ASD光谱仪测量规范

ASD光谱仪测量规范
ASD光谱仪测量规范

附录:操作规范

8.1 野外光谱仪操作规范

1 详细操作步骤:

(1)连接探头手托、主机箱和笔记本电脑;

(2)打开光谱仪(侧面有一黑色内陷按纽,按一下,此时黑色按纽上方有一指示灯变绿,同时可听到机器内风扇的响动,说明机器已经启动。通常野外测试受测试条件的限制对仪器不用预热,如在室内测试用室内光源,应对仪器预热半小时以上。对仪器进行校正时,应预热70-90分钟。)

(3)打开笔记本电脑,打开操作软件(开机过程不可颠倒)。(FR.exe BW (浅色操作系统)—用于室外,FR.exe(彩色)—用于室内)

(4)进行数据保存设置:打开菜单栏上Spectrum Save菜单,键入所测光谱数据要保存的路径、文件夹名称(path name默认值C:\FR)、光谱文件名称(base name默认值spectrum)即可。(Starting Spectrum Number(d))是设置开始保存光谱文件的“后缀名”(默认从spectrum.000开始保存))(Number of Files to save(d) 是设置每一次保存的光谱条数默认001每一次保存一条。)(interval between saves 是设置仪器自动保存光谱之间的时间间隔。)(comment是对当前测试数据的注解说明,可在后处理中输出。)通常情况下,后四项可以不设置,但是,记录员必须记录清楚测试当时的条件。设置完全后按“ok”即可。

(5)进入操作主画面,首先测试员面向太阳方向,用一只手握住测试枪头垂直对准参考板(参考板水平放置,视场角可配置三个25、3、8,裸露时视场角为25,通常状况测试时用25)距离20-30cm,另一只手操作计算机,先优化(按Opt)即仪器对当时的太阳光照条件、增益和积分时间进行配置,再测量暗电流(按DC)。优化和消除暗电流完成后,即可开始测试(测试项目一般为Raw Dn(digital number)值,(Ref)相对反射率值,(Rad)辐射率值。Ref很少测试,通常测试项目为raw Dn,优化(Opt)结束后即可开始测试,测rad时优化(Opt)结束后还要对rad进行优化即点击Rad图标进行优化)。测试枪头在参考板上方轻微移动(视场范围不可超出参考板范围,参考板表面应比较均匀一致。)计算

机屏幕曲线比较平滑稳定时即可保存(按空格键,有两声清脆响声即表示已保存。)先测参考板2次,每次5条平均。

(6)测量遮阴参考板2次,每次5条平均。遮阴板的目的是遮挡直射光,投射的阴影要保证能覆盖视场范围,但阴影面积是视场范围的2倍左右,以减小对散射光的遮挡。

(7)(保持太阳光照条件的一致性)迅速移动测试枪头垂直对准观测目标,探头高度按照观测目标确定(针对作物冠层综合视场的光谱测量,探头高度保持在1-2作物行周期)操作同参考板,测试保存数目,每次5条平均。测量的作物目标如果没封行,应该分别测定冠层、行间和垄间。

(8)测试完目标后,重复测参考板2次。(通常一次完整测试包括先测参考板2次,再测目标10次,再测参考板2次。)

(9)记录员要同时填写记录表。记录的内容包括测定的日期、地块编号、观测目标、光谱仪的型号、文件名、观测时间、观测目标描述、天气情况(温度、云量、风速)、相片编号和GPS定点号。

(10)结束当前测量,关闭光谱仪,再关闭笔记本计算机,收起连接线等。

(11)拍摄测量目标的数字照片,照片编号与光谱测量文件名对应。

(12)数据后处理:用软件ASD ViewSpecPro进行处理。

2 测量中的注意事项:

(1)参考板要保持干净卫生,切记不要把油渍等物弄到参考板的正面。

(2)在测量中,一般在10分钟左右进行一次参考板测量校正。当光照条件变化大时,参考板测量要加密。

(3)光缆线的探头部分要保护好,不能踩到光缆线,不测量时,探头要盖上保护盖。另外,5度的视角镜也要注意保护。

(4)主机箱部分。测量时,注意挪动时要托住底座。

(5)笔记本电脑与软件。主要保护笔记本电脑,不要在开机状态拔插连接线。软件包中的文件不要随便删除或修改,记录的光谱数据文件存储路径一般不要放在FR目录下。

(6)测量一组目标时,要在同一个优化条件下(保持积分时间一致)。

(7)每组测量3人,分别负责操作主机、笔记本、探头、参考板、记录等。

(8)测量者应面向太阳垂直方向(垂直主平面方向),尽量减小测量人员对被测物的影响。同时注意,应该穿深色衣服。

(9)测量时尽量使用DN模式,不要使用reflectance模式。测量记录人员需要和测量者沟通什么时候测量参考板,什么时候测量地物光谱。

(10)遥感同步观测中(一般都是测量地物和背景混合光谱),探头采用裸露光纤测量参考板、地物和遮蔽的参考板;测量即将结束时,分别测量地物和背景的纯光谱特征曲线,此时宜采用5度视场角的探头测量,同时也要测量参考板和遮蔽的参考板(5度)。

(11)测量地物和背景混合光谱时,探头和地面的距离稍远,手臂基本和地表平行测量;测量地物和背景纯光谱时,探头和被测物可以保持更小的距离,以减小误差。

3 玉米的光谱测量规范

(1)对每个目标区有代表性地进行定点,选择具有群体特性的植株作为观测目标,光谱观测过程中,每点按植株、株间和行间分别进行观测(株间即为与所观测植株相邻植株间的中心位置;行间即为与所观测植株所在行的邻行中最近植株间的中心位置)。

(2)观测高度确定:以覆盖一个行距为原则,计算光谱仪探头离冠层的高度H,即设行距为L=70cm,探头视场角,所以探头离冠层的高度为160cm。

(3)植株光谱测定:光谱仪探头距植冠顶部中心处160cm高度,并垂直向下观测,重复测定10次,取其平均值作为植株光谱。

a) 行间光谱测定:以两行相对应的玉米植株冠层顶部的中心为端点,光谱仪探头距两端点的中点160cm高度,并垂直向下观测,重复测定10次,取其平均值作为行间光谱。

b) 株间光谱测定:以同一行两个相邻的玉米植株冠层顶部的中心为端点,光谱仪探头距两端点的中点160cm高度,并垂直向下观测,重复测定10次,取其平均值作为株间光谱。野外光谱仪操作规范

8.2 SunScan操作规范

1 用途

通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如LAI;SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。2原理

根据冠层吸收的Beer法则(Beer’s law for canopy absorption)、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程(Campbell’s Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

3系统组成

·SunScan探测器:一支1米长,内嵌64个光合有效辐射传感器的探测器。

·反射系数传感器(BFS):综合了2个PAR传感器,并能很容易地计算出作物冠层的PAR及直射光与漫射光(the beam fraction)的比例关系·数据采集终端:一种从采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑,内含2M 内存

·SunData软件:用来对测量参数进行分析处理

·三角架:用来安放BFS

4可选件

BF2传感器:替换BFS后,可使测量操作更方便

5 基本技术指标

·探测器工作区域:1000x13mm宽,传感器间距15.6mm

·探测器光谱响应:400-700nm (PAR)

·探测器测量时间:120ms

·探测器分辨率:0.3μmol. m-2.s-1

·探测器最大读数:2500μmol.m-2.s-1

·操作温度:0 - 60℃

·BFS电缆长度:标准为7米,可扩展到100米

·内存:2M内存,包含程序;1600K RAM 可用于储存数据

6 注意事项

(1)需要实验人员提供参数,叶倾角和透过率。

大多数叶片吸收率值在0.8~0.9之间,通常以0.85作为默认值。

大部分作物的ELADP在0.5-2.0之间。如果冠层叶片在水平或垂直方向上表现出明显的优势,那么选一具代表性的小的冠层区域。对在垂直方向上超过45度角(即接近水平)和低于45度角的叶片进行计数,如叶片为弯曲的,则取大部分叶片所代表的角度。ELADP可通过水平叶片的数量(Nh)除以垂直叶片的数量(Nv)再乘以π/2而估算出来出:ELADP =πNh / 2Nv

(2)在读数时,最好不要让自己的阴影对探头产生影响,最好的方法是在每次读数时尽量简单和快捷,而不必去追求完美

(3)SunScan使用限制因素

8.3 LAI-2000的操作规范

1.物品准备

提前准备好LAI-2000、记录表格、GPS、相机、文具夹、记号笔、铅笔等用品。

2.测量样前工作

根据植被的高度和覆盖度确定测测量的区域,一般选择能够代表平均高度和覆盖度的样区,范围在10m×10m左右。用相机拍摄样方相片。

连接LAI-2000,开机,完成设置工作,如果已经设置好,可以直接进入下一步骤。一般要求一次↑测量天空光,四次↓↓↓↓测量植被,一次重复。

设置文件名,可以开始测量。

3.现场测量

首先看是不是太阳被云遮挡,或者太阳光照是不是变化剧烈,一般来说在太阳天顶角较大时测量为宜。

测量方案确定:如果测一片规则且均匀分布的植被(呈行列的植被)时,沿着对角线布设测量点。如下图所示。如果是非均一分布的植被就选择浓密和稀疏各测几组求平均。如果是很稀疏的植被是就只能测量单个植株的叶面积了。

图8.1 LAI测量注意示意图

选择视角盖:在光强的时候选择比较小的视角盖。要保证测天空光的时候探头视角里能看到的全是天空,没有其他地物。在测量目标的时候要让探头的看到的是目标。在测天空光和测植被下面的光强的时候要保持视角盖一致,而且朝向一致。也要用视角盖把人挡住,以消除人的影响。

测量A资料(测天空光):人要背对着太阳,将探头杆放到人的前方,选择

合适的视角盖挡住所有地物和人。将探头杆的水准器居中(在山坡上探头要和山坡平行,不用管水准器)。然后需要按ENTER 键或者传感器上的按钮这时我们可以听到2 声蜂鸣第一声是按键声音第二声是读数完成的声音在两次蜂鸣声之间必须保持传感器水平不动按传感器上的按钮时应该按一下就放开如果一直不放松蜂鸣声将一直响直到读数完成。

测量B资料:将探头水平放到测量植物所有叶子的下面, 测量所有的B 资料时要在同一个高度上进行。测量A B 资料的时候要保证视角盖一致、视角盖的方向也要一致如果有倾角也要保持倾角一致这些也是在其它时候要注意的。然后按ENTER 键或者传感器上的按钮来记录B资料。探头与最近叶片的距离应至少为叶片宽度的4倍。

利用GPS测量坐标位置,填写记录表格相关信息,包括样地名称和编码、测量时间、测量地点、样地坐标及GPS号、测量人、相片号、主要植被类型特征等信息。

安排3名以上测量人员分别测量。分别记录文件名称和测量人。

4.数据整理

扫描原始记录表格为PDF文件,将记录内容录入到电子表格中,导出LAI-2000的文件到计算机,同一个点不同测量人测量的结果存储到一个文件中,同时导出相片和GPS点,将以上结果存储到指定的文件夹中。当天测量的结果必须当天完成数据整理,数据整理人最好是数据测量人或者记录人。

5.注意事项

避免太阳直射到探测头。

用视角该挡住人,以避免人对传感器的影响。

测A、B资料的时候传感器的方向要一致。

缩短A B 读数的时间间隔尤其是在低空快速移动的云下测量时。

不能让孤立的一片树叶或者一团树叶挡住了传感器的整个视野。

在斜坡上测量时要使传感器的倾斜到和实际地面平行而不是保持传感器水平。

对于呈行列的植被,一般可能都是庄稼或果园之类,测量时最好的方法是测

B 资料时把传感器的探测镜头放在两排植物的对角线的横断面上。

8.4 叶面积指数(LAI)直接测量法测量规范

1.方法简介:LAI直接测量方法,即测量单位地表面积的叶面积总数,再根据LAI的定义计算出地块的LAI。

2.物品准备:密封袋、标签、16根细钢钎、5根绳子、20米以上长度卷尺、剪刀、手套、GPS、相机、文具夹、记录表格、记号笔、铅笔等用品。

3.采样前工作

根据样品量的多少选择不同规格的密封袋,填写标签并贴到密封袋上。根据植被的高度和覆盖度确定采样点的多少,利用四根细钢钎、细绳、卷尺制作样方框。

4.样方布置及实验方案:

在每个地块随机布点,要求布2个点进行地面数据的测量。每个点的范围为6平方米(2*3米):

5.查出每个点内的实有株数,两个点的株数进行平均,计算出样点6平方米范围内的作物株数。

6.在每个样点范围内,选择10棵玉米,一块地测量20棵玉米。按叶片从下到上的顺序,测量每片叶子的长和宽(叶子的最宽值)。

7.在每个地块内随机选择玉米3颗(要求选择玉米株有代表性,分别选择长势好的,一般长势的,长势差的各1棵),对每颗玉米的每片叶子,测量长宽值,用LAI3000叶面积仪或照相法或激光叶面积仪测量每颗玉米的每个叶片的叶面积,根据叶片的长宽值与面积,计算由长宽计算面积的似合系数。将所有叶片的似和系数进行平均,得到总的似合系数,根据总的拟合系数,计算地块所测量的20株玉米的叶面积,平均得到每株玉米的叶面积( )。

8.根据定义计算每个地块的叶面积指数。

8.5 土壤含水量环刀法测量规范

1. 通常采用50cm3~200cm3规格环刀取土样;取土样之前,每个空铝盒需

称重并记录(W)。注意铝盒体积需大于环刀20%以上。

2. 取土样时环刀垂直于地面入土,尽量保证环刀上表面与土壤表面相平,环刀下面多余部分用刀刮平,不可压入环刀内。土质较硬的采样点取样时用力尽量均匀,避免使用铁质锤敲击取样盒;土质较软的采样点取样时不要用力过大,避免对土样有压缩。基本原则是尽量保证原状土。

4. 环刀取得的土样移入铝盒,放置时需将铝盒置于较大的塑料器皿中,以防土样撒出,撒出部分最后需全部倒入铝盒中。记录铝盒编号(最好记录铝盒盒身编号,且注意看铝盒盒身编号区分6和9,检查铝盒和盒盖号码一致,记录时有的铝盒号码是临时用记号笔写上的,记录时在编号前加字母L),装好土样后用白色电工胶带封好。

4. 回到室内,去掉铝盒上电工胶带,立即用电子天平(精度至少为0.1g)称量铝盒和湿土重量,并记录(W湿)。

5. 揭开铝盒盖,放入烘箱中,在105℃下烘干约12h~24h至恒重(前后两次称重的误差不大于0.05g)。从烘箱中取出铝盒,盖好盒盖,晾微凉后即用电子天平称铝盒和干土重量,并记录(W干)。注意:烘干和称重时铝盒盒身和盒盖均包括。测定含水量很高的粘质土壤时对土壤可以多烘烤3h~4h.测定有机质或根系含量较高的土样时,烘箱温度可适当调低至85℃~90℃。

6. 记录并计算含水量重量含水量%=(W湿-W干)/( W干-W)×100% 体积含水量%=重量含水量%×土壤容重(g/cm3)式中:W湿—湿土+铝盒重(g)W 干—干土+铝盒重(g)W —铝盒重(g)

7. 倒出干土,洗净铝盒和环刀,阴干。

8.6 土壤养分含量的测定-土壤养分速测仪测量规范

1.试验原理

土壤养分速测采用比色法,其原理是基于朗伯-比尔定律,即它表示一束单色光通过溶液时,溶液的吸光度与溶液的浓度和液层厚度的乘积成正比。要提高速测结果的准确度,必须注意采样、浸提、测定方法、诊断指标的准确性。2.试验目的

(1)掌握比色法测定土壤养分含量。

(2)掌握土壤养分测量仪的使用方法。

3.试验仪器

RL-2D土壤养分测定仪、铁铲、纸袋、筛子、待测液、土样瓶、针管、蒸馏水、比色皿。

4.操作步骤

土样的采集是决定分析结果是否正确反映土壤特性的重要环节,因此必须选择有代表性的地段采集样品。

取样深度: 大田及经济作物,一般采样深度为0-20 cm。

取样数量:1-5亩面积较小、平坦、长势齐整的地块,可采5个点;10亩以上面积较大的可采10-20个点。地块是正方形,则按对角线采。若长方形,则按蛇形布点。

采样规范:每个采集点上,除去浮土,用铁铲垂直插入挖取约1千克土壤并合装在干净的小布袋中,然后倒在塑料布/塑料盆中充分混匀,再挑去树枝、砾石、枯枝落叶杂草等。用四分法反复淘汰直至剩余0.5千克的混合土样为止。将混合土样装入纸袋带回室内,粉碎,自然风干后,用1mm的筛子过筛后测定。

土样注意:每个土样应有标签,写明采集人、地点、日期、深度,前茬及现种作物。

(1)待测液的制备(测N/K用同一个待测液)

取0-20cm的土样,粉碎避光风干并过筛;

取一平勺土样倒入土样瓶;

用针管加水20ml;

用粉剂瓶盖,加入1号粉约0.5g;

加盖剧烈震动1分钟;

静放2分钟;

摇匀过滤;

待测液制好。

(2)铵态氮测试液的制备和测定(N的标定值是20mg/kg)

1号比色皿中加蒸馏水至刻度线;2号加2滴N标准液,加蒸馏水摇匀;3、4号加不同土样待测夜至刻度线;

按照1、2、3、4顺序向四个比色皿中各加N 一、两滴摇匀,再各加N两滴摇匀,静放20分钟,上机测试;

选择红光光源,比色皿透光面对准光源,垂直放入比色皿槽中,盖盖,测定;

(3)速效钾测试液的制备和测定(K的标定值是20mg/kg)

1号比色皿中加蒸馏水至刻度线;2号加2滴K标准液,加蒸馏水摇匀;3、4号加不同土样待测夜至刻度线;

按照1、2、3、4顺序向四个比色皿中各加K 一、两滴摇匀,再各加K两滴摇匀,静放20分钟,上机测试;

选择蓝光光源,比色皿透光面对准光源,垂直放入比色皿槽中,盖盖,测定;

(4)速效磷测试液的制备和测定(P的标定值是40mg/kg)

1号比色皿中加蒸馏水至刻度线;2号加2滴P标准液,加蒸馏水摇匀;3、4号加不同土样待测夜至刻度线;

按照1、2、3、4顺序向四个比色皿中各加P 一、两滴摇匀,再各加P两滴摇匀,静放20分钟,上机测试;

选择红光光源,比色皿透光面对准光源,垂直放入比色皿槽中,盖盖,测定;(5)有机质测试液的制备和测定(有机质的标定值是2%)

1号比色皿中加蒸馏水至刻度线;2号加2滴有机质标准液,加蒸馏水摇匀;

3、4号加不同土样待测夜至刻度线;

按照1、2、3、4顺序向四个比色皿中各加有机质一、两滴摇匀,再各加有机质两滴摇匀,静放20分钟,上机测试;

选择蓝光光源,比色皿透光面对准光源,垂直放入比色皿槽中,盖盖,测定;(6)仪器操作说明

1)初始化后,显示

①多功能:显示0、L、J、C、pH、S、EEP、CAL

②单功能:显示0、L、J、C、EEP、CAL

通过“左右选择键”翻屏,按“测试键”选择当前显示内容测试

0代表测试N;L代表测试P;J:代表测试K;C: 代表测试有机质

pH代表测试酸碱度;S代表测试盐量;EEP代表清零,重新检测;CAL 代表检测

2)测试界面

①选择测试内容

通过左右键选择N、P、K或者有机质,按测试键确定即可。此时,LCD显示H、L。

②选择测试光源

通过左右键选择,按测试键确定。H:代表红光;L:代表蓝光。

N、P用红光;K、有机质用蓝光。选择光源后,显示0000,进入等待界面。

③测试

放入1号杯“0”标准液,盖盖,按测试键测试。

取出1号杯,放入2号杯标定液,盖盖,按测试键测试。

依次放入待测夜,盖盖,每放入一次,按一次测试键确定;如果待测夜数量小于12,测试结束时,按返回键返回。

④打印(备用)

1代表继续测试;2代表打印。

通过左右键选择2,按打印格式打印。所有测试项目完成,按打印键,则按照如下打印格式打印:

1号土样:2号土样

氮xx mg/kg 氮xx mg/kg

磷xx mg/kg 磷xx mg/kg

钾xx mg/kg 钾xx mg/kg

有机质xx % 有机质xx %

(7)试剂配制说明

所用试剂从仪器公司购买。

5 注意事项

(1)土样的采集是决定分析结果是否正确反映土壤特性的重要环节,因此必须选择有代表性的地段采集样品。

(2)比色时,每测完一次调零一次。

8.7 TDR操作规范

1、试验原理

时域反射原理,通过测量土壤中的水和其它电介质介电常数之间的差异,采用时域反射测试技术测量土壤含水量的方法。

2.试验目的

熟练掌握TDR300土壤水分仪的维护及使用方法,并能快速,精确地测量土壤含水量。

3.测试指标

TDR300水分仪是目前使用较多的用于土壤水分测定的仪器,可以在保持士壤原状的情况下,测量土壤体积含水量。

4.试验仪器

TDR300水分仪、仪器探针

5.试验步骤:

(1)、首先将铁架展开,并用螺母加以固定,在传感盒的底部装上探针。

(2)、按键开机,自检时会显示当前电池的剩余电量和读数表中存储容量情况(100%为满)和GPS情况。

(3)、键可以切换VWC体积含水量和RWC相对含水量二种类型,一般情况下选择VWC体积含水量,RWC相对含水量提供了5种类型设定。如:沙地、肥土等。(这些可以在软件中自行设置)按一下为将上一个读数从平均数中剔除,持续按下将会清除所有的平均数。按即可读数,屏幕显示的VWC=XX%

为当前土壤体积含水量,PL=XXCM为当前探针的长度,A=XX为前几次测试的平均值。N=XX为测试的次数。

(4)、软件安装好后,打开软件。软件中有四个按钮。设置通讯端口,下载存储在读数表中的数据,清除读数表中存储的数据,设置读数表的参数。〈1〉设置表的名称,最大可以输入32个字符,〈2〉开启读数表的自动存储功能,如果不开启的话,关机数据就会丢失,同时会让软件无法下载数据,这项为必选项。〈3〉开启GPS修正,默认开启。〈4〉时间修正,默认为5即美国的时间,中国为16,修改即可。〈5〉选择正确的探针长度,〈6〉长度单位,〈7〉RWC相对含水量5种类型的设置。设置好后点保存。

(5)、数据线连接口在读数表下方的旋钮盖中,扭开将数据连接线插入。

(6)、读数表电源是4个AAA(7号)电池,一般可用12个月。仪器探针有4.8,12和20cm三种可选,直径为0.5cm,间距是4.3cm。仪器采用时域反射原理,测量的主要单位是体积含水量,范围0到饱和(一般50%左右);分辨率:1%, 精度:±3% (EC< 2ds/cm和粘土含量<30%)。

6.注意事项

(1). 一次最大可以存储99个读数,超过的话,必须关机再开机。

(2). 软件安装好后,打开软件。开启读数表的自动存储功能,如果不开启的话,关机数据就会丢失,同时会让软件无法下载数据,

(3). 在用软件下载数据和设置读数表时,一定要将读数表关闭,否则会出现连接错误的提示。

(4). 因为仪器测量的是探针周围3cm椭圆柱状体积土壤的含水量,当测量不同深度的土壤含水量,需要选择不同长度的探针,探针选定后,探针必须被整个的,不能摇晃的插入土壤,以保证测量精度,如有部分露在外面或针与土壤之间产生气沟,都会使读数偏低,同时注意别损坏探针。

地表粗糙度观测规范

一个地点分别测量相互垂直的两个方向(南北向和东西向)

测量前必须先保证粗糙度板上端水平(水准气泡在中间),且粗糙度板与地面垂直

拍照前,在粗糙度板的右上方用标签纸写明具有代表意义的名称,例如

“X-1/2-N”,其中X代表同步地点;1/2代表样地1或样地2;N代表编号(1~25)。南北向测量时贴在粗糙度板右上角,东西向测量贴在粗糙度板右下角。

拍照时,尽量保证相机与粗糙度板平行且平视,减少几何误差。

室内处理时,首先纠正照片的几何变形,然后数字化粗糙度板上红点所示高度(选取粗糙度板上边为0高度),并将数字化结果以ASCII形式存入txt文件,用程序计算得到地表高度标准离差(cm)和地表相关长度(cm)。

8.8 植被含水量烘干称重法测量规范

1、仪器设备:

称量瓶或铝盒、烘箱、天平

2.测量步骤

(1)称量瓶或铝盒标定重量:

将洗净的称量瓶或铝盒编号,瓶盖或盒盖斜立在称量瓶或盒口上,于105℃烘箱内烘2小时左右,然后用坩埚钳盖上盖子,取出放入干燥器中冷却至室温后于分析天平上称重,再将称量瓶或铝盒放入烘箱内105℃下烘烤1小时,于干燥器内冷却称重。如此重复烘烤、称重,直至恒重。记下每个称量瓶或铝盒的重量,并以W1代表。

(2)植物材料的称重:

从植株上取下待测的植物材料,立即剪碎放入称量瓶或铝盒内,盖上盖子,于分析天平上称重,读数精确到1mg,此重量剪去称量瓶或铝盒重量,即为植物材料的自然鲜重,用Wf代表;然后将称量瓶或铝盒放入105℃烘箱中,将盖子打开,斜立在口上,烘4小时以上关掉电源,待瓶或盒温降至60—70℃时盖上盖子,并移入干燥器中冷却,于分析天平上称重。同样,重复上述操作,烘烤、冷却、称重,直至恒重。恒重后的重量减去称量瓶或铝盒重量,即为植物材料的干重,用Wd代表。

(3)结果计算:

将上述结果分别代入下列公式算出鲜重含水量、干重含水量。

鲜重含水量(%)=Wf Wd Wf -×100

干重含水量(%)=Wd Wd

Wf -×100

(4)注意事项

从植株上取样,要注意样品的均匀一致性,以便于多指标的同时测定,取样后测定前,亦要注意材料的保存条件,一般应将材料放入铺有湿滤纸的培养皿或瓷盘中加盖短时间保存,目的在于防止散失水分而影响测定结果。

8.9 植被养分含量测定——养分测量仪测量规范

1.试验原理

土壤养分速测采用比色法,其原理是基于朗伯-比尔定律,即它表示一束单色光通过溶液时,溶液的吸光度与溶液的浓度和液层厚度的乘积成正比。要提高速测结果的准确度,必须注意采样、浸提、测定方法、诊断指标的准确性。

2. 试验目的

测量叶片中的速效氮、磷、钾。

3. 试验仪器

RL-2D 土壤养分测定仪、纸袋、筛子、待测液、土样瓶、针管、蒸馏水、比色皿。

4. 操作步骤

(1)选取典型植被叶片,材料洗涤后,风干洗涤水,置于100~105℃下杀青10 ~30 min ,再放在70~80℃下烘干3 h ,混合粉碎后过1 mm 筛,装入密封袋备用。

(2) 同测量土壤中氮、磷、钾的方法相同。

5. 注意事项

(1)选取健康,具有代表性的植被叶片。(2)测量过程中的注意事项同土壤养分测量。

荧光光谱分析仪工作原理

X 荧光光谱分析仪工作原理 用x 射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长得荧光x 射线,需要把混合得x 射线 按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能虽:)得X 射线得强度,以进行左性与定疑 分析,为此使用得仪器叫X 射线荧光光谱仪。由于X 光具有一泄波长,同时又有一立能量, 因此,X 射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型与能量色散型。下图就是这两类仪器 得原理图. 用X 射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长得荧光X 射线,需要把混合得X 射 线按波长(或能疑)分开,分别测量不同波长(或能量)得X 射线得强度,以进行定性与左疑 分析,为此使用得仪器叫X 射线荧光光谱仪。由于X 光具有一左波长,同时又有一左能量, 因此,X 射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型与能量色散型。下图就是这两类仪器 得原理图。 (a )波长色散谱仪 (b )能虽色散谱仪 波长色散型和能量色散型谱仪原理图 现将两种类型X 射线光谱仪得主要部件及工作原理叙述如下: X 射线管 酥高分析器 分光晶体 计算机 再陋电源

丝电源 灯丝 电了悚 X则线 BeiV 輪窗型X射线管结构示意图 两种类型得X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源?上图就是X射线管得结构示意图。灯丝与靶极密封在抽成貞?空得金属罩内,灯丝与靶极之间加高压(一般为4OKV), 灯丝发射得电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。X射线管产生得一次X射线, 作为激发X射线荧光得辐射源.只有当一次X射线得波长稍短于受激元素吸收限Imi n时,才能有效得激发出X射线荧光?笥?SPAN Ian g =EN-U S >lmin得一次X射线其能量不足以使受激元素激发。 X射线管得靶材与管工作电压决立了能有效激发受激元素得那部分一次X射线得强度。管 工作电压升高,短波长一次X射线比例增加,故产生得荧光X射线得强度也增强。但并不就是说管工作电压越髙越好,因为入射X射线得荧光激发效率与苴波长有关,越靠近被测元素吸收限波长,激发效率越髙。A X射线管产生得X射线透过彼窗入射到样品上, 激发岀样品元素得特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率得0、2%左右转变为X 射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断得通冷却水冷却靶电极。 2、分光系统 第?准讥器 平面晶体反射X线示意图 分光系统得主要部件就是晶体分光器,它得作用就是通过晶体衍射现彖把不同波长得X射线分开.根据布拉格衍射左律2d S in 0 =n X ,当波长为X得X射线以0角射到晶体,如果晶面间距为d,则在出射角为0得方向,可以观测到波长为X =2dsi n 0得一级衍射及波长为X/2, X /3 ------ ―等髙级衍射。改变()角,可以观测到另外波长得X

HORIBAFL-3000FM4荧光光谱仪操作说明解读

设备名称荧光光谱仪 设备型号HORIBA FL-3000/FM4-3000 设备操作规范: 一、开机前准备: 1、实验室温度应保持在15℃~30℃之间,空气湿度应低于75%。 2、确认样品室内无样品后,关上样品室盖。 二、开机 3、打开设备电源开关(氙灯自动点亮,预热20min; 4、打开计算机,双击桌面上的荧光光谱软件,进入工作站,等待光谱仪自检。 三、装样: 5、将样品处理为粉末状,装入样品槽,为防止样品脱落,可加盖载玻片;将样品槽装入样品室,盖好样品室盖子。 四、测试发射光谱: 6、点击菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Emission”。 7、设置单色器(M:设置激发光波长(如460nm、发射波长扫描范围(如470nm-700nm和狭缝宽度(一般可设置1-5nm,荧光强度强,狭缝宽度要调小。 8、设置检测器(Detector:Formulars选择公式S1。 9、点击右下角“RUN”开始测量; 五、测试激发光谱:

10、点击菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Excitation”。 11、设置单色器(M:设置监测波长(如625nm、发射波长扫描范围(如380nm-500nm和狭缝宽度(一般可设置1-5nm,荧光强度强,狭缝宽度要调小。 12、设置检测器(Detector:Formulars选择公式S1/R1。 13、点击右下角“RUN”开始测量。 六、测试量子产率: 14、线缆连接积分球:将积分球有指示箭头的一端连接激发口,另一端连接发射。 15、装样:将样品处理为粉末状,装入标准白板样品槽,并加盖石英片;将样品槽装入积分球样品台,先推上层样品台,卡好后,推入下层样品台。 16、点击软件菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Emission”。 17、设置单色器(M:设置激发光波长(如460nm、扫描范围(如380nm-700nm和狭缝宽度(一般设置1nm。 18、设置检测器(Detector:选中暗电流选项和Correction S1选项,Formulars选择公式S1c,积分时间设置为1s(时间设置越大,扫描越慢。 19、点击右下角“RUN”开始扫描。 20、测试空白样品。测试方法如16-19,样品台内放置标准白板。 21、计算量子产率:点击“QY”按钮,在出现的对话框中设置如下参数:○1找校正谱(在D盘下“校正谱图”,选择固体校正谱;○2导入将要计算的样品谱图;○3导入空白样品谱图;○4输入需计算的激发与发射光谱起始与终止波长。 22、点击确定开始计算。

光谱仪使用步骤

一 机器启动 光谱仪启动时注意事项: (1)光谱仪两次开机之间至少应相隔20min ,以防频繁启动烧毁内部元器件 (2)光谱仪背面有5个开关,开机时按照编号1~5依次按下,两开关按下之间应相隔20s 左右。关机时,按照编号5~1依次按下。 图 光谱仪开关 (3)打开氩气阀,使气压保持在0.2~0.4MPa 之间 (4)维持瓶内气压在2~3MPa 以上,若气压低于该值,则应更换新的氩气 二 登陆 1、开机 开机用户名:arlservice 密码:369852147 2、进入OXSAS 系统 账号:(1)!SERVICE! 密码:ENGINEER (2)!MANAGER ! 密码:无 (3)!USER ! 密码:无 通常使用“MANAGER ”权限即可 3、检查仪器状态 快捷键F7进入仪器状态检查界面: Electronic HUPS Mains Vacuum Water 权限:由高到低

VACUUM:真空度 SPTEMP:真空室温度 MAINS:电源电压 NEG-LKV:-1000V电源 POS.5V:+5V电源 POS.12V:+12V电源 NEG.12V:-12V电源 POS.24V:+24V电源 NEG.100V:-100V电压 三数据备份及数据恢复 数据备份及恢复分为软件内部操作、软件外部操作。 1、数据备份 (1)软件内部备份:操作页面中选择“脱机模式”,待页面变灰后点击“备份数据”按钮,输入相应的文件名(例如:20101019OXSAS_DB.BAK)以防止将先前数据覆盖,然后点击备份即可。 (2)软件外部备份:退出OXSAS操作系统,进入其相应的数据备份及恢复程序“OXSAS Full Backup Restore”,然后选择“备份数据库”按钮下的“备份”选项即可(系统自动选择路径并生成相应文件名)。 2、数据恢复 (1)软件内部恢复:操作页面中选择“脱机模式”,待页面变灰后点击“恢复数据库”按钮,选择之前备份的数据库,恢复即可。 (2)软件外部恢复:退出OXSAS操作系统,进入其相应的数据备份及恢复程序 “OXSAS Full Backup Restore”,然后点击“恢复数据库”按钮,选择相应数据库,点击“RESTORE”即可。

稳态瞬态荧光光谱仪(FLS 920)操作说明书

稳态/瞬态荧光光谱仪(FLS 920)操作说明书 中级仪器实验室 一、仪器介绍 1.FLS 920稳态/瞬态荧光光谱仪具有两种功能 稳态测量:激发光谱(荧/磷光强度~激发波长)、发射光谱(荧/磷光强度~发射波长)、同步扫描谱(固定波长差、固定能量差、可变角)。 瞬态测量:荧光(磷光)寿命(100ps—10s)。 适合各类液体和固体样品的测试。 2.主要应用 高分子和天然高分子自然荧光的研究 溶液中大分子分子运动的研究 固体高分子取向的研究 高聚物光降解和光稳定的研究 光敏化过程的研究 3.主要性能指标 光谱仪探测范围:(光电倍增管, 190-870nm;Ge探测器,800-1700nm) 荧光寿命测量范围:100ps-10s 信噪比:6000:1(水峰Raman) 可以配用制冷系统,为样品提供变温环境 液氮系统(77K-320K) 使用Glan棱镜,控制激发光路、发射光路的偏振状态 使用450W氙灯和纳秒、微秒脉冲闪光灯做激发光源 F900系统软件:控制硬件,包括变温系统,数据采集、分析

4. 仪器主要部分结构图

5.仪器光路图 二、仪器测试原理(SPC) 时间相关单光子计数原理是FLS920测量荧光寿命的工作基础。 时间相关单光子计数法(time-correlated single photon counting)简称“单光子计数(SPC)法”,其基本原理是,脉冲光源激发样品后,样品发出荧光光子信号,每次脉冲后只记录某特定波长单个光子出现的时间t,经过多次计数,测得荧光光子出现的几率分布P(t),此P(t)曲线就相当于激发停止后荧光强度随时间衰减的I(t)曲线。这好比一束光(许多光子)通过一个小孔形成的衍射图与单个光子一个一个地通过小孔长时间的累计可得完全相同的衍射图的原理是一样的。

Bruker Q4 TASMAN全谱直读光谱仪使用手册

德国BRUKER公司 Q4TASMAN直读光谱仪用户使用手册

仪器正面视图 仪器日常分析的所有操作均可通过仪器正面的操作按钮实现,由于仪器的简洁以及人性化设计,使得Q8的操作变得异常简单 火花台 火花台是用于样品检测过程中放置样快的地方,Q8的火花台包括: ●气动样品夹,针对不同形状样品,上方固定针可垂直放置或倾斜放置; ●火花台板及火花开口以及下电极。 操作按钮 在Q4仪器正面面板上有三个操作按钮: ?O形图案按钮用于停止某次测量过程,该按钮只在样快前处理不当或在火花台上位置放 置不当的情况下使用,按下该按钮后,屏幕上将不出现分析数据。 ?I形图案按钮用于开始某次测量,该功能也可通过键盘上的F2功能键实现 ?下边旋钮为维护旋钮,当对仪器进行维护时,须将旋钮旋至关闭状态(向左),在该状 态下,仪器将切断高压及火花激发源,只有在所有部件都归位的情况下,才可将维护旋钮打开。 火花台盒

火花台盒位于火花台的下方,通过把手可将火花台盒拉开。这时,可相应的把电极和火花台板松开。若要将其重新关上,只需用力往上推,直到听见清脆的锁紧声为止。 注意:在打开火花台盒之前,请将仪器背面的维修旋钮旋至关闭状态。 仪器背面视图 仪器背面面板包括了主电源开关,维修旋钮,氩气输入输出端等,虽然在日常工作中较少接触仪器背面面板,但为维修方便,请将仪器背面通道让出。 旋钮 在仪器背面面板上,有两个旋钮,分别是电源开关和维修旋钮。在进行仪器维护工作时,请将维修旋钮置于关闭状态,这样将断开高电压及火花激发源。只有在所有部件都归位的情况下,才可将维护旋钮打开。 只有在主电源开关和维护旋钮都开启的状态下,才可进行样快的分析工作。 电源插座 仪器背面的电源插座为计算机、显示器、打印机及其它设备提供电源输出,所借设备的功率不得高于300W。该电源接口不可用于真空净化器、打磨机、车床等高功率设备。 注意:即使仪器开关关闭,接口仍带有230V的电压。 仪器准备 检查氩气输出及压力 对于仪器的日常使用必须确保具有充足的氩气供应,氩气的输出压力应设定为3 bar 假如氩气通过氩气瓶供应的话,钢瓶压力应高于10bar,假如低于这个数值,请及时更换氩气瓶 废气瓶 废气瓶应装3/4左右的水

地物光谱仪在野外光谱测量中的使用解析

地物光谱仪在野外光谱测量中的使用(一) 论文关键词地物光谱仪;野外测量;工作规范 论文摘要在遥感技术中,为了更精确地判读多光谱图像,掌握地面上各种地物的光谱辐射特性是十分重要的。介绍FieldSpec?悖HandHeld手持便携式 光谱分析仪的测量原理方法、工作规范及注意事项,概要地说明了影响光谱测量的因素。 在遥感领域中,为了研究各种不同地物或环境在野外自然条件下的可见和近红外波段反射光谱,需要适用于野外测量的光谱仪器。对野外地物光谱进行测量,我们使用的是美国 ASD公司FieldSpec?悖HandHeld手持便携式光谱分析仪。其主要技术指标为:波长范围为 300~1100nm光谱采样间隔为1.6nm, 灵敏度线性:土1% FieldSpec?悖HandHeld手持便携式光谱分析仪可用于户外目标可见一近红外波段的光谱辐射测量。该光谱仪在户外主要利用太阳辐射作为照明光源,利用响应度定标数据,可测量并获得地物目标的光谱辐亮度;利用漫反射参考板对比测量,可获得目标的反射率光谱信息;通过对经过标定的漫反射参考板的测量,可获得地面的总照度以及直射、漫射照度光谱信息;利用特定的辅助测量机械装置,可获得地面目标的BRDF(方向反射因子)光谱信 息参数。 为了使地物光谱数据可靠和高的质量,使数据便于对比和应用,有必要提出地物光谱测试规范和测量要求。 1仪器的标准和标定 1.1光谱分辨率 实用分辨宽度对0.04~1.10卩m小于5nm 1.1~2.5卩m小于15nm。对于FieldSpec?悖HandHeld手持便携式光谱分析仪,起始波长为325nm终止波长 为1075nm波长步长为1nm则光谱分辨率取3nm 1.2线性标定 线性动态范围有3个量级,最大信号对应为0.8~1.0,太阳常数照明的白板(V 90%)峰值响应输出。线性误差小于 3%(回归误差)。 1.3光谱响应度的标定 反射率小于、等于15%(大于1%)的目标,信噪比应大于10。反射率大于15%的目标,信噪比应大于20。 2野外测定方法与工作规范 2.1目标选取 选取测量目标要具有代表性,应能真实反映被测目标的平均自然性。对于植被冠层及用物的测量应考虑目标和背景的综合效应。 2.2能见度的要求

荧光光谱仪操作规范

XXX有限公司 荧光光谱仪操作规范文件编号 :WI-ZL-389 版本/版次: A/2 页次:1/1 1.目的 为保证使用者正确的操作,以达成仪器之正确使用维护。提高仪器的使用寿命,特制定此规范。 参考资料:《Ux220 WorkStation V6.0使用说明书》 2.使用环境: 温度:15℃-25℃ 湿度:30-80%RH 3.仪器说明: 荧光光谱仪由测试仪主机,电脑及测试软件,测试结果输出的打印机组成。 4. 荧光光谱仪的操作方法: 4.1打开仪器电源:测试主机电源、电脑电源; 4.2开启操作程序Ux220 v6.4; 4.3开机预热:打开“设置X光管”窗口,勾选“打开高压电源”及“慢速升管压管流”,确定即可; 4.4用银校正片进行校正,校正不成功重新校正; 4.5输入样品信息、选择合适基材; 4.6将样品放入样品室,确认样品信息、测量次数无误后点击开始测量; 4.7测量完成输出报告并把报告存档。 5.注意事项: 5.1本仪器只允许经过专业培训并有上岗证的人员操作。 5.2本仪器只能检测均匀且颜色单一的物质,如导线,必须把铜丝与绝缘外皮分别进行检测;必须确保样 品厚度在2-3mm以上,若厚度不足可堆叠数个样品至适当厚度;若粒状样品其粒径大于5mm可直接进行测量,若粒径小于5mm则将样品放置样品杯中,尽量不要留下空隙且样品厚度要有2-3mm。 5.3银片校正时银片金属面朝下。 5.4关机时先降管流管压,再关程序,最后关电源; 5.5“Running”指示灯亮时,禁止打开仪器样品室的盖,以免X射线辐射对人体造成危害。 5.6测试大件样品样品室盖无法关闭时,仪器附件人员必须远离仪器三米以外,待延时灯闪烁10秒后 仪器开始测试,待延时灯(也叫做测量指示灯)熄灭后,人员方可靠近。

AQ6370D光谱仪使用说明

AQ6370D光谱仪使用说明 1、目的 验证光接口性能是否满足相关标准要求 2、适用范围 AQ6370D光谱仪 3、职责 资产管理部和操作人员共同负责 4、组网图或测试环境配置 5、测试内容: 5.1 开机校准 1、打开电源,FC-FC接口的光纤将AQ6370D的光输入连接器与光输出连接器连接起来。 2、用内部参考光源执行对准调节 ①按SYSTEM OPTICAL ALIGNMENT ②按EXECUTE软键,自动执行对准调节。几分钟后,对准调节结束,仪器返回之前的画面。

3、用内置参考光源进行波长校准 ①按SYSTEM WL CALIBRATION 软键。 ②按BUILT-IN SOURCE 软键。 ③按EXECUTE 软键,执行波长校准。校准结束后,返回之前的画面。 5.2 测试条件设置 1、校准完成后,自动扫描,自动调整分辨率,得到波长和功率的大致范围。 ①按SWEEP AUTO 软键执行自动测量。 1 2 3

自动扫描结束后的显示 ②设置扫描范围,按SPAN键。 ③设置参考功率和刻度,按LEVEL键,参考功率设为-3dBm,其他为默认值。

④按SETUP键,设置分辨率为最高精度0.02nm。 ⑤设置灵敏度,模式为MID,其他条件均为默认值。

⑥设置完成开始测试,执行REPEA T重复扫描或者SINGLE单次扫5~10次后,按STOP键,分析并记录数据。 5.3 分析 光猫上电后,用脚本长发光后直接接到测试拓扑中。 1、DFB-LD、FP-LD光源分析 ①按ANAL YSIS,显示与测量波形分析相关的软键菜单 ②按ANAL YSIS 1软键,显示分析功能的选择菜单。 以GPON样机为例,光源类型选择DFB-LD,执行分析,结果显示在数据区域内。 分析: SMSR边模抑制比 PEAK WL峰值波长 20dB WIDTH带宽 CTR WL中心波长 注:功率以实际功率计测试为准

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 11-SampleDef-样品定义

SAMPLEDEF 目录 1 启动 1.1 为什么使用SAMPLEDEF 1.1.1 LOADER 和DEF 文件 1.1.2 使用几个DEF文件 1.1.3 在SPECTRA plus数据里样品定义表的互动1.2 启动SAMPLEDEF 2 使用SAMPLEDEF 2.1 列的管理 2.1.1 创建新列 2.1.2 在列表里工作 2.1.3 设置列的选项 2.2 定义列的类型 2.3 选择数据类型 2.3.1 指定列内容的数据类型 2.3.2 设置为数字数据类型的选项 2.3.3 设置为字符数据类型的选项 2.3.4 设置为组合数据类型的选项 2.3.5 设置为字符串数据类型的选项 3 教材:使用SAMPLEDEF 设置标准样品定义表步骤一启动SAMPLEDEF 步骤二创建位置列 步骤三创建样品列 步骤四创建方法列 步骤五创建SSD-文件列 步骤六创建样品颜色 步骤七创建样品尺寸列 步骤八创建Sample-ID-样品编号列 步骤九创建制样方法列 步骤十创建类型列 步骤十一保存和测试样品定义表 步骤十二从LOADER运行样品定义表 索引

1 启动 1.1 为什么使用SAMPLEDEF 1.1.1 LOADER 和DEF 文件 我们可以通过LOADER程序把样品交付到测量程序。为此,需建立样品与进样器位置、测量程序、样品编号之间的联系,以便日后查询数据。还可以增加其他参数(如样品的稀释比、流水号等等)。在SPECTRA plus,这些样品信息都在SampledDef里定义。 输入界面,即:样品定义表里的各个列,是在扩展名为DEF的文件里定义的。这些DEF文件可以在SAMPLEDEF创建。 1.1.2 使用几个DEF文件 如何建立样品与仪器的联系有很多不同的方法,最简便的方法是接近实验室的实际工作,下面举例说明: 1 样品从不同的工厂送来,并且需要区别,测量方法可以在已建立的方法里选,等等; 2 不同班次的工人用相同的分析方法测量同样的样品,只需要让仪器知道需要测量的样品 在进样器的位置。 当然,很多实验室需要进行上述两样的工作,甚至更多。这就是为什么实验室需要多个样品定义表。 特定的样品定义表(DEF 文件)可以保存选项,从而避免输入错误。如:样品类型强制规定为液体,就可以避免在真空光路测量液体样品。 标准的样品定义表是随SPECTRA plus交付的,(Routine.def 在\Libraries\MeasMethods\)。这个表是通用的表,可以在SAMPLEDEF里进行个性化设定。

AQ6370D光谱仪使用说明

. . AQ6370D光谱仪使用说明 1、目的 验证光接口性能是否满足相关标准要求 2、适用范围 AQ6370D光谱仪 3、职责 资产管理部和操作人员共同负责 4、组网图或测试环境配置 5、测试内容: 5.1 开机校准 1、打开电源,FC-FC接口的光纤将AQ6370D的光输入连接器与光输出连接器连接起来。 2、用内部参考光源执行对准调节 ①按SYSTEM OPTICAL ALIGNMENT ②按EXECUTE软键,自动执行对准调节。几分钟后,对准调节结束,仪器返回之前的画面。

3、用内置参考光源进行波长校准 ①按SYSTEM WL CALIBRATION 软键。 ②按BUILT-IN SOURCE 软键。 ③按EXECUTE 软键,执行波长校准。校准结束后,返回之前的画面。 5.2 测试条件设置 1、校准完成后,自动扫描,自动调整分辨率,得到波长和功率的大致范围。 ①按SWEEP AUTO 软键执行自动测量。 1 2 3

自动扫描结束后的显示 ②设置扫描范围,按SPAN键。 ③设置参考功率和刻度,按LEVEL键,参考功率设为-3dBm,其他为默认值。

④按SETUP键,设置分辨率为最高精度0.02nm。 ⑤设置灵敏度,模式为MID,其他条件均为默认值。

⑥设置完成开始测试,执行REPEAT重复扫描或者SINGLE单次扫5~10次后,按STOP键,分析并记录数据。 5.3 分析 光猫上电后,用脚本长发光后直接接到测试拓扑中。 1、DFB-LD、FP-LD光源分析 ①按ANALYSIS,显示与测量波形分析相关的软键菜单 ②按ANALYSIS 1软键,显示分析功能的选择菜单。 以GPON样机为例,光源类型选择DFB-LD,执行分析,结果显示在数据区域内。 分析: SMSR边模抑制比 PEAK WL峰值波长 20dB WIDTH带宽 CTR WL中心波长 注:功率以实际功率计测试为准

基于CCD的多光谱测温技术

课程结业设计(论文) 题目:基于CCD的多光谱辐射测温 技术 学生姓名:隆博 学号:201020754 授课老师:黄梓榆 课程:动态测试与分析 2011年7月1日

摘要: 随着CCD成像技术日益成熟,CCD逐渐开始应用到高温温度场测量当中,并结合多光谱辐射测温技术,弥补了传统测量方法在测量高温温度场时的缺陷。本文概述了CCD的成像原理和多光谱辐射测温原理以及CCD多光谱测温技术在测量高温温度场的优点。通过分析相关资料,概述了彩色CCD和近红外CCD 多光谱测温研究进展,对目前CCD 多光谱测温技术研究发展进行了归纳。 关键词: CCD; 多光谱; 辐射测温技术; 高温温度场 Abstract: With the development of CCD-imaging technology,CCD is increasingly used with the technology of multi-wavelength radiation thermometry in high temperature field measurements instead of traditional methods. The article summarizes the principle of CCD-imaging,the principle of multi-wavelength radiation thermometry and the merit of CCD multi-wavelength radiation thermometry. By analyzing relevant information,it intraduces the development of color CCD radiation thermometry and NIR CCD multi-wavelength radiation thermometry,and summarizes the development of CCD multi-wavelength radiation thermometry. Key words:CCD; multi-wavelength; high temperature field; radiation thermometry

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 3-Getting Started-总体介绍

目录 1 安装SPECTRA plus 2 使用 SPECTRA plus第一步2.1 连接 2.2 无标样测量 2.2.1 预装的测量方法 2.2.2 特殊测量方法 2.2.3 分析结果的重新评估 2.3 绘制校准曲线 2.4 特殊应用 3 登录 3.1 登录的目的 3.2 操作人员管理 3.3 登录和退出 3.4 在不同的Windows 用户中登录

1 安装SPECTRA plus 安装必须在管理员界面里进行。 安装程序需以管理员权限进入,以安装某些动态资料库(DLL 文件),特别是这关系到数据库的管理,和某些注册钥匙,如在.DEFAULT 文件夹。 如果没有进入管理员界面,请询问网络管理员取得此资格。 安装时,请参考”Installation notes”(它是与SPECTRA plus分开的另一文件),和安装光盘里的READMEFIRST.TXT 文件、INSTALLATION.PDF 文件。 安装术语 ? Recalibration data diskette 重校正数据软盘: 是随光谱仪一起交付的软盘,包括与用户光谱仪相对应的特定文件:硬件配置文件和谱线库。在首次安装时必须安装,但不要用于升级:因为在使用了一段时间后,谱线库里会加进用户自己定义的谱线,硬件配置文件也可能进行了修改,如果重新安装时再使用重校正数据软盘里的数据,仪器就回到了出厂时的状态,用户加进去的内容会被删除,。 ? Master diskette 母盘: 是随初始SPECTRA plus软件包一起交付的软盘,内有信用证。在第一次安装时信用证被转移到硬盘。如果您想卸载软件,如,将软件安装至另一台电脑或其他目录,不要忘了把信用证转移回母盘,然后再转安装至其他地方。如果只是软件升级,没有改变目录,建议把信用证留在硬盘以避免误操作。 信用证的管理,见L_WIZARD程序。 快捷键图标程序手册?章 无L_WIZARD.EXE 11 只是在安装或卸载SPECTRA plus软件时才需要转移信用证,在通常情况下不要安装或卸载SPECTRA plus软件,也就不要用L_WIZARD去转移信用证。

(完整word版)ARL3460光谱仪操作说明书

ARL 3460型直读光谱仪操作说明书一.使用前注意事项 1.室内温度控制在22-27摄氏度,门窗一般不开,环境保持稳定且恒 温,保持室内处于无尘环境; 2.室内湿度控制在20%-80%以内,湿度太大时会影响试验结果; 3.总电源开关有断电保护功能,应对自动跳闸,有保护仪器的功能; 4.开机之前,先检查光谱仪各个开关是处于“开”或“关”什么状 态。如果是开,先依次关机,然后打开总电源开关,再开机; 5.打开稳压器黑色开关后,首先检查输出电压是否为220±5V,其次 检查指针是否稳定; 6.开机必须严格按规定顺序开机,每个开关等待间隔15s左右启动下 一个开关,关机按照开机的反顺序依次关机; 7.电脑的开关机只受稳压器电源开关控制,与仪器5个开关无关; 8.仪器完全冷却,需要一个稳定的过程,所以须在使用前8h开机, 经常使用仪器,则仪器和空调24h开机; 9.更换氩气瓶时,先用无水乙醇将氩气瓶出口擦拭干净,再打开点氩 气将酒精挥发掉后,更换氩气; 10.氩气瓶压强不得低于2Mpa,接近2Mpa时则须更换氩气,不使用 仪器时,将气压表调到0.1Mpa或净化机打到暂停,节约氩气; 11.更换氩气时,不能让空气进到净化机内; 12.打开氩气总开关,将氩气气压调到0.25Mpa-0.3Mpa; 13.制备后的样品,不能沾到水或油,以免影响测试结果,且严重时 会引起火灾; 14.开机后,点击F7查看仪器状态,有没有报警信息;

15.样品需现用现制,以防影响测试结果; 16.当仪器正面黄色罗盘不小心被转动,必须做完标准化,再进行定 量分析; 17.当标准试样用到一半时,应及时向我公司反映并请求订购。二.样品的制备 1.样品制备要求 样品最小体积必须盖住激发台圆口,不能漏出氩气;最大体积必须能在激发台内放的开。样品形状没有要求,不过一般为圆柱形居 多。 试样尺寸要求: 直径D:?20mm≤D≤?60mm;高度H:30mm≤H≤70mm。 2.样品制备过程 取圆柱形铝棒样块,在锯床上锯成正方体,然后用无水乙醇清洗锯割好的样品、车床上的三爪卡盘、刀片等,去除油和杂质, 防止干扰试验结果。在车床上将方形样品车成圆柱状,最后车端面,手不能触碰车好的样品端面,将车好的样品保存到干燥器皿中,以 备试验时使用。 三.光谱仪的组成,用途及分析原理 1.光谱仪组成 氩气净化机一台,稳压器一台,光谱仪一台,电脑一台,主机一 台,打印机一台。

光谱测定实验报告

地物光谱测定实验 实验报告

学院:地质工程与测绘学院 专业:遥感科学与技术 班级:2017******班 姓名:王不二 学号:2017****** 序号:15 2019年11月 一、实习时间 2019年11月5日下午 二、实习设备 AvaField-1型地物光谱仪、USB数据线、标准探头、探头控制线、野外用白板、笔记本电脑 三、实习目的 1.练习地物光谱仪的使用。 2.通过对地表典型地物类型光谱特性的测量,进一步加深对遥感理论基础 的理解。

四、实习内容及光谱分析 1.地物光谱仪的使用 1)安装并打开电脑上的AvaField-EDU软件,用USB数据线连接光谱 仪,然后再将数据线连接电脑。旋开光谱仪探头处的螺丝。 2)将光谱仪探头对准参考白板,使用鼠标点击“单帧”按钮,开始采集一 次光谱。 3)然后使用鼠标点击“参考”按钮,将当前光谱作为参考值。 4)使用光闸挡住探头,再次使用鼠标点击“单帧”按钮。 5)然后使用鼠标点击“背景”按钮,将当前光谱作为背景值。 6)打开光闸,将探头对准标准白板,再次使用鼠标点击“单帧”按钮,这 时软件会自动切换到反射比(亮度比)模式。 7)将探头对准被测物,使用鼠标点击“单帧”按钮,采集反射光谱。 8)使用鼠标点击“保存”按钮,保存数据。 2.实习数据采集、处理及光谱分析 本次实习共采集3种典型地物,其分别为:草地、瓷砖地面、水泥地面。 每种地物分别采集3次数据,并求均值得平均光谱曲线。 1)草地

光谱分析:根据草地的反射光谱特性曲线可以看出,在可见光波段550nm (绿光)附近有反射率为0.18的一个波峰,草地对500nm之前的电磁波段反射率较小,在近红外波段690nm~740nm之间有一个反射率增长的陡坡并在760nm~920nm间有一个反射率为0.96的峰值。在680nm(红光)附近为其光谱曲线的一个谷值。 2)瓷砖地面 光谱分析:由瓷砖地面的反射光谱特性曲线可知,瓷砖地面的电磁波谱反射率在电磁波长为690nm(红光)之前一直随着电磁波长的增大而增大,并在690nm时达到峰值0.86,而后其反射率随波长的增大而逐渐减小,并在波长为750nm~930nm之间其反射率一直保持在0.68附近小幅波动。在波长大于

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 2-应用SPECTRA plus作你的第一条回归曲线

应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线目录 应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线 简介 建立校准曲线 了解校准曲线工具箱 开始作校准曲线 Si KA1 HS-Min的校准曲线 如何检查计算的浓度是否被接受 P KA1-HS-Min 的校准曲线 S KA1 HR-Min的校准曲线 V KA1-HS-Min的校准曲线 Cr KA1-HS-Min的校准曲线 Mn KA1-HR-Min的校准曲线 V KA1 HS-Min的校准曲线 Ni KA1-HS-Min的校准曲线 Cu-KA1-HS-Min的校准曲线 漂移校正/重校正 低合金未知样品的测量 使用Results Monitor功能 监视分析结果 查询结果 转移结果 再评估测量数据 结论

简介 本教学课程包括下列内容,以便使你熟悉制作校准曲线的过程: l建立校准曲线 l组织材料 l输入标准浓度到数据库 l定义测量方法 l了解校准曲线工具 l校准已测量的低合金样品 l用低合金曲线测量未知样品 l使用结果管理器 按照这一部分的介绍,你可以一步一步地制作你的第一条校准曲线。使用一套BCS低合金标样,SPECTRA plus谱线库中预定义的谱线及扫描测量模式,你的任务是绘制低合金样品的校准曲线。由于所有的样品已经在德国Bruker AXS 公司测量过,不需要在你的仪器上进行实际的测量。为了得到所显示的相同结果,必须仔细地按照所有步骤进行。

建立校准曲线 从SPECTRA plus程序或桌面打开Quantification Editor (FQuant) 程序。 图 1 桌面上的Spectra Plus程序文件夹

椭偏光谱原理和技术

椭偏光谱原理和技术 本章通过介绍椭偏光谱的基本原理、光度型椭偏光谱仪以及椭偏光谱分析特点,给出了椭偏光谱技术在离子注入的辐照损伤以及材料光学性质研究中的应用和局限。利用椭偏光谱技术,结合其它分析手段并建立精细的分析模型,椭偏光谱技术能够从复杂的材料结构中,快速、精确和方便地测量并分析各层结构的厚度、成份、气孔率和光学常数。椭偏光谱技术将在材料的光学性质研究和离子注入的辐照损伤研究等方面发挥积极的作用。 §3.1 引言 椭偏术(Ellipsometry)起源于一百多年前,它是一种用来研究媒质界面或薄膜特性的光学方法[1-2]。其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振态的改变来研究表面薄膜厚度、光学常数、膜性质和结构以及基体光学性质和结构等。早期的椭偏术多半采用消光方式,它的结构简单,已被沿用了上百年。这种方式在实验中需要使用一个1/4波片,这限制了工作波长范围,因此难以被用于材料的光谱学研究。此外,测量过程多半靠手动完成,比较费时。为了克服这些缺点,实现研究材料的光学特性随光子能量变化的关系,人们对实验方法进行了改进,考虑省去1/4波片,而采用光度型的椭偏检测方法[3]。在实验中,固定起偏器方位角,同时连续旋转检偏器。因此,只要读取不同检偏方位角的光信号强度,就能通过计算分析得到完整的椭偏参数。但由于实验中涉及到大量的数据处理和繁复的三角函数计算,为获得一条谱线所消耗在测量操作和计算上的时间太多使得这种有用的方法在很长一段时间没有得到广泛的应用。计算机(尤其是PC机)的出现和计算技术的不断提高给这种方法注入了新的活力,并得到了迅速的发展。目前,随着计算机制造业的迅猛发展,超大型集成电路对芯片不断提高质量和扩大用途的要求,促进了椭偏仪制造业和SE技术的发展。以90年代初至今为例,美国的椭偏仪生产厂家已

移动式X射线荧光光谱仪使用说明

移动式X射线荧光光谱仪使用说明 型号规格:EPX-50 生产厂家:美国Innov-X System公司 购置日期:2010年3月 性能指标:本仪器为低能量色散X射线荧光光谱仪,由X光源(X射线光管,Ta(W)阳极,50KV,10W能量)、滤光片(5个滤光片,3光束连续自动测试)、检测器(电制冷的高分辨率Si-Pin检测器,在5.95KeV Mn Kα<190 eV FWHM, 温度范围:-10℃至50℃)组成。适合大规模样品的筛查分析、现场应急污染初步检测和实验室固体样品的定性半定量分析(含量大于0.01%的重元素可以进行定量分析)。 应用范围:可一次分析土壤、沉积物、矿物、淤泥、固体废弃物等固体粉末及金属、合金样品中15P-92U的25个元素,具体为Cr, Pb, As, Hg, Se, Ag, Cd, Ba,Tl, Cu, Zn, Ni, Sb,V, Mn, Fe, Co, Sn, Rb, Zr, Sr, Mo,P, S, Cl, K, Ca。(Na,Mg,Al,Si等轻元素不能检测)。分析速度快,30~120秒内即可完成样品中以上元素的测试。 -1 操作方法: 1、将仪器自带的变压器一端接到220V 电源上,一端接到仪器上,将220伏电 压转换为18伏后打开仪器。 2、输入用户名称和密码进入操作界面。 3、用仪器自带的316合金将仪器标准化,使仪器处于最佳工作状态。 4、样品测试:将固体粉末样品装入不含氯的透明塑料袋内,打开盖子并将样品 袋轻轻放在测试窗上面,关闭样品仓盖,点击Mode选择测量模式(Soil 3 Beam,Mining,Analytical,Soil),点击start 开始测量。多个样品依次进行测试,数据自动按照标准样式保存,结果显示在电脑屏幕上。 5、数据导出:用格式化的U 盘将测量数据导出,结果还可以报告形式打印出来。

吸收光谱测量基本原理

吸收光谱简介 纯白光为一连续的从红色到紫色的光谱,但当白光穿过一个有色宝石,一定颜色或波长可被宝石所吸收,这导致该白光光谱中有一处或几处间断,这些间断以暗线或暗带形式出现。许多宝石显示出在可见光谱中吸收带或线的特征样式,其完整的样式被称为"吸收光谱"。吸收光谱 处于基态和低激发态的原子或分子吸收具有连续分布的某些波长的光而跃迁到各激发态,形成了按波长排列的暗线或暗带组成的光谱。 吸收光谱是温度很高的光源发出来的白光,通过温度较低的蒸汽或气体后产生的,如让高温光源发出的白光,通过温度较低的钠的蒸汽就能生成钠的吸收光谱。这个光谱背景是明亮的连续光谱。而在钠的标识谱线的位置上出现了暗线。通过大量实验观察总结出一条规律,即每一种元素的吸收光谱里暗线的位置跟他们明线光谱的位置是互相重合的。也就是每种元素所发射的光的频率跟它所吸收的光频率是相同的。 太阳光谱是一种吸收光谱,是因为太阳发出的光穿过温度比太阳本身低得多的太阳大气层,而在这大气层里存在着从太阳里蒸发出来的许多元素的气体,太阳光穿过它们的时候跟这些元素的标识谱线相同的光都被这些气体吸收掉了。因此我们看到的太阳光谱是在连续光谱的背景上分布着许多条暗线。这些暗线是德国物理学家夫琅和费首先发现的称为夫琅和费线。 吸收光谱高温物体发出的白光(其中包含连续分布的一切波长的光)通过物质时,某些波长的光被物质吸收后产生的光谱,叫做吸收光谱。例如,让弧光灯发出的白光通过温度较低的钠气(在酒精灯的灯心上放一些食盐,食盐受热分解就会产生钠气),然后用分光镜来观察,就会看到在连续光谱的背景中有两条挨得很近的暗线(见彩图8.分光镜的分辨本领不够高时,只能看见一条暗线).这就是钠原子的吸收光谱.值得注意的是,各种原子的吸收光谱中的每一条暗线都跟该种原子的发射光谱中的一条明线相对应.这表明,低温气体原子吸收的光,恰好就是这种原子在高温时发出的光.因此,吸收光谱中的谱线(暗线),也是原子的特征谱线,只是通常在吸收光谱中看到的特征谱线比明线光谱中的少 光谱分析 光谱分析由于每种原子都有自己的特征谱线,因此可以根据光谱来鉴别物质和确定它的化学组成.这种方法叫做光谱分析.做光谱分析时,可以利用发射光谱,也可以利用吸收光谱.这种方法的优点是非常灵敏而且迅速.某种元素在物质中的含量达10-10克,就可以从光谱中发现它的特征谱线,因而能够把它检查出来.光谱分析在科学技术中有广泛的应用.例如,在检查半导体材料硅和锗是不是达到了高纯度的要求时,就要用到光谱分析.在历史上,光谱分析还帮助人们发现了许多新元素.例如,铷和铯就是从光谱中看到了以前所不知道的特征谱线而被发现的.光谱分

光谱测量技术

课程教学大纲 课程名称(中文):激光光谱学与光谱测量技术 课程名称(英文):Laser spectroscopy and spectral detection technique 课程性质:(通识必修、通识选修、学科基础、专业必修、专业选修、教师教育)专业必修 学分:2 学时:36 ,其中理论学时:36 ,实践(实验)学时:0 授课对象:电子科学与技术 授课语言:中文 开课院系:物理与材料科学学院 课程网址:(没有请填写“无”)无 撰写人:邓莉 审定人:无 一、课程简介(中文) 《激光光谱学与光谱测量技术》是电子科学技术的专业必修课程。该课程围绕激光光谱学基本原理及检测方法展开。知识点涵盖基础光学、原子物理学、非线性光学、光电子技术等学科领域。本课程主要突出激光光谱学基本原理、基础知识与基本方法,让学生了解激光光谱新技术与发展方向,为本科生掌握激光光谱学基础知识及起步相关专业方向研究奠定扎实基础。本课程适用于具有一定光学、原子物理基础的高年级学生学习,总学时为36学时左右(每周2学时,共1学期)。 课程简介(英文)

Laser spectroscopy and spectral detection technique is the required course for the students of Electronic Science Technique major. This course mainly revolves around the basic principles and the measurement methods of laser spectroscopy. All the knowledges are related with basic optics, atomic physics, nonlinear optics and electric technique. This course can help students gain the new techniques and the development of the laser spectroscopy, meanwhile is to lay a solid foundation for the students’ further study. It is suitable for the students who have already learned optics and atom ic physics. This course has about 36 hours in total (2 hours per week,18 weeks in one semester). 二、课程目标 通过本课程的学习,使学生对各种光谱测量技术的原理,实现方法,技术技巧有比较全面的了解。对各种光谱学技术学习的过程中,可以培养学生根据实际问题结合物理原理提出解决方案思维能力,提升全面思考方案可行性并不断优化方案的理念。 三、教学内容、学时分配和作业要求 第一章光谱学基础知识(学时2) 本章总结了光谱学的基础知识。首先在了解光本性的基础上,介绍光与物质相互间的作用。基于能级跃迁理论,揭示光谱中所反映的物质能级信息,光谱的宽度和线型表征光谱的重要参数。

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