现代分析技术在塑料材料测试中的应用

现代分析技术在塑料材料测试中的应用
现代分析技术在塑料材料测试中的应用

现代分析技术在塑料材料测试中的应用

广东轻工职业技术学院 谭寿再

[摘 要] 塑料工业的发展,为塑料材料的分析测试提出了更高的要求。计算机技术、热分析、核磁共振、色谱法分析、光谱测试、电镜分析等现代材料分析测试技术及机电一体化,多机联用技术的塑料分析测试中得到了广泛的应用。塑料材料是粘弹性体,在分析测试中应该注意其特性并采用标准试验方法。

[关键词] 塑料材料,性能分析,测试技术,标准化。

塑料已经与钢铁、木材、水泥一起构成现代社会中的四大基础材料,是农业、工业、能源、交通运输、信息产业乃至宇宙空间和海洋开发等国民经济各领域不可缺少的主要材料。在新世纪里,我国已步入世界塑料大国行列。中国塑料原料表观消费量由2000年的约2400万吨增至 2004 年的3813.3万吨,居世界第二位,年均增长率达12.3%;2004年全国塑料制品产量达到1848.6万吨,工业总产值3803.15亿元,比上年同期增长25.0%;塑料制品的出口额127.74亿美元,比上年增长了31.21%。预计到 2005年,中国塑料表观需用量将超过4000万吨。由此可看,塑料制品行业在我国现代化经济建设中发挥着越来越大的作用。

随着塑料工业的发展,为了正确掌握塑料的各种性能,控制产品的质量、指导塑料产品的成型与加工、研讨材料结构与性能的关系、更好的推广和使用塑料材料。塑料性能的评价显得越来越重要,塑料性能的测试技术和各类性能试验方法标准也相继产生。然而,不容置疑,我国的塑料性能测试的技术水平,不论是仪器设备还是测试方法,与先进国家还有一定的差距。

一、 塑料性能分析测试的特点

塑料通常是指以合成的或天然的高分子化合物为基本成份,加以填料、增塑剂、稳定剂及其他添加剂等配合料,在将制造或加工过程中的某一阶段能流动成型或借原地聚合、固化而定型,其成品状态为柔韧性或刚性固体。由于塑料组成和结构的特点,使得塑料具有许多优异的性能。塑料性能分析测试是材料科学的一部分,它同众多的金属材料和非金属材料检验方法有许多相同之处,但由于高分子材料的结构性能的不同,也有自身的特点。

(1) 塑料的粘弹性

塑料是一种粘弹性体,其性能与弹性的金属材料有很大的不同。尤其是塑料的力学性能测试中有很宽的塑性区,应变率高。因此,用电阻应变片技术来测定塑料的应变量通常是不合适的。塑料测试的时间效应非常明显,在外力作用下塑料分子链会逐渐发生了构象和位移

的变化而造成的蠕变和应力松驰现象。在静拉伸下表现出具有很好弹性的材料,在高速拉伸时会明显的表现出很大的脆性。

(2) 环境条件对测试数据影响很大

塑料的温度效应明显,它不同于金属和陶瓷材料,在室温上下的波动不会对材料性能为行带来明显的改变。塑料的链段结构和活动对温度的依赖性极明显,往往在温度改变不多度时就明显地出现性能的巨大的变化,原硬如玻璃的东西马上变成柔软如橡胶的弹性体。环境湿度对塑料的性能也有影响,如尼龙材料在湿态的冲击强度是干态的十多倍。在日光、汽雾等作用下,处在不受力状态中的塑料均会发生不同程度的老化现象,致使塑料的很多性能发生变化。以上这些现象,会严重影响分析测试结果的准确性,造成试验误差。

(3) 塑料的多样性

塑料一般是多组分的混合物,分子结构、分子量分布,链段构象各异,因此,测定的数据易显分散。

二、 塑料测试的标准化

标准是对重复性事物和概念所做的统一规定。标准化程度高低是一个国家经济发展、科技进步的标志。随着我国的塑料应用领域的不断扩大,质量指标要求的提高,塑料标准化程度也在加快。近十年来,我们通过标准的引进吸收与修订,我国的塑料标准化已有了很大的提高,逐渐与国际接轨,这对提高我国的塑料测试技术水平有很大的促进作用。

塑料标准化包括塑料标准的制订和标准的应用。在我国制定的塑料技术标准中主要涉及九大类检验标准,他们是试样制备标准;物理性能测试标准;力学性能测试标准;电性能测试标准;燃烧性能测试标准;温度特性测试标准;化学测试标准;塑料老化和应力开裂试验标准;卫生性测试标准。这些标准可以从各种角度对塑料的性能进行评价,统一规定了影响试验结果的诸因素(温度、相对湿度、仪器、试样形状与尺寸、过程步骤、数据表示)等,保证塑料分析试验结果有较好的重现性和可比性。目前,我国各单位塑料分析测试的采用的标准以国家标准(GB)为主,有的企业也采用国际标准(ISO)、或美国试验与材料协会(ASTM)等其他国家的先进标准。

三、 塑料性能分析测试技术发展

随着现代科学的发展,精密仪器的制造技术迅速提高,再加上计算机技术的引入,使塑料分析测试仪器的功能和精度不断提高,为开辟塑料材料分析测试方法的新领域创造了很好的条件。如拉伸试验机,过去应用摆锤式测力计,塑料材料需要较高试验速度时,由于摆锤摆动的惯性引起的负荷误差竟达15%之多。现采用了电子测力、传感器测变形及机电伺服闭环控制技术的电子万能试验机,这种现象不再存在了,示值精度可达到了量程的±0.1%。同时,通过负荷/应变控制系统还可以控制加荷速率和应变速率,这对高温试验(如接近熔点)加荷速度的控制及屈服区域应变速率的控制是非常需要的。

(一)计算机技术应用

计算机将仪器的信号分析与处理、结果表达与输出放到计算机上来完成,用屏幕形象地模拟各种仪器控制面板,以各种形式表达、输出检测结果。使用计算机软件代替传统仪器的硬件来实现各种各样的信号分析、处理,完成多种多样的测试功能,而且由于采用计算机作为仪器的“内核”,能把人为干预的因素减到最小,可以获得很高的测试速度、很好的测量一致性和重复性,大大突破了传统仪器在数据的处理、表达、传送、存储等方面的限制,获得了传统仪器无法比拟的效果。此外,计算机化仪器具有开放式的结构,能建立起适应各企业的高度柔性的工作平台。各种不断完善的软件和硬件为数据采集、分析、描述和管理提供了有效的解决方案,减少了测控领域的用户更新仪器设备的开支。计算机在各种高分子材料测试仪器中的使用基本上包括:

(1)数据处理与分析结果 通过解线性方程(或其它数学方法)对多组分混合物进行定量分析,通过关键点数据与所存信息比较进行定性、定量分析等。

(2)图谱检索和比照及辨认 通过计算机所存图谱与检测谱的比照、辨认,确定未知物的性质、结构等。

(3)测试程序的自动控制 结合接口技术、传感器、A/D转换和闭环控制等技术,计算机实现的自动测试、示数、示图并自动存贮、打印等功能。

目前,计算机的很多成果都能够很快地反映到测量和仪器领域,例如不断提高速度、图形化用户界面、分布式处理方式、网络功能等,都很快移植到仪器和测试系统中。增加了仪器测量功能,提高了性能,形成了众多方便实用的自动测试系统。随着计算机工业及技术的发展,计算机在塑料材料近代测试技术中发挥了越来越重要的作用。

(二)热分析技术

热分析技术,主要包括热重法、差热分析、差示扫描量热法、热分析反应动力学等。它在表征材料的热性能、物理性能、机械性能以及稳定性等方面有着广泛的应用,对于材料的研究开发和生产中的质量控制具有很重要的实际意义。

(1)差示扫描量热分析(Differential Scanning Calorimetry,DSC),在程序控制温度下,测量样品的热流随温度或时间变化而变化的技术。因此,利用此技术,可以对高聚物的玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等进行研究。它分两个阶段测量:(a) 加热阶段,主要是获得原材料的温度——变形参数;(b)控制冷却后的热变化阶段,主要提供材料的真实性质。德国已将塑料材料的DSC值绘制成曲线,并且标准化(DIN53765和DIN51007),2004年我国也制定了DSC测试的国家标准,分别是《塑料—差示扫描量热法第1部分:通则》GB/T19466.1-2004、《塑料—差示扫描量热法(DSC)第2部分:玻璃化转变温度的测定》GB/T19466.2-2004和《塑料—差示扫描量热法(DSC)第3部分:熔融和结晶温度及热焓的测定》GB/T19466.3-2004。

DSC测量在高分子材料的研发、性能检测与质量控制有更为广泛地应用。例如可用差示

扫描量热仪(DS C)研究热固性树脂固化反应的热效应,得到固化反应的起始温度(Ta)、峰值温度(Tb)和终止温度(Tj),还可以得到单位重量的反应热以及固化后树脂的玻璃化温度Tg。这些数据对于树脂加工条件的确定,评价固化剂的配方有重要作用。 也可用DSC测定聚合物的玻璃化温度、结晶温度和熔点,为选择结晶聚合物加工工艺、热处理条件等提供指导作用。

(2)热重分析(Thermo Gravimetry,TG),在一定的气氛中,测量样品的质量随温度或时间变化而变化的技术,如测量材料的分解参数,用于研究诸如挥发或降解等伴随有质量变化的过程,亦可用于塑料件的失效分析中。

(3)温度——变形分析法 ThermoMechanicalAnalysis 简称TMA ,又称热机分析法。其主要用于注射过程中塑料的延伸和收缩行为分析。通过分析可以确定材料的热膨胀系数和软化点。

(4)动态机制分析法 Dynamic Mechanica lAnalysis 简称DMA ,该方法特别适合于失效分析中,是DSC分析法的补充,它可以测定试样与加工温度、时间和频率相关的刚度和强度参数。

(三)核磁共振(Nuclear Magnetic Resonance,NMR)分析技术

NMR现象是1946年由哈佛大学的E.M. Purcell和斯坦福大学的F.Bloch所领导的两个小组,用不同的方法观察到的。他们二人由于这项重大发现,共同分享了1952年诺贝尔物理学奖。核磁共振技术最初主要用于核物理研究方面,现今,它已被化学、食品、医学、生物学、遗传学以及材料科学等学科领域广泛采用,已成为在这些领域开展研究工作的有力工具。

NMR技术已成为研究高分子链结构的最主要手段,对于聚合物的构型、构象分析、立体异构体的鉴定和序列分布、支化结构的长度和数量、共聚物和共缩聚物组成的定性、定量以及序列结构测定等均有独特的长处。

(1)分子结构的测定和聚合反应历程研究

利用高分辨核磁共振谱仪测定有机化合物的核磁共振谱图,然后通过对照标准谱图,就能确定一个分子的结构。对于简单分子的结构,我们可以直接通过谱图的解析就能确定,如果要确定未知物的结构,可以结合其它的一些数据,如质谱、红外、元素分析等。另外,通过对聚合反应过程中间产物及副产物的辨别鉴定,可以研究有关聚合反应历程及考察合成路线是否可行等问题。

(2)定量分析和分子量的测定

核磁共振谱峰的面积(积分高度)正比于相应质子数,这不仅用于结构的分析中,同样可用于定量分析。用NMR定量分析的最大优点,是不需要引进任何校正因子或绘制工作曲线,NMR可以用于多组分混合物分析、元素(如H, F)的分析、有机物中活泼氢及重氢试剂的分析等。基于端基分析的化合物数均分子量的NMR测定,往往无需标准校正,而且快速,尤其

适用于线形分广的数均分子量的测定。

(3)高分子材料的分析

NMR谱线可以提供有关材料的结晶度、聚合物取向以及高分子共混体系等有关信息,还可以通过研究聚合反应过程,NMR谱线宽度的变化,了解反应过程中正在生长聚合物链的活动度变化,从而获得有关聚合反应动力学方面的信息。

(四)色谱法分析技术

色谱法(气相GC和液相色谱LC)是对有机化合物最有效的分离和鉴定的手段,检验和剖析高聚物的单体、添加剂等。色谱法的测试原理是把气态试样用一种与之不发生反应的载气带入色谱层析柱(气相色谱)进行分离,或对液相试样用液体运载(液相色谱)。所分离的部分即可用各种鉴定器进行鉴别而达到分析的目的。塑料材料常用的是裂解色谱,它是在严格的温度条件下把高聚物裂解成可挥发的小分子碎片,然后再用气相色谱对此裂解碎片进行分离鉴定。从碎片结构可以反推出高聚物整体的化学结构,也可以作为“指纹”来识别未知的高聚物。这种方法对高聚物的链结构能提供极为有用的信息。此外,还用凝胶渗透色谱法测定来高聚物分子量及分子量分布。

目前,发展一种新型的超临界流体色谱(SFC)及其联用技术。它能使用GC或LC的多种检测器,解决当今GC和LC无法解决的分离问题。一些LC操作已开始被SFC所取代,因为SFC不但测定范围覆盖了LC,而且其选择性和灵敏度都比LC高得多。超临界流体既具有接近于气体的粘度和高扩散系数,又具有接近液体的高密度和强溶解能力,对高分子量、极性和热不稳定的高分子化合物有很好的溶解性,极适用于塑料材料的成分的分析。与SFC联用的超临界流体萃取技术(SFE)能大量节省液态溶剂,提高萃取速度,具有低温抽提、无残留溶剂及可以选择性分离的特点,较常规的索氏抽提法具有较大的优势,可以减少甚至排除在抽提过程中产生的新化合物及溶剂蒸发过程中有机物馏分的损失,在塑料材料分离提纯等方面具有广泛的应用前景。

(五)光谱测试新技术

红外光谱(FTIR)和拉曼光谱(Raman)是当前研究分子结构进行定性定量分析的有效方法之一,用途极为广泛。由于红外光谱是物质分子结构的客观反映,所得到红外吸收光谱中各吸收峰都对应着分子中各基团的振动方式,因此谱图反应出物质的化学结构。可以直接从谱图上出现的持征吸收峰,经过理论推断来判明它所对应的基团结构,也可以从全谱作为“指纹”来识别末知物。对于高聚物而言,通常用红外光谱来测定高聚物的化学结构,鉴别未知高聚物,研究高聚物的立体构形,测定支化度以及聚集态结构。拉曼光谱的作用与红外光谱类似,也是一种分子光谱。但它所反映的结构本质却不相同。拉曼光谱与分子的极化度有关,红外光谱则依赖于分子的偶极矩。因此这两种光谱常起到相辅相成的作用。

FTIR技术的不断发展与创新,并与计算机联用,衍生多种新的光谱测试技术,具有更具优良的特性和完善的功能,特别是其功能附件在线联用技术的发展,使其几乎成为一种全

能的分析技术。如:FTIR漫反射光谱可提供其它红外光谱方法不易得到的非透过样品的红外光谱图;对表面光滑的样品及很难研成粉末或制样会使形态发生不可逆变化的样品,用光声光谱更合适。红外显微技术可在毫微克级上对固体样品进行红外光谱分析,使样品观察与定性、定量分析同步进行,测定灵敏度高,特别适用于聚合物基纳米复合材料的分析。

(六)X衍射和散射技术

X衍射和散射是测定结晶高聚物的结晶度和结晶尺寸以及取向度和取向分布的方法。试祥中结晶部分的含量与衍射强度成正比,而相应的非晶部分含量也正比于非晶部分的衍射强度,所以只要测出这两部分的衍射强度即可计算出结晶度。另外,从衍射图的测量可以得到结晶体的晶态结构信息,并可计算晶胞参数。同时衍射图上衍射圆弧的尺寸长短表示结晶高聚物的取向度,而圆弧上的光强度分布又反映了晶粒的取向分布。

(七)电子显微镜技术

电子显微镜分透射式和扫描式两类:透射电镜适宜于高聚物聚集态结构和高聚物合金分散相的结构,它的放大倍率很高,可以分辨十几个埃的细微结构。扫描电镜则可以清楚地观察到较大区域的表面形貌,适合于进行高聚物试样的断口分析、表面处理效果和老化情况等。它还可以配合电子探针进行元素分析,因此也是非常有用的工具。

(八)联用技术的应用

随着科学的发展,各种技术领域交叉越来越普遍,材料测试技术也不例外。目前,机电一体化,各种测试技术与计算机的结合,多机联用是一个新的发展热点,拓展了材料分析测试的范围,在有材料分析研究中有着广阔的应用前景。

(1)GC/FTIR联机与色质联机(GC/MS )具互补性,对几何异构体鉴定有特效,特别适用于组成复杂、结构相似的芳香烃混合物的分离鉴定。毛细柱GC/FTIR的最低检出限可达100~10ng,已成为分析微量混合物的重要方法。

GC/FTIR/MS三机联用技术将FTIR鉴定异构体与MS鉴定同系物的两个特效功能有机地结合在一起,既发挥了FTIR能得到的完整分子结构信息的特征,又发挥了MS检测灵敏度高及数据贮存量大的优点,其分离鉴定能力之强,是其它测试技术所无法达到的。热解气体色谱(PyGC) /FTIR联用,扩大了GC/FTIR的使用范围。

(2)扫描电子显微镜、拉压试验试验机、计算机联用,可以动态地测试材料的宏观与微观性能。日立公司与英斯特郎公司合作研制成了电镜试样室内可做高温蠕变试验的试验装置。西安交通大学采用了疲劳试验台与计算机巧妙结合的方法,研制成了配备JSM-350扫描电镜的多功能的疲劳试验装置,实现了疲劳裂纹萌生与扩展过程的SEM动态直接观察。

塑料分析测定技术随着科学技术的不断发展,将会出现更多,更加有效的方法和先进的仪器设备。

现代材料测试技术试题答案

一、X射线物相分析的基本原理与思路 在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析,如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。这是材料成分的化学分析。 一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。 X射线物相分析的基本原理是什么呢? 每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。 其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。 衍射花样有两个用途: 一是可以用来测定晶体的结构,这是比较复杂的; 二是用来测定物相。 所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相,分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。 X射线物相分析方法有: 定性分析——只确定样品的物相是什么? 包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。 二、单相定性分析 利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为: ①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样; ②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值; ③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。 1、标准物质的粉末衍射卡片 标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。为此,人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相,将它们的衍射花样收集起来。由于底片和衍射图都难以保存,并且由于各人的实验的条件不同(如所使用的X射线波长不同),衍射花样的形态也有所不同,难以进行比较。因此,通常国际上统一将这些衍射花样经过计算,换算成衍射线的面网间距d值和强度I,制成卡片进行保存。

材料现代分析测试方法习题答案.doc

材料现代分析测试方法习题答案 【篇一:2012 年材料分析测试方法复习题及解答】 lass=txt> 一、单项选择题(每题 3 分,共15 分) 1.成分和价键分析手段包括【 b 】 (a)wds 、能谱仪(eds )和xrd (b)wds 、eds 和xps (c)tem 、wds 和xps (d)xrd 、ftir 和raman 2.分子结构分析手段包括【a】 (a)拉曼光谱(raman )、核磁共振(nmr )和傅立叶变换红外光 谱(ftir )(b)nmr 、ftir 和wds (c)sem 、tem 和stem (扫描透射电镜)(d)xrd 、ftir 和raman 3.表面形貌分析的手段包括【d】 (a)x 射线衍射(xrd )和扫描电镜(sem )(b) sem 和透射电镜 (tem ) (c) 波谱仪(wds )和x 射线光电子谱仪(xps )(d) 扫描隧道显微 镜(stm )和 sem 4.透射电镜的两种主要功能:【b】 (a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构 (c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键 5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【 c 】 (a)–c-h 、–oh 和–nh2 (b) –c-h 、和–nh2, (c) –c-h 、和-c=c- (d) –c-h 、和co 2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。(√) 5.在样品台转动的工作模式下,x 射线衍射仪探头转动的角速度是 样品转动角 速度的二倍。(√) 三、简答题(每题 5 分,共25 分) 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小,产生信 号的区域也小,分辨率就高。 2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的?

(完整word版)教案-材料现代分析测试方法

西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名:张宝述 课程名称:材料现代分析测试方法 课程代码:11319074 授课对象:本科专业:材料物理 授课总学时:64 其中理论:64 实验:16(单独开课) 教材:左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社,2000 材料学院教学科研办公室制

2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子(束)与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1.理解概念:(电子的)最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射;掌握概念:散射角(2 )、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流(电子)、透射电子、二次离子。 2.了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3.掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4.掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5.掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6.了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点:电子的散射,电子与固体作用产生的信号。难点:电子与固体的相互作用,离子散射,溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号(教材图3-3),哪些对应入射电子?哪些是由电子激发产生的? 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同? 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多,而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当,这是为什么? 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4

材料现代分析与测试技术论文

材料现代分析与测试技术论文 (1)X射线单晶体衍射仪(X-ray single crystal diffractometer,简写为XRD) 原理:根据布拉格公式:2dsinθ=λ可知,对于一定的晶体,面间距d一定,有两种途径可以使晶体面满足衍射条件,即改变波长λ或改变掠射角θ。X射线照射到某矿物晶体的相邻网面上,发生衍射现象。两网面的衍射产生光程差ΔL=2dsinθ,当ΔL等于X射线波长的整数倍nλ(n为1、2、3….,λ为波长)时,即当2dsinθ=nλ时,干涉现象增强,从而反映在矿物的衍射图谱上。不同矿物具有不同的d值。X射线分析法就是利用布拉格公式并根据x射线分析仪器的一些常数和它所照出的晶体结构衍射图谱数据,求出d,再根据d值来鉴定被测物。 主要功能:收集晶体衍射数据以及进一步确定晶体结构,过程主要包括:挑选样品,上机,确定晶胞参数,设定参数进行数据收集,数据还原,结构解析。(2)光学显微镜(Optical Microscopy ,简写为OM) 基本原理:显微镜是利用凸透镜的放大成像原理,将人眼不能分辨的微小物体放大到人眼能分辨的尺寸,其主要是增大近处微小物体对眼睛的张角(视角大的物体在视网膜上成像大),用角放大率M表示它们的放大本领。因同一件物体对眼睛的张角与物体离眼睛的距离有关,所以一般规定像离眼睛距离为25厘米(明视距离)处的放大率为仪器的放大率。显微镜观察物体时通常视角甚小,因此视角之比可用其正切之比代替。 显微镜放大原理光路图 显微镜由两个会聚透镜组成,光路图如图所示。物体AB经物镜成放大倒立的实像A1B1,A1B1位于目镜的物方焦距的内侧,经目镜后成放大的虚像A2B2于明视距离处。 主要功能:把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息。(3)扫描式电子显微镜(scanning electron microscope,简写SEM)

材料现代分析测试方法复习题

材料现代分析测试方法 复习题 Document number:WTWYT-WYWY-BTGTT-YTTYU-2018GT

《近代材料测试方法》复习题 1.材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次分别可以用什么方法分析 答:化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法(平均成分):湿化学法、光谱分析法 ——先进方法(种类、浓度、价态、分布):X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析:X射线衍射、电子衍射 显微结构分析:光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2.X射线与物质相互作用有哪些现象和规律利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用 答:除贯穿部分的光束外,射线能量损失在与物质作用过程之中,基本上可以归为两大类:一 部分可能变成次级或更高次的X射线,即所谓荧光X射线,同时,激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中,包括相干散射和非相干散射。此外,它还能变成热量逸出。 (1)现象/现象:散射X射线(想干、非相干)、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 (2)①光电效应:当入射X射线光子能量等于某一阈值,可击出原子内层电子,产

生光电效应。 应用:光电效应产生光电子,是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射(X射线荧光辐射):当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后,较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线(称二次特征辐射)。 应用:X射线被物质散射时,产生两种现象:相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3.电子与物质相互作用有哪些现象和规律利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用 答:当电子束入射到固体样品时,入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用,发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程,相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。(1)现象/规律:二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射线 (2)获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4.光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应,荧光产率与俄歇电子产率。特征X射线产生机理。 光电效应:当入射X射线光子能量等于某一阈值,可击出原子内层电子,产生光电效应。

现代材料测试技术作业

现代材料测试技术 作业

第一章X射线衍射分析 一、填空题 1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种。 2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即、、。 3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是、、。 4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。 5、测量X射线衍射线峰位的方法有六种,它们分别是、、 、、、。 6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、 、。 7、特征X射线产生的根本原因是。 8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、 和字顺索引。 9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。 10、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:和 11、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为。 12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、,其中和应 用较为普遍。 13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面 14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。 15、当X射线照射到物体上时,一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向,造成散射线;另一部分光子可能被原子吸收,产生;再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子,成为。 二、名词解释 X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、X-射线的衰减 三、问答与计算 1、某晶体粉末样品的XRD数据如下,请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。 2、产生特征X射线的根本原因是什么? 3、简述特征X-射线谱的特点。 4、推导布拉格公式,画出示意图。 5、回答X射线连续光谱产生的机理。

(完整版)材料现代分析方法考试试卷

班级学号姓名考试科目现代材料测试技术A 卷开卷一、填空题(每空1 分,共计20 分;答案写在下面对应的空格处,否则不得分) 1. 原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为_辐射跃迁__ 跃迁或_无辐射跃迁__跃迁。 2. 多原子分子振动可分为__伸缩振动_振动与_变形振动__振动两类。 3. 晶体中的电子散射包括_弹性、__与非弹性___两种。 4. 电磁辐射与物质(材料)相互作用,产生辐射的_吸收_、_发射__、_散射/光电离__等,是光谱分析方法的主要技术基础。 5. 常见的三种电子显微分析是_透射电子显微分析、扫描电子显微分析___和_电子探针__。 6. 透射电子显微镜(TEM)由_照明__系统、_成像__系统、_记录__系统、_真空__系统和__电器系统_系统组成。 7. 电子探针分析主要有三种工作方式,分别是_定点_分析、_线扫描_分析和__ 面扫描_分析。 二、名词解释(每小题3 分,共计15 分;答案写在下面对应的空格处,否则不得分) 1. 二次电子二次电子:在单电子激发过程中被入射电子轰击出来的核外电子. 2. 电磁辐射:在空间传播的交变电磁场。在空间的传播遵循波动方程,其波动性表现为反射、折射、干涉、衍射、偏振等。 3. 干涉指数:对晶面空间方位与晶面间距的标识。 4. 主共振线:电子在基态与最低激发态之间跃迁所产生的谱线则称为主共振线 5. 特征X 射线:迭加于连续谱上,具有特定波长的X 射线谱,又称单色X 射线谱。 三、判断题(每小题2 分,共计20 分;对的用“√”标识,错的用“×”标识) 1.当有外磁场时,只用量子数n、l 与m 表征的原子能级失去意义。(√) 2.干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面,即干涉指数表示的晶面上不一定有原子分布。(√) 3.晶面间距为d101/2 的晶面,其干涉指数为(202)。(×) 4.X 射线衍射是光谱法。(×) 5.根据特征X 射线的产生机理,λKβ<λK α。 (√ ) 6.物质的原子序数越高,对电子产生弹性散射的比例就越大。(√ ) 7.透射电镜分辨率的高低主要取决于物镜。(√ )8.通常所谓的扫描电子显微镜的分辨率是指二次电子像的分辨率。(√)9.背散射电子像与二次电子像比较,其分辨率高,景深大。(× )10.二次电子像的衬度来源于形貌衬度。(× ) 四、简答题(共计30 分;答案写在下面对应的空格处,否则不得分) 1. 简述电磁波谱的种类及其形成原因?(6 分)答:按照波长的顺序,可分为:(1)长波部分,包括射频波与微波。长波辐射光子能量低,与物质间隔很小的能级跃迁能量相适应,主要通过分子转动能级跃迁或电子自旋或核自旋形成;(2)中间部分,包括紫外线、可见光核红外线,统称为光学光谱,此部分辐射光子能量与原子或分子的外层电子的能级跃迁相适应;(3)短波部分,包括X 射线和γ射线,此部分可称射线谱。X 射线产生于原子内层电子能级跃迁,而γ射线产生于核反应。

《材料现代分析测试方法》复习题

《近代材料测试方法》复习题 1.材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次?分别可以用什么方法分析? 答:化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法(平均成分):湿化学法、光谱分析法 ——先进方法(种类、浓度、价态、分布):X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析:X射线衍射、电子衍射 显微结构分析:光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2.X射线与物质相互作用有哪些现象和规律?利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用? 答:除贯穿部分的光束外,射线能量损失在与物质作用过程之中,基本上可以归为两大类:一部 分可能变成次级或更高次的X射线,即所谓荧光X射线,同时,激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中,包括相干散射和非相干散射。此外,它还能变成热量逸出。 (1)现象/现象:散射X射线(想干、非相干)、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 (2)①光电效应:当入射X射线光子能量等于某一阈值,可击出原子内层电子,产 生光电效应。

应用:光电效应产生光电子,是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射(X射线荧光辐射):当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后,较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线(称二次特征辐射)。 应用:X射线被物质散射时,产生两种现象:相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3.电子与物质相互作用有哪些现象和规律?利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用? 答:当电子束入射到固体样品时,入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用,发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程,相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。 (1)现象/规律:二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射 线 (2)获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4.光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应,荧光产率与俄歇电子产率。 特征X射线产生机理。 光电效应:当入射X射线光子能量等于某一阈值,可击出原子内层电子,产生光电效应。 荧光辐射:被打掉了内层电子的受激原子,将发生外层电子向内层跃迁的过程,同时辐射出波长严格一定的特征X射线。这种利用X射线激发而产生的特征辐射为二次特

材料现代分析测试方法知识总结

名词解释: 分子振动:分子中原子(或原子团)以平衡位置为中心的相对(往复)运动。伸缩振动:原子沿键轴方向的周期性(往复)运动;振动时键长变化而键角不变。(双原子振动即为伸缩振动) 变形振动又称变角振动或弯曲振动:基团键角发生周期性变化而键长不变的振动。 晶带:晶体中,与某一晶向[uvw]平行的所有(HKL)晶面属于同一晶带,称为[uvw]晶带。 辐射的吸收:辐射通过物质时,其中某些频率的辐射被组成物质的粒子(原子、离子或分子等)选择性地吸收,从而使辐射强度减弱的现象。 辐射被吸收程度对ν或λ的分布称为吸收光谱。 辐射的发射:物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。 作为激发源的辐射光子称一次光子,而物质微粒受激后辐射跃迁发射的光子(二次光子)称为荧光或磷光。吸收一次光子与发射二次光子之间延误时间很短(10-8~10-4s)则称为荧光;延误时间较长(10-4~10s)则称为磷光。 发射光谱:物质粒子发射辐射的强度对ν或λ的分布称为发射光谱。光致发光者,则称为荧光或磷光光谱 辐射的散射:电磁辐射与物质发生相互作用,部分偏离原入射方向而分散传播的现象 散射基元:物质中与入射的辐射相互作用而致其散射的基本单元 瑞利散射(弹性散射):入射线光子与分子发生弹性碰撞作用,仅光子运动方向改变而没有能量变化的散射。 拉曼散射(非弹性散射):入射线(单色光)光子与分子发生非弹性碰撞作用,在光子运动方向改变的同时有能量增加或损失的散射。 拉曼散射线与入射线波长稍有不同,波长短于入射线者称为反斯托克斯线,反之则称为斯托克斯线 光电离:入射光子能量(hν)足够大时,使原子或分子产生电离的现象。 光电效应:物质在光照射下释放电子(称光电子)的现象又称(外)光电效应。 光电子能谱:光电子产额随入射光子能量的变化关系称为物质的光电子能谱 分子光谱:由分子能级跃迁而产生的光谱。

材料现代测试技术

材料现代测试技术 学院:材料科学与工程学院专业班级:材料科学02班 姓名:吴明玉 学号:20103412

SnO 基纳米晶气敏材料微观结构的表征 2 一.摘要 随着现代物理科学技术的迅速发展,现代分析测试技术的不断更新和进步为人们对材料结构和性能的深入研究提供了可能,从而促进人们对气敏材料机理有了更为客观的认识。本文主要以X衍射分析仪(XRD),X射线光电子能谱(XPS),扫描电镜(SEM),高分辨电子显微镜(HRTEM)等现代材料测试技术为基础,设计出了可行的气敏材料微观结构表征方案。 关键词:XRD XPS SEM HRTEM 二.引言 材料是人类社会赖以生存和发展的物质基础,材料的发展关系到国民经济发展,国防建设和人民生活水平的提高。半导体SnO2气敏材料在防止火灾爆炸事故的发生、大气环境的检测以及工业生产有毒有害气体的检测等领域的发挥了巨大作用。但是,目前开发的半导体气敏材料仍存在着灵敏度不高、交叉敏感严重、长期使用敏感材料易中毒失效稳定性差、重复性不好等缺点。针对上述问题,研究者们做了大量工作。气敏材料的研究热点主要集中在改进、优化成膜工艺和对现有材料进行掺杂、改性、表面修饰等处理,以提高气体传感器的气敏性能,降低工作温度,提高选择性稳定性等性能。掺杂不仅可以提高元件的电导率,还可以提高稳定性和选择性,金属掺杂是最为常见的掺杂方式,掺杂物的电子效应可以起到催化活性中心的作用,降低被测气体化学吸附的活化能,有效提高气敏元件的灵敏度和缩短响应时间。 成分,结构,加工和性能是材料科学与工程的四个基本要素,成分和结构从根本上决定了材料的性能,对材料的成分和结构进行精确表征是实现材料性能控制的前提。材料的分析包括表面和内部组织形貌,晶体的相结构,化学成分和价键结构,相应地,材料分析方法有形貌分析,物相分析,成分与价键分析和分子结构分析。为了对SnO 掺杂金属离子复合材料的性能进行研究,本文设计出了 2 微观结构表征方案,为微观结构研究做好了铺垫。 三.正文 3.1材料的制备及表征方法 纳米材料,并对其分别进行Cd,Ni等金属的掺杂。通采用水热法制备SnO 2 过X衍射分析仪(XRD),X射线光电子能谱(XPS)等,得到薄膜的晶体结构以及表面的化学组成,原子价态,表面能态分布信息;通过扫描电镜(SEM)等得到材料的表面微观形貌信息;通过高分辨电子显微镜(HRTEM)得到材料的晶体取向, 3.2表征方案 3.2.1X衍射分析仪(XRD)

材料现代分析测试方法习题答案

现代材料检测技术试题及答案 第一章 1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么? 2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。 3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”? 4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它? 5. 产生X 射线需具备什么条件? 6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中? 7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最 大动能。 8. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同?某物质的K 系荧光X 射线波长是否等于它的K 系特征 X 射线波长? 9. 连续谱是怎样产生的?其短波限V eV hc 301024.1?==λ与某物质的吸收限k k k V eV hc 31024.1?==λ有何不同(V 和V K 以kv 为单位)? 10. Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对x 射线分析有何影响?反冲电子、光电子和俄歇电子有 何不同? 11. 试计算当管压为50kv 时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子 的最大能量是多少? 12. 为什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而L 吸收限有三个?当激发X 系荧光Ⅹ射线时,能否 伴生L 系?当L 系激发时能否伴生K 系? 13. 已知钼的λK α=0.71?,铁的λK α=1.93?及钴的λK α=1.79?,试求光子的频率和能量。试计算钼的K 激发电压,已知钼的λK =0.619?。已知钴的K 激发电压V K =7.71kv ,试求其λK 。 14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm ,试计算这种铅屏对CuK α、MoK α辐射的透射系数各为 多少? 15. 如果用1mm 厚的铅作防护屏,试求Cr K α和Mo K α的穿透系数。 16. 厚度为1mm 的铝片能把某单色Ⅹ射线束的强度降低为原来的23.9%,试求这种Ⅹ射线的波长。 试计算含Wc =0.8%,Wcr =4%,Ww =18%的高速钢对MoK α辐射的质量吸收系数。 17. 欲使钼靶Ⅹ射线管发射的Ⅹ射线能激发放置在光束中的铜样品发射K 系荧光辐射,问需加的最低的管 压值是多少?所发射的荧光辐射波长是多少? 18. 什么厚度的镍滤波片可将Cu K α辐射的强度降低至入射时的70%?如果入射X 射线束中K α和K β强度之 比是5:1,滤波后的强度比是多少?已知μm α=49.03cm 2/g ,μm β=290cm 2/g 。 19. 如果Co 的K α、K β辐射的强度比为5:1,当通过涂有15mg /cm 2的Fe 2O 3滤波片后,强度比是多少?已 知Fe 2O 3的ρ=5.24g /cm 3,铁对CoK α的μm =371cm 2/g ,氧对CoK β的μm =15cm 2/g 。 20. 计算0.071 nm (MoK α)和0.154 nm (CuK α)的Ⅹ射线的振动频率和能量。(答案:4.23×1018s -l ,2.80 ×10-l5J ,1.95×1018s -1,l.29×10-15J )

现代分析技术在塑料材料测试中的应用

现代分析技术在塑料材料测试中的应用 广东轻工职业技术学院 谭寿再 [摘 要] 塑料工业的发展,为塑料材料的分析测试提出了更高的要求。计算机技术、热分析、核磁共振、色谱法分析、光谱测试、电镜分析等现代材料分析测试技术及机电一体化,多机联用技术的塑料分析测试中得到了广泛的应用。塑料材料是粘弹性体,在分析测试中应该注意其特性并采用标准试验方法。 [关键词] 塑料材料,性能分析,测试技术,标准化。 塑料已经与钢铁、木材、水泥一起构成现代社会中的四大基础材料,是农业、工业、能源、交通运输、信息产业乃至宇宙空间和海洋开发等国民经济各领域不可缺少的主要材料。在新世纪里,我国已步入世界塑料大国行列。中国塑料原料表观消费量由2000年的约2400万吨增至 2004 年的3813.3万吨,居世界第二位,年均增长率达12.3%;2004年全国塑料制品产量达到1848.6万吨,工业总产值3803.15亿元,比上年同期增长25.0%;塑料制品的出口额127.74亿美元,比上年增长了31.21%。预计到 2005年,中国塑料表观需用量将超过4000万吨。由此可看,塑料制品行业在我国现代化经济建设中发挥着越来越大的作用。 随着塑料工业的发展,为了正确掌握塑料的各种性能,控制产品的质量、指导塑料产品的成型与加工、研讨材料结构与性能的关系、更好的推广和使用塑料材料。塑料性能的评价显得越来越重要,塑料性能的测试技术和各类性能试验方法标准也相继产生。然而,不容置疑,我国的塑料性能测试的技术水平,不论是仪器设备还是测试方法,与先进国家还有一定的差距。 一、 塑料性能分析测试的特点 塑料通常是指以合成的或天然的高分子化合物为基本成份,加以填料、增塑剂、稳定剂及其他添加剂等配合料,在将制造或加工过程中的某一阶段能流动成型或借原地聚合、固化而定型,其成品状态为柔韧性或刚性固体。由于塑料组成和结构的特点,使得塑料具有许多优异的性能。塑料性能分析测试是材料科学的一部分,它同众多的金属材料和非金属材料检验方法有许多相同之处,但由于高分子材料的结构性能的不同,也有自身的特点。 (1) 塑料的粘弹性 塑料是一种粘弹性体,其性能与弹性的金属材料有很大的不同。尤其是塑料的力学性能测试中有很宽的塑性区,应变率高。因此,用电阻应变片技术来测定塑料的应变量通常是不合适的。塑料测试的时间效应非常明显,在外力作用下塑料分子链会逐渐发生了构象和位移

材料现代测试分析方法

材料现代测试分析方法的应用现状与发展趋势 1. 前言 (2) 2. ...................................................................................................................................................... X 射线衍射的现状与发展趋势. (3) 2.1 X 射线衍射方法 (3) 2.2. X 射线衍射的应用和发展趋势 (3) 2.2.1 X 射线衍射分析的应用 (3) 2.2.2 X 射线衍射仪的应用 (4) 2.3 X 射线衍射的发展趋势 (5) 3. 材料电子显微分析方法应用现状与发展趋势 (6) 3.1 扫描电子显微镜(SEM) (6) 3.2 透射电子显微镜(TEM) (8) 4. 电子能谱分析方法应用现状与发展趋势 (9) 4.1 俄歇电子能谱分析方法及其应用 (9) 4.1.1 AES 谱仪的基本结构 (9) 4.1.2 俄歇电子能谱技术的应用 (10) 4.2 X 射线光电子能谱分析及其应用 (13) 4.2.1 XPS 谱仪的基本结构 (13) 4.2.2 XPS 谱图分析技术的应用 (13) 5. 光谱分析方法应用现状与发展趋势 (15) 5.1 傅立叶变换红外光谱仪的应用 (15) 2. 在表面化学研究中的应用 (17) 3. 在催化化学研究中的应用 (17) 4. 在石油化学研究中的应用 (17) 5. 在环境分析中的应用 (18) 6. 在半导体和超导材料等方面的应用 (18) 5.2 拉曼光谱的应用 (19) 6. 致谢 (22) 参考文献 (22)

现代材料测试技术期末测试题(1)

《材料现代分析测试技术》思考题 1.电子束与固体物质作用可以产生哪些主要的检测信号?这些信号产生的原理是什么?它们有哪些特点和用途? (1)电子束与固体物质产生的检测信号有:特征X射线、阴极荧光、二次电子、背散射电子、俄歇电子、吸收电子等。 (2)信号产生的原理:电子束与物质电子和原子核形成的电场间相互作用。 (3)特征和用途: ①背散射电子:特点:电子能量较大,分辨率低。用途:确定晶体的取向,晶体间夹角,晶粒度及晶界类型,重位点阵晶界分布,织构 分析以及相鉴定等。 ②二次电子:特点:能量较低,分辨率高。用途:样品表面成像。 ③吸收电子:特点:被物质样品吸收,带负电。用途:样品吸收电子成像,定性微区成分分析。 ④透射电子:特点:穿透薄试样的入射电子。用途:微区成分分析和结构分析。 ⑤特征X射线:特点:实物性弱,具有特征能量和波长,并取决于被激发物质原子能及结构,是物质固有的特征。用途:微区元素定性 分析。 ⑥俄歇电子:特点:实物性强,具有特征能量。用途:表层化学成分分析。 ⑦阴极荧光:特点:能量小,可见光。用途:观察晶体内部缺陷。 ①电子散射:当高速运动的电子穿过固体物质时,会受到原子中的电子作用,或受到原子核及周围电子形成的库伦电场的作用,从而改 变了电子的运动方向的现象叫电子散射 ②相干弹性散射:一束单一波长的电子垂直穿透一晶体薄膜样品时,由于原子排列的规律性,入射电子波与各原子的弹性散射波不但波 长相同,而且有一定的相位关系,相互干涉。 ③不相干弹性散射:一束单一波长的电子垂直穿透一单一元素的非晶样品时,发生的相互无关的、随机的散射。 ④电子衍射的成像基础是弹性散射。 3.电子束与固体物质作用所产生的非弹性散射的作用机制有哪些? 非弹性散射作用机制有:单电子激发、等离子激发、声子发射、轫致辐射 ①单电子激发:样品内的核外电子在收到入射电子轰击时,有可能被激发到较高的空能级甚至被电离,这叫单电子激发。 ②等离子激发:高能电子入射晶体时,会瞬时地破坏入射区域的电中性,引起价电子云的集体振荡,这叫等离子激发。 ③声子发射:入射电子激发或吸收声子后,使入射电子发生大角度散射,这叫声子发射。 ④轫致辐射:带负电的电子在受到减速作用的同时,在其周围的电磁场将发生急剧的变化,将产生一个电磁波脉冲,这种现象叫做轫致 辐射。 1)二次电子产生:单电子激发过程中,被入射电子轰击出来并离开样品原子的核外电子。应用:样品表面成像,显微组织观察,断口形貌观察等 2)背散射电子:受到原子核弹性与非弹性散射或与核外电子发生非弹性散射后被反射回来的入射电子。应用:确定晶体的取向,晶体间夹角,晶粒度及晶界类型,重位点阵晶界分布,织构分析以及相鉴定等。 3)成像的相同点:都能用于材料形貌分析 成像的不同点:二次电子成像特点:(1)分辨率高(2)景深大,立体感强(3)主要反应形貌衬度。背散射电子成像特点:(1)分辨率低(2)背散射电子检测效率低,衬度小(3)主要反应原子序数衬度。 5.特征X射线是如何产生的,其波长和能量有什么特点,有哪些主要的应用? 特征X-Ray产生:当入射电子激发试样原子的内层电子,使原子处于能量较高的不稳定的激发态状态,外层的电子会迅速填补到内层电子空位上,并辐射释放一种具有特征能量和波长的射线,使原子体系的能量降低、趋向较稳定状,这种射线即特征X射线。 波长的特点:不受管压、电流的影响,只决定于阳极靶材元素的原子序。 应用:物质样品微区元素定性分析 6.俄歇电子是怎样产生的?对于孤立的原子来说,能够产生俄歇效应的最轻元素是什么? 俄歇电子的产生:当入射电子激发试样原子的内层电子,使原子处于能量较高的不稳定的激发态状态,外层的电子会迅速填补到内层电子空位上,原子从激发态转变到基态释放的多余能量传给另一外层电子,使其脱离原子系统,成为二次电子,这种二次电子称为俄歇电子。能够产生俄歇效应的最轻元素是铍。 7.特征X射线的波长与阳极靶材的原子序数有什么关系?Kα谱线的强度与Kβ谱线的强度哪一个大一些?

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第一章X射线衍射分析 一、X射线的性质: 1、本质是电磁波0.01~1000A.介于紫外线和?射线之间 2、波粒二象性:E=h c/ X ; p=h/X 二、X射线的获得 1、条件:A产生并发射自由电子B在真空中迫使电子朝一定的方向加速,以获得尽可能高的速度C在高速电子流运动的方向设一障碍、使高速运动电子突然受阻而停止 2、射线的获得仪器:AX射线机B同步辐射X射线源C放射性同位素X射线源 三、X射线谱:A连续X射线谱(从阴极发岀的电子在高电压下以极大速度向阳极运动,撞到阳极上的电子数量极多,这些电子的碰撞时间和条件各不相同,而口有的电子还可能与阳极作多次碰撞而逐步转移能量,从而产生的X射线有各种不同的波长;极限波长X0=hc/ev,取决于管电压、管电流、原子序数) B特征X射线(若干个特定波长的X射线,取决于靶材料,根本原因是原子内层电子的跃迁)四、X射线与物质的相互作用: A:一部分光子由于与原子碰撞改变方向,造成散射线。B :另一部分光子可能被原子吸收,发生光电效应。C:部分光子能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子,成了热振动能量注意:产生了散射X射线、电子、荧光X射线、热能。主耍应用:(荧光X射线光谱分析,X 射线光谱分析、X光电子能谱分析、X射线衍射分析) 1、散射现象 A:相干散射(X射线散射线的波长与入射线相同,并且有一定的相位关系,它们可以相互干 涉形成衍射图样,称为相干散射)B:不相干散射(X射线光子与自由电子撞击时,光子的部分能量损失,波长变长,因此与入射光子形成不相干散射) 2、光电吸收(光电效应):当X射线的波长足够短的时候,其光子的能量大,以至于可以把原 子中处于某一能级上的电子打出来,而它本身则被吸收。它的能量传递给该电子,使之成为具有一定能量的光电子,并使原子处于高能的激发态 五、X射线的吸收及应用 1、强度衰减规律:当X射线穿过物体时,其强度按指数下降 I=I Oe _l,lX U r 是线吸收系数与吸收体的密度原子序数Z及X射线波长 I=Io ;U mI> X l, m 是质量吸收系数只与吸收体原子序数和X射线波长有关 X射线波长越短,吸收体原子越轻(Z越小),则透射线越强。曲线的突变点的波长为吸收限 2、X射线滤波片:A、原理:利用吸收限两边吸收系数相差十分悬殊的特点 B、滤波材料的原子序数一般比X射线管靶子材料的原子序数小1?2 七、劳厄方程、布拉格定律、倒空间衍射公式三个衍射公式推导时三个假设: A:入射线和衍射线都是平而波 B:原子的尺寸忽略不计,原子中各电子发出的相干散射是从原子中心发出 C:晶胞中只有一个原子,即晶胞是简单的 布拉格定律:d sinO=n入 X射线在晶面上的“反射,与可见光的镜而反射不同点? A:可见光的反射只限于物体的表面,而X射线的反射实际上是受X射线照射的所有原子的散射线干涉加强而成B:可见光的反射无论入射光线以何种角度入射都会发生,而X射线只有子啊满足布拉格公式的某些特殊角度才能发射,因此X射线是选择反射 八、X射线衍射方法 衍射方法波长e 实验条件 劳厄法变不变连续x射线照射固定的单晶体 转晶法不变部分变单色x射线照射转动的单品体

材料现代测试方法习题

材料现代测试方法习题 1.X射线照射固体物质(样品),可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子 2.多晶体(粉晶)X射线衍射分析的基本方法为(照相法)和(X射线衍射仪法)。 3.衍射产生的充分必要条件是(满足布拉格方程且不存在消光现象)。 4.单晶电子衍射花样标定的主要方法有(尝试核算法)和(标准花样对照法)。 5.扫描电子显微镜、透射电镜、X射线粉末衍射仪的英文字母缩写分别是(SEM)、(TEM)、(XRD)。 6. 电磁透镜的像差有球差、色差和像散。 7. 透射电子显微镜的结构分为光学成像系统、真空系统和电源系统。 8. 所谓扫描电镜的分辨率是指用(二次电子)信号成像时的分辨率? 三、填空题 1.下列方法中,X射线衍射线分析可用于测定方解石的点阵常数。 2.要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量,一般应选用波谱仪型电子探针仪, 3. 透射电镜的两种主要功能:表面形貌和晶体结构 四、名词解释 1. 分辨率:是指成像物体上能分辨出的两个物点的最小距离 2. 明场像:用另外的装置来移动物镜光阑,使得只有未散射的透射电子束通过他,其他衍射的电子束被光阑挡掉,由此得到的图像 3. 质厚衬度:样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别,均可引起相应区域投射电子强度的改变,从而在图像上形成亮暗不同的区域这一现象叫质厚衬度效应 4. 特征X射线:是具有特定波长的X射线,也称单色X射线。

5. 俄歇电子:原子中一个K层电子被激发出以后,L层的一个电子跃迁入K 层填补空白,剩下的能量不是以辐射 6. 二次电子:是指被入射电子轰击出来的核外电子。 7. 表面形貌衬度: 是由于试样表面形貌差别而形成的衬度 8. 热分析:是指在温度程序控制下,测量物质的物理性质(参数)随温度变化的一类技术 9. 透射电镜:以波长极短的电子束作为照明源,用电子透镜聚焦成像的一种高分辨率本领、高放大倍数的电子光学仪器

材料现代分析与测试技术-各种原理及应用

XRD : 射线产生机理: (1)连续X 射线的产生:任何高速运动的带电粒子突然减速时,都会产生电磁辐射。 ①在X 射线管中,从阴极发出的带负电荷的电子在高电压的作用下以极大的速度向阳极运动,当撞到阳极突然减速,其大部分动能变为热能都损耗掉了,而一部分动能以电磁辐射—X 射线的形式放射出来。 ②由于撞到阳极上的电子极多,碰撞的时间、次数及其他条件各不相同,导致产生的X 射线具有不同波长,即构成连续X 射线谱。 (2)特征X 射线:根本原因是原子内层电子的跃迁。 ①阴极发出的热电子在高电压作用下高速撞击阳极; ②若管电压超过某一临界值V k ,电子的动能(eV k )就大到足以将阳极物质原子中的K 层电子撞击出来,于是在K 层形成一个空位,这一过程称为激发。V k 称为K 系激发电压。 ③按照能量最低原理,电子具有尽量往低能级跑的趋势。当K 层出现空位后,L 、M 、N……外层电子就会跃入此空位,同时将它们多余的能量以X 射线光子的形式释放出来。 ④K 系:L, M, N, ...─→K ,产生K α、K β、 K r ... 标识X 射线 L 系:M, N, O,...─→L ,产生L α、L β... 标识X 射线 特征X 射线谱 M 系: N, O, ....─→M ,产生M α... 标识X 射线 特征谱Moseley 定律 2)(1 αλ-?=Z a Z:原子序数,a 、α:常数 射线与物质相互作用的三个效应 (1)光电效应 ?当 X 射线的波长足够短时,X 射线光子的能量就足够大,以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来, ?X 射线光子本身被吸收,它的能量传给该电子,使之成为具有一定能量的光电子,并使原子处于高能的激发态。 (2)荧光效应 ①外层电子填补空位将多余能量ΔE 辐射次级特征X 射线,由X 射线激发出的X 射线称为荧光X 射线。 ②衍射工作中,荧光X 射线增加衍射花样背影,是有害因素 ③荧光X 射线的波长只取决于物质中原子的种类(由Moseley 定律决定),利用荧光X 射线的波长和强度,可确定物质元素的组分及含量,这是X 射线荧光分析的基本原理。 (3)俄歇效应 俄歇效应是外层电子跃迁到空位时将多余能量ΔE 激发另一个核外电子,使之脱离原子。这样脱离的电子称为俄歇电子。 3.衍射理论 (1)衍射几何条件: Bragg 公式 + 光学反射定律 = Bragg 定律 Bragg 公式:2 d Sin θ = n λ n ——整数,称为衍射级数 d ——晶面间距,与晶体结构有关 θ ——Bragg 角 或 半衍射角 2θ衍射角(入射线与衍射线夹角)

材料现代分析与测试技术-各种原理及应用

XRD : 1.X 射线产生机理: (1)连续X 射线的产生:任何高速运动的带电粒子突然减速时,都会产生电磁辐射。 ①在X 射线管中,从阴极发出的带负电荷的电子在高电压的作用下以极大的速度向阳极运动,当撞到阳极突然减速,其大部分动能变为热能都损耗掉了,而一部分动能以电磁辐射—X 射线的形式放射出来。 ②由于撞到阳极上的电子极多,碰撞的时间、次数及其他条件各不相同,导致产生的X 射线具有不同波长,即构成连续X 射线谱。 (2)特征X 射线:根本原因是原子内层电子的跃迁。 ①阴极发出的热电子在高电压作用下高速撞击阳极; ②若管电压超过某一临界值V k ,电子的动能(eV k )就大到足以将阳极物质原子中的K 层电子撞击出来,于是在K 层形成一个空位,这一过程称为激发。V k 称为K 系激发电压。 ③按照能量最低原理,电子具有尽量往低能级跑的趋势。当K 层出现空位后,L 、M 、N……外层电子就会跃入此空位,同时将它们多余的能量以X 射线光子的形式释放出来。 ④K 系:L, M, N, ...─→K ,产生K α、K β、 K r ... 标识X 射线 L 系:M, N, O,...─→L ,产生L α、L β... 标识X 射线 特征X 射线谱 M 系: N, O, ....─→M ,产生M α... 标识X 射线 特征谱Moseley 定律 2)(1 αλ-?=Z a Z:原子序数,a 、α:常数 2.X 射线与物质相互作用的三个效应 (1)光电效应 ?当 X 射线的波长足够短时,X 射线光子的能量就足够大,以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来, ?X 射线光子本身被吸收,它的能量传给该电子,使之成为具有一定能量的光电子,并使原子处于高能的激发态。 (2)荧光效应 ①外层电子填补空位将多余能量ΔE 辐射次级特征X 射线,由X 射线激发出的X 射线称为荧光X 射线。 ②衍射工作中,荧光X 射线增加衍射花样背影,是有害因素 ③荧光X 射线的波长只取决于物质中原子的种类(由Moseley 定律决定),利用荧光X 射线的波长和强度,可确定物质元素的组分及含量,这是X 射线荧光分析的基本原理。 (3)俄歇效应 俄歇效应是外层电子跃迁到空位时将多余能量ΔE 激发另一个核外电子,使之脱离原子。这样脱离的电子称为俄歇电子。 3.衍射理论 (1)衍射几何条件: Bragg 公式 + 光学反射定律 = Bragg 定律 Bragg 公式:2 d Sin θ = n λ n ——整数,称为衍射级数 d ——晶面间距,与晶体结构有关 θ ——Bragg 角 或 半衍射角 2θ衍射角(入射线与衍射线夹角)

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