材料分析方法复习总结
: 波长很短的电磁
X射线的本质是什么？
答：X射线是一种电磁波，有明显的波粒二象性。
特征X射线：是具有特定波长的X射线，也称单色X射线。
连续X射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多色X射线。
荧光X射线：当入射的X射线光量子的能量足够大时，可以将原子内层电子击出，被打掉了内层的受激原
子将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射岀波长严格一定的特征X射线
x射线的定义性质连续X射线和特征X射线的产生
X射线是一种波长很短的电磁波
X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发岀荧光。呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。对动物有机体能产生巨大的生理上的影响，能杀伤生物细胞。
连续X射线根据经典物理学的理论，一个带负电荷的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生
急剧变化，此时必然要产生一个电磁波，或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X射线谱。
特征X射线处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多岀的能量以X射线形式辐射岀来。因物质一定，原子
结构一定，两特定能级间的能量差一定，故辐射出的特征X射波长一定。
4简述材料研究X射线试验方法在材料研究中的主要应用
精确测定晶体的点阵常数物相分析宏观应力测定测定单晶体位相测定多晶的织够问题.
X射线衍射分析，在无机非金属材料研究中有哪些应用？（8分）
答：1.物相分析：定性、定量 2.结构分析：a、b、c、a、B、Y、d
3.单晶分析：对称性、晶面取向一晶体加工、籽晶加工
4.测定相图、固溶度
5.测定晶粒大小、应力、应变等情况
X射线衍射的几何条件是d、B、入必须满足什么公式？写出数学表达式，并说明d、B、入的意义。（5分）
答：.X射线衍射的几何条件是d、B、入必须满足布拉格公式。（1分）其数学表达式：2dsin 0 =入（1分）其中d是晶体的晶面间距。（1分）B是布拉格角，即入射线与晶面间的交角。（1分）入是入射X射线的波长。（1分）
在X射线衍射图中，确定衍射峰位的方法有哪几种？各适用于什么情况？（7分）
答：（1）?峰顶法：适用于线形尖锐的情况。（1分）
（2）?切线法：适用于线形顶部平坦，两侧直线性较好的情况。（1分）
（3）半高宽中点法：适用于线形顶部平坦，两侧直线性不好的情况。（1分）
（4）.7/8高度法：适用于有重叠峰存在，但峰顶能明显分开的情况。（1分）
（5）?中点连线法：（1分）
（6）?抛物线拟合法：适用于衍射峰线形漫散及双峰难分离的情况。（1分）
（7）?重心法：干扰小，重复性好，但此法计算量大，宜配合计算机使用。（1分）
什么叫干涉面？当波长为入的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl ）
晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？
答：晶面间距为d' /n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波长为入的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl ）晶面的波程差是n入，
相邻两个（HKL ）晶面的波程差是入。
如何选用滤波片的材料？如何选用X射线管的材料？
答：选择入K刚好位于辐射源的K"和心之间的金属薄片作为滤光片，滤波片是根据靶元素确定的。经验规
律：当靶固定后应满足当Z靶＜40时，则Z片=Z靶-1 ;当Z靶＞40时，则Z片=乙靶-2;
若试样的K系吸收限为入K,应选择靶的K a波长稍大于并尽量靠近入K,这样不产生荧光，并且吸收又最小。经验公式：
实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择
合适的X射线管和合适的滤波片。
答：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2?6 （尤其是2）的材料作靶材的X射线管。
选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉K B线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。
以分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，同时选用Fe和Mn为滤波片。
X射线衍射试验有哪些方法，他们各有哪些应用
劳埃法：用于多晶取向测定和晶体对称性的研究
周转晶体法：可确定晶体在旋转轴方向上的点阵周期，通过多个方向上点阵周期的测定，久可以确定晶体的结构
粉末多晶法：主要用于测定晶体结构，进行物相分析，定量分析，精确测定晶体的点阵参数以及材料的应力结构，晶粒大小的测定等
X射线衍射进行物像定性分析和定量分析的依据是啥，x射线粉末衍射法物像定性分析过程。X射线粉末衍射仪法物相定量分析方法
定性分析依据：任何一种物质都具有特定的晶体结构。在一定波长的X射线照射下，每种晶体物质都给出
自己特有的衍射花样，每一种物质和他的衍射花样都是一一对应的，不可能有两种物质给出完全相同的衍射花样。如果在试样中存在两种以上不同结构的物质时，每种物质所特有的花样不变，多相试样的衍射花样只是由他所含物质的衍射花样机械叠加而成
分析过程：1通过试验获得衍射花样2计算面间距d值和测定相对强度1/11 （11为最强线的强度）值定性分析以2 9＜90的衍射线为最要依据
定量分析依据：各相的衍射线强度随该相含量的增加而提高，由于各物相对X射线的吸收不同，使得“强度”并不正比于“含量”，而需加以修正
方法：外标发内标发K值发直接比较法
X射线衍射定性分析基本原理及步骤？原理：每种晶体都有自己一套独特x衍射图谱其多晶图谱叠
加而不会互相影响因此可对任何样品进行定性分析。
步骤：1，样品制备。2,按APD程序汇编参数。3，汇编扫描程序按样品设定。4，数据收集按设定扫描进行。5,数据处理列表绘图进行检索
特征X 射线特点用途：特征X射线是原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放
的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。如果用X射线探测器测到了样品微区中存在某一特征波长，就
可以判定该微区中存在的相应元素。
与X射线相比（尤其透射电镜中的）电子衍射的特点
分析电子衍射与X射线衍射有何异同（8分）
答:电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足（或基本满足）布拉格方程作为产生衍射的必要条件?
首先，电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角B很小，约为10-
2rad?而X射线产生衍射时,其衍射角最大可接近n /2.
其次，在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向
延伸成杆状因此，增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会结果使略微偏离布拉
格条件的电子束也能发生衍射.
第三,因为电子波的波长短，采用爱瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角B较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以认为电子衍射产
生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内?这个结果使晶体产生的衍射花样能
比较直观地反映晶体内各晶面的位向，给分析带来不少方便?
最后,原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力（约高出四个数量级），故
电子衍射束的强度较大，摄取衍射花样时暴光时间仅需数秒钟?
X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么
答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小适中，在
1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一个最佳厚度（t = 分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些它有哪些功能在材料科学中有什么
应用
答:透射电子显微镜的主要组成部分是：照明系统，成像系统和观察记录系统? 透射电镜有两大主要功能，即观察材料内部组织形貌和进行电子衍射以了解选区的晶体结构?分析型透镜除此以外还可以增加特征X射线探头，二次电子探头等以增加
成分分析和表面形貌观察功能?改变样品台可以实现高温，低温和拉伸状态下进行样品分析?
透射电子显微镜在材料科学研究中的应用非常广泛?可以进行材料组织形貌观察，研究材料的相变规律，探索晶体缺陷对材料性能的影响，分析材料失效原因，剖析材料成分，组成及经过的加工工艺等?
宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么？衍射仪法测定宏观应力的方法有哪些？
答：宏观应力对X射线衍射花样的影响是造成衍射线位移。衍射仪法测定宏观应力的方法有两种，一种是0° -45。法。另一种是sin 2 ”法。
叙述X射线物相分析的基本原理，试比较衍射仪法与德拜法的优缺点？
答：定性分析：原理：X-ray衍射分析是以晶体结构为基础的，每种结晶物质都有特定的结构参数，这些参数在X-ray衍射花样中均有所反映。故可作为鉴别物相的标志。若将几种物质混合后摄像，则所得结果为各单独物相衍射线条的简单叠加。
与照相法相比，衍射仪法在一些方面具有明显不同的特点，也正好是它的优缺点。
（1）简便快速：衍射仪法都采用自动记录，不需底片安装、冲洗、晾干等手续。可在强度分布曲线图上直接测量2B和I值，比在底片上测量方便得多。衍射仪法扫描所需的时间短于照相曝光时间。一个物相分析样品只需约15分钟即可扫描完毕。此外，衍射仪还可以根据需要有选择地扫描某个小范围，可大大缩
短扫描时间。
(2)分辨能力强：由于测角仪圆半径一般为185mm远大于德拜相机的半径
(57.3/2mm),因而衍射法的分辨能力比照相法强得多。如当用CuKa辐射时，从2 9 30o左右开始，匕双重线即能分开；而在德拜照相中2B小于90 °时K”双重线不能分开。
(3)直接获得强度数据：不仅可以得岀相对强度，还可测定绝对强度。由照相底片上直接得到的是黑度，需要换算后才得岀强度，而且不可能获得绝对强度值。
(4)低角度区的2 9测量范围大：测角仪在接近29 = 0。附近的禁区范围要比照相机的盲区小。一般测
角仪的禁区范围约为 2 9< 3°(如果使用小角散射测角仪则更可小到 2 9 = 0.5?0.6 ° )，而直径57. 3mm
的德拜相机的盲区，一般为2 9> 8°。这相当于使用CuK辐射时，衍射仪可以测得面网间距d最大达3nmA 的反射(用小角散射测角仪可达1000nm)，而一般德拜相机只能记录d值在1nm以内的反射。
(5)样品用量大：衍射仪法所需的样品数量比常用的德拜照相法要多得多。后者一般有5?10mg样品就足够了，最少甚至可以少到不足lmg。在衍射仪法中，如果要求能够产生最大的衍射强度，一般约需有0.5g 以上的样品；即使采用薄层样品，样品需要量也在100mg左右。
(6)设备较复杂，成本高。
显然，与照相法相比，衍射仪有较多的优点，突岀的是简便快速和精确度高，而且随着电子计算机配合衍射仪自动处理结果的技术日益普及，这方面的优点将更为突出。所以衍射仪技术目前已为国内外所广泛使用。但是它并不能完全取代照相法。特别是它所需样品的数量很少，这是一般的衍射仪法远不能及的。
欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？
答：eVk=hc/ 入
Vk=6.626 >10-34 1.998 108/(1.602 10-19 0.71 X0-10)=17.46(kv)
入0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)
其中h为普郎克常数，其值等于 6.626X 10-34
e为电子电荷，等于1.602 X 10-19c
故需加的最低管电压应》17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。
下面是某立方晶第物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：(12 卞)，(100)， (200),(飞11)，( 121)，(111),(龙10)，(220), (130),
(030)，(271)，(110)。
答：立方晶系中三个边长度相等设为a,则晶面间距为d=a/则它们的面间距从大小到按次
序是：(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(121 )、(220)、(221 )、(030)、(130)、(311)、
(123)。
当濾怏为h的；(射找照射到鼻体井出现衍射线时.相邻两个(hkl)圧射拔的液程两个(hid)
反射罐的浪程差又上多少？
相绷两个(hkl)晶面的追輕差为人,相邻两个(HKL)晶血的液理差为山
a -Fe属立方晶体，点阵参数a=0.2866。如用CrK a X射线(入=0.2291mn)照射，试求(110)、(200)及(211 )可发生衍射的掠射角。
答：立方晶系的晶面间距：=a /，布拉格方程：2dsin9 =入，故掠射角9 =arcsin(入/2 ), 由以上公式得：2d(110)s in 9 1=入，得9 仁34.4 °，同理9 2=53.1 °,9 3=78.2 °。
用Cu K a X射线(入=0.15405nm)的作为入射光时，某种氧化铝的样品的
XRD图谱如下，谱线上标注的是2 9的角度值，根据谱图和PDF卡片判断该
氧化铝的类型，并写出XRD物相分析的一般步骤。
答：确定氧化铝的类型(5分)
根据布拉格方程2dsin 0 =n入，d=入/(2sin 0 )
对三强峰进行计算：0.2090nm,0.1604nm,0.2588nm,与卡片10-0173 a -Al 2O3
符合，进一步比对其他衍射峰的结果可以确定是 a -Al 2O3O
XRD物相分析的一般步骤。(5分)
测定衍射线的峰位及相对强度1/11 :
再根据2dsin 0 =n入求出对应的面间距d值。
(1) 以试样衍射谱中三强线面间距d值为依据查Hanawalt索引。
⑵按索引给出的卡片号找出几张可能的卡片，并与衍射谱数据对照。
(3)如果试样谱线与卡片完全符合，则定性完成。
二次特征辐射：利用X射线激发作用而产生的新的特征谱线
Ka辐射：电子由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线
相干辐射：X射线通过物质时在入射电场的作用下，物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动，同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线，称之为经典散射。由于散射波与入射波的频率或波长相同，位相差恒定，在同一方向上各散射波符合相干条件，称为相干散射
非相干辐射：散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的
原子核对电子的弹性散射和非弹性散射：
弹性散射：电子散射后只改变方向而不损失能量，
非弹性散射：电子散射后既改变方向也损失能量。
电子显微分析的特点
答：1.分辨率高：0.2~0.3nm 放大倍数高：20~30万倍
3?是微取分析方法：可进行纳米尺度的晶体结构和化学成分分析
4?多功能、综合性分析：形貌、成分和结构分析二次电子像的衬度和背射电子像的衬度各有啥特点
二次：特别适用于显示形貌衬度。一般来说，凸岀的尖棱、小粒子、较陡斜面二次电子产额多，图像亮；
平面上二次电子产额小，图像暗；凹面图像暗。(二次电子像形貌衬度的分辨率比较高且不易形成阴
影)
背散射电子：无法收集到背散射电子而成一片阴影，图像衬度大，会掩盖许多细节。
在电子显微分析中，电子的波长是由什么决定的？电子的波长与该因素的关系怎样？关系
式？
答：电子的波长是由加速电压决定的，电子的波长与加速电压
平方根成正比，入=12.25V-1/2
在透射电子显微分析中，电子图像的衬度有哪几种？分别适用于哪种试
样和成像方法？
答：质厚衬度、衍射衬度和相位衬度
质厚衬度：适用于非晶体薄膜和复形膜试样所成图象的解释衍射衬度和相位衬度：适用于
晶体薄膜试样所成图象的解释
俄歇电子:原子中一个K层电子被激发出以后，L层的一个电子跃迁入K层填补空白，剩下的能量
不是以辐射
投射电子显微镜的成像原理为啥是小孔成像
成像原理：电子枪发射的电子束在阳极加速电压作用下加速，经聚光镜会聚成平行电子束照明样品，
穿过样品的电子束携带样品本身的结构信息，经物镜、中间镜、投影镜接力聚焦放大，以图像或衍射谱形式显示于荧光屏。
因为：1.小孔成像可以减小球差，像散，色差对分变率的影响，达到提高分辨率的目的。
2. 正是由于a很小，电子显微镜的景深和焦长都很大，对图像的聚焦操作和图像的照相记录带来了方便。
简述选区电子的衍射操作的步凑
1 :按成像操作得到清晰的图像2:加入选区光阑将感兴趣的区域围起来调节中间镜电流使光阑边缘像在荧光屏上清晰，这就使中间镜的物平面与选区光阑的平面相重叠 3 :调整物镜电流使选区光阑内的像清晰，
这就使物镜的像平面与选区光阑及中间镜的物面相重，保证了选区的精度4:抽岀物镜光阑，减弱中间镜
电流，使中间镜物平面上移到物镜后焦面处，这时荧光屏上就会看到衍射花样的放大像，再稍微调整中间镜电流，使中心斑点变到最小最圆比较光学和投射电子显微镜成像的异同
不同点1光镜用可见光作照明束，电镜以电子束作照明束。2光镜用玻璃透镜，电镜用电磁透镜。3
光镜对组成相形貌分析，电镜兼有组成相形貌和结构分析
相同点成像原理相似
画出透射电子显微镜的光路示意图并说明样品图像和衍射图像
差别：主要差别是中间镜的放置为址不同。如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光
屏上得到一幅放大像，这就是电子显微镜中的成像操作，在荧光屏上得到样品的图像。如果把中间镜的物平面和物镜的后焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是电子显微镜中的电子衍射操作, 即得到衍射图像。
背散射电子和透射电子
背散射电子：电子射入试样后，受到原子的弹性和非弹性散射，有一部分电子的总散射角大
于90°,重新从试样表面逸出，称为背散射电子。
透射电子：当试样厚度小于入射电子的穿透深度时，入射电子将穿透试样，从另一表面射出,
称为透射电子。
电子束入射固体样品表面会激发哪些信号，他们有哪些特点和用途
a.背散射电子特点：背散射电于是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。用途：利用背散射
电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可用来显示原子序数衬度，定性地进行成分分析。
毛玻璃
照相底板
光源
聚光镜
试样
物镜
中间象
电子枪
聚光镜
试样
物镜
中间象
投影镜
观察屏
照相底板注：右为电子显微镜的光路示意图
材料分析方法课后答案(更新至第十章)
材料分析方法课后练习题参考答案 2015-1-4 BY：二专业の学渣 材料科学与工程学院
3.讨论下列各组概念的关系 答案之一 (1）同一物质的吸收谱和发射谱； 答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射 (2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。任何材料对X射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。如Ni 的吸收限为0.14869 nm。也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。 (3）X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。 答：Z靶≤Z样品+1 或Z靶>>Z样品 X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱，或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。在进行衍射分析时，总希望试样对X射线应尽可能少被吸收，获得高的衍射强度和低的背底。 答案之二 1）同一物质的吸收谱和发射谱； 答：当构成物质的分子或原子受到激发而发光，产生的光谱称为发射光谱，发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱，吸收光谱则决定于物质的化学结构，与分子中的双键有关。 2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答：可以选择λK刚好位于辐射源的Kα和Kβ之间的金属薄片作为滤光片，放在X射线源和试样之间。这时滤光片对Kβ射线强烈吸收，而对Kα吸收却少。 6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？ 答：eVk=hc/λ Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34 e为电子电荷，等于1.602×10-19c 故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 7、名词解释：相干散射、非相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应 答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
材料测试分析方法(究极版)
绪论 3分析测试技术的发展的三个阶段？ 阶段一：分析化学学科的建立；主要以化学分析为主的阶段。 阶段二：分析仪器开始快速发展的阶段 阶段三：分析测试技术在快速、高灵敏、实时、连续、智能、信息化等方面迅速发展的阶段4现代材料分析的内容及四大类材料分析方法？ 表面和内部组织形貌。包括材料的外观形貌（如纳米线、断口、裂纹等）、晶粒大小与形态、各种相的尺寸与形态、含量与分布、界面（表面、相界、晶界）、位向关系（新相与母相、孪生相）、晶体缺陷（点缺陷、位错、层错）、夹杂物、内应力。 晶体的相结构。各种相的结构，即晶体结构类型和晶体常数，和相组成。 化学成分和价键（电子）结构。包括宏观和微区化学成份（不同相的成份、基体与析出相的成份）、同种元素的不同价键类型和化学环境。 有机物的分子结构和官能团。 形貌分析、物相分析、成分与价键分析与分子结构分析四大类方法 四大分析：1图像分析：光学显微分析（透射光反射光），电子（扫描，透射），隧道扫描，原子力2物象：x射线衍射，电子衍射，中子衍射3化学4分子结构：红外，拉曼，荧光，核磁 获取物质的组成含量结构形态形貌及变化过程的技术 材料结构与性能的表征包括材料性能，微观性能，成分的测试与表征 6.现代材料测试技术的共同之处在哪里？ 除了个别的测试手段（扫描探针显微镜）外，各种测试技术都是利用入射的电磁波或物质波（如X射线、高能电子束、可见光、红外线）与材料试样相互作用后产生的各种各样的物理信号（射线、高能电子束、可见光、红外线），探测这些出射的信号并进行分析处理，就课获得材料的显微结构、外观形貌、相组成、成分等信息。 9.试总结衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施 衍射花样要素：衍射线的峰位、线形、强度 答:(I)花材的选用影晌背底; (2)滤波片的作用影响到背底;(3)样品的制备对背底的影响 措施：（1）选靶靶材产生的特征x射线（常用Kα射线）尽可能小的激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样背底，使图像清晰。（2）滤波，k系特征辐射包括Ka和kβ射线，因两者波长不同，将使样品的产生两套方位不同得衍射花样;选择浪滋片材料，使λkβ靶<λk滤<λkα，Ka射线因因激发滤波片的荧光辐射而被吸收。(3)样品，样品晶粒为50μm左右，长时间研究，制样时尽量轻压，可减少背底。 11.X射线的性质; x射线是一种电磁波，波长范围:0.01~1000à X射线的波长与晶体中的原子问距同数量级，所以晶体可以用作衍射光栅。用来研究晶体结构，常用波长为0.5~2.5à 不同波长的x射线具有不同的用途。硬x射线:波长较短的硬x封线能量较高，穿透性较强，适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。软x射线:波长较长的软x射线的能量较低，穿透性弱，可用干分析非金属的分析。用于金属探伤的x射线波长为0.05~0.1à当x射线与物质(原子、电子作用时，显示其粒子性，具有能量E＝h 。产生光电效应和康普顿效应等 当x射线与x射线相互作用时，主要表现出波动性。 x射线的探测:荧光屏（ZnS），照相底片，探测器
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资料分析 精算基础是理解知悉每一个问题的信息和问法。 列式子是直接舍入的抄（第一次就抄整数） 做题标记法： 提干注意1.2017年城镇消费品零售比农村消费品零售多多少倍？ 2017年全国平均每位网民月均使用移动互联网接入流量约为多少M（注意1024M=1G、平均、月均记得直接在试卷写上12） 一、陷阱 1.（时间）：给2014年，求2013年；求增长率跨度两年；给1-7月，求7月；给年均，求月均 2.（单位）：民航区别万吨和亿吨；人口增长单位区别百分号和千分号----结合现实生活 3.（概念）：六大行业中，全国中的东、中、西 4.选项：问下面哪一年增长率最快? 先看选项（在对应的题目年份标注：用打勾、画圆圈...） 5. 按照2015年水产品产量从多到少，以下排序正确的是？ 注意：产量后的单位的不同；从大到小还是从小到大，做题时标上升降图标；还有主题词的变化；注意时间段*（题目给出1-12个月，还有12月的，问1-11个月的）
陷阱：主题词、单位、时间，范围：“累计”问其中一个时间段、特殊表述 2012年末，中国全年出生人口1635万人，2012年末，0-14岁（不含15周岁）人口为22287人。问：2012年，中国1-14岁（不含15周岁）的人口数量为多少？（） 利润（和我们数量关系不一样） 6.营业利润率= 营业收入 7.增长率：可正可负，且负的小于正的 8.变化幅度：直接比较增长率的绝对值。例如a增长率为-10%，为8%，则a的变化幅度大于b 9.增长（了）n倍=是原来的n+1倍、增长到n倍=原来的n倍。例子：2014年单位与居民物品物流额超过2012年的1.8倍（即为间隔增长率为80%） 10、比例：比重：占、比重、贡献率、利润率、产销率 资料分析：利润率=利润÷收入 成数：几成=十分之几 翻番：翻n番=2的n次方 11.选项首位不同截取两位，首位不同截取三位。（结合具体选项） 12.增长率
最给力的资料分析技巧总结
以下是各个数的倒数，约等于的，最好牢记1.10到1.30以内的，把除法变为乘法就好算多了 0.9X 分之一 = 1 + （1- 0.9X） X可以取0 到9 的数 1.11=0.9 1.12=0.89 1.13=0.885 1.14=0.877 1.15=0.87 1.16=0.862 1.17=0.855 1.18=0.847 1.19=0.84 1.20=0.83 1.21=0.826 1.22=0.82 1.23=0.813 1.24=0.806 1.25=0.8 1.26=0.794 1.27=0.787 1.28=0.78 1.29=0.775 1.30=0.77 1.35=0.74 1.40=0.714 1.45=0.69 以上是重点，必须背下来， 资料分析四大速算技巧 1.差分法”是在比较两个分数大小时，用“直除法”或者“化同法”等其他速算方式难以解决时可以采取的一种速算方式。 适用形式： 两个分数作比较时，若其中一个分数的分子与分母都比另外一个分数的分子与分母分别仅仅大一点，这时候使用“直除法”、“化同法”经常很难比较出大小关系，而使用“差分法”却可以很好地解决这样的问题。 基础定义： 在满足“适用形式”的两个分数中，我们定义分子与分母都比较大的分数叫“大分数”，分子与分母都比较小的分数叫“小分数”，而这两个分数的分子、分母分别做差得到的新的分数我们定义为“差分数”。例如：324/53.1与313/51.7比较大小，其中324/53.1就是“大分数”，313/51.7就是“小分数”，而324-313/53.1-51.7=11/1.4就是“差分数”。 “差分法”使用基本准则—— “差分数”代替“大分数”与“小分数”作比较： 1、若差分数比小分数大，则大分数比小分数大； 2、若差分数比小分数小，则大分数比小分数小； 3、若差分数与小分数相等，则大分数与小分数相等。 比如上文中就是“11/1.4代替324/53.1与313/51.7作比较”，因为11/1.4＞313/51.7
(完整版)材料分析方法期末考试总结
材料分析方法 1．x射线是一种波长很短的电磁波，具有波粒二相性，粒子性往往表现突出，故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。X射线有可见光无可比拟的穿透能力，可使荧光物质发光，可使气体或其它物质电离等。 2．相干散射：亦称经典散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。 3．不相干散射：亦称量子散射，X射线光子与束缚力不大的外层电子，或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。 4．吸收限：物质原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降，但随着波长的的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。 5．荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X 射线，二次X射线）。 6．俄歇效应：由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式，及俄歇效应。原子中一个K层电子被入射光量子击出后，L层一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量子放出，而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。 7．光电子：当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时，此光量子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子。原子则处于激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。8．滤波片的作用：滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的，用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。 9．布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。 10．晶面（hkl）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL）表示，称为反射面或干涉面。 11．掠射角是入射角（或反射角）与晶面的夹角，可表征衍射的方向。 12．衍射极限条件：在晶体中，干涉面的划取是无极限的，但并非所有的干涉面均能参与衍射，因存在关系dsinθ=λ/2,或d>=λ/2,说明只有间距大于或等于X 射线半波长的那些干涉面才能参与反射。 13．劳埃法：采用连续X射线照射不动的单晶体，因为X射线的波长连续可变，故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。 14．周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。 15．粉末法：采用单色X射线照射多晶体，试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。 16．吸收因数：由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，为了修正这一影响，则在强度公式中乘以吸收因数。 17．温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而使衍射强度减弱。为修正实验温度给衍射强度带来的影响，需要在积分强度公式中乘以温度因数。
16种常用的数据分析方法汇总
一、描述统计 描述性统计是指运用制表和分类，图形以及计筠概括性数据来描述数据的集中趋势、离散趋势、偏度、峰度。 1、缺失值填充：常用方法：剔除法、均值法、最小邻居法、比率回归法、决策树法。 2、正态性检验：很多统计方法都要求数值服从或近似服从正态分布，所以之前需要进行正态性检验。常用方法：非参数检验的K-量检验、P-P图、Q-Q图、W检验、动差法。 二、假设检验 1、参数检验 参数检验是在已知总体分布的条件下（一股要求总体服从正态分布）对一些主要的参数(如均值、百分数、方差、相关系数等）进行的检验。 1）U验使用条件：当样本含量n较大时，样本值符合正态分布 2）T检验使用条件：当样本含量n较小时，样本值符合正态分布 A 单样本t检验：推断该样本来自的总体均数μ与已知的某一总体均数μ0 (常为理论值或标准值)有无差别； B 配对样本t检验：当总体均数未知时，且两个样本可以配对，同对中的两者在可能会影响处理效果的各种条件方面扱为相似；
C 两独立样本t检验：无法找到在各方面极为相似的两样本作配对比较时使用。 2、非参数检验 非参数检验则不考虑总体分布是否已知，常常也不是针对总体参数，而是针对总体的某些一股性假设（如总体分布的位罝是否相同，总体分布是否正态）进行检验。适用情况：顺序类型的数据资料，这类数据的分布形态一般是未知的。 A 虽然是连续数据，但总体分布形态未知或者非正态； B 体分布虽然正态，数据也是连续类型，但样本容量极小，如10以下； 主要方法包括：卡方检验、秩和检验、二项检验、游程检验、K-量检验等。 三、信度分析 检査测量的可信度，例如调查问卷的真实性。 分类： 1、外在信度：不同时间测量时量表的一致性程度，常用方法重测信度 2、内在信度；每个量表是否测量到单一的概念，同时组成两表的内在体项一致性如何，常用方法分半信度。 四、列联表分析 用于分析离散变量或定型变量之间是否存在相关。
资料分析公式汇总
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速算技巧 一、估算法 精度要求不高的情况下，进行粗略估值的速算方式。选项相差较大，或者在被比较的数字相差必须比较大，差距的大小将直接决定对“估算”时对精度的要求。 二、直除法 在比较或者计算较复杂的分数时，通过“直接相除”的方式得到商的首位（首一位、首两位、首三位），从而得出正确答案的速算方式。 常用形式： 1.比较型：比较分数大小时，若其量级相当，首位最大∕小数为最大∕小数 2.计算型：计算分数大小时，选项首位不同，通过计算首位便可得出答案。 难易梯度：1.基础直除法：①可通过直接观察判断首位的情形； ②需要通过手动计算判断首位的情形。 2.多位直除法：通过计算分数的“首两位”或“首三位”判断答案情形。 三、插值法 1.“比较型”插值法 如果A与B的比较，若可以找到一个数C，使得A﹥C，而B﹤C，既可以判定A﹥B；若可以找到一个数C，使得A﹤C，而B﹥C，既可以判定A﹤B； 2.“计算型”插值法 若A﹤C﹤B，则如果f﹥C，则可以得到f=B;如果f﹤C，则可以得到f=A； 若A﹥C﹥B，则如果f﹥C，则可以得到f=A;如果f﹤C，则可以得到f=B。
四、放缩法 当计算精度要求不高时，可以将中间结果进行大胆的“放”（扩大）或者“缩”（缩小），从而迅速得到精度足够的结果。 常用形式： 1. A﹥B,C﹥D,则有A+C﹥B+D；A-D﹥B-C； 2. A﹥B﹥0，C﹥D﹥0，则有A×C﹥B×D；A÷D﹥B÷C 五、割补法 在计算一组数据的平均值或总和值时，首先选取一个中间值，根据中间值将这组数据“割”（减去）或“补”（追上），进而求取平均值或总和值。 常用形式: 1.根据该组数据，粗略估算一个中间值； 2.将该组值分别减去中间值得到一组数值；
材料分析方法部分课后习题答案(供参考)
第一章X 射线物理学基础 2、若X 射线管的额定功率为1.5KW，在管电压为35KV 时，容许的最大电流是多少？ 答：1.5KW/35KV=0.043A。 4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。 答：因X 光管是Cu 靶，故选择Ni 为滤片材料。查表得：μ m α＝49.03cm2／g，μ mβ＝290cm2／g，有公式，，，故：，解得:t=8.35um t 6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？ 答：eVk=hc/λ Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34 e为电子电荷，等于1.602×10-19c 故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 7、名词解释：相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应 答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。 ⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K 电子，当外层电子来填充K 空位时，将向外辐射K 系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。或二次荧光。 ⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K 电子从无穷远移至K 层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K 系的吸收限。 ⑸原子钟一个K层电子被光量子击出后，L层中一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量使L层中另一个电子获得能量越出吸收体，这样一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应。 第二章X 射线衍射方向 2、下面是某立方晶第物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（123），（100），（200），（311），（121），（111），（210），（220），（130），（030），（221），（110）。 答：立方晶系中三个边长度相等设为a，则晶面间距为d=a/ 则它们的面间距从大小到按次序是：（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（121）、（220）、（221）、（030）、（130）、
《材料分析测试方法A》作业
材料物理专业2013级《材料分析测试方法A 》作业 第一章 电磁辐射与材料结构 一、教材习题 1-1 计算下列电磁辐射的有关参数： （1）波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长（μm ）； （2）5m 波长射频辐射的频率（MHz ）； （3）588.995nm 钠线相应的光子能量（eV ）。 1-3 某原子的一个光谱项为45F J ，试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。 1-5 下列原子核中，哪些核没有自旋角动量？ 12C 6、19F 9、31P 15、16O 8、1H 1、14N 7。 1-8 分别在简单立方晶胞和面心立方晶胞中标明（001）、（002）和（003）面，并据此回答： 干涉指数表示的晶面上是否一定有原子分布？为什么？ 1-9 已知某点阵∣a ∣=3?，∣b ∣=2?，γ = 60?，c ∥a ×b ，试用图解法求r *110与r *210。 1-10 下列哪些晶面属于]111[晶带？ )331(),011(),101(),211(),231(),132(),111(。 二、补充习题 1、试求加速电压为1、10、100kV 时，电子的波长各是多少？考虑相对论修正后又各是多 少？ 第二章 电磁辐射与材料的相互作用 一、教材习题 2-2 下列各光子能量（eV ）各在何种电磁波谱域内？各与何种跃迁所需能量相适应？ 1.2×106~1.2×102、6.2~1.7、0.5~0.02、2×10-2~4×10-7。 2-3 下列哪种跃迁不能产生? 31S 0—31P 1、31S 0—31D 2、33P 2—33D 3、43S 1—43P 1。 2-5 分子能级跃迁有哪些类型？紫外、可见光谱与红外光谱相比，各有何特点？ 2-6 以Mg K α（λ=9.89?）辐射为激发源，由谱仪（功函数4eV ）测得某元素（固体样品） X 射线光电子动能为981.5eV ，求此元素的电子结合能。 2-7 用能级示意图比较X 射线光电子、特征X 射线与俄歇电子的概念。 二、补充习题 1、俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同？为什么？ 2、简述X 射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 第三章 粒子（束）与材料的相互作用 一、教材习题 3-1 电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子 激发产生的？
资料分析公式总结
资料分析公式总结 1 现期值=基期值*（1+增长率）基期值=现期值/1+增长率 2 增长量： ?增长量=现期值-基期值=（现期值/1+增长率）x增长率 ?考点识别：增长（增加）+具体数值？（多少）+单位（元、吨…） ?常用方法：特殊分数化简法 1/2=50% 1/3=33.3% 1/4=25% 1/5=20% 1/6=16.7% 1/7=14.3% 1/8=12.5% 1/9=11.1% 1/10=10% 1/11=9.1% 1/12=8.3% 1/13=7.7% 1/14=7.1% 1/15=6.7% 2/7=28.6% 3/8=37.5% 2/9=22.2% 2/11=18.2% ?增长量=现期值/1+增长率x增长率=(现期值/1+1/n)x1/n=现期值/n+1 （注意：增长率为正数时，n取正数，增长率为负数时，n取负数） ?特殊题型：增长量比大小 口诀：大大则大，一大一小看倍数 1)大大则大：现期值大，增长率达，则增长量一定大； 2)一大一小看倍数（乘积），分别计算两者现期值之间的倍数关系与增长率之间的倍数关 系，锁定倍数关系明显大的那一组（如现期值是5倍关系，增长率是3倍关系，就看现期值），其中数值大的（在刚才那个例子中就是现期值）增长量大。 （注意：口诀适用于增长率小于50%的题目） 3 增长率=现期值/基期值-1 4 年均增长量=现期值-基期值/增长次数（年份差） 5 年均增长率=现期值/基期值开根号下年份差次方 -1 （年均增长率约等于 (a/b-1）/n) 6 隔年增长量=现期值-基期值 7 隔年增长率=现期增长率+基期增长率+现期增长率x基期增长率 比重：A（部分）占B（整体）的比重 比重=部分/整体x100% 基期比重=现期比重x（1+整体增长率/1+部分增长率） 比重变化=现期比重x（部分增长率-整体增长率）/部分增长率
材料分析方法 考前复习总结(一)
一X射线基础 1 X射线：是一种波长很短的电磁波(0.05-0.25nm,可见光390-760nm)。X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。 产生条件：产生自由电子；使电子做定向高速运动；在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 产生方式：利用类似热阴极二极管装置，用一定材料制作的板状阳极（靶）和阴极（灯丝）密封在一个玻璃-金属管壳内，阴极通电加热，在两极间加直流高压U，则阴极产生的热电子将在高压电场作用下飞向阳极，在碰撞的瞬间产生X射线。 连续X射线：强度随波长连续变化的谱线，波长从一最小值（短波限）向长波伸展，并在一波长处有强度最大值。受管电压U、管电流I和阳极靶材原子序数Z的作用。U提高，强度提高，短波限和强度最大值对应的波长减小；I提高，强度提高；Z越高，强度越大。根据量子力学，在管电压作用下电子动能为eU，若电子碰撞时把全部能量给予一个光子，则使其获得最大能量，，此光量子的波长即为短波限。。绝大多数到达阳极靶面的电子经多次碰撞消耗能量，每次碰撞产生一个光量子，并以均大于短波限的波长辐射，产生连续谱。 特征X射线：管电压增高到一定值时，在连续谱的某些特定的波长位置会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，其波长只取决于阳极靶材元素的原子序数，可作为阳极靶材的标志或特征。莫塞莱定律：（Z越大，特征谱波长越短）。经典原子模型，电子分布在一系列量子化壳层上，内层电子被激出后原子将处于激发状态，必然自发向稳态过渡，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能量差一定，故辐射出的特征X射波长一定。特征谱强度随U和I的提高而增大。 2 X-ray与物质的相互作用 1）散射：相干散射：当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，光子方向改变但能量无损失，产生波长不变的散射线，可发生干涉，是x射线衍射的基础。（汤姆逊散射） 非相干散射：当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞，电子被撞离原子带走一部分光子的能量成为反冲电子，损失了能量的光子被撞偏一个角度。散布于各方向的散射波波长不等，不能发生干涉。（康-吴效应） 2）真吸收（光电效应、俄歇效应和热效应消耗）：入射x射线能量足够大时，可将内层电子击出，产生光电效应。被击出的电子为光电子；外层电子向内层跃迁，辐射出波长严格一定的特征x射线，因属于光致发光的荧光现象，成为荧光X射线。 原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。（荧光效应用于表层重元素>20的成分分析；俄歇效应用于表层轻元素的成分分析） 3）衰减X射线吸收规律：强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时，强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例，即-dI/I=μdx 。 线吸收系数：即为上式中的μ，指在X射线传播方向上，单位长度上的X射线强弱衰减程度。 质量吸收系数：X射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，拜托密度影响。 吸收限：当吸收物质一定时，波长越长越容易被吸收，但吸收系数并不随波长减小单调下降，会有几个跳跃台阶（对应荧光辐射吸收）。 ①根据样品化学成分选择靶材：要求尽可能少激发荧光辐射，入射线波长略长于样品的吸收线或短很多。Z靶≤Z样+1或Z靶>>Z样 ②滤片选择：滤去K系谱线中的Kβ线，使其吸收线位于K系谱线直接，尽可能靠近Kα线。Z靶<40，Z滤=Z靶-1；Z靶＞40，Z滤=Z靶-2 1分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？ 答：根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，在稳定状态下，每个壳层有一定数量的电子，他们有一定的能量。最内层能量最低，向外能量依次增加。根据能量关系，M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差，K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差，所以K?的能量大于Ka的能量，Ka能量大于La的能量。因此在不考虑能量损失的情况下：CuKa能激发CuKa荧光辐射；（能量相同）CuK?能激发CuKa荧光辐射；（K?>Ka）CuKa能激发CuLa荧光辐射；（Ka>la）2为什么出现吸收限？K吸收限只有一个而L吸收限有三个？当激发K系荧光Ⅹ射线时，能否伴生L系？当L系激发时能否伴生K系？ 一束X射线通过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收的结果。并且吸收是造成强度衰减的主要原因。物质对X射线的吸收，是指X射线通过物质对光子的能量变成了其他形成的能量。原子系统中的电子遵从泡利不相容原理不连续地分布在K,L,M,N等不同能级的壳层上，当外来的高速粒子（电子或光子）的动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出原子系统之外，从而使原子处于激发态。这时所需的能量即为吸收限，它只与壳层能量有关。即吸收限只与靶的原子序数有关，与管电压无关。 因为L层有三个亚层，每个亚层的能量不同，所以有三个吸收限，而K只是一层，所以只有一个吸收限。 激发K系光电效应时，入射光子的能量要等于或大于将K电子从K层移到无穷远时所做的功Wk。从X射线被物质吸收的角度称入K 为吸收限。当激发K系荧光X射线时，能伴生L系，因为L系跃迁到K系自身产生空位，可使外层电子迁入，而L系激发时不能伴生K系。3计算当管电压为50 kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。 电子静止质量：m0=9.1×10-31kg 光速：c=2.998×108m/s电子电量：e=1.602×10-19C 普朗克常数：h=6.626×10-34J.s 电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为 E=eU=1.602×10-19C×50kv=8.01×10-18kJ 由于E=1/2m0v02 所以电子与靶碰撞时的速度为v0=(2E/m0)1/2=4.2×106m/s 所发射连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压λ0（?）＝12400/v(伏) ＝0.248? 辐射出来的光子的最大动能为 E0＝h?0＝hc/λ0＝1.99×10-15J
高三历史的答题技巧分析_行测资料分析答题技巧
高三历史的答题技巧分析_行测资料分析答题技巧 高三历史的答题技巧分析_行测资料分析答题技巧 历史的答题是有一定的规律的，学生掌握答题的规律可以帮助学生更好的答题，减少不必要的失分，下面大范文网将为大家带来高考历史的答题技巧，希望能够帮助到大家。 高考历史的答题技巧 一、选择题：审清两个要素 无论是一般类型的单个选择题，还是专题式选择题，都要审清2个要素，即：条件限制和题目的主题内容。 1、审清条件限制：条件限制一般有时间限制、地点(或国别)限制、领域(包括政治、经济、军事、外交、思想文化等)限制、人物限制(如唐太宗)等。就时间限制而言，通常有四种情况，一是有明确的时间限定，如20世纪四、五十年代，1861年等等;二是有上限，无下限，如秦代以来中央集权制的发展;三是有下限，无上限，如明朝中期以前我国对外关系的突出特征;四是上下限皆不明确，如资产阶级革命时期、辛亥革命时期等。解答时间限制的题目时首先必须根据历史知识，准确判断时间的上下限制(也就是我平时所说的时间定位)。近年来文综试卷中出现的专题式选择题，除了总序中对时间有限定以外，每一道小题中均有指定的概念，所以做这一类选择题，既要把握总序中的时间限制，又要弄清楚每个小题的时间要求。 2、审清答题主题。答题主题就是指试题所提供的各种材料(材料的形式是多样的，比如图表、漫画、民谣、历史俗语、小说等)，也就是命题人要求你所答的主题和主流价值取向。审清了这一要求，选择的方向就确定了。专题式选择题，每小题都有不同的答题主题，考查的主题内容可以是历史事物的原因、内容、目的、特点、性质、结果、影响等，选择的时候注意回答的方向，比如本题要求你回答某一措施的目的，你却选择了客观作用的相关选项。
材料分析方法复习总结
Ｘ射线：波长很短的电磁 X射线的本质是什么？ 答：X射线是一种电磁波，有明显的波粒二象性。 特征Ｘ射线：是具有特定波长的X射线，也称单色X射线。 连续Ｘ射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多色X射线。 荧光Ｘ射线：当入射的X射线光量子的能量足够大时，可以将原子内层电子击出，被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线 x射线的定义性质连续X射线和特征X射线的产生 X射线是一种波长很短的电磁波 X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。对动物有机体能产生巨大的生理上的影响，能杀伤生物细胞。 连续X射线根据经典物理学的理论，一个带负电荷的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生急剧变化，此时必然要产生一个电磁波，或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X射线谱。 特征X射线处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。因物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能量差一定，故辐射出的特征X射波长一定。 4 简述材料研究X射线试验方法在材料研究中的主要应用 精确测定晶体的点阵常数物相分析宏观应力测定测定单晶体位相测定多晶的织够问题． X 射线衍射分析，在无机非金属材料研究中有哪些应用？（8分） 答：1. 物相分析：定性、定量2. 结构分析：a、b、c、α、β、γ、d 3. 单晶分析：对称性、晶面取向—晶体加工、籽晶加工 4. 测定相图、固溶度 5. 测定晶粒大小、应力、应变等情况 X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式？写出数学表达式，并说明d、θ、λ的意义。（5分） 答：. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。（1分）其数学表达式：2dsin θ=λ（1分）其中d是晶体的晶面间距。（1分）θ是布拉格角，即入射线与晶面间的交角。（1分）λ是入射X 射线的波长。（1分） 在X射线衍射图中，确定衍射峰位的方法有哪几种？各适用于什么情况？（7分） 答：（1）.峰顶法：适用于线形尖锐的情况。（1分） （2）.切线法：适用于线形顶部平坦，两侧直线性较好的情况。（1分） （3）.半高宽中点法：适用于线形顶部平坦，两侧直线性不好的情况。（1分） （4）.7/8高度法：适用于有重叠峰存在，但峰顶能明显分开的情况。（1分） （5）.中点连线法：（1分） （6）.抛物线拟合法：适用于衍射峰线形漫散及双峰难分离的情况。（1分） （7）.重心法：干扰小，重复性好，但此法计算量大，宜配合计算机使用。（1分） 什么叫干涉面？当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl） 晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？ 答：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波 长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ， 相邻两个（HKL）晶面的波程差是λ。
材料分析方法试题及答案10
材料现代分析方法试题10（参考答案） 一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．“一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可 能产生衍射线”，此种说法是否正确？ 答：不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线，只要符合光的干涉三个条件（光程差是波长的整数倍），不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。镜面反射，其光程差为零，是特殊情况。 2．什么叫干涉面？当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是多少？相邻两个（HKL）晶面的波程差是多少？ 答：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差是λ。 3．谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B、λ、t、θ分别表示什么? 该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题? 答：B为半高宽或峰的积分宽度，λ为入射X射线波长，t为粒径大小，θ 为表示选用X射线位置 ①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。B为衍射峰的宽，t表示晶粒的大小。可见当晶粒变小时，衍射峰产生宽化。一般当晶粒小于10-4cm 时，它的衍射峰就开始宽化。因此式适合于测定晶粒<10-5cm ，即100纳米以下晶粒的粒径。因此，它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。虽然精度不很高，但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。 ②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末，但实际上理想的晶体是不存在的，即使是较大的晶体，它经常也具有镶嵌结构在，即是由一些大小约在10-4cm，取向稍有差别的镶嵌晶块组成。它们也会导到X射线衍射峰的宽化。 4．试述极图与反极图的区别？ 答：极图是多晶体中某{hkl}晶面族的倒易矢量（或晶面法线）在空间分布的极射赤面投影图。它取一宏观坐标面为投影面，对板织构可取轧面，对丝织构取与丝轴平行或垂直的平面。图7-13是轧制纯铝{111}极图，投影面为轧面。在极
资料分析公式总结
资料分析公式总结 1.阅读，读时间、读材料、读名词，读数据; 2.根据题目寻找目标数据; 3.找考点，带入对应公式; 4.根据列式使用合适计算方法，找出选项。 方法步骤都对啊，为什么速度上不去呢?主要原因有四个方面： 1.读题慢，关键名词半天找不到; 2.列式慢，关键时刻公式记忆一团麻; 3.找数据慢，众里寻他千百度，蓦然回首，数据还是不见了; 4.计算慢，加减乘除已惘然。 关于读题慢和列式慢，公式虽然掌握，但是对于公式和材料的衔接不娴熟，拿到题目反应不过来考点和对应列式。建议多拿题目练习考点的精确瞄准度，公式用口诀的形式熟练记忆。使用公式口诀一定要非常娴熟，例如看见增速、增幅、增长百分之几等各种增长率的形式都要能反应出"增长量除以基期值"或"现期除以基期减一"，见到求增长量，想到现期和增长率相结合的公式及计算方法，都要达到类似看到《新白娘子传奇》想到赵雅芝的熟悉程度。 关于找数据慢，有可能是本身没有形成阅读习惯，阅读速度偏慢，阅读时先锁定题目要找的关键词，用题目的1-2个关键词去材料中寻找，用跳跃式方法阅读材料。 关于计算慢原因，估算方法掌握不熟练或计算能力偏弱。想要每种估算方法运用熟练，先用不同估算方法做100道相同题目，把估算
方法操作反复使用并熟练使用，首数法、特征数字法、有效数字法和错位加减法等。 当然，有时候资料分析题目出得比较难、比较偏，这个不是一个同学的问题，所有人面对的题目都一样，所以不用特别在意。关于出题人的陷阱，也不要太担心，平时多做做有坑的题目，经验积累多了就不怕了，考场上依然能反应。资料分析公式总结 (一)增长相关公式 1.增长率计算：现期值/基期值-1，对应方法：首数法，分子不变，分母取前三位有效数字，根据选项选结果。 2.增长量计算：现期值×增长率/(1+增长率)，对应方法：特征数字法：百分数转变成分数，进行约分计算;错位加减法：通过加减数字把分式中分子和分母凑相等而进行约分计算。 3.基期值计算：现期值/(1+增长率)，对应方法：首数法，特征数字法 4.年均增长量：(末期值-初期值)/年份差 5.年均增长率： ，n=年份差，对于方法：二项式展开：百分数的平方到多次方部分近似为0，从而进行约分计算，估算公式有：年均增长量/初期值;(末期值/初期値-1)/年份差;各年增长率的平均值，均找以上结果的较小的数值为结果。
现代材料分析方法习题测验汇总及答案
材料分析测试方法复习题 简答题： 1. X 射线产生的基本条件 答：①产生自由电子； ②使电子做定向高速运动； ③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 2. 连续X 射线产生实质 答：假设管电流为10mA ，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10（16）个，如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv （i ）的光子序列，这样就形成了连续X 射线。 3. 特征X 射线产生的物理机制 答：原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K 、L 、M 、N 等 不同能级的壳层上，而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量升高，处于激发态，这时原子系统就要向低能态转化，即向低能级上的空位跃迁，在跃迁时会有一能量产生，这一能量以光子的形式辐射出来，即特征X 射线。 4. 短波限、吸收限 答：短波限：X 射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。 吸收限：把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。 5. X 射线相干散射与非相干散射现象 答： 相干散射：当X 射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。 非相干散射：当X 射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。 6. 光电子、荧光X 射线以及俄歇电子的含义 答：光电子：光电效应中由光子激发所产生的电子（或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子）。 荧光X 射线：由X 射线激发所产生的特征X 射线。 俄歇电子：原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。 8. 晶面及晶面间距 答:晶面：在空间点阵中可以作出相互平行且间距相等的一组平面，使所有的节点均位于这组平面上，各平面的节点分布情况完全相同，这样的节点平面成为晶面。 晶面间距：两个相邻的平行晶面的垂直距离。 9. 反射级数与干涉指数 答：布拉格方程 表示面间距为d ’的（hkl ）晶面上产生了n 级衍射，n 就是反射级数 干涉指数：当把布拉格方程写成： 时，这是面间距为1/n 的实际上存在或不存在的假想晶面的一级反射，若把这个晶面叫作干涉面，其间的指数就叫作干涉指数 10.衍射矢量与倒易矢量 答：衍射矢量：当束X 射线被晶面P 反射时，假定N 为晶面P 的法线方向，入射线方向用单位矢量S0λθ=Sin n d '2λ θn Sin d ='2：
资料分析个人总结
资料分析个人总结 李委明老师说资料分析只是一种技术。最近再次复习了一遍李老师的《资料分析模块宝典》，略有心得，现总结如下。 资料分析题一般都出现在行测考试的最后一个部分，我上几次考试当中都遇到了时间不够的问题，从而导致没有时间去完成资料分析题而导致失分。资料分析不难，应该把它提前到数学题之前，而且要注意资料题的核心思想，也就是简单入手和答案选项。 做资料题，分题型来看，有图表题，图形题，文字题和文字、图表、图形混合题。对于图表题，看资料只需注意到时间、单位和题目的核心词语即可，很特殊的应该圈示出来，以便答题时注意；对于图形题，同样应该注意时间，单位和题目的核心词语，还要注意在饼图中可能所有的项加起来不到或超过100%，不要把整个饼图当作100%来看待；对于文字题，分为单独语段和多语段资料题，单独语段，以每句话作为一个单位意思，圈出关键词即可，对于多语段，一般是总分和分分结构，只需圈示关键词，就可去看题目做题了。 还要掌握一些基础知识。 一、量和速的区分。量是指的绝对值，速是指的相对值。增速、增长率和增幅指 的是一个概念。 二、“比”的意思。在题目的提问中，若问**1比**2增长多少或者减少多少，**2 都是分母，也就是说“比”的后面的那个项作分母，前面的项作分子。 三、同比和环比。同比是指与上一年的同期相比，环比是指与相邻的上一期相比。 四、百分数和百分点。N个百分点就是n%。 五、众数、中位数和平均数。众数是指在一组数据中出现次数最多的数；中位数 是指一组数据从小到大排列居于中间位置的数或者居于中间位置的两个数的 平均数；平均数是指算术平均数。众数反映的是出现数据的集中点；中位数 用于数据质量较差时，不受极端值的影响，易于计算，能较好的表现数据信 息；平均数常用于数据质量较好时，它受全体数据的影响，受极端值的影响 较大。当中位数大于平均数时，会有较小的数据出现，反之，会有较大的数 据出现。 六、三大产业。第一产业：农林牧副渔。第二产业：工业和建筑业。其他为第三 产业。 七、翻番。翻n番即为原来的2的n次倍。 八、GNP和GDP。GNP：是指一个国家或地区所有国民在一定时期内生产的最终 产品和服务价值的总和，包括本国国民在外国创造的价值；GDP是指一个国 家或地区所有常住单位在一定时期内生产的最终产品和服务价值的总和，包 括外国公司在国内创造的价值。 九、顺差和逆差。顺差是指出口大于进口，逆差是指出口小于进口。 十、基尼系数和恩格尔系数。基尼系数是衡量一个国家收入差距的常用指标。在 0~1之间，0.4为警戒线，值越低越贫富差距越小。恩格尔系数是指食品支出 总额（生活必需品，非奢侈品）占家庭或个人消费支出的百分比，40~50%为 小康，值越低越富裕。 十一、CPI和PPI.CPI是指消费品物价指数。PPI是指企业原材料价格指数，是生产指数。 几个核心要点 一是要注意时间和单位的表述，还要注意题目中的特殊表述，包括组合表述题和全对全不对题。做题时可以适当标注，利用直尺或者量角器定性分析，或者用常识来直接判断。最主要的还是下面总结的实用速算技巧。