主板常见场管替换和检测

主板常见场管替换和检测
主板常见场管替换和检测

主板常见场管替换和检测

一、用万用表测量场效应管极性及好坏判断

1、测量

极性及管型判断

红笔接S、黑笔接D值为(300-800)为N沟道

红笔接D、黑笔接S值为(300-800)为p沟道

如果先没G、D再没S、D会长响,表笔放在G和最短脚相连放电,如果再长响为击穿

贴片场管与三极管难以区分,先按三极管没,如果不是按场管测

场管测量时,最好取下来测,在主板上测量会不准

2、好坏判断

测D、S两脚值为(300-800)为正常,如果显示“0”且长响,场管击穿;如果显示“1”,场管为开路

软击穿(测量是好的,换到主板上是坏的),场管输出不受G极控制。

二、主板场管的代换原则

场管代换只需大小相同,分清N沟道P沟道即可

功率大的可以代换功率小的

三、主板上常见的场管型号代换

N沟道:

702、712、G16、SG、SS、7EW、12KSH、72KGG、KF

F827、F841、BPS100

P沟道:

主板测试卡

C0,C1,C2,C3,C5内存,D1,D2,D3,D4,D5显卡。00 CPU不供电,CPU不跑数,BIOS丢资料,桥空焊,IO坏 26过键盘,扫硬盘,75扫硬盘,进系统 AMD主板跑C0.C1可能是CPU烧了 C0--C1---C2---C3---C4---C5不过内存是小孩子都知道的事情,但是对于AMD的板子C0-C1是CPU内存控制器坏了,E0--E1--E3对于775的板子来说是不过内存,但是对于AMD来说是显卡。哈哈 主板检测卡代码(常见)及解决方法 u' z6 R#.错误代码:00(FF) 代码含义:主板没有正常自检) u* F, j- }* @+ C 解决方法:这种故障较麻烦,原因可能是主板或CPU没有正常工作。一般遇到这种情况,可首先将电脑上除CPU外的所有部件全部取下,并检查主板电压、倍频和外频设置是否正确,然后再对CMOS进行放电处理,再开机检测故障是否排除。如故障依旧,还可将CPU从主板上的插座上取下,仔细清理插座及其周围的灰尘,然后再将CPU安装好,并加以一定的压力,保证CPU与插座接触紧密,再将散热片安装妥当,然后开机测试。如果故障依旧,则建议更换CPU测试。另外,主板BIOS损坏也可造成这种现象,必要时可刷新主板BIOS后再试。# O- V t0 o w" Q8 z" h/ { 1 ~1 U3 N 2 E0 {8 i* a4 P 错误代码:01. v( ?7 F. A. u' z6 R# }/ 代码含义:处理器测试0 f" ]2 D" C2 | U9 J& L 解决方法:说明CPU本身没有通过测试,这时应检查CPU相关设备。如对CPU 进行过超频,请将CPU的频率还原至默认频率,并检查CPU电压、外频和倍频是否设置正确。如一切正常故障依旧,则可更换CPU再试。0 G4 ~# y) q# }: W; c" o5 B3 \ . x2 f: q5 e( G# K* v2 { 错误代码:C1至C5 代码含义:内存自检/ {+ O5 r; c: D8 B9 解决方法:较常见的故障现象,它一般表示系统中的内存存在故障。要解决这类故障,可首先对内存实行除尘、清洁等工作再进行测试。如问题依旧,可尝试用柔软的橡皮擦清洁金手指部分,直到金手指重新出现金属光泽为止,然后清理掉内存槽里的杂物,并检查内存槽内的金属弹片是否有变形、断裂或氧化生锈现象。开机测试后如故障依旧,可更换内存再试。如有多条内存,可使用替换法查找故障所在。& d; R6 C5 K' b1 E. 错误代码:0D# K; e. C; V* i8 D0 f4 L1 代码含义:视频通道测试

电脑主板测试卡代码说明大全

电脑主板测试卡代码说明大全 代码对照表 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。 DMA 初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。 0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 . 10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。 11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM 第1位故障。 12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DK RAM第2位故障。 13 测试8741键盘控制器接口。视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。 14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。 15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。 16 建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第6位故障。 17 调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。第1通道计时器测试结束;8254第0通道计

常用场效应管参数大全

常用场效应管参数大全 型号材料管脚用途参数 3DJ6NJ 低频放大20V0.35MA0.1W 4405/R9524 2E3C NMOS GDS 开关600V11A150W0.36 2SJ117 PMOS GDS 音频功放开关400V2A40W 2SJ118 PMOS GDS 高速功放开关140V8A100W50/70nS0.5 2SJ122 PMOS GDS 高速功放开关60V10A50W60/100nS0.15 2SJ136 PMOS GDS 高速功放开关60V12A40W 70/165nS0.3 2SJ143 PMOS GDS 功放开关60V16A35W90/180nS0.035 2SJ172 PMOS GDS 激励60V10A40W73/275nS0.18 2SJ175 PMOS GDS 激励60V10A25W73/275nS0.18 2SJ177 PMOS GDS 激励60V20A35W140/580nS0.085 2SJ201 PMOS n 2SJ306 PMOS GDS 激励60V14A40W30/120nS0.12 2SJ312 PMOS GDS 激励60V14A40W30/120nS0.12 2SK30 NJ SDG 低放音频50V0.5mA0.1W0.5dB 2SK30A NJ SDG 低放低噪音频50V0.3-6.5mA0.1W0.5dB 2SK108 NJ SGD 音频激励开关50V1-12mA0.3W70 1DB 2SK118 NJ SGD 音频话筒放大50V0.01A0.1W0.5dB 2SK168 NJ GSD 高频放大30V0.01A0.2W100MHz1.7dB 2SK192 NJ DSG 高频低噪放大18V12-24mA0.2W100MHz1.8dB 2SK193 NJ GSD 高频低噪放大20V0.5-8mA0.25W100MHz3dB 2SK214 NMOS GSD 高频高速开关160V0.5A30W 2SK241 NMOS DSG 高频放大20V0.03A0.2W100MHz1.7dB 2SK304 NJ GSD 音频功放30V0.6-12mA0.15W 2SK385 NMOS GDS 高速开关400V10A120W100/140nS0.6 2SK386 NMOS GDS 高速开关450V10A120W100/140nS0.7 2SK413 NMOS GDS 高速功放开关140V8A100W0.5 (2SJ118) 2SK423 NMOS SDG 高速开关100V0.5A0.9W4.5 2SK428 NMOS GDS 高速开关60V10A50W45/65NS0.15 2SK447 NMOS SDG 高速低噪开关250V15A150W0.24可驱电机2SK511 NMOS SDG 高速功放开关250V0.3A8W5.0 2SK534 NMOS GDS 高速开关800V5A100W4.0 2SK539 NMOS GDS 开关900V5A150W2.5 2SK560 NMOS GDS 高速开关500V15A100W0.4 2SK623 NMOS GDS 高速开关250V20A120W0.15 2SK727 NMOS GDS 电源开关900V5A125W110/420nS2.5 2SK734 NMOS GDS 电源开关450V15A150W160/250nS0.52 2SK785 NMOS GDS 电源开关500V20A150W105/240nS0.4 2SK787 NMOS GDS 高速开关900V8A150W95/240nS1.6 2SK790 NMOS GDS 高速功放开关500V15A150W0.4 可驱电机

电脑主板适用场效应管参数及代换

电脑主板适用场效应管参数及代换 器件型号用途及参数替换型号相似型号封装类型 2SK 3225-Z N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,34A,40W,32/110ns,Ron=0.018mΩ TO-252 3353- Z N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,82A,95W,100/280ns,Ron=14mΩ T O-263 3354-S 3354-Z N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,83A,100W,100/300ns,Ron=8mΩ 2SK 3355-ZJ 2SK 3355-ZJ TO-263 3355-ZJ N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,83A,100W,130/510ns,Ron=5.8mΩ 2SK 3354-S-Z 2SK 3354-S-Z TO-263 3366-Z N-MOSFET(耗尽型)用于用于笔记本电脑 中的DC-DC转换 30V,20A,30W,28/47ns,Ron=21mΩ TO-252 3367-Z N-MOSFET(耗尽型)用于用于笔记本电脑 中的DC-DC转换 30V,36A,40W,75/165ns,Ron=9mΩ TO-252 3377-Z N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,20A,30W,13/43ns,Ron=40mΩ TO-252 3385-Z N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,30A,35W,22/77ns,Ron=28mΩ 2SK 3386-Z 2SK 3386-Z TO-252 3386-Z N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,34A,40W,32/98ns,Ron=25mΩ 2SK 3385-Z 2SK 3385-Z TO-252 3900-ZP N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,82A,104W,18/62ns,Ron=8mΩ TO-263 3901-ZK N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,60A,64W,12/48ns,Ron=13mΩ TO-263 3902-ZK N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 60V,30A,45W,10/37ns,Ron=21mΩ TO-263 3943-ZP N-MOSFET(耗尽型)用于大电流开关 40V,82A,104W,29/69ns,Ron=3.5mΩ TO-263 738-Z N-MOSFET(耗尽型)功率场效应管 30V,2A,20W,Ron=0.25Ω TO-252 MTD 10N05A N通道,功率场效应管 50V,10A,1.8W,Ron=0.1Ω MTD 3055A TO-252 10N05E 10N05E1 N通道,功率场效应管 50V,10A,20W,30/45ns,Ron=0.1Ω TO-252 10N08E 10N08E1 N通道,功率场效应管 80V,10A,50W,13/45ns,Ron=0.12Ω TO-252 器件型号用途及参数替换型号相似型号封装类型 3055A N通道,功率场效应管 60V,8A,1.8W,Ron=1.5Ω MTD 10N05A TO-252

主板检测卡代码大全40848

主板检测卡代码大全一般来说代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL芯片组的主板显 示26 C1、C6 如显示 . 01 02 03 检查部件正 04 使 05 ROM。DMA 06 器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA 初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT 命令。RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM 芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN 0D 13、视频 64K RAM 0E 0F 10 第一个 11 第一个64DK RAM第 12 B 13 化/存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。 14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。 15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。

主板检测卡代码大全

. 主板检测卡代码大全 一般来说代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL芯片组的主板显示26或16则表示可以正常点亮。 C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是I/0坏或刷BIOS 如显示05、ED、41则直接刷BIOS 00 .已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 . 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA 电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS 检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT 命令,即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核专业资料Word . 实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP 命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接

电脑主板故障诊断卡代码大全

电脑主板故障诊断卡代码大全 代码对照表 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA 初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA 初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。. 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT 命令。RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。 0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。. 10 测试DMA通道0。CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。 11 测试DMA通道1。CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM第1位故障。

常用全系列场效应管MOS管型号参数封装资料

场效应管分类DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET DISCRETE MOS FET 型号简介封装2N7000 2N7002 IRF510A IRF520A IRF530A IRF540A IRF610A IRF620A IRF630A IRF634A IRF640A IRF644A IRF650A IRF654A IRF720A 60V,0.115A 60V,0.2A 100V,5.6A 100V,9.2A 100V,14A 100V,28A 200V,3.3A 200V,5A 200V,9A 250V,8.1A 200V,18A 250V,14A 200V,28A 250V,21A 400V,3.3A TO-92 SOT-23 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220 TO-220

DISCRETE MOS FET IRF730A 400V,5.5A TO-220 DISCRETE MOS FET IRF740A 400V,10A TO-220 DISCRETE MOS FET IRF750A 400V,15A TO-220 DISCRETE MOS FET IRF820A 500V,2.5A TO-220 DISCRETE MOS FET IRF830A 500V,4.5A TO-220 DISCRETE MOS FET IRF840A 500V,8A TO-220 DISCRETE MOS FET IRF9520 DISCRETE MOS FET IRF9540 DISCRETE MOS FET IRF9610 DISCRETE MOS FET IRF9620 DISCRETE MOS FET IRFP150A 100V,43A TO-3P DISCRETE MOS FET IRFP250A 200V,32A TO-3P DISCRETE MOS FET IRFP450A 500V,14A TO-3P DISCRETE MOS FET IRFR024A 60V,15A D-PAK DISCRETE MOS FET IRFR120A 100V,8.4A D-PAK TO-220 TO-220 TO-220 TO-220

电脑主板故障诊断检测卡代码表与解决方案

电脑主板故障诊断检测卡代码表 BIOS 灯:为 BIOS 运行灯,正常工作时应不停闪动 CLK丁:为时钟灯。正常为常亮. OSC丁:为基准时钟灯,正常为常亮。 RESET丁仅为复位灯,正常为开机瞬间闪一下,然后熄灭。 RUN丁:为运行灯,工作时就不停闪动。 +12V, -12V, +5V, +3.3V 灯正常为常亮 1.检测卡跑00, CO CF,FF或D1 原因:CPUS槽脏。针脚坏,接触不好。CPU内存超频了。CPU供电不良。某芯片发热,硬件某部分资源不正常,在 CMOSI把其关闭或更换该集成资源的芯片 2.C1,C2, C6, C7或 E1: 内存接触不良,(用镊子划)。 测内存工作电压( SDRAM 3.3V, DDR 2.5和 1.6V。)测时钟CPU旁排阻是否有损坏。 测CPU地址线和数据线。 北桥坏 3.C 1 ~05循环跳变: BIOS损坏 I/O 坏或者南桥坏 . 4.C1,C3,C6: 刷 BIOS 换电源,换CPU换转接卡有可以解决问题. 检查BIOS座. PCE断线,板上粘有导电物.清洗内存和插槽. 换内存条 . 换内存插槽 .. 换 I/O. 北桥虚焊或者坏 . 5循环显示C1~C3或者C1~C5等 刷 BIOS. 换 I/O 有时可解决问题 . PCE断线,板上粘有导电物 可考虑换电容.换CPU换内存南桥坏 . 6.显BO代码: 看内存电压,清CMOS北桥坏 7.显示25 代码 北桥问题.' 8.跑 0D 后不亮 : 外频, 倍频跳线 9.显 2B 代码后不亮 刷BIOS.清除BIOS.时钟发生器不良.北桥供电不正常或者北桥坏 10.跑 50 代码: I/O 错, 南北桥 ,BIOS 坏 11.跑 41 代码: BIOS刷新.PCB坏或者上面有导电物

电脑故障检测卡代码

电脑故障检测卡代码表 1、特殊代码"00"和"ff"及其它起始码有三种情况出现: ①已由一系列其它代码之后再出现:"00"或"ff",则主板ok。 ②如果将cmos中设置无错误,则不严重的故障不会影响bios自检的继续,而最终出现"00"或"ff"。 ③一开机就出现"00"或"ff"或其它起始代码并且不变化则为主板没有运行起来。 2、本表是按代码值从小到大排序,卡中出码顺序不定。 3、未定义的代码表中未列出。 4、对于不同bios(常用ami、award、phoenix)用同一代码代表的意义不同,因此应弄清您所检测的电脑是属于哪一种类型的bios,您可查阅您的电脑使用手册,或从主板上的bios芯片上直接查看,也可以在启动屏幕时直接看到。 5、有少数主板的pci槽只有一部分代码出现,但isa槽有完整自检代码输出。且目前已发现有极个别原装机主板的isa槽无代码输出,而pci槽则有完整代码输出,故建议您在查看代码不成功时,将本双槽卡换到另一种插槽试一下。另外,同一块主板的不同pci槽,有的槽有完整代码送出,如dell810主板只有靠近cpu的一个pci槽有完整代码显示,一直变化到"00"或"ff",而其它pci槽走到"38"后则不继续变化。 6、复位信号所需时间isa与pci不一定同步,故有可能isa开始出代码,但pci 的复位灯还不熄,故pci代码停要起始代码上。 代码对照表 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。

场效应管的主要参数

一:场效应管的主要参数 (1)直流参数 饱和漏极电流IDSS 它可定义为:当栅、源极之间的电压等于零,而漏、源极之间的电压大于夹断电压时,对应的漏极电流。 夹断电压UP 它可定义为:当UDS一定时,使ID减小到一个微小的电流时所需的UGS 开启电压UT 它可定义为:当UDS一定时,使ID到达某一个数值时所需的UGS (2)交流参数 低频跨导gm 它是描述栅、源电压对漏极电流的控制作用。 极间电容场效应管三个电极之间的电容,它的值越小表示管子的性能越好。 (3)极限参数 漏、源击穿电压当漏极电流急剧上升时,产生雪崩击穿时的UDS。 栅极击穿电压结型场效应管正常工作时,栅、源极之间的PN结处于反向偏置状态,若电流过高,则产生击穿现象。 本站链接:场效应管的参数查询

二:场效应管的特点 场效应管具有放大作用,可以组成放大电路,它与双极性三极管相比具有以下特点:(1)场效应管是电压控制器件,它通过UGS来控制ID; (2)场效应管的输入端电流极小,因此它的输入电阻很高; (3)它是利用多数载流子导电,因此它的温度稳定性较好; (4)它组成的放大电路的电压放大系数要小于三极管组成放大电路的电压放大系数; (5)场效应管的抗辐射能力强。 三. 符号:“Q、VT” ,场效应管简称FET,是另一种半导体器件,是通过电压来控制输出电流的,是电压控制器件 场效应管分三个极:

D极为漏极(供电极) S极为源极(输出极) G极为栅极(控制极) D极和S极可互换使用 场效应管图例: 四. 场效应管的分类: 场效应管按沟道分可分为N沟道和P沟道管(在符号图中可看到中间的箭头方向不一样)。 按材料分可分为结型管和绝缘栅型管,绝缘栅型又分为耗尽型和增强型,一般主板上大多是绝缘栅型管简称MOS管,并且大多采用增强型的N沟道,其次是增强型的P沟道,结型管和耗尽型管几乎不用。 五主板上用的场效应管的特性:

电脑主板检测卡代码大全

电脑主板检测卡代码大全: 一般来说代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL 芯片组的主板显示26或16则表示可以正常点亮。 C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是I/0坏或刷BIOS 如显示05、ED、41则直接刷BIOS 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 . 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROM BIOS 检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。 3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。 0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 . 10 测试DMA通道0。CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初

检测卡常见代码

主板检测卡是一个集成电路模块,根据PC机板卡CPU供电,内存供电,南北桥和AO芯片复位信号,适中信号以及BOLS原始数据资料库<通俗说法>的额定电压,脉冲信号的一个评估对比· 检测卡可以直接插到主板的PCI和ISA插槽,845以上主板没有ISA插糟,直接用PCI 接口插入主板PCI接口上,要先断掉主机电源<一般不要热拔插>!! 检测卡上有两个并列的发光2极管,主板电压,信号电路由检测卡效验后以代码的形式显示出来:如:00,FF,0d,31,C1,56,83,C0......等! 1:CPU没工作:00,FF,FC,C0。目前只会显示这些字符,CPU过热保护会FF频闪2下并自动断电,检查CPU是否插好,安稳,小心操作,针很脆。不要热拔插 2:内存问题:C1,0D,31,7F,83目前只会显示这些字符机器直接报警,判断是否插好,或是烧了,千万不要插反通电,98%烧!后果严重啊兄弟们要记得啊,千万,千万别插反通电百试百烧,在我经历中还没有没烧过的3:显卡没有插好,主机不亮或会直接报警,检测卡会频闪.检查AGP后面的卡子是否按进去了,容易被内存固定的卡子挡住。不要热拔插,会引起其他电路的故障,一定要注意,主板保护电路一工作,就意味着非检测卡能判断问题 4:BOLS中病毒导致的不亮会直接显示FD.等,这种情况会很少很少,家用品牌机会有这种情况,中CH等,解决方法可以用软区刷写,编程器写入,网吧很少见! 5:如果检测卡没有任何显示,电源又是好的,那么就要放弃检测了,只接下螺丝等待维修!非网管能解决了。 6:某种主板需要自检键盘才能开机,检测前最好是把键盘插正确。 7:电源好坏的检测方法:用一软细电线或者洗铁丝,一头插进ATX电源接口的任意一黑线<接地>一头插唯一的绿线<主板开机电路主供电>电源会被强行开启,风扇转则好,不转则坏 8:主板电池电量不足会导致BOLS信息保存不住,更换解决。最容易引起CPU保护电路动作,把电池小心弄下来,主板硬跳线放电或直接短路,达到放电的目的,以解决CPU保护电路,主板才会正常工作。停电引起的主机不亮要注意到了! 9:主板上不能有明显的集灰这是前提! 其实很简单一句话就是机器是死的,人是活的撒,会观察,还要用耳朵听。 显示FF或00,CPU没有工作ATX电源损坏 CPU脚焊点因为长时间的热胀冷缩,脱焊 CPU附近的电解电容爆裂 CPU附近的功率三极管烧毁 代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL 芯片组的主板显示26或16则表示可以正常点亮。 C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是I/0坏或刷BIOS 如显示05、ED、41则直接刷BIOS 一、主板检测卡各指示灯说明 BIOS灯:为BIOS运行灯、正常工作时应不停闪动 CLK灯:为时钟灯、正常为常亮

主板诊断卡代码含义

主板诊断卡代码含义电脑主板故障诊断检测卡代码表 BIOS灯:为BIOS运行灯,正常工作时应不停闪动 CLK灯:为时钟灯。正常为常亮 OSC灯:为基准时钟灯,正常为常亮。 RESET丁仅为复位灯,正常为幵机瞬间闪一下,然后熄灭。RUN灯:为运行灯,工作时就不停闪动。 +12V,-12V,+5V,+3.3V 灯正常为常亮 1.检测卡跑00,CO,CF,FF 或D1 原因:CPU插槽脏。针脚坏,接触不好。CPU内存超频了。CPU 供电不良。 某芯片发热,硬件某部分资源不正常,在CMOSI把其关闭或更换该集成 资源的芯片 2. C1 ,C2,C6,C7 或E1: 内存接触不良,(用镊子划)。 测内存工作电压(SDRAM 3.3V DDR 2.5和1.6V。) 测时钟CPU旁排阻是否有损坏。 测CPU地址线和数据线。 北桥坏 3.C1?05循环跳变: BIOS损坏

I/O 坏或者南桥坏.

4.C1,C3,C6: BIOS 刷. 换电源,换CPU换转接卡有可以解决问题. 检查BIOS 座. PCB断线,板上粘有导电物.清洗内存和插槽. 换内存条. 换内存插槽.. 换I/O. 北桥虚焊或者坏. 5循环显示C1~C3或者C1~C5等 刷BIOS. 换I/O 有时可解决问题. PCB1断线,板上粘有导电物 可考虑换电容.换CPU换内存南桥坏. 6.显B0代码: 看内存电压,清CMOS北桥坏 7. 显示25 代码北桥问题.' 8. 跑0D 后不亮: 外频, 倍频跳线 9. 显2B 代码后不亮刷BIOS.清除BIOS.时钟发生器不良.北桥供电不正常或者北桥坏

10.跑50代码: I/O错,南北桥,BIOS坏11. 跑41 代码: 坏或者上面有导电物PCB刷新BIOS. 12.跑R6代码: 检测不到显卡. 划者是内存没有过 13. 跑R7 代码: 显卡初始化没有完成. 是内存错, 或者是显卡没有插好. 清洗插槽. 反复插试内存. 14.跑E0代码: CPU没有工作.插槽脏,针脚坏15 D5 :是内存旁边的3 极管坏了 诊断卡代码表特殊代码^尰和晜屦及其它起始码有三种情况出现: ①已由一系列其它代码之后再出现尰或晜屦,则主板ok 0 ②如果将cmos 中设置无错误,则不严重的故障不会影响bios 自检的继续,而最终出现^尰或晜屦。 ③一幵机就出现^尰或晜屦或其它起始代码并且不变化则为主板没有运行起来。 代码含义:主板没有正常自检 错误代码: 00(FF)

常用场效应管型号参数管脚识别及检测表

. 常用场效应管型号参数管脚识别及检测表 场效应管管脚识别 场效应管的检测和使用 场效应管的检测和使用一、用指针式万用表对场效应管进 行判别 (1)用测电阻法判别结型场效应管的电极 根据场效应管的PN结正、反向电阻值不一样的现象,可以 判别出结型场效应管的三个电极。具体方法:将万用表拨在R×1k档上,任选两个电极,分别测出其正、反向电阻值。当某两个电极的正、反向电阻值相等,且为几千欧姆时,则该两个电极分别是漏极D和源极S。因为对结型场效应管而言,漏极和源极可互换,剩下的电极肯定是栅极G。也可以将万用表的黑表笔(红表笔也行)任意接触一个电极,另一只表笔依次去接触其余的两个电极,测其电阻值。当出现两次测得的电阻值近似相等时,则黑表笔所接触的电极为栅极,其余两电极分别为漏极和源极。若两次测出的电阻值均很大,说明是PN结的反向,即都是反向电阻,可以判定是N沟道场效应管,且黑表笔接的是栅极;若两次测出的电阻值均很小,说明是正向PN结,即是正向电阻,判定为P沟道场效应管,黑表笔接的也是栅极。若不出现上述情况,可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试,直到判别出栅极为止。

1 / 19 . (2)用测电阻法判别场效应管的好坏 测电阻法是用万用表测量场效应管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1与栅极G2之间的电阻值同场效 应管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。具体方法:首先将万用表置于R×10或R×100档,测量源极S与漏 极D之间的电阻,通常在几十欧到几千欧范围(在手册中可知,各种不同型号的管,其电阻值是各不相同的),如果测 得阻值大于正常值,可能是由于内部接触不良;如果测得阻值是无穷大,可能是内部断极。然后把万用表置于R×10k档,再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极 之间的电阻值,当测得其各项电阻值均为无穷大,则说明管是正常的;若测得上述各阻值太小或为通路,则说明管是坏的。要注意,若两个栅极在管内断极,可用元件代换法进行检测。 (3)用感应信号输人法估测场效应管的放大能力 具体方法:用万用表电阻的R×100档,红表笔接源极S, 黑表笔接漏极D,给场效应管加上1.5V的电源电压,此时 表针指示出的漏源极间的电阻值。然后用手捏住结型场效应管的栅极G,将人体的感应电压信号加到栅极上。这样,由于管的放大作用,漏源电压VDS和漏极电流Ib都要发生变化,也就是漏源极间电阻发生了变化,由此可以观察到表针

主板检测卡代码大全

DEBUGS的说明手册。 1.Award BIOS 篇 错误代码:00(FF) 代码含义:主板没有正常自检 解决方法:这种故障较麻烦,原因可能是主板或CPU没有正常工作。一般遇到这种情况,可首先将电脑上除CPL外的所有部件全部取下,并检查主板电压、倍频和外频设置是否正确,然后再对CMO进行放电处理,再开机检测故障是否排除。如故障依旧,还可将CPL从主板上的插座上取下,仔细清理插座及其周围的灰尘,然后再将CPU安装好,并加以一定的压力,保证CPU与插座接触紧密,再将散热片安装妥当,然后开机测试。如果故障依旧,则建议更换CPU测试。另外,主板BIOS损坏也可造成这种现象,必要时可刷新主板BIOS后再试。 错误代码:01 代码含义:处理器测试 解决方法:说明CPU本身没有通过测试,这时应检查CPU相关设备。如对CPU 进行过超频,请将CPU勺频率还原至默认频率,并检查CPU电压、外频和倍频是否设置正确。如一切正常故障依旧,则可更换CPU S试。 错误代码:C1至C5 代码含义:内存自检 解决方法:较常见的故障现象,它一般表示系统中的内存存在故障。要解决这类故障,可首先对内存实行除尘、清洁等工作再进行测试。如问题依旧,可尝试用柔软的橡皮擦清洁金手指部分,直到金手指重新出现金属光泽为止,然后清理掉内存槽里的杂物,并检查内存槽内的金属弹片是否有变形、断裂或氧化生锈现象。开机测试后如故障依旧,可更换内存再试。如有多条内存,可使用替换法查找故障所在。 错误代码:0D 代码含义:视频通道测试 解决方法:这也是一种较常见的故障现象,它一般表示显卡检测未通过。这时应检查显卡与主板的连接是否正常,如发现显卡松动等现象,应及时将其重新插入插槽中。如显卡与主板的接触没有问题,则可取下显卡清理其上的灰尘,并清洁显卡的金手指部份,再插到主板上测试。如故障依旧,则可更换显卡测试。 一般系统启动过0D后,就已将显示信号传输至显示器,此时显示器的指示灯变绿,然后DEBUG 卡继续跳至31,显示器开始显示自检信息,这时就可通过显示器上的相关信息判断电脑故障了2.AMI BIOS 篇 错误代码:00(或FF) 代码含义:主板没有正常自检 解决方法:(同Award BIOS篇相同故障代码) 错误代码:01 代码含义:处理器寄存器测试 解决方法:(同Award BIOS篇相同故障代码) 错误代码:0D至OF 代码含义:CMO停开寄存器读/写测试

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