发光二极管检验标准

发光二极管检验标准
发光二极管检验标准

作业指导书贴片稳压二极管

第 1 页共 1 页 作业指导书进货检验规范(贴片稳压二极管)编号 第 2 版第 0 次修改生效日期 受控状态分发号

1 目的及适用范围 本检验规范的目的是保证本公司所购贴片稳压二极管的质量符合要求。 本检验规范适用于汉王制造有限公司无特殊要求的贴片稳压二极管。 2 参照文件: 本作业规范参照本公司程序文件《进货检验控制程序》,《可焊性、耐焊接热实验规范》,《电子产品(包括元器件)外观检查和尺寸检验规范》以及相关可靠性试验和相关技 术、设计参数资料及GB2828和GB2829抽样程序。 3 规范内容: 3.1测试工量具及仪表:半导体管特性图示仪(XJ4810),游标卡尺,恒温铬铁,浓度不低于 95%的酒精 3.2缺陷分类及定义: A类:单位产品的极重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性极严重不符合规定。 B类:单位产品的重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性严重不符合规定。 C类:单位产品的一般质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。 3.3判定依据:抽样检验依GB2828标准,取特殊检验水平S-3;AQL : A类缺陷为0,B类缺陷 为,C类缺陷为。标有◆号的检验项目抽样检验依GB2829标准,规定RQL 为30,DL为III,抽样方案为:n = 6 , Ac = 0 , Re = 1 。 3.4检验项目、标准、缺陷分类一览表 缺陷分 类 序号检验项目验收标准验收方法及工具A B C 1 稳压值符合设计要求半导体管特性图示 仪√ 2 标识标识完备、准确、无错误目测√ 3 标识附着 力标识清晰,用浸酒精的棉球擦拭三次后无变化酒精棉球√ 4 外观检查无变形、无破损、无污迹,引线无氧化现象目测√ 5 尺寸及封 装符合设计要求游标卡尺√ ◆6 可焊性温度260±10℃, 时间2S , 锡点圆润有光泽,稳固铬铁√ ◆7 耐焊接热温度260±10℃, 浸锡时间5S后,外观、电气与机械性能 良好铬铁√ 8 包装包装良好,随附出厂时间及检验合格证目测√ 4相关记录与表格 《进货检验报告》 HWM-QR099- 批准人签名审核人签名制定人签名 批准日期审核日期制定日期

插件二极管检验标准

二极管的检验标准 1 目的 为了控制二极管的品质,满足LED产品的制作要求,参照国家有关部门标准,特规定了二极管检验的技术要求、检验方法、抽样方案及判定标准、标志、标签及贮存,并对其质量验收作明确的规定。 2 范围 供应商所提供二极管的检验、超期贮存的二极管的复检,均适用此规范。 3 引用标准 GB/T2828.1-2003计数抽样检验程序第一部份:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T2829-2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验) 4 定义 4.1 严重缺陷(CR):该缺陷最终产生一个标识不正确的产品或不能使用。 4.2 主要缺陷(MA):该缺陷使得存在较大的缺陷,容易造成抱怨。 4.3 次要缺陷(MI):该缺陷使得在外观上影响美观。 5 技术要求 5.1外观 5.1.1物料标识清楚,标签上所写内容与送检单上内容相符;检查产品的型号规格、包装、厂商、环保标示是否正确,以及外包装箱的外观是否完好,包装箱应能有效的保护物料在运输过程中不致于损坏; 5.1.2主体丝印清晰正确可辨认; 5.1.3引脚光亮无氧化,弯曲变形不可影响到时实际使用。 5.1.4主体表面不应有锈蚀、裂痕、压痕和其他机械性损伤。 5.2尺寸 5.2.1卡尺测量 对照《产品手册》上的“技术资料”及“技术图纸”量测的项目: 5.2.1.1待检物料外形的尺寸(长、宽或直径、高); 5.2.1.2待检物料引脚的尺寸(长、宽、或直径、高、间距); 5.2.2试装 取“PCB标准件”,将来料待检元件安装在“PCB标准件”上,检验其亲和度。5.3电气特性 5.3.1反向击穿电压 符合《产品手册》或产品规格书所对应规格反向击穿电压的要求。 5.3.2反向漏电流 符合《产品手册》或产品规格书所对应规格反向击漏电流的要求。 5.3.3正向压降 符合《产品手册》或产品规格书所对应规格正向压降的要求。 5.3.4触发电压 符合《产品手册》或产品规格书所对应规格触发电压的要求。 5.3.5反向恢复时间

二极管检验作业指导书

文件名称: 二极管检验作业指导书文件编号:QA-40 版本:00 页码 1 / 3 生效日期:2018.10.15

文件名称: 二极管检验作业指导书文件编号:QA-40 版本:00 页码 2 / 3 1.目的: 对IQC的作业方法及流程进行规范,提高IQC检验作业水平,控制来料不良,提高品质。 2.范围: 本检验标准只适用于本公司二极管。 3.抽样标准: 若无不良来料检验记录,按正常检验标准平均取料抽检。 若上批来料有不良记录,此批按加严检验标准检验,如接着连续3批来料检验为合格,将自动转为正常检验标准。 4.知识链接: 具有单向导通,反向截止的特性。 5.检验内容: 外观检验、尺寸检验、性能测试及可焊性。 6.检验方法: 6.1 IQC收到送货单后,依送货单核对来料与标签内容是否相符,来料规格, 种类;是否相符,如不符拒检验,并通知仓管、采购及主管,如符合,则按下 面步骤检验。 6.2 外观检验: 在自然光或日光灯下,可使用放大镜 要求: a.来料包装无破损、变形,标识清晰完整。 b.本体无破损、脏污、残缺、变形及毛边,封装形式与样品一致。 c.引脚/电极端无氧化发乌、披锋、变形、引脚断等不良。 d.丝印清晰正确,无模糊、脱落。可正确识别极性。 6.3 规格尺寸: a.本体尺寸在规格书范围内。 6.4 电气性能: a.导通性 使用万用表将档位调至二极管档位,红表笔接正极,黑表笔接负极,屏幕显示的值为正向导通电压;若红表笔接负极,黑表笔接正极,屏幕显示值为

文件名称: 二极管检验作业指导书文件编号:QA-40 版本:00 页码 3 / 3 零,标示二极管良好。 b.压降值(VF) 将直流电源的正负极分别接二极管的正负极,依规格书要求,将电流调至规定电流,屏幕上的电压显示值就是VF压降值。 6.5 可焊性: 烙铁温度调节为360±10度,加锡焊接引脚,3秒后目测其上锡面积应大于焊接面积的90%,并且引脚保持完好。 7.合格与不合格的判定: 7.1.每个抽样统计出检验不合格数量:主要或次要; 7.2.没有任何缺陷的样品为OK; 7.3.根据抽样检验结果,对照抽样方案判定合格数量是否达到要求数量,合格 物料在外包装上贴上“PASS”纸,并在送货单上盖合格章;不达要求则及 时反馈SQE工程师,并对该批物料盖不合格章、写不良标签。

瞬变电压抑制二极管检验规范

深圳市科陆电子科技股份有限公司质量体系工作文件 CL/WP-ZL-061 瞬变电压抑制二极管检验规范 (A0版) 编写:日期: 审核:日期: 批准:日期: 受控状态: 深圳市科陆电子科技股份有限公司 1、目的 本检验规范为了进一步提高瞬变电压抑制二极管的质量,在瞬变电压抑制二极管进料时严格把关,

特制定出适应本公司的瞬变电压抑制二极管检验标准,为瞬变电压抑制二极管检验提供科学、客观的方法。对于某些无法用定量表明的缺陷,用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决。 2、适用范围 本检验规范适用于我司对外所有采购之瞬变电压抑制二极管的检验及验收。 3、参照文件 本检验规范参照《IQC作业操作规程》、《原材料外观检验规范》等。 4、内容 4.1检验工具 卡尺、烙铁、锡线、万用表、CL6013、Tektronix572晶体管图示仪、洗板水TF-3000。 4.2术语 1)瞬变电压抑制二极管:是一种安全保护器件,对电路中瞬间出现的浪涌电压脉冲可起分流钳位作用, 可有效降低由于雷电及电路中开关通断时感性元件产生的高压脉冲,避免高压脉冲对电子设备的损坏。 2)瞬变电压抑制二极管分类:分单极型和双极型两种。 3)单极型瞬变电压抑制二极管:只有一个PN结。 4)双极型瞬变电压抑制二极管:有两个PN结,在同一硅片的正反两个面上制作出两个背对背的PN结。5)反向工作电压V RWM、击穿电压V BR、最大抑制电压V C:满足V RWM<V BR<V C关系式。 4.3检验项目及检验方法 4.3.1外观 4.3.1.1外包装箱应规范、整洁,并具有产品标识,应无破损、污物等不良现象。 4.3.1.2产品标签清晰,内容应注明物料名称、规格型号、数量、生产日期、产品厂家等标识。4.3.1.3瞬变电压抑制二极管表面清洁,无破损、污脏、变形及其它机械损坏,颜色一致,并具有规格型号、极性标识。 4.3.1.4规格型号、极性标识等标识应清晰,字符标识残缺不低于整个字符四分之三,无未标示、标示不清等不良现象。 4.3.1.5引脚镀层均匀、光泽,无氧化、发黑、破损等不良现象。 4.3.2尺寸 4.3.2.1尺寸用卡尺检测。用卡尺测量瞬变电压抑制二极管尺寸。 4.3.2.2试配。与其对应的PCB板进行试配。 4.3.3特性 4.3.3.1极性判定:利用晶体管图示仪判定其极性。①若为单极性:正向特性曲线与普通二极管相同,反向特性曲线为曲型的PN结雪崩击穿特性,且具有极性标识;②若为双极性:特性曲线为曲 型的PN结雪崩击穿特性,曲线并对称的,且无极性标识。 4.3.3.2击穿电压V BR:利用晶体管图示仪或CL6013测量。①图示仪法:测其反向伏安特性曲线,根据曲线图示识别,当反向电流为测试电流I T时所对应的电压即为击穿电压V BR;②CL6013法: 加反向电压并测试其回路电流,调节CL6013使电压慢慢上升,当回路电流为测试电流I T时的 所对应的电压即为击穿电压V BR。 4.3.3.3反向漏电流I R:利用CL6013测量,加反向工作电压V RW M并测试其回路电流,此回路电流即为反向漏电流I R。

二极管检验标准

二极管检验标准 一、目的 完善公司质量作业标准,规范物料的进料检验方式,确保进料质量满足公司及客户质量要求。 二、适用范围 凡公司使用的二极管的检验均符合此标准 三、检验内容及方法 3.1外观检验 3.1.1目视检查,来料包装应完好无损,标识清晰; 3.1.2 产品印字清晰,同种产品字符一致,引脚无氧化,发黑现象; 3.1.3 二极管本体无断裂,涂覆层脱落现象; 3.1.4 二极管表面不可有油污、水渍及其它脏污,由运输原因引起的而且能够被空气吹走的灰尘是可以接收的。 3.2尺寸检验 使用卡尺测量二极管的外观尺寸符合要求(详细见ERP基础资料统计-半导体电子明细里下载的相关资料) 3.3 性能参数测量 3.3.1使用万用表测量二极管的单向导通性。 3.3.2开启耐压测试仪,然后根据二极管型号按下耐压测试仪进行预设值,并将直流电压调整在相应的数值上,接地棒接二极管的正极,高压棒接二极管的负极,接通高压,各类型二极管应无击穿或打火现象。 3.4 上锡试验 使用电烙铁对二极管的引脚加锡,焊锡应能包含住引脚为合格。 四、抽样方案及结果判定 4.1检验项目采用GB/T2828.1-2003中一次正常抽样,一般检验Ⅱ级水平,接收质量限AQL 值按检验项目分为:

一般检验项目抽样检验依GB2829标准,规定按照50%标准进行抽样测试。 放宽检验:采用GB/T2828.1-2003中一次正常抽样,一般检验Ⅰ级水平; 加严检验:采用GB/T2828.1-2003中一次正常抽样,一般检验Ⅲ级水平; 4.2检验结果判定: 当发生产品不符合要求时,及时给供应商发纠正预防措施单,严重质量事故时对供应商采取扣款处理。 五、相关文件和记录 《来料质量检验情况登记表》 六、引用标准 GB/T2828.1-2003 GB/T2829-2002

发光二极管质量检验规范

好好学习社区 更多优惠资料下载:https://www.360docs.net/doc/436564569.html, 德信诚培训网 发光二极管质量检验规范 (ISO9001-2015) 测试类别 测试项目 测试描述 样品数量 测试设备 外观 标识 发光头环氧树脂胶体颜色符合要 求,胶体缺胶平口与极性(阴极)对 应正确 5 目视检查 引脚 1.引脚有长短区分,无氧化,无变形 2.双色发光管检查极性类别,如共 极或共阳极,公共极与与发光颜色 极性脚的长度区分 环境模拟 试验 高温高湿存储试验 将发光二极管放置在温度为95℃, 湿度为95%RH 的环境下存储168小 时,实验结束在常温下恢复2小时, 外观应该物变形,爆裂,性能正常 5 高温高湿环境试验箱 高低温冲击试验 将发光二极管放置在-30℃环境下 存储30分钟后转换至70℃环境下存 储30分钟,再从70℃转换至-30℃环境下存储30分钟,重复以上动作 120次,实验结束后,外观应该无变 形,破裂,性能正常 5 高低温冲击环境试验箱 高温存储试验 在高温85℃下环境温度下存储48H ,实验结束在常温下恢复2小时,外观应该无变形,破裂,性能正常 5 高温环境试验箱 低温存储试验 在高温-20℃下环境温度下存储 48H ,实验结束在常温下恢复2小时, 外观应该无变形,爆裂,性能正常 5 低温环境试验箱 盐雾试验 35±2℃,5%的NaCl 溶液(蒸馏水配 制),气压:1kg/c ㎡;喷雾 量:1.5ml/80c ㎡/2H;PH:6.5-7.2; 连续放置24小时锈蚀面积小于2mm 2,并且能够将锈擦除掉 2 盐雾试验机 寿命试验 对发光二极管施加额定动作电压、 动作电流持续工作1000H (动作2秒 释放2秒) 5 测试冶具

瞬变电压抑制二极管检验规范

XXXX份有限公司质量体系工作文件CL/WP-ZL-061 瞬变电压抑制二极管检验规范 (A0版) 编写:日期: 审核:日期: 批准:日期: 受控状态: XXXX有限公司 1、目的 本检验规范为了进一步提高瞬变电压抑制二极管的质量,在瞬变电压抑制二极管进料时严格把关,特制定出适应本公司的瞬变电压抑制二极管检验标准,为瞬变电压抑制二极管检验提供科学、客观的方法。对于某些无法用定量表明的缺陷,用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决。 2、适用范围 本检验规范适用于我司对外所有采购之瞬变电压抑制二极管的检验及验收。 3、参照文件

本检验规范参照《IQC作业操作规程》、《原材料外观检验规范》等。 4、内容 4.1检验工具 卡尺、烙铁、锡线、万用表、CL6013、Tektronix572晶体管图示仪、洗板水TF-3000。 4.2术语 1) 瞬变电压抑制二极管:是一种安全保护器件,对电路中瞬间出现的浪涌电 压脉冲可起分流钳位作用,可有效降低由于雷电及电路中开关通断时感性元件产生 的高压脉冲,避免高压脉冲对电子设备的损坏。 2) 瞬变电压抑制二极管分类:分单极型和双极型两种。 3)单极型瞬变电压抑制二极管:只有一个PN结。 4)双极型瞬变电压抑制二极管:有两个PN结,在同一硅片的正反两个面上 制作出两个背对背的PN结。 5)反向工作电压VRWM、击穿电压VBR、最大抑制电压VC:满足VRWM<VBR<VC关系式。 4.3检验项目及检验方法 4.3.1外观 4.3.1.1外包装箱应规范、整洁,并具有产品标识,应无破损、污物等不 良现象。

4.3.1.2产品标签清晰,内容应注明物料名称、规格型号、数量、生产日期、产品厂家等标识。 4.3.1.3瞬变电压抑制二极管表面清洁,无破损、污脏、变形及其它机械 损坏,颜色一致,并具有规格型号、极性标识。 4.3.1.4规格型号、极性标识等标识应清晰,字符标识残缺不低于整个字 符四分之三,无未标示、标示不清等不良现象。 4.3.1.5引脚镀层均匀、光泽,无氧化、发黑、破损等不良现象。 4.3.2尺寸 4.3.2.1尺寸用卡尺检测。用卡尺测量瞬变电压抑制二极管尺寸。 4.3.2.2试配。与其对应的PCB板进行试配。 4.3.3特性 4.3.3.1极性判定:利用晶体管图示仪判定其极性。①若为单极性:正向 特性曲线与普通二极管相同,反向特性曲线为曲型的PN结雪崩击穿特性,且具有极性标识;②若为双极性:特性曲线为曲型的PN结雪崩击穿特性,曲线并对称的,且无极性标识。 4.3.3.2击穿电压VBR:利用晶体管图示仪或CL6013测量。①图示仪法:测其反向伏安特性曲线,根据曲线图示识别,当反向电流为测试电流IT时所对应的电压即为击穿电压VBR;②CL6013法:加反向电压并测试其回路电流,调节 CL6013使电压慢慢上升,当回路电流为测试电流IT时的所对应的电压即为击穿电压VBR。

发光二极管的测试方法

电特性测试方法: 1.正向电压: 目的:测量器件在规定正向工作电流下,两电极间产生的电压降。 测试原理: D ——被测器件; G ——恒流源; A ——电流表; V ——电压表。 正向电压测量原理图 测量步骤: 正向电压的测量按下列步骤进行: a) 按图连接测试系统,并使仪器预热; b) 调节恒流源,使电流表读数为规定值,这时在直流电压表上的读数即为被测器件的正向电压。 规定条件: ——环境或管壳温度; ——正向偏置电流。 2.反向电压: 目的:测量通过器件的反向电流为规定值时,在两电极之间产生的反向电压。 G

测量原理: D ——被测器件; G ——稳压源; A ——电流表; V ——电压表。 反向电压测量原理图 测量步骤: 反向电压的测量按下列步骤进行: c) 按图连接测试系统,并使仪器预热; d) 调节稳压电源,使电流表读数为规定值,这时在直流电压表上的读数即为被测器件的正向电压。 规定条件: ——环境或管壳温度; ——反向电流。 3.反向电流: 目的:测量在被测器件施加规定的反向电压时产生的反向电流。 测量原理: V A + - G V A + -G

D——被测器件; G——稳压源; A——电流表; V——电压表。 反向电流测量原理图 测量步骤: 反向电压的测量按下列步骤进行: e)按图连接测试系统,并使仪器预热; f)调节稳压电源,使电流表读数为规定值,这时在直流电压表上的读数即为被测器件的正向电 压。 规定条件: ——环境或管壳温度; ——反向电压。 4.总电容: 目的:在被测器件施加规定的正向偏压和规定频率的信号时,测量被测器件两端的电容值。 测量原理: D——被测器件; ——隔离电容; C A——电流表; V——电压表 L——电感。 总电容测量原理图 测量步骤: 总电容的测量按下列步骤进行: g)按图连接测试系统,并使仪器预热;

二极管的选用标准和检测方法

二极管的选用标准和检测方法 二极管涉及的内容比较丰富。下面两个小节谈一谈《电路设计中二极管选用准则》和《二极管检测方法与经验》两部分。 电路设计中二极管选用准则 二极管又称晶体二极管,简称二极管(diode),另外,还有早期的真空电子二极管;它是一种具有单向传导电流的电子器件。在半导体二极管内部有一个PN 结两个引线端子,这种电子器件按照外加电压的方向,具备单向电流的转导性。 一般来讲,晶体二极管是一个由p型半导体和n型半导体烧结形成的p-n结界面。在其界面的两侧形成空间电荷层,构成自建电场。当外加电压等于零时,由于p-n 结两边载流子的浓度差引起扩散电流和由自建电场引起的漂移电流相等而处于电平衡状态,这也是常态下的二极管特性。 1.根据电路功能的选用 高频检波电路应选用锗检波二极管,它的特点是工件频率高,正向压降小和结电容小,2AP11~17用于40M以下,2AP9~10用于100M以下,2AP1~8用于150M以下,2AP30用于400M以下。

2.根据整机体积 整机向小型化,薄型化和轻型化方向发展,要求配套二极管微型化和片状化。DO-35型开关二极管和频段开关二极管的玻壳长度为3.8mm,DO-34频段开关二极管的玻壳长度为2.2mm,SOD-23型塑封变容二极管长度为4mm。 3.根据整机性价比对二极管进行合理选用 根据整机性价比和配套二极管在整机中的作用,进行合理选用,电路安装中二极管使用准则: 1.低于最大额定值下使用 2.降额使用。 3.很低于最高结温下使用。 4.正确地切断,成型和安装二极管 5.使用注意事项 由于二极管向微型。超微型和片状化发展,在使用中要特别注意以下事项: 1.对于点结触型和玻壳二极管,要防止跌落在坚硬的地面, 2.对于玻壳二极管,焊接时要防止电烙铁直接接触玻壳,

2-任务2 半导体二极管的识别与检测

学习情境一常用半导体器件的识别与检测 任务二半导体二极管的识别与检测 一、任务目的 1.了解半导体二极管导电特性; 2.了解半导体二极管的种类; 3.掌握半导体二极管的识别与检测。 二、任务的要求及技术指标 1. 了解本征半导体与杂质半导体的区别; 2.掌握PN结的形成与单向导电性; 3. 了解半导体二极管的结构类型和型号。 4.掌握半导体二极管的识别与检测。 三、半导体导电特性介绍 自然界的物质就其导电性能可分为导体、绝缘体、和半导体。 导体:导电性能良好的物质。如金、银铜等。 绝缘体:几乎不导电的物质。如陶瓷、橡胶、玻璃等。 图1-10 共价键示意图 半导体:导电性能介于导体和绝缘体之间的物质。如硅、锗。 半导体一般分为本征半导体和杂质半导体两种类型。 1.本征半导体 常用的半导体材料有硅(Si)和锗(Ge) 。这种非常纯净的且原子排列整齐的半导体。 图1-10所示分别为硅(锗)的原子结构示意图及硅(锗)原子在晶体中的共价键排

列。 如果共价键中的价电子受热激发获得足够能量,则可摆脱共价键的束缚而成为自由电子。这个电子原来所在的共价键的位置上就留下一个缺少负电荷的空位,这个空位称为空穴。空穴带正电。 2. 杂质半导体 本征半导体实际使用价值不大,但如果在本征半导体中掺入微量的某种杂质元素,就形成N型和P型半导体。 (1)N型半导体 在本征半导体(以硅为例)中掺入少量的5价元素,如磷(P)、砷(As)等。磷原子的最外层有5个价电子,其中4个价电子与相邻硅原子的最外层价电子组成共价键形成稳定结构,多余的电子很容易受激发成为自由电子。这种掺入5价元素的半导体称为N型半导体,如图1-11所示。N型半导体主要靠自由电子导电。 图1-11 N型半导体原理图 (2)P型半导体 在本征半导体(以硅为例)中掺入三价元素如硼(B),硼原子最外层的3个价电子工和相邻的3个硅原子形成共价键后,就留下一下空穴,空穴数量增多,自由电子则相对很少,这种掺入3价元素的半导体称为P型半导体,如图1-12所示。

二极管类来料检验规范

标题:二极管类来料检验规范版本/修改次数A/0 生效日期 ﹡﹡﹡修订记录﹡﹡﹡ 发布日期版本修订内容备注A/0 新版发行

标题:二极管类来料检验规范版本/修改次数A/0 生效日期 1. 目的 根据《元器件规格书》规格要求检验供应商来料,为IQC来料检验,提供检验项目、标准及方法指导。通过检验保证生产使用的物料满足公司的品质要求。 2.范围 本规范适用于我公司所有二极管类物料来料检验。 3.检验方式 3.1 常规来料检验: 常规来料检验即针对每批次来料检验; 依据GB2828-2003 II级一次抽样,致命缺陷(CR)AQL=0.1;重缺陷(MA)AQL=0.15;轻缺陷(MI)AQL=0.65。 3.2 特殊检验: 特殊检验即由于检测条件或检测必要性决定,检测频度参见备注说明,抽样等级、缺陷等级参照常规来料检验。 4.试验项目 4.1 产品包装检查; 4.2 产品外观及完整性检查; 4.3 产品尺寸检查; 4.4 产品性能检查; 4.5 产品环保要求检查; 4.6 实物装配性/可焊性检查。 5. 检验依据 《元器件规格书》、承认书(规格书)、产品BOM。 6.备注 若客户对物料有特殊要求时,以客户要求为准,其他未规定的项目按国家通用标准执行;来料规格型号与BOM或封样不符时,缺陷类别为重缺陷(MA)。

标题:二极管类来料检验规范版本/修改次数A/0 生效日期 7.检验项目与标准 类别检验 项目 检验标准检验方法工具 缺 陷 等 级 来 料 检 验 特 殊 检 验 备 注 (一)产品外观/完整性检查外观/ 完整 性检 查 1、编带包装:要求物 料整齐,无反向、 无散落,无引脚变 形,包装规格与元 器件规格书要求 一致 2、散包包装:要求物 料引脚无变形 3、物料本体无破损, 丝印清晰,标识负 极与引脚对应 4、引脚无氧化、脏 污、断裂 目测判断是否通 过 目测 MA ★ 标签 内容 检查 1、有供应商名称及代 码 2、标识物料型号与实 物对应 3、条码信息与编码对 应 4、标识数量与订单及 实物数量对应 5、有RoHS环保标识 6、有出货检验报告 7、实物和标签一致 8、来料实物数量正确 9、没有混料 目测判断是否通 过 MA ★ (二) 产品尺寸检查尺寸 1、本体尺寸:高度、 长度 2、引脚尺寸:脚距、 脚长、引脚线径 3、贴片封装:参照元 器件规格书标识 尺寸测试 依照《元器件规 格书》检验封装 尺寸是否在公差 范围以内 游标 卡尺 MA ★★ 库存 超期 检验

02J070016-2013 A3二极管类检验规范

规范文件 第 1 页共6 页

文件修订页

1 目的 明确二极管来料品质验收标准,规范检验动作,使检验、判定标准达到一致性。 2适用范围 适用于我司所有二极管类(插件型)来料检验。 3 检验条件 3.1 照明条件:日光灯600~800LUX; 3.2 目光与被测物距离:30~45CM; 3.3 灯光与被测物距离:100CM以內; 3.4 检查角度:以垂直正视为准±45度; 3.5 检查员视力:双眼视力(包括戴上眼镜)1.0以上,且视觉正常,不可有色盲,斜视、散光等; 4 参照标准 4.1 依照MIL-STD-105EⅡ级单次正常抽样标准CR=(正常抽样Ac/Re:0/1);MA=0.65;MI=1.5 4.2 依照MIL-STD-105EⅡ级单次S-2 特殊抽样标准. AQL:2.5抽样 5 检验内容 第 3 页共6 页

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备注: 1)规范中常规检验项目:为来料时必须检验项目; 2)规范中确认检验项目:为新供应商或产品变更时必须检验项目;且除新供应商、产品变更检验外,一年最少也要进行两次确认检验 3)每批记录5组以上数据 附表1: 第 5 页共6 页

第 6 页 共 6 页 高温反向 耐压 ≥ 1200V ≥600V ≥50V ≥1200V ≥75V ≥1200V ≥40V ≥1200V ≥1200V 常温反向漏电流 ≤5uA ≤5uA ≤5uA ≤5uA ≤5uA ≤5uA ≤5uA ≤5uA ≤5uA 附表2: 检测 项目 检测标准(注:承认书另有规定的以承认书为准) IN4732 IN4732 IN4732 IN4732 IN4732 IN4732 IN4732 IN4732 正向电压(Vz ) 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 高温稳压值 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 4.7V ±5% 注:承认书另有规定的以承认书为准. 图一 图二 6 相关文件 6.1 二极管物料承认书 6.2 IQC 工作指引 6.3 不合格品控制程序 7 记录 7.1 一般二极管进料检验报告 7.2 重点参数、尺寸记录表 7.3 一般二极管确认检验报告 7.4 触发二极管确认检验报告

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