数字电路课后答案--第一单元

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1.1 检验学习结果

1、什么是本征激发?什么是复合?少数载流子和多数载流子是如何产生的?

答:由于光照、辐射、温度的影响而产生电子—空穴对的现象称为本征激发;同时进行

的价电子定向连续填补空穴的的现象称为复合。掺入三价杂质元素后,由于空穴数量大大增加而称为多子,自由电子就是少子;掺入五价元素后,由于自由电子数量大大增加而称为多子,空穴就是少子。即多数载流子和少数载流子的概念是因掺杂而形成的。

2、半导体的导电机理和金属导体的导电机理有何区别?

答:金属导体中存在大量的自由电子载流子,因此金属导体导电时只有自由电子一种载流子;而半导体内部既有自由电子载流子又有空穴载流子,在外电场作用下,两种载流子总是同时参与导电,这一点是它与金属导体导电机理的区别。

3、什么是本征半导体?什么是N型半导体?什么是P型半导体?

答:原子排列得非常整齐、结构完全对称的晶体称为本征半导体

.....。本征半导体掺入五价元素后形成N型半导体;掺入三价元素后形成P形半导体。

4、由于N型半导体中多数载流子是电子,因此说这种半导体是带负电的。这种说法正确吗?为什么?

答:这种说法不正确。因为,虽然N型半导体中有多子和少子之分,造成定城的离子带正电,但是整个晶体上的正、负电荷总数在掺杂过程中并没有失去或增加,所以晶体不带电。

5、试述雪崩击穿和齐纳击穿的特点。这两种击穿能否造成PN结的永久损坏?

答:电击穿包括雪崩击穿和齐纳击穿,前者是一种碰撞的击穿,后者属于场效应的击穿,这两种电击穿一般可逆,不会造成PN结的永久损坏。

6、何谓扩散电流?何谓漂移电流?何谓PN结的正向偏置和反向偏置?说说PN结有什么特性?

答:由多子形成的导通电流称扩散电流,由少子形成的电流称为漂移电流;当PN结的阳极P接电源正极,阴极N接电源负极时称为正向偏置,反之为反向偏置;PN结具有“正向导通、反向阻断”的单向导电性。

1.2 检验学习结果

1、何谓死区电压?硅管和锗管死区电压的典型值各为多少?为何会出现死区电压?

答:二极管虽然具有单向导电性,但是当正向电压较小时,由于外加正向电压的电场还不足以克服PN结的内电场对扩散运动的阻挡作用,二极管仍呈现高阻态,所以通过二极管

的正向电流几乎为零,即基本上仍处于截止状态,这段区域通常称为死区

..。二极管工作在死区时,硅管的死区电压典型值是0.5V,锗管的死区电压典型值是0.1V。

2、为什么二极管的反向电流很小且具有饱和性?当环境温度升高时又会明显增大?

答:由于常温下少数载流子的数量不多,故反向电流很小,而且当外加电压在一定范围内变化时,反向电流几乎不随外加电压的变化而变化,因此反向电流又称为反向饱和电流。当环境温度升高时,受温度影响本征激发和复合运动加剧,因此少子数量增大。

3、把一个1.5V 的干电池直接正向联接到二极管的两端,会出现什么问题?

答:测量二极管类型及好坏时,通常采用1.5V 干电池串一个约1k 的电阻,并使二极管按正向接法与电阻相连接,使二极管正向导通。如果测量时直接把1.5V 的干电池正向连接到二极管的两端,因为没有限流电阻,很有可能使二极管中因电流过大而损坏。

4、二极管的伏安特性曲线上可分为几个区?能否说明二极管工作在各个区时的电压、电流情况?

答:二极管的伏安特性曲线上通常分为死区、正向导通区、反向截止区和反向击穿区。二极管工作在死区时,由于正向电压小于和等于死区电压,因此无法抵消PN 结内电场对正向扩散电流的阻碍作用,电流趋近于零;二极管工作在正向导通区时,管子正向端电压的数值基本保持在小于1V 的情况下不变,而在此电压下管子中通过的电流增长很快;二极管工作在反向截止区时,当温度不变时反向电流基本不变,且不随反向电压的增加而增大,故称为反射饱和电流,若温度变化时,对反向截止区的电流影响较大;二极管工作在击穿区时,特点是电压增加一点即造成电流迅速增大,若不加限制,则二极管有热击穿的危险。

5、半导体二极管工作在击穿区,是否一定被损坏?为什么?

答:半导体二极管工作在击穿区时不一定会损坏。因为,如果是电击穿,一般过程可逆,只要限流措施得当或及时撤掉击穿电压,就不会造成PN 结的永久损坏。但是,电击穿若不加任何限制而持续增强时,由于PN 结上的热量积累就会造成热击穿,热击穿过程不可逆,就会造成二极管的永久损坏。

6、理想二极管电路如图1-16所示。已知输入电压u i =10sinωt V ,试画出输出电压u 0的波形。

答: (a )图:图中二极管若看作理想二极管,当输入正弦波电压低于-5V 时,二极管D 导通,输出电压u O =u i ;当输入正弦波电压高于-5V 时,二极管D 截止,输出电压u O =-5V

(b )图:图中二极管也看作理想二极管,当输入正弦波电压高于+5V 时,二极管D 导通,输出电压u O =u

i ;当输入正弦波电压低于+5V 时,二极管D 截止,输出电压u O =+5V ,波形如下图所示:

图1-16 检验题6电路图

1.3 检验学习结果

1、利用稳压管或普通二极管的正向压降,是否也可以稳压?

答:不可以。因为,硅二极管或稳压管的正向压降正常工作时只有0.7V,正向电压在正向偏置时管压降只能是0~0.7V,超过此电压过大时,二极管的管压降也不会超过1V,因此它们的正向压降是不能稳压的。

2、现有两只稳压管,它们的稳定电压分别为6V和8V,正向导通电压为0.7V。试问:

(1)若将它们串联相接,则可得到几种稳压值?各为多少?

(2)若将它们并联相接,则又可得到几种稳压值?各为多少?

答:(1)将额定电压分别为6V和8V的两个稳压管串联相接:反向串联时稳压值为14V;正向串联时1.4V;一反一正串联时可获得6.7V、8.7V。

(2)将额定电压分别为6V和8V的两个稳压管并联相接:反向并联时稳压值为6V;正向并联时或一反一正并联时只能是0.7V。

3、在图1-20所示电路中,发光二极管导通电压U D=1.5V,正向电流在5~15mA时才能正常工作。试问图中开关S在什么位置时发光二极管才能发光?R的取值范围又是多少?

答:图中开关S闭合时发光二极管可导通。导通发光时正向5mA电流下1.5÷5=0.3kΩ;正向15mA电流下1.5÷15=0.1kΩ。因此限流电阻R的取值范围:100Ω~300Ω。

1.4 检验学习结果

1、三极管的发射极和集电极是否可以互换使用?为什么?

答:由于三极管的发射区和集电区掺杂质浓度上存在较大差异,且面积也相差不少,因此不能互换使用。如果互换使用,其放大能力将大大下降甚至失去放大能力。

2、三极管在输出特性曲线的饱和区工作时,其电流放大系数是否也等于β?

答:三极管工作在饱和区时,电流放大能力下降,电流放大系数β值随之下降。

3、使用三极管时,只要①集电极电流超过I CM值;②耗散功率超过P CM值;③集—射极电压超过U(BR)CEO值,三极管就必然损坏。上述说法哪个是对的?

答:其中只有说法②正确,超过最大耗散功率P CM值时,三极管将由于过热而烧损。

4、用万用表测量某些三极管的管压降得到下列几组数据,说明每个管子是NPN型还是PNP型?是硅管还是锗管?它们各工作在什么区域?

①U BE=0.7V,U CE=0.3V;

②U BE=0.7V,U CE=4V;

③U BE=0V,U CE=4V;

④U BE=-0.2V,U CE=-0.3V;

⑤U BE=0V,U CE=-4V。

答:①NPN硅管,饱和区;②NPN硅管,放大区;③NPN硅管,截止区;④PNP锗管,放大区;⑤PNP锗管,截止区。

1.5 检验学习结果

1、双极型三极管和单极型三极管的导电机理有什么不同?为什么称双极型三极管为电流控制型器件?MOS管为电压控制型器件?

答:双极型三极管有多子和少子两种载流子同时参与导电;单极型三极管只有多子参与导电。由于双极型三极管的输出电流I C受基极电流I B的控制,因此称其为电流控件;MOS 管的输出电流I D受栅源间电压U GS的控制,因之称为电压控制型器件。

2、当U GS为何值时,增强型N沟道MOS管导通?

答:当U GS=U T时,增强型N沟道MOS管开始导通,随着U GS的增加,沟道加宽,I D增大。当U GD=U GS-U DS

3、在使用MOS管时,为什么其栅极不能悬空?

答:因为单极型三极管的输入电阻很高(二氧化硅层的原因),在外界电压的影响下,

栅极容易产生相当高的感应电压,造成管子击穿,所以,MOS

............

...管在不使用时应避免栅极悬

空.,务必将各电极短接

........。

4、双极型三极管和MOS管的输入电阻有何不同?

答:双极型三极管的输入电阻r be一般在几百欧~千欧左右,相对较小;而MOS管绝缘层的输入电阻极高,趋近于无穷大,因此通常认为栅极电流为零。

第1章检测题(共100分,120分钟)

一、填空题:

1、N型半导体是在本征半导体中掺入极微量的五价元素组成的。这种半导体内的多数载流子为自由电子,少数载流子为空穴,不能移动的杂质离子带正电。P型半导体是在本征半导体中掺入极微量的三价元素组成的。这种半导体内的多数载流子为空穴,少数载流子为自由电子,不能移动的杂质离子带负电。

2、三极管的内部结构是由发射区、基区、集电区区及发射结和集电结组成的。三极管对外引出的电极分别是发射极、基极和集电极。

3、PN结正向偏置时,外电场的方向与内电场的方向相反,有利于多数载流子的扩散运动而不利于少数载流子的漂移;PN结反向偏置时,外电场的方向与内电场的方向一致,有利于少子的漂移运动而不利于多子的扩散,这种情况下的电流称为反向饱和电流。

4、PN结形成的过程中,P型半导体中的多数载流子由P向N区进行扩散,N型半导体中的多数载流子由N向P区进行扩散。扩散的结果使它们的交界处建立起一个空间电荷区,其方向由N区指向P区。空间电荷区的建立,对多数载流子的扩散起削弱作用,对少子的漂移起增强作用,当这两种运动达到动态平衡时,PN结形成。

5、检测二极管极性时,需用万用表欧姆挡的R×1K档位,当检测时表针偏转度较大时,与红表棒相接触的电极是二极管的阴极;与黑表棒相接触的电极是二极管的阳极。检测

二极管好坏时,两表棒位置调换前后万用表指针偏转都很大时,说明二极管已经被击穿;两表棒位置调换前后万用表指针偏转都很小时,说明该二极管已经绝缘老化不通。

6、单极型晶体管又称为场效应(MOS)管。其导电沟道分有N沟道和P沟道。

7、稳压管是一种特殊物质制造的面接触型硅晶体二极管,正常工作应在特性曲线的反向击穿区。

8、MOS管在不使用时应避免栅极悬空,务必将各电极短接。

二、判断正误:

1、P型半导体中不能移动的杂质离子带负电,说明P型半导体呈负电性。(错)

2、自由电子载流子填补空穴的“复合”运动产生空穴载流子。(错)

3、用万用表测试晶体管时,选择欧姆档R×10K档位。(错)

4、PN结正向偏置时,其内外电场方向一致。(错)

5、无论在任何情况下,三极管都具有电流放大能力。(错)

6、双极型晶体管是电流控件,单极型晶体管是电压控件。(对)

7、二极管只要工作在反向击穿区,一定会被击穿损坏。(错)

8、当三极管的集电极电流大于它的最大允许电流I CM时,该管必被击穿。(错)

9、双极型三极管和单极型三极管的导电机理相同。(错)

10、双极型三极管的集电极和发射极类型相同,因此可以互换使用。(错)

三、选择题:

1、单极型半导体器件是(C)。

A、二极管;

B、双极型三极管;

C、场效应管;

D、稳压管。

2、P型半导体是在本征半导体中加入微量的(A)元素构成的。

A、三价;

B、四价;

C、五价;

D、六价。

3、稳压二极管的正常工作状态是(C)。

A、导通状态;

B、截止状态;

C、反向击穿状态;

D、任意状态。

4、用万用表检测某二极管时,发现其正、反电阻均约等于1KΩ,说明该二极管(C)。

A、已经击穿;

B、完好状态;

C、内部老化不通;

D、无法判断。

5、PN结两端加正向电压时,其正向电流是(A)而成。

A、多子扩散;

B、少子扩散;

C、少子漂移;

D、多子漂移。

6、测得NPN型三极管上各电极对地电位分别为V E=2.1V,V B=2.8V,V C=4.4V,说明此三极管处在(A)。

A、放大区;

B、饱和区;

C、截止区;

D、反向击穿区。

7、绝缘栅型场效应管的输入电流(C)。

A、较大;

B、较小;

C、为零;

D、无法判断。

8、正弦电流经过二极管整流后的波形为(C)。

A、矩形方波;

B、等腰三角波;

C、正弦半波;

D、仍为正弦波。

9、三极管超过(C)所示极限参数时,必定被损坏。

A、集电极最大允许电流I CM;

B、集—射极间反向击穿电压U(BR)CEO;

C、集电极最大允许耗散功率P CM;

D、管子的电流放大倍数 。

10、若使三极管具有电流放大能力,必须满足的外部条件是( C )

A 、发射结正偏、集电结正偏;

B 、发射结反偏、集电结反偏;

C 、发射结正偏、集电结反偏;

D 、发射结反偏、集电结正偏。

四、简述题:

1、N 型半导体中的多子是带负电的自由电子载流子,P 型半导体中的多子是带正电的空穴载流子,因此说N 型半导体带负电,P 型半导体带正电。上述说法对吗?为什么?

答:这种说法是错误的。因为,晶体在掺入杂质后,只是共价键上多出了电子或少了电子,从而获得了N 型半导体或P 型半导体,但整块晶体中既没有失电子也没有得电子,所以仍呈电中性。

2、某人用测电位的方法测出晶体管三个管脚的对地电位分别为管脚①12V 、管脚②3V 、管脚③3.7V ,试判断管子的类型以及各管脚所属电极。

答:管脚③和管脚②电压相差0.7V ,显然一个硅管,是基极,一个是发射极,而管脚①比管脚②和③的电位都高,所以一定是一个NPN 型硅管。再根据管子在放大时的原则可判断出管脚②是发射极,管脚③是基极,管脚①是集电极。

3、图1-33所示电路中,已知E =5V ,t u ωsin 10i =V ,

二极管为理想元件(即认为正向导通时电阻R =0,反向阻断

时电阻R =∞),试画出u 0的波形。

答:分析:根据电路可知,当u i >E 时,二极管导通u 0=u i ,

当u i

示:

4、半导体和金属导体的导电机理有什么不同?单极型和双极型晶体管的导电情况又有何不同?

答:金属导体中只有自由电子一种载流子参与导电,而半导体中则存在空穴载流子和自由电子两种载流子,它们同时参与导电,这就是金属导体和半导体导电机理上的本质不同点。单极型晶体管内部只有多数载流子参与导电,因此和双极型晶体管中同时有两种载流子参与导电也是不同的。

5、图1-34所示电路中,硅稳压管D Z1的稳定电压为8V ,D Z2的稳定电压为6V ,正向压降均为0.7V ,求各电路的输出电压U 0。

答:(a )图:两稳压管串联,总稳压值为14V ,所以U 0=14V ;

(b )图:两稳压管并联,输出电压按小值计,因此U 0=6V ;

(c )图:两稳压管反向串联,U 0=8.7V ;

(d )图:两稳压管反向并联,可认为DZ1截止不通,则U 0=0.7V 。

6、半导体二极管由一个PN 结构成,三极管则由两个PN 结构成,那么,能否将两个二图1-33

t

极管背靠背地连接在一起构成一个三极管?如不能,说说为什么?

答:将两个二极管背靠背地连接在一起是不能构成一个三极管的。因为,两个背靠背的二极管,其基区太厚,不符合构成三极管基区很薄的内部条件,即使是发射区向基区发射电子,到基区后也都会被基区中大量的空穴复合掉,根本不可能有载流子继续向集电区扩散,所以这样的“三极管”是不会有电流放大作用的。

7、如果把三极管的集电极和发射极对调使用?三极管会损坏吗?为什么?

答:集电极和发射极对调使用,三极管不会损坏,但是其电流放大倍数大大降低。因为集电极和发射极的杂技浓度差异很大,且结面积也不同。

五、计算分析题:

1、图1-35所示三极管的输出特性曲线,试指出各区域名称并根据所给出的参数进行分析计算。(8分)

(1)U CE =3V ,I B =60μA ,I C =?

(2)I C =4mA ,U CE =4V ,I CB =?

(3)U CE =3V ,I B 由40~60μA 时,β=?

解:A 区是饱和区,B 区是放大区,C 区是截止区。

(1)观察图6-25,对应I B =60μA 、U CE =3V 处,集电极电流I C 约为3.5mA ;

(2)观察图6-25,对应I C =4mA 、U CE =4V 处,I B 约小于80μA 和大于70μA ;

(3)对应ΔI B =20μA 、U CE =3V 处,ΔI C ≈1mA ,所以β≈1000/20≈50。

图1-34

I C (m A)

U CE (V)

图1-35

2、已知NPN 型三极管的输入—输出特性曲线如图1-36所示,当

(1)U BE =0.7V ,U CE =6V ,I C =?

(2)I B =50μA ,U CE =5V ,I C =?

(3)U CE =6V ,U BE 从0.7V 变到0.75V 时,求I B 和I C 的变化量,此时的?=β(9分) 解:(1)由(a )曲线查得U BE =0.7V 时,对应I B =30μA ,由(b)曲线查得I C ≈3.6mA ;

(2)由(b )曲线可查得此时I C ≈5mA ;

(3)由输入特性曲线可知,U BE 从0.7V 变到0.75V 的过程中,ΔI B ≈30μA ,由输出特性曲线可知,ΔI C ≈2.4mA ,所以β≈2400/30≈80。

图1-36

I C (m A) U CE (V)

(b )输出特性曲线 (a )输入特性曲线 I B 12

8

6

0 4

2

0 BE (V)

数字电子技术基础习题及答案..

; 数字电子技术基础试题 一、填空题 : (每空1分,共10分) 1. 10 = ( ) 2 = ( ) 16 。 2 . 逻辑函数L = + A+ B+ C +D = 。 3 . 三态门输出的三种状态分别为:、和。 4 . 主从型JK触发器的特性方程= 。 5 . 用4个触发器可以存储位二进制数。 6 . 存储容量为4K×8位的RAM存储器,其地址线为条、数据线为条。【 二、选择题: (选择一个正确的答案填入括号内,每题3分,共30分 ) 1.设图1中所有触发器的初始状态皆为0,找出图中触发器在时钟信号作用下,输出电压波形恒为0的是:()图。 图 1

2.下列几种TTL电路中,输出端可实现线与功能的电路是()。 A、或非门 B、与非门 ( C、异或门 D、OC门 3.对CMOS与非门电路,其多余输入端正确的处理方法是()。 A、通过大电阻接地(>Ω) B、悬空 C、通过小电阻接地(<1KΩ) D、通过电阻接V CC 4.图2所示电路为由555定时器构成的()。 A、施密特触发器 B、多谐振荡器 C、单稳态触发器 D、T触发器 " 5.请判断以下哪个电路不是时序逻辑电路()。图2 A、计数器 B、寄存器 C、译码器 D、触发器 6.下列几种A/D转换器中,转换速度最快的是()。图2 A、并行A/D转换器 B、计数型A/D转换器 C、逐次渐进型A/D转换器 D、双积分A/D转换器 7.某电路的输入波形 u I 和输出波形 u O 如图 3所示,则该电路为()。

图3 . A、施密特触发器 B、反相器 C、单稳态触发器 D、JK触发器 8.要将方波脉冲的周期扩展10倍,可采用()。 A、10级施密特触发器 B、10位二进制计数器 C、十进制计数器 D、10位D/A转换器 9、已知逻辑函数与其相等的函数为()。 A、B、C、D、 10、一个数据选择器的地址输入端有3个时,最多可以有()个数据信号输出。 \ A、4 B、6 C、8 D、16 三、逻辑函数化简(每题5分,共10分) 1、用代数法化简为最简与或式 Y= A + 2、用卡诺图法化简为最简或与式

数字电子技术基础课后答案全解

第3章 逻辑代数及逻辑门 【3-1】 填空 1、与模拟信号相比,数字信号的特点是它的 离散 性。一个数字信号只有两种取值分别表示为0 和1 。 2、布尔代数中有三种最基本运算: 与 、 或 和 非 ,在此基础上又派生出五种基本运算,分别为与非、或非、异或、同或和与或非。 3、与运算的法则可概述为:有“0”出 0 ,全“1”出 1;类似地或运算的法则为 有”1”出”1”,全”0”出”0” 。 4、摩根定理表示为:A B ?=A B + ;A B +=A B ?。 5、函数表达式Y=AB C D ++,则其对偶式为Y '=()A B C D +?。 6、根据反演规则,若Y=AB C D C +++,则Y =()AB C D C ++? 。 7、指出下列各式中哪些是四变量A B C D 的最小项和最大项。在最小项后的( )里填入m i ,在最大项后的( )里填入M i ,其它填×(i 为最小项或最大项的序号)。 (1) A +B +D (× ); (2) ABCD (m 7 ); (3) ABC ( × ) (4)AB (C +D ) (×); (5) A B C D +++ (M 9 ) ; (6) A+B+CD (× ); 8、函数式F=AB+BC+CD 写成最小项之和的形式结果应为m ∑(3,6,7,11,12,13,14,15), 写成最大项之积的形式结果应为 M (∏ 0,1,2,4,5,8,9,10 ) 9、对逻辑运算判断下述说法是否正确,正确者在其后( )内打对号,反之打×。 (1) 若X +Y =X +Z ,则Y=Z ;( × ) (2) 若XY=XZ ,则Y=Z ;( × ) (3) 若X ⊕Y=X ⊕Z ,则Y=Z ;(√ ) 【3-2】用代数法化简下列各式 (1) F 1 =1ABC AB += (2) F 2 =ABCD ABD ACD AD ++= (3)3F AC ABC ACD CD A CD =+++=+ (4) 4()()F A B C A B C A B C A BC =++?++?++=+ 【3-3】 用卡诺图化简下列各式 (1) 1F BC AB ABC AB C =++=+ (2) 2F AB BC BC A B =++=+ (3) 3F AC AC BC BC AB AC BC =+++=++ (4) 4F ABC ABD ACD CD ABC ACD A D =+++++=+

数字电路实验报告

数字电路实验报告 姓名:张珂 班级:10级8班 学号:2010302540224

实验一:组合逻辑电路分析一.实验用集成电路引脚图 1.74LS00集成电路 2.74LS20集成电路 二、实验内容 1、组合逻辑电路分析 逻辑原理图如下:

U1A 74LS00N U2B 74LS00N U3C 74LS00N X1 2.5 V J1 Key = Space J2 Key = Space J3 Key = Space J4 Key = Space VCC 5V GND 图1.1组合逻辑电路分析 电路图说明:ABCD 按逻辑开关“1”表示高电平,“0”表示低电平; 逻辑指示灯:灯亮表示“1”,灯不亮表示“0”。 真值表如下: A B C D Y 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 1 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 表1.1 组合逻辑电路分析真值表 实验分析: 由实验逻辑电路图可知:输出X1=AB CD =AB+CD ,同样,由真值表也能推出此方程,说明此逻辑电路具有与或功能。 2、密码锁问题: 密码锁的开锁条件是:拨对密码,钥匙插入锁眼将电源接通,当两个条件同时满足时,开锁信号为“1”,将锁打开;否则,报警信号为“1”,则接通警铃。

试分析下图中密码锁的密码ABCD 是什么? 密码锁逻辑原理图如下: U1A 74LS00N U2B 74LS00N U3C 74LS00N U4D 74LS00N U5D 74LS00N U6A 74LS00N U7A 74LS00N U8A 74LS20D GND VCC 5V J1 Key = Space J2 Key = Space J3 Key = Space J4 Key = Space VCC 5V X1 2.5 V X2 2.5 V 图 2 密码锁电路分析 实验真值表记录如下: 实验真值表 A B C D X1 X2 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 0 1 表1.2 密码锁电路分析真值表 实验分析: 由真值表(表1.2)可知:当ABCD 为1001时,灯X1亮,灯X2灭;其他情况下,灯X1灭,灯X2亮。由此可见,该密码锁的密码ABCD 为1001.因而,可以得到:X1=ABCD ,X2=1X 。

数字电子技术基础习题及答案

数字电子技术基础考题 」、填空题:(每空3分,共15分) 辑表达式 )和( 卡诺图 路,称为全加器。 等° 17. 根据不同需要,在集成计数器芯片的基础上,通过采用 进位输出置最小数法 等方法可以实现任意进制的技术器。 18. 4. 一个JK 触发器有_2_个稳态,它可存储_J — 位二进制数。 19. 若将一个正弦波电压信号转换成 同一频率的矩形波,应采用 多谐振荡器 _______ 电路。 20. __________________________________________ 把JK 触发器改成T 触发器的方法是J=k=t __________________________________________________ 。 21. N 个触发器组成的计数器最多可以组成 _^n 进制的计数 器。 1逻辑函数有四种表示方法,它们分别是( 真值表 )、( 逻辑图 2. 将2004个“ 1 ”异或起来得到的结果是( 3. 由555定时器构成的三种电路中, )和( 是脉冲的整形电路。 4. TTL 器件输入脚悬空相当于输入( 电平。 5. 基本逻辑运算有:(and not )和(or )运算。 6. 采用四位比较器对两个四位数比较时, 先比较 最咼 位。 7. 触发器按动作特点可分为基本型、 (同步型 主从型 )和边沿型; 如果要把一宽脉冲变换为窄脉冲应采用 积分型单稳态 触发器 9. 目前我们所学的双极型集成电路和单极型集成电路的典型电路分别是 TTL )电路和 CMOS )电路。 10. 施密特触发器有( 2 )个稳定状态?,多谐振荡器有(0 )个稳定状态。 11.数字系统按组成方式可分为 功能扩展电路、功能综合电路 两种; 12?两二进制数相加时,不考虑低位的进位信号是 加器。 13?不仅考虑两个 本位 .相加,而且还考虑来自 低位进位 _______ 相加的运算电 14.时序逻辑电路的输出不仅和 该时刻输入变量的取值 有关,而且还与_电路原来 的状态 有关。 15?计数器按CP 脉冲的输入方式可分为 同步计数器和 异步计数器。 16?触发器根据逻辑功能的不同,可分为 rs jk 反馈归零法 置数法

北邮数字电路综合实验报告

数字电路综合实验报告 简易智能密码锁 一、实验课题及任务要求 设计并实现一个数字密码锁,密码锁有四位数字密码和一个确认开锁按键,密码输入正确,密码锁打开,密码输入错误进行警示。 基本要求: 1、密码设置:通过键盘进行4 位数字密码设定输入,在数码管上显示所输入数字。通过密码设置确定键(BTN 键)进行锁定。 2、开锁:在闭锁状态下,可以输入密码开锁,且每输入一位密码,在数码管上显示“-”,提示已输入密码的位数。输入四位核对密码后,按“开锁”键,若密码正确则系统开锁,若密码错误系统仍然处于闭锁状态,并用蜂鸣器或led 闪烁报警。 3、在开锁状态下,可以通过密码复位键(BTN 键)来清除密码,恢复初始密码“0000”。闭锁状态下不能清除密码。 4、用点阵显示开锁和闭锁状态。 提高要求: 1、输入密码数字由右向左依次显示,即:每输入一数字显示在最右边的数码管上,同时将先前输入的所有数字向左移动一位。 2、密码锁的密码位数(4~6 位)可调。

3、自拟其它功能。 二、系统设计 2.1系统总体框图 2.2逻辑流程图

2.3MDS图 2.4分块说明 程序主要分为6个模块:键盘模块,数码管模块,点阵模块,报警模块,防抖模块,控制模块。以下进行详细介绍。 1.键盘模块 本模块主要完成是4×4键盘扫描,然后获取其键值,并对其进行编码,从而进行按键的识别,并将相应的按键值进行显示。 键盘扫描的实现过程如下:对于4×4键盘,通常连接为4行、4列,因此要识别按键,只需要知道是哪一行和哪一列即可,为了完成这一识别过程,我们的思想是,首先固定输出高电平,在读入输出的行值时,通常高电平会被低电平拉低,当当前位置为高电平“1”时,没有按键按下,否则,如果读入的4行有一位为低电平,那么对应的该行肯定有一个按键按下,这样便可以获取到按键的行值。同理,获取列值也是如此,先输出4列为高电平,然后在输出4行为低电平,再读入列值,如果其中有哪一位为低电平,那么肯定对应的那一列有按键按下。由此可确定按键位置。

《数字电路实验讲义》word版

数字电路实验讲义 课题:实验一门电路逻辑功能及测试课型:验证性实验 教学目标:熟悉门电路逻辑功能,熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法 重点:熟悉门电路逻辑功能。 难点:用与非门组成其它门电路 教学手段、方法:演示及讲授 实验仪器: 1、示波器; 2、实验用元器件 74LS00 二输入端四与非门 2 片 74LS20 四输入端双与非门 1 片 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS04 六反相器 1 片 实验内容: 1、测试门电路逻辑功能 (1)选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。 (2)将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻辑状态值及电压值填表。

2、逻辑电路的逻辑关系 (1)用74LS00 双输入四与非门电路,按图1.2、图1.3 接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.2,表1.3 中。 (2)写出两个电路的逻辑表达式。 3、利用与非门控制输出 用一片74LS00 按图1.4 接线。S 分别接高、低电平开关,用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。 4、用与非门组成其它门电路并测试验证。 (1)组成或非门:

用一片二输入端四与非门组成或非门B = =,画出电路图,测试并填 + Y? A B A 表1.4。 (2)组成异或门: ①将异或门表达式转化为与非门表达式; ②画出逻辑电路图; ③测试并填表1.5。 5、异或门逻辑功能测试 (1)选二输入四异或门电路74LS86,按图1.5 接线,输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口,输出端A、B、Y 接电平显示发光二极管。 (2)将电平开关按表1.6 的状态转换,将结果填入表中。

数字电路实验

数字电路实验 实验要求: 1. 遵守实验室规则,注意人身和仪器设备的安全。 2. 预习并按规范写好预习报告,否则不能参加实验。 3. 进入实验室后保持安静,对号入座, 4. 将预习报告置于实验桌右上角,待指导教师检查。 5. 完成实验任务后,保持实验现场,报请老师验收。验收时需清楚简练地向老师介绍实验情况、证明自己已完成了实验任务。 6.实验成绩由预习报告、实验效果与实验纪律、独立动手能力、实验报告等综合决定。 实验报告内容要求 1. 实验名称、实验者姓名、实验时间地点和指导教师等。 2. 实验目的与要求。 3. 实验用仪器仪表的名称和型号。 4. 实验电路和测试电路。包括实验所用的器件品种、数目和参数。 5. 实验内容、步骤,在这部分内容中,应用简明的语言或提纲给出实验的具体内容,步骤、记录实验中的原始数据,绘制出根据观察到的波形整理出的图表、曲线,反映在实验中遇到的问题及处理的经过。如对原实验方案进行了调整,则应写出调整方案的理由和调整情况。 6. 实验结果及分析。实验结果是对实验所得的原始数据进行分析计算后得出的结论。可以用数值或曲线表达,实验结果应满足实验任务的要求。 7. 实验小结。总结实验完成的情况,对实验方案和实验结果进行讨论,对实验中遇到的问题进行分析,简单叙述实验的收获、体会等。 8. 参考资料。记录实验进行前、后阅读的有关资料,为今后查阅提供方便。

实验一TTL与非门参数测试及使用 一、实验目的 1、学习TTL和CMOS门电路的逻辑功能测试方法,加深认识TTL与CMOS门电路的 电平差异。 2、通过测试TTL与非门的电压传输特性,进一步理解门电路的重要参数及其意义(包 括U OL、U OH、U ON、U OFF、U TH、U NL、U NH)。 3、了解一般的集成门电路器件的常用封装形式和引脚排列规律,掌握使用方法。 4、熟悉数字实验箱的结构和使用方法。 二、预习要求 1、TTL与CMOS门电路的逻辑功能及闲置输入端的处置方法。 2、电压传输特性曲线及其所表征的主要参数的意义。 3、设计实验数据纪录表格 三、实验内容 1、测试TTL与非门74LS00和CM0S或非门CC4001逻辑功能。 (1)识别72LS00和CC4001的封装及引脚排列。 (2)正确连接测试电路,特别注意直流工作电压的大小和极性。 (3)测试它们的真值表,要求纪录输入高低电平(U IL、U IH)和输出高低电平(U OL、U OH)。 (4)实验TTL和CMOS门电路的输入端悬空对门电路输出的影响。 2、测试TTL与非门电压传输特性。 (1)正确连接测试电路,特别注意实心电位器的连接,连接错误易损坏电位器。 (2)注意在特性曲线的转折处应适当增加测量点。 (3)正确读取数据并纪录。 四、实验报告 1、书写格式要规范,书写认真、字迹清晰。 2、实验报告内容要齐全 3、测试的原始数据要真实,不能随意修改原始数据。 4、绘制TTL门的传输特性曲线,并根据曲线标出U ON、U OFF、U TH及U NL、U NH。 5、实验结果分析与小结 实验二组合逻辑电路设计 一、实验目的 1、学习用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法,进一步掌握组合逻辑电路的 分析和设计方法。 2、学习用中规模集成电路实现组合逻辑函数的方法 3、学习数字电路实验中查找电路故障的一般方法。 二、预习要求 1、组合逻辑电路分析、设计的一般方法。 2、用译码器和数据选择器实现组合逻辑函数的方法。 3、画出用译码器74LS138实现半加器的电路图。 三、实验内容 1、用与非门实现半加器。

数字电路第一章数字电路习题集和答案

第一章绪论练习题 一、选择题 1.以下代码中为无权码的为。 A. 8421BCD码 B. 5421BCD码 C. 余三码 D. 格雷码2.以下代码中为恒权码的为。 A.8421BCD码 B. 5421BCD码 C. 余三码 D. 格雷码3.一位十六进制数可以用位二进制数来表示。 A. 1 B. 2 C. 4 D. 16 4.十进制数25用8421BCD码表示为。 A.10 101 B.0010 0101 C.100101 D.10101 5.在一个8位的存储单元中,能够存储的最大无符号整数是。 A.(256) 10 B.(127) 10 C.(FF) 16 D.(255) 10 6.与十进制数(53.5) 10 等值的数或代码为。 A.(0101 0011.0101) 8421BCD B.(35.8) 16 C.(110101.1) 2 D.(65.4) 8 7.矩形脉冲信号的参数有。 A.周期 B.占空比 C.脉宽 D.扫描期8.与八进制数(47.3) 8 等值的数为: A.(100111.011) 2B.(27.6) 16 C.(27.3) 16 D.(100111.11) 2 9. 常用的BC D码有。 A.奇偶校验码 B.格雷码 C.8421码 D.余三码10.与模拟电路相比,数字电路主要的优点有。 A.容易设计 B.通用性强 C.保密性好 D.抗干扰能力强11.把10010110 B二进制数转换成十进制数为() A. 150 B. 96 C.82 D. 159 12.将4FBH转换为十进制数( ) A. 011101110101B B. 011100111011B C. 010********* D. 100010000101 13.将数1101.11B转换为十六进制数为() A.D.CH B. 15.3H C. 12.EH D. 21.3H 14.将十进制数130转换为对应的八进制数: A.202 B. 82 C. 120 D. 230

数字电路实验问答题

实验一 (2)如何用万用表测量数字集成电路的好坏? 数字集成电路损坏分为两种情况,一种是彻底不能工作;另一种是工作不稳定,可靠性非常低。 用万用表主要测量其阻抗值,可以拿一只好的相同的IC比较,测试管脚到地的阻抗值;另外就是放到具体的电路中加上适当的电压测试各个管脚的电压或电平值;数字IC的范围非常广,拿一只单片机来讲,要判断其工作问题,还要用到示波器观察数据收发期间对应管脚上高低电平的变化,对于其他数字IC,可以测试并对应真值表来比较。由于IC应用不同,并没有一个归一化的方法,只有通过不断实践来完成整个电路的调试了。 (3)如何用示波器确定输入信号是直流还是交流? 答案一:示波器有交流输入和直流输入的转化按钮,如果选中直流按钮,测得的就是直流和交流的叠加信号(如果有交流信号);选中交流按钮,只能测得交流信号(不管信号是否有直流成分)。 如果用直流档和交流档测得的信号完全相同,则说明信号只有交流成分;若果直流档有信号,交流档测不到信号则说明只有直流成分没有交流成分;交直流都测得信号灯信号形状不同,则说明信号同时存在交直流成分。 答案二:先把示波器的“AC-GND-DC”置于GND位置,把参考点选在中间位置,再把“AC-GND-DC”置于DC位置,再进行测试,如果波形是在参考点中心线的上方或下方,那就是直流;如果在参考点中心线的上方和下方都有波形显示,那就是交流。特别提示:直流不一定就是直线, (4)如何用示波器测量电流信号? 使被测电流通过一个电阻(叫取样电阻),适当选取电阻值,使被测电流信号在该电阻上的压降达数十至数百毫伏,并使毫伏数,与电流值有便于运算的比例关系,之后,用示波器测量该电阻上的压降即可。 实验三 (2)与非门中多余端如何处理?

数字电路试题及答案

数字电路试题及答案 二、单项选择题(本大题共10小题,每小题2分,共20分) 1、十六进制数(8F)16对应的十进制数是( C ) A、141 B、142 C、143 D、144 2、逻辑函数L(A,B,C)=(A+B)(B+C)(A+C)的最简与或表达式为( D) A、(A+C)B+AC B、 AB+(B+A)C C、 A(B+C)+BC D、 AB+BC+AC 3、与非门输出为低电平时,需满足( D ) A、只要有一个输入端为低电平 B、只要有一个输入端为高电平 C、所有输入端都是低电平 D、所有输入端都是高电平 4、能够实现“线与”功能的门电路是( D ) A、与非门B、或非门 C、三态输出门D、集电极开路门 5、由与非门构成的基本RS触发器,要使Qn+1=Qn,则输入信号应为(A) A、R=S=1B、R=S=0 C、R=1,S=0D、R=0,S=1 6、要使T触发器Qn+1=Qn ,则(B) A、T=QnB、T=0C、T=1D、T=n 7、对于JK触发器,要使Q n+1=Q n,则(B) A、J=K=1 B、J=K=0 C、J=1,K=0 D、J=0,K=1 8、为实现D触发器转换成T触发器,题图所示的虚线框内应是。( C ) A、与非门 B、异或门 C、同或门 D、或非门 9、十六个数据输入端的数据选择器必有地址输入端的个数为( D) A、1 B、2 C、3 D、4 10、一个4位二进制计数器的最大模数是( C ) A、4 B、8 C、16 D、32 三、简答题(本大题共2小题,每小题5分,共10分) 1、数字电路从整体上看可分为几大类? 答:(1)、按集成度分,有小、中、大、超大、甚大规模;(3分) (2)、按结构工艺分,有TTL、CMOS集成电路。(2分) 2、最简与-或表达式的标准是什么? 答:(1)、包含的与项最少;(3分) (2)、每个与项中变量的个数最少。(2分) 四、分析计算题(本大题共6小题,每小题10分,共60分) 1、逻辑电路的输入变量A、B和输出函数F的波形如题3-1图所示,试列出真值表,写出逻辑函数F的逻辑表达式,并画逻辑图。

数字电子技术课后题答案

第1单元能力训练检测题(共100分,120分钟) 一、填空题:(每空分,共20分) 1、由二值变量所构成的因果关系称为逻辑关系。能够反映和处理逻辑关系的数学工具称为逻辑代数。 2、在正逻辑的约定下,“1”表示高电平,“0”表示低电平。 3、数字电路中,输入信号和输出信号之间的关系是逻辑关系,所以数字电路也称为逻辑电路。在逻辑关系中,最基本的关系是与逻辑、或逻辑和非逻辑。 4、用来表示各种计数制数码个数的数称为基数,同一数码在不同数位所代表的 权不同。十进制计数各位的基数是10,位权是10的幂。 5、8421 BCD码和2421码是有权码;余3码和格雷码是无权码。 6、进位计数制是表示数值大小的各种方法的统称。一般都是按照进位方式来实现计数的,简称为数制。任意进制数转换为十进制数时,均采用按位权展开求和的方法。 7、十进制整数转换成二进制时采用除2取余法;十进制小数转换成二进制时采用 乘2取整法。 8、十进制数转换为八进制和十六进制时,应先转换成二进制,然后再根据转换 的二进数,按照三个数码一组转换成八进制;按四个数码一组转换成十六进制。 9、逻辑代数的基本定律有交换律、结合律、分配律、反演律和非非律。 10、最简与或表达式是指在表达式中与项中的变量最少,且或项也最少。 13、卡诺图是将代表最小项的小方格按相邻原则排列而构成的方块图。卡诺图的画图规则:任意两个几何位置相邻的最小项之间,只允许一位变量的取值不同。 14、在化简的过程中,约束项可以根据需要看作1或0。 二、判断正误题(每小题1分,共10分) 1、奇偶校验码是最基本的检错码,用来使用PCM方法传送讯号时避免出错。(对) 2、异或函数与同或函数在逻辑上互为反函数。(对) 3、8421BCD码、2421BCD码和余3码都属于有权码。(错) 4、二进制计数中各位的基是2,不同数位的权是2的幂。(对)

数字电路全部实验

数字电子技术 实验报告 实验一门电路逻辑功能及测试 (1) 实验二数据选择器与应用 (4) 实验三触发器及其应用 (8) 实验四计数器及其应用 (11) 实验五数码管显示控制电路设计 (17) 实验六交通信号控制电路 (19) 实验七汽车尾灯电路设计 (25) 班级:08030801 学号:2008301787 2008301949 姓名:纪敏于潇

实验一 门电路逻辑功能及测试 一、实验目的: 1.加深了解TTL 逻辑门电路的参数意义。 2.掌握各种TTL 门电路的逻辑功能。 3.掌握验证逻辑门电路功能的方法。 4.掌握空闲输入端的处理方法。 二、实验设备: THD —4数字电路实验箱,数字双踪示波器,函数信号发射器, 74LS00二输入端四与非门,导线若干。 三、实验步骤及内容: 1.测试门电路逻辑功能。 选用双四输入与非门74LS00一只,按图接线,将输入电平按表置位,测输出电平 用与非门实现与逻辑、或逻辑和异或逻辑。用74LS00实现与逻辑。 用74LS00实现或逻辑。用74LS00实现异或逻辑。 2.按实验要求画出逻辑图,记录实验结果。 3.实验数据与结果 将74LS00二输入端输入信号分别设为信号A 、B 用74LS00实现与逻辑 1A B A B =? 逻辑电路如下:

12 3 74LS00AN 4 5 6 74LS00AN A B A 端输入TTL 门信号, B 端输入高电平,输出波形如下: A 端输入TTL 门信号, B 端输入低电平,输出波形如下: 1、 用74LS00实现或逻辑 11A B A B A B +=?=???逻辑电路如下

数字电路实验考试参考题目

数字电路实验考试参考题目 1.请采用两种方法(分别用与非门器件和数据选择器)设计一个三人表决器。 2.请采用两种方法(分别用与非门器件和数据选择器)设计一个四人表决器。 3.采用数据选择器(74LS151)设计完成下列逻辑函数: F1=A BC+A B D+B C D+AC D; F2=ABC+BCD+ACD+ABD 4.利用JK触发器设计一个异步四进制计数器(可采用74LS73),并用示波器观测电路输 入、输出波形。 5.设计一个模21的计数器(可采用74LS390或74LS192等),用发光二极管观察并记录 电路的所有有效计数状态。 6.设计一个模22的计数器(可采用74LS390或74LS192等),用发光二极管观察并记录 电路的所有有效计数状态。 7.设计一个模23的计数器(可采用74LS390或74LS192等),用发光二极管观察并记录 电路的所有有效计数状态。 8.设计一个模24的计数器(可采用74LS390或74LS192等),用发光二极管观察并记录 电路的所有有效计数状态。 9.设计一个模25的计数器(可采用74LS390或74LS192等),用发光二极管观察并记录 电路的所有有效计数状态。 10.设计一个模20的计数器(可采用74LS390或74LS192等),用发光二极管观察电路的 所有有效计数状态;并用示波器观测计数器的输入输出端波形。 11.采用移位寄存器设计一个具有自启动功能的四位环形计数器,记录电路所有状态(包括 由偏离态进入有效循环的过程),并画出状态转移图。 12.设计一个具有自启动功能的、有效状态分别为1000,0100,0010,0001的四位右移环 形计数器。 13.设计一个具有自启动功能的、有效状态分别为0001,0010,0100,1000的四位左移环 形计数器。 14.设计一个具有自启动功能的、有效状态分别为1110,1101,1011,0111的四位左移环 形计数器。 15.设计一个具有自启动功能的、有效状态分别为1110,0111,1011,1101的四位右移环 形计数器。 16.设计一个具有自启动功能的、有效状态分别为1100,1001,0011,0110的四位左移环 形计数器。 17.设计一个具有自启动功能的、有效状态分别为1100,0110,0011,1001的四位右移环 形计数器。 18.采用2MHZ的晶体振荡器、与非门、电阻等器件设计一个晶体稳频多谐振荡电路,经 分频后,电路输出脉冲信号频率为1MHZ。 19.采用555定时器设计电路,要求输出一个频率为1KHZ的脉冲信号,并用示波器观测电 路输出波形。 20.采用大规模集成存储器、编程器、计数器等元件和设备,设计完成一个八路彩灯控制电 路。 (可能还有小范围调整,请大家继续关注网站通知)

《数字电子技术基础》课后习题答案

《数字电路与逻辑设计》作业 教材:《数字电子技术基础》 (高等教育出版社,第2版,2012年第7次印刷)第一章: 自测题: 一、 1、小规模集成电路,中规模集成电路,大规模集成电路,超大规模集成电路 5、各位权系数之和,179 9、01100101,01100101,01100110; 11100101,10011010,10011011 二、 1、× 8、√ 10、× 三、 1、A 4、B 练习题: 1.3、解: (1) 十六进制转二进制: 4 5 C 0100 0101 1100 二进制转八进制:010 001 011 100 2 1 3 4 十六进制转十进制:(45C)16=4*162+5*161+12*160=(1116)10 所以:(45C)16=(10001011100)2=(2134)8=(1116)10 (2) 十六进制转二进制: 6 D E . C 8 0110 1101 1110 . 1100 1000 二进制转八进制:011 011 011 110 . 110 010 000 3 3 3 6 . 6 2 十六进制转十进制:(6DE.C8)16=6*162+13*161+14*160+13*16-1+8*16-2=(1758.78125)10 所以:(6DE.C8)16=(011011011110. 11001000)2=(3336.62)8=(1758.78125)10

(3) 十六进制转二进制:8 F E . F D 1000 1111 1110. 1111 1101二进制转八进制:100 011 111 110 . 111 111 010 4 3 7 6 . 7 7 2 十六进制转十进制: (8FE.FD)16=8*162+15*161+14*160+15*16-1+13*16-2=(2302.98828125)10 所以:(8FE.FD)16=(100011111110.11111101)2=(437 6.772)8=(2302.98828125)10 (4) 十六进制转二进制:7 9 E . F D 0111 1001 1110 . 1111 1101二进制转八进制:011 110 011 110 . 111 111 010 3 6 3 6 . 7 7 2 十六进制转十进制: (79E.FD)16=7*162+9*161+14*160+15*16-1+13*16-2=(1950. 98828125)10 所以:(8FE.FD)16=(011110011110.11111101)2=(3636.772)8=(1950.98828125)10 1.5、解: (74)10 =(0111 0100)8421BCD=(1010 0111)余3BCD (45.36)10 =(0100 0101.0011 0110)8421BCD=(0111 1000.0110 1001 )余3BCD (136.45)10 =(0001 0011 0110.0100 0101)8421BCD=(0100 0110 1001.0111 1000 )余3BCD (374.51)10 =(0011 0111 0100.0101 0001)8421BCD=(0110 1010 0111.1000 0100)余3BCD 1.8、解 (1)(+35)=(0 100011)原= (0 100011)补 (2)(+56 )=(0 111000)原= (0 111000)补 (3)(-26)=(1 11010)原= (1 11101)补 (4)(-67)=(1 1000011)原= (1 1000110)补

数字电路及设计实验

常用数字仪表的使用 实验内容: 1.参考“仪器操作指南”之“DS1000操作演示”,熟悉示数字波器的使用。 2.测试示波器校正信号如下参数:(请注意该信号测试时将耦合方式设置为直流耦合。 峰峰值(Vpp),最大值(Vmax),最小值(Vmin), 幅值(Vamp),周期(Prd),频率(Freq) 顶端值(Vtop),底端值(Vbase),过冲(Overshoot), 预冲(Preshoot),平均值(Average),均方根值(Vrms),即有效值 上升时间(RiseTime),下降时间(FallTime),正脉宽(+Width), 负脉宽(-Width),正占空比(+Duty),负占空比(-Duty)等参数。 3.TTL输出高电平>2.4V,输出低电平<0.4V。在室温下,一般输出高电平是3.5V,输出低 电平是0.2V。最小输入高电平和低电平:输入高电平>=2.0V,输入低电平<=0.8V。 请采用函数信号发生器输出一个TTL信号,要求满足如下条件: ①输出高电平为3.5V,低电平为0V的一个方波信号; ②信号频率1000Hz; 在示波器上观测该信号并记录波形数据。

集成逻辑门测试(含4个实验项目) (本实验内容选作) 一、实验目的 (1)深刻理解集成逻辑门主要参数的含义和功能。 (2)熟悉TTL 与非门和CMOS 或非门主要参数的测试方法,并通过功能测试判断器件好坏。 二、实验设备与器件 本实验设备与器件分别是: 实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、直流稳压电源、数字频率计、数字万用表及工具; 实验器件:74LS20两片,CC4001一片,500Ω左右电阻和10k Ω左右电阻各一只。 三、实验项目 1.TTL 与非门逻辑功能测试 按表1-1的要求测74LS20逻辑功能,将测试结果填入与非门功能测试表中(测试F=1、0时,V OH 与V OL 的值)。 2.TTL 与非门直流参数的测试 测试时取电源电压V CC =5V ;注意电流表档次,所选量程应大于器件电参数规范值。 (1)导通电源电流I CCL 。测试条件:输入端均悬空,输出端空载。测试电路按图1-1(a )连接。 (2)低电平输入电流I iL 。测试条件:被测输入端通过电流表接地,其余输入端悬空,输出空载。测试电路按图1-1(b )连接。 (3)高电平输入电流I iH 。测试条件:被测输入端通过电流表接电源(电压V CC ),其余输入端均接地,输出空载。测试电路按图1-1(c )连接。 (4)电压传输特性。测试电路按图1-2连接。按表1-2所列各输入电压值逐点进行测量,各输入电压值通过调节电位器W 取得。将测试结果在表1-2中记录,并根据实测数据,做出电压传输特性曲线。然后,从曲线上读出V OH ,V OL ,V on ,V off 和V T ,并计算V NH ,V NL 等参数。 表1-1 与非门功能测试表

数字电路实验

实验2 组合逻辑电路(半加器全加器及逻辑运算) 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的功能测试。 2.验证半加器和全加器的逻辑功能。 3.学会二进制数的运算规律。 二、实验仪器及材料 1.Dais或XK实验仪一台 2.万用表一台 3.器件:74LS00 三输入端四与非门3片 74LS86 三输入端四与或门1片 74LS55 四输入端双与或门1片 三、预习要求 1.预习组合逻辑电路的分析方法。 2.预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3.学习二进制数的运算。 四、实验内容 1.组合逻辑电路功能测试。 图2-1 ⑴用2片74LS00组成图2-1所示逻辑电路。为便于接线和检查,在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。 ⑵图中A、B、C接电平开关,Y1、Y2接发光管显示。 ⑶按表2-1要求,改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2逻辑表达式。 ⑷将运算结果与实验比较。

2.测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知,半加器Y是A、B的异或,而进位Z是A、B相与,故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2-2。 图2-2 ⑴在实验仪上用异或门和与门接成以上电路。A、B接电平开关S,Y、Z接电平显示。 ⑵按表2-2要求改变A、B状态,填表。 3.测试全加器的逻辑功能。 ⑴写出图2-3电路的逻辑表达式。 ⑵根据逻辑表达式列真值表。 ⑶根据真值表画逻辑函数SiCi的卡诺图。 图2-3 ⑷填写表2-3各点状态。

⑸按原理图选择与非门并接线进行测试,将测试结果记入表2-4,并与上表进行比较看逻辑功能是否一致。 4.测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能。 全加器可以用两个半加器和两个与门一个或门组成,在实验中,常用一块双异或门、一个与或门和一个非门实现。 ⑴画出用异或门、与或非门和与门实现全加器的逻辑电路图,写出逻辑表达式。 ⑵找出异或门、与或非门和与门器件,按自己画出的图接线。接线时注意与或非门中不用的与门输入端接地。 ⑶当输入端Ai、Bi、Ci-1为下列情况时,用万用表测量Si和Ci的电位并将其转为逻辑状态填入表2-5。 五、实验报告 1.整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。 2.总结组合逻辑电路的分析方法。 实验3 触发器 一、实验目的 1.熟悉并掌握R-S、D、J-K触发器的构成,工作原理和功能测试方法。 2.学会正确使用触发器集成芯片。 3.了解不同逻辑功能FF相互转换的方法。 二、实验仪器及材料 1.双踪示波器一台 2.Dais或XK实验仪一台 3.器件74LS00 二输入端四与非门1片 74LS74 双D触发器1片 74LS112 双J-K触发器1片 二、实验内容

数字电子技术课后习题及答案

第二章 2.2 证明下列异或运算公式 (1)A 0A =⊕ 证明: 左侧0A 0A ?+?= A = 得证 (2)A 1A =⊕ 证明: 左侧1A 1A ?+?= A = 得证 (3) 0A A =⊕ 证明: 左侧A A A A ?+?= 0= 得证 (4)A A A =⊕ 证明: 左侧A A A A ?+?= A = 得证 (5)B A B A ⊕=⊕ 证明: 右侧B A B A ?+?= B A B A ?+?= B A ⊕= 得证 (6) )C B (A C )B A (⊕⊕=⊕⊕ 证明: 等式右侧)C B (A ⊕⊕= )C B C B (A +⊕=

)C B C B (A )C B C B (A +++= C B A C B A )C B C B (A ++?= C B A C B A )C B )(C B (A ++++= C B A C B A )C C C B BC B B (A +++++= C B A C B A C B A A B C +++= C )B A AB (C )B A B A (+++= C )B A (C )B A (⊕+⊕= (将看成一个整体)B A (⊕,用M 来表示 C M C M += C M ⊕= 再替换M ,则) C )B A (⊕⊕= 得证 2.3 用逻辑代数法将下列逻辑函数式化简为最简与或表达式 (1)L=AB(BC+A) 解:L=AB(BC+A) =ABC+AB =AB(C+1) =AB (2) L=B B A B A ++ 解:L=B B A B A ++ =B A B A )1(++ =B B A + =B B A ++ A =A+B (3) C B B C B C A A B C A L ++++= 解:C B B C B C A A B C A L ++++=

数字电子技术基础第四版课后答案

第七章半导体存储器 [题7.1] 存储器和寄存器在电路结构和工作原理上有何不同? [解] 参见第7.1节。 [题7.2] 动态存储器和静态存储器在电路结构和读/写操作上有何不同? [解] 参见第7.3.1节和第7.3.2节。 [题7.3] 某台计算机的内存储器设置有32位的地址线,16位并行数据输入/输出端,试计算它的最大存储量是多少? [解] 最大存储量为232×16=210×210×210×26=1K×1K×1K×26=64G [题7.4] 试用4片2114(1024×4位的RAM)和3线-8线译码器74LS138(见图3.3.8)组成4096×4位的RAM。 [解] 见图A7.4。 [题7.5] 试用16片2114(1024×4位的RAM)和3线-8线译码器74LS138(见图3.3.8)接成一个8K×8位的RAM。 [解] 见图A7.5。

[题7.6] 已知ROM 的数据表如表P7.6所示,若将地址输入A 3A 2A 1A 0作为4个输入逻辑变量,将数据输出D 3D 2D 1D 0作为函数输出,试写出输出与输入间的逻辑函数式。 [ 解] D 3=0123012301230123A A A A A A A A A A A A A A A A +++ D 2=01230123012301230123A A A A A A A A A A A A A A A A A A A A ++++ +0123A A A A D 1=0123012301230123A A A A A A A A A A A A A A A A +++ D 0=01230123A A A A A A A A + [题7.7] 图P7.7是一个16×4位的ROM ,A 3、、A 2、A 1、A 0为地址输入,D 3、D 2、D 1、D 0是数据输出,若将D 3、D 2、D 1、D 0视为A 3、、A 2、A 1、A 0的逻辑函数,试写出D 3、D 2、D 1、D 0的逻辑函数式。 [解] 01230123012301233A A A A A A A A A A A A A A A A D +++= 0123012301232A A A A A A A A A A A A D ++= 12301230123012301231A A A A A A A A A A A A A A A A A A A A D ++++= 012301230123012301230A A A A A A A A A A A A A A A A A A A A D ++++= 01230123 A A A A A A A A ++ [题7.8] 用16×4位的ROM 设计一个将两个2位二进制数相乘的乘法器电路,列出ROM 的数据表,画出存储矩阵的点阵图。 地址输入 数据输出 地址输入 数据输出 A 3A 2A 1A 0 D 3D 2D 1D 0 A 3A 2A 1A 0 D 3D 2D 1D 0 0000 000 1 0010 001 1 0100 010 1 0110 011 1 000 1 0010 0010 0100 0010 0100 0100 1000 1000 100 1 1010 101 1 1100 110 1 1110 111 1 0010 0100 0100 1000 0100 1000 1000 000 1

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