数字电路实验讲义

数字电路实验讲义
数字电路实验讲义

实验一KHD-2型数字电路实验装置的使用和

集成门电路逻辑功能的测试

一、实验目的

1.熟悉和掌握KHD-2型数字电路实验装置的使用。

2.熟悉74LS20和74LS00集成门电路的外形和管脚引线。

3.掌握与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门逻辑功能的测试。

二、实验器材及设备

1.KHD-2数字电路实验台

2.4输入2与非门74LS20(1块)

3.2输入4与非门74LS00或CC4011(1块)

三、实验原理

(一)KHD-2型数字电路实验台

KHD-2型数字电路实验台由实验控制屏与实验桌组成。实验控制屏主要由两块单面敷铜印刷线路板与相应电源、仪器仪表等组成。控制屏由两块相同的数电实验功能板组成,其控制屏两侧均装有交流电压220V的单相三芯电源插座。每块实验功能板上均包含以下各部分内容:

1.实验板上装有一只电源总开关及一只熔断器(额定电流为1A)作为短路保护用。

2.实验板上共装有600多个高可靠的自锁紧式、防转、叠插式插座。它们与集成电路插座、镀银针管座以及其他固定器件、线路的连线已设计在印刷线路板上。板正面印有黑线条连接的器件,表示反面已装上器件并接通。

3.实验板上共装有200多根镀银长15mm的紫铜针管插座,供实验时接插小型电位器、电阻、电容、三极管及其他电子器件使用。

4.实验板上装有四路直流稳压电源(±5V、1A及两路0~18V、0.75A可调的直流稳

压电源)。实验板上标有处,是指实验时需用导线将直流电源+5V引入该处,是+5V 电源的输入插口。

5.高性能双列直插式圆集成电路插座18只(其中40P 1只、28P 1只、24P 1只、20P 1只、16P 5只、14P 6只、8P 2只、40P锁紧座1只)。

6.6位十六进制七段译码器与LED数码显示器:每一位译码器均采用可编程器件GAL 设计而成,具有十六进制全译码功能。显示器采用LED共阴极红色数码管(与译码器在反面已连接好),可显示四位BCD十六进制的全译码代号:0、1、2、3、4、5、6、7、8、9、A、B、C、D、E和F。

使用时,只要用锁紧线将+5V在没有BCD码输入时六位译码器均显示“F”。

7.四位BCD码十进制拔码开关组:每一位的显示窗指示出0~9中的任一个十进制数字,在A、B、C、D四个输出插口处输出相对应的BCD码。每按动一次“+”或“ ”键,将顺序地进行加1计数或减1计数。

若将某位拔码开关的输出口A、B、C、D连接在“2”的一位译码显示的输入端口A、B、C、D处,当接通+5V电源时,数码管将点亮显示出与拔码开关所指示一致的数字。

8.十六位逻辑电平输入:在接通+5V电源后,当输入口接入高电平时,所对应的LED 发光二极管点亮;输入口接入低电平时,则熄灭。

9.十六位开关电平输出:提供16只小型单刀双掷开关及与之对应的开关电平输出插口,并由LED发光二极管予以显示。当开关向上拔时,与之相对应的输出插口输出高电平,且其对应的LED发光二极管点亮;当开关向下拔时,相对应的输出口为低电平,则其对应的LED发光二极管熄灭。

使用时,只要开启+5V稳压电源处的分开关,便能正常工作。

10.脉冲信号源:提供两路正、负单次脉冲源;频率1Hz、1kHz、20kHz附近连续可调的脉冲信号源;频率0.5Hz~300kHz连续可调的脉冲信号源。使用时,只要开启+5V直流稳压电源开关,各个输出插口即可输出相应的脉冲信号。

11.五功能逻辑笔:这是一支新型的逻辑笔,它是用可编程逻辑器件GAL设计而成,具有显示五种功能的特点。只要开启+5V直流稳压电源开关,用锁紧线从“输入”口接出,锁紧线的另一端可视为逻辑笔的笔尖,当笔尖点在电路中的某个测试点,面板上的四个指示灯即可显示出该点的逻辑状态:高电平(“高”)、低电平(“低”)、中间电平(“中”)或高阻态(“高阻”);若该点有脉冲信号输出,则四个指示灯将同时点亮,故有五功能逻辑笔之称。

12.该实验板上还设有报警指示两路,按钮两只,一只10k 多精密电位器,两只碳膜电位器,两只晶振,电容两只及音乐片、扬声器、继电器等。

13.板上还设有可装卸的固定线路实验小板的蓝色固定插座四只。

14.为了接线方便,在数电实验板上还设置了一处与+5V直流稳压电源相连的电源输出插口,同时实验装置还附有充足的长短不一的实验专用连接导线两套。

使用注意事项:

1.使用前应先检查各电源是否正常。

2.接线前务必熟悉实验大块板上各单元、元器件的功能及其接线位置,特别要熟知各集成块插脚引线的排列方式及接线位置。

3.实验接线前必须先断开总电源,严禁带电接线。

4.接线完毕,检查无误后,再插入相应的集成电路芯片后方可通电;只有在断电后方可拔下集成芯片,严禁带电插拔集成芯片。

5.在实验过程中,板上要保持整洁,不可随意放置杂物,特别是导电的工具和导线等,以免发生短路等故障。

6.实验完毕,及时关闭电源开关,并及时清理实验板面,整理好连接导线并放置在规定的位置。

7.实验中需了解集成电路芯片的引脚功能及其排列方式时,可查阅教材及相关资料。

(二)与门、非门、与非门、或门、或非门、异或门逻辑功能的测试

1.与门的逻辑表达式为Y=ABCD,其逻辑功能为:输入A、B、C、D皆为“1”时,输出为“1”;输入中有一个是“0”时,输出一定为“0”。

2.非门的逻辑表达式为Y=A,其逻辑功能为:输入A为“1”时,输出Y为“0”;输入A为“0”时,输出为“1”。

3.与非门的逻辑表达式为Y=ABCD,其逻辑功能为:只有输入全为“1”时,输出为“0”;输入有“0”,输出就为“1”。

4.或门的逻辑表达式Y=A+B,其逻辑功能为:输入皆为“0”时,输出为“0”,输入有“1”时,输出为“1”。

5.或非门的逻辑表达式为Y=A+B,其逻辑功能为:只有输入全为“0”时,输出为“1”;只要输入有“1”输出就为“0”。

6.异或门的逻辑表达式为Y=AB AB

,其逻辑功能为:当两个输入端相异,即一个为“0”,另一个为“1”,输出为“1”;当两个输入端均为“0”或均为“1”时,输出为“0”。

四、实验预习要求

1.阅读实验讲义,熟悉KHD-2型数字电路实验装置。

2.复习与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门的逻辑功能特点。

3.阅读实验教程附录,了解74LS00、74LS20和CC4011的管脚引线。

五、实验内容及步骤

1.用74LS20分别测试与非门和与门的逻辑功能。

首先用74LS20分别做出实现与非门和与门的逻辑电路,连接电路并测试其逻辑功能,并将实验结果分别填入表2-1-1和2-1-2中。

2.用74LS00分别测试非门、或门、或非门的逻辑功能。

首先用74LS00分别做出实现与非门、或门和或非门的逻辑电路,连接电路并测试其逻辑功能,并将实验结果分别填入表2-1-3、2-1-4和2-1-5中。

3.用74LS20和74LS00测试异或门的逻辑功能。

用74LS00和74LS20做出实现异或门的逻辑电路,连接电路并测试其逻辑功能,并将实验结果填入表2-1-6中。

六、实验报告

1.将实验结果填入表中,并验证理论值与实验值是否相符合。

2.总结与门、与非门、非门、或门、或非门、异或门的逻辑功能。

3.考虑如何用与非门来实现Y=AB+CD与或逻辑关系,并画出逻辑图。

表2-1-1 与非门逻辑功能测试记录表2-1-2 与门逻辑功能测试记录

表2-1-3 非门逻辑功能测试表2-1-4 或门逻辑功能测试表2-1-5 或非门逻辑功能测试表2-1-6 异或门逻辑功能测试

实验二用与非门构成逻辑电路

一、实验目的

1.熟练掌握逻辑电路的连接并学会逻辑电路的分析方法。

2.熟练掌握逻辑门电路间的功能变换和测试电路的逻辑功能。

二、实验设备及器材

1.KHD-2实验台

2.集成4输入2与非门74LS20(3块)

3.集成2输入4与非门74LS00或CC4011(1块)

三、实验原理

本实验测试用的逻辑图,如图2-2-1所示。

(a)(b)

(c)(d)

图2-2-1 逻辑图

四、实验预习要求

1.进一步熟悉74LS00、74LS20和CC4011的管脚引线。

2.分析图2-2-1(a)、2-2-1(b)、2-2-1(c)、2-2-1(d)的逻辑功能,写出逻辑函数表达式,并作出真值表。

五、实验内容及步骤

1.用1块2输入4与非门74LS00按照图2-2-1(a)接线,测试其逻辑功能,并将结果填入表2-2-1中,并说明该电路的逻辑功能。

2.用1块2输入4与非门74LS00和1块4输入2与非门74LS20按图2-2-1(b)接线,测试其逻辑功能,并将结果填入表2-2-2中,并说明该电路的逻辑功能。

表2-2-1 实验数据表2-2-2 实验数据

3.用1块2输入4与非门74LS00和1块4输入2与非门74LS20按图2-2-1(c)接线,测试其逻辑功能,并将结果填入表2-2-3中,并说明该电路的逻辑功能。

表2-2-3 实验数据表2-2-4 实验数据

4.用1块2输入4与非门74LS00和3块4输入2与非门74LS20按图2-2-1(d)接线,测试其逻辑功能,并将结果填入表2-2-4中,并说明该电路的逻辑功能。

六、实验报告

1.将实验数据整理后填入相关的表格中。

2.分别说明各逻辑电路图所实现的逻辑功能。

实验三组合逻辑电路的设计与测试

一、实验目的

1.掌握组合逻辑电路的设计与测试方法。

2.进一步熟悉常用集成门电路的逻辑功能及使用。

二、实验设备及器材

1.KHD-2实验台

2.4输入2与非门74LS20 (若干)

3.2输入4与非门74LS00或CC4011(若干)

三、实验原理

使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的Array逻辑电路的设计方式。设计组合电路的一般步骤如图

2-3-1所示。

根据设计任务的要求建立输入、输出变量,并列出真

值表。然后用逻辑代数或卡诺图化简法求出简化的逻辑表

达式。并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。根据

简化后的逻辑表达,画出逻辑图,用标准器件构成逻辑电

路。最后,用实验来验证设计的正确性。

四、实验预习要求

1.复习有关组合逻辑电路设计的一般方法及步骤。

2.复习二进制代码、循环码、数值比较器的概念和

其逻辑功能特点。

3.按照实验内容的要求完成设计方案的选择,并画

出逻辑图的设计。

五、实验内容及步骤

1.用与非门设计一个数码转换电路,将一个三位二进制码转换成3位格雷码。即当输入信号为三位二进制代码时其输出为相应的3位格雷码。

要求:

(1)分析逻辑功能,作出真值表,写出逻辑表达式。

(2)简化逻辑表达式,画出逻辑图。

(3)按逻辑图连接逻辑电路并测试其逻辑功能。

2.用与非门设计一个一位的数值比较器,即比较两个一位的二进制数A、B的大小,假定当A>B时,1号灯亮;A

要求:

(1)分析逻辑功能,作出真值表,写出逻辑表达式。

(2)简化逻辑表达式,画出逻辑图。

(3)按逻辑图连接逻辑电路并测试其逻辑功能。

六、实验报告

1.写出实验任务的设计过程,并画出设计的逻辑电路图。

2.对所设计的电路进行实验测试,记录测试结果。

3.写出组合电路设计体会。

附:实验内容参考接线图,如图2-3-2所示。

图2-3-2 参考接线图

实验四译码器和数据选择器的使用

一、实验目的

1.掌握中规模集成译码器的逻辑功能和使用方法。

2.熟悉数码管的使用。

3.掌握中规模集成数据选择器的逻辑功能及使用方法。

二、实验原理

(一)译码器

译码器是一个多输入、多输出的组合逻辑电路。它的作用是把给定的代码进行“翻译”,变成相应的状态,使输出通道中相应的一路有信号输出。译码器在数字系统中具有广泛的用途,不仅用于代码的转换、终端的数字显示,还用于数据分配、存储器寻址和组合控制信号等。不同的功能可选用不同种类的译码器。

译码器可以分为通用译码器和显示译码器两大类。前者又分为变量译码器和数码显示译码器。

1.变量译码器(又称二进制译码器),用以表示输入变量的状态,如2线—4线、3线—8线和4线—16线译码器。若有n个输入变量,则有2n个不同的组合状态,就有2n个输出端供其使用。而每一个输出所代表的函数对应于n个输入变量的最小项。

以3线—8线译码器74LS138为例进行分析,图2-4-1为其引脚排列,表2-4-1为74LS138功能表。

图2-4-1 3线—8线译码器74LS138逻辑图及其引脚排列

其中A 2、A 1、A 0为地址输入端,0Y ~7Y 为译码输出端,1S 、2S 、3S 为使能端。

表2-4-1 74LS138功能表

当1S 1=,23S S 0+=时,器件使能,地址码所指定的输出端有信号(为0)输出,其他所有输出端均无信号(全为1)输出。当1S 0=,23S S +=×时,或1S =×,23S S 1+=时,译码器被禁止,所有输出同时为1。

利用使能端能方便地将两个3线—8线译码器组合成一个4线—16译码器,如图2-4-2所示。

图2-4-2 用2片74LS138组合成4线—16线译码器

2.数码显示译码器

(1)七段发光二极管(LED)数码管

LED数码管是目前最常用的数字显示器,图2-4-3(a),图2-4-3(b)为共阴管和共阳管的电路,图2-4-3(c)为两种不同出线形式的引出脚功能图。

一个LED数码管可用来表示一位0~9十进制数和一个小数点,小型数码管(0.5寸和0.36寸(1寸=3.3cm))每段发光二极管的正向压降,随显示光(通常为红、绿、黄,橙色)的颜色不同略有差别,通常约为2~2.5V,每个发光二极管的点亮电流在5~10mA,LED 数码管要显示BCD码所表示的十进制数字就需要有一个专门的译码器,该译码器不但要完成译码功能,还要有相当的驱动能力。

(a)共阴连接(“1电平驱动”)(b)共阳连接(“0”电平驱动)

(c)符号及引脚功能

图2-4-3 LED数码管

(2)BCD码七段译码驱动器

此类译码器型号有74LS47(共阳)、74LS48(共阴)、CC4511(共阴)等,本实验系采用CC4511BCD码锁存/七段译码/驱动器。驱动共阴极LED数码管。如图2-4-4所示为CC4511引脚排列。

图2-4-4 CC4511引脚排列

其中,A、B、C、D——BCD码输入端;

a、b、c、d、e、f、g——译码输出端,输出“1”有效,用来驱动共阴极LED数码管;

LT——测试输入端,LT=0时,译码输出全为1;

BI——消隐输入端,BI=0时,译码输出全为0;

LE——锁定端,LE=1时译码器处于锁定(保持)状态,译码输出保持在LE=0时的数值,LE=0为正常译码。

表2-4-2为CC4511功能表。CC4511内接有上拉电阻,故只需在输出端与数码管笔段之间串入限流电阻即可工作。译码器还有拒伪码功能,当输入码超过1001时,输出全为0,数码管熄灭。

表2-4-2 CC4511功能表

(续表)

在本数字电路实验装置上已完成了译码器CC4511和数码管BS202之间的连接。实验时,只要接通5V电源并将十进制数的BCD码接至译码器的相应输入端A、B、C、D,即可显示0~9的数字。四位数码管可接收四组BCD码输入。

CC4511与LED数码管的连接如图2-4-5所示。

图2-4-5 CC4511驱动一位LED数码管图

(二)数据选择器

数据选择器又叫“多路开关”。数据选择器在地址码(或叫选择控制)电位的控制下,从几个数据输入中选择一个并将其送到一个公共的输出端。数据选择器的功能类似一个多掷开关,如图2-4-6所示,图中有四路数据D0~D3,通过选择控制信号A1~A0(地址码)从四路数据中选中某一路数据送至输出端Q。

图2-4-6 4选1数据选择器示意图

数据选择器为目前在逻辑设计中应用十分广泛的逻辑部件,它有2选1,4选1,8选1,16选1等类别。

数据选择器的电路结构一般由与或门阵列组成,也有用传输门开关和门电路混合而成的。

1.8选1数据选择器74LSl51

74LSl51为互补输出的8选1数据选择器,引脚排列如图2-4-7所示,功能表如表2-4-3。 选择控制端(地址端)为A 2~A 0按二进制译码,从8个输入数据D 0~D 7中,选择一个需要的数据送到输出端Q ,S 为使能端,低电平有效。

图2-4-7 8选1数据选择器74LS151引脚排列

表2-4-3 74LSl51功能表

当使能端S =1时,不论A 2~A 0状态如何,均无输出(Q=0,Q =1),多路开关被禁止。 当使能端S =0时,多路开关正常工作,根据地址码A 2~A 0的状态选择D 0~D 7中某一个通道的数据输送到输出端Q 。

如 210A A A =000,则选择0D 数据到输出端,即Q=0D 。

210A A A =001,则选择1D 数据到输出端,即Q=1D ,其余类推。 2.双4选1数据选择器74LS153

所谓双4选1数据选择器就是在一块集成芯片上有两个4选1数据选择器。引脚排列如图2-4-8所示,功能如表2-4-4。

图2-4-8 4选1数据选择器74LS153引脚排列 表2-4-4 74LS153功能表

1S 、2S 为两个独立的使能端,1A 、0A 为公用的地址输入端,10D ~13D 和20D ~23

D 分别为两个4选1数据选择器的数据输入端,1Q 、2Q 为两个输出端。 当使能端1S (2S )=1时,多路开关被禁止,无输出,Q=0。

当使能端1S (2S )=0时,多路开关正常工作,根据地址码1A 、0A 的状态,将相应的数据0D ~3D 送到输出端Q 。

如 A 1A 0=00,则选择0D 数据到输出端,即Q=0D 。

A 1A 0=01,则选择1D 数据到输出端,即Q=1D ,其余类推。

数据选择器的用途很多,例如多通道传输、数码比较、并行码变串行码,以及实现逻辑函数等。

三、实验设备与器件

1.KHD -2实验台

2.集成译码器74LSl38(1块) 3.集成显示译码器CC4511(1块)

4.集成数据选择器74LSl51(或CC4512)(1块) 5.集成数据选择器74LSl53(或CC4539)(1块)

四、实验预习要求

1.复习译码器和数据选择选择器的工作原理。

2.认真阅读译码器和数据选择器的真值表,熟悉74LS138、74LS151、74LS153的引脚排列,掌握各使能端的作用。

五、实验内容及步骤

1.数据拔码开关的使用

将实验装置上的四组拔码开关的输出A i 、B i 、C i 、D i 分别接至4组显示译码/驱动器CC4511的对应输入口,LE 、BI 、LT 接至3个逻辑开关的输出插口,接上+5V 显示器的电源,然后按功能表2-4-2输入的要求搬动4个数码的增减键(“+”与“ ”键)和操作LE 、BI 、LT 对应的3个逻辑开关,观察拔码盘上的四位数与LED 数码显示的对应数字是否一致,即译码显示是否正常。

2.74LSl38译码器逻辑功能测试

将译码器使能端1S 、2S 、3S 及地址端2A 、1A 、0A 分别接至逻辑电平开关输出口,8个输出端0Y ~7Y 依次连接在逻辑电平显示器的8个输入口上,拔动逻辑电平开关,测试74LS138的逻辑功能,将测试结果填写真值表并与表2-4-1进行对比。

3.测试数据选择器74LS151的逻辑功能

按图2-4-7接线,地址端2A 、1A 、0A 及数据端D 0~D 7分别接至逻辑电平开关输出口,使能端S 接逻辑开关,输出端Q 接逻辑电平显示器,测试74LS151的逻辑功能,将测试结果填写在真值表中并与表2-4-3进行对比。

4.测试4选1数据选择器74LS153的逻辑功能 测试方法及步骤同上,并记录之。

六、实验报告

1.按教程中实验内容及步骤的要求进行译码器和数据选择器逻辑功能的测试,记录测试结果并完成真值表。

2.总结实验的收获体会。

实验五 译码器和数据选择器的应用

一、实验目的

1.进一步熟悉和掌握译码器和数据选择器的逻辑功能和使用方法。 2.学习用译码器和数据选择器构成组合逻辑电路的方法。

二、实验原理

目前中规模集成电路规格品种很多,市场上很容易买到,在许多情况下,直接用它们实现组合逻辑函数,常常可以起到事半功倍的结果,不仅省时、省钱、省工,而且连线少、体积小,可靠性也高。

用译码器和数据选择器实现组合逻辑函数的基本方法是对照比较。

(一)用译码器构成组合逻辑电路

1.二进制译码器输出信号逻辑表达式的一般形式

图2-4-1是集成3线-8线译码器74LS138的外引线功能排列图,表2-4-1是其功能表。 由表2-4-1知,当1S 0=,23S S +=×时,或1S =×,23S S 1+=时,译码器被禁止,所有输出同时为1。当1S 1=,23S S 0+=时,器件使能,地址码所指定的输出端有信号(为0)输出,其他所有输出端均无信号(全为1)输出。此时输出端的输出函数表达式为

0210Y A A A = 1210Y A A A = 2210Y A A A = 3210Y A A A = 4210Y A A A = 5210Y A A A = 6210Y A A A = 7210Y A A A =

由此我们可以知道集成二进制译码器提供了全部输入变量的最小项的反函数,可以推断出集成二进制译码器输出信号表达式的一般形式为

Y m i i =

2.组合逻辑函数由其最小项构成的标准与非—与非表达式

由于任何组合逻辑函数都可以表示成为最小项之和的标准形式,利用两次取反的方法就可以得到由其最小项构成的与非—与非表达式。

如1257Y m m m m =+++ 则 1257Y m m m m =???

综上所述可知,从原理上讲,利用二进制译码器和与非门可以实现任何组合逻辑函数,尤其适合于构成有多个输出的组合逻辑函数。因为二进制译码器提供了其输入变量的全部最小项的反函数,只要用与非门把译码器相应输出信号组合起来就可以了。

3.基本步骤

(1)选择集成二进制译码器。

(2)根据函数变量数与输入二进制代码位数相等的原则,选择集成二进制译码器的类型和规格。

(3)写出函数的标准与非—与非表达式:先求出函数的标准与或表达式,再用两次取反法推导出其标准与非—与非表达式。

(4)确认译码器和与非门输入信号的表达式:译码器的输入信号——地址变量,就是函数的变量,但要注意变量的排列顺序,一般函数变量按A 、B 、C 顺序排列,译码器的地址变量的排列为A 2A 1A 0。至于与非门的输入信号,则应根据函数标准与非—与非表达式中,最小项反函数的情况进行确认。若函数标准与非—与非表达中,含有m i ,显然译码器的输出信号Y i 就是与非门中的一个输入信号,依此类推,把译码器输出中有关信号都挑出来,它们就是与非门的全部输入信号。

(5)画连线图:根据译码器和与非门输入信号的表达式画连线图。

(二)用数据选择器实现组合逻辑函数

1.数据选择器输出信号逻辑表达式的一般形式

图2-4-8所示是4选1数据选择器74LS153的外引线功能端排列图,表2-4-4是它的真值表。

由表2-4-4可得

100101102103Y SA A D +SA A D +SA A D +SA A D =

当使能端S =1时(即S=0),数据选择器禁止,Y=0; 当使能端S =0时(即S=1),数据选择器使能,则

100101102103001122333

0Y A A D A A D A A D A A D m D m D m D m D m D i i

=+++=+++=∑

2.组合逻辑函数的标准与或表达式

任何组合逻辑函数都可以表示成为最小项之和的标准形式,如0357Y m m m m =+++。 综上所述可知,从原理上讲,应用对照比较的方法,用数据选择器可以不受限制地实现任何组合逻辑函数。

3.基本步骤

(1)确定应该选用的数据选择器:根据n=k -1确定数据选择器的规模和型号,n 是选择器地址码(地址变量、地址输入端)的位数,k 是函数的变量个数。

(2)写逻辑函数表达式:写出函数的标准与或表达式和选择器输出信号的表达式。 (3)求选择器输入变量的表达式:用公式化法或者图形法,通过对照比较确定选择器各个输入变量的表达式(或为变量或为常数)。

(4)画连线图:根据采用的数据选择器和求出的表达式画出连线图。

三、实验设备与器件

1.KHD -2实验台 2.集成译码器74LSl38 3.集成显示译码器CC4511

4.集成数据选择器74LSl51(或CC4512) 5.集成数据选择器74LSl53(或CC4539)

四、实验预习要求

1.复习译码器和数据选择选择器的工作原理。

2.认真阅读译码器和数据选择器的真值表,熟悉74LS138、74LS151、74LS153的引脚排列,掌握各使能端的作用。

3.复习教材关于用数据选择器和译码器实现组合逻辑函数的相关内容。

五、实验内容及步骤

1.已知逻辑函数:1Y ABC ABC ABC ABC =+++,2Y AB BC AC =++,按本实验原理(一)的方法选用74LS138译码器实现逻辑函数Y 1和Y 2,写出实现函数的分析过程,画出连线图并进行测试,将测试结果填写在真值表中并说明其逻辑功能。

2.已知逻辑函数:Z m =∑(3,5,6,7),按本实验原理(二)的方法选用74LS153数据选择器实现逻辑函数Z ,写出实现函数的分析过程,画出连线图并进行测试,将测试结果填写在真值表中并说明其逻辑功能。

3.用74LS138设计一个二位二进制数的乘法器。 要求:

(1)写出设计过程分析说明,列出真值表,写出逻辑表达式并化简。 (2)选择集成块并作出接线图。 (3)测试并验证其逻辑功能。

4.用74LS153设计一个能够同时实现两个一位二进制数的全加运算和全减运算的组合逻辑电路。

要求:

(1)写出设计过程分析说明,列出真值表,写出逻辑表达式,并化简。 (2)选择集成块并作出接线图。 (3)测试并验证其逻辑功能。

注:以上实验内容可根据需要选做。

六、实验报告

1.按讲义中实验内容及步骤的要求进行译码器和数据选择器的应用实验,写出实现各逻辑函数的分析过程和画出连线图,记录测试结果并完成真值表。

2.总结数据选择器和译码器的逻辑功能,总结实验收获体会。

附录:部分实验参考接线图

实验内容1参考接线图如图2-5-1所示,实验内容2参考接线图如图2-5-2所示。

图2-5-1 实验内容1参考接线图图2-5-2 实验内容2的参考接线图

实验六触发器及其应用

一、实验目的

1.掌握基本RS,JK、D和T触发器的逻辑功能。

2.掌握集成触发器的逻辑功能及使用方法。

3.熟悉触发器之间相互转换的方法。

二、实验原理

触发器具有两个稳定状态,用以表示逻辑状态“1”和“0”,在一定的外界信号作用下,可以从一个稳定状态翻转到另一个稳定状态。它是一个具有记忆功能的二进制信息存贮器件,是构成各种时序电路的最基本逻辑单元。

1.基本RS触发器

图2-6-l为由两个与非门交叉耦合构成的基本RS触发器,它是无时钟控制低电平直接触发的触发器。基本RS触发器具有置“0”、置“1”和“保持”三种功能。通常称S为置“1”端,因为S=0时触发器被置为“1”;R为置“0”端,因为R=0时触发器被置“0”;当S=R=1时状态保持;当S=R=0时,触发器状态不定,应避免此种情况发生,表2-6-1为基本RS触发器的功能表。

图2-6-1 基本RS触发器表2-6-1 基本RS触发器功能表

基本RS触发器,也可以用两个“或非门”组成,此时为高电平触发有效。

2.JK触发器

在输入信号为双端的情况下,JK触发器是功能完善、使用灵活和通用性较强的一种触发器。本实验采用74LS112双JK触发器,是下降沿触发的边沿触发器。引脚功能及逻辑符号如图2-6-2所示。

JK触发器的状态方程为

n+1n n

Q=JQ+KQ

J和K是数据输入端,是触发器状态更新的依据,若J、K有两个或两个以上输入端时,组成“与”的关系。Q与Q为两个互补输出端,通常把Q=0、Q=1的状态定为触发器“0”状态,而把Q=1、Q=0定为“1”状态。

图2-6-2 74LS112双触发器引脚排列及逻辑功能

下降沿触发JK 触发器的功能如表2-6-2所示。

表2-6-2 74LS112双JK 触发器功能表

注:×——任意态; ↓——高到低电平跳变; ↑——低到高电平跳变; n

n

Q (Q )——现态; n+1

n+1Q

(Q )——次态; φ——不定态

JK 触发器常被用作缓冲存储器,移位寄存器和计数器。 3.D 触发器

在输入信号为单端的情况下,D 触发器用起来最为方便,其状态方程为n+1Q =D ,其输出状态的更新发生在CP 脉冲的上升沿,故又称为上升沿触发的边沿触发器,触发器的状态只取决于时钟到来前D 端的状态。D 触发器的应用很广,可用作数字信号的寄存、移位寄存、分频和波形发生等。有很多种型号可供各种用途的需要而选用,如双 D 74LS74、四 D 74LSl75、六D 74LSl74等。

图2-6-3为双D 74LS74的引脚排列及逻辑符号,功能如表2-6-3所示。

数字电子技术实验报告

专业: 班级: 学号: 姓名: 指导教师: 电气学院

实验一集成门电路逻辑功能测试 一、实验目的 1. 验证常用集成门电路的逻辑功能; 2. 熟悉各种门电路的逻辑符号; 3. 熟悉TTL集成电路的特点,使用规则和使用方法。 二、实验设备及器件 1. 数字电路实验箱 2. 万用表 3. 74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片 74LS11三3输入与门1片74LS32四2输入或门1片 74LS04反相器1片 三、实验原理 集成逻辑门电路是最简单,最基本的数字集成元件,目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高,输出幅度大,种类多,不宜损坏等特点而得到广泛使用,特别对学生进行实验论证,选用TTL电路较合适,因此这里使用了74LS系列的TTL成路,它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时>2.4V,低电平“0”时<0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式,其管脚的识别方法为:将集成块的正面(印有集成电路型号标记面)对着使用者,集成电路上的标识凹口左,左下角第一脚为1脚,按逆时针方向顺序排布其管脚。 四、实验内容 ㈠根据接线图连接,测试各门电路逻辑功能 1. 利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下

按表1—1要求用开关改变输入端A,B,C的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,当电平指示灯亮时记为1,灭时记为0,把测试结果填入表1—1中。 表1-1 74LS11逻辑功能表 输入状态输出状态 A B C Y 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 悬空 1 1 1 悬空0 0 0 2. 利用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下

数字电路 组合逻辑电路设计 实验报告演讲稿.doc

实验三组合逻辑电路设计(含门电路功能测试)

一、实验目的 1.掌握常用门电路的逻辑功能 2.掌握小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法 3.掌握组合逻辑电路的功能测试方法 二、实验设备与器材 Multisim 、74LS00 四输入2与非门、示波器、导线 三、实验原理 TTL集成逻辑电路种类繁多,使用时应对选用的器件做简单逻辑功能检查,保证实验的顺利进行。

测试门电路逻辑功能有静态测试和动态测试两种方法。静态测试时,门电路输入端加固定的高(H)、低电平,用示波器、万用表、或发光二极管(LED)测出门电路的输出响应。动态测试时,门电路的输入端加脉冲信号,用示波器观测输入波形与输出波形的同步关系。 下面以74LS00为例,简述集成逻辑门功能测试的方法。74LS00为四输入2与非门,电路图如3-1所示。74LS00是将四个二输入与非门封装在一个集成电路芯片中,共有14条外引线。使用时必须保证在第14脚上加+5V电压,第7脚与底线接好。 整个测试过程包括静态、动态和主要参数测试三部分。 表3-1 74LS00与非门真值表 1.门电路的静态逻辑功能测试 静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表,确认门电路的逻辑功能正确与否。实验时,可将74LS00中的一个与非门的输入端A、B分别作为输入逻辑变量,加高、低电平,观测输出电平是否符合74LS00的真值表(表3-1)描述功能。 测试电路如图3-2所示。试验中A、B输入高、低电平,由数字电路实验箱中逻辑电平产生电路产生,输入F可直接插至逻辑电平只是电路的某一路进行显示。

仿真示意 2.门电路的动态逻辑功能测试 动态测试用于数字系统运行中逻辑功能的检查,测试时,电路输入串行数字信号,用示波器比较输入与输出信号波形,以此来确定电路的功能。实验时,与非门输入端A加一频率为

数字电子技术实验讲义(试用)

数字电子技术实验 简要讲义 适用专业:电气专业 编写人:于云华、何进 中国石油大学胜利学院机械与控制工程学院 2015.3

目录 实验一:基本仪器熟悉使用和基本逻辑门电路功能测试 (3) 实验二:小规模组合逻辑电路设计 (4) 实验三:中规模组合逻辑电路设计 (5) 实验四:触发器的功能测试及其应用 (7) 实验五:计数器的功能测试及其应用 (8) 实验六:计数、译码与显示综合电路的设计 (9)

实验一:基本仪器熟悉使用和常用门电路逻辑功能测试 (建议实验学时:2学时) 一、实验目的: 1、熟悉实验仪器与设备,学会识别常用数字集成芯片的引脚分配; 2、掌握门电路的逻辑功能测试方法; 3、掌握简单组合逻辑电路的设计。 二、实验内容: 1、测试常用数字集成逻辑芯片的逻辑功能:74LS00,74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32,74LS86等(预习时查出每个芯片的逻辑功能、内部结构以及管脚分配)。 2、采用两输入端与非门74LS00实现以下逻辑功能: ① F=ABC ② F=ABC③ F=A+B ④ F=A B+A B 三、实验步骤:(学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容)主要包括: 1、实验电路设计原理图;如:实现F=A+B的电路原理图: 2、实验真值表; 3、实验测试结果记录。如: 输入输出 A B F3 00灭

四、实验总结: (学生根据自己实验情况,简要总结实验中遇到的问题及其解决办法)注:本实验室提供的数字集成芯片有: 74LS00, 74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32,74LS74,74LS90,74LS112, 74LS138,74LS153, 74LS161 实验二:小规模组合逻辑电路设计 (建议实验学时:3学时) 一、实验目的: 1、学习使用基本门电路设计、实现小规模组合逻辑电路。 2、学会测试、调试小规模组合逻辑电路的输入、输出逻辑关系。 二、实验内容: 1、用最少的门电路设计三输入变量的奇偶校验电路:当三个输入端有奇数个1时,输出为高,否则为低。(预习时画出电路原理图,注明所用芯片型号) 2、用最少的门电路实现1位二进制全加器电路。(预习时画出电路原理图,注明所用芯片型号) 3、用门电路实现“判断输入者与受血者的血型符合规定的电路”,测试其功能。要求如下:人类由四种基本血型:A、B、AB、O 型。输血者与受血者的血型必须符合下述原则: O型血可以输给任意血型的人,但O型血的人只能接受O型血; AB型血只能输给AB型血的人,但AB血型的人能够接受所有血型的血; A 型血能给A型与AB型血的人;但A型血的人能够接受A型与O型血; B型血能给B型与AB型血的人,而B型血的人能够接受B型与O型血。 试设计一个检验输血者与受血者血型是否符合上述规定的逻辑电路,如果符合规定电路,输出高电平(提示:电路只需要四个输入端,它们组成一组二进制数码,每组数码代表一对输血与受血的血型对)。 约定“00”代表“O”型 “01”代表“A”型 “10”代表“B”型 “11”代表“AB”型(预习时画出电路原理图,注明所用芯片型号) 三、实验步骤:(学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容),与实验一说明类似。

数字电路实验指导书2016

***************************************************** ***************************************************** *********************************************** 数字电路 实验指导书 广东技术师范学院天河学院电气工程系

目录 实验系统概术 (3) 一、主要技术性能 (3) 二、数字电路实验系统基本组成 (4) 三、使用方法 (12) 四、故障排除 (13) 五、基本实验部分 (14) 实验一门电路逻辑功能及测试 (14) 实验二组合逻辑电路(半加器全加器及逻辑运算) (18) 实验三译码器和数据选择器 (43) 实验四触发器(一)R-S,D,J-K (22) 实验五时序电路测试及研究 (28) 实验六集成计数器161(设计) (30) 实验七555时基电路(综合) (33) 实验八四路优先判决电路(综合) (43) 附录一DSG-5B型面板图 (45) 附录二DSG-5D3型面板图 (47) 附录三常用基本逻辑单元国际符号与非国际符号对照表 (48) 附录四半导体集成电路型号命名法 (51) 附录五集成电路引脚图 (54)

实验系统概述 本实验系统是根据目前我国“数字电子技术教学大纲”的要求,配合各理工科类大专院校学生学习有关“数字基础课程,而研发的新一代实验装置。”配上Lattice公司ispls1032E可完成对复杂逻辑电路进行设计,编译和下载,即可掌握现代数字电子系统的设计方法,跨入EDA 设计的大门。 一、主要技术性能 1、电源:采用高性能、高可靠开关型稳压电源、过载保护及自动恢复功能。 输入:AC220V±10% 输出:DC5V/2A DC±12V/0.5A 2、信号源: (1)单脉冲:有两路单脉冲电路采用消抖动的R-S电路,每按一次按钮开关产生正、负脉冲各一个。 (2)连续脉冲:10路固定频率的方波1Hz、10Hz、100Hz、1KHz、10KHz、100KHz、500KHz、1MHz、5MHz、10MHz。 (3)一路连续可调频率的时钟,输出频率从1KHz~100KHz的可调方波信号。 (4)函数信号发生器 输出波形:方波、三角波、正弦波 频率范围:分四档室2HZ~20HZ、20HZ~200HZ、200HZ~2KHZ、2KHZ~20HZ。 3、16位逻辑电平开关(K0~K15)可输出“0”、“1”电平同时带有电平指示,当开关置“1”电平时,对应的指示灯亮,开关置“0”电平时,对应的指示灯灭,开关状态一目了然。 4、16位电平指示(L0~L15)由红、绿灯各16只LED及驱动电路组成。当正逻辑“1”电平输入时LED红灯点亮,反之LED绿灯点亮。

北邮数字电路综合实验报告

数字电路综合实验报告 简易智能密码锁 一、实验课题及任务要求 设计并实现一个数字密码锁,密码锁有四位数字密码和一个确认开锁按键,密码输入正确,密码锁打开,密码输入错误进行警示。 基本要求: 1、密码设置:通过键盘进行4 位数字密码设定输入,在数码管上显示所输入数字。通过密码设置确定键(BTN 键)进行锁定。 2、开锁:在闭锁状态下,可以输入密码开锁,且每输入一位密码,在数码管上显示“-”,提示已输入密码的位数。输入四位核对密码后,按“开锁”键,若密码正确则系统开锁,若密码错误系统仍然处于闭锁状态,并用蜂鸣器或led 闪烁报警。 3、在开锁状态下,可以通过密码复位键(BTN 键)来清除密码,恢复初始密码“0000”。闭锁状态下不能清除密码。 4、用点阵显示开锁和闭锁状态。 提高要求: 1、输入密码数字由右向左依次显示,即:每输入一数字显示在最右边的数码管上,同时将先前输入的所有数字向左移动一位。 2、密码锁的密码位数(4~6 位)可调。

3、自拟其它功能。 二、系统设计 2.1系统总体框图 2.2逻辑流程图

2.3MDS图 2.4分块说明 程序主要分为6个模块:键盘模块,数码管模块,点阵模块,报警模块,防抖模块,控制模块。以下进行详细介绍。 1.键盘模块 本模块主要完成是4×4键盘扫描,然后获取其键值,并对其进行编码,从而进行按键的识别,并将相应的按键值进行显示。 键盘扫描的实现过程如下:对于4×4键盘,通常连接为4行、4列,因此要识别按键,只需要知道是哪一行和哪一列即可,为了完成这一识别过程,我们的思想是,首先固定输出高电平,在读入输出的行值时,通常高电平会被低电平拉低,当当前位置为高电平“1”时,没有按键按下,否则,如果读入的4行有一位为低电平,那么对应的该行肯定有一个按键按下,这样便可以获取到按键的行值。同理,获取列值也是如此,先输出4列为高电平,然后在输出4行为低电平,再读入列值,如果其中有哪一位为低电平,那么肯定对应的那一列有按键按下。由此可确定按键位置。

数字电路实验讲义

数字电路实验讲义 课题:实验一门电路逻辑功能及测试课型:验证性实验 教学目标:熟悉门电路逻辑功能,熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法 重点:熟悉门电路逻辑功能。 难点:用与非门组成其它门电路 教学手段、方法:演示及讲授 实验仪器: 1、示波器; 2、实验用元器件 74LS00 二输入端四与非门 2 片 74LS20 四输入端双与非门 1 片 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS04 六反相器 1 片 实验内容: 1、测试门电路逻辑功能 (1)选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。 (2)将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻辑状态值及电压值填表。

2、逻辑电路的逻辑关系 (1)用74LS00 双输入四与非门电路,按图1.2、图1.3 接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.2,表1.3 中。 (2)写出两个电路的逻辑表达式。 3、利用与非门控制输出 用一片74LS00 按图1.4 接线。S 分别接高、低电平开关,用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。 4、用与非门组成其它门电路并测试验证。

(1)组成或非门:

用一片二输入端四与非门组成或非门B = =,画出电路图,测试并填 + Y? A B A 表1.4。 (2)组成异或门: ①将异或门表达式转化为与非门表达式; ②画出逻辑电路图; ③测试并填表1.5。 5、异或门逻辑功能测试 (1)选二输入四异或门电路74LS86,按图1.5 接线,输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口,输出端A、B、Y 接电平显示发光二极管。 (2)将电平开关按表1.6 的状态转换,将结果填入表中。

数字电路实验报告

数字电路实验报告 姓名:张珂 班级:10级8班 学号:2010302540224

实验一:组合逻辑电路分析一.实验用集成电路引脚图 1.74LS00集成电路 2.74LS20集成电路 二、实验内容 1、组合逻辑电路分析 逻辑原理图如下:

U1A 74LS00N U2B 74LS00N U3C 74LS00N X1 2.5 V J1 Key = Space J2 Key = Space J3 Key = Space J4 Key = Space VCC 5V GND 图1.1组合逻辑电路分析 电路图说明:ABCD 按逻辑开关“1”表示高电平,“0”表示低电平; 逻辑指示灯:灯亮表示“1”,灯不亮表示“0”。 真值表如下: A B C D Y 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 1 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 表1.1 组合逻辑电路分析真值表 实验分析: 由实验逻辑电路图可知:输出X1=AB CD =AB+CD ,同样,由真值表也能推出此方程,说明此逻辑电路具有与或功能。 2、密码锁问题: 密码锁的开锁条件是:拨对密码,钥匙插入锁眼将电源接通,当两个条件同时满足时,开锁信号为“1”,将锁打开;否则,报警信号为“1”,则接通警铃。

试分析下图中密码锁的密码ABCD 是什么? 密码锁逻辑原理图如下: U1A 74LS00N U2B 74LS00N U3C 74LS00N U4D 74LS00N U5D 74LS00N U6A 74LS00N U7A 74LS00N U8A 74LS20D GND VCC 5V J1 Key = Space J2 Key = Space J3 Key = Space J4 Key = Space VCC 5V X1 2.5 V X2 2.5 V 图 2 密码锁电路分析 实验真值表记录如下: 实验真值表 A B C D X1 X2 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 0 1 表1.2 密码锁电路分析真值表 实验分析: 由真值表(表1.2)可知:当ABCD 为1001时,灯X1亮,灯X2灭;其他情况下,灯X1灭,灯X2亮。由此可见,该密码锁的密码ABCD 为1001.因而,可以得到:X1=ABCD ,X2=1X 。

数字电路实验指导书

数字逻辑电路 实验指导书 师大学计算机系 2017.10 . .

数字逻辑电路实验 Digital Logic Circuits Experiments 一、实验目的要求: 数字逻辑电路实验是计算机科学与技术专业的基础实验,与数字逻辑电路理论课程同步开设(不单独设课),是理论教学的深化和补充,同时又具有较强的实践性,其目的是通过若干实验项目的学习,使学生掌握数字电子技术实验的基本方法和实验技能,培养独立分析问题和解决问题的能力。 二、实验主要容: 教学容分为基础型、综合型,设计型和研究型,教学计划分为多个层次,学生根据其专业特点和自己的能力选择实验,1~2人一组。但每个学生必须选做基础型实验,综合型实验,基础型实验的目的主要是培养学生正确使用常用电子仪器,掌握数字电路的基本测试方法。按实验课题要求,掌握设计和装接电路,科学地设计实验方法,合理地安排实验步骤的能力。掌握运用理论知识及实践经验排除故障的能力。综合型实验的目的就是培养学生初步掌握利用EDA软件的能力,并以可编程器件应用为目的,培养学生对新技术的应用能力。初步具有撰写规技术文件能力。设计型实验的目的就是培养学生综合运用已经学过的电子技术基础课程和EDA软件进行电路仿真实验的能力,并设计出一些简单的综合型系统,同时在条件许可的情况下,可开设部分研究型实验,其目的是利用先进的EDA软件进行电路仿真,结合具体的题目,采用软、硬件结合 的方式,进行复杂的数字电子系统设计。 . .

数字逻辑电路实验 实验1 门电路逻辑功能测试 实验预习 1 仔细阅读实验指导书,了解实验容和步骤。 2 复习门电路的工作原理及相应逻辑表达式。 3 熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。 4 熟悉TTL门电路逻辑功能的测试。 5 了解数字逻辑综合实验装置的有关功能和使用方法。 实验目的 1 熟悉数字逻辑实验装置的有关功能和使用方法。 2 熟悉双踪示波器的有关功能和使用方法。 3 掌握门电路的逻辑功能,熟悉其外形和外引线排列。 4 学习门电路的测试方法。 实验仪器 1 综合实验装置一套 2 数字万用表一块 3 双踪示波器一台 4 器件 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 两输入端四异或门1片 74LS04 六反相器1片 实验原理说明 数字电路主要研究电路的输出与输入之间的逻辑关系,这种逻辑关系是由门电路的组合来实现的。门电路是数字电路的基本单元电路。门电路的输出有三种类型:图腾柱输出(一般TTL门电路)、集电极开路(OC门)输出和三态(3S)输出。它们的类型、逻辑式、逻辑符号与参考型号见表1-0。门电路的输入与输出量均为1和0两种逻辑状态。我们在实验中可以用乒乓开关的两种位置表示输入1和0两种状态,当输入端为高电平时,相应的输入端处于1位置,当输入端为低电平时,相应的输入端处于0位置。我们也可以用发光二极管的两种状态表示输出1和0两种状态,当输出端为高电平时,相应的发光二极管亮,当输出端为低电平时,相应的发光二极管不亮。我们还可以用数字万用表直接测量输出端的电压值,当电压值为3.6V左右时为高电平,表示1状态;当电压值为0.3V以下时为低电平,表示0状态。在实验中,我们可以通过测试门电路输入与输出的逻辑关系,分析和验证门电路的逻辑功能。我们实验中的集成电路芯片主要以TTL集成电路为主。 . .

数字电路全部实验

数字电子技术 实验报告 实验一门电路逻辑功能及测试 (1) 实验二数据选择器与应用 (4) 实验三触发器及其应用 (8) 实验四计数器及其应用 (11) 实验五数码管显示控制电路设计 (17) 实验六交通信号控制电路 (19) 实验七汽车尾灯电路设计 (25) 班级:08030801 学号:2008301787 2008301949 姓名:纪敏于潇

实验一 门电路逻辑功能及测试 一、实验目的: 1.加深了解TTL 逻辑门电路的参数意义。 2.掌握各种TTL 门电路的逻辑功能。 3.掌握验证逻辑门电路功能的方法。 4.掌握空闲输入端的处理方法。 二、实验设备: THD —4数字电路实验箱,数字双踪示波器,函数信号发射器, 74LS00二输入端四与非门,导线若干。 三、实验步骤及内容: 1.测试门电路逻辑功能。 选用双四输入与非门74LS00一只,按图接线,将输入电平按表置位,测输出电平 用与非门实现与逻辑、或逻辑和异或逻辑。用74LS00实现与逻辑。 用74LS00实现或逻辑。用74LS00实现异或逻辑。 2.按实验要求画出逻辑图,记录实验结果。 3.实验数据与结果 将74LS00二输入端输入信号分别设为信号A 、B 用74LS00实现与逻辑 1A B A B =? 逻辑电路如下:

12 3 74LS00AN 4 5 6 74LS00AN A B A 端输入TTL 门信号, B 端输入高电平,输出波形如下: A 端输入TTL 门信号, B 端输入低电平,输出波形如下: 1、 用74LS00实现或逻辑 11A B A B A B +=?=???逻辑电路如下

数字电路实验二 半加半减器的设计

实验二半加半减器的设计 一、实验目的 1、利用普通的门电路或使用译码器或使用数据选择器设计一个半加半减器。 二、实验仪器及器件 1、数字电路试验箱,示波器 2、虚拟器件:74LS197,74LS138,74LS00,74LS20,74LS151 三、实验预习 在proteus上进行了仿真实验,通过普通的门电路连接成半加半减器的逻辑电路。 在之后的课上了解了编码器和译码器以及数据选择器。 四、实验原理 1、用普通门电路实现组合逻辑电路 2、用译码器实现组合逻辑电路 译码器是将每个输入的二进制代码译成对应的输出高、低电平信号。 3、用数据选择器实现组合逻辑电路 数据选择器的功能是从一组输入数据中选出某一个信号输出。或称为多路开关。 五、实验内容 首先,根据半加半减器的电路逻辑列出真值表: 输入输出 S A B Y C(进/借位) 74LS138对应输出位置0 0 0 0 0 Y0 0 0 1 1 0 Y1 0 1 0 1 0 Y2 0 1 1 0 1 Y3 1 0 0 0 0 Y4 1 0 1 1 1 Y5 1 1 0 1 0 Y6 1 1 1 0 0 Y7 根据真值表画出Y和C卡诺图: Y: S\AB 00 01 11 10 0 1 1 1 1 1 C: S\AB 00 01 11 10 0 1 1 1 根据卡诺图可得逻辑表达式: Y=A⊕B C=(S⊕A)B

然后,开始在数电实验箱上连接电路,我选择的芯片是:74LS197,74LS00,74LS20,74LS138.对于74LS197,先将CP1接连续脉冲,然后分别将Q1,Q2,Q3接到“0-1”显示器上检查电路是否正常,接着将Q3,Q2,Q1分别接到74LS138的S0,S1,S2作为八进制输入,Q3,Q2,Q1分别代表S,A,B。根据真值表,Y在Y1,Y2,Y5,Y6处有高电平的输出,C在Y3,Y5处有高电平输出,分别将它们接入与非门芯片74LS20、74LS00即可得到Y和C的输出。 最后,将CP1,S,A,B,Y,C接入示波器得到下图: 从上到下分别是CP1,B,A,S,C,Y.

数字电路实验

目录 实验一TTL集成逻辑与非门参数的测试 (2) 实验二组合逻辑电路 (4) 实验三编码器和译码器 (6) 实验四触发器及其应用 (8) 实验五同步计数器测试与扩展 (10) 实验六任意进制计数器 (12) 实验七移位寄存器功能测试及应用 (14) 实验八555集成定时器及应用 (15)

实验一 TTL 集成逻辑与非门参数的测试 一 .实验目的 1、 了解TTL 与非门各参数的意义。 2、 掌握TTL 集成与非门主要参数的测试方法。 3、 掌握TTL 器件的使用规则。 二.实验设备与器材 1、数字逻辑实验箱 1台 2、万用电表 1台 3、集成四-2输入与非门74LS00 1只 三. 实验内容及步骤 1、验证与非门74LS00的逻辑功能 将与非门的两输入端分别接到数字逻辑实验箱的逻辑开关k 1和k 2上,输出端接逻辑指示灯和万用电表上。按表1逐项验证其逻辑功能,测量结果填入表1–1中。 表1 与非门逻辑功能的测试 2、电压传输特性测试 按下图图1完成连线。调节RP,改变Vi 值,按表2的要求逐个设定电压值,读出每个设定值对应的输出值,并描绘电压传输特性曲线。 图1 表2 与非门的电压传输特性 Rp 4.7K Vi (V)

3、测试与非门部分参数测试 4.实验思考题 (1)门电路的带负载能力是什么? (2)测量扇出系数N O的原理是什么?

实验二 组合逻辑电路 一.实验目的 1、掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。 2、用实验验证所设计电路的逻辑功能。 二、实验设备及器件 1、逻辑实验箱 1个 2、万用表 1个 3、集成芯片74LS283 、74LS00、74LS86 、74LS51 各1片 三、实验内容及步骤 1、集成全加器74LS283功能测试 按表1数据要求,记录测试结果 其中上图: 【1】 C 0与A 4A 3A 2A 1以及 B 4B 3B 2B 1分别接9个不同逻辑开关 【2】 C 4与输出端∑4∑3∑2∑1 分别接5个不同发光二极管 2、门电路74LS86、、74LS00组成半加器 图中A 、B 为数据输入端,S 、C 分别为求和信号、进位信号输出。 B1B2B3B4C0

数字电路及设计实验

常用数字仪表的使用 实验内容: 1.参考“仪器操作指南”之“DS1000操作演示”,熟悉示数字波器的使用。 2.测试示波器校正信号如下参数:(请注意该信号测试时将耦合方式设置为直流耦合。 峰峰值(Vpp),最大值(Vmax),最小值(Vmin), 幅值(Vamp),周期(Prd),频率(Freq) 顶端值(Vtop),底端值(Vbase),过冲(Overshoot), 预冲(Preshoot),平均值(Average),均方根值(Vrms),即有效值 上升时间(RiseTime),下降时间(FallTime),正脉宽(+Width), 负脉宽(-Width),正占空比(+Duty),负占空比(-Duty)等参数。 3.TTL输出高电平>2.4V,输出低电平<0.4V。在室温下,一般输出高电平是3.5V,输出低 电平是0.2V。最小输入高电平和低电平:输入高电平>=2.0V,输入低电平<=0.8V。 请采用函数信号发生器输出一个TTL信号,要求满足如下条件: ①输出高电平为3.5V,低电平为0V的一个方波信号; ②信号频率1000Hz; 在示波器上观测该信号并记录波形数据。

集成逻辑门测试(含4个实验项目) (本实验内容选作) 一、实验目的 (1)深刻理解集成逻辑门主要参数的含义和功能。 (2)熟悉TTL 与非门和CMOS 或非门主要参数的测试方法,并通过功能测试判断器件好坏。 二、实验设备与器件 本实验设备与器件分别是: 实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、直流稳压电源、数字频率计、数字万用表及工具; 实验器件:74LS20两片,CC4001一片,500Ω左右电阻和10k Ω左右电阻各一只。 三、实验项目 1.TTL 与非门逻辑功能测试 按表1-1的要求测74LS20逻辑功能,将测试结果填入与非门功能测试表中(测试F=1、0时,V OH 与V OL 的值)。 2.TTL 与非门直流参数的测试 测试时取电源电压V CC =5V ;注意电流表档次,所选量程应大于器件电参数规范值。 (1)导通电源电流I CCL 。测试条件:输入端均悬空,输出端空载。测试电路按图1-1(a )连接。 (2)低电平输入电流I iL 。测试条件:被测输入端通过电流表接地,其余输入端悬空,输出空载。测试电路按图1-1(b )连接。 (3)高电平输入电流I iH 。测试条件:被测输入端通过电流表接电源(电压V CC ),其余输入端均接地,输出空载。测试电路按图1-1(c )连接。 (4)电压传输特性。测试电路按图1-2连接。按表1-2所列各输入电压值逐点进行测量,各输入电压值通过调节电位器W 取得。将测试结果在表1-2中记录,并根据实测数据,做出电压传输特性曲线。然后,从曲线上读出V OH ,V OL ,V on ,V off 和V T ,并计算V NH ,V NL 等参数。 表1-1 与非门功能测试表

数字电路实验讲义

实验一KHD-2型数字电路实验装置的使用和 集成门电路逻辑功能的测试 一、实验目的 1.熟悉和掌握KHD-2型数字电路实验装置的使用。 2.熟悉74LS20和74LS00集成门电路的外形和管脚引线。 3.掌握与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门逻辑功能的测试。 二、实验器材及设备 1.KHD-2数字电路实验台 2.4输入2与非门74LS20(1块) 3.2输入4与非门74LS00或CC4011(1块) 三、实验原理 (一)KHD-2型数字电路实验台 KHD-2型数字电路实验台由实验控制屏与实验桌组成。实验控制屏主要由两块单面敷铜印刷线路板与相应电源、仪器仪表等组成。控制屏由两块相同的数电实验功能板组成,其控制屏两侧均装有交流电压220V的单相三芯电源插座。每块实验功能板上均包含以下各部分内容: 1.实验板上装有一只电源总开关及一只熔断器(额定电流为1A)作为短路保护用。 2.实验板上共装有600多个高可靠的自锁紧式、防转、叠插式插座。它们与集成电路插座、镀银针管座以及其他固定器件、线路的连线已设计在印刷线路板上。板正面印有黑线条连接的器件,表示反面已装上器件并接通。 3.实验板上共装有200多根镀银长15mm的紫铜针管插座,供实验时接插小型电位器、电阻、电容、三极管及其他电子器件使用。 4.实验板上装有四路直流稳压电源(±5V、1A及两路0~18V、0.75A可调的直流稳 压电源)。实验板上标有处,是指实验时需用导线将直流电源+5V引入该处,是+5V 电源的输入插口。 5.高性能双列直插式圆集成电路插座18只(其中40P 1只、28P 1只、24P 1只、20P 1只、16P 5只、14P 6只、8P 2只、40P锁紧座1只)。 6.6位十六进制七段译码器与LED数码显示器:每一位译码器均采用可编程器件GAL 设计而成,具有十六进制全译码功能。显示器采用LED共阴极红色数码管(与译码器在反面已连接好),可显示四位BCD十六进制的全译码代号:0、1、2、3、4、5、6、7、8、9、A、B、C、D、E和F。 使用时,只要用锁紧线将+5V在没有BCD码输入时六位译码器均显示“F”。 7.四位BCD码十进制拔码开关组:每一位的显示窗指示出0~9中的任一个十进制数字,在A、B、C、D四个输出插口处输出相对应的BCD码。每按动一次“+”或“ ”键,将顺序地进行加1计数或减1计数。 若将某位拔码开关的输出口A、B、C、D连接在“2”的一位译码显示的输入端口A、B、C、D处,当接通+5V电源时,数码管将点亮显示出与拔码开关所指示一致的数字。

数字电子技术实验指导书

数字电子技术实验指导书 (韶关学院自动化专业用) 自动化系 2014年1月10日 实验室:信工405

数字电子技术实验必读本实验指导书是根据本科教学大纲安排的,共计14学时。第一个实验为基础性实验,第二和第七个实验为设计性实验,其余为综合性实验。本实验采取一人一组,实验以班级为单位统一安排。 1.学生在每次实验前应认真预习,用自己的语言简要的写明实验目的、实验原理,编写预习报告,了解实验内容、仪器性能、使用方法以及注意事项等,同时画好必要的记录表格,以备实验时作原始记录。教师要检查学生的预习情况,未预习者不得进行实验。 2.学生上实验课不得迟到,对迟到者,教师可酌情停止其实验。 3.非本次实验用的仪器设备,未经老师许可不得任意动用。 4.实验时应听从教师指导。实验线路应简洁合理,线路接好后应反复检查,确认无误时才接通电源。 5.数据记录 记录实验的原始数据,实验期间当场提交。拒绝抄袭。 6.实验结束时,不要立即拆线,应先对实验记录进行仔细查阅,看看有无遗漏和错误,再提请指导教师查阅同意,然后才能拆线。 7.实验结束后,须将导线、仪器设备等整理好,恢复原位,并将原始数据填入正式表格中,经指导教师签名后,才能离开实验室。

目录实验1 TTL基本逻辑门功能测试 实验2 组合逻辑电路的设计 实验3 译码器及其应用 实验4 数码管显示电路及应用 实验5 数据选择器及其应用 实验6 同步时序逻辑电路分析 实验7 计数器及其应用

实验1 TTL基本逻辑门功能测试 一、实验目的 1、熟悉数字电路试验箱各部分电路的基本功能和使用方法 2、熟悉TTL集成逻辑门电路实验芯片的外形和引脚排列 3、掌握实验芯片门电路的逻辑功能 二、实验设备及材料 数字逻辑电路实验箱,集成芯片74LS00(四2输入与非门)、74LS04(六反相器)、74LS08(四2输入与门)、74LS10(三3输入与非门)、74LS20(二4输入与非门)和导线若干。 三、实验原理 1、数字电路基本逻辑单元的工作原理 数字电路工作过程是数字信号,而数字信号是一种在时间和数量上不连续的信号。 (1)反映事物逻辑关系的变量称为逻辑变量,通常用“0”和“1”两个基本符号表示两个对立的离散状态,反映电路上的高电平和低电平,称为二值信息。(2)数字电路中的二极管有导通和截止两种对立工作状态。三极管有饱和、截止两种对立的工作状态。它们都工作在开、关状态,分别用“1”和“0”来表示导通和断开的情况。 (3)在数字电路中,以逻辑代数作为数学工具,采用逻辑分析和设计的方法来研究电路输入状态和输出状态之间的逻辑关系,而不必关心具体的大小。 2、TTL集成与非门电路的逻辑功能的测试 TTL集成与非门是数字电路中广泛使用的一种逻辑门。实验采用二4输入与非门74LS20芯片,其内部有2个互相独立的与非门,每个与非门有4个输入端和1个输出端。74LS20芯片引脚排列和逻辑符号如图2-1所示。

数字电路译码器实验报告

一、实验目的与要求 1.了解和正确使用MSI组合逻辑部件; 2.掌握一般组合逻辑电路的特点及分析、设计方法; 3. 学会对所设计的电路进行静态功能测试的方法; 4. 观察组合逻辑电路的竞争冒险现象。 预习要求: (1)复习组合逻辑电路的分析与设计方法; (2)根据任务要求设计电路,并拟定试验方法; (3)熟悉所用芯片的逻辑功能、引脚功能和参数; (4)了解组合逻辑电路中竞争冒险现象的原因及消除方法。 (5)二、实验说明 译码器是组合逻辑电路的一部分。所谓译码就是不代码的特定含义“翻译”出来的过程,而实现译码操作的电路称为译码器。译码器分成三类: 1.二进制译码器:把二进制代码的各种状态,按照其原意翻译成对应输出信号的电路。如中规模2线—4线译码器74LS139,3线—8线译码器74LS138等。 2.二—十进制译码器:把输入BCC码的十个代码译成十个高、低电平信号。 3.字符显示译码器:把数字、文字和符号的二进制编码翻译成人们习惯的形式并直观地显示出来的电路,如共阴极数码管译码驱动的74LS48(74LS248),共阳极数码管译码驱动的74LS49(74LS249)等。 三、实验设备 1.RXB-1B数字电路实验箱 2.器件 74LS00 四2输入与非门 74LS20 双4输入与非门 74LS138 3线—8线译码器 四、任务与步骤 任务一:测试3线—8线译码器74LS138逻辑功能 将一片3线—8线译码器74LS138插入RXB-1B数字电路实验箱的IC空插座中,按图3-15接线。A0、A1、A2、STA、STB、STC端是输入端,分别接至数字电路实验箱的任意6个电平开关。Y7、Y6、Y5、Y4、Y3、Y2、Y1、Y0输出端,分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意8个发光二极管的插孔8号引脚地接至RXB—IB型数字电路实验箱的电源“ ”,16号引脚+5V接至RXB-1B数字电路实验箱的电源“+5V”。按表3-2中输入值设置电平开关状态,观察发光二极管(简称LED)的状态,并将结果填入表中。 根据实验数据归纳出74LS138芯片的功能。 表3-2 3线-8线译码器74LS138功能表

数字电路实验讲义

数字电路实验讲义 目录 1 数字电路实验箱简介 2 实验一基本门电路和触发器的逻辑功能测试 3 实验二常用集成组合逻辑电路(MSI)的功能测试及应用 4 实验三常用中规模集成时序逻辑电路的功能及应用 5 实验四组合逻辑电路的设计 6 实验五时序逻辑电路的设计 7 实验六综合设计实验 8 附录功能常用芯片引脚图

数字电路实验箱简介 TPE系列数字电路实验箱是清华大学科教仪器厂的产品,该实验箱提供了数字电路实验所必需的基本条件。如电源,集成电路接线板,逻辑电平产生电路,单脉冲产生电路和逻辑电平测量显示电路,实验箱还为复杂实验提供了一些其他功能。 下面以JK触发器测试为例说明最典型的测试电路,图1为74LS112双JK触发器的测试电路。其中Sd、Rd 、J、K为电平有效的较入信号,由实验箱的逻辑电平产生电路提供。CP为边沿有效的触发信号,由单脉冲产生电路提供。Q和为电路的输出,接至逻辑电平测量显示电路,改变不同输入的组合和触发条件,记录对应的输出,即可测试该触发器的功能。 逻辑电平测量显示 图1. JK触发器测试电路

实验一 基本门电路和触发器的逻辑功能测试 一、 实验目的 1、掌握集成芯片管脚识别方法。 2、掌握门电路逻辑功能的测试方法。 3、掌握RS 触发器、JK 触发器的工作原理和功能测试方法。 二、实验设备与器件 1、数字电路实验箱 2、万用表 3、双列直插式组件 74LS00:四—2输入与非门 74LS86:四—2输入异或门 74LS112:双J-K 触发器 三、实验原理与内容 1、测试与非门的逻辑功能 74LS00为四—2输入与非门,在一个双列直插14引脚的芯片里封装了四个2输入与非门,引脚图见附录。14脚为电源端,工作时接5V,7脚为接地端,1A ,113和1Y 组成一个与非门, B A Y 111?=。剩余三个与非门类似。按图1—1连接实验电路。改变输信号,测量对应输出, 填入表1—1中,验证其逻辑功能。 测 量 显 示 逻 辑 电 平 图1—1 74LS00测试电路

数字电路实验报告

数字电路实验报告 班级:1403011 学号: 姓名:于梦鸽地点:EII-310 时间:第五批

实验一基本逻辑门电路实验 (一)实验目的 1.掌握TTL与非门、与或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 2.熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 (二)实验所用器件 二输入四与非门74LS00 1片 (三)实验容 1、测试74LS00逻辑关系接线图 输 入输 出 引脚1引脚3 引脚2 K1 K2 23 LED0 L L L L H H H H 图1.1 测试74LS00逻辑关系接线图表1.1 74LS00真值表 2.用3个三输入端与非门IC芯片74LS10安装如图所示的电路 从实验台上的时钟脉冲输出端口选择两个不同频率(约 7khz和 14khz)的脉冲信号分别加到X0和X1端。对应B和S端数字信号的所有可能组合,观察并画出输出端的波形,并由此得出S和B(及/B)的功能。 (四)实验数据结果 1、测试74LS00的逻辑关系 ?逻辑关系连接图

? 真值表 2.测试74LS86的逻辑关系 ? 逻辑关系连接图 ? 真值表 3.测试74LS10的逻辑关系 ? 真值表 输 入 输出 引脚1 引脚2 引脚3 L L H L H H H L H H H L 输 入 输出 引脚1 引脚2 引脚3 L L H L H L H L L H H H S B Y L L 0 L H 0 H L X1 H H X0 LED K1 K2 LED K1 K2

实验二组合逻辑电路部件实验 (一)实验目的: 掌握逻辑电路设计的基本方法 掌握EDA工具MAX-PlusII的原理图输入方法 掌握MAX-PlusII的逻辑电路编译、波形仿真的方法 (二)实验容 1.逻辑单元电路的波形仿真 利用EDA工具的原理图输入法,分别输入74138图元符号;建立74138的仿真波形文件,并进行波形仿真,记录波形;分析74138逻辑关系。 3-8译码器74138的波形仿真 实验数据及结果 2.设计并实现一个3位二进制全加器 输入输出 E A1 A2 Q0 Q1 Q2 Q3 1 ΦΦ 1 1 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 E为允许使能输入线,A1、A2为译码器输入,Q0、Q1、Q2、Q3分别为输出。

数字电路实验指导书选样本

实验一基本门电路 实验类型: 验证 实验类别: 专业主干课 实验学时: 3 所属课程: 数字电子技术 一、实验目的 ( 1) 熟悉常见门电路的逻辑功能; ( 2) 学会利用门电路构成简单的逻辑电路。 二、实验要求: 集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件, 任何复杂的组合电路和时序电路都可用逻辑门经过适当的组合连接而成。本实验要求熟悉74LS00、 74LS02、 74LS86的逻辑功能, 需要查阅集成块的引角图, 并能够利用它们构成简单的组合逻辑电路, 写出设计方案。 三、实验仪器设备及材料 数字电路实验箱 1台; 74LS00、 74LS02、 74LS86各一块 四、实验方案 1、 TTL与非门逻辑功能测试 将四2输入与非门74LS00插入数字电路实验箱面板 的IC插座上, 任选其中一与非门。输入端分别输入不 同的逻辑电平( 由逻辑开关控制) , 输出端接至 LED”电平显示”输入端。观察LED亮灭, 并记录对应 的逻辑状态。按图1-1接线, 检查无误方可通电。 图1-1 表1-1 74LS00逻辑功能表

2、 TTL或非门、异或门逻辑功能测试 分别选取四2输入或非门74LS02、四2输入异或门74LS86中的任一门电路, 测试其逻辑功能, 功能表自拟。 3、若要实现Y=A′, 74LS00、 74LS02、 74LS86将如何连接, 分别画出其实验连线图, 并验证其逻辑功能。 4、用四2输入与非门74LS00实现与或门Y=AB+CD的功能。画出实验连线图, 并验证其逻辑功能。 五、考核形式 检查预习情况占30%, 操作占40%, 实验报告占30%。 六、实验报告 主要内容包括, 对实验步骤, 实验数据、实验中的特殊现象、实验操作的成败、实验的关键点等内容进行整理、解释、分析总结, 回答思考题, 提出实验结论或提出自己的看法等。 七、思考题 如何处理各种门电路的多余输入端?

相关文档
最新文档