NT25L59芯片测试报告

NT25L59芯片测试报告
NT25L59芯片测试报告

华中科技大学

研究生课程考试答题本

考生姓名姜波

考生学号M201472026

系、年级光学与电子信息学院14级

类别微电子学与固体电子学

考试科目VLSI测试技术

考试日期2014年11 月16日

评分

题号得分题号得分

总分:评卷人:

注:1、无评卷人签名试卷无效。

2、必须用钢笔或者圆珠笔阅卷,使用红色。用铅笔阅卷无效。

单片机系统测试报告

单片机系统测试报告 题目:单片机控制LED数码管显示数字 姓名: 学号: 指导老师: 专业:电子信息工程 院系:计算机与信息工程学院 2015年6月

目录 第一章设计任务及要求 (3) 1.1 设计任务 (3) 1.2 设计要求 (3) 第二章芯片引脚功能图及源程序设计 (3) 2.1 各芯片引脚图 (3) 2.2在Keil软件设计C语言源程序 (4) 第三章 Protues绘制电路原理图及仿真 (6) 3.1 绘制电路原理图 (6) 3.2 Protues仿真 (7) 第四章电路板的焊接与硬件调试 (7) 4.1 电路板的焊接 (7) 4.2 硬件调试 (7) 第五章心得体会 (8)

第一章设计任务及要求 1.1设计任务 利用51单片机、74HC573芯片、2片位4位数码管等器件,设计一个单片机输入显示系统。巩固Proteus软件和Keil软件的使用方法,学习端口输入输出的高级应用。 1.2 设计要求 要求八个数码管按顺序依次显示1~8 第二章芯片引脚功能图及源程序设计 2.1 各芯片引脚图 图2.1-1 AT89C52引脚图图2.1-2 74HC573引脚图

图2.1-3 四位一体数码管引脚图2.2在Keil软件设计C语言源程序 #include #include #define uchar unsigned char #define uint unsigned int sbit wela=P2^1; sbit dula=P2^2; unsigned char leddata[]={ 0x3F, //"0" 0x06, //"1" 0x5B, //"2" 0x4F, //"3" 0x66, //"4" 0x6D, //"5" 0x7D, //"6" 0x07, //"7" 0x7F, //"8" 0x6F, //"9" 0x77, //"A" 0x7C, //"B"

学习555芯片功能与测试实验报告

实验报告 实验目的: 1. 静态测试555的逻辑功能。 2. 动态测试555的电压传输特性曲线。 3. 用555设计一个数字定时器,每启动一次,电路产生一个宽度大约为5s 左右 的脉冲。 实验器材: 实验箱、示波器、555芯片、万用表。 实验资料: 实验内容: (1) 静态测试555的逻辑功能 1. 根据555的管脚图,2、6接入5V 可调电压,7、3接二极管显示灯,4、8接 5V 电压端,5悬空,1接地,连接好电路。 学号: 班级: 姓名:

2.改变触发端的电压大小,观察二极管指示灯的状态。记录输入端和输出以及二 极管两端的电压,记录下二极管指示灯由低变高的输入输出电压。 3.整理实验数据,分析实验结果。、 (2)动态测试555电压传输特性曲线 1.设计好积分电路,用示波器调出三角波。 2.2、6接入三角波,通道2接输出,调整直至出现合适的波形。 3.读数记录相关参数,分析数据整理数据。 (3)用555设计一个数字定时器,每启动一次,电路产生一个宽度大约为5s左右的脉冲。 1.设计出合适的电路,连接电路。 2.用示波器调整出正确的波形。 3.读数,整理数据并分析数据。 实验电路图: (1)静态测试555逻辑功能 (2)动态测试555电压传输特性曲线 积分电路: Ch1通道接电阻旁边的黑色节点,CH2接输出。 (3)定时电路电路图

(1)静态测试555的逻辑功能 1.用示波器和积分电路作出的三角波

2.将三角波加入到输入端 由动态测试出电压从0~5V变化时二极管状态发生跳变的电压是1.76V。电压从5V~0V变化时二极管状态发生跳变的是3.44V。如图数据显示。两组数据与静态测试的数据大致符合,实验得证。 (3)定时电路

半导体芯片封装及测试技术--价值评估报告

半导体芯片封装及测试技术 价值评估咨询报告书  深华(2004)评字第018号  深圳大华天诚会计师事务所 中国?深圳

目录 评估咨询报告书摘要 (2) 资产评估咨询报告书 (3) 一、 委托方与资产占有方简介 (3) 二、 评估目的 (3) 三、 评估范围和对象 (3) 四、 评估基准日 (5) 五、 评估原则 (5) 六、 评估依据 (5) (一) 主要法律法规 (5) (二) 经济行为文件 (5) (三) 重大合同协议、产权证明文件 (6) (四) 采用的取价标准 (6) 七、 评估方法 (6) 八、 评估过程 (7) 九、 评估结论 (7) 十、 特别事项说明 (7) 十一、 评估报告评估基准日期后重大事项 (8) 十二、 评估报告法律效力 (8) 十三、 评估报告提出日期 (8) 十四、 备查文件 (8)

评估咨询报告书摘要          我所接受PAYTON技术有限公司的委托,根据国家有关资产评估的规定,本着客观、独立、公正、科学的原则,按照公认的资产评估方法,对PAYTON技术有限公司拥有的半导体芯片封装测试专用技术的价值进行了评估工作。本所评估人员按照必要的评估程序对委托评估的资产实施了实地勘测、市场调查与询证,对委估资产在评估基准日2004年6月24日所表现的市场价值作出了较为公允地反映。评估结果为20,500,000.00美元,大写美元贰仟零伍拾万元整。       郑重声明:  以上内容摘自资产评估报告书,欲了解本评估项目的全面情况,应认真阅读资产评估报告书全文。  本评估结论系对评估基准日资产咨询价值的反映。评估结论系根据本报告书所述原则、依据、前提、方法、程序得出,评估结论只有在上述原则、依据、前提存在的条件下,以及委托方和资产占有方所提供的所有原始文件都是真实与合法的条件下成立。  评估报告中陈述的特别事项是指在已确定评估结果的前提下,评估人员揭示在评估过程中己发现可能影响评估结论,但非评估人员执业水平和能力所能评定估算的有关事项,请报告使用者关注。

载波芯片通信性能测试技术报告

载波芯片通信性能测试 技术报告

目录 1.项目背景-----------------------------------------------3 2.项目意义及方案制定-------------------------------------3 3.具体测试实施情况---------------------------------------4 4.测试结果对比------------------------------------------11

0.项目背景 按照国家电网公司要求,将在未来几年内推行低压集中抄表系统,低压电力线载波抄表是主要抄表方式之一。当前的载波抄表芯片厂家,都拥有自己不同的载波通信技术,在载波的调制方式、路由算法、组网等方面都有自己的独特技术,在不同的通信环境下,发挥着各自的优势,促进了载波抄表技术的百花齐放。 1.项目意义及方案制定 为进一步了解各种载波通信技术性能,分析可能影响载波通信的因素,研究各种载波产品的适用环境,比较各种通信产品的优劣,以保证天津市电力公司低压集抄工程采用尽可能优越的技术与产品,故组织进行了此次对几个主流载波芯片厂产品的对比测试工作。以下测试数据除清华力合微电子的第二次测试是2010年10月进行外,其余生产厂家及清华力合微电子的第一次测试时间均为2009年9月份。 测试方案是由天津市电力公司营销部组织,电能计量中心、电费管理中心共同起草制定的,电能计量中心与电费中心负责具体的测试工作。 测试过程是在模拟台区现场的环境下进行测试,在各个时段不同负荷情况下进行抄表测试,对不同条件下的抄表成功率进行统计。此阶段主要测试载波芯片在各种环境下的集中抄表能力、自组网能力,以及主动上报功能。现场模拟测试以电能计量中心办公楼为测试台区,使用电费管理中心的现有主站;对于各厂家自己的独特功能如电费主站无法支持的,可使用厂家自己的测试平台进行,并对测试过程

DM9051 芯片温度测试报告

DM9051NP IC Test Report Part Number: DM9051NP Marking on Chip: DAVICOM First Line: DM9051NP Second Line: 1431NS Third Line: D86G0.1T2 Number of TP ports: 1TP Number of MII/Reverse MII ports: NA Number of Reduced MII (RMII) ports: NA Number of USB ports: NA Processor Interface: 1, SPI Operating Temperature: MIN= 0℃, MAX= 70 ℃ Test Temperature: 25℃±5% FT tested: NO Bench test program: Ver. 0616 , 0826

Temperature Characterization IC Surface Temperature Measurement Test chip at full wire speed for ALL TP ports and CPU port (if software enabled) for at least one hour above and measure IC surface temperature at center of chip. -- Use PC (if CPU port is enabled) and Smartbit for traffic generation and measurement -- Connect DUT's TP ports to Smartbit using long (>80M) cables -- Start Smartbit traffic generator set to random data, random packet size and 100% utilization rate and display counter. Thermal condition

北大众志自主CPU芯片测试报告_121026_1200修改要求

北大众志自主CPU芯片 测试报告 二〇一二年十月二十四日

目录 1测试结论 (3) 1.1本地模式 (4) 1.2云终端模式 (4) 1.3小结 (5) 2测试环境 (6) 2.1本地模式测试环境 (6) 2.2云终端模式测试环境 (6) 3测试用例及测试结果 (8) 3.1功能测试结果 (8) 3.1.1本地模式功能测试结果 (8) 3.1.1.1操作系统功能测试 (8) 3.1.1.2应用软件功能测试 (9) 3.1.1.3国网业务平台功能测试 (11) 3.1.2云终端模式功能测试结果 (15) 3.1.2.1操作系统功能测试 (15) 3.1.2.2应用软件功能测试 (16) 3.1.2.3国网业务平台功能测试 (19) 3.2性能测试结果 (23) 3.2.1营销稽查监控系统性能对比测试 (23) 3.2.2宁夏电力公司营销业务平台性能对比测试 (23) 3.2.3营销项目管理系统性能对比测试 (25) 4附录——北大众志自主CPU研发及产业化应用情况介绍 (26)

1 测试结论 创新中心于2012年10月9日至2012年10月25日,对北大众志的两种芯片及系统进行测试: 第一种:本地模式(基于北大众志自主x86兼容PKUnity86-2 CPU 芯片的PC 一体机,预装Windows XP 专业版操作系统,通过浏览器登陆国网业务系统); 第二种:云终端模式(基于北大众志自主x86兼容PKUnity86-2 CPU 芯片或自主指令系统PKUnity-3 CPU 芯片的客户端,客户端预装Windows XP 或Linux 操作系统,通过Citrix 或RDP 远程桌面协议,访问服务器端的Windows XP 或Windows 7操作系统桌面,并通过该桌面系统中的浏览器登陆国网业务系统)。 基于北大众志国产CPU 的云终端 基于北大众志国产CPU 的云终端 虚拟桌面服务器 虚拟桌面服务器 国网内网 业务系统 Citrix 协议 Citrix 协议 浏览器 浏览器

北大众志自主CPU芯片测试分析报告__修改要求

北大众志自主CPU芯片测试报告_121026_1200修改要求

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北大众志自主CPU芯片 测试报告 二〇一二年十月二十四日

目录 1测试结论 (5) 1.1本地模式 (6) 1.2云终端模式 (6) 1.3小结 (7) 2测试环境 (8) 2.1本地模式测试环境 (8) 2.2云终端模式测试环境 (8) 3测试用例及测试结果 (10) 3.1功能测试结果 (10) 3.1.1本地模式功能测试结果 (10) 3.1.1.1操作系统功能测试 (10) 3.1.1.2应用软件功能测试 (11) 3.1.1.3国网业务平台功能测试 (13) 3.1.2云终端模式功能测试结果 (17) 3.1.2.1操作系统功能测试 (17) 3.1.2.2应用软件功能测试 (18) 3.1.2.3国网业务平台功能测试 (21) 3.2性能测试结果 (25) 3.2.1营销稽查监控系统性能对比测试 (25) 3.2.2宁夏电力公司营销业务平台性能对比测试 (25) 3.2.3营销项目管理系统性能对比测试 (27) 4附录——北大众志自主CPU研发及产业化应用情况介绍 (28)

1测试结论 创新中心于2012年10月9日至2012年10月25日,对北大众志的两种芯片及系统进行测试: 第一种:本地模式(基于北大众志自主x86兼容PKUnity86-2 CPU芯片的PC一体机,预装Windows XP专业版操作系统,通过浏览器登陆国网业务系统); 第二种:云终端模式(基于北大众志自主x86兼容PKUnity86-2 CPU芯片或自主指令系统PKUnity-3 CPU芯片的客户端,客户端预装Windows XP或Linux操作系统,通过Citrix或RDP远程桌面协议,访问服务器端的Windows XP或Windows 7操作系统桌面,并通过该桌面系统中的浏览器登陆国网业务系统)。 基于北大众志 国产CPU的云终端 基于北大众志 国产CPU的云终端虚拟桌面服务器虚拟桌面服务器 国网内网 业务系统 Citrix协议 Citrix协议 浏览器 浏览器

周立功单片机 MPQ2451电源芯片功能测试报告(in5-36 out3.3 科达嘉27μH)

MPQ2451测试报告 报告编号:20150525-05-01

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芯片/硬件信息: 芯片型号:MPQ2451 芯片品牌:MPS 测试载体/测试硬件:MPQ2451_Demo 委托单位: 广州周立功单片机科技有限公司 联系方式:MPS 测试要求: 1.转化效率:﹥70% 2.线性调整率:<0.5% 3.负载调整率:<1% 4.输出电压精度:<1% 5.纹波电压:<30mV 6.温度系数:<0.1% 测试结果: 1.转化效率:>7 2.28% 2.线性调整率:0.182% 3.负载调整率:0.03% 4.输出电压精度:0.182% 5.纹波电压:7.4mV 6.温度系数:0.0022% 报告申明: 本测试报告只对被测样品负责,未经书面认可不能部分复制本报告。 地址:广州市天河区车陂路黄洲工业区2栋4楼 公司网站:https://www.360docs.net/doc/6c5970946.html, ;https://www.360docs.net/doc/6c5970946.html, 技术论坛:https://www.360docs.net/doc/6c5970946.html, 报告总结 广州周立功单片机科技有限公司 工程技术支持中心

目录 第1章测试配置 (1) 第2章芯片概述 (2) 2.1芯片简介 (2) 2.2芯片应用 (2) 2.3性能参数 (2) 第3章性能测试 (3) 3.1转换效率 (3) 3.1.1测试目的 (3) 3.1.2测试方式 (3) 3.1.3测试数据 (3) 3.2输入电压范围 (5) 3.2.1测试目的 (5) 3.2.2测试方式 (5) 3.2.3测试数据 (5) 3.3负载调整率 (6) 3.3.1测试目的 (6) 3.3.2测试方式 (6) 3.3.3测试数据 (6) 3.4线性调整率 (6) 3.4.1测试目的 (6) 3.4.2测试方式 (6) 3.4.3测试数据 (7) 3.5输出电压精度 (7) 3.5.1测试目的 (7) 3.5.2测试方式 (7) 3.5.3测试数据 (7) 3.6纹波与噪声 (7) 3.6.1测试目的 (7) 3.6.2测试方式 (7) 3.6.3测试数据 (7) 3.7电源启动测试 (9) 3.7.1测试目的 (9) 3.7.2测试方式 (9) 3.7.3测试数据 (9) 3.8电源关机测试 (10) 3.8.1测试目的 (10) 3.8.2测试方式 (10) 3.8.3测试数据 (10) 3.9容性负载 (11) 3.9.1测试目的 (11) 3.9.2测试方式 (11)

芯片测试

献给湖工的学弟学妹们,,,自动化08心有灵犀 目录 第1章概述 (1) 第2章设计方案和框图 (2) 2.1设计方案的选择 (2) 2.2系统框图 (3) 第3章单元电路设计 (4) 3.1元器件介绍 (4) 3.1.1计数器 (4) 3.1.2 比较器 (6) 3.1.3 或门 (7) 3.2 单元电路设计 (8) 3.2.1计数器电路 (8) 3.2.2 芯片插座 (9) 3.2.3标准芯片电路 (9) 3.2.4比较器电路 (10) 3.2.5信号灯电路 (10) 3.2.6计数及显示模块电路 (11) 第4章软件仿真 (12) 第5章总结 (16) 参考文献 (17) 附录A 总电路图 (18)

第1章概述 在高校的教学实验环节中,需要大量使用TTL74,54系列数字集成芯片。随着电子技术的迅速发展,数字集成电路的应用越来越广泛,而74系列的逻辑芯片在数字电路中又有着非常广泛的应用,数字电路设计中要保证设计电路的准确性,必须要求所用的芯片逻辑功能完整,但若对所用芯片逐一测试,未免有些繁琐。另外,在数字电路的维修中经常要对芯片的型号和好坏进行判断,针对上述需要,我们针对常用的74系列逻辑芯片设计了74系列逻辑芯片测试仪,用来检测常用74系列芯片的型号和逻辑功能的好坏,从而是数字电路的设计,制作与维修过程得到简化,达到事半功倍的效果。 目前,市场上存在一种可以对TTL,CMOS数字集成芯片进行检测的工程应用型测试仪,但是其价格较贵,难满足学生人手一台;另外,该测试仪器是面向工程单位的,不能测试实验室中的很多数字芯片。因此,从节约经费、提高利用率的角度出发,设计了集成芯片测试系统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL74系列芯片的功能检测。

关于新RFID芯片的测试报告

关于新RFID芯片的测试报告 1、测试目的: ●以书本出入图书馆管理为应用案例,模拟读者携带使用新RFID芯片作为信息载体的书籍进出大门的场景,为实际使用提供可靠数据。 ●模拟读者,通过架位导航检索加载新RFID芯片图书位置的场景。 ●测试加载新RFID芯片的图书在读者借还书设备上操作的场景。 ●测试加载新RFID芯片的图书在24小时自动借还书设备中应用的场景。 2、测试环境(场地、设备、设施): 以图书馆现有场地布局、出入口环境配置、设备、软件系统为测试场景。 3、测试人员: 网络部:XXX 借阅部:XXX 新RFID芯片厂家工作人员 4、测试场景和方法描述 1)在图书馆借阅一区、三区、四区、五区等地分别选取了加载新RFID芯片的《电磁波屏蔽及吸波材料》、《晨昏》、《穿行时间,草木皆兵》、《数据挖掘技术》、《恶的象征》、《若

干聚类问题复杂性及其算法》、《被风沙掩埋的古城》等7类14册书分别进行借还系统测试、携带未经借还系统处理的书籍进出正门、通过架位导航系统查询等测试工作。 经测试,被抽查的14本书籍可以被自动借还书设备识别,系统借还正常。通过架位导航系统,可以看到14本书籍在图书馆各区的分布图。携带未经借还书系统处理的书籍通过大门口的安全防盗门时,防盗门蜂鸣器出现报警反应。 在24小时城市借还书设备上,这些书在借出后均可以通过该设备进行还书操作。通过采编部提供的《7天学会色铅笔》、《女人受益的12堂课—情绪课》2本书在24小时城市借还书设备上进行上书、借阅和还书操作,均可以实现。 5、测试结果: 综上测试情况来看,新的RFID芯片与图书馆原有RFID 芯片相比在架位导航应用、借还书应用、24小时城市街区借还书设备应用上效果一致。但是,在采编使用的剥离设备上,新芯片不被设备识别。 XXXXXXXXX:XXXX 2014年12月10日

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