用各向异性磁阻效应测量磁场实验目的

用各向异性磁阻效应测量磁场实验目的
用各向异性磁阻效应测量磁场实验目的

用各向异性磁阻效应测量磁场实验目的

: 1.了解各向异性磁阻的原理并对其特性进行实验研究2.测量赫姆霍兹线圈的磁场分布3.测量地磁场实验仪器:ZKY-DCC 磁场实验仪,电源,水平校准仪,导线等。实验原理:磁场的测量可利用电磁感应、霍耳效应以及磁阻效应等各种效应,其中磁阻效应法发展最快,测量灵敏度最高。物质在磁场中电阻率发生变化的现象称为磁阻效应,磁阻传感器就是利用磁阻效应制成的,可用于直接测量磁场或磁场变化,如弱磁场测量,地磁场测量,各种导航系统中的罗盘,计算机中的磁盘驱动器,各种磁卡机等等。也可通过磁场变化测量其它物理量,如利用磁阻效应已制成各种位移、角度、转速传感器,各种接近开关,隔离开关,广泛用于汽车,家电及各类需要自动检测与控制的领域。磁阻元件的发展经历了半导体磁阻(MR),各向异性磁阻(AMR),,巨磁阻(GMR)庞磁阻(CMR)等阶段。本实验研究AMR 的特性并利用它对磁场进行测量。各向异性磁阻传感器AMR(Anisotropic Magneto-Resistive sensors)由沉积在硅片上的坡莫合金(Ni80 Fe20)薄膜形成电阻。沉积时外加磁场,形成易磁化轴方向。铁磁材料的电阻同电流与磁化方向的夹角有关,电流与磁化方向平行时电阻Rmax 最大,电流与磁化方向垂直时电阻Rmin 最小,电流与磁化方向成θ 角时,电阻可表示为:R Rmin+Rmax

-Rmincos2θ 在磁阻传感器中,为了消除温度等外界因素对输出的影响,由 4 个相同的磁阻元件构成惠斯通电桥,结构如图 1 所示。图1 中,易磁化轴方向与电流方向的夹角为45 度。理论分析与实践表明,采用45 度偏置磁场,当沿与易磁化轴垂直的方向施加外磁场,且外磁场强度不太大时,电桥输出与外加磁场强度成线性关系。无外加磁场或外加磁场方向与易磁化轴方向平行时,磁化方向即易磁化轴方向,电桥的 4 个桥臂电阻阻值相同,输出为零。当在磁敏感方向施加如图1 所示方向的磁场时,合成磁化方向将在易磁化方向的基础上逆时针旋转。结果使左上和右下桥臂电流与磁化方向的夹角增大,电阻减小ΔR;右上与左下桥臂电流与磁化方向的夹角减小,电阻增大ΔR。通过对电桥的分析可知,此时输出电压可表示为:U=Vb×ΔR/R 式中Vb 为电桥工作电压,R 为桥臂电阻,ΔR/R 为磁阻阻值的相对变化率,与外加磁场强度成正比,故AMR 磁阻传感器输出电压与磁场强度成正比,可利用磁阻传感器测量磁场。商品磁阻传感器已制成集成电路,除图1 所示的电源输入端和信号输出端外,还有图 1 磁阻电桥复位/反向置位端和补偿端两对功能性输入端口,以确保磁阻传感器的正常工作。

a 磁干扰使磁畴排列紊乱复位/反向置位的机理可参见图2。AMR置于超过其线性工作范围的磁场中时,磁干扰可能导致磁畴排列紊乱,改变传感器的输出特性。此时可在复位

端输入脉冲电流,通b 复位脉冲使磁畴沿易磁化轴整齐排列过内部电路沿易磁化轴方向产生强磁场,使磁畴重新整齐排列,恢复传感器的使用特性。若脉冲电流方向相反,则磁畴排列方向反转,传感器的输出极性也将相反。c 反向置位脉冲使磁畴排列方向反转从补偿端每输入 5 mA 补偿电流,通过图2 置位/反向置位脉冲的作用内部电路将在磁敏感方向产生1 高斯的磁场。可用来补偿传感器的偏离。输出图 3 为AMR 的磁电转换特性曲电反向置位后的特

性曲线复位后的特性曲线压线。其中电桥偏离是在传感器制造毫/ 伏电桥偏离过程中,4 个桥臂电阻不严格相等带来的,外磁场偏离是测量某种磁场时,外界干扰磁场带来的。不管外磁场偏离要补偿哪种偏离,都可调节补偿电流,用人为的磁场偏置使图5 中的磁感应强度/高斯特性曲线平移,使所测磁场为零时图 3 AMR 的磁电转换特性输出电压为零。仪器原理和介绍ZKY-DCC 磁场实验仪结构如图4 所示,核心部分是磁阻传感器,辅以磁阻传感器的角度、位置调节及读数机构,赫姆霍兹线圈等组成。本仪器所用磁阻传感器的工作范围为±6高斯,灵敏度为1mV/V/Gauss。灵敏度表示,当磁阻电桥的工作电压为 1 V,被测磁场磁感应强度为 1 高斯时,输出信号为 1 mV。磁阻传感器的输出信号通常须经放大电路放大后,再接显示电路,故由显示电压计算磁场强度时还需考虑放大器的放大倍数。本实验仪

电桥工作电压 5 V,放大器放大倍数50,磁感应强度为 1 高斯时,对应的输出电压为0.25 伏。赫姆霍兹线圈是由一对彼此平行的共轴圆形线圈组成。两线圈内的电流方向一致,大小相同,线圈之间的距离 d 正好等于圆形线圈的半径R。这种线圈的特点是能在公共轴线中点附近产生较广泛的均匀磁场,根据毕奥-萨伐尔定律,可以计算出赫姆霍兹线圈公共轴线中点的磁感应强度为:8 0 NI B0 53/ 2 R 式中N 为线圈匝数,I 为流经线圈的电流强度,R 为赫姆霍兹线圈的平均半径,0 4π × 10 7 H / m 为真空中的磁导率。采用国际单位制时,由上式计算出的磁感应强度单。本实验仪N =310,R=0.14m,线圈电流为1mA 时,赫位为特斯拉(1 特斯拉=10000 高斯)姆霍兹线圈中部的磁感应强度为0.02 高斯。磁阻传感器盒赫姆霍兹线圈传感器轴向移动锁紧螺钉传感器横向移动锁紧螺钉传感器绕轴旋转锁紧螺钉

线圈水平旋转锁紧螺钉传感器水平旋转锁紧螺钉信号接

口盒仪器水平调节螺钉图 4 磁场实验仪ZKY-DCC 磁场实验仪的电源部分如图 5 所示。恒流源为赫姆霍兹线圈提供电流,电流的大小可以通过旋钮调节,电流值由电流表指示。电流换向按钮可以改变电流的方向。补偿OFFSET电流调节旋钮调节补偿电流的方向和大小。电流切换按钮使电流表显示赫姆霍兹线圈电流或补偿电流。传感器采集到的信号经放大后,由电压表指示电压值。放大器校正旋钮在标准磁

场中校准放大器放大倍数。复位(R/S)按钮每按下一次,向复位端输入一次复位脉冲电流,仅在需要时使用。图5 仪器前面板示意图实验内容及步骤:(1)测量准备:连接实验仪与电源,开机预热20 分钟。将磁阻传感器位置调节至赫姆霍兹线圈中心,传感器磁敏感方向与赫姆霍兹线圈轴线一致。调节赫姆霍兹线圈电流为,调节补偿电流(见图3,补偿地磁场等因零,按复位键(见图2,恢复传感器特性),使传感器输出为零。调节赫姆霍兹线圈电流至300 mA(线圈产生的素产生的偏离),调节放大器校准旋钮,使输出电压为1 .500 伏。磁感应强度6 高斯)(2)磁阻传感器特性测量 a. 测量磁阻传感器的磁电转换特性

磁电转换特性是磁阻传感器最基本的特性。磁电转换特性曲线的直线部分对应的磁感应强度,即磁阻传感器的工作范围,直线部分的斜率除以电桥电压与放大器放大倍数的乘积,即为磁阻传感器的灵敏度。按表 1 数据从300 mA 逐步调小赫姆霍兹线圈电流,记录相应的输出电压值。切换电流换向开关(赫姆霍兹线圈电流反向,磁场及输出电压也将反向),逐步调大反向电流,记录反向输出电压值。注意:电流换向后,必须按复位按键消磁。表1 AMR 磁电转换特性的测量线圈电流mA 300 250 200 150 100 50 0 -50 -100 -150 -200 -250 -300 磁感应强度高斯6 5 4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 -5 -6 输出电压V 以磁感应强度为横轴,输出电压为纵轴,

将上表数据作图,并确定所用传感器的线性工作范围及灵敏度。b. 测量磁阻传感器的各向异性特性AMR 只对磁敏感方向上的磁场敏感,当所测磁场与磁敏感方向有一定夹角α 时,AMR 测量的是所测磁场在磁敏感方向的投影。由于补偿调节是在确定的磁敏感方向进行的,实验过程中应注意在改变所测磁场方向时,保持AMR 方向不变。将赫姆霍兹线圈电流调节至200mA,测量所测磁场方向与磁敏感方向一致时的输出电压。松开线圈水平旋转锁紧螺钉,每次将赫姆霍兹线圈与传感器盒整体转动10 度后锁紧,松开传感器水平旋转锁紧螺钉,将传感器盒向相反方向转动10 度(保持AMR 方向不变)后锁紧,记录输出电压数据于表 2 中。表2 AMR 方向特性的测量磁感应强度4 高斯夹角α(度)0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 输出电压V 以夹角α为横轴,输出电压为纵轴,将上表数据作图,检验所做曲线是否符合余弦规律。(3)赫姆霍兹线圈的磁场分布测量赫姆霍兹线圈能在公共轴线中点附近产生较广泛的均匀磁场,在科研及生产中得到广泛的应用。 a. 赫姆霍兹线圈轴线上的磁场分布测量根据毕奥-萨伐尔定律,可以计算出通电圆线圈在轴线上任意一点产生的磁感应强度矢量垂直于线

圈平面,方向由右手螺旋定则确定,与线圈平面距离为X1 的点的磁感应强度为:0 R 2 I B x1 2 R 2 x12 3/ 2 赫姆霍兹线圈是由一对彼此平行的共轴圆形线圈组成。两线圈内的电

流方向一致,大小相同,线圈匝数为N,线圈之间的距离 d 正好等于圆形线圈的半径R,若以两线圈中点为坐标原点,则轴线上任意一点的磁感应强度是两线圈在该点产生的磁

感应强度之和:0 NR 2 I 0 NR 2 I B x R R x 2 3/ 2 2 R 2 x 2 3/ 2 2 R 2 2 2 3/ 2 5 1 1 B0 16 1 1 x 2 3/ 2 1 1 x 2 3/ 2 2 R 2 R 式中B0 是X=0 时,即赫姆霍兹线圈公共轴线中点的磁感应强度。表 3 列出了X 取不同值时BX/B0 值的理论计算结果。调节传感器磁敏感方向与赫姆霍兹线圈轴线一致,位置调节至赫姆霍兹线圈中心(X=0),测量输出电压值。已知R140mm,将传感器盒每次沿轴线平移0.1R,记录测量数据。表3 赫姆霍兹线圈轴向磁场分布测量B0=4 高斯位置X -0.5R -0.4R -0.3R -0.2R -0.1R 0 0.1R 0.2R 0.3R 0.4R

0.5RBX/B0 计算值0.946 0.975 0.992 0.998 1.000 1 1.000

0.998 0.992 0.975 0.946BX测量值VBX值高斯将表3 数据作图,讨论赫姆霍兹线圈的轴向磁场分布特点。b.赫姆霍兹线圈空间磁场分布测量由毕奥-萨伐尔定律,同样可以计算赫姆霍兹线圈空间任意一点的磁场分布,由于赫姆霍兹线圈的轴对称性,只要计算(或测量)过轴线的平面上两维磁场分布,就可得到空间任意一点的磁场分布。理论分析表明,在X ≤ 0.2R,Y ≤0.2R 的范围内,X-B0)/B0 小于百分之一,BY/BX (B小于万分之二,固可认为在赫姆霍兹线圈中部较大的区域内,磁场方向沿轴线方向,磁场大

小基本不变。按表4 数据改变磁阻传感器的空间位置,记录X 方向的磁场产生的电压VX,测量赫姆霍兹线圈空间磁场分布。表4 赫姆霍兹线圈空间磁场分布测量B0=4 高斯X 0 0.05R 0.1R 0.15R 0.2R 0.25R 0.3R VX Y 0 0.05R 0.1R 0.15R 0.2R 0.25R 0.3R 由表4 数据讨论赫姆霍兹线圈的空间磁场分布特点。(4)地磁场测量地球本身具有磁性,地表及近地空间存在的磁场叫地磁场。地磁的北极,南极分别在地理南极,北极附近,彼此并不重合,可用地磁场强度,磁倾角,磁偏角三个参量表示地磁场的大小和方向。磁倾角是地磁场强度矢量与水平面的夹角,磁偏角是地磁场强度矢量在水平面的投影与地球经线(地理南北方向)的夹角。在现代的数字导航仪等系统中,通常用互相垂直的三维磁阻传感器测量地磁场在各个方向的分量,根据矢量合成原理,计算出地磁场的大小和方位。本实验学习用单个磁阻传感器测量地磁场的方法。将赫姆霍兹线圈电流调节至零,将补偿电流调节至零,传感器的磁敏感方向调节至与赫。姆霍兹线圈轴线垂直(以便在垂直面内调节磁敏感方向)调节传感器盒上平面与仪器底板平行,将水准气泡盒放置在传感器盒正中,调节仪器水平调节螺钉使水准气泡居中,使磁阻传感器水平。松开线圈水平旋转锁紧螺钉,在水平面内仔细调节传感器方位,使输出最大(如果不能调到最大,则需要将磁阻传感器在水平方向选。此时,传感器磁敏感方向与地

理南北方向的夹角就是磁偏角。择180 度后再调节)松开传感器绕轴旋转锁紧螺钉,在垂直面内调节磁敏感方向,至输出最大时转过的角度就是磁倾角,记录此角度。记录输出最大时的输出电压值U1 后,松开传感器水平旋转锁紧螺钉,将传感器转动180度,记录此时的输出电压U2,将UU1-U2/2 作为地磁场磁感应强度的测量值(此法可消除。电桥偏离对测量的影响)表5 地磁场的测量磁倾角(度)磁感应强度U1V U2V UU1-U2/2V BU/0.25高斯在实验室内测量地磁场时,建筑物的钢筋分布,同学携带的铁磁物质,都可能影响测量结果,因此,此实验重在掌握测量方法。注意事项:1.禁止将实验仪处于强磁场中,否则会严重影响实验结果;2.为了降低实验仪间磁场的相互干扰,任意两台实验仪之间的距离应大于 3 米;3.实验前请先调水平实验仪;4.在操作所有的手动调节螺钉时应用力适度,以免滑丝;5.为保证使用安全,三芯电源须可靠接地。思考题:(1)如果在测量地磁场时,在磁阻传感器周围较近处,放一个铁钉,对测量结果将产生什么影响?

西安交大《塞曼效应实验报告》

应物31 吕博成学号:10

塞曼效应 1896年,荷兰物理学家塞曼()在实验中发现,当光源放在足够强的磁场中时,原来的一条光谱线会分裂成几条光谱线,分裂的条数随能级类别的不同而不同,且分裂的谱线是偏振光。这种效应被称为塞曼效应。 需要首先指出的是,由于实验先后以及实验条件的缘故,我们把分裂成三条谱线,裂距按波数计算正好等于一个洛伦兹单位的现象叫做正常塞曼效应(洛伦兹单位 mc eB L π4=)。而实际上大多数谱线的塞曼分裂谱线多于三条,谱线的裂距可以大于也可 以小于一个洛伦兹单位,人们称这类现象为反常塞曼效应。反常塞曼效应是电子自旋假设的有力证据之一。通过进一步研究塞曼效应,我们可以从中得到有关能级分裂的数据,如通过能级分裂的条数可以知道能级的J 值;通过能级的裂距可以知道g 因子。 塞曼效应至今仍然是研究原子能级结构的重要方法之一,通过它可以精确测定电子的荷质比。 一.实验目的 1.学习观察塞曼效应的方法观察汞灯发出谱线的塞曼分裂; 2.观察分裂谱线的偏振情况以及裂距与磁场强度的关系; 3.利用塞曼分裂的裂距,计算电子的荷质比e m e 数值。 二.实验原理 1、谱线在磁场中的能级分裂 设原子在无外磁场时的某个能级的能量为0E ,相应的总角动量量子数、轨道量子数、自旋量子数分别为S L J 、、。当原子处于磁感应强度为B 的外磁场中时,这一原子能级将分裂为12+J 层。各层能量为 B Mg E E B μ+=0 (1) 其中M 为磁量子数,它的取值为J ,1-J ,...,J -共12+J 个;g 为朗德因子;B μ为玻尔磁矩(m hc B πμ4= );B 为磁感应强度。 对于S L -耦合 ) () ()()(121111++++-++ =J J S S L L J J g (2) 假设在无外磁场时,光源某条光谱线的波数为 )(010201~E E hc -=γ (3) 式中 h 为普朗克常数;c 为光速。

巨磁电阻效应及其应用 实验报告

巨磁电阻效应及其应用 【实验目的】 1、 了解GMR 效应的原理 2、 测量GMR 模拟传感器的磁电转换特性曲线 3、 测量GMR 的磁阻特性曲线 4、 用GMR 传感器测量电流 5、 用GMR 梯度传感器测量齿轮的角位移,了解GMR 转速(速度)传感器的原理 【实验原理】 根据导电的微观机理,电子在导电时并不是沿电场直线前进,而是不断和晶格中的原子产生碰撞(又称散射),每次散射后电子都会改变运动方向,总的运动是电场对电子的定向加速与这种无规散射运动的叠加。称电子在两次散射之间走过的平均路程为平均自由程,电子散射几率小,则平均自由程长,电阻率低。电阻定律 R=ρl/S 中,把电阻率ρ视为常数,与材料的几何尺度无关,这是因为通常材料的几何尺度远大于电子的平均自由程(例如铜中电子的平均自由程约34nm ),可以忽略边界效应。当材料的几何尺度小到纳米量级,只有几个原子的厚度时(例如,铜原子的直径约为0.3nm ),电子在边界上的散射几率大大增加,可以明显观察到厚度减小,电阻率增加的现象。 电子除携带电荷外,还具有自旋特性,自旋磁矩有平行或反平行于外磁场两种可能取向。早在1936年,英国物理学家,诺贝尔奖获得者N.F.Mott 指出,在过渡金属中,自旋磁矩与材料的磁场方向平行的电子,所受散射几率远小于自旋磁矩与材料的磁场方向反平行的电子。总电流是两类自旋电流之和;总电阻是两类自旋电流的并联电阻,这就是所谓的两电流模型。 在图2所示的多层膜结构中,无外磁场时,上下两层磁性材料是反平行(反铁磁)耦合的。施加足够强的外磁场后,两层铁磁膜的方向都与外磁场方向一致,外磁场使两层铁磁膜从反平行耦合变成了平行耦合。电流的方向在多数应用中是平行于膜面的。 无外磁场时顶层磁场方向 无外磁场时底层磁场方向 图2 多层膜GMR 结构图 图3是图2结构的某种GMR 材料的磁阻特性。由图可见,随着外磁场增大,电阻逐渐减小,其间有一段线性区域。当外磁场已使两铁磁膜完全平行耦合后,继续加大磁场,电阻不再减小,进入磁饱和区域。磁阻变化率 ΔR/R 达百分之十几,加反向磁场时磁阻特性是对称的。注意到图2中的曲线有两条,分别对应增大磁场和减小磁场时的磁阻特性,这是因为铁磁材料都具有磁滞特性。 图3 某种GMR 材料的磁阻特性 磁场强度 / 高斯 电阻 \ 欧姆

磁阻效应实验

磁阻效应实验 [概述] 磁阻器件由于灵敏度高、抗干扰能力强等优点在工业、交通、仪器仪表、医疗器械、探矿等领域应用十分广泛,如:交通车辆检测,导航系统、伪钞检测、位置测量等。其中最典型的锑化铟(InSb)传感器是一种灵敏度高的磁电阻,有着十分重要的应用价值。 [实验项目] 1、理解磁阻效应、霍尔效应等概念。 2、掌握测量锑化铟传感器的电阻与磁感应强度的关系的一种方法。 3、作出锑化铟传感器的电阻变化与磁感应强度的关系曲线,并对此关系 曲线的非线性区域和线性区域分别进行拟合。 [实验原理] 一定条件下,导电材料的电阻值R随磁感应强度B的变化规律称为磁阻效应。如图2所示,当半导体处于磁场中时,导体或半导体的载流子将受洛仑兹力的作用,发生偏转,在两端产生积聚电荷并产生霍耳电场。如果霍耳电场作用和某一速度载流子的洛仑兹力作用刚好抵消,那么小于或大于该速度的载流子将发生偏转,因而沿外加电场方向运动的载流子数量将减少,电阻增大,表现出横向磁阻效应。若将图1中a端和b端短路,则磁阻效应更明显。通常以电阻率的相对改变量来表示磁电阻的大小,即用Δρ/ρ(0)表示。其中ρ(0)为零磁场时的电阻率,设磁电阻在磁感应强度为B的磁场中电阻率为ρ(B),则Δρ=ρ(B)-ρ(0)。由于磁阻传感器电阻的相 图1 磁阻效应

对变化率ΔR/R(0)正比于ΔR=R(B)-R(0),因此也对变FD-MR-II 型磁阻效应实验仪,图2为该仪器示意图 ρ/ρ(0),这里Δ可以用磁阻传感器电阻的相对改变量ΔR/R(0)来表示磁阻效应的大小。 实验证明,当金属或半导体处于较弱磁场中时,一般磁阻传感器电阻相化率ΔR/R(0)正比于磁感应强度B 的平方,而在强磁场中ΔR/R(0)与磁感应强度B 呈线性关系。磁阻传感器的上述特性在物理学和电子学方面有着重要应用。 [实验仪器] 实验采用 图2 FD-MR-II 磁阻效应实验仪 FD-MR-II 型磁阻-2V 直流数字电压表、效应验仪包括直流双路恒流电源、 0电磁铁、数字式毫特仪(GaAs 作探测器) 、锑化铟(InSb)磁阻传感

用磁阻传感器测量地磁场解读

实验三十七 用磁阻传感器测量地磁场 地磁场的数值比较小,约T 5 10-量级,但在直流磁场测量,特别是弱磁场测量中,往往需要知道其数值,并设法消除其影响,地磁场作为一种天然磁源,在军事、工业、医学、探矿等科研中也有着重要用途。本实验采用新型坡莫合金磁阻传感器测定地磁场磁感应强度及地磁场磁感应强度的水平分量和垂直分量;测量地磁场的磁倾角,从而掌握磁阻传感器的特性及测量地磁场的一种重要方法。 【实验目的】 1. 掌握磁阻传感器的特性和定标方法。 2. 掌握地磁场的测量方法。 【实验原理】 物质在磁场中电阻率发生变化的现象称为磁阻效应。对于铁、钴、镍及其合金等磁性金属,当外加磁场平行于磁体内部磁化方向时,电阻几乎不随外加磁场变化;当外加磁场偏离金属的内部磁化方向时,此类金属的电阻减小,这就是强磁金属的各向异性磁阻效应。 HMC1021Z 型磁阻传感器由长而薄的坡莫合金(铁镍合金)制成一维磁阻微电路集成芯片(二维和三维磁阻传感器可以测量二维或三维磁场)。它利用通常的半导体工艺,将铁镍合金薄膜附着在硅片上,如图1所示。薄膜的电阻率)(θρ依赖于磁化强度M 和电流I 方向间的夹角θ,具有以下关系式 θρρρθρ2cos )()(⊥⊥-+=∥ (1) 其中∥ρ、⊥ρ分别是电流I 平行于M 和垂直于M 时的电阻率。当沿着铁镍合金带的长度方向通以一定的直流电流,而垂直于电流方向施加一个外界磁场时,合金带自身的阻值会生较大的变化,利用合金带阻值这一变化,可以测量磁场大小和方向。同时制作时还在硅片上设计了两条铝制电流带,一条是置位与复位带,该传感器遇到强磁场感应时,将产生磁畴饱和现象,也可以用来置位或复位极性;另一条是偏置磁场带,用于产生一个偏置磁场,补偿环境磁场中的弱磁场部分(当外加磁场较弱时,磁阻相对变化值与磁感应强度成平方关系),使磁阻传感器输出显示线性关系。 HMC1021Z 磁阻传感器是一种单边封装的磁场传感器,它能测量与管脚平行方向的磁场。传感器由四条铁镍合金磁电阻组成一个非平衡电桥,非平衡电桥输出部分接集成运算放大器,将信号放大输出。传感器内部结构如图2所示,图中由于适当配置的四个磁电阻电流方向不相同,当存在外界磁场时,引起电阻值变化有增有减。因而输出电压out U 可以用下式

磁阻传感器和地磁场的测量

磁阻传感器和地磁场的测量 一. 实验目的 掌握磁阻传感器的特性。 掌握地磁场的测量方法。 二.实验原理 物质在磁场中电阻率发生变化的现象称为磁阻效应。对于铁、钴、镍及其合金等磁性金属,当外加磁场平行于磁体内部磁化方向时,电阻几乎不随外加磁场变化;当外加磁场偏离金属的内部磁化方向时,此类金属的电阻减小,这就是强磁金属的各向异性磁阻效应。 HMC1021Z 型磁阻传感器由长而薄的坡莫合金(铁镍合金)制成一维磁阻微电路集成芯片(二维和三维磁阻传感器可以测量二维或三维磁场)。它利用通常的半导体工艺,将铁镍合金薄膜附着在硅片上,如图6-8-1所示。薄膜的电阻率)(θρ依赖于磁化强度M 和电流I 方向间的夹角θ,具有以下关系式θρρρθρ2cos )()(⊥⊥-+=∥ 其中∥ρ、⊥ρ分别是电流I 平行于M 和垂直于M 时的电阻率。当沿着铁镍合金带的长度方向通以一定的直流电流,而垂直于电流方向施加一个外界磁场时,合金带自身的阻值会生较大的变化,利用合金带阻值这一变化,可以测量磁场大小和方向。同时制作时还在硅片上设计了两条铝制电流带,一条是置位与复位带,该传感器遇到强磁场感应时,将产生磁畴饱和现象,也可以用来置位或复位极性;另一条是偏置磁场带,用于产生一个偏置磁场,补偿环境磁场中的弱磁场部分(当

外加磁场较弱时,磁阻相对变化值与磁感应强度成平方关系),使磁阻传感器输出显示线性关系。 HMC1021Z 磁阻传感器是一种单边封装的磁场传感器,它能测量与管脚平行方向的磁场。传感器由四条铁镍合金磁电阻组成一个非平衡电桥,非平衡电桥输出部分接集成运算放大器,将信号放大输出。传感向不相同,当存在外界磁场时,引起电阻值变化有增有减。因而输出电压out U 可以用下式表示为b out V R R U ??? ? ???= 磁阻传感器的构造示意图 磁阻传感器内的惠斯通电桥 对于一定的工作电压,如V V b 00.6=,HMC1021Z 磁阻传感器输出电压 out U 与外界磁场的磁感应强度成正比关系,KB U U out +=0 上式中,K 为传感器的灵敏度,B 为待测磁感应强度。0U 为外加磁场为零时传感器的输出量。 由于亥姆霍兹线圈的特点是能在其轴线中心点附近产生较宽范围的均匀磁场区,所以常用作弱磁场的标准磁场。亥姆霍兹线圈公共

塞曼效应实验报告

塞曼效应实验报告 一、实验目的与实验仪器 1. 实验目的 (1)学习观察塞曼效应的方法,通过塞曼效应测量磁感应强度的大小。 (2)学习一种测量电子荷质比的方法。 2.实验仪器 笔形汞灯+电磁铁装置,聚光透镜,偏振片,546nm滤光片,F-P标准具,标准具间距(d=2mm),成像物镜与测微目镜组合而成的测量望远镜。 二、实验原理 (要求与提示:限400字以内,实验原理图须用手绘后贴图的方式) 1.塞曼效应 (1)原子磁矩和角动量关系 用角动量来描述电子的轨道运动和自旋运动,原子中各电子轨道运动角动量的矢量和即原子的轨道角动量L,考虑L-S耦合(轨道-自旋耦合),原子的角动量J =L +S。量子力学理论给出各磁矩与角动量的关系: L = - L,L = S = - S,S = 由上式可知,原子总磁矩和总角动量不共线。则原子总磁矩在总角动量方向上的分量 为: J = g J,J = J L为表示原子的轨道角量子数,取值:0,1,2… S为原子的自旋角量子数,取值:0,1/2,1,3/2,2,5/2… J为原子的总角量子数,取值:0,1/2,1,3/2… 式中,g=1+为朗德因子。 (2)原子在外磁场中的能级分裂 外磁场存在时,与角动量平行的磁矩分量J与磁场有相互作用,与角动量垂直的磁矩分量与磁场无相互作用。由于角动量的取向是量子化的,J在任意方向的投影(如z方向)为: = M,M=-J,-(J-1),-(J-2),…,J-2,J-1,J 因此,原子磁矩也是量子化的,在任意方向的投影(如z方向)为: =-Mg 式中,玻尔磁子μB =,M为磁量子数。

具有磁矩为J的原子,在外磁场中具有的势能(原子在外磁场中获得的附加能量): ΔE = -J·=Mg B 则根据M的取值规律,磁矩在空间有几个量子化取值,则在外场中每一个能级都分裂为等间隔的(2J+1)个塞曼子能级。原子发光过程中,原来两能级之间电子跃迁产生的一条光谱线也分裂成几条光谱线。这个现象叫塞曼效应。 2.塞曼子能级跃迁选择定则 (1)选择定则 未加磁场前,能级E2和E1之间跃迁光谱满足: hν = E2 - E1 加上磁场后,新谱线频率与能级之间关系满足: hν’= (E2+ΔE2) – (E1+ΔE1) 则频率差:hΔν= ΔE2-ΔE1= M2g2 B -M1g1B= (M2g2- M1g1)B 跃迁选择定则必须满足: ΔM = 0,±1 (2)偏振定则 当△M=0时,产生π线,为振动方向平行于磁场的线偏振光,可在垂直磁场方向看到。 当△M=±1时,产生σ谱线,为圆偏振光。迎着磁场方向观察时,△M=1的σ线为左旋圆偏振光,△M=-1的σ线为右旋圆偏振光。在垂直于磁场方向观察σ线时,为振动方向垂直于磁场的线偏振光。 3. 能级3S13P2 L01 S11 J12 g23/2 M10-1210-1-2 Mg20-233/20-3/2-3汞原子的绿光谱线波长为,是由高能级{6s7s}S1到低能级{6s6p}P2能级之间的跃迁,其上下能级有关的量子数值列在表1。3S1、3P2表示汞的原子态,S、P分别表示原子轨道量子数L=0和1,左上角数字由自旋量子数S决定,为(2S+1),右下角数字表示原子的总角动量量子数J。 在外磁场中能级分裂如图所示。外磁场为0时,只有的一条谱线。在外场的作用下,上能级分裂为3条,下能级分裂为5条。在外磁场中,跃迁的选择定则对磁量子数M的要求为:△M=0,±1,因此,原先的一条谱线,在外磁场中分裂为9条谱线。 9条谱线的偏振态,量子力学理论可以给出:在垂直于磁场方向观察,9条分裂谱线的强度(以中心谱线的强度为100)随频率增加分别为,,75,75,100,75,75,,. 标准具 本实验通过干涉装置进行塞曼效应的观察。我们选择法布里-珀罗标准具(F-P标准具)作为干涉元件。F-P标准具基本组成:两块平行玻璃板,在两板相对的表面镀有较高反射率的薄膜。 多光束干涉条纹的形成

塞曼效应实验报告

1、前言和实验目的 1.了解和掌握WPZ-Ⅲ型塞曼效应仪和利用其研究谱线的精细结构。 2.了解法布里-珀罗干涉仪的的结构和原理及利用它测量微小波长差值。 3.观察汞546.1nm (绿色)光谱线的塞曼效应,测量它分裂的波长差,并计算电子的荷质比的实验值和标准值比较。 2、实验原理 处于磁场中的原子,由于电子的j m 不同而引起能级的分裂,导致跃迁时发出的光子的频率产生分裂的现象就成为塞曼效应。下面具体给出公式推导处于弱磁场作用下的电子跃迁所带来的能级分裂大小。 总磁矩为 J μ 的原子体系,在外磁场为B 中具有的附加能为: E ?= -J μ *B 由于我们考虑的是反常塞曼效应,即磁场为弱磁场,认为不足以破坏电子的轨道-自旋耦合。则我们有: E ?= -z μB =B g m B J J μ 其中z μ为J μ 在z 方向投影,J m 为角动量J 在z 方向投影的磁量子数,有12+J 个值,B μ= e m eh π4称为玻尔磁子,J g 为朗德因子,其值为 J g =) 1(2) 1()1()1(1++++-++ J J S S L L J J 由于J m 有12+J 个值,所以处于磁场中将分裂为12+J 个能级,能级间隔为B g B J μ。当没有磁场时,能级处于简并态,电子的态由n,l,j (n,l,s )确定,跃迁的选择定则为Δs=0, Δl=1±.而处于磁场中时,电子的态由n,l,j,J m ,选择定则为Δs=0,Δl=1±,1±=?j m 。 磁场作用下能级之间的跃迁发出的谱线频率变为: )()(1122' E E E E hv ?+-?+==h ν+(1122g m g m -)B μB 分裂的谱线与原谱线的频率差ν?为: ν?=' ν-ν=h B g m g m B /)(1122μ-、 λ?= c ν λ?2 =2λ (1122g m g m -)B μB /hc =2 λ (1122g m g m -)L ~

磁阻效应及磁阻传感器实验

一、实验题目:磁阻效应及磁阻传感器的特性研究 二、实验目的:1、了解磁阻效应的基本原理及测量磁阻效应的方法; 2、测量锑化铟传感器的电阻与磁感应强度的关系; 3、画出锑化铟传感器电阻变化与磁感应强度的关系曲线,并进行相应的曲线 和直线拟合; 4、学习用磁阻传感器测量磁场的方法。 三、实验原理: 磁阻效应是指某些金属或半导体的电阻值随外加磁场变化而变化的现象。和霍尔效应一样,磁阻效应也是由于载流子在磁场中受到的洛仑兹力而产生的。若外加磁场与外加电场垂直,称为横向磁阻效应;若外加磁场与外加电场平行,称为纵向磁阻效应。磁阻效应还与样品的形状有关,不同几何形状的样品,在同样大小的磁场作用下,其电阻不同,该效应称为几何磁阻效应。由于半导体的电阻率随磁场的增加而增加,有人又把该磁阻效应称为物理磁阻效应。目前,磁阻效应广泛应用于磁传感、磁力计、电子罗盘、位置和角度传感器、车辆探测、GPS导航、仪器仪表、磁存储(磁卡、硬盘)等领域。 一定条件下,导电材料的电阻值R随磁感应强度B变化规律称为磁阻效应。如图1所示,当半导体处于磁场中时,导体或半导体的载流子将受洛仑兹力的作用,发生偏转,在两端产生积聚电荷并产生霍尔电场。如果霍尔电场作用和某一速度的载流子的洛仑兹力作用刚好抵消,则小于此速度的电子将沿霍尔电场作用的方向偏转,而大于此速度的电子则沿相反方向偏转,因而沿外加电场方向运动的载流子数量将减少,即沿电场方向的电流密度减小,电阻增大,也就是由于磁场的存在,增加了电阻,此现象称为磁阻效应。如果将图1中U H短路,磁阻效应更明显。因为在上述的情况里,磁场与外加电场垂直,所以该磁阻效应称为横向磁阻效应。 当磁感应强度平行于电流时,是纵向情况。若载流子的有效质量和弛豫时间与移动方向无关,纵向磁感应强度不引起载流子漂移运动的偏转,因而没有纵向霍尔效应的磁阻。而对于载流子的有效质量和弛豫时间与移动方向有关的情形,若作用力的方向不在载流子的有效质量和弛豫时间的主轴方向上,此时,载流子的加速度和漂移移动方向与作用力的方向不相同,也可引起载流子漂移运动的偏转现象,其结果总是导致样品的纵向电流减小电阻增加。在磁感应强度与电流方向平行情况下所引起的电阻增加的效应,被称为纵向磁阻效应。 通常以电阻率的相对改变量来表示磁阻的大小,即用Δρ/ρ(0)表示。其中ρ(0)为零磁场时的电阻率,设磁电阻电阻值在磁感受应强度为B的磁场的电阻率为ρ(B),则Δρ=ρ(B)-ρ(0)。由于磁阻传感器电阻的相对变化率ΔR/ R(0)正比于Δρ/ρ(0),这里ΔR=R (B)-R(0)。因此也可以用磁阻传感器电阻的相对改变量ΔR/ R(0)来表示磁阻效应的大小。 测量磁电阻电阻值R与磁感应强度B的关系实验装置及线路如图2所示。尽管不同的磁阻装置有不同的灵敏度,但其电阻的相对变化率ΔR/ R(0)与外磁场的关系都是相似的。实验证明,磁阻效应对外加磁场的极性不灵敏,就是正负磁场的相应相同。一般情况下外加磁场较弱时,电阻相对变化率ΔR/ R(0)正比于磁感应强度B的二次方;随磁场的加强,ΔR/ R (0)与磁感应强度B呈线性函数关系;当外加磁场超过特定值时,ΔR/ R(0)与磁感应强

西安交大《塞曼效应实验报告》(资料参考)

塞 曼 效 应 实 验 报 告 应物31 吕博成学号:2120903010

塞曼效应 1896年,荷兰物理学家塞曼(P.Zeeman )在实验中发现,当光源放在足够强的磁场中时,原来的一条光谱线会分裂成几条光谱线,分裂的条数随能级类别的不同而不同,且分裂的谱线是偏振光。这种效应被称为塞曼效应。 需要首先指出的是,由于实验先后以及实验条件的缘故,我们把分裂成三条谱线,裂距按波数计算正好等于一个洛伦兹单位的现象叫做正常塞曼效应(洛伦兹单位 mc eB L π4=)。而实际上大多数谱线的塞曼分裂谱线多于三条,谱线的裂距可以大于也可 以小于一个洛伦兹单位,人们称这类现象为反常塞曼效应。反常塞曼效应是电子自旋假设的有力证据之一。通过进一步研究塞曼效应,我们可以从中得到有关能级分裂的数据,如通过能级分裂的条数可以知道能级的J 值;通过能级的裂距可以知道g 因子。 塞曼效应至今仍然是研究原子能级结构的重要方法之一,通过它可以精确测定电子的荷质比。 一.实验目的 1.学习观察塞曼效应的方法观察汞灯发出谱线的塞曼分裂; 2.观察分裂谱线的偏振情况以及裂距与磁场强度的关系; 3.利用塞曼分裂的裂距,计算电子的荷质比e m e 数值。 二.实验原理 1、谱线在磁场中的能级分裂 设原子在无外磁场时的某个能级的能量为0E ,相应的总角动量量子数、轨道量子数、自旋量子数分别为S L J 、、。当原子处于磁感应强度为B 的外磁场中时,这一原子能级将分裂为12+J 层。各层能量为 B Mg E E B μ+=0 (1) 其中M 为磁量子数,它的取值为J ,1-J ,...,J -共12+J 个;g 为朗德因子;B μ为玻尔磁矩(m hc B πμ4= );B 为磁感应强度。 对于S L -耦合 ) () ()()(121111++++-++ =J J S S L L J J g (2) 假设在无外磁场时,光源某条光谱线的波数为

磁阻效应实验

实验1: 磁阻效应实验 一、 实验目的 测量锑化铟传感器的电阻和磁感应强度的关系; 作出锑化铟传感器的电阻变化与磁感应强度的关系曲线; 对此关系曲线的非线性区域和线性区域进行曲线和直线拟合。 二、 实验内容 在锑化铟传感器的电流保持不变的条件下,测量锑化铟传感器的的电阻和磁感应强度的关系,作出/(0)R R ?与感应强度B 的关系曲线,并进行曲线拟合。 三、 实验原理 一定条件下,导电材料的电阻值R 随磁感应强度B 变化规律称为磁阻效应。当半导体处于磁场中时,半导体的载流子将受洛仑兹力的作用发生偏转,在两端产生积聚电荷并产生霍耳电场。如果霍耳电场作用和某一速度的载流子的洛仑兹力作用刚好抵消,那么小于或大于该速度的载流子将发生偏转,因而沿外加电场方向运动的载流子数量将减小,电阻增大,表现出横向磁阻效应。通常以电阻率的相对改变量来表示磁阻的大小,即用/(0)ρρ?表示。其中(0)ρ为零磁场时的电阻率。设磁电阻电阻值在磁感应强度为B 的磁场中电阻率为(B)ρ,则()(0)B ρρρ?=-。由于磁阻传感器电阻的相对变化率/(0)R R ?正比于/(0)ρρ?,这里R R()(0)B R ?-=因此也可以用磁阻传感器的电阻相对改变量/(0)R R ?来表示磁阻效应的大小。测量磁电阻值R 与磁感应强度的关系实验装置如图所示: 实验证明:当金属或半导体处于较弱磁场中时,一般磁阻传感器电阻相对变化率/(0)R R ?正比于磁感应强度B 的二次方,而在强磁场中/(0)R R ?与磁感应强度B 呈线性函数关系。 四、 实验组织运行要求 本实验采用集中与开放相结合方式运行。即导论课时以讨论和练习为主的集中模式进

塞曼效应实验报告

近代物理实验报告 塞曼效应实验 学院 班级 姓名 学号 时间 2014年3月16日

塞曼效应实验实验报告 【摘要】: 本实验通过塞曼效应仪与一些观察装置观察汞(Hg)546.1nm谱线(3S1→3P2跃迁)的塞曼分裂,从理论上解释、分析实验现象,而后给出横效应塞满分裂线的波数增量,最后得出荷质比。 【关键词】:塞曼效应、汞546.1nm、横效应、塞满分裂线、荷质比 【引言】: 塞曼效应是原子的光谱线在外磁场中出现分裂的现象,是1896年由荷兰物理学家塞曼发现的。首先他发现,原子光谱线在外磁场发生了分裂;随后洛仑兹在理论上解释了谱线分裂成3条的原因,这种现象称为“塞曼效应”。在后来进一步研究发现,很多原子的光谱在磁场中的分裂情况有别于前面的分裂情况,更为复杂,称为反常塞曼效应。 塞曼效应的发现使人们对物质光谱、原子、分子有更多了解,塞曼效应证实了原子磁矩的空间量子化,为研究原子结构提供了重要途径,被认为是19世纪末20世纪初物理学最重要的发现之一。利用塞曼效应可以测量电子的荷质比。在天体物理中,塞曼效应可以用来测量天体的磁场。本实验采取Fabry-Perot(以下简称F-P)标准具观察Hg的546.1nm谱线的塞曼效应,同时利用塞满效应测量电子的荷质比。 【正文】: 一、塞曼分裂谱线与原谱线关系 1、磁矩在外磁场中受到的作用 (1)原子总磁矩在外磁场中受到力矩的作用: 其效果是磁矩绕磁场方向旋进,也就是总角动量(P J)绕磁场方向旋进。 (2)磁矩在外磁场中的磁能:

由于或在磁场中的取向量子化,所以其在磁场方向分量也量子化: ∴原子受磁场作用而旋进引起的附加能量 M为磁量子数 g为朗道因子,表征原子总磁矩和总角动量的关系,g随耦合类型不同(LS耦合和jj耦合)有两种解法。在LS耦合下: 其中: L为总轨道角动量量子数 S为总自旋角动量量子数 J为总角动量量子数 M只能取J,J-1,J-2 …… -J(共2J+1)个值,即ΔE有(2J+1)个可能值。 无外磁场时的一个能级,在外磁场作用下将分裂成(2J+1)个能级,其分裂的能级是等间隔的,且能级间隔 2、塞曼分裂谱线与原谱线关系: (1) 基本出发点:

实验报告磁阻传感器和地磁场的测量

磁阻传感器和地磁场的测量 一.实验目的 掌握磁阻传感器的特性。 掌握地磁场的测量方法。 二.实验原理 物质在磁场中电阻率发生变化的现象称为磁阻效应。对于铁、钴、镍及其合金等磁性金属,当外加磁场平行于磁体内部磁化方向时,电阻几乎不随外加磁场变化;当外加磁场偏离金属的内部磁化方向时,此类金属的电阻减小,这就是强磁金属的各向异性磁阻效应。 HMC1021Z 型磁阻传感器由长而薄的坡莫合金(铁镍合金)制成一维磁阻微电路集成芯片(二维和三维磁阻传感器可以测量二维或三维磁场)。它利用通常的半导体工艺,将铁镍合金薄膜附着在硅片上,如图6-8-1所示。薄膜的电阻率)(θρ依赖于磁化强度M 和电流I 方向间的夹角θ,具有以下关系式 θρρρθρ2cos )()(⊥⊥-+=∥ 其中∥ρ、⊥ρ分别是电流I 平行于M 和垂直于M 时的电阻率。当沿着铁镍合金带的长度方向通以一定的直流电流,而垂直于电流方向施加一个外界磁场时,合金带自身的阻值会生较大的变化,利用合金带阻值这一变化,可以测量磁场大小和方向。同时制作时还在硅片上设计了两条铝制电流带,一条是置位与复位带,该传感器遇到强磁场感应时,将产生磁畴饱和现象,也可以用来置位或复位极性;另一条是偏置磁场带,用于产生一个偏置磁场,补偿环境磁场中的弱磁场部分(当外加磁场较弱时,磁阻相对变化值与磁感应强度成平方关系),使磁阻传感器输出显示线性关系。

HMC1021Z 磁阻传感器是一种单边封装的磁场传感器,它能测量与管脚平行方向的磁场。传感器由四条铁镍合金磁电阻组成一个非平衡电桥,非平衡电桥输出部分接集成运算放大器,将信号放大输出。传感器内部结构如图6-8-2而输出电压out U 可以用下式表示为b out V R R U ??? ? ???= 磁阻传感器的构造示意图 磁阻传感器内的惠斯通电桥 对于一定的工作电压,如V V b 00.6=,HMC1021Z 磁阻传感器输出电压out U 与外界磁场的磁感应强度成正比关系,KB U U out +=0 上式中,K 为传感器的灵敏度,B 为待测磁感应强度。0U 为外加磁场为零时传感器的输出量。 由于亥姆霍兹线圈的特点是能在其轴线中心点附近产生较宽范围的均匀磁场区,所以常用作弱磁场的标准磁场。亥姆霍兹线圈公共轴线中心点位置的磁感应强度为:I R NI B 42 /301096.445 8 -?== μ 上式中N 为线圈匝数(500匝);亥姆霍兹线圈的平均半径cm R 10=;真空磁导率270/104A N -?=πμ。

塞曼效应实验报告

塞曼效应实验 实验原理 1、磁矩在外磁场中受到的作用 (1)原子总磁矩在外磁场中受到力矩的作用: 其效果是磁矩绕磁场方向旋进,也就是总角动量(PJ)绕磁场方向旋进。 (2)磁矩在外磁场中的磁能: 由于或在磁场中的取向量子化,所以其在磁场方向分量也量子化: ∴原子受磁场作用而旋进引起的附加能量 M为磁量子数 g为朗道因子,表征原子总磁矩和总角动量的关系,g随耦合类型不同(LS耦合和jj耦合)有两种解法。在LS耦合下:

2、塞曼分裂谱线与原谱线关系: (1) 基本出发点: ∴分裂后谱线与原谱线频率差 由于 定义为洛仑兹单位: 3、谱线的偏振特征: 塞曼跃迁的选择定则为:ΔM=0 时为π成份(π型偏振)是振动方向平行于磁场的线偏振光,只有在垂直于磁场方向才能观察到,平行于磁场方向观察不到;但当ΔJ=0时,M2=0到M1=0的跃迁被禁止。

当ΔM=±1时,为σ成份,σ型偏振垂直于磁场,观察时为振动垂直于磁场的线偏振光。 平行于磁场观察时,其偏振性与磁场方向及观察方向都有关:沿磁场正向观察时(即磁场方向离开观察者:) ΔM= +1为右旋圆偏振光(σ+偏振) ΔM= -1为左旋圆偏振光(σ-偏振) 也即,磁场指向观察者时:⊙ ΔM= +1为左旋圆偏振光 ΔM= -1为右旋圆偏振光 分析的总思路和总原则: 在辐射的过程中,原子和发出的光子作为整体的角动量是守恒的。 原子在磁场方向角动量为 ∴在磁场指向观察者时:⊙B 当ΔM= +1时,光子角动量为,与同向 电磁波电矢量绕逆时针方向转动,在光学上称为左旋圆偏振光。 ΔM= -1时,光子角动量为,与反向 电磁波电矢量绕顺时针方向转动,在光学上称为右旋圆偏振光。

实验报告磁阻传感器和地磁场的测量

实验报告磁阻传感器和 地磁场的测量 Document serial number【NL89WT-NY98YT-NC8CB-NNUUT-NUT108】

磁阻传感器和地磁场的测量 一. 实验目的 掌握磁阻传感器的特性。 掌握地磁场的测量方法。 二.实验原理 物质在磁场中电阻率发生变化的现象称为磁阻效应。对于铁、钴、镍及其合金等磁性金属,当外加磁场平行于磁体内部磁化方向时,电阻几乎不随外加磁场变化;当外加磁场偏离金属的内部磁化方向时,此类金属的电阻减小,这就是强磁金属的各向异性磁阻效应。 HMC1021Z 型磁阻传感器由长而薄的坡莫合金(铁镍合金)制成一维磁阻微电路集成芯片(二维和三维磁阻传感器可以测量二维或三维磁场)。它利用通常的半导体工艺,将铁镍合金薄膜附着在硅片上,如图6-8-1所示。薄膜的电阻率 )(θρ依赖于磁化强度M 和电流I 方向间的夹角θ,具有以下关系式θρρρθρ2cos )()(⊥⊥-+=∥ 其中∥ρ、⊥ρ分别是电流I 平行于M 和垂直于M 时的电阻率。当沿着铁镍合金带的长度方向通以一定的直流电流,而垂直于电流方向施加一个外界磁场时,合金带自身的阻值会生较大的变化,利用合金带阻值这一变化,可以测量磁场大小和方向。同时制作时还在硅片上设计了两条铝制电流带,一条是置位与复位带,该传感器遇到强磁场感应时,将产生磁畴饱和现象,也可以用来置位或复位极性;另一条是偏置磁场带,用于产生一个偏置磁场,补偿环境磁场中的弱磁场部分(当外加磁场较弱时,磁阻相对变化值与磁感应强度成平方关系),使磁阻传感器输出显示线性关系。 HMC1021Z 磁阻传感器是一种单边封装的磁场传感器,它能测量与管脚平行方向的磁场。传感器由四条铁镍合金磁电阻组成一个非平衡电桥,非平衡电桥输出部分接集成运算放大器,将信号放大输出。传感器内部结构如图6-8-2所示,图中由于适当配置的四个磁电阻电流方向不相同,当存在外界磁场时,引起电 阻值变化有增有减。因而输出电压out U 可以用下式表示为b out V R R U ??? ? ???=

[实验报告]磁阻传感器和地磁场的测量

磁阻传感器和地磁场的测量 一.实验目的 掌握磁阻传感器的特性。 掌握地磁场的测量方法。 二.实验原理 物质在磁场中电阻率发生变化的现象称为磁阻效应。对于铁、钴、镍及其合金等磁性金属,当外加磁场平行于磁体内部磁化方向时,电阻几乎不随外加磁场变化;当外加磁场偏离金属的内部磁化方向时,此类金属的电阻减小,这就是强磁金属的各向异性磁阻效应。 HMC1021Z 型磁阻传感器由长而薄的坡莫合金(铁镍合金)制成一维磁阻微电路集成芯片(二维和三维磁阻传感器可以测量二维或三维磁场)。它利用通常的半导体工艺,将铁镍合金薄膜附着在硅片上,如图6-8-1所示。薄膜的电阻率)(θρ依赖于磁化强度M 和电流I 方向间的夹角θ,具有以下关系式θρρρθρ2cos )()(⊥⊥-+= ∥ 其中∥ρ、⊥ρ分别是电流I 平行于M 和垂直于M 时的电阻率。当沿着铁镍合金带的长度方向通以一定的直流电流,而垂直于电流方向施加一个外界磁场时,合金带自身的阻值会生较大的变化,利用合金带阻值这一变化,可以测量磁场大小和方向。同时制作时还在硅片上设计了两条铝制电流带,一条是置位与复位带,该传感器遇到强磁场感应时,将产生磁畴饱和现象,也可以用来置位或复位极性;另一条是偏置磁场带,用于产生一个偏置磁场,补偿环境磁场中的弱磁场部分(当外加磁场较弱时,磁阻相对变化值与磁感应强度成平方关系),使磁阻传感器输出显示线性关系。 HMC1021Z 磁阻传感器是一种单边封装的磁场传感器,它能测量与管脚平行方向的磁场。传感器由四条铁镍合金磁电阻组成一个非平衡电桥,非平衡电桥输出部分接集成运算放大器,将信号放大输出。传感器内部结构如图6-8-2所示,图中由于适当配置的四个磁电阻电流方向不相同,当存在外界磁场时,引起电阻值变化有增有减。因而输出电压out U 可以用下式表示为b out V R U ??? ??=

塞曼效应实验报告完整版

学生姓名: 学号: 39 专业班级:应物101班 实验时间: 教师编号:T017 成绩: 塞曼效应 一、实验目的 1.观察塞曼效应现象,把实验结果与理论结果进行比较。 2.学习观测塞曼效应的实验方法。 3.计算电子核质比。 二、实验仪器 WPZ —Ⅲ型塞曼效应实验仪 三、实验原理 塞曼效应:在外磁场作用下,由于原子磁矩与磁场相互作用,使原子能级产生分裂。垂直于磁场观察时,产生线偏振光(π线和σ线);平行于磁场观察时,产生圆偏振光(左旋、右旋)。 按照半经典模型,质量为m ,电量为e 的电子绕原子核转动,因此,原子具有一定的磁矩,它在外磁场B 中会获得一定的磁相互作用能E ?,由于原子的磁矩J μ与总角动量J P 的关系为 2J J e g P m μ=(1) 其中g 为朗德因子,与原子中所有电子德轨道和自旋角动量如何耦合成整个原子态的角动量密切相关。因此, cos cos 2J J e E B g P B m μαα?=-=-(2) 其中α是磁矩与外加磁场的夹角。又由于电子角动量空间取向的量子化,这种磁相互作用能只能取有限个分立的值,且电子的磁矩与总角动量的方向相反,因此在外磁场方向上, cos ,,1,,2J h P M M J J J απ -==--L (3)

学生姓名: 刘惠文 学号: 39 专业班级:应物101班 实验时间: 教师编号:T017 成绩: 式中h 是普朗克常量,J 是电子的总角动量,M 是磁量子数。设:4B he m μπ=,称为玻尔磁子,0E 为未加磁场时原子的能量,则原子在外在磁场中的总能量为 00B E E E E Mg B μ=+?=+(4) 由于朗德因子g 与原子中所有电子角动量的耦合有关,因此,不同的角动量 耦合方式其表达式和数值完全不同。在L S -耦合的情况下,设原子中电子轨道运动和自旋运动的总磁矩、总角动量及其量子数分别为L μ、L P 、L 和S μ、S P 、S ,它们的关系为 2L L e P m μ==(5) S S e P m μ==(6) 设J P 与L P 和S P 的夹角分别为LJ α和SJ α,根据矢量合成原理,只要将二者在 J μ方向的投影相加即可得到形如(1)式的总电子磁矩和总轨道角动量的关系: 2222222222cos cos (cos 2cos )2(2)222(1)222J L LJ S SJ L LJ S SJ J L S J L S J J J L S J J J e P P m P P P P P P e m P P P P P e P P m e g P m μμαμααα=+= ++--+=+-+=+=(7) 其中朗德因子为 (1)(1)(1)1.2(1) J J L L S S g J J +-+++=++(8) 由(*)式中可以看出,由于M 共有(2J +1)个值,所以原子的这个能级在

巨磁阻效应实验报告

巨磁阻效应实验报告 篇一:磁阻效应实验报告 近代物理实验报告 专业2011级应用物理学班级(2) 指导教师彭云雄姓名同组人 实验时间 2013 年 12 月23 日实验地点 K7-108 实验名称磁阻效应实验 一、实验目的 1、 2、 3、 4、测量电磁铁的磁感应强度与励磁电流的关系和电磁铁磁场分布。测量锑化铟传感器的电阻与磁感应强度的关系。作出锑化铟传感器的电阻变化与磁感应强度的关系曲线。对此关系曲线的非线性区域和线性区域分别进行拟合。 二、实验原理 图1磁阻效应原理 1 一定条件下,导电材料的电阻值R随磁感应强度B的变化规律称为磁阻效应。如图1所示,当半导体处于磁场中时,导体或半导体的载流子将受洛仑兹力的作用,发生偏转,在两端产生积聚电荷并产生霍耳电场。 如果霍耳电场作用和某一速度载流子的洛仑兹力作用刚好抵消,那么小于或大于该速度的载流子将发生偏转,因而沿外加电场方向运动的载流子数量将减少,电阻增大,表现出横向磁阻效应。若将图1中a端和b端短路,则磁阻效应更明显。通常以电阻率的相对改变量来表示磁阻的大小,即用Δρ/ρ(0)表示。其中ρ(0)为零磁场时的电阻率,设磁电阻在磁感应强度为B的磁场中电阻率为ρ(B),则

Δρ=ρ(B)-ρ(0)。由于磁阻传感器电阻的相对变化率ΔR/R(0)正比于 Δρ/ρ(0),这里ΔR=R(B)-R(0),因此也可以用磁阻传感器电阻的相对改变量 ΔR/R(0)来表示磁阻效应的大小。 图2 图2所示实验装置,用于测量磁电阻的电阻值R与磁感应强度B之间的关系。实验证明,当金属或半导体处于较弱磁场中时,一般磁阻传感器电阻相对变化率ΔR/R(0)正比于磁感应强度B的平方,而在强磁场中ΔR/R(0)与磁感应强度B呈线性关系。磁阻传感器的上述特性在物理学和电子学方面有着重要应用。 2 如果半导体材料磁阻传感器处于角频率为ω的弱正弦波交流磁场中,由于磁电阻相对变化量ΔR/R(0)正比于B,则磁阻传感器的电阻值R将随角频率2ω作周期性变化。即在弱正弦波交流磁场中,磁阻传感器具有交流电倍频性能。若外界交流磁场的磁感应强度B为 B=B0COSωt (1) (1)式中,B0为磁感应强度的振幅,ω为角频率,t为时间。 2设在弱磁场中ΔR/R(0)=KB(2) (2)式中,K为常量。由(1)式和(2)式可得 R(B)=R(0)+ΔR=R(0)+R(0)×[ΔR/R(0)] 22=R(0)+R(0)KB0COSωt 2 1212R(0)KB0+R(0)KB0COS2ωt (3) 22 1122(3)式中,R(0)+R(0)KB0为不随时间变化的电阻值,而R(0)KB0cos2ωt为以角频22=R(0)+ 率2ω作余弦变化的电阻值。因此,磁阻传感器的电阻值在弱正弦波交流磁场中,将产生倍频交流电阻阻值变化。

磁阻效应法测量磁场

实验64 磁阻效应及磁阻效应法测量磁场 磁阻器件由于其灵敏度高、抗干扰能力强等优点在工业、交通、仪器仪表、医疗器械、探矿等领域应用十分广泛,如:数字式罗盘、交通车辆检测、导航系统、伪钞检别、位置测量等探测器。磁阻器件品种较多,可分为正常磁电阻,各向异性磁电阻,特大磁电阻,巨磁电阻和隧道磁电阻等。其中正常磁电阻的应用十分普遍。锑化铟(InSb)传感器是一种价格低廉、灵敏度高的正常磁电阻,有着十分重要的应用价值。它可用于制造在磁场微小变化时测量多种物理量的传感器。本实验使用两种材料的传感器:砷化镓(GaAs)测量磁感应强度和研究锑化铟(InSb)在磁感应强度变化时的电阻,融合霍尔效应和磁阻效应两种物理现象。 【实验目的】 1.了解磁阻现象与霍尔效应的关系与区别; 2.测量锑化铟传感器的电阻与磁感应强度的关系; 3.作出锑化铟传感器的电阻变化与磁感应强度的关系曲线; 【实验仪器】 磁阻效应实验仪 【实验原理】 在一定条件下,导电材料的电阻值R随磁感应强度B的变化规律称为磁阻效应。 如图1所示,当材料处于磁场中时,导体或半导体内的载流子将受洛仑兹力的作用发生偏转,在两端产生积聚电荷并产生霍尔电场。如霍尔电场作 用和某一速度的载流子的洛仑兹力作用刚好抵消, 那么小于或大于该速度的载流子将发生偏转, 因而沿外加电场方向运动的载流子数目将减少, 电阻增大,表现出横向磁阻效应。如果将图1 中 a、b端短接,霍尔电场将不存在,所有电子将向 a端偏转,磁阻效应更明显。 通常以电阻率的相对改变量来表示磁阻的大 小,即用△ρ/ρ(0)表示,其中ρ(0)为零磁场时的电 阻率,设磁电阻阻值在磁感应强度为B的磁场中 电阻率为ρ(B),则△ρ=ρ(B)-ρ(0), 由于磁阻传感器电阻的相对变化率△R/R(0)正比于△ρ/ρ(0), 这里△R =R(B) -R(0),因此也可以用磁阻传感器电阻的相对改变量△R/R(0)来表示磁阻效应的大小。 实验证明,当金属或半导体处于较弱磁场中时,一般磁阻传感器电阻相对变化率ΔR/R(0)正比于磁感应强度B的平方,而在强磁场中ΔR/R(0)与磁感应强度B呈线性函数关系。磁阻传感器的上述特性在物理学和电子学方面有着重要应用。 如果半导体材料磁阻传感器处于角频率为ω的弱正弦波交流磁场中,由于磁电阻相对变化量ΔR/R (0)正比于B2,那么磁阻传感器的电阻R将随角频率2ω作周期性变化。即在弱正弦波交流磁场中磁阻传感器具有交流电倍频性能。 图1 磁阻效应

MR-1 磁阻效应实验仪 - 南京信息工程大学

实验64 磁阻效应 磁阻器件由于其灵敏度高、抗干扰能力强等优点在工业、交通、仪器仪表、医疗器械、探矿等领域应用十分广泛,如:数字式罗盘、交通车辆检测、导航系统、伪钞检别、位置测量等探测器。磁阻器件品种较多,可分为正常磁电阻,各向异性磁电阻,特大磁电阻,巨磁电阻和隧道磁电阻等。其中正常磁电阻的应用十分普遍。锑化铟(InSb)传感器是一种价格低廉、灵敏度高的正常磁电阻,有着十分重要的应用价值。它可用于制造在磁场微小变化时测量多种物理量的传感器。本实验使用两种材料的传感器:砷化镓(GaAs)测量磁感应强度和研究锑化铟(InSb)在磁感应强度变化时的电阻,融合霍尔效应和磁阻效应两种物理现象。 【实验目的】 1.了解磁阻现象与霍尔效应的关系与区别; 2.测量锑化铟传感器的电阻与磁感应强度的关系; 3.作出锑化铟传感器的电阻变化与磁感应强度的关系曲线; 【实验仪器】 磁阻效应实验仪 【实验原理】 在一定条件下,导电材料的电阻值R随磁感应强度B的变化规律称为磁阻效应。 如图1所示,当材料处于磁场中时,导体或半导体内的载流子将受洛仑兹力的作用发生偏转,在两端产生积聚电荷并产生霍尔电场。如霍尔电场作 用和某一速度的载流子的洛仑兹力作用刚好抵消, 那么小于或大于该速度的载流子将发生偏转, 因而沿外加电场方向运动的载流子数目将减少, 电阻增大,表现出横向磁阻效应。如果将图1 中 a、b端短接,霍尔电场将不存在,所有电子将向 a端偏转,磁阻效应更明显。 通常以电阻率的相对改变量来表示磁阻的大 小,即用△ρ/ρ(0)表示,其中ρ(0)为零磁场时的电 阻率,设磁电阻阻值在磁感应强度为B的磁场中 电阻率为ρ(B),则△ρ=ρ(B)-ρ(0), 由于磁阻传感器电阻的相对变化率△R/R(0)正比于△ρ/ρ(0), 这里△R =R(B) -R(0),因此也可以用磁阻传感器电阻的相对改变量△R/R(0)来表示磁阻效应的大小。 实验证明,当金属或半导体处于较弱磁场中时,一般磁阻传感器电阻相对变化率ΔR/R(0)正比于磁感应强度B的平方,而在强磁场中ΔR/R(0)与磁感应强度B呈线性函数关系。磁阻传感器的上述特性在物理学和电子学方面有着重要应用。 如果半导体材料磁阻传感器处于角频率为ω的弱正弦波交流磁场中,由于磁电阻相对变化量ΔR/R (0)正比于B2,那么磁阻传感器的电阻R将随角频率2ω作周期性变化。即在弱正弦波交流磁场中磁阻 图1 磁阻效应

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