fluke测试分析分析报告

fluke测试分析报告

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FLUKE永久链路测试报告

姓名：X X X

学号：2013150XXXX

专业：计算机网络

2015/5/25

一、实验背景

为了熟练掌握线缆测试的几个参数以及使用fluke测试仪器。我们制作了一根有缺陷的双绞线，测试这根双绞线的参数，看看哪几个参数能通过，哪几个会失败。这次我们小组主要测试了网线的RL回波损耗、传输时延、ACR衰减串扰比、NEXT近端串扰、接线图、电阻等等一些数据。

二、现场测试参数：

现场测试首先要确定测试时依据的国际标准或区域标准，这一点在FLUKE的设备上非常容易实现，只需要在测试之前选择一项标准即可，FLUKE已经预先将常用的标准内置于其设备之中。为了确保现场测试的准确性和认证测试的权威性，一般都要测试多项技术参数，只有这些技术参数都符合标准规定，才能给出相应的认证。

三、实验过程：

1、参数详解

这次试验主要测试有接线图、回波损耗、Next、插入损耗、ACR—F、电阻

接线图：

接线图测试是为了测试所连通道或永久链路的双绞线其线序连接的正确性。

回波损耗（RL）：

回波损耗产生的原因：

波损耗RL是电缆链路由于阻抗不匹配所产生的反射，RL原理如下图所示。这种不匹配主要来自于两个方面：1、线缆与连接器的特性阻抗不匹配；2、线缆本身特性阻抗不均匀。

它是反射系数的倒数，以分贝表示。RL的值在0dB到无穷大之间，回波损耗越小表示匹配越差，反之则匹配越好。0dB表示全反射，无穷大表示完全匹配。在移动通信中，一般要求回波损耗大于14dB （对应VSWR=1.5）。

波损耗是由于阻抗不连续/不匹配所造成的反射

波损耗是由于阻抗不连续/不匹配所造成的反射

测量整个频率范围内信号反射的强度

降低回波损耗的方法

提高同心度；复合技术；采用粘连线对技术

用回波损耗表示特性阻抗的影响更准确，用RL测量沿线路上所有位置上由于阻抗不匹配引起反射。

计算回波损耗的公式为：RL=20logU0/U1

Next近端串扰：

是指串扰的测量是在测量信号发送端进行的。这个参数在标准中是要求双向测试的，它有以下两方面

的含义：

①Next是测量来自其它线对泄露过来的信号

②Next是在信号发送端进行测量

近端串扰的影响：

①类似噪声干扰

②干扰信号足够大从而：

·破坏原来的信号。

·错误的被识别为信号

③影响

·站点间歇的锁死

·网络的连接完全失败

插入损耗：

插入损耗是指发射机与接收机之间，插入电缆或元件产生的信号损耗，通常指衰减。插入损耗以接收信号电平的对应分贝来表示。对于光纤来说插入损耗是指光纤中的光信号通过活动连接器之后，其输出光功率相对输入光功率的比率的分贝数。这是现场测试中最重要的参数之一，且测试后要进行一定的分析，因为衰减都是频率的函数，它的衡量标准也比较特殊，用分贝（dB）标称。

10.9dB 标准

100MHZ

ACR—F ：衰减串扰比

衰减与串扰的比率（ACR）是指由电线或电缆传输媒介说产生的信号衰减与远端串扰之间的差异，以分贝（dB）为单位。

ACR是一个定量指标，表明在一个通讯电路中，衰减过的信号比目的（接收）端的串扰强多少。

a)串扰比或衰减与串扰的差（以分贝表示）

b)类似信号噪声比

c)对双绞线系统“可用”带宽的表示

信号-被衰减--->经过衰减的信号和噪声的比

噪声-近端串扰

衰减串扰比ACR=近端串扰-衰减（dB）

数值越大越好

ACR=传统的信噪比

信号：来自另一端的经过衰减的有用的信号

噪声：NEXT+外部噪声

2、参数测试分析

测试连通性结果如下图：

图1-1 接线图

根据图中所显示的结果，说明通道的线路是没有问题的。

衰减性测试结果如下图：

图1-2 衰减测试a 图1-3 衰减测试b

根据图中所显示的结果，链路的衰减性也没有问题。显示结果是通过。

串扰性测试结果如下图：

图1-4 串扰测试a 图1-5 串扰测试b

根据图中所显示的结果，串扰的测试于远方是失败的，于主机是成功的，通过检查是因为在测试这个项目的时候，线路不稳定。导致测试结果失败。

回波损耗测试结果如下图：

图1-6 回波损耗测试

根据图中所显示的结果，回波损耗的结果都是失败的，原因是因为有外物的干扰，所以线路不稳定，导致测试结果失败。