测量系统分析方法82638

测量系统分析(MSA)方法

测量系统分析(MSA)方法**** 1.目的

对测量系统变差进行分析评估，以确定测量系统是否满足规定的要求，确保测量数据的质量。

2.范围

适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。

3.职责

质管部负责测量系统分析的归口管理;

公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析;

各分公司(分厂)质检科负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。

4.术语解释

测量系统(Measurement system)：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操作人员的集合，用来获得测量结果的整个过程。

偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。

稳定性(Stability):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量平均值总变差,即偏倚随时间的增量。

重复性：重复性（Repeatability）是指由同一位检验员,采用同一量具,多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。

再现性: 再现性(Reproductivity) 是指由不同检验员用同一量具，多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量平均值的变差。

分辨率（Resolution）:测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。

可视分辨率（Apparent Resolution）:测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为。有效分辨率（Effective Resolution）:考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长度将制造过程变差（6δ）（或公差）划分的等级数量来表示。关于有效分辨率，在99%置信水平时其标准估计值为GR&R。

分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。

盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析，也不知道所测为那一只产品的条件下,获得的测量结果。

计量型与计数型测量系统:测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述,这样的测量系

统称之为计量型测量系统; 测量系统测量结果用定性的数据来表述,如用通过或不能通过塞规的方式来描述一只圆棒直径尺寸,这样的测量系统称之为计数型测量系统。计量型测量系统和计数型测量系统的分析将用到不同的方法。

5.工作程序：

测量系统分析时机：在下述三种情况下必须进行测量系统分析。

新产品开发时;

检验员发生变更或新购量具或经维修过的量具投入使用前;

定期做,公司规定每年进行一次全面的测量系统分析,分析范围覆盖所有合格在用的不同型号规格的量具,分析内容覆盖测量系统五性。

测量系统分析条件

测量作业必须标准化;

检验员必须是经培训合格人员;

测量仪器必须是检定合格状态;

质量特性测量值可重复。

计量型测量系统分析

稳定性分析

选取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值，如果不能得到，则选择一个落在使用的量程中程数的产品，并指定它作为标准样本进行稳定性分析。

定期（天，周，月）测量基准样品3-5次，决定样本容量和频率时考虑的因素有：校准周期、使用频率、修理次数和使用环境等。读数应在不同时间读取以代表测量系统实际使用的情况。将测量值描绘在《量具稳定性分析报告》记录的XBAR-R控制图上。

计算控制界限,并参照Q/HC31006A—2002《SPC（统计过程控制）应用方法》控制图判读规则对不稳定或失控作出判断，如有不稳或异常现象应进行原因分析，并采取相应措施（如对量具进行校准或维修）。

测量系统稳定性分析记录于《量具稳定性分析报告》中。

偏倚分析(独立样本法)

获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值, 如果不能得到，则选择一个落在使用的量程中程数的产品，并对其用精密的量具(通常精度为被分析量具的4~10倍)测量10次计算平均值,此值作为“基准值”。

由一位检验员,以常规方式对样品测量10次,并计算10次读数的平均值, 此值即为“观测平均值”。

计算偏倚

偏倚=观测平均值--基准值制造过程变差=6δ

偏倚%=偏倚/制造过程变差×100%

制造过程变差可从以前的过程控制图得出，或从同时进行的过程能力研究得出，如无法求得时,可用规格公差代替。

偏倚接受准则:

a、

对测量重要特性的测量系统偏倚%10%时可接受；

b、对测量一般特性的测量系统10%≤偏倚%≤30%时可接受；

c、

偏倚%>30%,拒绝接受。

偏倚分析记录于《量具偏倚分析报告》

线性分析

选择5个产品,它们的测量值要覆盖量具的工作量程。

用精密量具测量每个产品以确定它们各自的“基准值”并确认其尺寸覆盖了被分析量具的工作量程。

由被分析量具的操作员盲测每个产品12次,并计算测量平均值和偏倚。

绘图：以基准值为X轴,偏倚为Y轴作散布图。

使用以下公式求最佳拟合这些点的回归直线和直线的相关系数R。

y=b+ax

式中：x为基准值

y为偏倚

b为截距

a为斜率

a=/

b=(ΣYi-aΣXi)/n

R2=2/｛×｝

线性=

斜率×（制造过程变差）=

Q/HC31007A—2002线性%= ×100%

线性判读准则

线性程度判读

a、

R2=1,完全相关,点散布在一条直线上;

b、R2=0,完全不相关,X与Y的变化完全不存在任何依存关系;

c、

线性接受准则

a、对测量重要特性的测量系统,线性%≤5%时可接受；

b、对测量一般特性的测量系统,线性%≤10%时可接受；

c、

线性%>10%,拒绝接受。

线性分析记录于《量具线性分析报告》。

重复性和再现性分析(R &R)

确定研究对象、工序、量具、产品和质量特性后可采用下列方法进行分析。极差(R)法

选取两位检验员A、B和5个产品,每个检验员对每个产品盲测一次,将测量结果记入《量具极差法分析表》表格中。

计算产品测量的极差R,测量极差R为检验员A和B测量结果差的绝对值。

计算产品测量的平均极差R=∑Ri/5。

计算量具的双性(重复性和再现性的合成,简称双性),即测量过程变差：

GR&R=d2

式中：GR&R表示量具（Gage）重复性和再现性的合成，表示99%的置信区间，即2个检验员用同一量具测量同一产品的同一特性的测量结果99%落在GR&R区间内，d2可从《测量系统分析用d2值表》中查出。

计算双性占制造过程变差的百分数

% GR&R= (GR&R/过程变差)

×100%。

GR&R接受准则:

a、% GR&R<10%可接受；

b、10%≤% GR&R≤30%，依据质量特性的重要性及量具的重要性、成本及维修费用，决定是否接受；

c、% GR&R>30%，不能接受。

均值极差法(X&R法)

确定二至三名检验员,标以A、B、C，检验员选取需注意代表性,如生产部门检验员与质检部门检验员的相互搭配、白班与夜班检验员的相互搭配等。

抽取同一种型号产品样本5至10件，标上编号，抽取产品时最好保证产品质量特性测量值覆盖该特性值整个公差范围,另注意检验人员应无法看到产品编号，以保证盲测。

每一检验员对同一产品的同一特性重复测量2~3次,将测量结果记录在QR/HC20423-012A《量具重复性和再现性数据表》中。

根据《量具重复性和再现性数据表》中的数据作《量具重复性和再现性X-R控制图》,并判读，判读规则如下：

a)、极差图判读参照《SPC（统计过程控制）应用方法》控制图判读规则；

b)、均值图：在控制限内的点代表测量误差，如果一半或更多的平均值落在极限之外，则该

测量系统足以检查出产品之间差异，测量系统有效分辨率足够，该测量系统可以提供过程控制、过程能力分析有用的数据，当一半以下落在控制限外，则测量系统不足以检查出产品之间差异，不能用于过程控制及过程能力分析。

负责组织测量系统分析的人员,依照《量具重复性和再现性数据表》和质量特性规格,按标准规定的格式出具QR/HC20423-013A《量具重复性和再现性报告》。

结果分析

重复性与再现性比较分析

A、

如果重复性(EV)比再现性(AV)大，原因可能是：

——量具需要维修；

——应重新设计量具使其更精密；

——应改进量具的夹紧或定位装置；

——产品变差太大。

B、

如果再现性(AV)大于重复性(EV)，则可能存在以下原因：

——需要对检验员进行如何使用量具和读数的培训；

——量具表盘上的刻度值不清楚；

——可能需要某种形式的夹具来帮助检验员更为一致地使用量具。

&R接受准则

%EV、%AV、%R&R三个误差都<10%——测量系统可接受;

%EV、%AV、%R&R三个误差在10%到30%之间——测量系统可能被接受，依据量具的重要性、量具成本以及修理费用而定。

%EV、%AV、%R&R三个误差有一个超过30%——测量系统不能接受,需要改进，应努力找到问题所在并纠正。

计数型测量系统分析（小样法）

任取同一型号的产品20件(应包括有合格及不合格的产品)并予以编号,编号不可让检验员知道,也不可让他们知道正在做测量系统分析,以保证盲测。

选择两位检验员分为A、B。

由这两位检验员测量所有产品两次，并将测量结果记录于QR/HC20423-014A《计数型量具检验记录表》，合乎规格界线的零件则填入“YES”，反之则填入“NO”。

结果判读

A、若测量结果（每只产品四个数据）相同，则测量系统被接受。

B、若测量结果不一致，则此测量系统须被改进或再评价。

C、若测量系统不能被改进，则不能被接受，应寻求替代的测量系统。

计数型测量系统只能指出产品是好是坏，不能指出产品好坏程度。

测量系统分析方法适用性的确定

新产品开发时, 测量系统采用线性、重复性、再现性、偏倚分析方法,由分公司(分厂)质检科进行分析；

考虑量具随时间变化的程度,做稳定性分析,由公司计量室进行分析;

每年一次的测量系统五性分析,由公司计量室进行。

6.相关文件

检验、测量和试验设备的控制程序

质量记录的控制程序

1.记录

本办法产生记录按《质量记录的控制程序》进行整理、保存、归档。

记录为：

《量具稳定性分析报告》

《量具偏倚分析报告》

《量具线性分析报告》

《量具重复性和再现性极差法分析记录表》

《量具的重复性和再现性数据记录表》

《量具重复性和再现性X-R控制图》

《量具的重复性和再现性报告》

《计数型量具检验记录表》

8.附件 :《控制图的常数和公式表》

MSA培训资料--第四版

2011-3-21 Measurement Systems Analysis 主讲：品冠顾问陈远景 TS对测量系统分析的要求1测量系统分析的重要性2测量基础术语及知识3测量系统误差来源及影响4测量系统主要统计特性5测量系统研究准备6计量型测量系统分析方法7计数型测量系统分析方法8课程主要内容第四版MSA主要变化 9

TS对测量系统分析的要求 ?7.6.1 测量系统分析为分析各种测量和试验设备系统得出的结果中呈现的变差，应进行统计研究。此要求应适用于控制计划中提及的测量系统。所使用的分析方法及接受准则应符合顾客关于测量系统分析的参考手册的要求。如果得到顾客的批准，也可使用其他分析方法和接受准则。 ?测量系统分析与控制计划及APQP的关系控制计划中“评价及测量技术”栏目中所体现的测量和试验系统都必须进行测量系统分析。APQP的小组准备工作中，项目进度策划应考虑所需的测量系统分析，过程设计和开发阶段（第三阶段）应确定测量系统分析计划，产品和过程确认（第四阶段）应按计划进行所需的测量系统评价。 ?测量系统分析与PPAP的关系 PPAP要求对新的或改进后的量具、测量、试验系统进行分析。保存并在客户要求时提交。 ?测量系统分析与SPC的关系进行SPC研究的测量系统应在进行SPC研究前进行测量系统分析，且结果须符合接受准则。 ?测量系统分析与FMEA的关系 FMEA中未体现对测量系统分析的要求。 2011-3-23?测量系统分析与APQP的关系

2011-3-25?测量系统分析与APQP的关系测量系统分析的重要性测量数据的作用： ?用于判定产品的符合性（控制用测量系统）； ?用于判定过程是否稳定（分析用测量系统）； ?对过程进行调整的依据； ?通过回归分析（或分析研究法）确定两个或两个以上变量是否存在重要关系的依据。测量数据质量（偏倚和变差）低的危害：数据质量定义：测量系统稳定运行情况下，利用多次测量结果的统计特性来评价(与参考值越接近则数据质量越高）。 ?错误地判定产品的符合性； ?错误地判定过程的稳定性(如掩盖过程的变差，即产生α，β风险）； ?错误地对过程进行调整； ?错误地得出变量之间的重要关系。拆错定时炸弹线后果预测错是否有地震后果

离散控制系统分析方法

实验二离散控制系统分析方法一、实验目的利用MATLAB 对各种离散控制系统进行时域分析。二、实验指导 1．控制系统的稳定性分析由前面章节学习的内容可知，对线性系统而言，如果一个连续系统的所有极点都位于s 平面的左半平面，则该系统是一个稳定系统。对离散系统而言，如果一个系统的全部极点都位于z 平面的单位圆内部，则该系统是一个稳定系统。一个连续的稳定系统，如果所有的零点都位于s 平面的左半平面，即所有零点的实部小于零，则该系统是一个最小相位系统。一个离散的稳定系统，如果所有零点都位于z 平面的单位圆内，则称该系统是一个最小相位系统。由于Matlab 提供了函数可以直接求出控制系统的零极点，所以使用Matlab 判断一个系统是否为最小相位系统的工作就变得十分简单。 2．控制系统的时域分析时域分析是直接在时间域对系统进行分析。它是在一定输入作用下，求得输出量的时域表达式，从而分析系统的稳定性、动态性能和稳态误差。这是一种既直观又准确的方法。 Matlab 提供了大量对控制系统的时域特征进行分析的函数，适用于用传递函数表示的模型。其中常用的函数列入表1，供学生参考。例1．z z z H 5.05 .1)(2+= 试绘出其单位阶跃响应及单位斜波输入响应。解：为求其单位阶跃响应及单位斜波输入响应，编制程序如下： num=[1.5]; den=[1 0.5 0];sysd=tf(num,den,0.1) [y,t,x]=step(sysd);

subplot(1,2,1) plot(t,y); xlabel('Time-Sec'); ylabel('y(t)'); gtext('单位阶跃响应') grid; u=0:0.1:1; subplot(1,2,2) [y1,x]=dlsim(num,den,u); plot(u,y1) xlabel('Time-Sec'); ylabel('y(t)'); gtext('单位速度响应') grid 二、实验内容 1、MATLAB在离散系统的分析应用对于下图所示的计算机控制系统结构图1，已知系统采样周期为T=0.1s，被控对象的传递函数为 2 () s(0.11)(0.05s1) G s s = ++ ，数字控制器 0.36 () 0.98 z D z z - = + ，试求该系统的闭环脉冲传递函数和单位阶跃响应。图1 计算机控制系统结构图实验步骤： 1）.求解开环脉冲传递函数，运用下面的matlab语句实现：>> T=0.1; >> sys=tf([2],[0.005 0.15 1 0]); %将传函分母展开>> sys1=c2d(sys,T,'zoh'); >> sys2=tf([1 -0.36],[1 0.98],0.1); >> sys3=series(sys2,sys1) 执行语句后，屏幕上显示系统的开环脉冲传递函数为： sys3 = 0.03362 z^3 + 0.05605 z^2 - 0.01699 z - 0.002717 --------------------------------------------------

MSA作业指导手册

测量系统分析（M S A）作业指导书测量系统分析（M S A）作业指导书文件编号：RL/WI010 共页编制/日期：审核/日期：批准/日期：版本号：A 受控状态：发放代码：一汽四环制泵附件厂

2007年3月20日生效目录二、参考文件.......................................................... 三、术语.............................................................. 四、测量系统分析...................................................... （一）分析的原则...................................................... （二）稳定性分析...................................................... （三）偏倚分析........................................................ （四）线性分析........................................................ （五）双性（GRR或R&R）分析........................................... （六）计数型量具的测量系统分析........................................

一、目的为公司各类简单的计量型、计数型量具的测量系统分析提供指导。二、参考文件测量系统分析参考手册第三版三、术语 1、Procedure）、环境（E） 2、测量系统：对测量单元进行量化或对被测的特性进行评估，所使用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合。 3、分辨力：测量装置和标准的测量解析度、刻度限制、或最小可检出的单位。与最小可读单位研究，即通常所说的最小刻度值，但当仪器刻度较粗略时，允许将最小刻度值估读为原来的一半作为仪器的可视分辨力。 4、重复性：当测量条件已被确定和定义——在确定的零件、仪器、标准、方法、操作者、环境和假设之下，测量系统内部的变差。 5、再现性：传统上将再现性称为“评价人之间”的变差（AV）。指的是不同评价人使用相同的仪器对同一产品上的同一特性，进行测量所得的平均值的变差。但对于操作者不是变差的主要原因的测量过程，上述说法是不正确的。ASTM的定义为：现现性是指测量的系统之间或条件之间的平均值变差。它不但包括评价人的变差，同时还可能包括：量具、试验室及环境的不同，除此之外，还包括重复性。

测量系统分析方法82638

测量系统分析(MSA)方法测量系统分析(MSA)方法**** 1.目的对测量系统变差进行分析评估，以确定测量系统是否满足规定的要求，确保测量数据的质量。 2.范围适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。 3.职责质管部负责测量系统分析的归口管理; 公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析; 各分公司(分厂)质检科负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。 4.术语解释测量系统(Measurement system)：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操作人员的集合，用来获得测量结果的整个过程。偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。稳定性(Stability):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量平均值总变差,即偏倚随时间的增量。重复性：重复性（Repeatability）是指由同一位检验员,采用同一量具,多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。再现性: 再现性(Reproductivity) 是指由不同检验员用同一量具，多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量平均值的变差。分辨率（Resolution）:测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。可视分辨率（Apparent Resolution）:测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为。有效分辨率（Effective Resolution）:考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长度将制造过程变差（6δ）（或公差）划分的等级数量来表示。关于有效分辨率，在99%置信水平时其标准估计值为GR&R。分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析，也不知道所测为那一只产品的条件下,获得的测量结果。计量型与计数型测量系统:测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述,这样的测量系

MSA测量系统分析参考手册(doc 204页)

内部资料严禁翻印测量系统分析参考手册第三版 1990年2月第一版 1995年2月第一版；1998年6月第二次印刷 2002年3月第三版 ?1990?1995?2002版权由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有

测量系统分析参考手册第三版 1990年2月第一版 1995年2月第一版；1998年6月第二次印刷 2002年3月第三版 ?1990?1995?2002版权由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有

本参考手册是在美国质量协会（ASQ）及汽车工业行动集团（AIAG）主持下，由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司供方质量要求特别工作组认可的测量系统分析（MSA）工作组编写，负责第三版的工作组成员是David Benham（戴姆勒克莱斯勒）、Michael Down （通用）、Peter Cvetkovski（福特），以及Gregory Gruska（第三代公司）、Tripp Martin（FM 公司）、以及Steve Stahley（SRS技术服务）。过去，克莱斯勒、福特和通用汽车公司各有其用于保证供方产品一致性的指南和格式。这些指南的差异导致了对供方资源的额外要求。为了改善这种状况，特别工作组被特许将克莱斯勒、福特和通用汽车公司所使用的参考手册、程序、报告格式有及技术术语进行标准化处理。因此，克莱斯勒、福特和通用汽车公司同意在1990年编写并以通过AIAG分发MSA手册。第一版发行后，供方反应良好，并根据实际应用经验，提出了一些修改建议，这些建议都已纳入第二版和第三版。由克莱斯勒、福特和通用汽车公司批准并承认的本手册是QS-9000的补充参考文件。本手册对测量系统分析进行了介绍，它并不限制与特殊生产过程或特殊商品相适应的分析方法的发展。尽管这些指南非覆盖测量系统通常出现的情况，但可能还有一些问题没有考虑到。这些问题应直接向顾客的供方质量质量保证（SQA）部门提出。如果不知如何与有关的SQA部门联系，在顾客采购部的采购员可以提供帮助。 MSA工作组衷心感谢：戴姆勒克莱斯勒汽车公司副总裁Tom Sidlik、福特汽车公司Carlos Mazzorin，以及通用汽车公司Bo Andersson的指导和承诺；感谢AIAG在编写、出版、分发手册中提供的帮助；感谢特别工作组负责人Hank Gryn（戴姆勒克莱斯勒）、Russ Hopkins （福特）、Joe Bransky（通用），Jackie Parkhurst（通用（作为代表与ASQ及美国试验与材料协会（国际ASTM）的联系。编写这本手册以满足汽车工业界的特殊需要。戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司于2002后取得了本手册的版权和所有权。如果需要，可向AIAG订购更多的本手册，和/或在得到AIAG的许可下，复制本手册的部分内容，在各供方组织内使用。（AIAG联系电话：248-358-3570）。 2002年3月

matlab入门学习-06控制系统的分析方法

CH4、控制系统的分析方法早期的控制系统分析过程复杂而耗时，如想得到一个系统的冲激响应曲线，首先需要编写一个求解微分方程的子程序，然后将已经获得的系统模型输入计算机，通过计算机的运算获得冲激响应的响应数据，然后再编写一个绘图程序，将数据绘制成可供工程分析的响应曲线。 MATLAB控制系统工具箱和SIMULINK辅助环境的出现，给控制系统分析带来了福音。控制系统的分析包括系统的稳定性分析、时域分析、频域分析及根轨迹分析。

第一节控制系统的稳定性分析一、系统稳定及最小相位系统判据 ?对于连续时间系统，如果闭环极点全部在S平面左半平面，则系统是稳定的。 ?对于离散时间系统，如果系统全部极点都位于Z平面的单位圆内，则系统是稳定的。 ?若连续时间系统的全部零极点都位于S左半平面；或若离散时间系统的全部零极点都位于Z平面单位圆内，则系统是最小相位系统。

二、系统稳定及最小相位系统的判别方法 1、间接判别（工程方法）劳斯判据：劳斯表中第一列各值严格为正，则系统稳定，如果劳斯表第一列中出现小于零的数值，系统不稳定。胡尔维茨判据：当且仅当由系统分母多项式构成的胡尔维茨矩阵为正定矩阵时，系统稳定。 2、直接判别 MATLAB提供了直接求取系统所有零极点的函数，因此可以直接根据零极点的分布情况对系统的稳定性及是否为最小相位系统进行判断。

例exp4_1.m 已知某系统的模型如右所示： []u x y u x x 7165210016127 5874036221 21+-=????????????-+????????????---= 要求判断系统的稳定性及系统是否为最小相位系统。例exp4_2.m 系统模型如下所示，判断系统的稳定性，以及系统是否为最小相位系统。 11221171494528110142841163)(234562 3+++++++++=s s s s s s s s s s G

分析MSA测量系统的方法

第一章通用测量系统指南 MSA目的：。选择各种方法来评定测量系统的质量．．．．．．．．．受控：量具、仪器、检测人员、程序、软件活动：测量、分析、校正适用范围：用于对每一零件能重复读数的测量系统。测量和测量过程： 1)赋值给具体事物以表示它们之间关于特殊特性的关系； 2)赋值过程定义为测量过程； 3)赋予的值定义为测量值； 4)测量过程看成一个制造过程，它产生数字（数据）作为输出。量具：任何用来获得测量结果的装置；经常用来特指在车间的装置；包括用来测量合格／不合格的装置。

测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件、以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。测量变差： ●多次测量结果变异程度； ●常用σm表示； ●也可用测量过程过程变差R&R表示。注： a.测量过程（数据）服从正态分布； b.R&R=5.15σm 测量系统质量特性： ●测量成本； ●测量的容易程度； ●最重要的是测量系统的统计特性。常用统计特性： ●重复性（针对同一人，反映量具本身情况） ●再现性（针对不同人，反映测量方法情况） ●稳定性 ●线性（针对不同尺寸的研究）

注：对不同的测量系统可能需要有不同的统计特性（相对于顾客的要求）。测量系统对其统计特性的基本要求： ●测量系统必须处于统计控制中； ●测量系统的变异必须比制造过程的变异小； ●变异应小于公差带； ●测量精度应高于过程变异和公差带两者中精度较高者（十分之一）； ●测量系统统计特性随被测项目的改变而变化时，其最大的变差应小于过程变差和公差带中的较小者。评价测量系统的三个问题： ●有足够的分辨力；（根据产品特性的需要） ●一定时间内统计上保持一致（稳定性）； ●在预期范围（被测项目）内一致可用于过程分析或过程控制。（线性）评价测量系统的试验： ●确定该测量系统是否具有满足要求的统计特性； ●发现哪种环境因素对测量系统有显著的影响； ●验证统计特性持续满足要求（R&R）。程序文件要求：

控制系统的工作过程及方式

控制系统的工作过程与方式一、教学目标 1.通过案例分析，归纳控制系统的基本特征； 2.了解开环控制和闭环控制的特点； 3.分析典型案例，熟悉简单的开环控制系统的基本组成和简单的工作过程 4.学会用框图来归纳控制系统实例的基本特征，逐步形成理解和分析简单开环和闭环控制系统的一般方法二、教学内容分析本节是“控制与设计”第二节的内容，其内容包括“控制系统”、“开环控制系统与闭环控制系统的组成及其工作过程”是学生在学习控制在我们的生活和生产中的应用后，进一步学习有关控制系统的组成、工作方式以及两种重要的控制系统：开环控制和闭环控制，并熟悉它们工作原理和作用。生活中不乏简单控制系统的应用，人们对此往往象看待日出日落一类自然景色般的习以为常。本部分内容的学习，正是要引导学生，从技术的角度、用控制的思维看周围的存在，分析其道理，理解其基本的组成和工作过程。本课教学内容，从学生生活经验出发，从实例分析入手，归纳出对控制系统的一般认识，以及根据控制系统方式分类的开环控制系统和闭环控制系统两类，并侧重对开环控制系统的工作过程、方框图、重要参数进行分析。本课要解决的重点是：开环控制系统的工作过程分析，用方框图描述开环控制系统的工作过程。三、学习者分析学生在前面的学习中已经学习和分析了控制在生活生产中的应用，获得了有关控制及其应用的初步感性认识和体验，但是对控制的基本工作方式和工作机理还缺乏了解，他们对进一步了解控制系统的知识是有探究的欲望的。结合前面的应用案例分析，进一步分析案例中控制是如何工作的，以及有怎样的工作方式，是学生学习的最近发展区。四、教学策略： 1. 教法：本章的教学结合具体的教学内容和目标我们采用“案例情景—机理分析—总结归纳－认识提升”的模式展开。在教学中把知识点的教与学置于具体的案例情景当中，通过丰富而贴近生活的案例使学生从生活体验到理性分析的思维升华过程。同时关注学生能否用不同的语言表达、交流自己的体验和想法。通过富有吸引力的现实生活中的问题，使学生回想和体会控制系统的工作过程，激发学生的好奇心和主动学习的欲望。让学生本着“回想—分析—联想—猜想”的思维过程，对教学内容进行步步展开，使学生亲历自主探索和思维升华的过程。 2. 学法：鼓励学生自主探究和合作交流，引导学生自主观察、总结，在与他人的交流中丰富自己的思维方式，获得不同的体验和不同的发展。注意引导学生体会控制系统的工作过程和方式，特别是引导学生会学用系统框图来抽象概括控制系统、帮助分析和理解控制系统的组成及其工作过程的方法五、教学资源准备多媒体设备、相关图片资料、技术试验工具、材料等

测量系统分析.standard

测量系统分析（MSA）第一章通用测量系统指南第一节引言、目的和术语一．引言 1．测量数据的作用： ①测量数据和统计量与过程统计控制限值进行比较，确定过程是否调整。 ②确定每个变量间是否存在函数关系。 2．测量数据的质量： ①测量值与特性标准值“接近”——质量“高”。测量值远离特性标准值——质量“低”。 ②数据质量好坏的表现 a．偏倚——指数据相对标准值的位置。 b．方差——指数据的分布。二．目的：为评定测量系统提供可选择的方法三．术语 1．量具——任何用来获得测量结果的装置，经常用来特指用在车间的装置：包括用来测量合格不合格的装置。 2．测量系统——用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、操作、标准、夹具、方法、软件、人员、环境和假设的集合。 3．测量——赋值给具体事物以表示它们之间关于特定特性的关系。第二节测量过程

——过程应该做什 ——什么能导致错误 ——过程在做什么规范和工程要求规定过程应该做什么。通过评价过程结果或参数，可获得过程正在做什么的知识，这种活动通常称为检验。其基本特性包括: 1)足够的分辨力和灵敏度。 2)测量系统是应该统计受控制的。即测量系统的变差只能是由于普通原因而不是特殊原因造成。 3)对于产品控制，测量系统的变异性应小于公差带。 4) 对于过程控制，测量系统变异小于制造过程变异。测量精度应高于过程变异和公差带。测量系统统计特性可能随被测项目改变而变化。第三节标准一．分类最高标准——国家标准。第一级标准——国家标准传递到下一级的标准。第二级标准——第一级标准传递到下一级的标准,也称公司标准。工作标准——用来校准生产设备中建立的测量系统。（也称生产标准）。标准追溯性——通过一个不间断的比较链，可将单个测量结果与国家标准相联系。二．使用：可追溯标准的使用有助于减少生产者和顾客间测量结果不一致时产生的矛盾。

离散控制系统分析方法

实验二离散控制系统分析方法一、实验目的利用MATLAB对各种离散控制系统进行时域分析。二、实验指导 1．控制系统的稳定性分析由前面章节学习的内容可知，对线性系统而言，如果一个连续系统的所有极点都位于s平面的左半平面，则该系统是一个稳定系统。对离散系统而言，如果一个系统的全部极点都位于z平面的单位圆内部，则该系统是一个稳定系统。一个连续的稳定系统，如果所有的零点都位于s平面的左半平面，即所有零点的实部小于零，则该系统是一个最小相位系统。一个离散的稳定系统，如果所有零点都位于z平面的单位圆内，则称该系统是一个最小相位系统。由于Matlab提供了函数可以直接求出控制系统的零极点，所以使用Matlab判断一个系统是否为最小相位系统的工作就变得十分简单。 2．控制系统的时域分析时域分析是直接在时间域对系统进行分析。它是在一定输入作用下，求得输出量的时域表达式，从而分析系统的稳定性、动态性能和稳态误差。这是一种既直观又准确的方法。 Matlab提供了大量对控制系统的时域特征进行分析的函数，适用于用传递函数表示的模型。其中常用的函数列入表1，供学生参考。

例1．z z z H 5.05 .1)(2+= 试绘出其单位阶跃响应及单位斜波输入响应。解：为求其单位阶跃响应及单位斜波输入响应，编制程序如下： num=[1.5]; den=[1 0.5 0];sysd=tf(num,den,0.1) [y,t,x]=step(sysd); subplot(1,2,1) plot(t,y); xlabel('Time-Sec'); ylabel('y(t)'); gtext('单位阶跃响应') grid; u=0:0.1:1; subplot(1,2,2) [y1,x]=dlsim(num,den,u); plot(u,y1) xlabel('Time-Sec'); ylabel('y(t)'); gtext('单位速度响应') grid 二、实验内容 1、MATLAB 在离散系统的分析应用对于下图所示的计算机控制系统结构图1，已知系统采样周期为T=0.1s ，被

测量系统分析(MSA)

测量系统分析（MSA） 1目的和围规测量系统分析，明确实施方法、步骤及对数据的处理、分析。 2规性引用文件无 3定义 3.1测量系统：用来对测量单元进行量化或对被测的特性进行评估，其所使用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合；也就是说，用来获得测量结果的整个过程。 3.2稳定性：是测量系统在某持续时间测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。稳定性是整个时间的偏倚的变化。 3.3分辨率：为测量仪器能够读取的最小测量单位。别名：最小读数单位、刻度限度、或探测度、分辨力；要求低于过程变差或允许偏差（tolerance）的十分之一。Minitab中常用的分辨率指标：可区分的类别数ndc=(零件的标准偏差/ 总的量具偏差)* 1.41，一般要求它大于等于5才可接受，10以上更理想。 3.4过程总波动TV=6σ。σ——过程总的标准差 3.5准确性（准确度）：测量的平均值是否偏离了真值，一般通过量具计量鉴定或校准来保证。 3.5.1真值：理论正确值，又称为：参考值。 3.5.2偏倚：是指对相同零件上同一特性的观测平均值与真值的差异。%偏倚=偏倚的平均绝对值/TV。 3.5.3线性：在测量设备预期的工作量程，偏倚值的差值。用线性度、线性百分率表示。 3.6精确性（精密度）：测量数据的波动。测量系统分析的重点，包括：重复性和再现性 3.6.1重复性：是由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。重复性又被称为设备波动（equipment variation，EV）。 3.6.2再现性：是由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。再现性又被称为“评价人之间”的波动（appraiser waration，AV）。 3.6.3精确性%公差（SV/Toler），又称为%P/T：是测量系统的重复性和再现性波动与被测对象质量特性 σ/ (USL-LSL) *100%。公差之比，%P/T=R&R/(USL-LSL)*100%=6 MS σ/6σ*100%。 3.6.4精确性%研究变异（%Gage R&R、%SV）= R&R/TV*100%=6 MS 线性

MSA分析管理规定

MSA分析管理规定 1．目的本程序的目的是评价测量系统的适用性，保证满足产品特性的测量需求。 2．范围本程序适用于公司控制计划中要求的和/或顾客要求的所有测量设备的测量系统分析。 3．引用文件《质量记录控制程序》 4．术语和定义 MSA：指Measurement Systems Analysis（测量系统分析）的英文简称。测量系统：指用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。偏移（准确度）：指测量结果的观测平均值与基准值的差值。一个基准值可通过采用更高级别的测量设备（如：全尺寸检验设备）进行多次测量，取其平均值来确定。重复性：指由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。再现性：指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。稳定性：指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一性时获得的测量值总变差。线性：指在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。盲测：指测量系统分析人员将评价的零件予以编号，然后要求评价人以随机抽样方式进行测量，且评价人之间的测量结果不能相互看到或知道。 5．职责 5．1测量系统分析计划制定：质量部。 5．2 测量系统分析所需涉及到的产品测量工作和数据的收集：使用单位。 5．3 数据收集后之测量设备的测量系统分析工作：质量部。 5．4 测量设备的测量系统分析之结果评价和审查：新产品项目组。 6.工作内容 6.1在控制计划中选择和配备的量具分辨率应达到公差的十分之一或过程变差的十分之一的要求。 6.2试生产阶段，凡控制计划中规定的或顾客要求的测量设备均需进行测量系统分析。同时包括： 6.2.1新购和更新的检验、测量和试验设备用于控制计划中的量具。 6.2.2用于控制计划中的检验、测量和试验设备的位置移动，并经重新校准。 6.2.3用于控制计划中的检验、测量和试验设备经周期检定不合格，通过修理并经重新校准合格的量具。

光谱分析培训资料

光谱分析培训资料 2０06年9月

原子吸收光谱分析培训资料说明:以下内容仅是该类检测人员需要掌握的最基本知识，还涉及到的理论知识需用业余时间学习,实际经验需在操作中去积累。有关实验室认可内容将以质量手册和程序文件为依据进行专题培训。理论知识一、原子吸收光谱分析的基本原理 1.原理：原子吸收分光光度法，又称原子吸收光谱法，是基于从光源发出的被测元素特征辐射通过元素的原子蒸气时被其基态原子吸收，由辐射的减弱程度测定元素含量的一种现代仪器分析方法2.分类：通常分为2类 a）．火焰原子吸收分析：由火焰将试样分解成自由原子。 b）.石墨炉无火焰原子吸收分析:依靠电加热的石墨管将试样气化及分解。 3.优点: a).检出限低。可达ｎg.mｌ-1级。 b).选择性好,原子吸收光谱是元素的固有特征。ｃ).精密度高,相对标准偏差达到1%没有困难,最好可以达到0.3%或更好。 d).抗干扰能力强,一般不存在共存元素的光谱干扰。干扰主要来自化学干扰。 e)．分析速度快，使用自动进样器,每小时测定几十个样品没有任何困难。 f).应用范围广,可分析周期表中绝大多数的金属与非金属元素。 g）.进样量小,一般进样量3～6ml.ｍｉn-1 h）.仪器设备相对简单，操作简便。４.不足：主要用于单元素的定量分析，标准曲线的动态范围通常小于２个数量级。二、原子吸收光谱分析的定量方法吸光度与试样中被测元素含量成正比

A=Ｋｃ（Ａ—吸光度；c—被测元素的含量；）常用的定量方法：有标准曲线法——最基本的定量方法标准加入法浓度直读法。 1．标准曲线法：用标准物质配制标准系列溶液,在标准条件下,测定各标准样品的吸光度值Ai，对被测元素的含量ci。在同样条件下，测定样品的吸光度值Aｘ,根据被测元素的吸光度值Ax，从校正曲线求得其含量ci。 2．标准加入法: 分取几份等量的被测试样，在其中分析加入不等量的被测元素标准溶液,依次在标准条件下测定它们的吸光度值，制作吸光度值对加入量的校正曲线,用外推法求得样品溶液的浓度3．浓度直读法: 在标准曲线为直线的浓度范围内，先用一个标样定标，通过标尺扩展,将测定吸光度值调整为浓度值，以后测定试样时直接得到它的浓度值。三、原子吸收光谱仪的组成光源原子化器、氢化物发生器分光系统检测系统 1．光源——空心阴极灯:由待测元素本身或其合金制成，内充惰性气体。 2．火焰原子化器：由雾化器、雾化室及燃烧器三部分组成ａ). 雾化器:通过毛细管由气流的负压吸入溶液,并将溶液分散成非常细的雾滴。ｂ). 雾化室:预混室,燃气、助燃气、分散雾滴在此充分地混合均匀。ｃ)．燃烧器：用于混合气燃烧之用。一般是单缝燃烧器。我们所使用的是空气乙炔火焰燃烧器与氧化亚氮乙炔燃烧器。 3．氢化物发生器:用于易形成氢化物的元素测定,As、Sｅ、Sb、Ｈｇ元素４．光学系统:单色器,分单光束与双光束。５．检测系统：接收被火焰吸收后信号输入到光电倍增管，变成电讯号，最后经过转换由记记录

MSA管理规定

1.0[目的] 规范测量系统分析评价的方法，找出测量系统的变差及引起变差的原因，采取措施，消除特殊原因，改进测量系统，以减少测量的变差。 2.0[范围] 适用于车载产品测量系统的分析。 3.0[职责] 3.1由检查技术课规定MSA的使用范围与频次。 3.2由检查技术课制定MSA分析计划，并按计划与相关人员共通执行。 3.3相关部门根据MSA分析计划提供测量数据，由检查技术课分析并提供分析结果。 4.0[定义] 4.1测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合，包括用来获得测量结果的整个过程。 4.2测量：赋值给具体事物以表示它们之间关于特殊特性的关系。 4.3量具：任何用来获得结果的装置；经常用来特指用在车间的装置；包括用来测量合格/不合格的装置。 4.4重复性(Repeatability) 4.4.1指一个评价人,采用一种监测设备,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差； 4.4.2是在固定的和已定义的测量条件下，连续(短期内)多次测量中的变差； 4.4.3通常被称为E.V —设备变差(Equipment Variation)； 4.4.4设备(量具)能力或潜能； 4.4.5系统内部变差。 4.5再现性(Reproducibility) 4.5.1指由不同的评价人,采用相同的监测设备,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差； 4.5.2在对产品和过程进行鉴定时，误差可能是评价人、环境(时间)、或方法； 4.5.3通常被称为A.V—评价人变差(Appraiser Variation)； 4.5.4系统之间(条件)的误差。 4.6偏倚(Bias) 4.6.1观测到测量值的平均值与参考值之间的差值； 4.6.2是测量系统的系统误差所构成. 4.7稳定性(Stability) 4.7.1随时间变化的偏倚值； 4.7.2一个稳定的测量过程在位置方面是处于统计上受控状态； 4.7.3指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。 4.8线性(Linearity)在 4.8.1在量具正常工作量程内的偏倚变化量； 4.8.2多个独立的偏倚误差在量具工作量程内的关系； 4.8.3是测量系统的系统误差所构成。

测量系统分析方法

1. 目的对测量系统变差进行分析评估，以确定测量系统是否满足规定的要求，确保测量数据质量。 2. 范围适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。 3.职责 3.1质管部负责测量系统分析的归口管理; 3.2公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析; 3.3各分公司(分厂)质检科负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。 4.术语解释 4.1测量系统(Measurement system)：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操作人员的集合，用来获得测量结果的整个过程。 4.2偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。 4.3稳定性(Stability):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量平均值总变差,即偏倚随时间的增量。 4.4重复性：重复性（Repeatability）是指由同一位检验员,采用同一量具,多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。 4.5再现性: 再现性(Reproductivity) 是指由不同检验员用同一量具，多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量平均值的变差。 4.6分辨率（Resolution）:测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。 4.7可视分辨率（Apparent Resolution）:测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为0.02mm。 4.8有效分辨率（Effective Resolution）:考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长度将制造过程变差（6δ）（或公差）划分的等级数量来表示。关于有效分辨率，在99%置信水平时其标准估计值为1.41PV/GR&R。 4.9分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。 4.10盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析，也不知道所测为哪一只产品的条件下,获得的测量结果。

测量系统分析指导书

测量系统分析指导书 1目的本规定具体明确进行“测量系统分析”的方法，以确定测量系统是否具有恰当的统计特性，并根据对研究结果的分析来评估所使用的量具或设备的测量能力是否能达到预期的要求。 2 适用范围：本规定适用于由控制计划规定的量具或测试设备并指出其相对应的关键特性。 3 术语或缩语 3.1重复性Repeatability：是用一个评价人，使用相同测量仪器，对同一零件上的同一特性进行多次测量所得到的测量变差。 3.2再现性Reproducibility：是用不同的评价人，使用相同的测量仪器，对同一零件上的同一特性进行测量所得的平均值的变差。 3.3重复性和再现性（GRR）：测量系统重复性和再现性联合估计值。 3.4Cg：检具能力指数。 4 程序 4.1流程图

4.2 职责 4.2.1 质量保证部负责对本工作规定的建立，保持和归口管理。 4.2.2 使用部门按控制计划要求，编制测量系统分析计划，上报质量保证部批准，使用部门准备样件，实施，提供报告。质量保证部负责结果评价。 4.2.3 人力资源部负责人员培训。 4.2.4 量具使用部门归档保存相应记录。 5 测量系统分析: 5.1 根据客户的要求来确定MSA，现场使用的计量器具，用于大众产品用Cg值来评估，用于通用的产品的用GRR来评估，其余的产品根据客户要求来定，客户无要求的采用GRR分析。 5.2 计量仪器的MSA，采用GRR来分析。测量仪器按对应的测量产品来做评估，但对同一大类的产品，同一种工艺允许只选取一种零件作为代表性的来做GRR分析。 5.2.1 CMM的MSA，可从控制计划中选取具有代表性的零件进行，项目包括位置尺寸、几何尺寸进行GRR分析。 5.2.2 齿轮测量中心的MSA，可根据齿轮加工特性，选取对最终的齿轮精度有影响加工工艺（如插齿、剃齿、珩齿、磨齿、成品）进行GRR分析。项目选取：周节累积误差、相邻齿距误差、平均齿向角度误差、平均齿形角度误差。 5.2.3 圆柱度仪的MSA，在控制计划中涉及到使用圆柱度仪的根据加工特性可分为车加工、磨加工和零件特性分为轴类和盘类，对其分别进行圆度、圆柱度和母线平行度的GRR分析。 5.2.4 轮廓仪的MSA，根据加工特性，可在控制计划中选取具有代表性的如倒角、R圆角、距离等进行GRR分析。 5.2.5 粗糙度仪的MSA，按控制计划中规定的项目（Ra、Rz、Rt），每一类评定标准选一种公差小的，分别进行GRR分析。 5.2.6 卡板的MSA，进行GRR分析。 5.3对在控制计划中出现的万能量具，由使用部门按控制计划组织MSA，对同一类万能量具用于同一大类的产品、同一工艺、同一精度允许只选取一种作为代表性的来做GRR分析分析方法，根据客户要求分为GRR和Cg。 5.4 对带表检具全部实施MSA，但对一台多参数专用检具，允许只对最小公差的检测项进行MSA。分析方法根据客户要求分为GRR和Cg。周期为检具六个月。 5.5对卡板、塞规等专用量具，首次使用前由使用部门按控制计划组织MSA，分析方法为计数型。对同一大类的产品、同一工艺、同一精度允许只选取一种作为代表性的来做GRR分析评估。 5.6专用量检具首次使用前应进行MSA。对用于SPC过程控制点的专用量检具需定期做MSA，原则上参照检定周期。

测量系统分析MSA手册教材

内部资料严禁翻印测量系统分析参考手册第三版由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有

MSA测量系统分析参考手册范本

部资料严禁翻印测量系统分析参考手册第三版

1990年2月第一版 1995年2月第一版；1998年6月第二次印刷 2002年3月第三版 ?1990?1995?2002 由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有

前言本参考手册是在美国质量协会（ASQ）及汽车工业行动集团（AIAG）主持下，由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司供方质量要求特别工作组认可的测量系统分析（MSA）工作组编写，负责第三版的工作组成员是David Benham（戴姆勒克莱斯勒）、Michael Down（通用）、Peter Cvetkovski（福特），以及Gregory Gruska（第三代公司）、Tripp Martin（FM 公司）、以及Steve Stahley（SRS技术服务）。过去，克莱斯勒、福特和通用汽车公司各有其用于保证供方产品一致性的指南和格式。这些指南的差异导致了对供方资源的额外要求。为了改善这种状况，特别工作组被特许将克莱斯勒、福特和通用汽车公司所使用的参考手册、程序、报告格式有及技术术语进行标准化处理。因此，克莱斯勒、福特和通用汽车公司同意在1990年编写并以通过AIAG分发MSA手册。第一版发行后，供方反应良好，并根据实际应用经验，提出了一些修改建议，这些建议都已纳入第二版和第三版。由克莱斯勒、福特和通用汽车公司批准并承认的本手册是QS-9000的补充参考文件。本手册对测量系统分析进行了介绍，它并不限制与特殊生产过程或特殊商品相适应的分析方法的发展。尽管这些指南非覆盖测量系统通常出现的情况，但可能还有一些问题没有考虑到。这些问题应直接向顾客的供方质量质量保证（SQA）部门提出。如果不知如何与有关的SQA部门联系，在顾客采购部的采购员可以提供帮助。 MSA工作组衷心感：戴姆勒克莱斯勒汽车公司副总裁Tom Sidlik、福特汽车公司Carlos Mazzorin，以及通用汽车公司Bo Andersson的指导和承诺；感AIAG在编写、出版、分发手册中提供的帮助；感特别工作组负责人Hank Gryn（戴姆勒克莱斯勒）、Russ Hopkins（福特）、Joe Bransky（通用），Jackie Parkhurst（通用（作为代表与ASQ及美国试验与材料协会（国际ASTM）的联系。编写这本手册以满足汽车工业界的特殊需要。戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司于2002后取得了本手册的和所有权。如果需要，可向AIAG订购更多的本手册，和/或在得到AIAG的许可下，复制本手册的部分容，在各供方组织使用。（AIAG联系：248-358-3570）。 2002年3月