电路板的老化测试方法

电路板的老化测试方法
电路板的老化测试方法

PCB老化的概念

我们平常说的PCB老化就是在一定的条件下使电路板通电工作一定时间之后,电路板上面的一些元件参数就会发生变化,这种变化和电路板使用的时间有关,这对于一些特殊用途的电路板来说,是绝对不允许的,所以很多电路板在出厂之前就会做抗老化处理,使电路稳定后在使用。这样就可以大大的提高可靠性和安全性。

Rs410老化测试的做法

在一般的工业设备里面,工作温度一般都在-40℃~+55℃之中产生交替的变化,并且可能长时间处于工作状态,那么这样就需要对其在长时间工作下的性能和老化速度进行测试来考量电路板的整体质量。本此针对RS410的测试中采用温度交替变化,长时间通电的方式经行。

检查环境条件

检测应在下列环境条件下进行:温度:15~50℃相对湿度:45%~75%大气压力:86~106Kpa,考虑现有条件用暖风机(或者可控制温度的加热器)加热至50度以上。在密闭空间(盒子)中进行。通过密闭保温。保障盒内温度维持在50度左右。

需要准备

测试用的盒子,板卡以及并联的电源线,PIP测试线,TAG管和温度计。暖风机。(可有可控制温度加热器代替)。

老化前的要求

电路板的老也有两点要求,这两点要求分别是:

1.外观检测所有要老化的功能板需先进行目测,对于有明显缺陷的功能板,如有短路,断路,元器件安装错误,缺件等缺陷

的功能板应予以剔除。(这一部分应由质检初筛)。

2.电参数检测所有要老化的功能板还需进行电参数检测,对参数不符合要求的功能板应予以剔除。具体分为基本分,只要芯

片的输入输出导通测试,外设的导线连接有无开路,是否经过测试已经对电路板产生损害。

老化设备

1.热老化设备内工作空间的任何点应满足以下要求:

1.能保持热老化所需要的高温。

2.上电时间足够长。(测试时间定位最少72小时连续上电)

2.功能板的安装与支撑

1.功能板应以正常使用位置安装在支架上(六脚柱)。

2.功能板的支架的热传导应是低的,以使功能板与支架之间实际上是隔热的。

3.功能板的支架应是绝缘的,以确保受试功能板与支架之间不漏电。

3.电功率老化设备

1.电功率老化设备应保证提供老化功能板所需要的电压和电流,并能提供可变化的输入信号,并可随时检测每块功能伴。(间

断性通信测试,与PIP-TAG的测试)

2.电功率老化设备应保证在老化过程中不应老化设备的缘故而中途停机。

老化

1.热老化条件

1.如无其他规定,温度循环范围应为:0~60℃或10~60℃,可自行选定。(定于50度)

2.热老化时间至少为72h。

2.老化方法

老化的方法,这几步分别是:

1.将处于环境温度下的功能板放入处于同一温度下的热老化设备内(盒子),板卡以罗列方式叠放。

2.功能板处于运行状态。

3.然后设备内的温度应该以规定的速率上升到规定的温度值。

4.保持上电状态,每隔2小时进行功能测试。

5.之后取出是温度降低俩小时在进行功能测试。

6.连续重复3至7。直到规定的老化时间,并且按规定的老化时间对功能板进行一次测量和记录。

7.测试时间整体内板卡处于运行上电状态。.

最后检测

在规定条件下对功能板进行电参数检测,不符合要求的予以剔除。

附件图。

第一天第二天第三天

电路板如何老化

电路板如何老化?时间大概是多长? 最佳答案 LZ指老化测试吧? 一般是常温24-72小时通电工作,高温24小时工作 时间/温度按不同产品的标准有变化。一般电子产品(民用)常温24小时、高温(60度)24小时。还要看老板愿意付钱不。高温24小时就是烧钱。 问 不知道大家都对做好的电路板进行老化吗, 是直接把相关电路在室温下通上电?还是放到一温控箱里烤电路板??还有做过电路板抗震实验的说下怎么搞啊? 答 1: 你还没有理解“老化”的意思其实你应该先了解老化的目的和作用: 老化在电子行业中的一个电工产品环境试验的一个规范里面是有相关规定的, 一般老化是在通电的情况下,在标准中按照推荐的温度值和时间在老化房(恒温)的条件下进行试验的,这个老化试验可以将产品前期的一些不稳定因素暴露出来,也是一个产品筛选定简捷方法!一般温度在40度时,建议采用4小时时间进行 答 2: 老化的几个方面1。安全规则要求的老化测试,分常温和高低温烤机性测试。 2。工厂常规性老化烤机,主要是将产品经过一段时间运行后,确保出厂时候,品质稳定性。3。工程性测试,主要为研发阶段的烤机测试,内容自定义,主要是确认开发的样机性能稳定,争取在生产前发现故障。 答 3: 大家都对做好的电路板老化吗???样品阶段肯定老化,而且还要做极限老化实验(100度一个月),找出设计中的薄弱点.量产时可以根据实际来定.LAMBDA的产品80%以上都不老化,人家"牛"嘛! 电路板上的焊点会老化吗? 电路板上面的焊点会随着时间而老化虚焊吗?为什么刚刚焊的焊点很坚硬,旧的焊点好样很松软的感觉,稍微用一点力元件就可以从电路板上面扯下来了,,新焊的就扯不下来,,焊点也会老化掉吗???? 最佳答案 通常情况下焊点和电路板没那么容易氧化. 你所说的这种情况,多数来看,应该是用的锡焊料不好所致.或是在什么特殊环境下腐蚀造成的. 连续性工作的电路板怎样老化啊?有没有这方面的标准工艺?比如UPS上用的线路板,怎样做老化试验?? 大公司有没有这方面的标准??谢谢各位,急用!!

海思芯片HTOL老化测试技术规

HTOL测试技术规范 拟制:克鲁鲁尔 审核: 批准: 日期:2019-10-30

历史版本记录

适用范围: 该测试它以电压、温度拉偏方式,加速的方式模拟芯片的运行状况,用于芯片寿命和长期上电运行的可靠性评估。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HTOL老化测试需求。 简介: HTOL(High Temperature Operating Life)测试是芯片电路可靠性的一项关键性的基础测试,它用应力加速的方式模拟芯片的长期运行,以此评估芯片寿命和长期上电运行的可靠性,通常称为老化测试。本规范介绍DFT和EVB两种模式的HTOL测试方法,HTOL可靠性测试工程师需要依据实际情况选择合适的模式完成HTOL测试。 引用文件: 下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本规范,然而,鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本规范。 1. 测试流程 1.1 HTOL测试概要 HTOL主要用于评估芯片的寿命和电路可靠性,需要项目SE、封装工程师、可靠性工程师、硬件工程师、FT测试工程师共同参与,主要工作包括:HTOL向量、HTOL测试方案、HTOL环境调试、HTOL测试流程执行、测试结果分析、失效定位等。HTOL可以用两种方式进行测试:DFT测试模式和EVB测试模式。 1.2 DFT和EVB模式对比 DFT(Design For Testability)测试模式:集成度较高的IC一般有DFT设计,其HTOL模

电路板老化标准

电路板老化标准 为了达到满意的合格率,几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条 件下提高其效率?本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案,以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。 在半导体业界,器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样,半导体随时可能因为各种原因而出现故障,老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现,避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化,很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。 在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障,老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的唯一方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据,而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。 老化制程必须要确保工厂的产品 满足用户对可靠性的要求,除此之外, 它还必须能提供工程数据以便用来改 进器件的性能。 一般来讲,老化制程藉由工作环 境和电气性能两方面对半导体器件进 行苛刻的试验使故障尽早出现,典型 的半导体寿命曲线如右图。由图可见, 主要故障都出现在器件寿命周期开始 和最后的十分之一阶段。老化就是加 快器件在其寿命前10%部份的运行过 程,迫使早期故障在更短的时间内出 现,通常是几小时而不用几月或几年。 不是所有的半导体生 产厂商对所有器 件都需要进行老化。普通器件制造由 于对生产制程比较了解,因此可以预先掌握藉由统计得出的失效预计值。如果实际故障率高于预期值,就需要再作老化,提高实际可靠性以满足用户的要求。 本文介绍的老化方法与 10 年前几乎一样,不同之处仅仅在于如何更好地利用老化时间。提高温度、增加动态信号输入以及把工作电压提高到正常值以上等等,这些都是加快故障出现的通常做法;但如果在老化过程中进行测试,则老化成本可以分摊一部份到功能测试上,而且藉由对故障点的监测还能收集到一些有用信息,从总体

电源老化测试方案OK

恒流电源老化测试方案LED LED恒流电源老化测试分为两个阶段: 第一:基本性能参数测试。 测试电源的基本参数,主要包括: 电压范围:在标称交流输入电压范围内电源都能正常工作。 输出电压:电源输出电压范围,检验电源能带LED的数量。 输出电流(恒流精度):要求输出电流恒定为350mA±3%。 电源效率:要求电源效率不低于88%。 功率因数:要求功率因数大于0.95。 谐波失真:要求总谐波失真不超过20%。 低温测试:要求电源能长时间在-30℃~70℃的条件下能正常启动工作。 安规测试:电源耐压AC1500V测试,不击穿,泄漏电流符合安规要求。 保护功能:包括开路保护,短路保护等。 以上参数均能满足要求,则可进行下一步的老化测试。 第二:长期老化测试。此步骤分为三种方式。 第一种方式,正常老化。将电源直接带载通电老化。电源不间断持续工作时间在一个 月以上,不出故障,没有烧毁现象,各项参数稳定,则视为合格。 第二种方式,间歇性老化。将电源带载间歇性通电老化测试。电源在带负载的情况下, 不能的通电/断电,测试电源的抗冲击性能。老化时间一个月以上,不出故障,没有烧毁现象,各项参数稳定,则视为合格。 第三种方式,加速老化。将电源放置于高温试验箱内带负载长期工作,检验其各项性 能是否稳定。 一、测试仪器设备 电源老化测试所需仪器设备如下:

二、测试方法 基本参数测试1、负载,同时将一只电流表串接在负载中,已测试输出电流,另一将电源输出端接LED只万用表用以测试电源输出的电压。电源输入端接电参数测试仪,电参数测试仪接调压器输出电压。具体接线方式如下图: 是否LED调节调压器,使交流输入电压在电源标称的电压范围内变化,同时测试负载是否有变化等。并记录下输入电压不同Io正常工作,输出电压V o是否有变化,输出电流时输出的电流电压值。,谐波失真等数据,并记,功率因数PF Vi,输入功率Pi电参数测试仪将显示输入电压η。录下输入电压不同时各个数据,以便计算电源效率 计算公式如下:η电源效率 Pi÷输入功率o×输出电流IoV电源效率η=输出电压 Pi)o×Io/即:η=(V LED。测试所需要设备仪器器件:调压器,电参数测试仪,数字万用表,负载 主要测试参数包括:测试参数序号项目)输入电压(V1 保护功能测试2、恒流电源的保护功能主要是开路保护和短路保护。LED。电源是否正常工LED~510秒后,再重新接通负载开路保护:直接将负载LED断开作。,电LED秒,然后再重新接通负载2LED恒流电源输出端短接~3短路保护:直接将源是否正常工作。测试所需要设备仪器器件:手工测试,无需其他。安规测试3、 恒流电源的安全性能。LED主要检测

PCB电路板的加速老化测试条件及模式

PCB电路板的加速老化老化测试条件及模式 PCB电路板为确保其长时间使用质量与可靠度,需进行SIR (Surface Insulation Resistance)表面绝缘电阻的试验,透过其试验方式找出PCB是否会发生MIG(离子迁移)与CAF(玻纤纱阳极性漏电)现象。对于产品的周期性来说缓不应急,而HAST是一种试验手法也是设备名称,HAST是提高环境应力(温度&湿度&压力),在不饱和湿度环境下(湿度:85%R.H.)加快试验过程缩短试验时间,用来评定PCB压合&绝缘电阻,与相关材料的吸湿效果状况,缩短高温高湿的试验时间(85℃/85%R.H./1000h→110℃/85%R.H./264h),PCB的HAST试验主要参考规范为:JESD22-110-B、JPCA-ET-01、JPCA-ET-08。 PCB电路板加速寿命模式: 1、提高温度(110℃、120℃、130℃) 2、维持高湿(85%R.H.) 3、施加压力(110℃/85%/0.12MPa、120℃/85%/0.17MPa、130℃/85%/0.23MPa) 4、外加偏压(DC直流电) PCB电路板的HAST测试条件: 1、JPCA-ET-08:110、120、130 ℃/85%R.H. /5~100V 2、高TG环氧多层板:120℃/85%R.H./100V,800小时 3、低诱电率多层板:110℃/85% R.H./50V/300h 4、多层PCB配线材料:120℃/85% R.H/100V/800 h 5、低膨胀系数&低表面粗糙度无卤素绝缘材料:130℃/ 85 % R.H/12V/240h 6、感旋光性覆盖膜:130℃/ 85 % R.H/6V/100h 7、COF膜用热硬化型板:120℃/ 85 % R.H/100V/100h

PCB成品金属表面处理工艺对比

PCB成品金属表面处理工艺对比 由于目前PCB SMT技术的发展,元件的焊接点越来越多,越来越密,以及传统的喷锡流程中含有的铅对环境的影响,促使化学镍金,沉银及沉锡呼之欲出。现就其持性做简单对比: 1.喷锡,由于其热风处理后,Sn面并非水平整,对于密集的SMT 焊接时,极易出现困难,同时由于热风处理的含铅量高,对于 环境的污染特别大,从而要求更新的流程来取代它。 2.化学镍金,化学镍金有良好的焊接性,同时表面平整,非常适合密集的SMT的焊接,但是由于其加工流程长,废水量大, 同时化学金过程中含有剧毒的氰,对于环境有较大影响,再者 金的价格昂贵,故化学银及化学锡流程随之推出。 3.化学沉银,由于其为简单的置换反应,银层簿在6—25u”,金属表面平整,适密集的SMT焊接。由于银迁移等技术问题, 化学锡比它有更优势。 4.化学沉锡,也是根据铜锡化学电位差,产生的置换反应,形成的锡层覆盖铜面,易于焊接的同时,其流程简单,废水量小, 与沉银一样适合做水平流程。

沉锡培训材料 一.沉锡流程及各药槽功能和原理 1.沉锡流程 2.各药槽功能和原理 二.沉锡流程检测 1.水质要求 2.Microetch之微蚀量检测 3.沉锡厚度控制 三.沉锡板主要检查项目 1.Sn 厚度 2.Sn Cu结合力测试 3.离子污染测试 4.可焊性检查及wetting banlance 5.板面检查 四.沉锡板作业及储存注意事项 五.重工流程 一.沉锡流程及各药槽功能和原理 a)沉锡流程 酸性除油→DI水洗→微蚀→DI水洗→预浸→沉锡→热DI 水洗→DI水洗→烘干 b)各药槽功能和原理

①除油: 为避免碱性物质对抗焊油墨的攻击,其为酸性清洁剂,其主要功能是去除油脂,污染物,氧化物及手指印。并与防焊绿油有良好之相容性 ②微蚀: 主要功能是微蚀铜面使表面粗化,加强清洁之作用。有以下两种微蚀剂: a.改良的过硫酸盐型: Na2S8O4→Na2SO4+[O] Cu + Cu2+ + [O] = Cu2O Cu2O + [O] = CuO [O]+Cu→CuO CuO+H2SO4→CuSO4+H20 b.加湿润剂的双氧水型:此微蚀液含湿润剂,以增加后药缸药水的湿润性。 H2O2→H2O+[O] 其它反应原理同上。 ③预浸: 此缸的主要成分与沉锡缸基本相同,但不含锡离子。 其主要功能是减少对沉锡缸的污染,避免稀释沉锡缸浓度及增加Cu面的湿润度,以提供更平均和光滑的锡镀层。 此缸不能含有锡离子,否则在此缸发生沉锡反应,从而

变更测试方案

5835; LX800变更测试流程方案: 步骤如下: 领到主板后 不良 目检、开机测试(敲BGA)维修 老化测试不良维修 DOS Test 不良维修 包装出货

目的:检查外观;测试主板是否开机,是否有BGA假焊、虚焊现象。 设备:ATX电源,VGA显示器,PS/2键盘,BGA敲打胶锤。 软件:无 测试:预算2Min/PCS 首先目检有没有外观不良。 装上电源,显示器,PS/2键盘,开机进CMOS后敲打BGA是否有死机,黑屏,花屏,重启等不良现象。 2. 老化测试:高温下老化8h。 A. 目的:60C高温环境下拷机测试;对主板老化时启动记录、CPU核心温度记录、COM反 复测试并记录、USB反复测试并记录、AUDIO测试、Set Time与主机同步。 B. 设备:PC主机一台,CF卡(System),转换机,网线,COM测试治具,U盘,audio线,音响, MIC。 C. PC主机软件: 1?监控软件:可查看老化主板连接时显示其IP, MAC,图标为亮,不是连接状态时图标为灭。 2?共享文件夹,保存所有老化主板状况,包括CPU温度、启动、COM测试、USB测试记录。 3. Time设置权限为打开。 D. 老化系统软件: 1. 启动记录批处理:每次开机进到桌面时自动记录当时时间为开始老化时间。 2. CPU温度监控记录软件:用于记录CPU温度,每秒记录一次,并传送到PC主机做记录。 3. BURNTEST软件(内含COMTest软件) 4. USB测试软件:usb测试记录,并将结果上传到PC主机做记录。 5. Time设置:自动将老化主板时间设置与PC主机同步。 6?测试:预计架站需要时间15M n/Pcs 老化机1 老化机2 老化机3 老化机4 老化机5 老化机6 B.主机功能:

电路板的老化测试方法

PCB老化的概念 我们平常说的PCB老化就是在一定的条件下使电路板通电工作一定时间之后,电路板上面的一些元件参数就会发生变化,这种变化和电路板使用的时间有关,这对于一些特殊用途的电路板来说,是绝对不允许的,所以很多电路板在出厂之前就会做抗老化处理,使电路稳定后在使用。这样就可以大大的提高可靠性和安全性。 Rs410老化测试的做法 在一般的工业设备里面,工作温度一般都在-40℃~+55℃之中产生交替的变化,并且可能长时间处于工作状态,那么这样就需要对其在长时间工作下的性能和老化速度进行测试来考量电路板的整体质量。本此针对RS410的测试中采用温度交替变化,长时间通电的方式经行。 检查环境条件 检测应在下列环境条件下进行:温度:15~50℃相对湿度:45%~75%大气压力:86~106Kpa,考虑现有条件用暖风机(或者可控制温度的加热器)加热至50度以上。在密闭空间(盒子)中进行。通过密闭保温。保障盒内温度维持在50度左右。 需要准备 测试用的盒子,板卡以及并联的电源线,PIP测试线,TAG管和温度计。暖风机。(可有可控制温度加热器代替)。 老化前的要求 电路板的老也有两点要求,这两点要求分别是: 1.外观检测所有要老化的功能板需先进行目测,对于有明显缺陷的功能板,如有短路,断路,元器件安装错误,缺件等缺陷 的功能板应予以剔除。(这一部分应由质检初筛)。 2.电参数检测所有要老化的功能板还需进行电参数检测,对参数不符合要求的功能板应予以剔除。具体分为基本分,只要芯 片的输入输出导通测试,外设的导线连接有无开路,是否经过测试已经对电路板产生损害。 老化设备 1.热老化设备内工作空间的任何点应满足以下要求: 1.能保持热老化所需要的高温。 2.上电时间足够长。(测试时间定位最少72小时连续上电) 2.功能板的安装与支撑 1.功能板应以正常使用位置安装在支架上(六脚柱)。 2.功能板的支架的热传导应是低的,以使功能板与支架之间实际上是隔热的。 3.功能板的支架应是绝缘的,以确保受试功能板与支架之间不漏电。 3.电功率老化设备 1.电功率老化设备应保证提供老化功能板所需要的电压和电流,并能提供可变化的输入信号,并可随时检测每块功能伴。(间 断性通信测试,与PIP-TAG的测试) 2.电功率老化设备应保证在老化过程中不应老化设备的缘故而中途停机。 老化

仪器仪表功能电路板老化工艺规范

JB/T 6174-1992|仪器仪表功能电路板老化工艺规范 仪器仪表功能电路板老化工艺规范 1 主题内容与适用范围 本标准规定了仪器仪表功能电路板老化筛选的基本内容和要求。 本标准适用于仪器姨表行业各类单回路调节器及各类数字化仪表的功能电路板的老化筛选 2 定义 仪器仪表功能电路板(以下简称功能板)系指仪器仪表中已经安装有元器件或组件,能够完成一定功能的印制电路板。 3 目的 使功能板在一个具有温度变化的热老化设备内,经受空气温度的变化,通过高温,低温,高低温变化以及电功率等综合作用,暴露功能板的缺陷,如焊接不良,元件参数不匹配,温漂以及调试过程中造成的故障,以便以剔除,对无缺陷的功能板将起到稳定参数的作用。 4 检测环境条件 检测应在下列环境条件下进行: 温度:15~35℃ 相对湿度:45%~75% 大气压力:86~106KPa 5 老化前的要求 5.1 外观检测 所有要老化的功能板需先进行目测,对于有明显缺陷的功能板,如有短路,断路,元器件安装错误,缺件等缺陷的功能板应予以剔除。 5.2 电参数检测 所有要老化的功能板还需进行电参数检测,对参数不符合要求的功能板应予以剔除。 6 老化设备 6.1.1 热老化设备内工作空间的任何点应满足以下要求: a. 能保持热老化所需要的低温。 b. 能保持热老化所需要的高温。 c. 由高温到低温或者由低温到高温的变化过程,能按照老化所需要的温度变化速率进行。 6.1.2 热老化设备应有良好的接地。 6.2 功能板的安装与支撑 6.2.1 功能板应以正常使用位置安装在支架上。 6.2.2 功能板的支架的热传导应是低的,以使功能板与支架之间实际上是隔热的。 6.2.3 功能板的支架应是绝缘的,以确保受试功能板与支架之间不漏电。 6.3 电功率老化设备 6.3.1 电功率老化设备应保证提供老化功能板所需要的电压和电流,并能提供可变化的输入信号,并可随时检测每块功能伴。 6.3.2 电功率老化设备应保证在老化过程中不应老化设备的缘故而中途停机。 7 老化 7.1 热老化条件

塑料老化测试方法070811

塑料老化测试方法--人工光源曝露试验z (2007/07/27 11:58) 1 概述: 所谓人工光源(实验室光源或人工气候)曝露试验方法,是通过模拟和强化大气环境中一些主要致老化因素,而达到人工加速目的的老化试验方法[1]。由于实际生产中对材料耐候性的评估的急切需求,一些人工光源设备被用来加速老化。这些光源都包括:(经过滤的)宽频氙弧灯、荧光紫外灯、金属卤化物灯(metal halide lamps)和开放式碳弧灯;还有一些不经常使用的光源,它们包括:汞蒸气灯、钨灯(tungsten lamp)[4]。我国1997年颁布的国家标准GB/T 16422-1.2.3(等效ISO 4892,1994)中规定了最常用的氙灯、荧光紫外灯、开放式碳弧灯三种光源的曝露试验方法。 2 通则 A 结果的偏差 鉴于材料在真实环境中老化的复杂性(日光辐射的特性和能量随地点、时间而变化,温度,温度的周期变化等),为减少重复曝露试验结果的差异,在特定地点的自然曝露试验应至少连续曝露两年。经验表明,实验室光源与特定地点的自然曝露试验结果之间的相关性,只适用于特定种类和配方的材料和特定的性能,和其相关性已为过去试验所证实了的场合。 B 试验目的 a 通过模拟自然阳光下长期曝露作用的加速试验,以获得材料耐候性的结果。为了得到曝露全过程完整的特性,需测定试样在若干曝露阶段的性能变化。 b 用于确定不同批次材料的质量与已知对照样是否相同的实验。 c 按照规定的试验方法评价性能变化,以确定材料是否合格。 C 试验装置 实验室光源曝露试验的装置一般应包括试验箱(包括:光源、试样架、润湿装置、控湿装置、温度传感器、程序控制装置等)、辐射测量仪、指示或记录装置等几个主要部分及其必要的辅助配套装置。 D 试验条件的选择 实验室光源曝露试验条件的选择主要包括:光源、温度、相对湿度、及喷水(降雨)周期等它们的选择依据及一般确定方法如下: a 光源的选择 光源的选择是整个试验的核心部分,其原则有二:一是要求人工光源的光谱特性与导致材料老化破坏最敏感的日光能量分布相近,即模拟性好;二是要求在尽量短的时间内获得近似与常规自然曝露的结果,即加速效果好。 若考虑试验结果的准确性,在材料敏感的紫外区,氙灯的光谱特性与日光的最为接近,是目前公认的理想光源。但考虑氙灯老化箱运转的成本,紫外荧光灯也许更适合我国一些中小企业和普通高校做老化试验研究。而用于灭菌或其他用途的高压或低压汞灯在没有适当滤光片时,含有大量自然光中没有的紫外成分,不适合一般的老化实验。这里的‘一般’指大气层内使用的塑料制品的老化实验,因为模拟的都是穿过大气层的紫外辐射。用这些试验方法模拟宇航用塑料制品,理论上会有一定误差。 b 温度的选择 空气温度的选择,应以材料在使用中遇到的最高温度为依据,比之稍高一些,常选50℃左右。黑板温度的选择以材料在使用环境中材料表面的最高温度为依据,比之稍高,多选63±3℃。 c 相对湿度的选择

电路板的老化测试方法

电路板的老化测试方法集团企业公司编码:(LL3698-KKI1269-TM2483-LUI12689-ITT289-

PCB老化的概念 我们平常说的老化就是在一定的条件下使电路板通电工作一定时间之后,电路板上面的一些元件参数就会发生变化,这种变化和电路板使用的时间有关,这对于一些特殊用途的电路板来说,是绝对不允许的,所以很多电路板在出厂之前就会做抗老化处理,使电路稳定后在使用。这样就可以大大的提高可靠性和安全性。 Rs410老化测试的做法 在一般的工业设备里面,工作温度一般都在-40℃~+55℃之中产生交替的变化,并且可能长时间处于工作状态,那么这样就需要对其在长时间工作下的性能和老化速度进行测试来考量电路板的整体质量。本此针对RS410的测试中采用温度交替变化,长时间通电的方式经行。 检查环境条件 检测应在下列环境条件下进行:温度:15~50℃相对湿度:45%~75%大气压力: 86~106Kpa,考虑现有条件用暖风机(或者可控制温度的加热器)加热至50度以上。在密闭空间(盒子)中进行。通过密闭保温。保障盒内温度维持在50度左右。 需要准备 测试用的盒子,板卡以及并联的电源线,PIP测试线,TAG管和温度计。暖风机。(可有可控制温度加热器代替)。 老化前的要求 电路板的老也有两点要求,这两点要求分别是:

1.外观检测所有要老化的功能板需先进行目测,对于有明显缺陷的功能板,如有短 路,断路,元器件安装错误,缺件等缺陷的功能板应予以剔除。(这一部分应由质检初筛)。 2.电参数检测所有要老化的功能板还需进行电参数检测,对参数不符合要求的功能板 应予以剔除。具体分为基本分,只要芯片的输入输出导通测试,外设的导线连接有无开路,是否经过测试已经对电路板产生损害。 老化设备 1.热老化设备内工作空间的任何点应满足以下要求: 1.能保持热老化所需要的高温。 2.上电时间足够长。(测试时间定位最少72小时连续上电) 2.功能板的安装与支撑 1.功能板应以正常使用位置安装在支架上(六脚柱)。 2.功能板的支架的热传导应是低的,以使功能板与支架之间实际上是隔热的。 3.功能板的支架应是绝缘的,以确保受试功能板与支架之间不漏电。 3.电功率老化设备 1.电功率老化设备应保证提供老化功能板所需要的电压和电流,并能提供可变化的输 入信号,并可随时检测每块功能伴。(间断性通信测试,与PIP-TAG的测试) 2.电功率老化设备应保证在老化过程中不应老化设备的缘故而中途停机。 老化

医疗器械加速老化实验方案及报告(修订版)精选.doc

山东华普医疗科技有限公司 加速老化试验 版本/修改状态:生效日期: 文件编号:发放号:控制状态:拟制:审核:批准:

加速老化实验计划 一、使用范围 本公司生产的一次性使用氧气面罩,一次性使用鼻氧管,医用雾化器及其外包装。 二、过程要求 1、微生物屏障 2、无毒性 3、物理特性的符合性 4、化学特性的符合性 5、生物特性的符合性 三、预计完成时间: 老化实验前 全能性实验:2012年5月20日前 包装验证实验:2012年5月22日前 阻菌实验:2012年5月24日前 老化实验时间:2012年5月26日前 加速第一年验证 无菌实验:2012年6月18日前 全能性实验:2012年6月25日前 包装验证实验:2012年6月25日前 阻菌实验:2012年6月27日前 加速第二年验证 无菌实验:2012年7月1日前 全能性实验:2012年7月8日前 包装验证实验:2012年7月8日前 阻菌实验:2012年7月10日前 加速第三年验证 无菌实验:2012年7月15日前 全能性实验:2012年7月22日前 包装验证实验:2012年7月22日前 阻菌实验:2012年7月24日前 加速第四年验证 无菌实验:2012年7月29日前 全能性实验:2012年8月6日前 包装验证实验:2012年8月6日前

阻菌实验:2012年8月8日前 加速第五年验证 无菌实验:2012年8月13日前 全能性实验:2012年8月20日前 包装验证实验:2012年8月20日前 阻菌实验:2012年8月22日前 目的:在有效期三年内和三年有效期外,通过对我公司产品检验实验,来验证我们的产品规定为三年的有效期是有科学依据的,可靠有效的。

电路板的老化测试方案(参考模板)

RS410(RFID新板卡)PCB老化测试 PCB老化的概念 我们平常说的PCB老化就是在一定的条件下使电路板通电工作一定时间之后,电路板上面的一些元件参数就会发生变化,这种变化和电路板使用的时间有关,这对于一些特殊用途的电路板来说,是绝对不允许的,所以很多电路板在出厂之前就会做抗老化处理,使电路稳定后在使用。这样就可以大大的提高可靠性和安全性。 Rs410老化测试的做法 在一般的工业设备里面,工作温度一般都在-40℃~+55℃之中产生交替的变化,并且可能长时间处于工作状态,那么这样就需要对其在长时间工作下的性能和老化速度进行测试来考量电路板的整体质量。本此针对RS410的测试中采用温度交替变化,长时间通电的方式经行。 检查环境条件 检测应在下列环境条件下进行:温度:15~50℃相对湿度:45%~75%大气压力:86~106Kpa,考虑现有条件用暖风机(或者可控制温度的加热器)加热至50度以上。在密闭空间(盒子)中进行。通过密闭保温。保障盒内温度维持在50度左右。 需要准备 测试用的盒子,板卡以及并联的电源线,PIP测试线,TAG管和温度计。暖风机。(可有可控制温度加热器代替)。 老化前的要求 电路板的老也有两点要求,这两点要求分别是: 1.外观检测所有要老化的功能板需先进行目测,对于有明显缺陷的功能板,如有短路,断路,元器 件安装错误,缺件等缺陷的功能板应予以剔除。(这一部分应由质检初筛)。 2.电参数检测所有要老化的功能板还需进行电参数检测,对参数不符合要求的功能板应予以剔除。 具体分为基本分,只要芯片的输入输出导通测试,外设的导线连接有无开路,是否经过测试已经对电路板产生损害。 老化设备 1.热老化设备内工作空间的任何点应满足以下要求: 1.能保持热老化所需要的高温。 2.上电时间足够长。(测试时间定位最少72小时连续上电) 2.功能板的安装与支撑 1.功能板应以正常使用位置安装在支架上(六脚柱)。 2.功能板的支架的热传导应是低的,以使功能板与支架之间实际上是隔热的。 3.功能板的支架应是绝缘的,以确保受试功能板与支架之间不漏电。 3.电功率老化设备

产品加速老化测试方案

产品加速老化测试方案 1、试验前准备 1.1 试验产品信息 样品名称: 样品型号: 样品数量: 样品序号: 1.2 试验所需的设备信息 设备名称:恒温恒湿箱 设备编号: 设备参数:温度测试范围为: 湿度测试范围为: 1.3 测试人员: 复核人员: 批准人员: 1.4 测试环境:加速老化测试在75℃、90% RH的恒温恒湿箱中进行 1.5 测试时间: 2、试验原理和步骤 2.1 使用的物理模型--最弱链条模型 最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。 该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效,因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染,在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。暴露最显著、最迅速的地方,就是最薄弱的地方,也是最先失效的地方。 2.2 加速因子的计算 加速环境试验是一种激发试验,它通过强化的应力环境来进行可靠性试验。加速环境试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子的含义是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命之比,通俗来讲就是指一小时试验相当于正常使用的时间。因此,加速因子的

计算成为加速寿命试验的核心问题,也成为客户最为关心的问题。加速因子的计算也是基于一定的物理模型的,因此下面分别说明常用应力的加速因子的计算方法。 2.2.1温度加速因子 温度的加速因子计算: ?? ???????? ???==stress normal a stress normal AF T T k E L L T 1-1exp ……………… (1) 其中,normal L 为正常应力下的寿命; stress L 为高温下的寿命; a E 为失效反应的活化能(eV ); normal T 为室温绝对温度; stress T 为高温下的绝对温度; k 为Boltzmann 常数,8.62× 10-5eV/K ; 实践表明绝大多数电子元器件的失效符合Arrhenius 模型,下表给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。 2.2.2 湿度的加速因子 2.3 试验方案 本试验采用最弱链条的失效模型,通过提高试验温度和湿度来考核产品电路板和显示屏的使用寿命。在75℃、90% RH 下做加速寿命测试,故其加速因子应为温度加速因子和湿度加速因子的乘积,计算如下: n normal stress stress normal a AF AF RH RH T T k E H T AF ???? ????????????? ???=?=1-1ex p (3)

PCB表面处理介绍

目前电子工业采用一种工业应用广泛的热空气焊锡均涂(HASL, hot air solder leveling)的替代技术。在过去十年,有无数的技术论文发表,预言HASL会由有机可焊性保护层(OSP, organic solderability preservatives)、无电镀镍/浸金(ENIG, electroless nickel/immersion gold)或新的金属浸泡技术诸如银与锡所取代。然而到目前为止,还没有一个预言变成现实。 HASL是在世界范围内主要应用的最终表面处理技术。一个可预计的、知名的涂层,HASL今天使用于亿万计的焊接点上。尽管如此,三个主要动力:成本、技术和无铅材料的需要,推动着电子工业考虑HASL的替代技术。 从成本的观点来看,许多电子元件诸如移动通信和个人计算机正变成任意使用的商品,以成本或更低的价格销售,来保证互连网或电话服务合约。这个策略使得这些商品大量生产和日用品化。因此,必须考虑成本和对环境的长期影响。环境的关注通常集中在潜在的铅泄漏到环境中去。仅管在北美的立法禁止铅的使用还是几年后的事情,但是原设备制造商(OEM, original equipment manufacturer)必须满足欧洲和日本的环境法令,以使其产品作全球销售。这个考虑已经孕育出许多课题,评估在每一个主要的OEM那里消除铅的可选方法。 HASL的替代方法允许无铅印刷电路板(PCB, printed wiring board),也提供平坦的共面性表面,满足增加的技术要求。更密的间距和区域阵列元件已允许增加电子功能性。通常,越高的技术对立着降低成本。可是,大多数替代方法改进高技术装配和长期的可靠性,而还会降低成本。 成本节约是整个过程成本的函数,包括过程化学、劳力和企业一般管理费用。像OSP、浸银和浸锡等替代技术可提供最终表面处理成本的20 ~ 30%的减少。虽然每块板的节约百分比在高层数多层电路板产品上可能低,日用电子的成本节约,随着更大的功能性和铅的消除,将驱使替代方法使用的急剧增加。 替代方法的使用将不仅会增加,而且将取代HASL作为最终表面处理的选择。今天替代的问题是选择的数量和已经发表的数据的纯卷积。诸如ENIG、OSP、浸锡和浸银等替代方法都提供无铅、高可焊性、平整、共面的表面,在生产中对第一次通过装配合格率提供重大改进。为了揭开最终表面处理的神秘面纱,这些HASL的替代方法可通过比较每个涂层对装配要求和PCB设计的优点来区分。 一、装配要求 HASL替代方法对装配过程的作用反映表面的可焊性和它如何与使用的焊接材料相互作用。每一类替代的表面涂层—OSP、有机金属的organometallic)(浸锡和银)或金属的(ENIG) —具有不同的焊接机制。焊接机制的这种差异影响装配过程的设定和焊接点的可靠性。 OSP是焊接过程中必须去掉的保护性涂层。助焊剂必须直接接触到OSP表面,以渗透和焊接到PCB表面的铜箔上。

汽车电路板高温老化工艺规范

电路板温度老化工艺规范 1 主题内容与适用范围 本规范适用于汽车电子行业功能电路板的老化筛选 2目的 使功能板在一个具有温度的房间内长时间运行,暴露功能板的缺陷,如焊接不良,元件参数不匹配,温漂以及调试过程中造成的故障,以便以剔除,对无缺陷的功能板将起到稳定参数的作用。 3 检测环境条件 温度:35~50℃ 4 温度老化前的要求 4.1 外观检测 所有要老化的功能板需先进行目测,对于有明显缺陷的功能板,如有短路,断路,元器件安装错误,缺件等缺陷的功能板应予以剔除。 4.2 电参数检测 所有要老化的功能板还需进行电参数检测,对参数不符合要求的功能板应予以剔除。 5 温度老化 6.1 温度老化时间至少为72h。 6.2 温度老化方法 6.2.1 将处于环境温度下的功能板放入处于同一温度下的温度老化设备内。 6.2.2 功能板处于运行状态。 6.2.3 实时监测并记录老化数据 6.2.4 功能板应在设备内的温度达到室温,且稳定2H后才能取出箱外。 8 恢复 功能板取出后,应在规定的条件下放置并使之达到温度稳定,恢复时间至少为2h. 9 最后检测 在规定条件下对功能板进行电参数检测,不符合要求的予以剔除。

附件:电子产品温度老化的应用—作为“温度老化工艺规范”的附件 电子技术发展,电子产品集成化程度越来越高,结构越来越细微,工序越来越多,制造工艺越来越复杂,这样制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好电子产品,要求有较高性能指标,还要有较高稳定性。电子产品稳定性取决于设计合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。目前,国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品稳定性和可靠性,高温老化可以使元器件缺陷、焊接和装配等生产过程中存隐患提前暴露,保证出厂产品能经起时间考验。 1 高温老化机理 电子产品生产制造时,因设计不合理、原材料或工艺措施方面原因引起产品质量问题有两类,第一类是产品性能参数不达标,生产产品不符合使用要求;第二类是潜缺陷,这类缺陷不能用一般测试手段发现,而需要使用过程中逐渐被暴露,如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活(暴露)。显然,对每只元器件测试一千个小时是不现实,需要对其施加热应力和偏压,例如进行高温功率应力试验,来加速这类缺陷提早暴露。也就是给电子产品施加热、电、机械或多种综合外部应力,模拟严酷工作环境,消除加工应力和残余溶剂等物质,使潜伏故障提前出现,尽快使产品失效浴盆特性初期阶段,进入高可靠稳定期。电子产品失效曲线如图1所示。 老化后进行电气参数测量,筛选剔除失效或变值元器件,尽可能把产品早期失效消灭正常使用之前。这种为提高电子产品可靠度和延长产品使用寿命,对稳定性

电子产品工艺细节大全

电子产品工艺细节大全 1.根据加热方式分,电烙铁可分为内热式和外热式两种。内热式电烙铁的特点:优点是热效率高(高达85%-90%),烙铁头升温快,相同功率时的温度高、体积小、重量轻;缺点是内热式烙铁芯在使用过程中温度集中,容易导致烙铁头被氧化、烧死,长时间工作易损坏,因而其寿命较短,不适合做大功率的烙铁。外热式电烙铁的特点:优点是经久耐用、使用寿命长,长时间工作时温度平稳,焊接时不易烫坏元器件。缺点是体积大,热效率低。 2.常用的电阻标称值有E48、E24、E12、E6。 3.电阻常用的标注方法有:直标法、文字符号法、数码表示法和色标法等四种。 5.常用的手工焊接工具有:电烙铁、电热风枪和烙铁架等,常用的自动焊接设备有:波峰焊机和再流焊机设备。 6.对于有绝缘层的导线,其加工分为以下几个过程:剪裁、剥头、捻头(多股线)、搪锡、清洗和印标记等工序。 7.元器件引线的预加工处理主要包括引线的校直、表面清洁及搪锡三

个步骤。 8..直插元器件安装时,通常分为立式安装和卧式安装两种。 9.焊点的常见缺陷有虚焊,拉尖,桥接,球焊,印制电路板铜箔起翘、焊盘脱落,导线焊接不当等。 10.自动焊接技术主要有浸焊、波峰焊接技术、再流焊接技术。 11. 无铅化技术的无铅化所涉及的范围包括:焊接材料、焊接设备、焊接工艺、阻焊剂、电子元器件和印制电路板的材料等方面。 12. 接触焊接主要有:压接、绕接、穿刺等。 13.印制电路板的制作过程分为:底图胶片制版、图形转移、腐刻、印制电路板的机械加工与质量检验等。 14.常用的抗干扰措施有:屏蔽,退耦,选频、滤波,接地。 16. 电子产品装配的工艺流程是装配准备、装联、调试、检验、包装、入库或出厂等。

材料老化的试验方法

材料老化的试验方法 材料老化的因素有很多,目前市场上常用的是老化试验箱;老化试验箱是橡、塑胶产品耐久性之试验,老化试验箱主要在测试其材料在老化前与老化后之强度、伸长率等变化,一般认为材料在70℃的老化箱中24小时相当与自然界中6个月,本机具观测窗在使用时亦能看出内部之变化,不须打开门使试验造成误差. 目前市场上关于材料老化实验在市场上使用较多的是人工加速老化实验,对于自然老化实验的方法周期长效果等对于企业生产是不适用的,但是这里标准集团(香港)有限公司还是为大家简单过的讲解关于这两类实验的方法和特点: 一、人工加速老化实验 人工加速老化实验是用人工的方法,在室内或设备内模拟近似于大气环境条件或某种特定的环境条件,并强化某些因素,以期在短期内获得实验结果。可以相对比较不同材料的抗老化性能,并对材料的使用寿命提出指导性意见。因此,各国标准大都采用这种方法来评价材料的抗老化性能。人工加速老化实验方法主要包括:人工气候实验、热老化实验(绝氧、热空气、热氧化吸氧等实验)、臭氧老化实验、气体腐蚀实验等,其中热老化是较为普通方便的实验方法。 热老化实验通过加速材料在氧、热作用下的老化进程,反映材料耐热氧老化性能。根据材料的使用要求和实验目的确定实验温度。温度上限可根据有关技术规范确定,一般对于热塑性材料应低于其维卡软化点,对于热固性材料应低于其热变形温度,或者通过探索实验,选取不致造成试样分解或明显变形的温度。主要通行的实验方法硫化橡胶或热塑性橡胶热空气加速老化和耐热实验。 二、自然环境老化实验 自然环境老化实验是利用自然环境条件或自然介质进行的实验,主要包括:大气老化实验、埋地实验、仓库贮存实验、海水浸渍实验等等。自然环境老化实验结果更符合实际、所需费用较低而且操作简单方便,是国内外广泛采用的方法。其中对高分子材料而言,应用最多的是自然气候曝露实验(又称户外气候实验)。自然气候曝露实验就是将试样置于自然气候环境下曝露,使其经受日光、温度、氧等气候因素的综合作用,通过测定其性能的变化来评价塑料的耐候性。

电路板的老化测试方案

R S410(R F I D新板卡)P C B老化测试 PCB老化的概念 我们平常说的老化就是在一定的条件下使电路板通电工作一定时间之后,电路板上面的一些元件参数就会发生变化,这种变化和电路板使用的时间有关,这对于一些特殊用途的电路板来说,是绝对不允许的,所以很多电路板在出厂之前就会做抗老化处理,使电路稳定后在使用。这样就可以大大的提高可靠性和安全性。 Rs410老化测试的做法 在一般的工业设备里面,工作温度一般都在-40℃~+55℃之中产生交替的变化,并且可能长时间处于工作状态,那么这样就需要对其在长时间工作下的性能和老化速度进行测试来考量电路板的整体质量。本此针对RS410的测试中采用温度交替变化,长时间通电的方式经行。 检查环境条件 检测应在下列环境条件下进行:温度:15~50℃相对湿度:45%~75%大气压力:86~106Kpa,考虑现有条件用暖风机(或者可控制温度的加热器)加热至50度以上。在密闭空间(盒子)中进行。通过密闭保温。保障盒内温度维持在50度左右。 需要准备 测试用的盒子,板卡以及并联的电源线,PIP测试线,TAG管和温度计。暖风机。(可有可控制温度加热器代替)。老化前的要求 电路板的老也有两点要求,这两点要求分别是: 1.外观检测所有要老化的功能板需先进行目测,对于有明显缺陷的功能板,如有短路,断路,元器件安装错 误,缺件等缺陷的功能板应予以剔除。(这一部分应由质检初筛)。 2.电参数检测所有要老化的功能板还需进行电参数检测,对参数不符合要求的功能板应予以剔除。具体分为 基本分,只要芯片的输入输出导通测试,外设的导线连接有无开路,是否经过测试已经对电路板产生损害。老化设备 1.热老化设备内工作空间的任何点应满足以下要求: 1.能保持热老化所需要的高温。 2.上电时间足够长。(测试时间定位最少72小时连续上电) 2.功能板的安装与支撑 1.功能板应以正常使用位置安装在支架上(六脚柱)。 2.功能板的支架的热传导应是低的,以使功能板与支架之间实际上是隔热的。 3.功能板的支架应是绝缘的,以确保受试功能板与支架之间不漏电。 3.电功率老化设备

线路板绝缘防潮保护工艺

如何简单快捷有效的做好线路板绝缘绝缘防潮工艺? 1.永安电子化工生产的线路板绝缘防潮漆为单组份、低粘度树脂,操作简单,适用于刷涂、喷涂、浸涂、淋涂等多种线路板防潮工艺,固化速度快,对各种电路板有良好的附着力。2.线路板绝缘防潮漆具有良好的耐高低温性能;固化后成一层透明保护膜,漆膜具有优越的绝缘、防潮、防漏电、防震、防尘、防腐蚀、防盐雾、防霉、防老化、耐电晕等性能,施工操作简单快捷,有效,成本低廉。 永安线路板绝缘防潮漆的产品性能: 1、采用进口树脂合成中取消有害成分,并选用了优质环保溶剂(符合欧洲、美国的环保要求)。

2、“三防”性能好:具有突出的“防潮”性能,也表现出良好的“防盐雾”性能,另外因其涂料中不含有油的成份,所以具有“防霉”性能。 3、电绝缘性能好:由于有机硅氧烷具有良好的介电性能,耐电弧、耐电火花、电击穿强度高,以及具有良好的防水性能,因此,在潮湿环境下,漆膜仍不失其良好的耐电性能。 4、耐温变性能好:具备有机硅绝缘漆的耐热性和优于一般线路板绝缘防潮漆耐低温性能。耐高温度达150℃,耐低温达-50℃,线路板绝缘防潮漆耐温变性能好。 5、耐化学药品性能好:耐化学药品性能良好,由于有较强的耐氧化性,因而具有良好的热稳定性、抗老化性能,能耐多种不同浓度的酸、碱、盐的腐蚀。 6、线路板绝缘防潮漆工艺性能好:能在常温或低温下固化,漆膜致密光亮,附着力强,并且有装饰性。线路板绝缘防潮漆操作工艺简单,喷涂、浸涂、刷涂皆可。线路板绝缘防潮漆的粘度,可根据线路板绝缘防潮漆工艺进行调节,而不影响性能。 永安线路板绝缘防潮漆的用途: 该线路板绝缘防潮漆主要应用于热带电工产品,继电器、LED线路板、航海仪器仪表控制板、热工仪表、精密仪器、载波通讯控制板,安防电子线路板,车载主板,电脑主板,灯饰灯具线路板,LED电子控制板、变频器控制板,电源板的电子元器的防护及电机防护等方面。

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