与非逻辑门电路功能测试与组合
实验一逻辑门电路功能测试与组合
一、实验目的
1．熟悉电子实验箱的功能及使用方法。
2．认识集成电路的型号、外形和引脚排列，学习在实验箱上实现数字电路的方法。
2．掌握逻辑门电路逻辑功能的测试、使用的基本方法。
3．掌握逻辑门电路的替换方法。
二、实验用元器件
四2输入与非门7400×2
二4输入与非门7420×1
四异或门7486×1
四2输入或门7432×1
六非门7404×1
二4输入与门7421×1
实验中使用7400四2输入与非门和7420二4输入与非门，引脚图如图1—1和图1—2，
7400内部有四个独立的2输入与非门，7420内
有
二
个
4
输
入与非门。
图1—1 7400集成电路图1—2 7420集成电路实验中提供的集成块为74LS系列的低功耗肖特基TTL电路如74LS00和74LS20，74HC系
列的高速CMOS电路如74HC00和74HC20，它们在逻辑上兼容，但具体物理参数不同。在CMOS 电路中输出高电平≈Vcc，输出低电平≈0V，规定输入高电平电压≥，输入低电平电压≤Vcc，在我们的实验中Vcc＝＋5V；TTL电路的输出高电平电压～，输入开门电平～。输出低电平电压0～，输入关门电平～1V。在实验中采用同一电源，经实际测定可以直接互接，但有些条件下要通过接口互接，当74LS门电路驱动74HC门电路时，要测量输出高电平电压是否够高，实际测量值要≥。而74HC门电路驱动74LS门电路时，扇出系数较小，小于10。
三、预习要求
1.熟悉本实验所用的集成电路，并认真阅读附录中注意事项。
2.设计好实验内容中的门电路转换的电路图。
3.根据实验原理，用铅笔填好本次实验所有的真值表，以便核实实验结果。
四、实验内容
1.与非门逻辑功能测试。
选用双4输入与非门74LS20（或74HC20）集成块一片，集成块引脚排列规则：半圆形缺口或黑点朝左时，缺口或黑点下方为第1脚，引脚号逆时针顺序数。按图1—3电路图和所标引脚接线，输入端A、B、C、D分别接四个电平开关，开关接通“+5V”时输入高电平，接通“地”时输入低电平。输出端Y输出经过三极管放大后驱动发光二极管（虚线内电路在实验箱内部已接好），发光二极管亮时输出为高电平，发光二极管不亮时输出为低电平。根据表1—1输入状态，分别测量输出端Y的电压及逻辑状态，结果填入表1—1中。
图1—3 门电路测试原理图
表1—1 4输入与非门测试
输入端输出端Y输入端输出端Y
A B C D电压(V)逻辑状态 A B C D电压(V)逻辑状态
0 0 0 00 1 0 1
0 0 1 0 1 0 0 1
0 0 1 1 1 1 1 0
0 1 0 0 1 1 1 1
2.用与非门控制信号输出
用一片7400集成块，按图1—4的电路图分别在实验箱上接线，S接电平开关，Y接指示灯即发光二级管，观察S对输出脉冲的控制作用。
回答：与非门一个输入端输入脉冲源，其余端什么状态时脉冲可通过什么状态时禁止脉冲通过如要输出的波形与输入波形同相，用什么门电路
注意：在实验箱上观察时，输入的脉冲频率必须小到眼睛能看清。改变输入脉冲频率，观测指示灯变化，S接电平开关。
图1—4控制输出电路原理图
3.组合电路逻辑功能测试。
用7400集成电路，按图1—5在实验箱上接线，将输入、输出的逻辑关系分别填入表1—2中。说明A、B与Y、Z之间的逻辑关系。
表1—2 逻辑电路的逻辑关系
输入输出
A B Y Z
00
01
10
11
4.利用与非门组成其它逻辑门电路。
例如用2输入与非门74LS00（或74HC00）集成块组成非门。
写出转换公式：Y=A =A
A? =1?
A。
画出如下原理图：
在原理图上标上引脚号，按照原理图在实验箱接线验证，将结果记录到真值表。
①用2输入与非门组成或门。
转换公式如下：Y=A+B=B
A+ =B
A?。
②用2输入与非门组成与门 Y=A·B
③用2输入与非门组成同或门 Y=A⊙B
④用2输入与非门组成异或门 Y=A⊕B
写出以上门电路转换公式，画出电路图，在实验箱上接
线验证，根据表1—3的式样填真值表。
5.设计一个4位二进制数为密码的数字密码锁，功
能框图见图1－6，如果A1、B1、C1、D1输入的
输入输出
A B Y
0 0
0 1
1 0
1 1
图1—5 逻辑电路原理图
表1—3 用与非门组成门
密码与事先设置的密码A0、B0、C0、D0一样时，开锁灯亮；密码错误时，警报灯亮。元器件可以选择7486异或门、与非门、或门、非门、与门等，具体引脚图见指导书附录。
五、实验报告内容
图1－6 数字密码锁控
1.实验目的、内容、画出逻辑电路图。
2.在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号，作为实验接线图。
3.按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果，填好测试数据。分析、确认实验结
果的正确性，说明实验结论。
4.对门电路转换实验，要求写出设计过程(转换公式)。
5.在实验总结中写上实验中遇到的问题，解决办法，体会、建议等，要求简洁、务实，
不用套话。
数电实验__门电路逻辑功能及测试
一、实验目的 1、熟悉门电路逻辑功能。 2、学习数字电路实验的一般程序及方法。 3、熟悉数字电路设备的使用方法。 二、实验仪器及材料 1、数字万用表 2、器件： 74LS00 二输入端四“与非”门2片 4LS20 四输入端二“与非”门1片 74LS86 二输入端四“异或”门1片 三、预习要求 1、复习门电路的工作原理及相应的逻辑表达式。 2、熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途（功能）。 四、实验内容 实验前先检查设备的电源是否正常。然后选择实验用的集成电路，按设计的实验原理图（逻辑图）接好连线，特别注意V CC及地线（GND）不能接错。线接好后经检查无误方可通电实验。实验中改动接线须断开电源，改接好线后再通电实验。 1、测试门电路逻辑功能 ⑴、选用四输入端二“与非”门芯片74LS20一片，按图1.1接线。输入端接四只电平开关（电平开关输出插口），输出端接任意一个电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.1置位，分别测输出电压及逻辑状态。 2、异或门逻辑功能测试 ⑴、选二输入端四“异或”门芯片74LS86一片，按图1.2接线。输入端A、B、C、D接四只电平开关，E点、F点和输出端Y分别接三只电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.2置位，将结果填入表中。
4、用“与非”门组成其它门电路并测试验证⑴、组成“或非”门。用一片二输入端四“与非”门芯组成一个“或非”门：Y=A+B，画出逻辑电路图，测试并填表1.5。 ⑵、组成“异或”门。 A、将“异或”门表达式转化为“与非”门表达式。 B、画出逻辑电路图。 C、测试并填表1.6。
思考题： （1）、怎样判断门电路的逻辑功能是否正常? 答：门电路功能正常与否的判断：(1)按照门电路功能，根据输入和输出，列出真值表。(2)按真值表输入电平，查看它的输出是否符合真值表。(3)所有真值表输入状态时，它的输出都是符合真值表，则门电路功能正常；否则门电路功能不正常。 （2）、“与非”门的一个输入端接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过? 答：与非门接髙电平则其他信号可以通过，接低电平则输出恒为0，与非门的真值表是“有0出1，全1出0”。所以一个输入接时钟，就是用时钟控制与非门，当时钟脉冲为高电平时，允许信号通过，为低电平时关闭与非门。 （3）、“异或”门又称可控反相门，为什么？ 答：“异或”函数当有奇数个输入变量为真时，输出为真！ 当输入X＝0，Y＝0 时输出S＝0 当输入X＝0，Y＝1 时输出S＝1 0代表假1代表真 异或门主要用在数字电路的控制中！ 实验小结 由于是第一次数字电路动手试验，操作不是很熟悉，搞得有些手忙脚乱，加之仪器有一点陈旧，电路板上有些地方被烧过，实验中稍不留神接到了烧过的电路板就很难得出正确的结果。 本次试验加深了我对门电路逻辑功能的掌握，对数字电路实验的一般程序及方法有了一定的了解，对数字电路设备的使用方法也有了初步掌握。 在以后的实验中，我会好好预习，认真思考，实验的时候小心仔细，对实验结果认真推敲，勤于思考勤于动手，锻炼自己的动手能力。
组合逻辑电路的设计与测试
四、实验内容 1、设计用与非门及用异或门、与门组成的半加器电路。 要求按本文所述的设计步骤进行，直到测试电路逻辑功能符合设计要求为止。 解: 逻辑表达式：S= A 2、设计一个一位全加器，要求用异或门、与门、或门组成。 解: i C B A AB )(C C B A S o i ⊕+=⊕⊕= A B 0 00 11 01 1 0 01 01 01 1 S C A B S C 74LS08 74LS86 74LS08 A B C i 0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1 0 01 01 00 11 00 10 11 1 S C o A B C i CC4085
A B C i 0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1 0 01 01 00 11 00 10 11 1 S C o A B C i 5 6 3、设计一位全加器，要求用与或非门实现。 解: 11i 1-i i i 1-i i i i B A C B A C B A S --+++=i i i i i C B A C 1i 1-i i i i i A C B B A C -++=i C A i C B i 4、设计一个对两个两位无符号的二进制数进行比较的电路；根据第一个数是否大于、等于、小于第二个数，使相应的三个输出端中的一个输出为“1”，要求用与门、与非门及或非门实现。
解: A 0 B 0 A 1 B 1 B 74LS04六反相器入与门(1) 入与门(2) 五、实验预习要求 1、根据实验任务要求设计组合电路，并根据所给的标准器件画出逻辑图。 2、如何用最简单的方法验证“与或非”门的逻辑功能是否完好？ 3、“与或非”门中，当某一组与端不用时，应作如何处理？ 六、实验报告 1、列写实验任务的设计过程，画出设计的电路图。 2、对所设计的电路进行实验测试，记录测试结果。 1、组合电路设计体会。 A 0B 0A 0B 0A 0=B 0 A 1=A 1= B 1A 1=B 1010× A < B 001×A 1>F AB A 0A 1输出输入F A>B = (A 1>B 1) + (A 1=B 1)(A 0>B 0)F A=B =(A 1=B 1)(A 0=B 0) F A数电实验报告 实验二 组合逻辑电路的设计
实验二组合逻辑电路的设计 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的设计方法及功能测试方法。 2.熟悉组合电路的特点。 二、实验仪器及材料 a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b) 参考元件：74LS86、74LS00。 三、预习要求及思考题 1．预习要求： 1）所用中规模集成组件的功能、外部引线排列及使用方法。 2) 组合逻辑电路的功能特点和结构特点. 3) 中规模集成组件一般分析及设计方法. 4）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。 2.思考题 在进行组合逻辑电路设计时，什么是最佳设计方案 四、实验原理 1．本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录 2.用集成电路进行组合逻辑电路设计的一般步骤是： 1）根据设计要求，定义输入逻辑变量和输出逻辑变量，然后列出真值表； 2）利用卡络图或公式法得出最简逻辑表达式，并根据设计要求所指定的门电路或选定的门电路，将最简逻辑表达式变换为与所指定门电路相应的形式； 3）画出逻辑图； 4）用逻辑门或组件构成实际电路，最后测试验证其逻辑功能。 五、实验内容 1．用四2输入异或门（74LS86）和四2输入与非门（74LS00）设计一个一位全加器。 1）列出真值表,如下表2-1。其中A i、B i、C i分别为一个加数、另一个加数、低位向本位的进位；S i、C i+1分别为本位和、本位向高位的进位。 A i B i C i S i C i+1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 0 1 0 10 1 1 1 00 1 1 1 1 1 1 2）由表2-1全加器真值表写出函数表达式。
实验1门电路的功能测试
实验一门电路的功能测试 1.实验目的 （1）熟悉数字电路实验装置，能正确使用装置上的资源设计实验方案； （2）熟悉双列直插式集成电路的引脚排列及使用方法； （3）熟悉并验证典型集成门电路逻辑功能。 2.实验仪器与材料 （1）数字电路实验装置1台； （2）万用表1块 （3）双列直插集成电路芯片74LS00、74LS86、74LS125各1片，导线若干。 3.知识要点 （1）数字电路实验装置的正确使用 TPE-D6A电子技术学习机是一种数字电路实验装置，利用装置上提供的电路连线、输入激励、输出显示等资源，我们可以设计合理的实验方案，通过连接电路、输入激励信号、测试输出状态等一系列实验环节，对所设计的逻辑电路进行结果测试。该实验装置功能模块组成如图1.1所示。 图中①为集成电路芯片区，有15个IC插座及相应的管脚连接端子，其中A13是8管脚插座，A11、A12是14管脚插座，A1、A2、A3、A7、A8是16管脚插座，A4、A5是18管脚插座，A9、A14、A16、A7、A8是20管脚插座，A10、A15是24管脚插座。根据双列直插式集成电路芯片的管脚数可以选择相同管脚数的IC插座，并将集成电路芯片插入IC插座（凹口侧相对应），可以通过导线将管脚引出的接线端相连，实现电路的连接。 图中②为元件区，内有多个不同参数值的电阻、电容以及二极管、三极管、稳压管、蜂鸣器等元件可供连接电路时选择。 图中③为电位器区，内有1k、10k、22k、100k、220k阻值的电位器等元件可供连接电路时选择。 图中④为直流稳压电源区，是装置内部的直流稳压电源提供的+5V、-5V、+15V、-15V 电源输出引脚，可以为有源集成芯片提供工作电源电压。
实验一、(仿真)组合逻辑电路的设计与测试--振宇
实验一、组合逻辑电路的设计与测试 一、实验目的 1、学会查阅数字芯片数据手册，掌握集成芯片的逻辑功能，了解芯片主要参数。 2、熟悉常用仪器如函数发生器，台式数字万用表及数字示波器的使用方法，熟悉电压、电流等参数测量。 3、掌握组合逻辑电路的设计与测试方法。 4、认识竞争冒险现象，加深对竞争冒险现象产生的理解，学会消除竞争冒险。 二、实验仪器 直流稳压电源 、面包板及插线、数字示波器、台式数字万用表、函数信号发生器及相关芯片：74LS00、74LS20、74LS86、74LS04、 74LS02 、74LS08、发光二极管和少量阻容器件。三、数字电路实验步骤 1、查阅与实验相关芯片资料，从.21icsearch.下载芯片数据手册。 2、列表，列出相关标准参数。 3、测试方案设定，画出电路原理图，并用multisim10软件进行功能仿真测试。 如何设计电路实现题设要求的逻辑功能，选择哪款芯片?考虑仪器、供电电源等各种误差，如何能测量准确? 4、在实验室面包板上搭建系统、调试电路，测试逻辑功能，测量数据，绘制波形，并进行误差分析。 5、按要求完成实验报告 四、实验任务 1、查阅实验过程中所用芯片技术手册，给出相关技术指标和逻辑功能真值表，画出芯片物理与逻辑引脚图。 2、验证74LS00的逻辑功能，自行设计电路测试 V OL 、V OH 、 I CCL 、I CCH 等参数。 低电平输出电源电流I CCL 和高电平输出电源电流I CCH 说明： 芯片处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。以与非门为例，I CCL 是指所有输入端悬空，输出端空载时，芯片输出低电平时电源提供器件的电流。I CCH 是指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，芯片输出高电平时电源提供给器件的电流。通常I CCL ＞I CCH ，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件的最大功耗为P CCL ＝V CC I CCL 。手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。 引脚图： 7400芯片物理与逻辑引脚图：
门电路功能测试及组合逻辑电路设计
实验报告门电路功能测试及组合逻辑电路设计 实验题目：门电路功能测试及组合逻辑电路设计 实验目的： （1）掌握常用门电路的逻辑功能及测试方法； （2）掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。 实验仪器及器材： 数字电路实验箱一个；双踪示波器一台；稳压电源一台；数字万用表一个。 74LS00一片；74LS10一片；74LS20一片。 实验内容： 实验一：对74LS00进行功能测试 ○1.静态测试 （1）A、B都为低电平，输出结果为高电平 （2）A为低电平，B为高电平或A为高电平，B为低电平时，输出结果为高电平
（3）A、B均为高电平，输出结果为低电平 实验结论：测试结果与74LS00逻辑功能功能表相同。○2动态测试 电路的逻辑表达式：F=ˉVK 分析： 当K为0时，示波器的A通道是V的波形，为方波信号，B通道是F的波形，为高电平（一条直线）； 当开关闭合后，K=1，B通道应该是与V波形刚好相反的波形；小灯泡也是一闪一闪的状态。 实验的电路图
实验现象： 开关断开： 示波器的显示：
开关闭合后，小灯泡开始一闪一闪，示波器波形如下图： 现象分析：实验所得现象与预先分析的实验结果一样。比较输入与输出的波形，发现输出F的波形与V的波形刚好相反，但是F波形的最大值较V的最大值偏小，究其原因，这属于正常现象，因为输出会有损失。 实验结论：所得到的波形符合功能要求。 实验2 实验目的：分析一个电路的逻辑功能 实验器材：74LS00、74LS10各一片 F=AB*BC*AC，所以F的结果应为以下表格：
实验结论：实验结果与预期的一样，符合该电路的逻辑功能表达式 实验三 实验目的：设计一个控制楼梯电灯的开关控制器，逻辑功能为课本表2-1-5的真值表。 实验原理分析：根据电路所实现的真值表，可以得出输出Y的逻辑表达式： Y=AB*AB 实验电路及现象： 1.A=1，B=0；A=0，B=1，时灯泡发光； 2.A=B=0或1时，灯泡不发光
数电实验二组合逻辑电路
数电实验二组合逻辑电路 The following text is amended on 12 November 2020.
实验二 组合逻辑电路 一、实验目的 1.掌握组和逻辑电路的功能测试。 2.验证半加器和全加器的逻辑功能。 3.学会二进制数的运算规律。 二、实验仪器及器件 1.仪器：数字电路学习机 2.器件：74LS00 二输入端四与非门 3片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片 三、实验内容 1.组合逻辑电路功能测试 (1).用2片74LS00按图连线，为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。 (2).图中A 、B 、C 接电平开关，Y1、Y2接发光管电平显示 (3).按表要求，改变A 、B 、C 的状态，填表并写出Y1、Y2的逻辑表达式。 (4).将运算结果与实验比较。 Y1=A+B ，C B B A Y +=2 2.测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的 逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y 是A 、B 的 异或，而进位Z 是A 、B 相与，故半加器可用一个集成异 或门和二个与非门组成，如图。 (1).用异或门和与非门接成以上电路。输入A 、B 接 电平开关，输出Y 、Z 接电平显示。 (2).按表要求改变A 、B 状态，填 表。 3.测试全加器的逻辑功能。 (1).写出图电路的逻辑表达式。 (2).根据逻辑表达式列真值表。 (3).根据真值表画逻辑函数SiCi 的卡诺图。 (4).连接电路，测量并填写表各输入 输出 A B C Y1 Y2 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 1 输入 输出 A B Y Z 0 0 0 0 0 1 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 A i B i C i-1 Y Z X 1 X 2 X 3 S i C i 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 0 1 0 1 1 0 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 0 0 1 1 1 1 0 1 1 0 1
实验一TTL各种门电路功能测试
实验序号实验题目 TTL各种门电路功能测试 实验时间实验室 1．实验元件（元件型号；引脚结构；逻辑功能；引脚名称） 1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个 2.数字万用表1块 3.74LS20双四输入与非门1片 4.74LS02四二输入或非门1片 5.74LS51双2-3输入与或非门1片 6.74LS86 四二输入异或门1片 7.74LS00四二输入与非门2片 （1）74LS20引脚结构及逻辑功能（2）74LS02引脚结构及逻辑功能 （3）74LS51引脚结构及逻辑功能（4）74LS86引脚结构及逻辑功能 （5）74LS00引脚结构及逻辑功能
2．实验目的 （1）熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。（2）熟悉万用表的使用方法。 3．实验电路原理图及接线方法描述： （1）74LS00实现与电路电路图 （2）74LS00实现或电路电路图
（3）74LS00实现或非电路电路图 （4）74LS00实现异或电路
4．实验中各种信号的选取及控制（电源为哪些电路供电；输入信号的分布位置；输出信号的指示类型；总结完成实验条件） 5．逻辑验证与真值表填写 （1）74LS00实现与电路电路图逻辑分析 逻辑运算过程分析： 1 21 Y=AB Y=Y=AB=AB 真值表： （2）74LS00实现或电路电路图 逻辑运算过程分析： 1 2 312 Y=AA=A Y=BB=B Y=Y Y=AB=A+B=A+B 真值表： 输入输出 A B 2 Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 输入输出 A B 3 Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1
实验六 组合逻辑电路的设计与测试
实验六组合逻辑电路的设计与测试 1．实验目的 (1)掌握组合逻辑电路的设计方法； (2)熟悉基本门电路的使用方法。 (3)通过实验，论证所设计的组合逻辑电路的正确性。 2．实验设备与器材 1)数字逻辑电路实验箱，2)万用表，3)集成芯片74LS00二片。 3．预习要求 (1)熟悉组合逻辑电路的设计方法； (2)根据具体实验任务，进行实验电路的设计，写出设计过程，并根据给定的标准器件画出逻辑电路图，准备实验； (3)使用器件的各管脚排列及使用方法。 4．实验原理 数字电路中，就其结构和工作原理而言可分为两大类，即组合逻辑电路和时序逻辑电路。组合逻辑电路输出状态只决定于同一时刻的各输入状态的组合，与先前状态无关，它的基本单元一般是逻辑门；时序逻辑电路输出状态不仅与输入变量的状态有关，而且还与系统原先的状态有关，它的基本单元一般是触发器。 (1)组合电路是最常用的逻辑电路，可以用一些常用的门电路来组合完成具有其他功能的门电路。设计组合逻辑电路的一般步骤是： 1)根据逻辑要求，列出真值表； 2)从真值表中写出逻辑表达式； 3)化简逻辑表达式至最简，并选用适当的器件； 4)根据选用的器件，画出逻辑电路图。 逻辑化简是组合逻辑设计的关键步骤之一。为了使电路结构简单和使用器件较少，往往要求逻辑表达式尽可能化简。由于实际使用时要考虑电路的工作速度和稳定可靠等因素，在较复杂的电路中，还要求逻辑清晰易懂，所以最简设计不一定是最佳的。但一般来说，在保证速度、稳定可靠与逻辑清楚的前提下，尽量使用最少的器件，以降低成本。 (2)与非门74LS00芯片介绍 与非门74LS00一块芯片内含有4个互相独立的与非门，每个与非门有二个输入端。其逻辑表达式为Y=AB，逻辑符号及引脚排列如图6-1(a)、(b)所示。 (a)逻辑符号(b)引脚排列 图6-1 74LS20逻辑符号及引脚排列 (3)异或运算的逻辑功能 当某种逻辑关系满足：输入相同输出为“0”，输入相异输出为“1”，这种逻辑关系称为“异或”逻辑关系。 (4)半加器的逻辑功能 在加法运算中，只考虑两个加数本身相加，不考虑由低位来的进位，这种加法器称为半加器。 5．实验内容 (1)用1片74LS00与非门芯片设计实现两输入变量异或运算的异或门电路 要求：设计逻辑电路，按设计电路连接后，接通电源，验证运算逻辑。输入端接逻辑开关输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”；电路的输出端接由LED发光二极管组成的0-1指示器的显示插口，LED亮红色为逻辑“1”，亮绿色为逻辑“0”。接线后检查无误，通电，用万用表直流电压20V档测量输入、输出的对地电压，并观察输出的LED颜色，填入表6-1。
实验一基本门电路的逻辑功能测试
实验一基本门电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理 实验中用到的基本门电路的符号为： 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。 三、实验设备与器件 1、数字逻辑电路用PROTEUS 2、显示可用发光二极管。 3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。 四、实验内容 1.测试TTL门电路的逻辑功能： a）测试74LS08的逻辑功能。(与门)000 010 100 111 b）测试74LS32的逻辑功能。（或门）000 011 101 111 c）测试74LS04的逻辑功能。（非门）01 10 d）测试74LS00的逻辑功能。（两个都弄得时候不亮，其他都亮）（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）001 011 101 110 e）测试74LS02（或非门）的逻辑功能。（两个都不弄得时候亮，其他不亮）001 010 100 110 f）测试74LS86（异或门）的逻辑功能。 2.测试CMOS门电路的逻辑功能：在CMOS 4000分类中查询 a）测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。（与门） b）测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。（或门） c）测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。（非门） d）测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）
e）测试CC4001(74HC02)（或非门）的逻辑功能。 f) 测试CC4030(74HC86)（异或门）的逻辑功能。 五、实验报告要求 1.画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。 2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并分析如何判断逻辑门的好坏。 3.比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。 4．查询各种集成门的管脚分配，并注明各个管脚的作用与功能。 例：74LS00 与门 Y=AB
MSI组合电路逻辑功能测试
实验五 MSI 组合电路逻辑功能测试 一、实验目的 1．会正确测试全加器、编码器、译码器、数据选择器等组合逻辑功能模块的逻辑功能，并能正确描述。 2.了解组合逻辑功能模块的工作特点。 二、实验仪器与器材 1．XST-5B 数字电路实验装置、实验模板 2．集成电路74LS148、74LS138、74LS151等。 3．导线若干、+5V 电源 三、预习要求 预习半加器、全加器、编码器、译码器、数据选择器、数值比较器的逻辑功能。 四、实验原理 中规模的器件，如译码器、数据选择器等，它们本身是为实现某种逻辑功能而设计的，但由于它们的一些特点，我们也可以用它们来实现任意逻辑函数。 1．全加器 全加器－－考虑低位进位数的两个一位二进制数的加法运算逻辑电路。二进制全加器的输入有加数Ai ，被加数Bi ，来自低位的进位数Ci-1；输出也有两个，分别是和数Si 和进位数Ci 。 表5-1是全加器的真值表，其中i A ，i B 表示两个加数，1i C -表示来自低位的进位，i S ，i C 表示相加后得到的和及进位。 1i i i i S A B C -=⊕⊕ (i C =
表5-1 全加器真值表 2.编码器 编码器是一种常用的组合逻辑电路，用于实现编码操作。编码操作就是将具体的事物或状态表示成所需代码的过程。按照所需编码的不同特点和要求，编码器主要分成二类：普通编码器和优先编码器。 普通编码器：电路结构简单，一般用于产生二进制编码。包括：a．二进制编码器：如用门电路构成的4—2线，8—3线编码器等。 b．二一十进制编码器：将十进制的0～9编成BCD码， 优先编码器：当有一个以上的输入端同时输入信号时，普通编码器的输出编码会造成混乱。为解决这一问题，需采用优先编码器。如8线—3线集成二进制优先编码器74LS148、10线—4线集成BCD码优先编码器74LS147等。 表5-2 8线3线编码器功能表 3．译码器 译码器是一个多输入、多输出的组合逻辑电路。它的作用是把给
实验二组合逻辑电路的设计与测试
实验二组合逻辑电路的设计与测试 一、实验目的 1、掌握组合逻辑电路的设计方法及功能测试方法。 2、熟悉组合电路的特点。 二、实验原理 1、使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路。设计组合电路的一 般步骤如图2 —1所示。 图2—1组合逻辑电路设计流程图 根据设计任务的要求建立输入、输出变量，并列出真值表。然后用逻辑代数或卡诺图化 简法求出简化的逻辑表达式。并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。根据简化后的 逻辑表达式，画出逻辑图，用标准器件构成逻辑电路。最后，用实验来验证设计的正确性。 2 、组合逻辑电路设计举例 用“与非”门设计一个表决电路。当四个输入端中有三个或四个为“1”时，输出端才为“ 1”。'\ /设计步骤：根据题意列出真值表如表2—1所示，再填入卡诺图表2 —2中。 表2—
、1110 \DA BC、\0001 000000 01001\ 0 110111 100010 由卡诺图得出逻辑表达式，并演化成“与非”的形式 Z = ABO BCH ACDF ABD =ABC BCD ACDABC 根据逻辑表达式画出用“与非门”构成的逻辑电路如图2- 2所示。 A B C B C D A C D A B D 图2 —2表决电路逻辑图 用实验验证该逻辑功能 在实验装置适当位置选定三个14P插座，按照集成块定位标记插好集成块CC4012按图2 —2接线，输入端A、B、C D接至逻辑开关输出插口，输出端Z接逻辑电平显示输入插口，按真值表（自拟）要求，逐次改变输入变量，测量相应的输出值，验证逻辑功能，与表2—1进行比较，验证所设计的逻辑电路是否符合要求。 三、实验设备与器件 1 、 + 5V直流电源2、逻辑电平开关 3 、逻辑电平显示器4、直流数字电压表 5、CC4011X 2 ( 74LS00)CC4012 X 3 (74LS20)CC4030 (74LS86) CC4081 (74LS08)74LS54 X 2(CC4085)CC4001 (74LS02)
实验一 组合逻辑电路的设计与测试教学提纲
实验一组合逻辑电路的设计与测试 一、实验原理 根据设计任务的要求建立输入、输出变量，并列出真值表；然后用逻辑电路代数或卡诺图化简法求出简化的逻辑表达式并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。根据简化后的逻辑表达式，画出逻辑图，用标准器件构成逻辑电路。最后，验证设计的正确性。 二、实验目的 掌握组合逻辑电路的设计与测试方法。 三、实验设备与器件 1、+5V直流电源 2、逻辑开关 3、逻辑电平显示器 4、直流数字电压表 5、CC4011×2(74LS00) CC4012×3(74LS20) CC4030(74LS86) CC4081(74LS08) 74LS54×2(CC4085) CC4001(74LS02) 四、实验内容 1、设计用与非门及异或门、与门组成的半加器电路。 （1）真值表如下表
(2) 简化逻辑表达式为 S⊕ = A = + B A B A B C= AB （3）逻辑电路图如下 2、设计一个一位全加器，要求用异或门、与门、或门实现。 用四2输入异或门（74LS86）和四2输入与非门（74LS00）设计一个一位全加器。 （1）列出真值表如下表。其中Ai、Bi、Ci分别为一个加数、另一个加数、低位向本位的进位；Si、Ci+1分别为本位和、本位向高位的进位。
1 0 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 1 （2）由全加器真值表写出函数表达式。 （3）将上面两逻辑表达式转换为能用四2输入异或门（74LS86）和四2输入与非门（74LS00）实现的表达式。 （4）画出逻辑电路图如下图，并在图中标明芯片引脚号。按图选择需要的集成块及门电路连线，将Ai 、Bi 、Ci 接逻辑开关，输出Si 、Ci+1接发光二极管。改变输入信号的状态验证真值表。 3、设计一位全加器，要求用与或非门实现。 解: 11i 1-i i i 1-i i i i B A C B A C B A S --+++=i i i i i C B A C Θ
实验六 MSI组合逻辑电路的逻辑功能测试
实验六MSI 组合逻辑电路的逻辑功能测试 一、实验目的 熟悉中规模全加器、译码器、数据选择器组件的逻辑功能、外形及外引线排列。 二、实验仪器与器材 1．XST-5B 数字电路实验装置、实验模板 2．集成电路： 74LS283、74LS138、74LS153、74LS151 3．导线若干、+5V 电源 三、预习要求 预习半加器、全加器、译码器、数据选择器的逻辑功能。 四、实验内容与步骤 1．全加器的逻辑功能测试 表6-1是全加器的真值表，其中i A ，i B 表示两个加数，1i C -表示来自低位的进位，i S ，i C 表示相加后得到的和及进位。 1i i i i S A B C -=⊕⊕ 1()i i i i i i C A B C A B -=⊕+ 将全加器的输入端i A ，i B ，1i C -分别接逻辑电平，输出i S ，i C 接状态显示灯（LED ），按表6-1所列i A ，i B ，1i C -的状态，测试i S ，i C 的相应状态，将测试结果与表6-1进行比较。
2．译码器逻辑功能测试 表6-2是3线/8线译码器74LS138的真值表。按表中给定的输入状态。测试输出，将测得的结果与表6-2进行比较。
表6-2 3．数据选择器逻辑功能测试 ①表6-3是4选1数据选择器74LS153的功能表，按表中给定的输入状态。测试输出，将测得的结果与表6-3进行比较。
表6-3 ②八选一数据选择器74LS151功能测试（自己根据管脚排列和测试结果写出功能表及函数表达式） 五、实验报告 1、整理实验结果、图表，并对实验结果进行分析讨论。 2、写出各芯片的函数表达式。 3、总结本次实验体会。
门电路逻辑功能及测试(完成版)
实验一门电路逻辑功能及测试 计算机一班组员：2014217009赵仁杰 一、实验目的 1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。 2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。 3、学会检测基本门电路的方法。 二、实验仪器及材料 1、仪器设备：双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件： 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片
三、预习要求 1. 预习门电路相应的逻辑表达式。 2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。 四、实验内容及步骤 实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常，然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座，按自己设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯片不能插反。实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。每个芯片的电源和GND引脚，分别和实验台的+5V 和“地（GND）”连接。芯片不给它供电，芯片是不工作的。用实验台的逻辑开关作为被测器件的输入。拨动开关，则改变器件的输入电平。开关向上，输入为1，开关向下，输入为0。 将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯连接。指示灯亮表示输出电平为1，指示灯灭表示输出电平为0。 1.与非门电路逻辑功能的测试 （1）选用双四输入与非门74LS20一片，插入数字电路实验箱中对应的IC座，按图1.1接线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K4的逻辑开关输出插口，输出端接电平显示发光二极管D1~D4中任意一个。注意：芯片74LS20的14号引脚要接试验箱下方的+5V电源，7号引脚要接试验箱下方的地（GND）。用万用表测电压时，万用表要调到直流20V档位，因为芯片接的电源是直流+5V。 表1.1
实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试
实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试 一．实验目的 1．掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。 2．熟悉各种门电路参数的测试方法。 3. 熟悉集成电路的引脚排列，如何在实验箱上接线，接线时应注意什么。 二、实验仪器及材料 a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b)1）CMOS器件： CC4011 二输入端四与非门 1 片 CC4071 二输入端四或门 1片2）TTL器件： 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片 74LS00 二输入端四与非门 1片 74ls125 三态门 1片 74ls04 反向器材 1片 三．预习要求和思考题： 1．预习要求： 1）复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 2）常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。 3）三态门的功能特点。 4）熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。 5）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。 2．思考题 1）TTL门电路和CMOS门电路有什么区别？ 2）用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么？ 四．实验原理 1．本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。 2．门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。 TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，其管脚识别方法：将TTL集成门电路正面（印有集成门电路型号标记）正对自己，有缺口或有圆点的一端置向左方，左下方第一管脚即为管脚“1”，按逆时针方向数，依次为1、2、3、4············。如图1—1所示。具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知，本书实验所使用的器件均已提供其功能。 图1—1
组合逻辑电路的设计与测试
数字电子技术 实验报告 （大数据学院）实验名称：实验二：组合逻辑电路的设计与测试专业班级： 学生姓名： 学生学号： 指导教师：
实 验 地 点： 实 验 日 期： 2019.12.7 实验组成员姓名： 贵州理工学院实验报告 实验项目名 称 组合逻辑电路的设计与测试 实验目的 掌握组合逻辑电路的设计与测试方法 实验原 理 1、 使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路。设计组合电路的一般步骤如图2－1所示。 图2－1 组合逻辑电路设计流程图 根据设计任务的要求建立输入、输出变量，并列出真值表。然后用逻辑代数或 卡诺图化简法求出简化的逻辑表达式。并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。 根据简化后的逻辑表达式，画出逻辑图，用标准器件构成逻辑电路。最后，用实验来验证设计的正确性。 2、 组合逻辑电路设计举例 用“与非”门设计一个表决电路。当四个输入端中有三个或四个为“1”时，输出端才为“1”。 设计步骤：根据题意列出真值表如表2－1所示，再填入卡诺图表2－2中。 表1－1
D 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 A 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 1 1 B 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 C 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 Z 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 1 1 表2－2 DA BC 00 01 11 10 00 01 1 11 1 1 1 10 1 由卡诺图得出逻辑表达式，并演化成“与非”的形式 Z ＝ABC ＋BCD ＋ACD ＋ABD ＝ABC ACD BCD ABC ??? 根据逻辑表达式画出用“与非门”构成的逻辑电路如图2－2所示。 图2－2 表决电路逻辑图 用实验验证逻辑功能 在实验装置适当位置选定三个14P 插座，按照集成块定位标记插好集成块CC4012。 按图2－2接线，输入端A 、B 、C 、D 接至逻辑开关输出插口，输出端Z 接逻辑电平显示输入插口，按真值表（自拟）要求，逐次改变输入变量，测量相应的输出值，验证逻辑功能，与表2－1进行比较，验证所设计的逻辑电路是否符合要求。 3. 半加器实现原理
实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试)
实验一组合逻辑电路设计（含门电路功能测试） 一、实验目的 1.掌握常用门电路的逻辑功能 2.掌握小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法 3.掌握组合逻辑电路的功能测试方法 二、实验设备与器材 数字电路试验箱双踪示波器稳压电源数字多用表 74LS20 二4输入与非门 74LS00 四2输入与非门 74LS10 三3输入与非门 三、实验原理 TTL集成逻辑电路种类繁多，使用时应对选用的器件做简单逻辑功能检查，保证实验的顺利进行。 测试门电路逻辑功能有静态测试和动态测试两种方法。静态测试时，门电路输入端加固定的高（H）、低电平，用示波器、万用表、或发光二极管（LED）测出门电路的输出响应。动态测试时，门电路的输入端加脉冲信号，用示波器观测输入波形与输出波形的同步关系。
下面以74LS00为例，简述集成逻辑门功能测试的方法。74LS00为四输入2与非门，电路图如3-1所示。74LS00是将四个二输入与非门封装在一个集成电路芯片中，共有14条外引线。使用时必须保证在第14脚上加+5V电压，第7脚与底线接好。 整个测试过程包括静态、动态和主要参数测试三部分。 表3-1 74LS00与非门真值表 1.门电路的静态逻辑功能测试 静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表，确认门电路的逻辑功能正确与否。实验时，可将74LS00中的一个与非门的输入端A、B分别作为输入逻辑变量，加高、低电平，观测输出电平是否符合74LS00的真值表（表3-1）描述功能。 测试电路如图3-2所示。试验中A、B输入高、低电平，由数字电路实验箱中逻辑电平产生电路产生，输入F可直接插至逻辑电平只是电路的某一路进行显示。
实验二(新版)组合逻辑电路(一)
电子科技大学中山学院学生实验报告 系别：机电工程学院专业：自动化课程名称：数字逻辑设计及应用实验 成绩：教师签名：批改时间： 1.实验目的与要求 通过实验，能够掌握加法器和数据选择器的原理和应用。 2.实验设备 ●硬件：PC机一台 数字电路实验教学平台一台 ●软件：Quartus II 集成开发环境 3.实验内容 (1) 运用7483实现4位以内二进制加法; (2) 利用比较器(7485)实现4位二进制数的比较。 4.实验预习要求 仔细阅读课本第五章的加法器和数码比较器，理解加法器和数码比较器的原理和功能。 5.实验原理 (1) 7483是具有先行进位功能的4位进制全加器，7483的逻辑符号如图2.1所示。实现2个3位二进制数相加，只要将2个加数分别置于A2A1A0和B2B1B0，并将A3、B3和C0置“0”，相加的结果是4位以内的二进制数，在S3S2S1S0上输出，输出结果通过4个LED灯显示。在实验过程2个加数A2A1A0和B2B1B0，可以通过V CC或者GND设置成高电平或者低电平，也可以通过拨码开关设置加数。 图2.1 7483 逻辑符号
(2) 数码比较器简称比较器，用于比较2个数的大小，并给出“大于”、“小于”和“等于”三种比较结果。2个多位进制数比较大小的典型方法是从高位开始，逐位比较，若高位不同，则结果立现，不必再对低位进行比较；若高位相等，则比较结果由低位的比较位的比较结果决定。如图2.2所示为采用并行比较结构的4位二进制数比较器7485的逻辑符号，其功能表如表2.1所示。 参加比较的2个4位二进数A2A1A0和B2B1B0可以通过VCC或者GND设置成高电平或者低电平，也可以通过拨码开关设置加数。结果可以通过接在ALBO、AEBO、AGBO 的LED灯亮暗状态反映出来。 图2.2 7485 逻辑符号 表2.1 7485 功能表
实验一 组合逻辑电路的设计
实验一 组合逻辑电路的设计 一、实验目的： 1、 掌握组合逻辑电路的设计方法。 2、 掌握组合逻辑电路的静态测试方法。 3、 加深FPGA 设计的过程，并比较原理图输入和文本输入的优劣。 4、 理解“毛刺”产生的原因及如何消除其影响。 5、 理解组合逻辑电路的特点。 二、实验的硬件要求： 1、 EDA/SOPC 实验箱。 2、 计算机。 三、实验原理 1、组合逻辑电路的定义 数字逻辑电路可分为两类：组合逻辑电路和时序逻辑电路。组合逻辑电路中不包含记忆单元（触发器、锁存器等），主要由逻辑门电路构成，电路在任何时刻的输出只和当前时刻的输入有关，而与以前的输入无关。时序电路则是指包含了记忆单元的逻辑电路，其输出不仅跟当前电路的输入有关，还和输入信号作用前电路的状态有关。 通常组合逻辑电路可以用图1.1所示结构来描述。其中，X0、X1、…、Xn 为输入信号， L0、L1、…、Lm 为输出信号。输入和输出之间的逻辑函数关系可用式1.1表示： 2、组合逻辑电路的设计方法 组合逻辑电路的设计任务是根据给定的逻辑功能，求出可实现该逻辑功能的最合理组 合电路。理解组合逻辑电路的设计概念应该分两个层次：（1）设计的电路在功能上是完整的，能够满足所有设计要求；（2）考虑到成本和设计复杂度，设计的电路应该是最简单的，设计最优化是设计人员必须努力达到的目标。 在设计组合逻辑电路时，首先需要对实际问题进行逻辑抽象，列出真值表，建立起逻辑模型；然后利用代数法或卡诺图法简化逻辑函数，找到最简或最合理的函数表达式；根据简化的逻辑函数画出逻辑图，并验证电路的功能完整性。设计过程中还应该考虑到一些实际的工程问题，如被选门电路的驱动能力、扇出系数是否足够，信号传递延时是否合乎要求等。组合电路的基本设计步骤可用图1.2来表示。 3、组合逻辑电路的特点及设计时的注意事项 ①组合逻辑电路的输出具有立即性，即输入发生变化时，输出立即变化。（实际电路中 图 1.1 组合逻辑电路框图 L0=F0(X0,X1,···Xn) · · · Lm=F0(X0,X1,···Xn) （1.1） 图 1.2 组合电路设计步骤示意图图
与非逻辑门电路功能测试与组合
实验一 逻辑门电路功能测试与组合 一、实验目的 1． 熟悉电子实验箱的功能及使用方法。 2． 认识集成电路的型号、外形和引脚排列，学习在实验箱上实现数字电路的方法。 2． 掌握逻辑门电路逻辑功能的测试、使用的基本方法。 3． 掌握逻辑门电路的替换方法。 二、实验用元器件 四2输入与非门7400×2 二4输入与非门7420×1 四异或门7486×1 四2输入或门7432×1 六非门7404×1 二4输入与门7421×1 实验中使用7400四2输入与非门和7420二4输入与非门，引脚图如图1—1和图1—2， 7400内部有四个独立的2输入与非门，7420内有二个4输入与非门。 图1—1 7400集成电路 图1—2 7420集成电路 实验中提供的集成块为74LS 系列的低功耗肖特基TTL 电路如74LS00和74LS20，74HC 系列的高速CMOS 电路如74HC00和74HC20，它们在逻辑上兼容，但具体物理参数不同。在CMOS 电路中输出高电平≈Vcc ，输出低电平≈0V ，规定输入高电平电压≥0.7Vcc ，输入
低电平电压≤0.3 Vcc，在我们的实验中Vcc＝＋5V；TTL电路的输出高电平电压2.4～3.6V，输入开门电平1.4～1.8V。输出低电平电压0～0.5V，输入关门电平0.8～1V。在实验中采用同一电源，经实际测定可以直接互接，但有些条件下要通过接口互接，当74LS门电路驱动74HC门电路时，要测量输出高电平电压是否够高，实际测量值要≥3.5V。而74HC门电路驱动74LS门电路时，扇出系数较小，小于10。 三、预习要求 1.熟悉本实验所用的集成电路，并认真阅读附录中注意事项。 2.设计好实验内容中的门电路转换的电路图。 3.根据实验原理，用铅笔填好本次实验所有的真值表，以便核实实验结果。 四、实验内容 1.与非门逻辑功能测试。 选用双4输入与非门74LS20（或74HC20）集成块一片，集成块引脚排列规则：半圆形缺口或黑点朝左时，缺口或黑点下方为第1脚，引脚号逆时针顺序数。按图1—3电路图和所标引脚接线，输入端A、B、C、D分别接四个电平开关，开关接通“+5V”时输入高电平，接通“地”时输入低电平。输出端Y输出经过三极管放大后驱动发光二极管（虚线内电路在实验箱内部已接好），发光二极管亮时输出为高电平，发光二极管不亮时输出为低电平。根据表1—1输入状态，分别测量输出端Y的电压及逻辑状态，结果填入表1—1中。 图1—3 门电路测试原理图