S-4800场发射扫描电子显微镜测聚合物

S-4800场发射扫描电子显微镜测聚合物
S-4800场发射扫描电子显微镜测聚合物

S-4800场发射扫描电子显微镜观测聚合物

一、实验目的

1.了解扫描电子显微镜的工作原理、仪器的结构。

2.掌握仪器的操作方法、聚合物样品的制备和处理方法。

3.观察聚合物样品表面形貌、结构、聚集状态等。

二、实验原理

1.电镜的成像原理

电子枪(场发射枪)发射一束电子,这就是电子源,其最少截面的直径对场发射枪而言大约为10~20nm,这个小束斑经3 和5 两级聚光镜进一步缩小几百倍,最后再经物镜缩小并聚焦在样品面上,这时束斑直径最小可到3~6nm (约小于扫描电镜的分辨本领),电子束打在样品上,就产生各种信号。二次电子和背散射电子信号是最常用的两种信号,尤其是二次电子。信号由接收器取出,经光电倍增器和电子放大器放大后,作为视频信号去调制高分辨显示器的亮度,因此显示器上这一点的亮度与电子束打在样品上那一点的二次电子发射强度相对应。由于样品上各点形貌等各异,其二次电子发射强度不同,因此显示器屏上对应的点的亮度也不同。用同一个扫描发生器产生帧扫和行扫信号,同时去控制显示的偏转器和镜筒中的电子束扫描偏转器,使电子束在样品表面上与显示器中电子束在荧光屏上同步进行帧扫和行扫,产生相似于电视机上的扫描光栅。这两个光栅的尺寸比就是扫描电镜的放倍数。在显示器屏幕光栅上的图像就是电子束在样品上所扫描区域的放大形貌像。图像中亮点对应于样品表面上突起部分,暗点表示凹的部分或背向接收器的阴影部分。由于显示器屏幕上扫描尺寸是固定的,如14in (1in = 25.4mm)显示器的扫描面积是267×200mm2,在放大倍数为十万倍时样品面上的扫描面积为2.67×2 μm2如放大倍数为20 倍时,则为13.35×10mm2。因此改变电子束扫描偏转器的电流大小,就可改变电子束在样品上的扫描尺寸,从而改变扫描电镜的放大倍数。

2.电镜的分辨特征

扫描电镜的分辨本领一般指的是二次电子像的空间分辨本领,它是在高放大

倍数下,人们能从照片中分清两相邻物像的最小距离。通常是用两物像边缘的最小距离来计算。但照片放大近十万倍后,边缘轮廓往往不十分清晰敏锐,难以测量准确。现在多数人喜欢用两个亮点(或黑点)之间的中心距离来表示,像透射电镜的分辨本领测试一样,这种方法比较严格可靠。

二次电子像和背散射电子像是最常用的两种成像模式。二次电子像是用二次电子探头取出二次电子信号而成的样品表面形貌像,这是扫描电镜的最主要和最基本工作模式,它的分辨率高、图像立体感强。背散射电子像是用背散射电子探头取出背散射电子信号而成的像,它的分辨率和像的质量虽不如二次电子像,立体感也差,但它可以得到样品中大致的成分分布值化、二值图滤波以及二值图运算。

3.场发射扫描电镜的特征

(1)场发射式电子枪則比钨灯丝和六硼化镧灯丝的亮度又分別高出 10 - 100 倍,同時电子能量散布仅为 0.2 - 0.3 eV。当在真空中的金属表面受到108V/cm 大小的电子加速电场时,会有可观数量的电子发射出來,此过程叫做场发射。场发射电子系从很尖銳的阴极尖端所发射出來,因此可得极细而又具高电流密度的电子束,其亮度可达热游离电子枪的数百倍,或甚至千倍。

(2)要从极细的钨針尖场发射电子,金属表面必需完全干净,无任何外来材料的原子或分子在其表面,即使只有一个外来原子落在表面亦会降低电子的场发射,所以场发射电子枪必需保持超高真空度,来防止阴极表面累积原子。

(3)冷场发射式最大的优点为电子束直径最小,亮度最高,因此影像解析度最优。能量散布最小,故能改善在低电压操作的效果。为避免针尖被外来气体吸附,而降低场发射电流,並使发射电流不稳定,冷场发射式电子枪必需在10-10 torr 的真空度下操作。

三、实验的准备

1.样品的准备

聚合物样品通常存在以下形式:粉、粒、块、液状及其各种制品,将聚合物样品取未遭受污染的部分,尽量取不同部位进行观察。

2.样品的制备要求

样品制备简单是扫描电镜的特点之一,然而在实际工作中制样技术的好坏却直接影响到样品的分析结果和图象质量。通常对样品具有以下及点要求:

(1)样品必须干燥、未受污染、分散性好。

(2)样品必须具备良好的导电、传热性能。样品如若不导电则将产生放电即荷电效应,影响图象质量甚至无法工作,传热性差则易破坏样品。

(3)样品必须表面清洁,且在真空中不产生放气和失水现象,以免污染仪器,破坏真空,或造成分析失真。

3.液态状聚合物制备

取少量液态状聚合物样品滴在样品台上尽量使其自然干燥,备用

4.块状、粉状、颗粒状聚合物制备

取典型样品,用导电胶粘接在样品台上,然后用离子溅射仪喷度导电膜,备用。

四、仪器的型号、结构

1.仪器型号:S-4800场发射扫描电子显微镜

2.结构:

(1)镜筒:镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。其作用是产生很细的电子束(直径约几个nm),并且使该电子束在样品表面扫描,同时激发出各种信号。

(2)电子信号的收集与处理系统

在样品室中,扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号,其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇(Auger)电子等。在上述信号中,最主要的是二次电子,它是被入射电子所激发出来的样品原子中的外层电子,产生于样品表面以下几nm至几十nm的区域,其产生率主要取决于样品的形貌和成分。通常所说的扫描电镜像指的就是二次电子像,它是研究样品表面形貌的最有用的电子信号。检测二次电子的检测器的探头是一个闪烁体,当电子打到闪烁体上时,就在其中产生光,这种光被光导管传送到光电倍增管,光信号即被转变成电流信号,再经前置放大及视频放大,电流信号转变成电压信号,最后被送到显像管的栅极。

(3)电子信号的显示与记录系统: 扫描电镜的图象显示在阴极射线管(显像管)上,并由照相机拍照记录。显像管有两个,一个用来观察,分辨率较低,是长余辉的管子;另一个用来照相记录,分辨率较高,是短余辉的管子。

(4)真空系统及电源系统:扫描电镜的真空系统由机械泵与扩散泵组成,其作用是使镜筒内达到 10-4~10托的真空度。电源系统供给各部件所需的特定的电源。

3.仪器的参数:

样品尺寸 : ~ 150 mm

分辨率: 2.0 (1.4) nm at 1kV, 1.0 nm at 15kV

倍率范围: 20 ~ 800kX

探头类型: SE, BSE

加速电压范围 : 0.5 ~ 30kV

移动、查找样品简易:自动台、应用软件

洁净的真空环境:分子泵、冷阱

光阑自清洁、镜筒内置自烘烤

五、仪器的操作步骤

1.开墙上主机电源电源的开关

2.将仪器后面板处的主电源开关(Main Power)打开,之后按下Reset键;

3.启动Evac Power ,等待TMP指示正常后顺序打开IP1、IP2和IP3 的电源开关,真空启动程序开机结束

4.开启左侧面板Stage Power,启动右侧Display 开关

5.PC机自动启动进入Windows 操作系统,并自动运行S-4800 操作程序,此时点击OK(没有密码)后自动进入S-4800操作软件

6.样品的更换

(1)在实验台上事先粘好样品,并用高度规检测其高度

(2)点击样品交换室的Air键,当听到笛的一声后轻轻的拉开样品交换室(3)将样品杆手柄处于Unlock位置,把样品机座装于样杆的香蕉头处并转动手柄到Lock位置

(4)轻轻推注样品交换室,点击Evac 键,抽好真空后点击Open键,样品交换

室与样品室间的闸门自动打开

(5)轻轻的推动样品杆的手柄将样品至于样品台上,旋转手柄至Unlock,拉出样品杆,最后点击Close关闭阀门,安装样品结束。

六、聚合物样品的观察与分析

通过电镜下观察,研究聚合物样品的聚集状态、组成、结构、表面形貌、添加剂的关系等。

七、实验报告的要求

1.实验目的

2.实验仪器与设备

3.实验原理

4.实验准备

5.实验步骤

6.聚合物样品分析

要求对聚合物样品的组成、表面形态、内部孔隙特征、聚集状态等分析

7.思考题

八、思考题

1.扫描电镜的工作原理是什么?

2.聚合物样品制备的要求是什么?

3.扫描电镜的操作步骤?

电镜检测项目有哪些

扫描电镜是用于检验和分析固体微观结构特征的最有用的仪器之一,可以获得高的图像分辨率。场发射电子枪是具有很高的亮度和很小的电子源。扫描电镜的图像反映了样品三维的形貌特征,通过电子和样品的互作用可以研究样品的结晶学、磁学和电学特性。 要想了解扫描电镜的测试项目我们先来了解一下它的工作原理。 扫描电子显微镜是以能量为1—30kV间的电子束,以光栅状扫描方式照射到被分析试样的表面上,利用入射电子和试样表面物质相互作用所产生的二次电子和背散射电子成像,获得试样表面微观组织结构和形貌信息。配置波谱仪和能谱仪,利用所产生的X射线对试样进行定性和定量化学成分分析。 当电子束轰击样品表面时,一部分的能量转变成热能,这可能造

成样品的辐照损伤,还有部分的能量由于电子与样品原子的相互作用而发射出各种有用的信息。所以扫描电镜的测试项目主要各类电子、射线和电流等,包括: (1)二次电子:入射电子使样品原子激发所产生的电子,它们的能量很低,一般小于50eV,只有10nm左右的深度范围的二次电子才能逸出样品表面而被检测。 (2)背散射电子:一部分入射电子因与样品原子碰撞而改变运动方向,经多次碰撞又由样品表面散射出来,称之为背散射电子,其能量接近入射电子的能量。 (3)特征X射线:样品原子的内层电子被激发后所产生的X射线。 (4)俄歇电子:样品原子的内层电子被激发后所产生的电子。

(5)吸收电子:一部分入射电子在与样品原子碰撞过程中将能量全部释放给样品,而成为样品中的自由电子,称之为吸收电子。 (6)荧光:样品原子的外层电子被激发后所产生的可见光或红外光。 (7)感生电动势:入射电子照射样品的pn结时产生的电动势(或电流)。 上海博焱检测技术服务有限公司专业经营各种材料的环保检测,卫生检测,老化检测,防火检测以及各种大型仪器分析检测。为客户提供方便、快捷、灵活的一站式服务,因为自身的专业与专注,截止目前,已经1万多家客户进行合作,并得到了广泛的赞誉和认可。经过长期快速的发展,公司在环保、卫生、老化、防火等检测领域形成明显优势。

S4800扫描电镜操作说明书

冷场发射扫描电子显微镜S4800操作说明(普通用户) 燕山大学材料学院材料管A104(场发射,钨灯丝) 编写人:李月晴吕益飞 普通用户在熟练操作1个月后,如无不良记录,可申请高级用户培训。 高倍调清晰:局部放大(Red) →聚焦Focus→消像散 一、日常开机 1,开启冷却循环水电源。 2,按下Display开关至,PC自动开机进入用户界面并自动运行PC_SEM程序,以空口令登入。 3,打开信号采集开关,位置打到1,为打开。 4,打开电源插排的开关。 5,打开装有EDS软件的主机电源。 6,记录仪器运行参数(右下角Mainte),即钨灯丝真空度。如:IP1:0.0×10-8Pa;IP2:0.0×10-8Pa; IP3:9.6×10-7Pa。PeG-1,<1×10-3;PeG-2,<1×10+2。 注意:PeG≤1×10-3Pa时才能加高压测量。记录的参数:①点Flashing时会显示:In2(Ie)Flashing时电流最大值,如32.9μA;②加上高压后会显示,V ext=3.4kV。 二、轰击(点flashing,即在阴极加额外电压) 目的:高温去除针尖表面吸附的气体 1,最好在每天开始观察样品前一时做flashing; 2,选择flashing intensity为2 ; 3,若flashing运行时Ie小于20μA,则反复执行直至Ie值超过20μA且不再增加。 4,若flashing后超过8个小时仍继续使用,重新执行flshing 。 三、加液氮 容积不要超过1L,能维持4~6h。 四、样品制备及装入 样品制备简单,对样品要求较低,只要能放进样品室,都可进行观察。 1,化学上和物理上稳定的干燥固体,表面清洁,在真空中及在电子束轰击下不挥发或变形,无放射性和腐蚀性。 2,样品必须导电,非导电样品,可在表面喷镀金膜。 3,带有磁性的样品,由于物镜有强磁性,制样必须非常小心,防止在强磁场中样品被吸入

扫描电镜的基本结构和工作原理

扫描电镜的基本结构和工作原理 扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描,与样品相互作用产行各种物理信号,这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号,最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点,是进行样品表面研究的有效分析工具。 扫描电镜所需的加速电压比透射电镜要低得多,一般约在1~30kV,实验时可根据被分析样品的性质适当地选择,最常用的加速电压约在20kV左右。扫描电镜的图像放大倍数在一定范围内(几十倍到几十万倍)可以实现连续调整,放大倍数等于荧光屏上显示的图像横向长度与电子束在样品上横向扫描的实际长度之比。扫描电镜的电子光学系统与透射电镜有所不同,其作用仅仅是为了提供扫描电子束,作为使样品产生各种物理信号的激发源。扫描电镜最常使用的是二次电子信号和背散射电子信号,前者用于显示表面形貌衬度,后者用于显示原子序数衬度。 扫描电镜的基本结构可分为电子光学系统、扫描系统、信号检测放大系统、图像显示和记录系统、真空系统和电源及控制系统六大部分。这一部分的实验内容可参照教材第十二章,并结合实验室现有的扫描电镜进行,在此不作详细介绍。 三、扫描电镜图像衬度观察 1.样品制备 扫描电镜的优点之一是样品制备简单,对于新鲜的金属断口样品不需要做任何处理,可以直接进行观察。但在有些情况下需对样品进行必要的处理。 1) 样品表面附着有灰尘和油污,可用有机溶剂(乙醇或丙酮)在超声波清洗器中清洗。 2) 样品表面锈蚀或严重氧化,采用化学清洗或电解的方法处理。清洗时可能会失去一些表面形貌特征的细节,操作过程中应该注意。 3) 对于不导电的样品,观察前需在表面喷镀一层导电金属或碳,镀膜厚度控制在5-10nm 为宜。 2.表面形貌衬度观察 二次电子信号来自于样品表面层5~l0nm,信号的强度对样品微区表面相对于入射束的取向非常敏感,随着样品表面相对于入射束的倾角增大,二次电子的产额增多。因此,二次电子像适合于显示表面形貌衬度。 二次电子像的分辨率较高,一般约在3~6nm。其分辨率的高低主要取决于束斑直径,而实际上真正达到的分辨率与样品本身的性质、制备方法,以及电镜的操作条件如高匝、扫描速度、光强度、工作距离、样品的倾斜角等因素有关,在最理想的状态下,目前可达的最佳分辩率为lnm。 扫描电镜图像表面形貌衬度几乎可以用于显示任何样品表面的超微信息,其应用已渗透到许多科学研究领域,在失效分析、刑事案件侦破、病理诊断等技术部门也得到广泛应用。在材料科学研究领域,表面形貌衬度在断口分析等方面显示有突出的优越性。下面就以断口分析等方面的研究为例说明表面形貌衬度的应用。 利用试样或构件断口的二次电子像所显示的表面形貌特征,可以获得有关裂纹的起源、裂纹扩展的途径以及断裂方式等信息,根据断口的微观形貌特征可以分析裂纹萌生的原因、裂纹的扩展途径以及断裂机制。图实5-1是比较常见的金属断口形貌二次电子像。较典型的

蔡司场发射电子显微镜西IGMA

场发射电子显微镜∑IGMA 详细描述: 品牌:卡尔·蔡司 型号:∑IGMA 制造商:德国卡尔蔡司公司 经销商:欧波同纳米技术有限公司 免费咨询电话:800-8900-558 【品牌故事】 世界顶级光学品牌,可见光及电子光学的领导企业----德国蔡司公司始创于1846年。其电子光学前身为LEO(里奥),更早叫Cambridge(剑桥),积扫描电镜领域40多年及透射电镜领域60年的经验,ZEISS 电子束技术在世界上创造了数个第一:

第一台静电式透射电镜 (1949) 第一台商业化扫描电镜 (1965) 第一台数字化扫描电镜(1985) 第一台场发射扫描电镜(1990) 第一台带有成像滤波器的透射电镜 (1992) 第一台具有Koehler照明的 200kV 场发射透射电镜(2003) 第一台具有镜筒内校正Omega能量滤波器的场发射透射电镜(2003) CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的设计融合欧洲至上制造工艺造就了该品牌在光电子领域无可撼动的王者地位。自成立至今,一直延续不断创新的传统,公司拥有电镜制造最核心最先进的专有技术,随着离子束技术和基于电子束的分析技术的加入、是全球唯一为您提供钨灯丝扫描电镜、场发射扫描电镜、双束显微镜(FIB and SEM)、透射电子显微镜等全系列解决方案的电镜制造企业。其产品的高性能、高质量、高可靠性和稳定性已得到全世界广大用户的信赖与认可。作为全球电镜标准缔造者的CARL ZEISS将一路领跑高端电镜市场为您开创探求纳米科技的崭新纪元。 【总体描述】 采用先进的第三代GEMINI镜筒的∑IGMA场发射电子显微镜在处理所有材料方面有杰出表现。GEMINI 镜筒因其操作简单,极低压成像和超稳定探测电流等优势得到广大用户的认可,同时可提供高分辨率的能谱分析和波谱分析. ∑IGMA可处理直径达250mm和高为145mm的试样,此外,理想的共面设计使得能谱分析(EDS)和背散射电子分析(EBSD)同时使用。 【技术参数】 分辨率: 1.3nm@ 20KV 1.5nm@ 15KV 2.8nm@ 1KV 放大倍数:12 – 1,000,000x 加速电压:0.1-30KV 探针电流:4 pA - 20 nA (4pA-40nA 可选) 样品室: 330 mm (φ) x 270 mm (h) 样品台: 5轴优中心全自动 X = 125 mm Y = 125 mm Z = 50mm T = 0 - 90°

场发射扫描电子显微镜S-4800操作规程

场发射扫描电子显微镜(S-4800)操作规程 开机 1. 检查真空、循环水状态。 2. 开启“Display”电源。 3. 根据提示输入用户名和密码,启动电镜程序。 样品放置、撤出、交换 1. 严格按照高度规定高样品台,制样,固定。 2. 按交换舱上“Air”键放气,蜂鸣器响后将样品台放入,旋转样品杆至“Lock”位,合上交换舱,按“Evac”键抽气,蜂鸣器响后按“Open”键打开样品舱门,推入样品台,旋转样品杆至“Unlock”位后抽出,按“Close”键。 观察与拍照 1. 根据样品特性与观察要求,在操作面板上选择合适的加速电压与束流,按“On”键加高压。 2. 用滚轮将样品台定位至观察点,拧Z轴旋钮(3轴马达台)。 3. 选择合适的放大倍数,点击“Align”键,调节旋钮盘,逐步调整电子束位置、物镜光阑对中、消像散基准。 4. 在“TV”或“Fast”扫描模式下定位观察区域,在“Red”扫描模式下聚焦、消像散,在“Slow”或“Cssc”扫描模式下拍照。 5. 选择合适的图像大小与拍摄方法,按“Capture”拍照。

6. 根据要求选择照片注释内容,保存照片。 关机 1. 将样品台高度调回80mm。 2. 按“Home”键使样品台回到初始状态。 3. “Home”指示灯停止闪烁后,撤出样品台,合上样品舱。 4. 退出程序,关闭“Display”电源。 注意 1. 每天第一次加高压后,进行灯丝Flashing去除污染。 2. 冷场发射电镜一般不断电,如遇特殊情况需要大关机时,依次关闭主机正面的“Stage”电源、“Evac”电源,半小时后关闭离子泵开关和显示单元背面的三个空气开关,关闭循环水。开机时顺序相反。 3. 每半个月旋开空压机底阀放水一次。 4. 待测样品需烘干处理,不能带有强磁性,不能采用铁磁性材料做衬底制样。 5.实验室温度限定在25±5℃,相对湿度小于70% 。 仪器维护 1. 每月进行电镜离子泵及灯丝镜筒烘烤。 2. 每半年进行一次机械泵油维护或更新。 3. 每年进行一次冷却水补充,平时每月检查一次水位。

扫描电镜检测标准方法

扫描电镜测试具备诸多优势,在高分子材料学,生物学,医学,冶金学等等学科领域中发挥着重要的作用。但是如果不是专业人事对这方面的了解还是比较欠缺的,对扫描电镜的标准测试方法更是知之甚少,下面就带大家一起来了解一下。 根据样品形态的不同,扫描的测试方法也是有所区别的,下面就分别来介绍一下。 1、块状导电材料:样品大小要适合仪器样品台尺寸,再用导电胶将其粘结在样品台上即可放在扫描电镜中进行观察。 2、块状非导电或导电性差的材料:需要对样品进行镀膜处理,在材料表面形成一层导电膜,再进行观察。 3、对于粉末样品(非导电或导电性差的材料需镀导电膜),其制备方法3种:

a、导电胶粘结法:先在样品台上均匀沾上一小条导电胶带,然后在粘好的胶带上撒上少许粉末,把样品台朝下使未与胶带接触的颗粒脱落,再用洗耳球吹去粘结不牢固的颗粒。 b、直接撒粉法:将粉末直接撒落在样品台上,适当滴几滴分散剂(乙醇或者其他分散介质),轻晃样品台使粉末分布平整均匀,分散剂挥发后用洗耳球吹掉吸附不牢固的粉末即可。 c、超声波法:将少量的粉末置于小烧杯中,加适量的乙醇或蒸馏水,超声处理几分钟即可。然后尽快用滴管将分散均匀的含粉末溶液到样品台或锡纸上,用电热风轻轻吹干即可。 扫描电镜测试的优点: 1、焦深大,图像富有立体感,特别适合于表面形貌的研究;

2、放大倍数范围广,从20倍到20万倍,几乎覆盖了光学显微镜和TEM的范围; 3、分辨率高,表面扫描二次电子成像的分辨率已经达到100埃; 4、制样简单,样品的电子损伤小。 5、可同时进行显微形貌观察和微区成分分析。 上海博焱检测技术服务有限公司专业经营各种材料的环保检测,卫生检测,老化检测,防火检测以及各种大型仪器分析检测。为客户提供方便、快捷、灵活的一站式服务,因为自身的专业与专注,截止目前,已经1万多家客户进行合作,并得到了广泛的赞誉和认可。经过长期快速的发展,公司在环保、卫生、老化、防火等检测领域形成明显优势。

扫描电镜原理及测试范围-详细

材料的显微结构包含:化学组成、元素分布和组成相的形貌(尺寸、分布和形状) 显微结构: 在各种显微镜下看到所有相区(phase region)及所包含的缺陷。通常包括晶粒和气孔的尺寸、大小和分布、相组成和分布、晶界特性、缺陷及裂纹,包括组成的均匀性。 显微结构表征的主要任务: 根据不同类型显微镜下观察的显微机构的特征,对他们的形成原因做出合理的分析和判断。 微束分析(Microbeam Analysis):利用一束细电子束、离子束、光束或粒子束作用于试样产生的各种信息,进行成分、形貌、结构及其他物理和化学特性的分析。 束斑大小:微米-纳米 主要功能:成分分析、结构分析、图像分析。 主要指标:束斑大小、分辨率、空间分辨率、灵敏度、准确度 定量分析:微束分析是物理方法,由于物理过程的复杂性,成分定量基本都用标样比较法并进行修正计算。 俄歇电子谱仪(AES:Auger Electron Spectroscope)称为扫描俄歇显微镜。表面分析仪器,进行元素定量分析(三维元素分析)、形貌观察、价态分析等。分析深度为1nm-2nm。分析H和He以外元素,对轻元素灵敏度高。 1.扫描电镜电子探针: (1)图像分辨率高、放大倍率大。分辨率为3nm-0.6nm,相对应最大有效放大倍率为100000-1600000倍;电子探针图像分辨率为3nm-6nm。 (2)景深大。扫描电镜的景深是透射电镜的10倍,是光学显微镜的100倍,特别适合观察一些粗糙不平的断口。 (3)无损分析。对大部分材料,只要尺寸能放入样品室,采用合适条件无需对试样进行任何处理即可再进行观察分析。 (4)试样制备简单。可以是自然表面、断口、块体、反光和透光光片。 EPMA和SEM的区别 EPMA:价格贵2-3倍 (1)成分分析,形貌观察,以成分分析为主。主要用WDS进行元素成分分析,出射角大、有OM,电流大,有较成熟的定量方法,所以定量结果的准确度较高。 (2)真空腔体大,成分分析束流大,所以电子光路、光阑等易污染,图像质量下降速度快,EPMA二次像分辨率3-6nm。 SEM:形貌观察,成分分析。图像分辨率高。FESEM:优于1nm,W灯丝:3nm。

SEM工作原理与使用方法

SEM的工作原理与使用方法 1、SEM的工作原理 扫描电镜(SEM)是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时,电子与元素的原子核及外层电子发生单次或多次弹性与非弹性碰撞,一些电子被反射出样品表面,而其余的电子则渗入样品中,逐渐失去其动能,最后停止运动,并被样品吸收。在此过程中有99%以上的入射电子能量转变成样品热能,而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。如图1所示,这些信号主要包括二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、电子电动势、阴极发光、X 射线等。扫描电镜设备就是通过这些信号得到讯息,从而对样品进行分析的。 图1 入射电子束轰击样品产生的信息示意图 从结构上看,如图2所示,扫描电镜主要由七大系统组成,即电子光学系统、探测、信号处理、显示系统、图像记录系统、样品室、真空系统、冷却循环水系统、电源供给系统。

图2 扫描电子显微镜结构图 图3 扫描电子显微镜成像原理图 由图3,可以看出,从灯丝发射出来的热电子,受2-30KV 电压加速,经两个聚光镜和一个物镜聚焦后,形成一个具有一定能量,强度和斑点直径的入射电子束,在扫描线圈产生的磁场作用下,入射电子束按一定时间、空间顺序做光栅式扫描。由于入射电子与样品之间的相互作用,从样品中激发出的二次电子通过收集极的收集,可将向各个方向发射的二次电子收集起来。这些二次电子经加速并射到闪烁体上,使二次电子信息转变成光信号,经过光导管进入光电倍增管,使光信号再转变成电信号。这个电信号又经视频放大器放大,并将其输入到显像管的栅极中,调制荧光屏的亮度,在荧光屏上就会出现与试样上一一对应的相同图像。入射电子束在样品表面上扫描时,因二次电子发射量随样品表面起伏程度(形貌)变化而变化。 故视频放大器放大的二次电子信号是一个交流信号,用这个交流信号调制显像管栅极电,其结果在显像管荧光屏上呈现的是一幅亮暗程度不同的,并反映样品表面起伏程度(形貌)的二次电子像。应该特别指出的是:入射电子束在样品表面上扫描和在荧光屏上的扫描必须是“同步”,即必须用同一个扫描发生器来控制,这样就能保证样品上任一“物点”样品A 点,在显像管荧光屏上的电子束恰好在A ’点即“物点”A 与“像

场发射扫描电子显微镜参数

场发射扫描电子显微镜参数: 1.工作条件: 1.1电源: 230V (-6%/+10%) / 50Hz (±1%) 1.2 主机功耗:< 3.0 kV A 1.3运行环境温度: 17-23 C 1.4运行环境:相对湿度< 80% (无冷凝) 1.5残余交流磁场<100nT (非同步频率);<300nT (同步频率) 1.6噪音:< 60 dBC 1.7干燥无油压缩空气4-6 bar 1.8仪器运行的持久性:可连续运行 2.设备用途: 2.1高分辨扫描电子显微分析系统主要用于纳米材料的超高分辨微观形貌观察和微区分析。独特的双物镜设计以及低电压成像技术,对导电性不好的样品等适用性更强。具有低真空功能,对不导电样品进行更全面的分析。 3.技术规格 3.1 电子光学系统 3.1.1 分辨率:二次电子(SE)像 * kV时优于1.0 nm;1 kV时优于1.4 nm(非减速模式) * 低真空模式:30kV时优于1.5nm * nm 3.1.3 放大倍率范围:1 ~1,000,000倍(根据加速电压和工作距离的改变,放大倍数自 动校准) 3.1.4 着陆电压:50V 至30 kV 3.1.5 电子枪:高稳定度Schottky肖特基场发射电子枪 * ~200 nA,连续可调,既保证对高分子纳米材料高分辨成像所需的低速流,也要保证EDS和EBSD分析所需的高束流高效率。 3.1.7 束流稳定性:每10小时< 0.4% *3.1.8 具有双物镜系统(电磁透镜和静电透镜),保证对纳米材料、不导电有机无机材料、合金、磁性材料的全方位分析 *3.1.9 物镜光阑:物镜光栏应能自加热自清洁;无需拆卸镜筒即可更换物镜光阑。至少6孔光阑设计 电子束位移范围:不小于±110um 3.2 样品室和样品台 3.2.1 样品室尺寸:不小于360mm×360mm

简述扫描电镜的构造及成像原理资料讲解

简述扫描电镜的构造及成像原理,试分析其与透射电镜在样品表征方面的异同 1、扫描电镜的构造 扫描电镜由电子光学系统、信号收集和图像显示系统、和真空系统三部分组成。 1.1 电子光学系统(镜筒) 电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈和样品室。 1.1.1 电子枪扫描电子显微镜中的电子枪与透射电镜的电子枪相似,只是加速电压比透射电镜低。 1.1.2 电磁透镜扫描电子显微镜中各电磁透镜都不作成像透镜用,而是做聚光镜用,它们的功能只是把电子枪的束斑逐级聚焦缩小,使原来直径约为50um的束斑缩小成一个只有数个纳米的细小斑点,要达到这样的缩小倍数,必须用几个透镜来完成。扫描电子显微镜一般都有三个聚光镜,前两个聚光镜是强磁透镜,可把电子束光斑缩小,第三个聚光镜是弱磁透镜,具有较长的焦距。布置这个末级透镜(习惯上称之物镜)的目的在于使样品室和透镜之间留有一定空间,以便装入各种信号探测器。扫描电子显微镜中照射到样品上的电子束直径越小,就相当于成像单元的尺寸越小,相应的分辨率就越高。采用普通热阴极电子枪时,扫描电子束的束径可达到6nm左右。若采用六硼化镧阴极和场发射电子枪,电子束束径还可进一步缩小。

1.1.3 扫描线圈扫描线圈的作用是使电子束偏转,并在样品表面作有规则的扫动,电子束在样品上的扫描动作和显像管上的扫描动作保持严格同步,因为它们是由同一扫描发生器控制的。 1.1.4 样品室样品室内除放置样品外,还安置信号探测器。各种不同信号的收集和相应检测器的安放位置有很大关系,如果安置不当,则有可能收不到信号或收到的信号很弱,从而影响分析精度。样品台本身是一个复杂而精密的组件,它应能夹持一定尺寸的样品,并能使样品作平移、倾斜和转动等运动,以利于对样品上每一特定位置进行各种分析。新式扫描电子显微镜的样品室实际上是一个微型试验室,它带有许多附件,可使样品在样品台上加热、冷却和进行机械性能试验(如拉伸和疲劳)。 1.2 信号的收集和图像显示系统 二次电子、背散射电子和透射电子的信号都可采用闪烁计数器来检测。信号电子进入闪烁体后即引起电离,当离子和自由电子复合后就产生可见光。可见光信号通过光导管送入光电倍增器,光信号放大,即又转化成电流信号输出,电流信号经视频放大器放大后就成为调制信号。如前所述,由于镜筒中的电子束和显像管中电子束是同步扫描的,而荧光屏上每一点的亮度是根据样品上被激发出来的信号强度来调制的,因此样品上各点的状态各不相同,所以接收到的信号也不相同,于是就可以在显像管上看到一幅反映试样各点状态的扫描电子显微图像。 1.3 真空系统 为保证扫描电子显微镜电子光学系统的正常工作,对镜筒内的真空度有一定的要求。一般情况下,如果真空系统能提供1.33×10-2 -1.33×10-3 Pa的真空度时,就可防止样品的污染。如果真空度不足,除样品被严重污染外,还会出现灯丝寿命下降,极间放电等问题。 2、扫描电镜的成像原理 扫描电镜是由电子枪发射并经过聚焦的电子束在样品表面扫描,激发样品产生各种物理信号,经过检测、视频放大和信号处理,在荧光屏上获得能反映样品表面各种特征的扫描图像。 3、分析扫描电镜与透射电镜在样品表征方面的异同 3.1 结构差异 主要体现在样品在电子束光路中的位置不同,透射电镜的样品在电子束中间,电子源在样品上方发射电子,经过聚光镜,然后穿透样品后,有后续的电磁透镜继续放大电子光束,最后投影在荧光屏幕上;扫描电镜的样品在电子束末端,

热场发射扫描式电子显微镜JEOL JSM7000F

國立中央大學地球科學系 熱場發射掃描式電子顯微鏡J E O L J S M7000F 使用申請表 使用者:申請日期: 隸屬單位:聯絡電話: E-mail: 研究計畫名稱: 計畫主持人或指導教授簽名: 申請事項F委託操作 F自行操作 F申請自行操作訓練 申請 使用之儀器Coating F Pt _________sec. F Carbon F SEM(JEOL JSM-7000F) F BSI F EDS F Standard ____________________________________ 預約時段:年月日時分至時分使用者研究計畫(請簡述利用本SEM欲探討之研究內容) 請“詳述”試片製作方式、材料種類及特性 (請含括添加物、析出物、溶劑、製備溫度等相關細節)

收費情形(由本實驗室填寫): 經辦人: 申請人(簽名) 計畫主持人或指 導教授(簽名) 儀器負責人員 (簽名) 儀器負責教授 (簽名) 欲使用本設備者,請先至儀器介紹網頁詳讀【JEOL-7000F SEM管理辦法】,以明瞭本設備之功能與使用規範。 注意事項 1. 儀器預約後若不克使用,請於使用前三日取消預約,以便他人使用。 2. 儀器使用完畢,請確實登記使用時間及使用情形,儀器若出現狀況應盡速通知管理人並 詳細記錄儀器狀況。 3. 離室前請確實檢查實驗室門窗及儀器之水、電安全,並維持室內整潔。 非地科系(院)委託服務辦法 1. 本服務採取序號預約。詳填使用者與試片資訊後,並以電話03-4227151ext. 65642或 E-mail: basin@https://www.360docs.net/doc/c22930155.html,.tw與儀器管理者洽詢使用時段及確認實驗條件與試片製備。 2. 申請人於預約時段前將試片送交儀器操作技術員。 3. 預約操作申請人於操作時須親自在現場共同進行實驗。 自行操作訓練與考核辦法 1.本實驗室提供SEM上機訓練課程,通過考核後,即可自行操作機台。SEM上機訓練與 考核辦法見JEOL-7000F SEM管理辦法。 2. 詳填使用者與試片資訊後,本實驗室將回覆您的使用申請。請於申請核可後以電話或 E-mail與儀器負責人洽詢使用時段及確認實驗條件與試片製備。 樣品規範 請詳讀【JEOL-7000F SEM管理辦法】 ※委託操作者上機之前,技術員會再次要求確認您送來檢測的樣品種類,請您誠實申報。如果發現申報不實,本實驗室將取消您的使用資格。 ※若因違反上述規定或因操作不當而造成儀器污染或損壞時,所隸屬單位及其計畫主持人或指導教授須負責賠償。賠償費用由原廠評估,再由儀器負責教授決議。 若您已詳讀並同意接受以上所有辦法與規範,請在此簽名,並於實驗時繳交本單給儀器負責人。 申請人簽名: 日期:

(完整版)扫描电子显微镜的发展及展望

扫描电子显微镜的发展及展望 1、分析扫描电镜和X射线能谱仪 目前,使用最广的常规钨丝阴极扫描电镜的分辨本领已达 3.5nm左右,加速电压范围为0.2—30kV。扫描电镜配备X射线能谱仪EDS后发展成分析扫描电镜,不仅比X射线波谱仪WDS分析速度快、灵敏度高、也可进行定性和无标样定量分析。EDS发展十分迅速,已成为仪器的一个重要组成部分,甚至与其融为一体。但是,EDS也存在不足之处,如能量分辨率低,一般为129—155eV,以及Si(Li)晶体需在低温下使用(液氮冷却)等。X射线波谱仪分辨率则高得多,通常为5—10eV,且可在室温下工作。1972年起EDAX公司发展了一种ECON系列无窗口探测器,可满足分析超轻元素时的一些特殊需求,但Si(Li)晶体易受污染。1987年Kevex 公司开发了能承受一个大气压力差的ATW超薄窗,避免了上述缺点,可以探测到B,C,N,O等超轻元素,为大量应用创造了条件。目前,美国Kevex公司的Quantifier,Noran公司的Extreme,Link公司的Ultracool,EDAX公司的Sapphire等Si(Li)探测器都属于这种单窗口超轻元素探测器,分辨率为129eV,133eV等,探测范围扩展到了5B—92U。为克服传统Si(Li)探测器需使用液氮冷却带来的不便,1989年Kevex公司推出了可不用液氮的Superdry探测器,Noran公司也生产了用温差电制冷的Freedom探测器(配有小型冷却循环水机),和压缩机制冷的Cryocooled探测器。这两种探测器必须昼夜24小时通电,适合于无液氮供应的单位。现在使用的大多还是改进的液氮冷却Si(Li)探测器,只需在实际工作时加入液氮冷却,平时不必维持液氮的供给。最近发展起来的高纯锗Ge探测器,不仅提高了分辨率,而且扩大了探测的能量范围(从25keV扩展到100keV),特别适用于透射电镜:如Link的GEM型的分辨率已优于115eV(MnKα)和65eV(FKα),Noran的Explorer Ge探测器,探测范围可达100keV等。1995年中国科学院上海原子核研究所研制成了Si(Li)探测器,能量分辨率为152eV。中国科学院北京科学仪器研制中心也生产了X射线能谱分析系统Finder-1000,硬件借鉴Noran公司的功能电路,配以该公司的探测器,采用Windows操作系统,开发了自己的图形化能谱分析系统程序。 2、X射线波谱仪和电子探针仪 现代SEM大多配置了EDS探测器以进行成分分析。当需低含量、精确定量以及超轻元素分析时,则可再增加1到4道X射线波谱仪WDS。Microspec公司的全聚焦WDX-400,WDX-

扫描电镜入门基础知识解答

扫描电镜入门 1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较 可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。 2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关: λe=h / mv= h / (2qmV)1/2=12.2 / (V)1/2 (?) 在 10 KV 的加速电压之下,电子的波长仅为0.12?,远低于可见光的4000 - 7000?, 所以电子显微镜分辨率自然比光学显微镜优越许多,但是扫描式电子显微镜的电子束直径大多在50-100?之间,电子与原子核的弹性散射 (Elastic Scattering) 与非弹 性散射 (Inelastic Scattering) 的反应体积又会比原有的电子束直径增大,因此一 般穿透式电子显微镜的分辨率比扫描式电子显微镜高。 3. 扫描式显微镜有一重要特色是具有超大的景深(depth of field),约为光学显微 镜的300倍,使得扫描式显微镜比光学显微镜更适合观察表面起伏程度较大的样品。 4. 扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子 束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,用遮蔽孔径 (Condenser Aperture ) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束的扫描线圈,再透过物镜(Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品的上侧装有讯号接收器,用以择取二 次电子 (Secondary Electron) 或背向散射电子 (Backscattered Electron) 成像。 5. 电子枪的必要特性是亮度要高、电子能量散布 (Energy Spread) 要小,目前常用 的种类计有三种,钨(W)灯丝、六硼化镧(LaB6)灯丝、场发射 (Field Emission),不 同的灯丝在电子源大小、电流量、电流稳定度及电子源寿命等均有差异。 6. 热游离方式电子枪有钨(W)灯丝及六硼化镧(LaB6)灯丝两种,它是利用高温使电子 具有足够的能量去克服电子枪材料的功函数(work function)能障而逃离。对发射电 流密度有重大影响的变量是温度和功函数,但因操作电子枪时均希望能以最低的温度来操作,以减少材料的挥发,所以在操作温度不提高的状况下,就需采用低功函数的材料来提高发射电流密度。 7. 价钱最便宜使用最普遍的是钨灯丝,以热游离 (Thermionization) 式来发射电子 ,电子能量散布为 2 eV,钨的功函数约为4.5eV,钨灯丝系一直径约100μm,弯曲成V形的细线,操作温度约2700K,电流密度为1.75A/cm2,在使用中灯丝的直径随着钨丝的蒸发变小,使用寿命约为40~80小时。 8. 六硼化镧(LaB6)灯丝的功函数为2.4eV,较钨丝为低,因此同样的电流密度,使用LaB6只要在1500K即可达到,而且亮度更高,因此使用寿命便比钨丝高出许多,电子能量散布为 1 eV,比钨丝要好。但因LaB6在加热时活性很强,所以必须在较好的真空环境下操作,因此仪器的购置费用较高。

扫描电镜操作流程

SIRION场发射扫描电镜操作规程 一.开机 1.首先检查循环水系统,压力显示约4.5,温度显示约11-18度,为正常范围。 2.检查不间断电源的”LINE”,”INV.”指示灯亮,上部6只灯仅一只亮是为正常。 3.开电镜电脑(白色机箱)的电源,通过密码进入WINDOWS后,先启动”SCS”,然后启 动”Microscope Control”。 二.操作过程 1.有关样品的要求: 需用电镜观测的样品,必须干燥,无挥发性,有导电性,能与样品台牢固粘结(块状试样的下底部需平整,利于粘结)。粉末样品用导电胶带粘结后,需敲击检查,或用吹风机吹去粘结不牢固的粉末。含有机成份的样品(包括聚合物等),需经过干燥处理。 2.交换样品特别注意点: 该电镜的样品台是4轴马达驱动的精密机械,定位精度1微米,同时也可以手动旋钮驱动。样品室中暴露着镜头极靴,二次电子探头,低压背散射电子探头,能谱探头,红外相机,涡轮分子泵等电镜的核心部件,样品台驱动过程中存在着碰撞的可能性,交换样品和驱动样品台时要特别小心。比如样品室门应轻拉轻推;样品要固定牢固,防止掉到镜筒里去;样品高度要合适,Z轴移动样品或手动倾斜样品前,用CCD图象检查样品位置等等。 3.换样品过程:换样品前必须先检查加速电压是否已经关闭,条件符合,可按放气键(“VENT”)。交换样品台操作必须戴干净手套。固定好样品台后(固紧内六角螺丝),必须用专用卡尺测量样品高度,不允许超过规定高度。推进样品室,左手按住样品室门上手柄,右手点击抽真空软件键”PUMP”。整个换样品过程中,不要手动调节样品台位置(倾动除外)。 4.关高压过程:按下软件键“xx kV”,稍等待,听到V6阀的动作声音后,键颜色由黄色变灰色,表示高压已正式关闭。 5.开高压过程:样品室抽真空到达5e -5 mBar以上,可以开高压,观察图象。开高压:检查“Detector”菜单项中的“SE”或“TLD”被选中,按“HT”键,数秒后按软键“xx kV”,应听到V6阀开启的声音,等待键颜色变黄色。图象出来后,同时会弹出一个窗口,提示首先必须聚焦图象,然后按“OK”,使电脑能测出实际的样品高度,次序不可颠倒。在数千倍聚焦完成后(In Focus),按“OK”。 6.聚焦图象:按住鼠标右键,左或右向移动鼠标来聚焦图象。 7.消像散:按住左Shift键,按住鼠标右键移动,消除像散。 8.拍照:按“F2”键,电镜开始单次扫描。扫描结束,过数秒,冻结键(雪花图形)自动激活(变黄色)。这时可用“InOut”菜单中的Image保存图象。 9.拷贝图象:须用新光盘或未开封的新软盘拷贝。 三.关机 1.先关高压,放气后,取出样品后,重抽真空,然后关“Microscope Control”,再关WINDOWS。 电镜的电脑是控制整台电镜的,电脑的CMOS管理,显示卡及驱动程序等与普通电脑不同,请不要当作普通电脑来使用。禁止修改电脑的任何设置,禁止安装任何软件。禁止使用USB

扫描电子显微镜场发射扫描电子显微镜 样品登记及实验须知

扫描电子显微镜 场发射扫描电子显微镜样品登记及实验须知 (自2010年11月24日起试行) 为保证样品观察实验的有序进行,样品登记前请仔细阅读本须知,并在实验登记表上签名并注明“已阅读须知”。 1.做实验(含形貌观察、背散射、成份分析)前必须了解相应实验仪器及相 关理论知识,并清楚知道实验目的。对所测样品的微观形貌特征结构具备相应的知识。建议事先阅读相关资料书籍。 2.磁性样品、易挥发样品、腐蚀性样品、油性样品、低熔点样品、酥松 或松软无法在样品台固定的样品不能实验,请勿登记。如违规登记,实验室老师有权予以取消。 3.需要使用能谱仪进行微区成份分析的样品表面应平整并且尺寸大小应在 1~2微米以上,建议送样前要对样品进行磨抛处理。 4.实验登记时间为每周三开始登记隔周的实验,额满为止。在登记表的右上 角写明登记时的日期和时间。 5.样品应在实验登记的同时送到实验室,如遇特殊情况,可与实验室老师商 定送样的具体时间,并在登记表上签字确认。样品逾期没有送达,则不安排实验,原登记作废。 6.实验时间由实验室老师统筹安排,将在实验前2至3个工作日电话通知本 人。请提前安排好工作,按约定的时间,准时前来进行实验,勿迟到。不按约定时间前来实验的,则取消本次实验,重新登记排队。由此造成的损失由其本人承担。 7.扫描电子显微镜每个样品形貌观察实验的标准单位时间为1小时,场发射 扫描电子显微镜每个样品形貌观察实验的标准单位时间为0.5小时。如出现超时观察则按照标准单位时间累计,不足一个标准单位时间的记为一个标准单位时间。以对样品室开始抽气为计时开始。 8.试验结果将通过电邮输送,本实验室不对U盘等移动介质输送实验结果。 实验结果仅对本次实验所提供的样品有效。 材料学院材料测试中心 2010年11月

S-4800场发射扫描电子显微镜培训材料

Hitach(日立)S-4800型扫描电子显微镜培训材料 一、注意事项: 1、严禁没有操作资格的人员操作电镜; 2、操作人员要严格按照操作规程进行操作,在仪器产生异常时要及时报 告所有事实; 3、样品制备严格按照要求进行,特别是磁性样品; 4、严禁在实验室吃东西,保持实验室清洁卫生; 5、不允许在实验室内使用水槽; 6、禁止在实验室内使用产生大量粉尘的物质; 7、不得在实验室内大声喧哗、扰乱正常工作; 8、注意实验室内湿度应该在60%以下,注意下水管漏水情况。 培训加考核共6个半天。必须按时到场,认真学习,不允许半途离开。 培训考核结束之后,每人进行操作的前两次必须有熟练人员陪同,并要求陪同人员在使用登记表上签字。

电镜操作的第一前提是要保证人身安全,第二前提是保证仪器设备安全。 第一次培训内容:熟悉S-4800的开机、进样、取样、关机等主要步骤。 1、介绍冷热场发射的扫描电镜(附件一及附件二)。冷场发射电镜特点,灯 丝不加热,引出电场,束流小,能量分散小,但需要高真空,有气体分子吸附。 扫描电镜的基本原理。 2、介绍S-4800及能谱的组成部分、电源控制。 3、先打开循环水开关,再打开主机Display开关。 4、检查离子泵IP1、IP2、IP3的数据并记录。 5、进入控制主机桌面,双击图标进入S-4800的控制软件。 6、每天开始工作前做Flashing 2一次,加电压,观察vext数值(例如3.8KV), 如果跟上一次做完flashing之后的数值(例如3.7KV)差别小于0.2KV,则记录此值。如果与上次相比差别大于0.2KV(例如本次做完flashing后vext数值为 4.0KV),则需再做一次flashing2,差值应该减小到0.2KV以内,记录此vext 数值。 7、检查样品高度,样品台粘好样后,一定要用气枪把未粘牢的样品吹掉,并 确定被测样品的最高处在标准范围内,不能超出标准高度,也不能低太多;8、如何进样: (1)按交换舱上的AIR(放气)按钮,向交换舱充气,听到“嘀——”的声音,可以打开交换舱。装好样品,LOCK,拉出交换杆。关上交换舱。注 意样品杆一定要拉到底。 (2)按EVAC(抽气)按钮,对交换舱进行抽气。注意观察ECV灯的示数,抽完会有“嘀——”的响声。 (3)按OPEN按钮,打开交换舱与真空舱之间的隔阀,打开后会有“嘀——” 的响声。 (4)用进样杆把样品送入真空舱,注意一定要送到底。UNLOCK,用手推住交换舱门,拉回样品杆,注意一定要拉到底。按CLOSE按钮,关闭隔阀, 听到“嘀——”的响声后可以进行下一步工作。 9、如何取样:

(精品)扫描电镜试题整理---赵玲玉

第一部分 1.如果实验室因电路打火,正确的处理方式是? 先切断电源,再用干粉或气体灭火器灭火,不可直接泼水灭火,以防触电或电器爆炸伤人。如果火势太大,应迅速离开现场,并向有关部门报告以采取有效措施控制和扑救火灾。 2.在装载样品以及实验中移动样品台时,有些什么注意事项? ①装载大样品时,应使用倾斜样品台倾斜样品;②用Z样品台提升样品时要十分的小心;③看断面的样品必须事先降低样品台; ④关闭样品室门时,缓慢轻关,待抽真空时再松手;⑤移动样品时,将载物台向X轴和Y轴方向移动,并保证位移量小于最大允许值,以防止样品撞坏探头或撞伤物镜极靴。 3.普通扫描电镜测试对样品的基本要求是? ①能提供导电和导热通道,不会被电子束分解;②在电子束扫描下具有良好的热稳定性,不能挥发或含有水分;③样品大小与厚度要适于样品台的尺寸;④样品表面应该清洁,无污染物;⑤磁性样品要预先去磁,以免观察时电子束受到磁场的影响。 4.按电子枪源分,扫描电镜分为哪几类,各有什么优缺点? 钨灯丝枪,六硼化镧枪和场发射电子枪。 ①钨灯丝枪其优点是钨灯丝造价和维护成本相对较低,缺点是分辨率较差;②六硼化镧枪寿命介于中间,但比钨枪容易产生过度饱和和热激发问题;③场发射电子枪价格最贵,需要高真空,但其寿命最长,不需要电磁透镜系统。 5.为什么不能在FEINova400场发射电镜对导磁性样品进行能谱分析或高分辨图像分析? 导磁性样品会磁化电镜的极靴,一旦吸到物镜极靴上,降低电镜的分辨率,影响电镜的性能。 6.在实验过程中,如果需要短暂离开,需要进行哪些必要的处理? 答案一1 看周边是否有有操作资格的人(老师或者是操作员)在场,如果有的话,让他们帮忙看着电镜;2如果没有有操作资格的人在场,那么此时要把高压卸掉,打开CCD,把样品台降低最低位置,退探头,使电镜处于静止状态才可短暂离开。离开时需要放置“暂停实验”警示牌,告知他人,实验暂停。 第二部分 1. X射线能谱仪由哪些部分组成?电子陷阱的功能是什么? 由半导体探测器,前置放大器和主放大器,多道脉冲高度分析器组成。电子陷阱的功能是储存载流子,只让X射线进入,防止电子进入探测器。 2. X射线能谱仪(EDS)、X射线波谱仪(WDS)和俄歇电子能谱仪各有什么优缺点? X射线能谱仪:优点:分析速度快,灵敏度高,谱线重复性好;缺点:能量分辨率低,峰背比低,工作条件要求严格。 X射线波谱仪:优点:波长分辨率很高;缺点:X射线信号的利用率极低,难以在低束流和低激发强度下使用。 俄歇电子能谱仪:优点:能做固体表面分析,对于轻元素(不包含H和He)具有较高的分析灵敏度;缺点:不能进行有机、生物以及陶瓷样品分析。

扫描式电子显微镜观察

掃描式電子顯微鏡觀察 為觀察觀音一號井與麓山帶地層中碎屑性和自生性黏土礦物之 分佈與生長,以及隨埋藏深度增加,自生性黏土礦物(如:混層伊萊石膨潤石)之元素組成之比例有無改變,本研究使用中央大學地球物理研究所JSM-7000F熱場發射掃描式電子顯微鏡(Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope, TFE-SEM),用以觀察碎屑性和自生性礦物之分佈與生長情形。SEM的操作條件為加速電壓15 kV、真空室壓力達2.8 × 10-4 Pa、工作距離10 mm。一般掃描式電子顯微鏡偵測主要為偵測二次電子(Secondary Electron Image, SEI)和背向散射電子(Backscattered Electron Image, BEI)成像,由於其產生電子之行為不同,所產生之影像分別為樣本之表面形貌和原子序對比(Goldstein et al., 2003)。平均原子序較高之區域,散射之背向電子訊號較強,呈現之影像較亮。本研究以背向散射電子偵測為主要觀察工具。由於黏土礦物之主要元素成份以原子序較低的矽、鋁氧化物和其他少量金屬鐵、鎂、鈣、鈉、鉀等,因此在背向散射電子影像中,黏土礦物多分佈在深暗色區域。 另外,使用加裝於SEM之元素能量分析儀(Energy Dispersion Spectrometer, EDS),可透過搜集激發電子束產生的X光進行礦物化學組成之定性和半定量分析。EDS操作環境為電子加速電壓15 kV、放大倍率為2000倍以及接收100秒X光光譜時間。使用INCA 軟體(Revision 4.09),鈦元素光譜校準,搜集測量結果之各氧化物重量百分比,混層伊萊石/膨潤石黏土礦物的化學式以22顆氧原子,計算化學式中的陽離子數,部分鋁離子納入四面體網格計算,即矽和鋁離子總和為8;剩餘鋁離子和鐵、鈦、鎂和鈉則被歸為八面體網格計算(Klein, 2002)。

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