高低温试验箱说明书

一、产品规格

型号:KHG-100 内型尺寸:D×W×H 450×450×500

型号: KHG-225 内型尺寸:D×W×H 500×600×750

型号: KHG-500 内型尺寸:D×W×H 800×700×900

型号: KHG-010 内型尺寸:D×W×H 1000×1000×1000

型号: KHG-013 内型尺寸: D×W×H 1000×1000×1300

二、技术指标：

1、温度范围：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃

2、温度均匀度：≤±2℃（空载时）

3、温度波动度：±0.5℃（空载时）

4、温度偏差:≤±2℃

5、降温速率：0.7～1.2℃/min

6、升温速度：1.0～3.0℃/min

7、时间设定范围：0～999 小时

8、噪音：＜65dB

三、结构简介：

1、外胆均采用优质（t=1mm）A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁、美观。

2、内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板。

3、保温材质:高密度玻璃纤维棉.保温厚度为100mm

4、温湿度循环系统:采用特制空调型低噪音长轴风扇电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环。

5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭

6、采用无反作用门把手，操作更容易

7、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮.

8、观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜（清楚观察试验过程）

9、测试孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(孔径或孔数须增加需指示)

四、加热系统

1、采用远红外镍合金高速加温（2KW×2）电加热器

2、高温完全独立系统，不影响低温试验、高温试验及交变湿热

3、温湿度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率之用电效益

五、电路控制系统

1、进口数显触摸按键，PID微电脑SSR温度控制器（日本RKC仪表）；

2、精度：0.1℃(显示范围)

3、解析度：±0.1℃；

4、感温传感器：PT100铂金电阻测温体；

5、控制方式：热平衡调温调湿方式；所有电器均采用（施耐德）系列产品

6、温度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制

7、具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定

8、控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示

9、具有RS-232或RS-485远程通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机等功能

10、控制器具有荧屏自动屏保功能，在长时间运行状态下更好的保护液晶屏（使其寿命更长久）

11、本试验箱回风口具有自动除霜装置（这样才能使试验时产生的水蒸气不会聚集在制冷蒸发器上，产生冰堵现象）

六、制冷系统控制

1、压缩机：全封闭法国泰康1.5HP×2×1组

2、制冷方式：复叠式制冷

3、冷凝方式：强制风冷冷却

4、制冷剂：R404A、R23（环保型）

5、系统管路均作通气加压48H捡漏测试.

6、加温、降温系统完全独立

7、内螺旋式冷媒铜管

8、斜率式蒸发器

9、干燥过滤器、冷媒流量视窗、修理阀、油分离器、电磁阀、贮液筒均采用进口原装件

10、除湿系统：采用蒸发器盘管露点温度层流接触除湿方式

11、降温时启动R404A 、R23，除湿时只启动R404A（节能降耗）

七、保护系统

1、风机过热保护

2、整体设备欠相/逆相保护

3、制冷系统过载保护

4、制冷系统超压保护

5、整体设备定时

6、水泵过热，过流保护

7、其它还有漏电、缺水、运行指示，故障报警后自动停机等保护。

八、随机资料

1、说明书、电路图

2、操作方法、注意事项、出货基本配件、维修保养事项

九、设备使用条件

1、环境温度：5℃～＋28℃（24小时内平均温度≤28℃）

2、环境湿度：≤85%

3、电源要求：AC380（±10%）V/50HZ 三相四线制

十、执行标准

GB10592－93 高低温试验箱技术条件

GB2423.1－2001试验A 低温试验方法

GB2423.2－2001试验B 高温试验方法

PS：操作环境需要在室温28度以下而且通风良好。

机器放置前后左右各80公分不可放置东西

高低温试验箱技术指标和执行标准

高低温试验箱适用于航空、汽车、家电、科研等领域必备的检测，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。二、技术指标： 1、温度范围：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃ 2、温度均匀度：2℃(空载时) 3、温度波动度：0.5℃(空载时) 4、温度偏差:2℃ 5、降温速率：0.7～1.2℃/min 6、升温速度：1.0～3.0℃/min 7、时间设定范围：0～999 小时 8、噪音：＜65dB 三、结构简介： 1、外胆均采用优质(t=1mm)A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁、美观。 2、内胆采用进口高级不锈钢(SUS304)镜面板。 3、保温材质:高密度玻璃纤维棉.保温厚度为100mm 4、温湿度循环系统:采用特制空调型低噪音长轴风扇电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环。 5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭 6、采用无反作用门把手，操作更容易 7、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮. 8、观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜(清楚观察试验过程) 9、测试孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(孔径或孔数须增加需指示)

四、加热系统 1、采用远红外镍合金高速加温(2KW×2)电加热器 2、高温完全独立系统，不影响低温试验、高温试验及交变湿热 3、温湿度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率之用电效益五、电路控制系统 1、进口数显触摸按键，PID微电脑SSR温度控制器(日本RKC 仪表)； 2、精度：0.1℃(显示范围) 3、解析度：0.1℃； 4、感温传感器：PT100铂金电阻测温体； 5、控制方式：热平衡调温调湿方式；所有电器均采用(施耐德)系列产品 6、温度控制采用P.I.D＋S.S.R系统同频道协调控制 7、具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定 8、控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示 9、具有RS-232或RS-485远程通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机等功能 10、控制器具有荧屏自动屏保功能，在长时间运行状态下更好的保护液晶屏(使其寿命更长久) 11、本试验箱回风口具有自动除霜装置(这样才能使试验时产生的水蒸气不会聚集在制冷蒸发器上，产生冰堵现象) 六、制冷系统控制 1、压缩机：全封闭原装法国泰康 2、制冷方式：复叠式制冷

高温试验箱期间核查作业指导书

高温试验箱期间核查作业指导书 1. 目的确保高温试验箱的准确性和稳定性，能够满足实验室正常使用的各项要求。 2.范围本操作规程适用于Espec SEG-041H 高温试验箱进行期间核查及相关工作。 3.参考资料 JFF 1101-2019 《环境试验设备温度、湿度参数校准规程》 Espec SEG-041H 《高温试验箱技术说明书》 4.期间核查的环境条件要求 4.1温度：15℃ ~ 35℃； 4.2湿度：≤85%RH； 4.3气压： 80kPa ~ 106kPa； 4.4 使用已校准且在有效期内的温度数据采集仪； 4.5 高温试验箱周围应无强烈振动及腐蚀性气体存在，应避免其他冷、热源影响。实际工作中，环境条件还应满足测量标准器正常使用的要求。

5. 技术要求 6. 期间核查频率建议每三个月核查一次或根据实际使用情况进行调整。 7. 期间核查方法 7.1. 测量点位置：传感器布放位置为设备校准时的测量点，应布置在设备工作空间的3个不同层面上，称上、中、下3层，中层为通过工作空间几何中心的平行于底面的校准工作面，各布点位置与设备内壁的距离为各边长的1/10，遇风道时，此距离可加大，但不应超过500mm。如果设备带有样品架或样品车时，下层测量点可布放在样品架或样品车上方10mm处。

7.2. 传感器布点位置：上层中层下层 6.1 设备容积小于等于2m 3布点示意图 7.3. 将高温试验箱设定到期间核查温度，开启运行。高温试验箱达到稳定状态后开始记录各测量点温度，每间隔2min读取并记录一次数据采集器各通道显示温度, 30min内共记录16组数据。 7.4. 数据处理：计算测量结果的平均值与仪器显示平均值相比较；按记录表要求填写数据，并与5.1环境试验设备温度、湿度技术要求相比对。 7.5. 判定高温试验箱是否合格，如合格则填写在《设备期间核查记录表》上；如不合格，则做好设备相应标志，停止使用并及时维修。 8. 相关表格《设备期间核查记录表》 9. 注意事项 9.1. 在读取数值时，一定要等到数值稳定后读取； 9.2. 在对温度数据采集仪的通道进行布点要按照 6.1 的布局分上、中、下层进行布置； 9.3. 可根据试验需要，设置不同的期间核查温度。

环境试验设备标准精选(最新)

环境试验设备标准精选（最新） G10586《GB/T 10586-2006 湿热试验箱技术条件》 G10587《GB/T 10587-2006 盐雾试验箱技术条件》 G10588《GB/T 10588-2006 长霉试验箱技术条件》 G10589《GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件》 G10590《GB/T 10590-2006 高低温/ 低气压试验箱技术条件》 G10591《GB/T 10591-2006 高温/ 低气压试验箱技术条件》 G10592《GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件》 G11026.4《GB/T 11026.4-1999 老化烘箱、单室烘箱》 G11026.5《GB/T 11026.5-2010 电气绝缘材料耐热性:老化烘箱温度达300℃的精密烘箱》 G11026.6《GB/T 11026.6-2010 电气绝缘材料耐热性:老化烘箱多室烘箱》 G11158《GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件》 G11159《GB/T 11159-2010 低气压试验箱技术条件》 G25915.1《GB/T 25915.1-2010 洁净室及相关受控环境:空气洁净度等级》 G25915.2《GB/T 25915.2-2010 洁净室及相关受控环境:证明持续符合GB/T 25915.1的检测与监测技术条件》 G25915.3《GB/T 25915.3-2010 洁净室及相关受控环境:检测方法》 G25915.4《GB/T 25915.4-2010 洁净室及相关受控环境:设计、建造、启动》 G25915.5《GB/T 25915.5-2010 洁净室及相关受控环境:运行》 G25915.6《GB/T 25915.6-2010 洁净室及相关受控环境:词汇》 G25915.7《GB/T 25915.7-2010 洁净室及相关受控环境:隔离装置（洁净风罩、手套箱、隔离器、微环境）》 G25915.8《GB/T 25915.8-2010 洁净室及相关受控环境:空气分子污染分级》 G25916.1《GB/T 25916.1-2010 洁净室及相关受控环境生物污染控制:一般原理和方法》 G25916.2《GB/T 25916.2-2010 洁净室及相关受控环境生物污染控制:生物污染数据的评估与分析》 G26808《GB/T 26808-2011 恒温槽与恒温循环装置低温恒温槽》 G26809《GB/T 26809-2011 恒温槽与恒温循环装置低温恒温循环装置》 G28850《GB/T 28850-2012 恒温槽与恒温循环装置高温恒温槽》 G28851《GB/T 28851-2012 生化培养箱技术条件》 G28852《GB/T 28852-2012 生物人工气候试验箱技术条件》 G28853《GB/T 28853-2012 恒温槽与恒温循环装置高温恒温循环装置》 G29250《GB/T 29250-2012 远红外线干燥箱》 G29251《GB/T 29251-2012 真空干燥箱》 G30435《GB/T 30435-2013 电热干燥箱及电热鼓风干燥箱》 J5279《JB/T 5279-2013 振动流化床干燥机》 J10279《JB/T 10279-2013 滚筒干燥机》 J11360《JB/T 11360-2013 管束干燥机》 J11361《JB/T 11361-2013 空心桨叶干燥机》 J11362《JB/T 11362-2013 螺旋振动干燥机》 J11363《JB/T 11363-2013 箱式干燥器》

嵌入式系统实验箱说明书综述

EFLAG-ARM-S3C44B0 嵌入式系统实验箱说明书北京工业大学电控学院 DSP和嵌入式系统研究室二零零四年十月

嵌入式系统是嵌入式计算机系统的简称，以ARM为CPU的SOC系统作为嵌入式系统的硬件基础，以实时（uC/OS, VxWorks等）或非实时的(uCLinux, Linux, WinCE等)嵌入式操作系统作为软件平台。这样的嵌入式系统是一个完整的计算机系统。特别是有了嵌入式操作系统的支持以后，系统的软件开发的复杂程度大大降低。程序员在操作系统层面设计和编写程序，降低了对程序员硬件知识水平的要求，扩大的开发队伍，提高了开发速度，缩短了开发周期，增强了系统的可靠性和稳定性。 ARM是处理器，“ARM”即是ARM公司的名字，也是ARM CPU的名字。ARM公司是一家集成电路设计公司，本身不生产芯片，也不销售芯片，ARM公司向其他芯片制造厂商出售他们的设计，即IP （知识产权）。芯片制造公司（如Intel，Samsung，Atmel，Philips等）生产基于ARM处理器的SOC（片上系统）芯片。ARM公司要求，所有使用ARM处理器的芯片必须印有ARM标志。 ARM本身是CPU，不是单片机。以ARM为CPU生产的SOC芯片在内部结构上是完整的计算机系统结构，而非传统单片机的控制器结构，故以ARM为核心制造的芯片区别原有的单片机而被称之为SOC芯片。 ARM处理器被许多芯片制造大厂采用，芯片制造厂商使用ARM处理器，再整合不同的外设，生产出不同的SOC芯片，如Intel使用ARM V5TE版本处理器，添加SDRAM控制器，LCD控制器，USB控制器，串口，IIC等外设生产Xscale芯片，Xscale是Intel公司的SOC芯片，其内部使用的处理器是ARM。不同厂商基于同一个版本的ARM处理器生产的SOC芯片CPU的指令集是相同的，这就给开发人员带来了极大的便利，更大的加速了ARM处理器的市场占有率。 S3C44B0是Samsung公司生产的基于ARM7TDMI的SOC芯片，内部集成了SDRAM控制器，LCD控制器，8通道ADC，DMA控制器，8Kbyte的CACHE，IIC控制器，IIS控制器，串口，同步串口，PWM输出，定时器，PLL，中断控制器，看门狗定时器，实时时钟等资源。其工作频率可达到66MHz。 EFLAG－ARM－S3C44B0实验箱配置外设：用于调试的JTAG端口；直接同计算机并口相连的用于调试的JTAG仿真器；两个9针串口； SMSC91C113 10M/100M以太网口； Philips D12 USB接口； UDA1341 IIS音频输入/输出口，板上麦克风； 2M字节的线性Flash存储器，8M字节的SDRAM，24C16IIC存储器； 5.7寸STN彩色LCD显示屏；基于AD9850的DDS信号发生器；四颗高亮度玫瑰红色LED；德国进口长寿命4×4键盘（手感极好）；外接信号接线孔。

高低温试验箱操作规程

高低温试验箱操作规程一、高低温试验箱操作规程： 1、不得试验具有挥发性、易燃、易爆等物品，注意烫伤；

2、取放物品时，应小心轻放，切勿碰击感温探头，以免影响控温精度； 3、禁止超过额定温度范围使用，以免造成事故； 4、箱内试品不能放的太挤，待测品周围应留有足够的空气循环空间； 5、高低温设备应有专人负责，若发现异常现象，应立即关掉电源，排除故障后再开机； 6、首先检查接地端是否可靠连接，在确保接线正确后可开启面板上的电源开关； 7、开启设备控制柜后门的空气开关，按下前面板电源开关； 8、高低温试验箱通电后既可看到开机画面，右上端led显示屏操作参照重庆海达仪器有限公司为客户机型专门精心配制的高低温试验箱操作手册； 9、进入操作画菜单画面，可以设定定值试验所需要的数据，如测量值、温度设置、输出量等，设定完成后,点击[运行]按钮开始试验； 10、试验结束点击[停止]按钮，高低温试验设备停止运行，关闭电源； 11、按试验要求,作好必要的试验记录； 12、高低温箱使用结束后，待温度降至规定温度时再关电源，取出待测物品，最后切断总电源。二、高低温试验箱使用方法：（一）试验前准备 1、室内温度：15～35℃，相对湿度：不大于85%R.H； 2、检查试验设备完好状态，确认设备正常； 3、确认试件为非“易爆、可易燃或高腐蚀物质。（二）试验方法 1、打开总电源开关；

2、将样件摆放在试验箱内，产品相互之间不得接触;关闭试验箱门； 3、打开温度控制仪，按规定的要求设定温度； 4、按运转按钮； 5、做完高温试验后，再次按下运转按钮，则高低温箱停止工作，待自然降温0.5h～1h 后，取出样件； 6、取出的样件放置空气中，自然冷却1h～2h后，观察样件表面变化情况，并记录在【高低温试验报告】中； 7、在试验过程中，如需观察样件状态时，打开试验箱照明灯开关即可，但不能长时间按下；注：做完高温试验之后需待测试品自然冷却0.5～1H之后方可做低温试验。 8、把取出的样件放置空气中1h～2h后，观察样件表面的变化情况，根据试验要求填写【高低温试验报表】三、高低温试验箱详细技术参数： 1、温度范围：－70℃~150℃ 2、温度波动度：±0、3℃ 3、温度分辨率：0、01℃ 4、温度偏差：（-70~0，0~100、℃时±1、0℃，>100℃时±1、5℃， 5、温度均匀度：（-70~0，0~100、℃时±1、0℃，>100℃时±2、0℃ 6、升温时间：+20℃→150℃≤50min 7、降温时间：+20℃→-70℃≤60min 8、湿度范围：20％~98％RH 9、湿度波动度：±2、0％RH

高低温箱操作规程

高低温箱操作规程文档编制序号：[KK8UY-LL9IO69-TTO6M3-MTOL89-FTT688]

高低温试验箱操作规程一、高低温试验箱试验准备 1.实验室据（试验委托单）抽取规定比例产品作为试验样本。 2.室内温度：15～35℃，相对湿度：不大于85%R.H。 3.检查试验设备完好状态，确认设备正常。 4.确认试件为非“易爆、可易燃或高腐蚀”物质。二、高低温试验操作步骤高温试验 1.打开总电源开关； 2.将样件摆放在试验箱内，产品相互之间不得接触;关闭试验箱门。 3.按下开始按钮，触屏显示器打开，按照屏幕上的显示进行操作，按规定要求设定温、湿度，操作方法如下：（点击屏幕温、湿度显示区，设置需要试验的温度和湿度；亦可选择使用编制完成的程序）。 4.点击运行按钮。 5.做完高温试验后，再次按下运转按钮，则高低温箱停止工作，待自然降温0.5h～1h 后，取出样件。 6.取出的样件放置空气中，自然冷却1h～2h后，观察样件表面变化情况，并记录在（高低温试验报告）中。 7.在试验过程中，如需观察样件状态时，打开试验箱照明灯开关即可，但不能长时间按下。低温试验(做完高温试验后，必须自然降温0.5h～1h 后，再做制冷试验)。 1.打开总电源开关。

2.将样件摆放在试验箱内，产品相互之间不得接触;关闭试验箱门。 3. 按下开始按钮，触屏显示器打开，按照屏幕上的显示进行操作，按规定要求设定温、湿度（操作方法同高温试验相同；注意，在低温试验时，温度不可一次设定到极限值，应让设备运行预热）。 4.点击运行按钮，低温试验开始。 5.完成低温运行后，按停止按钮，待自然降温0.5h～1h 后，取出样件。 6.把取出的样件放置空气中1h～2h后，观察样件表面的变化情况，根据试验要求填写【高低温试验报表】。三、高低温试验箱注意事项 1.本设备仅适合高温+150℃，低温-40℃范围内的产品试验。 2.禁止易爆、易燃及高腐蚀物质的试验。 3.本机工作于0℃以下时，应避免打开箱门，否则造成箱内蒸发器等部位产生结霜结冰，降低本机使用效率。 4.试验中，除非绝对必要切勿打开箱盖，否则可能会引起人身伤害、系统误动作，可能会导致系统PID误解，触发超温保护。注意：在开机前请确认高低温试验箱中水位显示正常！编制：审核：批准：

高低温试验

高低温试验一、概念：高低温箱具有较宽的温度控制范围，其性能指标均达到国家标准GB/T10592高低温试验箱技术条件，适用于按GB/T2 423.1、2《电工电子产品环境试验试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法》对产品进行低温及高温试验。适用于电工电子产品（包括元件、设备及其它产品）的高低温度试验； 2）. 本产品设计先进合理，能适应长期、稳定、安全、可靠的试验要求，同时配有真空透明视窗，能清晰看到工作室试验状态，采用高级进口数显温控仪，显示直观、操作简便，具有国际先进水平。 3）. 该类产品主要部件采用进口件，性能优异，外观美观，可靠性好，是实验室环境试验设备的理想选择。高低温试验箱二、设备的用途

该设备主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。该试验设备主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求，在低温、高温、条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。三、设备的结构特征该设备主要由箱体、制冷系统、加热系统、空气循环系统以及控制系统组成。箱体的外壳为采用冷轧钢板静电喷塑，内胆采用优质304SUS不锈钢板，箱门中间设大面积观察窗，并配有观察灯，使用户可以清晰地看到试样的试验情况。外型整体美观大方。保温层为硬质聚氨脂发泡加上少量的超细玻璃棉，具有强度高，保温性有好等特点。该设备主要温度控制仪采用智能数显温湿度控制仪，人性化设计的操作方法，易学易用，并且不同功能档次的仪表操作相互兼容。输入采用数字校正系统，内置常用热电偶和热电阻非线性校正表格，测量精确稳定。具备位式调节和AI人工智能调节功能，0.2级精度，多种报警模式。升温、降温、加湿、去湿独立，独特的BTHC平衡调温调湿方式。制冷系统采用法国“泰康”全封闭进口压缩机组，机械式单级制冷或复迭低温回路系统，全自动控制与安全保护协调系统。加热采用不锈钢翅片加热管。

高低温试验箱实际功能参数功能介绍

高低温试验箱实际功能参数功能介绍一、设备的结构特征: 1.该设备主要由箱体、制冷系统、加热系统、空气循环系统以及控制系统组成。箱体的外壳为采用冷轧钢板静电喷塑，内胆采用优质304SUS不锈钢板，箱门中间设大面积观察窗，并配有观察灯，使用户可以清晰地看到试样的试验情况。外型整体美观大方。保温层为硬质聚氨脂发泡加上少量的超细玻璃棉，具有强度高，保温性有好等特点。 2.人性化设计的操作方法，易学易用，并且不同功能档次的仪表操作相互兼容。输入采用数字校正系统，内置常用热电偶和热电阻非线性校正表格，测量精确稳定。具备位式调节和AI人工智能调节功能，0.2级精度，多种报警模式。升温、降温、加湿、去湿独立，独特的BTHC平衡调温调湿方式。 3.制冷系统采用法国“泰康”全封闭进口压缩机组，机械式单级制冷或复迭低温回路系统，全自动控制与安全保护协调系统。加热采用不锈钢翅片加热管。二、高低温箱设备的主要技术指标 1.温度偏差：温度稳定后，在任意时间间隔内，工作空间中心温度的平均值和工作空间内其它点的温度平均值之差。虽然新旧标准对此指标的定义和称呼相同，但检测已有所改变，新标准更实际，更苛刻一点，但考核时间短点。一般标准要求指标为2℃，纯高温试验箱200℃以上可按三、高低温箱设备的主要技术指标： 2.温度范围：指产品工作室能耐受和（或）能达到的极限温度。通常含有能控制恒定的概念，应该是可以相对长时间稳定运行的极值。一般温度范围包括极限高温和极限低温。 3.温度波动度：这个指标也有叫温度稳定度，控制温度稳定后，在给定任意时间间隔内，工作空间内任一点的最高和最低温度之差。这里有个小小的区别工作空间并不是工作室，是大约工作室去掉离箱壁各自边长的1/10的一个空间。这个指标考核产品的控制技术。一般标准要求指标为1℃或0.5℃。 4.温度均匀度：

电子技术综合实验箱使用说明书

目录一、系统简介 (1) 二、配置 (2) 三、软、硬件安装 (2) 四、系统功能介绍 (4) 五、MCU单片机小系统详述 (22) 六、ISE9.1简明教程 (36) 七、电子技术综合实验箱实验项目简介 (48) 实验一、流水灯控制实验 (48) 实验二、数码管显示实验 (50) 实验三、液晶显示实验 (52) 实验四、串行A/D实验 (53) 实验五、串行D/A实验 (54) 实验六、232通讯实验 (55) 实验七、鼠标键盘驱动及VGA显示实验 (57) 实验八：简易电子琴实验 (61) 实验九：音乐回放实验 (62) 实验十：等精度频率计实验 (62) 实验十一：DDS实验 (64) 实验十一：扩展部分实验（只提供方案） (66) 实验一、数字存储示波器 (66) 实验二、频谱分析仪 (68) 八、ISE9.1i安装步骤 (73)

电子技术综合实验箱使用说明书一、系统简介电子技术综合实验箱是由鑫三知科教设备研发的，以单片机与FPGA为核心的综合实验系统。主要适用于各高校参加全国大学电子竞赛的赛前辅导，以及本科生的单片机与FPGA 的入门级教学，同时该实验系统也可作为研究生、中小企业的电子工程师等使用者的开发平台和辅助培训工具。开发工程师可使用VHDL语言、Verilog语言、原理图或方程式，结合Xilinx集成开发环境开发FPGA的应用，使用C语言或汇编语言开发单片机应用程序。二、配置 2.1 基本配置 ★ 1. 5V、3.3V、1.8V板上电源 ★ 2. 40万门SpartanⅢ XC3S400 FPGA ★ 3. 支持JTAG、Slave Serial、Select MAP等多种加载模式 ★ 4. 支持FPGA EEPROM配置，EEPROM芯片为XCF02S ★ 5. 置50MHZ晶振，满足高速设计要求 ★ 6. 以STC89c58RD+为核心的单片机最小系统 ★ 7. 高速AD/DA模块 ★ 8. 支持标准RS232串行接口 ★ 9. PS2键盘接口、PS2鼠标接口，支持3D、4D滚轮鼠标 ★ 10. VGA监视器接口，支持800×600、1600×1200或自定义分辨率 ★ 11. 12864点阵LCD显示（可选） 2.2 可选配置 ★ 12. 大容量高速SRAM模块，容量128KB ★ 13. 直接数字合成DDS模块 ★ 14. 语音处理模块三、软、硬件安装 3.1 开发套件容 ★电子技术综合实验箱； ★ FPGA下载线； ★串口电缆； ★用户手册(含原理图和元器件清单)； ★ CD-ROM（含ISE7.1、ModelSim6.0、Keilc51、ISPlay v1.5开发软件（数据手册）； 3.2 电子技术综合实验箱各模块基本配置： ◎底板： ★ +12V、-12V、5V、-5V、3.3V、1.8V电源 ★ VGA显示接口 ★ PS2鼠标、键盘接口 ★ RS232串行通信接口 ★音频输入/输出接口

高低温试验箱操作规程

高低温试验箱操作规程一、试验准备 1.实验室据【试验委托单】抽取规定比例产品作为试验样本。 2.室内温度：15～35℃，相对湿度：不大于85%R.H。 3.检查试验设备完好状态，确认设备正常 4.确认试件为非“易爆、可易燃或高腐蚀”物质。二、高低温试验箱试验操作步骤 1.高温试验 2.打开总电源开关 3.将样件摆放在试验箱内，产品相互之间不得接触;关闭试验箱门。 4.打开温度控制仪，按规定的要求设定温度，操作方法如下：（按“设定”按钮，设置需要试验的温度和斜率，如果需要湿度，则相同操作。） 5.按运转按钮 6.做完高温试验后，再次按下运转按钮，则高低温箱停止工作，待自然降温0.5h～1h 后，取出样件。 7.取出的样件放置空气中，自然冷却1h～2h后，观察样件表面变化情况，并记录在【高低温试验报告】中。 8.在试验过程中，如需观察样件状态时，打开试验箱照明灯开关即可，但不能长时间按下 9.低温试验(做完高温试验后，必须自然降温0.5h～1h 后，再做制冷试验)。 10.打开总电源开关。 11.将样件摆放在试验箱内，产品相互之间不得接触;关闭试验箱门。 12.按温度控制开关打开温度控制仪，按上述操作温度控制仪方法按规定的要求设定温度。 13.按运转按钮，低温试验开始。 14.完成低温运行后，按停止按钮，待自然降温0.5h～1h 后，取出样件。 15.把取出的样件放置空气中1h～2h后，观察样件表面的变化情况，根据试验要求填写【高低温试验报废】。三、高低温试验箱注意事项 1.本设备仅适合高温+150℃，低温-40℃范围内的产品试验。 2.禁止易爆、易燃及高腐蚀物质的试验。 3.本机工作于0℃以下时，应避免打开箱门，否则造成箱内蒸发器等部位产生结霜结冰，降低本机使用效率。 4.试验中，除非绝对必要切勿打开箱盖，否则可能会引起人身伤害、系统误动作，可能会导致系统PID误解，触发超温保护。

恒温恒湿试验箱技术规格

恒温恒湿试验箱技术规格集团文件发布号：（9816-UATWW-MWUB-WUNN-INNUL-DQQTY-

恒温恒湿试验箱技术规格一、可编程恒温恒湿箱相应标准：可编程恒温恒湿箱根据最新的DINENISO6270-2、DIN50018-97等相应标准制研发的新型产品,设备可做100%的湿度测试,并同时可实现低温、高温、湿度于一体的试验,是质检院校、电子电工、汽摩行业等必不可少的试验设备。采用日本原装进口“优易控”温湿度仪表，7英寸高清真彩液晶触摸显示屏，带给您触觉和视觉的尊贵与舒适；控制器面板标配有10M/100M的大网络接口，自动获取IP远程控制。可支持实时监控、历史曲线回放、程序编辑、FTP上传下载、历史故障查看、远程定值/程序控制等功能。二、产品特点：外箱材质均采用优质(t=1.2mm)A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁、美观。内箱材质采用进口高级不锈钢(SUS304)；保温材质e硬质聚氨酯泡沫+玻璃纤维；制冷系统采用全封闭式法国泰康压缩机；制冷系统的设计应用能量调节技术，是一种行之有效的处理方式，可保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节，使制冷系统的运行费用下降到较为理想的状态。三、可编程恒温恒湿箱的安装要求： 1.安装场地

地面平整，通风良好，设备周围无强烈振动和强电磁场的影响，无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘，并留有适当的使用及维护空间 2.供电条件电源要求：AC380V±10%50±0.5Hz三相五线制，要求用户在安装现场为配置相应容量的空气或动力开关，并且此开关必须是独立供本设备使用(建议电源开关容量：32A) 3.环境条件环境温度：5℃～+30℃(24小时内平均温度≤30℃)，环境湿度：≤85%RH 4.供水条件采用纯净水、蒸馏水、去离子水。贯彻“以质量求生存，以品质求发展，价格公道，服务周到”的经营方针，以先进的加工设备，一流的研发团队，完善的售后服务，严格的管理体系，进一步研发能符合各行业标准的环境试验设备，以满足广大客户的需求。四、可编程恒温恒湿箱参数：温度范围：20℃～60℃ 湿度范围：30～100%RH 波动/均匀度：±0.5℃/±2℃ 湿度偏差：+2、-3%RH 升温速率：1.0～3.0℃/min 样品承重：≥150KG/层控制器：进口微电脑温湿度集成控制器

高低温湿热试验箱工作原理及操作方法

高低温湿热试验箱工作原理及操作方法适用范围：高低温湿热试验箱适用于电子、电工、五金电器、光电通讯、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；交变湿热试验箱是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备；特别适用于光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、循环试验。操作方法：科文生产的高低温湿热试验箱的操作面板设计在设备的右侧，操作简单，维护方便。 1、温湿度控制器：反应并控制箱体内的温度、湿度； 2、试验时间：设定试验时间； 3、电源开关：启动和关闭设备电源的控制开关。 4、制冷开关：启动和关闭设备制冷系统的控制开关。 5、加湿开关：启动加湿系统的控制开关。 6、照明开关：启动设备照明系统的控制开关。 7、其他还有缺水、缺相、过载、超温等保护报警。具体操作： 1、将水箱加满纯净水，湿度传感器裹上纱布并置于水杯，确定水杯里面已经有水； 2、样品按规定安放在箱内托架上； 3、接好主电源线(插上插头)，把线路板上的高分断路器推上； 4、打开面板上的电源开关，此时仪表显示主菜单，具体温湿度设定见仪表操作说明书 5、设定试验所需时间，打开加湿开关； 6、如果试验需要制冷或除湿，打开制冷开关，压缩机延时3分钟后开始工作；如果在试验过程中需要查看试验室内状况，打开照明开关，之后关闭。高低温湿热试验箱结构大体可以分成控制系统、制冷系统、加热系统、湿度控制系统、传感器系统、空气循环系统6个部分(高低温试验箱没有湿度控制系统）。下面科文与大家分别探讨高低温湿热试验箱主要系统的工作原理和工作过程： 1、控制系统：控制系统是高低温湿热试验箱的核心，它决定了试验箱的升温速率、精度、是否有程序控制等重要指标。现在试验箱的控制器大都采用PID控制，也有少部分采用PID与模糊控制相组合的控制方式。 2、制冷系统：制冷系统是高低温湿热试验箱的关键部分之一。试验箱的制冷方式通常可分为机械制冷和液氮辅助制冷两种。机械制冷是采用蒸汽压缩式制冷，它们主要由压缩机、冷凝器、节流机构和蒸发器组成，由于我们试验的温度低温要达到-55℃，单级制冷难以满足满足要求，因此综合试验箱的制冷方式一般采用复叠式制冷。液氮制冷主要是利用液氮由液态变成气态时吸收大量热量的原理来实现快速降温的。实际应用过程中，液氮制冷通常作为压缩机机械制冷补充来使用，如在快速变温试验箱采用液氮喷雾作为补充，来实现快速降温的效果。3、加热系统：高低温湿热试验箱的加热系统相对制冷系统而言，是比较简单。它主要有大功率电阻丝组成，由于试验箱要求的升温速率较大，因此试验箱的加热系统功率都比较大，而且在试验箱的底板也设有加热器。 4、湿度控制系统：

嵌入式系统实验箱说明书

. EFLAG-ARM-S3C44B0 嵌入式系统实验箱说明书北京工业大学电控学院 DSP和嵌入式系统研究室二零零四年十月

一、系统概述嵌入式系统是嵌入式计算机系统的简称，以ARM为CPU的SOC系统作为嵌入式系统的硬件基础，以实时（uC/OS, VxWorks等）或非实时的(uCLinux, Linux, WinCE等)嵌入式操作系统作为软件平台。这样的嵌入式系统是一个完整的计算机系统。特别是有了嵌入式操作系统的支持以后，系统的软件开发的复杂程度大大降低。程序员在操作系统层面设计和编写程序，降低了对程序员硬件知识水平的要求，扩大的开发队伍，提高了开发速度，缩短了开发期，增强了系统的可靠性和稳定性。 ARM是处理器，“ARM”即是ARM公司的名字，也是ARM CPU的名字。ARM 公司是一家集成电路设计公司，本身不生产芯片，也不销售芯片，ARM公司向其他芯片制造厂商出售他们的设计，即IP （知识产权）。芯片制造公司（如Intel，Samsung，Atmel，Philips等）生产基于ARM处理器的SOC（片上系统）芯片。ARM公司要求，所有使用ARM处理器的芯片必须印有ARM标志。 ARM本身是CPU，不是单片机。以ARM为CPU生产的SOC芯片在部结构上是完整的计算机系统结构，而非传统单片机的控制器结构，故以ARM为核心制造的芯片区别原有的单片机而被称之为SOC芯片。 ARM处理器被多芯片制造大厂采用，芯片制造厂商使用ARM处理器，再整合不同的外设，生产出不同的SOC芯片，如Intel使用ARM V5TE版本处理器，添加SDRAM控制器，LCD控制器，USB控制器，串口，IIC等外设生产Xscale 芯片，Xscale是Intel公司的SOC芯片，其部使用的处理器是ARM。不同厂商基于同一个版本的ARM处理器生产的SOC芯片CPU的指令集是相同的，这就给开发人员带来了极大的便利，更大的加速了ARM处理器的市场占有率。

高低温箱技术协议

高低温试验箱制造技术协议书需方（甲方）：杭州浙大奔月科技有限公司供方（乙方）：江苏艾默生试验仪器科技有限公司对应合同编号：20130116W-1XG 2013 年 1 月 17 日签订技术协议书（正文） ------ 高低温试验箱制造根据《中华人民共和国合同法》和相关法律、法规规定，甲乙双方本着公平、诚实、信用的原则经协商后就乙方为甲方制作“高低温试验箱”所需的主要技术要求、质量控制、验收要求签订如下技术协议。 1 总则 1.1本工程为乙方交钥匙工程。 1.2本技术协议书提出的是最低限度的技术要求，供货方应提供符合工业标准、国家标准和有关技术文本及本技术协议书的优质产品。 1.3本技术协议书所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时，按较高标准执行。 1.4合同规定的文件，包括图纸、计算、说明、使用手册等，均应使用国际单位制（ISI）。 1.5合同生效后一周内，乙方应完成试验箱加工图纸、电气原理图、电气接线图的设计和加工、装配工艺的编制，制定详细的作业进度计划。甲方根据乙方提供的计划，进行工艺评审、进度监督、质量检查。 2 技术规范和标准要求 2.1 试验箱性能要求 2.1.1 高低温试验箱的温度范围：-20℃～+50℃。 2.1.2 高低温试验箱的温度偏差不大于±3℃。 2.1.3 高低温试验箱的温度波动度不大于±1℃。

2.1.4 高低温试验箱的温度均匀度不大于3℃。 2.1.5 工作室内壁温度与工作空间温度之差：高低温试验箱工作室内壁温度与工作空间温度之差，在高温下应不大于试验箱温度的3%，在低温下应不超过8%。 2.1.6升温和降温速率：每5分钟的平均降温速率为0.7～1℃／min，平均升温速率为3～4℃／min。 2.1.7 试验时试验仓内安放的被试件会发热，最大发热功率约15KW（也可能没有），可认为是有一个15KW的电炉在试验仓内一直烧着。在设计时计算制冷功率时需考虑把该部分的热量给抵消掉，确保温度控制要求。 2.2试验箱结构和外观要求 2.2.1 试验箱结构 2.2.1.1试验箱结构由两部分组成：主控箱和工作室。 2.2.1.2工作室由固定箱体和移动箱体两部分组成，具体尺寸见附图。其中移动部分的移动结构（滚轮）及动力由招标方负责，具体尺寸见附图。 2.2.1.3箱体内壳采用1.2mm不锈钢板，外壳用1.5mm镀锌钢板表面喷塑或烤漆。 2.2.1.4箱体可采用整体焊接或拼接处理。 2.2.1.5移动箱体设计时需考虑安装移动滚轮部位的承重，避免箱体局部变形。 2.2.2工作室所用的材料、焊料及焊缝等的机械性能和物理性能应能保证试验箱正常使用。 2.2.3箱体上方留置吊装孔，箱体设计时应考虑采用夹层骨架或折边等加强措施，保证箱体在移动过程中不存在变形、散架及晃动现象。 2.2.4固定箱体与移动箱体具备锁紧功能，并安装相应感应开关。在移动箱体两侧前后均设置推拉把手。 2.2.5固定箱体部分设计两个φ250mm的通风口（附图）及测试孔，具体尺寸及要求见附图，通风口处设置风阀手动开关，确保有保温效果。测试孔设密封塞。 2.2.6试验仓应设有观察窗，工作室内应设有照明装置，观察窗及照明用电电压应为安全电压。观察窗导电膜及照明用电通过移动箱与固定箱之间的活动接口取电，电线采用内置式。预留2-3个电线接点。 2.2.7箱体所用的密封条不易在高温下氧化、低温下硬化和润滑油中老化，不应失去密封性能，并应便于更换。 2.2.8应具有温度调节、指示、记录等仪器仪表装置。 2.2.9箱体上增加平衡窗；箱体两端增加装饰折边，顶部增加修饰条。

高低温试验箱说明书

高低温试验箱说明书一、产品规格型号:KHG-100 内型尺寸:D×W×H 450×450×500 型号: KHG-225 内型尺寸:D×W×H 500×600×750 型号: KHG-500 内型尺寸:D×W×H 800×700×900 型号: KHG-010 内型尺寸:D×W×H 1000×1000×1000 型号: KHG-013 内型尺寸: D×W×H 1000×1000×1300 二、技术指标： 1、温度范围：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃ 2、温度均匀度：≤±2℃（空载时） 3、温度波动度：±0.5℃（空载时） 4、温度偏差:≤±2℃ 5、降温速率：0.7～1.2℃/min 6、升温速度：1.0～3.0℃/min 7、时间设定范围：0～999 小时 8、噪音：＜65dB 三、结构简介： 1、外胆均采用优质（t=1mm）A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁、美观。 2、内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板。 3、保温材质:高密度玻璃纤维棉.保温厚度为100mm 4、温湿度循环系统:采用特制空调型低噪音长轴风扇电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环。 5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭 6、采用无反作用门把手，操作更容易 7、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮. 8、观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜（清楚观察试验过程） 9、测试孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(孔径或孔数须增加需指示) 四、加热系统 1、采用远红外镍合金高速加温（2KW×2）电加热器 2、高温完全独立系统，不影响低温试验、高温试验及交变湿热 3、温湿度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率之用电效益五、电路控制系统 1、进口数显触摸按键，PID微电脑SSR温度控制器（日本RKC仪表）； 2、精度：0.1℃(显示范围) 3、解析度：±0.1℃； 4、感温传感器：PT100铂金电阻测温体； 5、控制方式：热平衡调温调湿方式；所有电器均采用（施耐德）系列产品 6、温度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制 7、具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定 8、控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示

盐雾试验箱使用说明书

、八前首先，感谢贵单位对本公司YWX/Q- 系列盐雾腐蚀试验箱的厚爱，以及对本公司事业的大力支持！市场的竞争，产品质量的要求，推动了环境研究的发展，反过来环境研究的进步，又促进材料产品质量的提高。可喜的是，我国企业界已认识到：产品的环境适应性试验，是产品质量考核的一个重要手段，环境试验结果的反馈，是提高产品质量的重要依据——事实上，环境试验考核产品质量，已成为现代企业一个必备的程序。在环境适应性试验设备的研究和开发方面，我们遵循客观规律，以严格的标准，精心制作。从而保证了设备的精确性、可靠性和实用性。为使贵单位能够迅速了解和正确使用本系列设备，我们精心编制这册使用说明书。在贵单位启用本系列设备时，请充分阅读，并务必遵循说明书中所列安全注意事项和操作方法，以防止本系列设备的损坏，保证使用的安全和试验的质量。

一、产品概述 1、盐雾试验箱，可以模拟海洋及自然环境中自由沉降的盐雾空气，或则模拟汗水等工作环境。这种试验适合于有较强抗腐蚀作用的多层组合镀层，例如铜镍铬镀层或多层镍镀层等方面。 2、本系列产品适用于下列试验 A :中性盐雾试验（NSS） B :醋酸盐雾试验（ASS） C :铜盐加速乙酸盐雾试验（CASS）

（环境温度10-35C，气压86-106Kpa条件下） 1、型号：YWX/Q-750 2、工作室尺寸（mm ）: 740X1100）500 （长瀝湛） 3、温度范围：35?55C 4、温度波动度：±）5C 5、温度均匀度：i2C 6、盐雾沉降量：1?2ml/80cm2h 7、喷雾方式：塔式喷雾方式 8、工作方式：连续或周期喷雾任选

北京高低温试验箱使用说明书

高低温试验箱结构及五大系统高低温试验箱具有较宽的温度控制范围，其性能指标均达到国家标准GB10592-89高低温试验箱技术条件，适用于按GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法》对产品进行低温、高温试验及恒定温热试验。产品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL标准。高低温试验箱结构; (1) 试验箱箱体为整体结构形式，制冷系统位于箱体后下部，控制系统位于试验箱的上部。 (2)工作室一端的风道夹层内，分布加热器、制冷蒸发器、风叶等装置；试验箱左侧设有Ф50电缆孔，试验箱为单开门(不锈钢嵌入式门拉手) (3)采用双层耐高温抗老化硅橡胶密封，可有效保证试验箱温度的流失 (4)箱门上设有观察窗、防霜装置及可开关控制的照明灯。观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜。照明灯采用进口品牌飞利浦灯管，可有效的全方位观察工作室内的试验变化。高低温试验箱五大系统一、控制系统: 1.采用多款进口控制器，用户可以根据自身要求进行选择。（1）韩国进口TIME880彩色触摸屏可程式温湿度控制器，中英文切换界面，操作简单。（2）原装进口韩国TIME300数显薄膜按键数据输入温湿度控制器，英文显示界面。（3）进口日本“OYO”数显触摸按键温湿度控制仪，PID高精度控制，杜绝长期运行不稳定现象。 2.资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。 3.高低温试验箱控制器具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定。 4.可选配打印机，能打印记录设定参数和扫描出温湿度变化曲线。4~200mA标准信号。 5.传感器采用铂金电阻PT100Ω/MV。 6.具有RS-232通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机等功能。二、制冷、加热及风路循环系统: 1.制冷系统：选用全封闭法国泰康（或半封闭德国谷轮）压缩机。采用风冷单机压缩/风冷复叠压缩制冷方式。 2.加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器。 3.风路循环系统:采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计，风压风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。 4.电器控制系统：电器控制主件采用进口“施耐德”及“梅日梅兰”元件，更好的控制温度。 5.升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。温度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率用电效益。三、安全保护系统: 无熔丝开关，防干烧装置，极限高低温保护，温度偏差报警，压缩机超压、过载、过电流保护，缺相、逆相、短路、漏电保护。高低温试验箱满足标准高低温试验箱执行标准; GB 10586-89湿热试验箱技术条件 GB 10592-89高、低温试验箱技术条件 GB/T10589-1989低温试验箱技术条件高低温试验箱满足标准;