话框.

在选项卡Report based Configuration中”Programming Standards Model”区域中选择你要生成编码规则检查结果报告所使用的规则集的名字；

在”Additional Detail for each Standards Violation”区域中设定在代码评审结果报告是否包含原代码行号和格式化后的代码行号。

在选项卡Data Files中可以实现对编码规则集的定制，在”Standards Model Editor”区域点击按钮”Launch Editor”可以打开编码规则图形化定制的画面

其中列代表的是具体的规则条目，行代表的是规则集的名称，通过选择框的选择可以把某条规则包含或剔除到规则集内。

3.质量评审报告设定

在Testbed菜单configure→quality review reoport options点击，弹出quality review report 对话框,在”Metpen configuration”区域可以设定质量评审报告中每个度量元的上下限的阈值，即可定制质量模型以便生成质量评审报告，点击” C:\LDRA_Toolsuite\metpen.dat”后的”Edit”按钮，可打开质量模型配置文件，修改此文件中度量元的上下限阈值即可修改质量模型。

4.数据对象分析报告设定。

在菜单configure→data object analysis reoport options点击，弹出data object analysis configuration 对话框, 设定数据对象分析报告中显示的对象范围。

三、分析项的选择与分析过程

在Testbed菜单analysis select analysis点击，弹出select analysis 对话框,在此对话框中选择要执行的静态分析项:main static analysis、complexity analysis、static data flow analysis、cross reference、information flow analysis、data object analysis,然后点击start analysis 按钮进行分析。

四、分析结果（报告）查看

1.单个文件结果查看

点击Testbed菜单Individual results可看到下拉项Source code、Text results、Graphical results分别显示了分析结果，这三个下拉项均可展开，便于用户查看详细的分类结果。

文本化的分析结果：

图形化的分析结果

2.集(set)的结果查看

点击Testbed菜单Set results可看到下拉项Text results、Graphical results分别显示了分析结果，每个下拉项均可展开，便于用户查看详细的分类结果。

3.报告内容介绍

报告内容

文本报告

Analysis scope report 分析范围报告

Test manager report 测试管理报告，主要包含代码评审和质量评审的总体结果Code review report 代码评审报告，包含编程规范检查的违反情况

Quality review report 质量评审报告，包含每个函数的清晰性、可维护性和可测试性总

体指标，以及质量度量标准的每项度量值（格式化代码信息、函

数信息、函数注释信息、注释与可执行代码比例信息、复杂度信

息、霍尔斯特德度量信息、循环嵌套信息、LCSAJ及不可达代码

信息和数据流信息）

Design review report 设计评审报告，包含函数的入参及返回值的信息Reformatted code 格式化后的代码，可以查看规则违反情况

LCSAJ report LCSAJ报告，包括代码中的LCSAJ的数量及划分细节

LCSAJ test case planner report 此报告以函数为单位列出LCSAJ的详细情况，并给出执行

此LCSAJ所有满足的条件，可指导用户设计测试用例增加

LCSAJ的覆盖率

Data flow analysis report 数据流报告，包含变量的使用异常、函数接口参数、全局变量

和函数调用关系

Procedure header comment 函数头注释，可以自动生成函数头注释便于用户使用

User defined type report 用户自定义类型报告

Cross reference report 交叉索引报告，包括所有数据项的分析，类型属性Information flow analysis report 信息流报告，对函数中变量的依赖关系分析，包含强依

赖、弱依赖、条件依赖，强定义、弱定义

Data object analysis report 数据对象报告，根据单个或一组对象信息获取此对象的所有

数据分析情况

图形报告

Static callgraph 静态调用关系图，反应函数的层次及调用关系

Static flowgraph 静态控制流图，反应函数内部的控制流程

Standard kiviat 标准kv图

Clarity kiviat 清晰性kv图

Maintainability kiviat 可维护性kv图

Testability kiviat 可测试性kv图

Static bar charts 静态柱状图基本结点基本复杂度结点复杂度最大嵌套深度

第1层间隔数目基本块可执行格式化代码行函数注释

三极管放大电路及其分析方法

三极管电路放大电路及其分析方法一、教学要求 1. 重点掌握的内容（1）放大、静态与动态、直流通路与交流通路、静态工作点、负载线、放大倍数、输入电阻与输出电阻的概念；（2）用近似计算法估算共射放大电路的静态工作点；（3）用微变等效电路法分析计算共射电路、分压式工作点稳定电路的电压放大倍数A u和A us,输入电阻R i和输出电阻R0。 2. 一般掌握的内容（1）放大电路的频率响应的一般概念；（2）图解法确定共射放大电路的静态工作点，定性分析波形失真，观察电路参数对静态工作点的影响，估算最大不失真输出的动态范围；（3）三种不同组态（共射、共集、共基）放大电路的特点；（4）多级放大电路三种耦合方式的特点，放大倍数的计算规律。 3. 一般了解的内容（1）共射放大电路f L、f H与电路参数间的定性关系，波特图的一般知识＜多级放大电路与共射放大电路频宽的定性分析；（2）用估算法估算场效应管放大电路静态工作点的方法。二?内容提要 1. 共射接法的两个基本电路共射放大电路和分压式工作点稳定电路是模拟电路中最基本的单元电路。学习这两种基本电路的分析方法是学习比较复杂的模拟电路的基础。 2. 两种基本分析方法——图解法和微变等效电路法在“模拟电路”中，三极管是非线性元件，因此不能简单地采用“电路与磁路”课中线性电路地分析方法。图解法和微变等效电路法就是针对三极管非线性的特点而采用的分析方法。 3. 放大电路的三种组态——共射组态、共集组态和共基组态由于放大电路输入、输出端取自三极管三个不同的电极，放大电路有三种组态——共射组态、共集组态和共基组态。由于组态的不同，其放大电路反映出的特性是不同的。在实际中，可根据要求选择相应组态的电路。 4. 两种放大元件组成的放大电路——双极型三极管放大电路和场效应管放大电路一般来说，双极性三极管是一种电流控制元件，它通过基极电流i B的变化控制集电极电流I c的变化。而场效应管是一种电压控制元件，它通过改变栅源间的电压U GS来控制漏极电流i D的变化；其次，双极性三极管的输入电阻较小，而场效应管的输入电阻很高，静态时栅极几乎不取电流。由于它们性能和特点的不同，可根据要求选用不同元件组成的放大电路。 5. 多级放大电路的三种耪合方式一一阻容耦合、直接耦合和变压器耦合将多级放大电辟连接起来的时候，就出现了级与级之间的耦合方式问题。通过电阻和电容将两级放大电路连接起来的方式称为阻容耦合。由于电容的作用，

雷达图数据如何更改

雷达图数据如何更改导语：雷达图是一种有效的数据展示图表，它能够清晰的展示数据，让关系繁杂的数据变得一目了然，数据趋势变得明显，数据内在关系变得明确。那么，如何修改雷达图的数据，如何绘制出让领导满意，让同事羡慕的雷达图呢？免费获取商务图表软件：https://www.360docs.net/doc/bb8042315.html,/businessform/ 雷达图如果是手工绘制，是非常麻烦的，不过可以用软件制图。在制作雷达图时，需要将各项数据，按重要程度集中画在一个圆形的图表中，来展示一个其中的比率情况，读表者可以快速获取到有效信息。一款软件助你轻松绘制雷达图、蜘蛛图亿图图示专家可以轻松绘制相关图表，软件为用户提供多个雷达图（蜘蛛图）的模板，只需改变数据值，软件便能自动更新雷达图（蜘蛛图）的状态。亿图软

件不仅能帮助用户创建普通雷达图，还可以创建面积雷达图、百分比雷达图、极性图等。创建雷达图打开亿图图示软件，选择“新建”——“图表”——“蜘蛛（雷达）图”——“创建”，即可开启画布。

操作界面左侧为符号库，使用者可以从这里，选择合适的雷达图模板，添加至画布中。根据不同的展示场景，雷达图可分为普通雷达图、面积雷达图、百分比雷达图、极性图。本文以普通雷达图为例，介绍基本的操作技巧。

从文件加载数据亿图图示软件支持用户从本地导入数据，一键生成雷达图。具体的操作方法如下： 1、启动文本模板：另外创建一个空白画布，将符号库中的“如何使用”拖动至画布。

选择复制“example 1”或“example 2”中的文本内容。 2、编辑数据：在电脑本地新建txt记事本，将上文所复制的文本内容，粘贴在txt记事本里。根据模板，进行自定义修改。第一行是类别的名称，从左到右，依次填写。第二行至第n行是系别，第一列为系别名称，其它列为数据。每个数据之间需要用逗号隔开，避免导入出错。

基本放大电路及其分析方法

二、基本放大电路及其分析方法一个放大器一般是由多个单级放大电路所组成，着重讨论双极型半导体三极管放大电路的三种组态，即共发射极，共集电极和共基极三种基本放大电路。从共发射极电路入手，推及其他二种电路，其中将图解分析法和微变等效电路分析法，作为分析基础来介绍。分析的步骤，首先是电路的静态工作点，然后分析其动态技术指标。对于放大器来说，主要的动态技术指标有电压放大倍数、输入阻抗和输出阻抗。 2.1.共射极基本放大电路的组成及放大作用在实践中，放大器的用途是非常广泛的，它能够利用三极管的电流控制作用把微弱的电信号增强到所要求的数值，为了了解放大器的工作原理，先从最基本的放大电路学习：图2.1称为共射极放大电路，要保证发射结正偏，集电极反偏Ib=（V BB-V BE）/Rb，对于硅管V BE约为0.7V左右,锗管约为0.2V左右,I B=(V BB-0.7)/Rb这个电路的偏流I B决定于V BB 和Rb的大小,V BB和Rb一经确定后,偏流I B就固定了,所以这种电路称为固定偏流电路,Rb又称为基极偏置电阻,电容Cb1和Cb2为隔直电容或耦合电容,在电路中的作用是“传送交流,隔离直流”,放大作用的实质是利用三极管的基极对集电极的控制作用来实现的. 上图是共射极放大电路的简化图,它在实际中用得比较多的一种电路组态,放大电路的主要性能指标，常用的有放大倍数、输入阻抗、输出阻抗、非线性失真、频率失真以及输出功率和效率等。对于不同的用途的电路，其指标各有侧重。初步了解放大电路的组成及简单工作原理后，就可以对放大电路进行分析。主要方法有图解法和微变等效法。 2.2.图解分析法 2.2.1.静态工作情况分析当放大电路没有输入信号时，电路中各处的电压，电流都是不变的直流，称为直流工作状态简称静态，在静态工作情况下，三极管各电极的直流电压和直流电流的数值，将在管子的特性曲线上确定一点，这点称为静态工作点，下面通过例题来说明怎样估算静态工作点。解:Cb1与Cb2的隔直作用,对于静态下的直流通路,相当于开路,计算静态工作点时,只需考虑图中的Vcc、Rb、Rc及三极管所组成的直流通路就可以了，I B=（Vcc－0.7）/Rb （I C=βI B+I CEO ） I C=βI B，V CE=V CC－I C R C 如已知β，利用上式可近似估算放大电路的静态工作点。 2.2.2.用图解法确定静态工作点在分析静态工作情况时,只需研究由V CC、R C、V BB、Rb及半导体三极管所组成的直

第二章放大电路分析基础

第二章放大电路分析基础 1、放大电路工作原理 2、 2、放大电路的直流工作状态2、 3、放大电路的动态分析2、 4、静态工作点的稳定及其偏置电路2、 5、多级放大电路本章要点： 1、放大电路直流状态的解析法和图解法 2、放大电路交流状态的图解法和微变等效电路法 3、三种基本组态放大电路的分析方法 4、多级放大电路的耦合方式及其分析方法电子课件二：放大电路分析基础课时授课教案一授课计划批准人：批准日期：课序：4 授课日期：授课班次：课题：第二章第2、1节：放大电路工作原理目的要求： 1、掌握基本放大电路的组成原则 2、掌握放大电路的直流通路和交流通路

3、理解放大电路的工作原理重点：放大电路的工作原理难点：放大电路的交流通路教学方法手段：结合电子课件讲解教具：电子课件、计算机、投影屏幕复习提问： 1、三极管的类型及外部工作条件？ 2、三级管的特性曲线有何规律？课堂讨论： 1、如何画放大电路的直流通路和交流通路？ 2、放大电路中三极管各极电流和极间电压如何变化？布置作业：课时分配：课堂教学环节复习提问新课讲解课堂讨论每课小结布置作业时间分配（分钟）8751052 二、授课内容引言放大电路的任务是不失真地把微小信号放大到所需要的程度。本节首先分析放大电路的组成原则及工作原理。2、 1、放大电路工作原理 2、2、 1、放大电路的组成一、电路组成基本共发射极放大电路如图2一1所示。V──放大三级管VCC──主电源、能源VBB──发射结偏置电源RC──直流负载电阻，用来确定直流工作点RB──发射结偏置电阻 RL──负载电阻RS、us──信号源的电压和内阻C 1、C2──耦合电容二、工作条件 1、三极管应处于放大状态。即发射结正偏，集电结反偏。 2、能够输入和输出信号。

4.比较静态分析

4比较静态分析研究当任何外生变量或参数发生变化时，内生变量的均衡值将如何变化。一．市场模型?? ?? ?+-=++=??????+-=-=d b bc ad Q d b c a P dP c bP a Q Q s d 为求解a 、b 、c 、d 中任一参数的无穷小变化如何影响P 值，可通过把P 的表达式对每一个参数求偏导数得到。 0,01) (2??=+=??+d P c a b P c P d b a P d b 作业：求出Q （均衡状态）的比较静态导数二．国民收入模型 t a a a Y a tY T a T Y a C C Y G I T C T T C C G I ?--++?-= ??? ???<<>+= <<>-+=++=1)10,0(,)10,0(),(0000 00000 0 ，政府支出乘数0110>?--=??t a a Y G 非所得税乘数,010

雷达图怎么做好看

雷达图怎么做好看导语：对比一些枯燥的Excel表格数据，言简意赅的雷达图要更受欢迎。作为职场人，如何将Excel的数据更好的展示出来，也是职场中必备的一项技能！如果你也在为此感到困扰，不妨跟着小编了解一下，别人家精美专业的雷达图是怎么做出来的！免费获取商务图表软件：https://www.360docs.net/doc/bb8042315.html,/businessform/ 雷达图如果是手工绘制，是非常麻烦的，不过可以用软件制图。在制作雷达图时，需要将各项数据，按重要程度集中画在一个圆形的图表中，来展示一个其中的比率情况，读表者可以快速获取到有效信息。一款软件助你轻松绘制雷达图、蜘蛛图亿图图示专家可以轻松绘制相关图表，软件为用户提供多个雷达图（蜘蛛图）的模板，只需改变数据值，软件便能自动更新雷达图（蜘蛛图）的状态。亿图软

材料现代分析方法北京工业大学

材料现代分析方法北京工业大学篇一：13103105-材料现代分析方法《材料现代分析方法》课程教学大纲一、课程基本信息课程编号：13103105 课程类别：专业核心课程适应专业：材料物理总学时：54学时总学分:3 课程简介：本课程介绍材料微观形貌、结构及成分的分析与表面分析技术主要方法及基本技术，简单介绍光谱分析方法。包括晶体X射线衍射、电子显微分析、X射线光电子谱仪、原子光谱、分子光谱等分析方法及基本技术。授课教材：《材料分析测试方法》，黄新民解挺编，国防工业出版社，20XX年。参考书目： [1]《现代物理测试技术》，梁志德、王福编，冶金工业出版社，20XX 年。 [2]《X射线衍射分析原理与应用》，刘粤惠、刘平安编，化学工业出

版社，20XX年。 [3]《X射线衍射技术及设备》，丘利、胡玉和编，冶金工业出版社，20XX年。 [4]《材料现代分析方法》，左演声、陈文哲、梁伟编，北京工业大学出版社，20XX年。 [5]《材料分析测试技术》，周玉、武高辉编，哈尔滨工业大学出版社，2000年。 [6]《材料结构表征及应用》，吴刚编，化学工业出版社，20XX年。 [7]《材料结构分析基础》，余鲲编，科学出版社，20XX年。二、课程教育目标通过学习，了解X射线衍射仪及电子显微镜的结构，掌握X-射线衍射及电子显微镜的基本原理和操作方法，了解试样制备的基本要求及方法，了解材料成分的分析与表面分析技术的主要方法及基本技术，了解光谱分析方法，能够利用上述相关仪器进行材料的物相组成、显微结构、表面分析研究。学会运用以上技术的基本方法，对材料进行测试、计算和分析，得到有关微观组织结构、形貌及成分等方面的信息。三、教学内容与要求第一章X射线的物理基础教学重点：X射线的产生及其与物质作用原理教学难点：X射线的吸收和衰减、激发限教学时数：2学时

基本放大电路的分析方法

3.2 基本放大电路的分析方法 3.2.1 放大电路的静态分析放大电路的静态分析有计算法和图解分析法两种。（1）静态工作状态的计算分析法根据直流通路可对放大电路的静态进行计算 (03.08) I C= I B (03.09) V CE=V CC－I C R c (03.10) I B、I C和V CE这些量代表的工作状态称为静态工作点，用Q表示。在测试基本放大电路时，往往测量三个电极对地的电位V B、V E和V C即可确定三极管的工作状态。（2）静态工作状态的图解分析法放大电路静态工作状态的图解分析如图03.08所示。图03.08 放大电路静态工作状态的图解分析直流负载线的确定方法：

1. 由直流负载列出方程式V CE=V CC－I C R c 2. 在输出特性曲线X轴及Y轴上确定两个特殊点 V CC和V CC/R c,即可画出直流负载线。 3. 在输入回路列方程式V BE =V CC－I B R b 4. 在输入特性曲线上，作出输入负载线，两线的交点即是Q。 5. 得到Q点的参数I BQ、I CQ和V CEQ。例3.1：测量三极管三个电极对地电位如图03.09所示，试判断三极管的工作状态。图03.09 三极管工作状态判断例3.2：用数字电压表测得V B=4.5V 、V E=3.8V 、V C=8V，试判断三极管的工作状态。电路如图03.10所示图03.10 例3.2电路图 3.2.2 放大电路的动态图解分析 (1) 交流负载线交流负载线确定方法：

1.通过输出特性曲线上的Q点做一条直线，其斜率为1/R L'。 2.R L'= R L∥R c，是交流负载电阻。 3.交流负载线是有交流输入信号时，工作点Q的运动轨迹。 4.交流负载线与直流负载线相交，通过Q点。图03.11 放大电路的动态工作状态的图解分析 (2) 交流工作状态的图解分析动画图03.12 放大电路的动态图解分析（动画3-1）通过图03.12所示动态图解分析，可得出如下结论： 1. v i→↑ v BE→↑ i B→↑ i C→↑ v CE→↓ |-v o|↑； 2. v o与v i相位相反； 3.可以测量出放大电路的电压放大倍数； 4.可以确定最大不失真输出幅度。 (3) 最大不失真输出幅度 ①波形的失真

现代材料分析方法试题及答案

1. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式？写出数学表达式，并说明d、θ、λ的意义。（5分）答：. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。（1分）其数学表达式：2dsinθ=λ（1分）其中d是晶体的晶面间距。（1分）θ是布拉格角，即入射线与晶面间的交角。（1分）λ是入射X 射线的波长。（1分） 4. 二次电子是怎样产生的？其主要特点有哪些？二次电子像主要反映试样的什么特征？用什么衬度解释？该衬度的形成主要取决于什么因素？（6分）答：二次电子是单电子激发过程中被入射电子轰击出的试样原子核外电子。（1分）二次电子的主要特征如下：（1）二次电子的能量小于50eV，主要反映试样表面10nm层内的状态，成像分辨率高。（1分）（2）二次电子发射系数δ与入射束的能量有关，在入射束能量大于一定值后，随着入射束能量的增加，二次电子的发射系数减小。（1分）（3）二次电子发射系数δ和试样表面倾角θ有关：δ(θ)=δ0/cosθ（1分）（4）二次电子在试样上方的角分布，在电子束垂直试样表面入射时，服从余弦定律。（1分）二此电子像主要反映试样表面的形貌特征，用形貌衬度来解释，形貌衬度的形成主要取决于试样表面相对于入射电子束的倾角。（1分） 2. 布拉格角和衍射角：布拉格角：入射线与晶面间的交角，（1.5 分）衍射角：入射线与衍射线的交角。（1.5 分） 3. 静电透镜和磁透镜：静电透镜：产生旋转对称等电位面的电极装置即为静电透镜，（1.5 分）磁透镜：产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。（1.5 分） 4. 原子核对电子的弹性散射和非弹性散射：弹性散射：电子散射后只改变方向而不损失能量，（1.5 分）非弹性散射：电子散射后既改变方向也损失能量。（1.5 分）二、填空（每空1 分，共20 分） 1. X 射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。 2.扫描仪的工作方式有连续扫描和步进扫描两种。 3. 在X 射线衍射物相分析中，粉末衍射卡组是由粉末衍射标准联合委员会编制，称为JCPDS 卡片，又称为PDF 卡片。 4. 电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。 5.透射电子显微镜的结构分为光学成像系统、真空系统和电气系统。 1. X射线管中，焦点形状可分为点焦点和线焦点，适合于衍射仪工作的是线焦点。 2. 在X 射线物象分析中，定性分析用的卡片是由粉末衍射标准联合委员会编制，称为JCPDS 卡片，又称为PDF(或ASTM) 卡片。 3. X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。 4. 电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。 5. 电子探针是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。二、选择题（多选、每题4 分） 1. X射线是（ A D ） A. 电磁波； B. 声波； C. 超声波； D. 波长为0.01~1000?。 2. 方程2dSinθ=λ叫（ A D ） A. 布拉格方程； B. 劳厄方程； C. 其中θ称为衍射角； D. θ称为布拉格角。

静态分析比较静态分析和动态分析

静态分析、比较静态分析和动态分析经济模型可以被区分为静态模型和动态模型。从分析方法上讲，与静态模型相联系的有静态分析方法和比较静态分析方法，与动态模型相联系的是动态分析方法。 1.静态分析与静态经济学静态分析法分析经济现象达到均衡时的状态和均衡条件，而不考虑经济现象达到均衡状态的过程。应用静态分析方法的经济学称为静态经济学。 2.比较静态分析比较静态分析法考察经济现象在初始均衡状态下，因经济变量发生变化以后达到新的均衡状态时的状况。考察的重点是两种均衡状况的比较，而不是达到新均衡的过程。 3.动态分析与动态经济学动态分析：在假定生产技术、要素禀赋、消费者偏她等因素随时间发生变化的情况下，考察经济活动的发展变化过程。应用动态分析方法的经济学称为动态经济学。大致说来，在静态模型中，变量所属的时间被抽象掉了，全部变量没有时间先后的差别。因此，在静态分析和比较静态分析中，变量的调整时间被假设为零。例如，在前面的均衡价格决定模型中，所有的外生变量和内生变量都属于同一个时期，或者说，都适用于任何时期。而且，在分析由外生变量变化所引起的内生变量的变化过程中，也假定这种变量的调整时间为零。而在动态模型中，则需要区分变量在时间上的先后差别，研究不同时点上的变量之间的相互关系。根据这种动态模型作出的分析是动态分析。蛛网模型将提供一个动态模型的例子。由于西方经济学的研究目的往往在于寻找均衡状态，所以，也可以从研究均衡状态的角度来区别和理解静态分析、比较静态分析和动态分析这三种分析方法。所谓静态分析，它是考察在既定的条件下某—经济事物在经济变量的相互作用下所实现的均衡状态。所谓比较静态分析，它是考察当原有的条件或外生变量发生变化时，原有的均衡状态会发生什么变化，并分析比较新旧均衡状态。所谓动态分析，是在引进时间变化序列的基础上，研究不同时点上的变量的相互作用在均衡状态的形成和变化过程中所起的作用，考察在时间变化过程中的均衡状态的实际变化过程。

材料现代分析方法试题9(参考答案)

材料现代分析方法试题9（参考答案）一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．为什么特征X射线的产生存在一个临界激发电压？X射线管的工作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系？为什么？答：要使内层电子受激发，必须给予施加大于或等于其结合能的能量，才能使其脱离轨道，从而产生特征X射线，而要施加的最低能量，就存在一个临界激发电压。X射线管的工作电压一般是其靶材的临界激发电压的3-5倍，这时特征X射线对连续X射线比例最大，背底较低。 2．布拉格方程2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么？布拉格方程式有何用途？答：d HKL表示HKL晶面的面网间距，θ角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面网间的夹角，λ表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。通过测量θ，求特征X射线的λ，并通过λ判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长，通过测量θ，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。3．多重性因子的物理意义是什么？某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是多少？如该晶体转变为四方晶系，这个晶面族的多重性因子会发生什么变化？答：多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数叫作多重性因子。某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是6？如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4；这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。 4．什么是丝织构，它的极图有何特点？答：丝织构是一种晶粒取向轴对称分布的织构，存在于拉、轧或挤压成形的丝、棒材及各种表面镀层中。其特点是多晶体中各种晶粒的某晶向[uvw]与丝轴或镀层表面法线平行。丝织构的极图呈轴对称分布 5．电磁透镜的像差是怎样产生的? 如何来消除和减少像差? 答：电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。球差即球面像差，是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的，其中离

第二章_放大电路分析基础

第二章放大电路分析基础 XD Univ. @ 诚夏 SincereXIA 放大电路工作原理放大的基本概念输出电压或电流在幅度上得到了放大，在能量上得到了加强，能量由直流电源提供放大电路的组成原则 1. 要有直流通路保证发射结正偏，集电结反偏，使晶体管工作在放大区 2. 要有交流通路待放大的输入信号能加到发射结上，放大了的信号能从电路中取出 3. 确保合适的工作点信号始终处于放大区放大原理放大电路的信号及常用符号 1. (小写字母，大写下标）——瞬时值，实际的物理信号 2. (大写字母，大写下标) ——实际信号的直流成分 3. (小写字母，小写下标) ——实际信号的交流成分 4. (大写字母，小写下标) ——交流信号的有效值 5. ——交流信号的最大值放大电路的直流工作状态确定直流工作状态，就是确定 Q 点

Q点基极直流电源IB 集电极直流电流IC 集电极与发射极间的直流电压UCE 其中：在三极管输入曲线上确定Q点，在三极管输出曲线上确定 Q 点放大电路的基本分析方法解析法确定静态工作点必须已知三极管的值，静态工作点在直流通路求得，直流通路：将电容视为开路所需要使用的公式 1. 硅 2. 3. 图解法确定静态工作点

1. 在输入特性曲线上，作出直线－，两线的交点即是Q点，得到。 2. 在输出特性曲线上，作出直流负载线－，与IBQ曲线的交点即为Q点，从而得到和。电路参数对静态工作点的影响 1. 增加，降低，工作点沿直流负载线下移 2. 减小，减小，斜率绝对值增加，工作点沿特性曲线右移 3. 增加，增大，直流负载线平行右上移，工作点向右上方移动放大器的动态范围失真输出电压的峰峰值：。 1. 当－－时，受截止失真限制，。 2. 当－－时，受饱和失真限制，－。 3. 当－－，放大器将有最大的不失真输出电压。放大电路的动态分析动态分析的对象是交流通路，分析的关键是做交流负载线交流通路：电容视为短路，理想直流电压源视为短路（接地）图解法分析动态特性三极管工作点的移动不再沿直流负载线，而是按交流负载线移动。放大电路的非线性失真 1. Q 点过低，信号进入截止区—— 截止失真

现代材料分析方法试题含有答案

《现代材料分析方法》期末试卷 1 一、单项选择题（每题 2 分，共 10 分） 1．成分和价键分析手段包括【 b 】（a）WDS、能谱仪（EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS （c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman 2．分子结构分析手段包括【 a 】（a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR）（b） NMR、FTIR 和 WDS （c）SEM、TEM 和 STEM（扫描透射电镜）（d） XRD、FTIR 和 Raman 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】（a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） (b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和 X 射线光电子谱仪（XPS） (d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【 b 】（a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构（c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】（a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和 CO 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题 2 分，共 10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×） 2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。（√）三、简答题（每题 5 分，共 25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？范德华力和毛细力。以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么？多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中，氢核有两种取向，与外磁场同向的起增强外场的作用，与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的组合不同，核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同，满足“n+1”规律 4．什么是化学位移，在哪些分析手段中利用了化学位移？

Excel软件制作雷达图表的操作方法

Excel软件制作雷达图表的操作方法 Excel表格怎么制作雷达表示图呢？如何在Excel表格中添加雷达统计图？本文将为大家介绍Excel软件制作雷达图表的操作方法，具体请看下文。解决方法： 1、新建一个工作表。点击【鼠标右键】-选择【新建】-选择【Excel工作表】。 2、重命名Excel工作表。将默认的【新建Microsoft Excel 工作表】修改为你希望定义的名字。 3、打开Excel工作表。双击Excel图标打开工作表。 4、录入相关数据。在Excel中按图示方法，将数据内容设置为两列，一列为项目名称，另外一列为数值（图中的数据采取5分总分制）。

5、选择图表类型。按住鼠标左键-框选【数据】-选择菜单中的【插入】-选择图表中的【其他图表】-选择雷达图中的【填充雷达图】。 6、生成雷达图。选择填充雷达图后，Excel表格自动生成默认的雷达图。生成完雷达图后其默认的设置观赏性较差，需要进一步进行美化。后面的内容均是属于美化雷达图的措施。 7、更改填充颜色。选择雷达图上的填充色块-在菜单栏中选择【设计】-在设计中根据预览图选择相应的颜色类型。

8、更改图表名称。双击图表默认的名称-输入你想修改的名称。 9、更改图表字体。单击选中图表名称-在菜单栏中选择【开始】-在字体选择窗口中选择你喜欢的字体类型。

10、删除图例。系统会默认一个图例，但是这个图例不一定是我们需要的，小编一般是采取删除的措施（点击选中图例-点击键盘【Delete键】完成删除工作），当然根据需要你也可以保留不删除。 11、更改标题颜色。单击选中标题-选中菜单中的【开始】-找到【字体颜色】（如图）-点击填充颜色-在下拉列表中选择你喜欢的颜色。至此，雷达图的制作完成。

材料现代分析方法试题 6

材料现代分析方法试题一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．什么是光电效应？光电效应在材料分析中有哪些用途？ 2．当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？ 3．测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成30 0角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？ 4．宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么？衍射仪法测定宏观应力的方法有哪些？ 5．薄膜样品的基本要求是什么? 具体工艺过程如何? 双喷减薄与离子减薄各适用于制备什么样品? 6．图说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。 7．说明透射电子显微镜成像系统的主要构成、安装位置、特点及其作用。 8．何为晶带定理和零层倒易截面? 说明同一晶带中各晶面及其倒易矢量与晶带轴之间的关系。 9．含苯环的红外谱图中，吸收峰可能出现在哪4个波数范围? 10．陶瓷纳米/微米颗粒的红外光谱的分析样品该如何制，为什么？二、综合及分析题（共5题，每题10分） 1．请说明多相混合物物相定性分析的原理与方法？ 2．对于晶粒直径分别为100，75，50，25nm的粉末衍射图形，请计算由于晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度B（设θ=450，λ=0.15nm）。对于晶粒直径为25nm的粉末，试计算θ=100、450、800时的B 值。 3．二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 4．何为波谱仪和能谱仪？说明其工作的三种基本方式及其典型应用，并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用哪种电子探针仪? 为什么? 5．分别指出谱图中标记的各吸收峰所对应的基团? 材料现代分析方法试题（参考答案）一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．什么是光电效应？光电效应在材料分析中有哪些用途？答：光电效应是指：当用X射线轰击物质时，若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时，入射X射线光子的能量就会被吸收，从而导致其内层电子被激发，产生光电子。材料分析中应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和荧光光谱仪，对材料物质的元素组成等进行分析。 2．什么叫干涉面？当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？答：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差是λ。

雷达图制作方法

雷达图制作方法导语：雷达图，又被称作为“戴布拉图”、“蜘蛛网图”，是财务分析报表中常见的一种。雷达图主要应用于企业经营状况的评价，因为其外形结构与雷达非常相似，因此得名“雷达图”。一起阅读本文，学会如何制作雷达图。免费获取商务图表软件：https://www.360docs.net/doc/bb8042315.html,/businessform/ 绘制雷达图的软件有哪些雷达图算得上是颜值较高的一个图表类型了，它是一种以二维形式展示多维数据的图形。亿图图示专家可以轻松绘制相关图表，软件为用户提供多个雷达图（蜘蛛图）的模板，只需改变数据值，软件便能自动更新雷达图（蜘蛛图）的状态。亿图软件不仅能帮助用户创建普通雷达图，还可以创建面积雷达图、百分比雷达图、极性图等。

用亿图图示软件怎么做出专业的雷达图？创建雷达图打开亿图图示软件，选择“新建”——“图表”——“蜘蛛（雷达）图”——“创建”，即可开启画布。

操作界面左侧为符号库，使用者可以从这里，选择合适的雷达图模板，添加至画布中。根据不同的展示场景，雷达图可分为普通雷达图、面积雷达图、百分比雷达图、极性图。本文以普通雷达图为例，介绍基本的操作技巧。从文件加载数据亿图图示软件支持用户从本地导入数据，一键生成雷达图。具体的操作方法如下： 1、启动文本模板：另外创建一个空白画布，将符号库中的“如何使用”拖动至画布。

雷达图怎么做雷达图怎么用

雷达图怎么做?雷达图怎么用导语：雷达图是利用原数据源，将不同的指标组合在一起非常象雷达的形状，因此而得名。它已经进入我们的生活，不仅仅是企业财务、个人帐务管理以及投资理财等领域。本文将教你如何绘制雷达图。免费获取商务图表软件：https://www.360docs.net/doc/bb8042315.html,/businessform/ 一款助你轻松绘制雷达图的软件亿图图示专家可以轻松绘制相关图表，软件为用户提供多个雷达图（蜘蛛图）的模板，只需改变数据值，软件便能自动更新雷达图（蜘蛛图）的状态。亿图软件不仅能帮助用户创建普通雷达图，还可以创建面积雷达图、百分比雷达图、极性图等

材料现代分析方法知识点

材料现代分析方法知识点 1.什么是特征X射线？当管压增至与阳极靶材对应的特定值U k时，在连续谱的某些特定波长位置上出现一系列陡峭的尖峰。该尖峰对应的波长λ与靶材的原子序数Z存在着严格的对应关系，尖峰可作为靶材的标志或特征，故称尖峰为特征峰或特征谱。 2.什么是电子探针的点分析、线分析、面分析？ ①点分析：将电子束作用于样品上的某一点，波谱仪分析时改变分光晶体和探测器的位置，收集分析点的特征X射线，由特征X射线的波长判定分析点所含的元素；采用能谱仪工作时，几分钟内可获得分析点的全部元素所对应的特征X射线的谱线，从而确定该点所含有的元素及其相对含量。②线分析：将探针中的谱仪固定于某一位置，该位置对应于某一元素特征X射线的波长或能量，然后移动电子束，在样品表面沿着设定的直线扫描，便可获得该种元素在设定直线上的浓度分布曲线。改变谱仪位置则可获得另一种元素的浓度分布曲线。③面分析：将谱仪固定于某一元素特征X射线信号（波长或能量）位置上，通过扫描线圈使电子束在样品表面进行光栅扫描（面扫描），用检测到的特征X射线信号调制成荧光屏上的亮度，就可获得该元素在扫描面内的浓度分布图像。 3. XRD对样品有何要求？粉末样品应干燥，粒度一般要求约10~80μm，应过200目筛子（约0.08mm），且避免颗粒不均匀。块状样品应将其处理成与窗孔大小一致，可扫描宽度宜大于5mm，小于30mm，至少保证一面平整。 4.电子探针分析原理？电子探针是一中利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器。其结构与扫描电竞基本相同，所不同的只是电子探针检测的是特征X射线，而不是二次电子或背散射电子。 5.结构因子的计算？P68 （1）简单点阵：简单点阵的晶胞仅有一个原子，坐标为（0，0，0），即X=Y=Z=0，设原子的散射因子为f，则(公式3-69) （2）底心点阵：底心点阵的晶胞有两个原子，坐标分别为（0，0，0），（1/2,1/2,0）各原子的散射因子为f，则（公式3-70）（3）体心点阵：体心点阵的晶胞有两个原子，坐标分别为（0，0，0），（1/2,1/2,1/2）各原子的散射因子为f，则（公式3-71）（4）面心点阵：面心点阵的晶胞有4个原子，坐标分别为（0，0，0），（1/2,1/2,0），（1/2,0,1/2），（0,1/2,1/2）各原子的散射因子为f，则（公式3-72） 6.X射线衍射与电子衍射的关系（比较）？P150 （1）电子波的波长短，远远小于X射线，同等衍射条件下，它的衍射半角很小，衍射束集中在前方额，而x射线的衍射半角可接近90度。（2）电子衍射反射球半径大（3）电子衍射散射强度高，物质对电子的散射比对x射线散射强约1000000倍 (4) 电子衍射不仅可以进行微区结构分析，还可以进行形貌观察，而x射线衍射却无法进行形貌分析（5）薄晶样品的倒易点阵为沿厚度方向的倒易杆，大大增加了反射球与倒易杆相截的机会，即使偏离布拉格方

第4讲基本共射极放大电路的静态分析

课题：基本共射极放大电路的静态分析课型：讲练结合教学目的：知识目标： 1. 熟悉基本共射极放大电路的组成、特点、工作原理 2. 掌握基本共射极放大电路的静态分析。技能目标：学会基本共发射极放大电路静态工作点的调试方法。教学重点、难点：重点：基本共发射极放大电路的静态分析难点：基本共发射极放大电路的静态分析复习与提问： 1、三极管有哪几种工作状态？（在黑板上画出三极管的输出特性图并提问让学生指出相应的区域） 2、在模拟电子电路中三极管通常工作在什么区？教学过程： ,也就引子：我们知道在模拟电路中，三极管通常都工作在放大区，那么如何保证三极管始终工作在放大区是让发射结正偏、集电结反偏？这节课我们主要来解决这个问题. （在黑板上画出基本共射放大电路，进行讲解）我们来看下这个电路. 、基本共射极放大电路 1、电路图

° 十Ucc 2、电路组成元件及作用（1）三极管V ：具有电流放大作用，是放大器的核心元件。不同的三极管有不同的放大倍数。产生放大作用的外部条件是：发射结为正向电压偏置，集电结为反向电压偏置。 (2) 集电极直流电源 U cC 确保三极管工作在放大状态。 (3) 集电极负载电阻RC:将三极管集电极电流的变化转变为电压变化，以实现电压放大。 (4) 基极偏置电阻RB:为放大电路提供基极偏置电压。 (5) 耦合电容C i 和C 2:隔直流通交流。电容C i 和C 2具有通交流的作用，交流信号在放大器之间的传递叫耦合， C i 和C 2正是起到这种作用，所以叫作耦合电容。C i 为输入耦合电容，C 2为输出耦合电容。电容C i 和C 2还具有隔直流的作用，因为有 C 和C 2，放大器的直流电压和直流电流才不会受到信号源和输出负载的影响。 3?放大器的工作原理(这部分知识先在这里讲解，具体的实际操作能力在动态分析的测试中再进行) (1) ui 直接加在三极管 V 的基极和发射极之间，引起基极电流 i B 作相应的变化。 (2) 通过V 的电流放大作用，V 的集电极电流i C 也将变化。 (3) i C 的变化引起V 的集电极和发射极之间的电压 U CE 变化。 (4) u CE 中的交流分量u ce 经过C 2畅通地传送给负载 R L ，成为输出交流电压 uo,，实现了电压放大作用。二、基本共射放大电路的静态分析(先理论后实践的方法来实现) 我们看到在这个放大电路中，即有交流信号也有直流信号，为了便于分析和理解，我们将分别对这两个信号在放大电路中的作用进行分析。我们先来学习只有直流信号作用时的放大电路。我们将这种状态叫静态。 Rc O- + R B C I ■ C 2 K EV R L U o

现代材料分析方法

《现代材料分析方法》期末试卷1 三、简答题（每题5 分，共25 分） 1.扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？范德华力和毛细力。以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么？多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中，氢核有两种取向，与外磁场同向的起增强外场的作用，与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的组合不同，核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同，满足“n+1”规律 4．什么是化学位移，在哪些分析手段中利用了化学位移？同种原子处于不同化学环境而引起的电子结合能的变化，在谱线上造成的位移称为化学位移。在XPS、俄歇电子能谱、核磁共振等分析手段中均利用化学位移。 5。拉曼光谱的峰位是由什么因素决定的, 试述拉曼散射的过程。拉曼光谱的峰位是由分子基态和激发态的能级差决定的。在拉曼散射中，若光子把一部分能量给样品分子，使一部分处于基态的分子跃迁到激发态，则散射光能量减少，在垂直方向测量到的散射光中，可以检测到频率为（ν0 - Δν)的谱线，称为斯托克斯线。相反，若光子从样品激发态分子中获得能量，样品分子从激发态回到基态，则在大于入射光频率处可测得频率为（ν0 + Δν)的散射光线，称为反斯托克斯线四、问答题（10 分）说明阿贝成像原理及其在透射电镜中的具体应用方式。答：阿贝成像原理（5 分）：平行入射波受到有周期性特征物体的散射作用在物镜的后焦面上形成衍射谱，各级衍射波通过干涉重新在像平面上形成反映物的特征的像。在透射电镜中的具体应用方式（5 分）。利用阿贝成像原理，样品对电子束起散射作用，在物镜的后焦面上可以获得晶体的衍射谱，在物镜的像面上形成反映样品特征的形貌像。当中间镜的物面取在物镜后焦面时, 则将衍射谱放大，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样；当中间镜物面取在物镜的像面上时，则将图像进一步放大,这就是电子显微镜中的成像操作。五、计算题（10 分）用Cu KαX 射线（λ=0.15405nm）的作为入射光时，某种氧化铝的样品的XRD 图谱如下，谱线上标注的是2θ的角度值，根据谱图和PDF 卡片判断该氧化铝的类型，并写出XRD 物相分析的一般步骤。答：确定氧化铝的类型（5 分）根据布拉格方程2dsinθ=nλ，d=λ/(2sinθ) 对三强峰进行计算：0.2090nm,0.1604nm,0.2588nm,与卡片10-0173 α-Al2O3 符合，进一步比对其他衍射峰的结果可以确定是α-Al2O3。XRD 物相分析的一般步骤。（5 分）测定衍射线的峰位及相对强度I/I1：再根据2dsinθ=nλ求出对应的面间距 d 值。(1) 以试样衍射谱中三强线面间距 d 值为依据查Hanawalt 索引。(2) 按索引给出的卡片号找出几张可能的卡片，并与衍射谱数据对照。(3) 如果试样谱线与卡片完全符合，则定性完成。六、简答题（每题5 分，共15 分）1．透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？答：如果让透射束进入物镜光阑，而将衍射束挡掉，在成像模式下，就得到明场象。如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑，而把透射束挡掉，就得到暗场像，将入射束倾斜，让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行，且通过物镜光阑就得到中心暗场像。 2．简述能谱仪和波谱仪的工作原理。答：能量色散谱仪主要由Si(Li)半导体探测器、在电子束照射下，样品发射所含元素的荧光标识X 射线，这些X 射线被Si(Li)半导体探测器吸收，进入探测器中被吸收的每一个X 射线光子都使硅电离成许多电子—空穴对，构成一个