光电子技术实验_实验六实验报告

光电子技术实验_实验六实验报告
光电子技术实验_实验六实验报告

光电子技术实验报告

实验六电光调制

一、实验目的

1.深入理解横向电光晶体的线性光电效应原理。

2.观测横向电光调解器的直流电压、交流电压调制规律。

3.熟悉光电子技术中信号调制和解调的过程

二、实验原理

见后附预习报告

三、实验装置

实验平台,He-Ne激光器,起偏器,横向电光晶体,检偏器,四分之一波片,光功率计,示波器等。

四、实验内容

1.测量LiNbO3晶体横向电光调制器的直流调制曲线。

测量条件:起偏器、检偏器正交,起偏器的透光轴方向与晶体的x轴平行。

画出I-V曲线并与理论值比较,确定半波电压。

2.观察调制器的正弦波电压调制规律

3.旋转四分之一波片,可得到不同的直流偏置。

a)观察?D=0、π/2 两种情况下正弦信号的调制规律,在示波器上比较

输出信号的频率、幅度与调制信号的关系

b)观察?D变为其他情况时调制器工作情况

c)改变调制信号的幅度,观察调制器输出变化情况

d)改变其他实验条件,观察调制器输出变化情况

五、原始数据

后附原始记录数据。

六、数据分析处理

1.测量LiNbO3晶体横向电光调制器的直流调制曲线。

原始测量数据见后附。经整理后绘制直流调制曲线如下:

由测量数据可得,半波电压约为375V

2.观察调制器的正弦波电压调制规律

a)观察?D=0、π/2 两种情况下正弦信号的调制规律,在示波器上比较

输出信号的频率、幅度与调制信号的关系

调节四分之一波片的旋转角度,当输出信号幅度最大时,即?D=π/2,此时,在示波器上观察得到波形如下图

上面一段为channel1,是输入波形;下面一段为channel2,是输出波形。

经测量,输入信号与输出信号频率一致,约为1kHz(实测为965.6Hz);

输入信号幅值为1.12V,输出信号幅值仅为71mv;输入信号均值为11.7mv

(直流分量接近于0),输出信号均值为106mv(直流分量较大,信号最小值并不为0)。

即,?D=π/2时,输入输出信号频率一致(不是直流调制曲线的极值点附近,因此没有出现倍频);输出信号与输入信号相位相同(示波器波形相位相反是由于采集输出信号时进行了反相放大);输出信号幅度与输入信号不一致,但此处是输出信号幅值最大的点(?D=π/2时,直流调制曲线斜率最大,放大倍数最大);输出信号直流分量不为0,这一点与理论有所不符,为了对照,我们将输入光强调为0,测量输出信号,发现输出信号是约为41.2mV的直流信号,该直流信号大小与输入光强非0时输出信号的直流分量相当,由此可见输出信号直流分量不为0属于系统(示波器)自带的固有误差。

调节四分之一波片的旋转角度,当输出信号幅值接近0,并且在该点附近输出信号为输入信号2倍频率时,即?D=0,此时,在示波器上观察得到波形如下图

上面一段为channel1,是输入波形;下面一段为channel2,是输出波形。

经测量,输出信号频率为1.92kHz(约为输入信号实测频率965.6Hz的2倍);输入信号幅值为1.12V,输出信号幅值仅为9.2mV;输入信号均值为11.7mv(直流分量接近于0),输出信号均值为57.4mV。

即,?D=0时,输出信号频率约为输入信号的2倍(在直流调制曲线的极小值附近,输入信号的正负半周经放大后均为正半周,因此出现2倍频);此处是输出信号幅值最小的点(?D=0时,直流调制曲线斜率约为0,放大倍数约为0);输出信号直流分量不为0,这一点与理论有所不符,前面已有解释。

b)观察?D变为其他情况时调制器工作情况

旋转四分之一波片一周,可以看到输出信号的均值、幅度、频率都随着?D变化而变化。

由于调制范围有限,因此观察到?D从某个截止相位?1到?2之间来回运动,?1介于-π/2和-π之间,?2介于π/2和π之间。在?D从?1到?2之间变化时,输出信号幅值从一个非零值先增大(?D介于?1和-π/2之间),再减小至0(?D介于-π/2和0之间),然后增大至最大值(?D介于0和π/2之间),之后又逐渐减小至一非零值(?D介于π/2和?2之间)。

c)改变调制信号的幅度,观察调制器输出变化情况

将输入信号幅值由原来的1.12V增大至1.54V,观察得到φ

D =π

2

时输出

信号幅值为122mV,均值为206mV,幅值有所增大,这是理所当然的,输入信号幅值增大,在同一个工作点附近,放大倍数基本不变的情况下,输出

信号幅值自然会增大。而φ

D

=0时输出信号幅值为19mV,均值为-68mV,

幅值相比之前没有太大变化,这也很好解释,在φ

D

=0附近,放大倍数约为0,因此输入信号幅值增大并不改变影响输出信号幅值约为0的特点。3.语音信号调制

调制波形如下图:

可见跳之前后波形没有失真,通过解调后音箱播放也可正常听到无失真的音乐。

4.起偏器检偏器平行时交、直流调制曲线

原始数据见后附。经整理,直流调制曲线如下图:

a)观察?D=π、π/2 两种情况下正弦信号的调制规律,在示波器上比较

输出信号的频率、幅度与调制信号的关系

调节四分之一波片的旋转角度,当输出信号幅度最大时,即?D=

π/2,此时,在示波器上观察得到波形如下图

幅度较小的为channel1,是输入波形;幅度较大的为channel2,是输出波形。

经测量,输入信号与输出信号频率一致,约为1kHz(实测为965.6Hz);输入信号幅值为1.54V,输出信号幅值仅为56mv;输入信号均值为13.1mv (直流分量接近于0),输出信号均值为121mv(直流分量较大,信号最小值并不为0)。输入与输出信号相位一致,只是由于示波器反相放大作用,导致波形显示为反相。

即,?D=π/2时,输入输出信号频率一致(不是直流调制曲线的极值点附近,因此没有出现倍频);输出信号与输入信号相位相同(示波器波形相位相反是由于采集输出信号时进行了反相放大);输出信号幅度与输入信号不一致,但此处是输出信号幅值最大的点(?D=π/2时,直流调制曲线斜率最大,放大倍数最大);输出信号直流分量不为0,这一点与理论有所不符,为了对照,我们将输入光强调为0,测量输出信号,发现输出信号是约为52mV的直流信号,该直流信号大小与输入光强非0时输出信号的直流分量相当,由此可见输出信号直流分量不为0属于系统(示波器)自带的固有误差。

调节四分之一波片的旋转角度,当输出信号幅值接近0,并且在该点附近输出信号为输入信号2倍频率时,即?D=π,此时,在示波器上观察得到波形如下图

上面一段为channel1,是输入波形;下面一段为channel2,是输出波形。

经测量,输出信号频率约为输入信号频率的2倍;输入信号幅值为

1.54V,输出信号幅值仅为16mV(接近于0);输入信号均值为13.1mv(直流

分量接近于0),输出信号均值为209mV。

即,?D=π时,输出信号频率约为输入信号的2倍(在直流调制曲线的极小值附近,输入信号的正负半周经放大后均为正半周,因此出现2倍

频);此处是输出信号幅值最小的点(?D=π时,直流调制曲线斜率约为0,放大倍数约为0);输出信号直流分量不为0,这一点与理论有所不符,前面已有解释。

七、实验总结

本次实验第一次接触电光调制这一新颖的调制方式,它将相位差信息转变为光强信息,从而进行调制传输,十分有趣。实验过程中遇到了不少困惑,好在在老师的耐心帮助下都一一解决了。例如,在测量交流调制特性时,发现理论上输出信号直流分量应为0处实测不为0,甚至有较大偏差,经老师指导才知道这是示波器自带的放大器造成的偏差。另外在测量光功率时,发现测到后面功率显示十分不平稳,导致无法正确读数,经老师指导后,快速测量才得到正确的曲线。通过电光调制解调将播放器的音乐重现出来时感觉很神奇,可以用手遮挡光路就可静音,调节偏振片旋转角度即可间接调节音量等等。总之通过这次实验学到了很多,感谢老师和助教的帮助。

电气检测技术试验报告

本科生实验报告 实验课程电气测试技术学院名称核技术与自动化工程学院专业名称电气工程及其自动化学生姓名刘恒学生学号50504 指导教师王洪辉实验地点逸夫楼6C801 实验成绩 二O—四年十二月 填写说明 1、适用于本科生所有的实验报告(印制实验报告册除外); 2、专业填写为专业全称,有专业方向的用小括号标明; 3、格式要求: ①用 A4 纸双面打印(封面双面打印)或在 A4 大小纸上用蓝黑色水笔书写。 ②打印排版:正文用宋体小四号,倍行距,页边距采取默认形式(上下,左右,页 眉1.5cm,页脚1.75cm)。字符间距为默认值(缩放100%间距:标准);页码用小五号字底 端居中。 ③具体要求: 题目(二号黑体居中); 摘要(“摘要”二字用小二号黑体居中,隔行书写摘要的文字部分,小 4 号宋体);关 键词(隔行顶格书写“关键词”三字,提炼 3-5 个关键词,用分号隔开,小 4 号黑体); 正文部分采用三级标题; 第1章XX (小二号黑体居中,段前行) XXXXX小三号黑体XXXXX(段前、段后行) 1.1.1 小四号黑体(段前、段后行) 参考文献(黑体小二号居中,段前行),参考文献用五号宋体,参照《参考文献著录规则

( GB/T 7714-2005)》。

实验一 金属箔式应变片性能 一单臂电桥 (910 型 998B 型) 1.1实验目的 (1) 了解金属箔式应变片,单臂单桥的工作原理和工作情况。 (2) 观察了解箔式应变片的结构及粘贴方式; (3) 测试应变梁变形的应变输出; (4) 熟悉传感器常用参数的计算方法。 实验原理 本实验说明箔式应变片及单臂单桥的工作原理和工作情况。应变片是最常用的测力 传感元 件。当用应变片测试时,应变片要牢固地粘贴在测试体表面,当测件受力发生形 变,应变片的敏感栅随同变形,其电阻也随之发生相应的变化,通过测量电路,转换成 电信号输出显示。 电桥电路是最常用的非电量电测电路中的一种, 当电桥平衡时,桥路对臂电阻乘积 R1、R2 R3 R4中,电阻的相对变化率分别为 2迟;用四个应变片组成二个差对工作,且 R R1=R2=R3=R4=R, R 仆 R 。 由此可知,单臂、半桥、全桥电路的灵敏度依次增大。 所需单元及部件:直流稳压电源、差动放大器、双平衡梁、测微头、一片应变片、 F/V 表、主、副电源。 旋转初始位置:直流稳压电源打到 2V 档,F/V 表打到2V 档,差动放大增益最大。 实验步骤 了解所需单元、部件在试验仪上的所在位置,观察梁上的应变片, 应变片为棕色衬 底箔式结 构小方薄片。上下二片梁的外表面各贴二片受力应变片和一片补偿应变片, 测 微头在双平行梁前面的支座上,可以上、下、前、后、左、右调节。 将差动放大器调零:用连线将差动放大器的正(+)、负(-)、地短接。将差动放大 器的输 出端与F/V 表的输入插口 Vi 相连;开启主、副电源;调节差动放大器的增益到 最大位置,然后调整差动放大器的调零旋钮使 F/V 表显示为零,关闭主、副电源。 相等,电桥输出为零,在桥臂四个电阻 R1/R1、差动状态工作,则有

材料分析方法实验报告

篇一:材料分析方法实验报告 篇二:材料分析方法课程设计报告 材料分析测试方法 课程设计(论文) 题目:磁控溅射c/w多层膜成分及微观分析 学院材料科学与工程 专业材料化学 班级材化082 学生王维娜 学号 3080101296 指导教师陈迪春 起止时间 2010.12.27-2011.1.1 年 材料分析测试方法课程设计任务书 课程设计内容要求: 掌握高分辨透射电子显微镜样品制备方法,学习并了解真空镀膜 技术-磁控溅射技术,多层膜制备过程,以及其微观结构分析,成分 分析所用仪器和原理。 学生(签名) 月日 材料分析测试方法课程设计评语 指导教师(签名) 年日 目录 材料分析测试方法 ............................................................................. .. (1) 1.1 磁控溅射 ............................................................................. (5) 1.2 x射线衍射仪 ............................................................................. . (5) 1.3 透射电子显微镜 ............................................................................. (6) 1.4 x射线光电子能谱仪(xps) ........................................................................ (7) 第二章实验方法 ............................................................................. .. (9) 2.1 tem样品的制备方法 .............................................................................

电子科技大学选修单片机实验报告

电子科技大学学院实验报告 实验名称现代电子技术综合实验 姓名: 学号: 评分: 教师签字 电子科技大学教务处制

电子科技大学 实验报告 学生姓名:学号:指导教师:熊万安 实验地点:211大楼308 实验时间: 一、实验室名称:单片机技术综合实验室 二、实验项目名称:数码管显示A/D转换电压值及秒表 三、实验学时:12 四、实验目的与任务: 1、熟悉系统设计与实现原理 2、掌握KEIL C51的基本使用方法 3、熟悉实验板的应用 4、连接电路,编程调试,实现各部分的功能 5、完成系统软件的编写与调试 五、实验器材 1、PC机一台 2、实验板一块 六、实验原理、步骤及内容 试验要求: ①、数码管可在第2位到第4位显示A/D转换的电压值, 可调电压,数码管第5位显示“-”号,第6、7位显示2位学 号;

②、再按按键key1进行切换,此时数码管第6、7位显示从 学号到(学号值+5秒)的循环计时秒表,时间间隔为1秒。 按按键key2时,秒表停止计数,再按按键key2时,秒表继续 计数。按按键key1可切换回任务1的显示。 ③、当电压值大于2伏时,按按键不起作用。 1、硬件设计 2、各部分硬件原理 (相关各部分例如:数码管动态扫描原理;TLC549ADC特征及应用等) (1)数码管动态扫描原理 多位联体的动态数码管段选信号abcdefg和dp(相当于数据线是公用的,而位选信号com是分开的。扫描方法并不难,先把第1个数码管的显示数据送到abcdefg和dp,同时选通com1,而其它数码管的com信号禁止;延时一段时间(通常不超过10ms),再把第二个

数码管的显示数据送到abcdefg和dp,同时选通com2,而其他数码管的com信号禁止;延时一段时间,再显示下一个。注意,扫描整个数码管的频率应当保证在50Hz 以上,否则会看到明显的闪烁。 (2)TLC549ADC特征及应用等 当/CS变为低电平后,TLC549芯片被选中,同时前次转换结果的最高有效位MSB (A7)自DAT端输出,接着要求自CLK端输入8个外部时钟信号,前7个CLK信号的作用,是配合TLC549 输出前次转换结果的A6-A0 位,并为本次转换做准备:在第4个CLK 信号由高至低的跳变之后,片内采样/保持电路对输入模拟量采样开始,第8个CLK 信号的下降沿使片内采样/保持电路进入保持状态并启动A/D开始转换。转换时间为36 个系统时钟周期,最大为17us。直到A/D转换完成前的这段时间内,TLC549 的控制逻辑要求:或者/CS保持高电平,或者CLK 时钟端保持36个系统时钟周期的低电平。由此可见,在自TLC549的CLK 端输入8个外部时钟信号期间需要完成以下工作:读入前次A/D转换结果;对本次转换的输入模

电工和电子技术(A)1实验报告解读

实验一 电位、电压的测定及基尔霍夫定律 1.1电位、电压的测定及电路电位图的绘制 一、实验目的 1.验证电路中电位的相对性、电压的绝对性 2. 掌握电路电位图的绘制方法 三、实验内容 利用DVCC-03实验挂箱上的“基尔霍夫定律/叠加原理”实验电路板,按图1-1接线。 1. 分别将两路直流稳压电源接入电路,令 U 1=6V ,U 2=12V 。(先调准输出电压值,再接入实验线路中。) 2. 以图1-1中的A 点作为电位的参考点,分别测量B 、C 、D 、E 、F 各点的电位值φ及相邻两点之间的电压值U AB 、U BC 、U CD 、U DE 、U EF 及U FA ,数据列于表中。 3. 以D 点作为参考点,重复实验内容2的测量,测得数据列于表中。 图 1-1

四、思考题 若以F点为参考电位点,实验测得各点的电位值;现令E点作为参考电位点,试问此时各点的电位值应有何变化? 答: 五、实验报告 1.根据实验数据,绘制两个电位图形,并对照观察各对应两点间的电压情况。两个电位图的参考点不同,但各点的相对顺序应一致,以便对照。 答: 2. 完成数据表格中的计算,对误差作必要的分析。 答: 3. 总结电位相对性和电压绝对性的结论。 答:

1.2基尔霍夫定律的验证 一、实验目的 1. 验证基尔霍夫定律的正确性,加深对基尔霍夫定律的理解。 2. 学会用电流插头、插座测量各支路电流。 二、实验内容 实验线路与图1-1相同,用DVCC-03挂箱的“基尔霍夫定律/叠加原理”电路板。 1. 实验前先任意设定三条支路电流正方向。如图1-1中的I1、I2、I3的方向已设定。闭合回路的正方向可任意设定。 2. 分别将两路直流稳压源接入电路,令U1=6V,U2=12V。 3. 熟悉电流插头的结构,将电流插头的两端接至数字电流表的“+、-”两端。 4. 将电流插头分别插入三条支路的三个电流插座中,读出并记录电流值。 5. 用直流数字电压表分别测量两路电源及电阻元件上的电压值,记录之。 三、预习思考题 1. 根据图1-1的电路参数,计算出待测的电流I1、I2、I3和各电阻上的电压值,记入表中,以便实验测量时,可正确地选定电流表和电压表的量程。 答: 2. 实验中,若用指针式万用表直流毫安档测各支路电流,在什么情况下可能出现指针反偏,应如何处理?在记录数据时应注意什么?若用直流数字电流表进行测量时,则会有什么显示呢? 答:

检测技术实验报告

《检测技术实验》 实验报告 实验名称:第一次实验(一、三、五) 院(系):自动化专业:自动化 姓名:XXXXXX学号: XXXXXXXX 实验室:实验组别: 同组人员:实验时间:年月日评定成绩:审阅教师:

实验一金属箔式应变片――单臂电桥性能实验 一、实验目的:了解金属箔式应变片的应变效应,单臂电桥工作原理和性能。 二、实验仪器:应变传感器实验模块、托盘、砝码、数显电压表、±15V、±4V电源、万 用表、导线等。 三、实验原理:电阻丝在外力作用下发生机械变形时,其电阻值发生变化,这就是电阻应 变效应,描述电阻应变效应的关系式为:ΔR/R=Kε,式中ΔR/R为电阻丝电阻相对变化,K为应变灵敏系数,ε=Δl/l为电阻丝长度相对变化。金属箔式应变片就是通过光刻、腐蚀等工艺制成的应变敏感组件,如图1-1所示,四个金属箔应变片分别贴在弹性体的上下两侧,弹性体受到压力发生形变,上面的应变片随弹性体形变被拉伸,对应为模块面板上的R1、R3,下面的应变片随弹性体形变被压缩,对应为模块面板上的R2、R4。 图2-1 应变式传感器安装示意图 图2-2 应变传感器实验模板、接线示意图图2-3 单臂电桥工作原理

通过这些应变片转换被测部位受力状态变化、电桥的作用完成电阻到电压的比例变化,如图1-2所示R5、R6、R7为固定电阻,与应变片一起构成一个单臂电桥,其输出电压 E为电桥电源电压,式1-1表明单臂电桥输出为非线性,非线性误差为 四、实验内容与步骤 1、图1-1应变传感器上的各应变片已分别接到应变传感器模块左上方的R1、R 2、R 3、 R4上,可用万用表测量判别,R1=R2=R3=R4=350Ω。 2、从主控台接入±15V电源,检查无误后,合上主控台电源开关,将差动放大器的输入 端Ui短接,输出端Uo2接数显电压表(选择2V档),调节电位器Rw4,使电压表显示为0V。Rw4的位置确定后不能改动。关闭主控台电源。 3、将应变式传感器的其中一个应变电阻(如R1)接入电桥与R5、R6、R7构成一个单 臂直流电桥,见图1-2,接好电桥调零电位器Rw1,直流电源±4V(从主控台接入),电桥输出接到差动放大器的输入端Ui,检查接线无误后,合上主控台电源开关,调节Rw1,使电压表显示为零。 4、在应变传感器托盘上放置一只砝码,调节Rw3,改变差动放大器的增益,使数显电 压表显示2mV,读取数显表数值,保持Rw3不变,依次增加砝码和读取相应的数显表值,直到200g砝码加完,计下实验结果,填入下表1-1,关闭电源。 五、实验数据处理: 利用matlab拟合出的曲线如下:

实验1紫外可见吸收光谱实验报告

实验一:紫外—可见吸收光谱 一、实验目的 1.熟悉和掌握紫外—可见吸收光谱的使用方法 2.用紫外—可见吸收光谱测定某一位置样品浓度 3.定性判断和分析溶液中所含物质种类 二、实验原理 紫外吸收光谱的波长范围在200~400,可见光吸收光谱的波长在400~800,两者都属于电子能谱,两者都可以用朗伯比尔(Lamber-Beer’s Law)定律来描述 A=ε bc 其中A为吸光度;ε为光被吸收的比例系数;c为吸光物质的浓度,单位mol/L;b为吸收层厚度,单位cm 有机化合物的紫外-可 见吸收光谱,是其分子中外 层价电子跃迁的结果,其中 包括有形成单键的σ电 子、有形成双键的π电子、 有未成键的孤对n电子。外 层电子吸收紫外或者可见 辐射后,就从基态向激发态 (反键轨道)跃迁。主要有 四种跃迁,所需能量ΔE 大小顺序为σ→σ*> n→σ*>π→π>n→π* 吸收带特征典型基团 σ→σ*主要发生在远紫外区C-C、C-H(在紫外光区观测不到) 跃迁一般发生在150~250nm,因此在紫 n→σ* -OH、-NH 2 、—X、-S 外区不易观察到 跃迁吸收带波长较长,孤立跃迁一般发 π→π* 芳香环 生在200nm左右 跃迁一般发生在近紫外区(200~400n n→π* C=O、C=S、—N=O、-N=N-、C=N ; m) 1、开机 打开紫外-可见分光光度计开关→开电脑→软件→联接→M(光谱方法)进行调节实验需要的参数:波长范围 700-365nm 扫描速度高速;采样间隔: 0.5nm 2、甲基紫的测定

(1)校准基线 将空白样品(水)放到比色槽中,点击“基线”键,进行基线校准(2)标准曲线的测定 分别将5ug/ml、 10ug/ml 、15ug/ml、20ug/ml甲基紫溶液移入比色皿(大约2/3处),放到比色槽中,点击“开始”键,进行扫描,保存 (3)测定试样 将试样甲基紫溶液移入比色皿(大约2/3处),放到比色槽中,点击“开始"键,进行扫描,保存 3、甲基红的测定 (1)校准基线 将空白样品(乙醇)放到比色槽中,点击“基线"键,进行基线校准 (2)测定试样 将试样甲基紫溶液移入比色皿(大约2/3处),放到比色槽中,点击“开始" 键,进行扫描,保存 四、实验结果 1.未知浓度的测定 分别测定了5μg/ml,10μg/ml,15μg/ml,20μg/ml和未知浓度的甲基紫溶液的紫外吸收光谱,紫外吸收谱图如下: 甲基紫在580nm是达到最大吸收见下表: 浓度/μg*ml—1吸光度 50。665 10 1.274 152.048

电子技术基础实验报告要点

电子技术实验报告 学号: 222014321092015 姓名:刘娟 专业:教育技术学

实验三单级交流放大器(二) 一、实验目的 1. 深入理解放大器的工作原理。 2. 学习测量输入电阻、输出电阻及最大不失真输出电压幅值的方法。 3. 观察电路参数对失真的影响. 4. 学习毫伏表、示波器及信号发生器的使用方法。 二. 实验设备: 1、实验台 2、示波器 3、数字万用表 三、预习要求 1、熟悉单管放大电路。 2、了解饱和失真、截止失真和固有失真的形成及波形。 3、掌握消除失真方法。 四、实验内容及步骤 ●实验前校准示波器,检查信号源。 ●按图3-1接线。 图3-1 1、测量电压参数,计算输入电阻和输出电阻。 ●调整RP2,使V C=Ec/2(取6~7伏),测试V B、V E、V b1的值,填入表3-1中。 表3-1 Array ●输入端接入f=1KHz、V i=20mV的正弦信号。 ●分别测出电阻R1两端对地信号电压V i及V i′按下式计算出输入电阻R i : ●测出负载电阻R L开路时的输出电压V∞,和接入R L(2K)时的输出电压V0 , 然后按下式计算出输 出电阻R0;

将测量数据及实验结果填入表3-2中。 2、观察静态工作点对放大器输出波形的影响,将观察结果分别填入表3-3,3-4中。 ●输入信号不变,用示波器观察正常工作时输出电压V o的波形并描画下来。 ●逐渐减小R P2的阻值,观察输出电压的变化,在输出电压波形出现明显失真时,把失真的波形描 画下来,并说明是哪种失真。( 如果R P2=0Ω后,仍不出现失真,可以加大输入信号V i,或将R b1由100KΩ改为10KΩ,直到出现明显失真波形。) ●逐渐增大R P2的阻值,观察输出电压的变化,在输出电压波形出现明显失真时,把失真波形描画 下来,并说明是哪种失真。如果R P2=1M后,仍不出现失真,可以加大输入信号V i,直到出现明显失真波形。 表 3-3 ●调节R P2使输出电压波形不失真且幅值为最大(这时的电压放大倍数最大),测量此时的静态工 作点V c、V B、V b1和V O 。 表 3-4 五、实验报告 1、分析输入电阻和输出电阻的测试方法。 按照电路图连接好电路后,调节RP2,使Vc的值在6-7V之间,此时使用万用表。接入输入信号1khz 20mv后,用示波器测试Vi与Vi’,记录数据。用公式计算出输入电阻的值。在接入负载RL和不接入负载时分别用示波器测试Vo的值,记录数据,用公式计算出输出电阻的值。 2、讨论静态工作点对放大器输出波形的影响。 静态工作点过低,波形会出现截止失真,即负半轴出现失真;静态工

化工产品分析检测技术实验报告_图文.

前言 仪器分析是一种科学实验的手段,利用它可以获取所需要的信息,仪器分析实验的目的是通过实验教学,包括严格的基本操作训练,实验方案设计,实验数据处理,谱图解析,实验结果的表述及问题分析,掌握仪器的原理、结构、各主要部件的功能及操作技能,了解各种仪器分析技术在科学研究领域的应用,培养理论联系实际、利用掌握的知识解决问题的能力,培养良好的科学作风和独立从事科学实践能力。 在这门课程的学习中,我们了解了原子吸收光谱法、紫外可见分光光度法、红外光谱法、气相色谱法、高效液相色谱法、离子色谱法等仪器分析的方法。其中,我们重点学习了离子色谱法和原子吸收光谱法,并进行了实验操作,下面介绍一下原子吸收光谱法和离子色谱法测浓度。 二、原子吸收光谱法 1.原子吸收光谱法概述: 光谱仪器的产生原子吸收光谱作为一种实用的分析方法是从1955年开始的。这一年澳大利亚的瓦尔什(A.Walsh发表了他的著名论文“原子吸收光谱在化学分析中的应用”奠定了原子吸收光谱法的基础。50年代末和60年代初, Hilger, Varian Techtron及Perkin-Elmer公司先后推出了原子吸收光谱商品仪器,发展了瓦尔西的设计思想。到了60年代中期,原子吸收光谱开始进入迅速发展的时期。电热原子吸收光谱仪器的产生1959年,苏联里沃夫发表了电热原子化技术的第一篇论文。电热原子吸收光谱法的绝对灵敏度可达到10-10g,使原子吸收光谱法向前发展了一步。原子吸收分析仪器的发展随着原子吸收技术的发展,推动了原子吸收仪器的不断更新和发展,而其它科学技术进步,为原子吸收仪器的不断更新和发展提供了技术和物质基础。近年来,使用连续光源和中阶梯光栅,结合使用光导摄象管、二极管阵列多元素分析检测器,设计出了微机控制的原子吸收分光光度计,为解决多元素同时测定开辟了新的前景。微机控制的原子吸收光谱系统简化了仪器结构,提高了仪器的自动化程度,改善了测定准确度,使原子吸收光谱法的面貌发生了重大的变化。

半导体a谱仪实验报告

实验6:半导体α谱仪 实验目的 1.了解α谱仪的工作原理及其特性。 2.掌握应用谱仪测量α粒子能谱的方法。 3.测定241Am核素的α衰变的相对强度。 内容 1.调整谱仪参量,测量不同偏压下的α粒子能量,并确定探测器的工作偏压。 2.测定谱仪的能量分辨率,并进行能量刻度。 3.测量未知α源的能谱,并确定α粒子能量。 原理 半导体α谱仪的组成如图1所示。 金硅面垒探测器是用一片N型硅,蒸上一薄层金(100-2000 A),接近金膜的那一 层硅具有P型硅的特性,这种方式形成的PN结靠近表面层,结区即为探测粒子的灵敏区。探测器工作加反向偏压。α粒子在灵敏区内损失能量转变为与其能量成正比的电脉冲信号,经放大并由多道分析器测出幅度的分布,从而给出带电粒子的能谱。偏置放大器的作用是当多道分析器的道数不够用时,利用它切割、展宽脉冲幅度,以利于脉冲幅度的精确分析。为了提高谱仪的能量分辨率,探测器要放在真空室中。另外金硅面垒探测器一般具有光敏的特性,在使用过程中,应有光屏蔽措施。 金硅面垒型半导体α谱仪具有能量分辨率高、能量线性范围宽、脉冲上升时间快、体积小和价格便宜等优点,在α粒子及其它重带电粒子能谱测量中有着广泛的应用。 带电粒子进入灵敏区,损失能量产生电子空穴对。形成一对电子空穴所需的能量w,与半导体材料有关,与入射粒子的类型和能量无关。对于硅,在300K时,w为3.62eV,77K时为3.76eV。对于锗,在77K时w为2.96eV。若灵敏区的厚度大于入射

粒子在硅中的射程,则带电粒子的能量E 全部损失在其中,产生的总电荷量Q 等于 e w E )/(。w E /为产生的电子空穴对数,e 为电子电量。由于外加偏压,灵敏区的电 场强度很大,产生的电子空穴对全部被收集,最后在两极形成电荷脉冲。通常在半导体探测器设备中使用电荷灵敏前置放大器。它的输出信号与输入到放大器的电荷量成正比。 探测器的结电容d C 是探测器偏压的函数,如果核辐射在探测器中产生电荷量为Q ,那么探测器输出脉冲幅度是d C Q /。因此,由于探测器偏压的微小变化所造成的d C 变化将影响输出脉冲的幅度。事实上,电源电压的变化就可以产生偏压近种微小变化。此外,根据被测粒子的射程调节探测器的灵敏区厚度时,也往往需要改变探测器的偏压。要减少这些变化对输出脉冲幅度的影响,前级放大器对半导体探测器系统的性能越着重要的作用。图2表示典型探测器的等效电路和前置放大器的第一级。其中一K 是放大器的开环增益,f C 是反馈电容,1C 是放大器的总输入电容,它等于 '',C C C d +是放大器插件电缆等寄生电容。前置放大器的输入信号是d C Q /,它的等 到效输入电容近似等于f KC ,只要1C KC f >>,那么前置放大器的输出电压为 f f C Q C K C KQ V - =++- =)1(10 ( 1 ) 这样一来,由于选用了电荷灵敏放大器作为前级放大器,它的输出信号与输入电荷Q 成正比,而与探测器的结电容d C 无关。 1. 确定半导体探测器偏压

现代电子技术综合实验报告 熊万安

电子科技大学通信与信息工程学院实验报告 实验名称现代电子技术综合实验 姓名: 学号: 评分: 教师签字 电子科技大学教务处制

电子科技大学 实验报告 学生姓名:学号:指导教师:熊万安 实验地点:科A333 实验时间:2016.3.7-2016.3.17 一、实验室名称:电子技术综合实验室 二、实验项目名称:电子技术综合实验 三、实验学时:32 四、实验目的与任务: 1、熟悉系统设计与实现原理 2、掌握KEIL C51的基本使用方法 3、熟悉SMART SOPC实验箱的应用 4、连接电路,编程调试,实现各部分的功能 5、完成系统软件的编写与调试 五、实验器材 1、PC机一台 2、SMART SOPC实验箱一套 六、实验原理、步骤及内容 试验要求: 1. 数码管第1、2位显示“1-”,第3、4位显示秒表程序:从8.0秒到1.0秒不断循环倒计时变化;同时,每秒钟,蜂鸣器对应发出0.3秒的声音加0.7秒的暂停,对应第8秒到第1秒,声音分别为“多(高

音1)西(7)拉(6)索(5)发(4)米(3)莱(2)朵(中音1)”;数码管第5位显示“-”号,数码管第6、7、8位显示温度值,其中第6、7位显示温度的两位整数,第8位显示1位小数。按按键转到任务2。 2. 停止声音和温度。数码管第1、2位显示“2-”,第3、4位显示学号的最后2位,第5位显示“-”号,第6到第8位显示ADC电压三位数值,按按鍵Key后转到任务3,同时蜂鸣器发出中音2的声音0.3秒; 3. 数码管第1、2位显示“3-”,第3、4位显示秒表程序:从8.0秒到1.0秒不断循环倒计时变化;调节电压值,当其从0变为最大的过程中,8个发光二极管也从最暗(或熄灭)变为最亮,当电压值为最大时,秒表暂停;当电压值为最小时,秒表回到初始值8.0;当电压值是其他值时,数码管又回到第3、4位显示从8.0秒到1.0秒的循环倒计时秒表状态。按按鍵Key回到任务1,同时蜂鸣器发出中音5的声音0.3秒。

电子技术实验报告—实验4单级放大电路

电子技术实验报告 实验名称:单级放大电路 系别: 班号: 实验者姓名: 学号: 实验日期: 实验报告完成日期: ?

目录 一、实验目的 (3) 二、实验仪器 (3) 三、实验原理 (3) (一)单级低频放大器的模型和性能 (3) (二)放大器参数及其测量方法 (5) 四、实验内容 (7) 1、搭接实验电路 (7) 2、静态工作点的测量和调试 (8) 3、基本放大器的电压放大倍数、输入电阻、输出电阻的测量 (9) 4、放大器上限、下限频率的测量 (10) 5、电流串联负反馈放大器参数测量 (11) 五、思考题 (11) 六、实验总结 (11)

一、实验目的 1.学会在面包板上搭接电路的方法; 2.学习放大电路的调试方法; 3.掌握放大电路的静态工作点、电压放大倍数、输出电阻和通频带测量方法; 4.研究负反馈对放大器性能的影响;了解射级输出器的基本性能; 5.了解静态工作点对输出波形的影响和负载对放大电路倍数的影响。 二、实验仪器 1.示波器1台 2.函数信号发生器1台 3. 直流稳压电源1台 4.数字万用表1台 5.多功能电路实验箱1台 6.交流毫伏表1台 三、实验原理 (一) 单级低频放大器的模型和性能 1. 单级低频放大器的模型 单级低频放大器能将频率从几十Hz~几百kHz的低频信号进行不失真地放大,是放大器中最基本的放大器,单级低频放大器根据性能不同科分为基本放

大器和负反馈放大器。 从放大器的输出端取出信号电压(或电流)经过反馈网络得到反馈信号电压(或电流)送回放大器的输入端称为反馈。若反馈信号的极性与原输入信号的极性相反,则为负反馈。 根据输出端的取样信号(电压或电流)与送回输入端的连接方式(串联或并联)的不同,一般可分为四种反馈类型——电压串联反馈、电流串联反馈、电压并联反馈和电流并联反馈。负反馈是改变房卡器及其他电子系统特性的一种重要手段。负反馈使放大器的净输入信号减小,因此放大器的增益下降;同时改善了放大器的其他性能:提高了增益稳定性,展宽了通频带,减小了非线性失真,以及改变了放大器的输入阻抗和输出阻抗。负反馈对输入阻抗和输出阻抗的影响跟反馈类型有关。由于串联负反馈实在基本放大器的输入回路中串接了一个反馈电压,因而提高了输入阻抗,而并联负反馈是在输入回路上并联了一个反馈电流,从而降低了输入阻抗。凡是电压负反馈都有保持输出电压稳定的趋势,与此恒压相关的是输出阻抗减小;凡是电流负反馈都有保持输出电流稳定的趋势,与此恒流相关的是输出阻抗增大。 2.单级电流串联负反馈放大器与基本放大器的性能比较 电路图2是分压式偏置的共射级基本放大电路,它未引入交流负反馈。 电路图3是在图2的基础上,去掉射极旁路电容C e,这样就引入了电流串联负反馈。

现代检测技术实验报告

实验一金属箔式应变片单臂电桥性能实验 一、实验目的 了解金属箔式应变片的应变效应,掌握单臂电桥工作原理和性能。 二、实验内容 将应变式传感器的其中一个应变片接入电桥作为一个桥臂,构成直流电桥,利用应变式传感器实现重量的测量。 三、实验所用仪表及设备 应变式传感器实验模板、应变式传感器、砝码(每只约20g)、数显表、±15V电源数、±4V电源、数字万用表。 四、实验步骤 1、根据图1-1,应变式传感器已装于应变传感器模板上。传感器中各应变片已接入模板左上方的R1、R 2、R 3、R4标志端。加热丝也接于模板上,可用万用表进行测量判别,R1=R2=R3=R4=350Ω,加热丝阻值约为50Ω左右。 图1-1 应变片传感器安装示意图 2、实验模板差动放大器调零,方法为: (1)接入模板电源±15V,检查无误后,合上主控台电源开关,将实验模板增益调节电位器Rw3顺时针调节到大致中间位置;(2)将差放的正、负输入端与地短接,V o1输出端与数显电压表输入端Vi相连,调节实验模板上调零电位器RW4,使数显表显示为零(数显表的切换开关打到2V档),完毕后关闭主控台电源。 3、参考图1-2接入传感器,将应变式传感器的其中一个应变片R1接入电桥作为一个桥臂,它与R5、R6、R7接成直流电桥(R5、R6、R7在模块内已连接好),检查接线无误后,合上主控台电源开关,用数字万用表测量主控台到应变式传感器模块上的±5V、±15V电压值是否稳定?若电压波动值大于10mV,应反复拔插相应的电源连接线,直至电压稳定,不再波动为止,然后粗调节Rw1,再细调RW4使数显表显示为零。 4、在传感器托盘上放置1只砝码,读取数显表显示值,依次增加砝码并读取相应的数显表数值,记下实验结果填入表1-1。

透射电镜实验报告

透射电镜实验报告 实验报告 课程名称电镜技术成绩姓名学号实验日期 2013.3.27 实验名称透射电子显微镜原理、结构、性能及成像方指导教师 式 一、实验目的与任务 1. 初步了解透射电镜操作过程 2. 初步掌握样品的制样方法(主要是装样过程) 3.拍摄多晶金晶体的低分辨率照片(<300000倍)和高分辨率照片(>300000 倍),并对相关几何参数、形态给予描述。用能谱分析仪对样品的成分进行分析。 二、实验基本原理 1.仪器原理 透射电子显微镜是以图像方式提供样品的检测结果,其成像的决定因素是样品对入射电子的散射,包括弹性散射和非弹性散射两个过程。样品成像时,未经散射的电子构成背景,而像的衬底取决于样品各部分对电子的不同散射特性。采用不同的实验条件可以得到不同的衬底像,透射电子显微镜不仅能显示样品显微组织的形貌,而且可以利用电子衍射效应同样获得样品晶体学信息。本次实验将演示透射电镜的透射成像方式和衍射成像方式。 (1)成像方式 电子束通过样品进入物镜,在其像面形成第一电子像,中间镜将该像放大,成像在自己的像面上,投影镜再将中间镜的像放大,在荧光屏上形成最终像。 (2)衍射方式

如果样品是晶体,它的电子衍射花样呈现在物镜后焦面上,改变中间镜电流,使其对物镜后焦面成像,该面上的电子衍射花样经中间镜和投影镜放大,在荧光屏上获得电子衍射花样的放大像。 2.仪器结构 主机主要由:照明系统、样品室、放大系统、记录系统四大部分构成。 3.透射电子显微镜的样品制备技术 4.图像观察拍照技术 透射电镜以图像提供实验结果。在观察样品之前对电子光学系统进行调查,包括电子枪及象散的消除。使仪器处于良好状态。观察过程中选合适的加速电压和电流。明场、暗场像及选区电子衍射的观察和操作方法不同,应按况选择。三、实验方法与步骤 1( 登陆计算机 2( 打开操作软件 3( 检查电镜状态 4( 装载样品 5( 插入样品杆 6( 加灯丝电流 7( 开始操作 8( 结束操作 9( 取出样品杆 10( 卸载样品 11( 刻录数据 12( 关闭操作软件 13( 退出计算机

现代电子实验报告 电子科技大学

基于FPGA的现代电子实验设计报告 ——数字式秒表设计(VHDL)学院:物理电子学院 专业: 学号: 学生姓名: 指导教师:刘曦 实验地点:科研楼303 实验时间:

摘要: 通过使用VHDL语言开发FPGA的一般流程,重点介绍了秒表的基本原理和相应的设计方案,最终采用了一种基于FPGA 的数字频率的实现方法。该设计采用硬件描述语言VHDL,在软件开发平台ISE上完成。该设计的秒表能准确地完成启动,停止,分段,复位功能。使用ModelSim 仿真软件对VHDL 程序做了仿真,并完成了综合布局布线,最终下载到EEC-FPGA实验板上取得良好测试效果。 关键词:FPGA,VHDL,ISE,ModelSim

目录 绪论 (4) 第一章实验任务 (5) 第二章系统需求和解决方案计划 (5) 第三章设计思路 (6) 第四章系统组成和解决方案 (6) 第五章各分模块原理 (8) 第六章仿真结果与分析 (11) 第七章分配引脚和下载实现 (13) 第八章实验结论 (14)

绪论: 1.1课程介绍: 《现代电子技术综合实验》课程通过引入模拟电子技术和数字逻辑设计的综合应用、基于MCU/FPGA/EDA技术的系统设计等综合型设计型实验,对学生进行电子系统综合设计与实践能力的训练与培养。 通过《现代电子技术综合实验》课程的学习,使学生对系统设计原理、主要性能参数的选择原则、单元电路和系统电路设计方法及仿真技术、测试方案拟定及调测技术有所了解;使学生初步掌握电子技术中应用开发的一般流程,初步建立起有关系统设计的基本概念,掌握其基本设计方法,为将来从事电子技术应用和研究工作打下基础。 本文介绍了基于FPGA的数字式秒表的设计方法,设计采用硬件描述语言VHDL ,在软件开发平台ISE上完成,可以在较高速时钟频率(48MHz)下正常工作。该数字频率计采用测频的方法,能准确的测量频率在10Hz到100MHz之间的信号。使用ModelSim仿真软件对VHDL程序做了仿真,并完成了综合布局布线,最终下载到芯片Spartan3A上取得良好测试效果。 1.2VHDL语言简介:

数字电子技术实验报告汇总

《数字电子技术》实验报告 实验序号:01 实验项目名称:门电路逻辑功能及测试 学号姓名专业、班级 实验地点物联网实验室指导教师时间2016.9.19 一、实验目的 1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。 2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。 3、学会检测基本门电路的方法。 二、实验仪器及材料 1、仪器设备:双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件: 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片 三、预习要求 1. 预习门电路相应的逻辑表达式。 2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。 四、实验内容及步骤 实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常,然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座,按自己设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯片不能插反。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。实验中

1.与非门电路逻辑功能的测试 (1)选用双四输入与非门74LS20一片,插入数字电路实验箱中对应的IC座,按图1.1接线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K4的逻辑开关输出插口,输出端接电平显 图 1.1 示发光二极管D1~D4任意一个。 (2)将逻辑开关按表1.1的状态,分别测输出电压及逻辑状态。 表1.1 输入输出 1(k1) 2(k2) 4(k3) 5(k4) Y 电压值(v) H H H H 0 0 L H H H 1 1 L L H H 1 1 L L L H 1 1 L L L L 1 1 2. 异或门逻辑功能的测试

图 1.2 (1)选二输入四异或门电路74LS86,按图1.2接线,输入端1、2、4、5接逻辑开关(K1~K4),输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。 (2)将逻辑开关按表1.2的状态,将结果填入表中。 表1.2 输入输出 1(K1) 2(K2) 4(K35(K4) A B Y 电压(V) L H H H H L L L H H H H L L L H H L L L L L H H 1 1 1 1 1 1 1 1

一般检查实验报告

竭诚为您提供优质文档/双击可除 一般检查实验报告 篇一:检测技术实验报告 《检测技术实验》 实验名称:院(系):姓名:实验室:同组人员:评定成绩: 实验报告 第一次实验(一、三、五)自动化专业:自动化xxxxxx 学号:xxxxxxxx实验组别:实验时间:年月日审阅教师:实验一金属箔式应变片――单臂电桥性能实验 一、实验目的:了解金属箔式应变片的应变效应,单臂电桥工作原理和性能。 二、实验仪器:应变传感器实验模块、托盘、砝码、数显电压表、±15V、±4V电源、万 用表、导线等。 三、实验原理:电阻丝在外力作用下发生机械变形时,其电阻值发生变化,这就是电阻应 变效应,描述电阻应变效应的关系式为:ΔR/R=Kε,

式中ΔR/R为电阻丝电阻相对变化,K为应变灵敏系数,ε=Δl/l为电阻丝长度相对变化。金属箔式应变片就是通过光刻、腐蚀等工艺制成的应变敏感组件,如图1-1所示,四个金属箔应变片分别贴在弹性体的上下两侧,弹性体受到压力发生形变,上面的应变片随弹性体形变被拉伸,对应为模块面板上的R1、R3,下面的应变片随弹性体形变被压缩,对应为模块面板上的R2、R4。 图2-1应变式传感器安装示意图 图2-2应变传感器实验模板、接线示意图 图2-3单臂电桥工作原理 通过这些应变片转换被测部位受力状态变化、电桥的作用完成电阻到电压的比例变化,如图1-2所示R5、R6、R7为固定电阻,与应变片一起构成一个单臂电桥,其输出电压e为电桥电源电压,式1-1表明单臂电桥输出为非线性,非线性误差为 四、实验内容与步骤 1、图1-1应变传感器上的各应变片已分别接到应变传感器模块左上方的R1、R 2、R 3、 R4上,可用万用表测量判别,R1=R2=R3=R4=350Ω。 2、从主控台接入±15V电源,检查无误后,合上主控台电源开关,将差动放大器的输入 端ui短接,输出端uo2接数显电压表(选择2V档),

电子能谱XPS实验报告

实验报告 电子能谱实验

实验报告 一、 实验名称 电子能谱实验 二、 实验目的 (1) 了解X 光电子能谱(XPS )测量原理、仪器工作结构及应用; (2) 通过对选定的样品实验,初步掌握XPS 实验方法及谱图分析。 三、 实验原理 在现代材料分析中,表面问题是材料研究中很重要的部分。尤其是在微型材料、超薄 材料、薄膜材料和材料的表面处理等,都离不开表面科学。而X 光电子能谱(简称XPS )则是一项重要的表面分析方法。一定能量的X 光作用到样品上,将样品表面原子中的不同能级的电子激发成为自由电子,这些电子带有样品表面信息,具有特征能量,研究这类电子的能量分布,即为X 光电子能谱分析。 (1)光电发射 在具体介绍XPS 原理时,先介绍光电发射效应。光电发射是指,在轨道上运动的电子收到入射的光子的激发而由发射出去成为自由电子的过程。对于固体样品光电发射的能量关系如下: 'b k sa E h E νφ=--(固体)(1) 其中b E 为相对于费米能级的结合能,h ν为光子的能量,'k E 为光电子的动能,sa φ为样品的功函数。 光电发射示意图如下: 原子能级结合能b E 对于原子来说是特征的,具有特异性,可以用它来标识原子及原子能级。 由样品发射的光电子最终将会被探测器俘获,对于探测器有如下能量关系:

b k sp E h E νφ=--(探测器)(2) 式中,sp φ为探测器的功函数。如下图所示: (二)化学位移 XPS 在进行定量分析的时候,有一项很重要的应用就是化学态分析,其中包括化学位移和化学能移。 化学位移是指由于原子处于不同的化学环境而引起的结合能的位移(b E ?)。如化合过程+X+Y=X Y -,X 、Y 因电子的转移引起结合能的变化。相应的电子能谱也会发生改变,通过这种方法,还可以区别同一类原子处于何种能态,这为表面分析提供了很大的便利。 (三)X 光电子能谱仪原理示意图 如下图所示,由X 射线源发出的X 射线入射到样品表面,激发出自由光电子。光电子经过半球形能量分析器后被探测器吸收。探测器将光电子的所携带的信息转化为电信号,由示波器收集并在电脑中显示出来。 XPS 测量原理示意图 X 光电子能谱仪结构示意图

电工电子技术实验报告

电工电子技术实验报告 学院 班级 学号 姓名 天津工业大学电气工程与自动化学院电工教学部 二零一三年九月

目录 第一项实验室规则------------------------------------------------------------------ i 第二项实验报告的要求------------------------------------------------------------ i 第三项学生课前应做的准备工作------------------------------------------------ii 第四项基本实验技能和要求----------------------------------------------------- ii 实验一叠加定理和戴维南定理的研究------------------------------------------ 1实验二串联交流电路和改善电路功率因数的研究--------------------------- 7实验三电动机的起动、点动、正反转和时间控制--------------------------- 14实验四继电接触器综合性-设计性实验----------------------------------------20 实验五常用电子仪器的使用---------------------------------------------------- 22实验六单管低频电压放大器---------------------------------------------------- 29实验七集成门电路及其应用---------------------------------------------------- 33 实验八组合逻辑电路------------------------------------------------------------- 37实验九触发器及其应用---------------------------------------------------------- 40 实验十四人抢答器---------------------------------------------------------------- 45附录实验用集成芯片---------------------------------------------------------- 50

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