光纤链路损耗测试

光纤损耗测试方法及其注意事项(1)

光纤损耗测试方法及其注意事项1 引言 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/ TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试，分别为： Tier 1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性； Tier 2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。? 根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。为了方便，我们分别称为：方法A、方法B和方法C。TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。 那么这三种方法各有什么特点，怎么操作，应该在什么场合下使用呢？这正是本文要阐述的问题。另外，光纤链路的测试，不同于双绞线链路的测试，又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢？这也是本文想与读者分享的内容。 2 如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。 下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法（以双向测试为例）。 2.1 测试方法A

FLUKE测试报告参数详解

Fluke DTX系列六类双绞线测试参数说明： 1、插入损耗：是指发射机与接收机之间，插入电缆或元件产生的信号损耗，通常指衰减。插入损耗以接收信号电平的对应分贝（db）来表示。对于光纤来说插入损耗是指光纤中的光信号通过活动连接器之后，其输出光功率相对输入光功率的比率的分贝数。 2、NEXT（近端串扰）：是指在与发送端处于同一边的接收端处所感应到的从发送线对感应过来的串扰信号。在串扰信号过大时，接收器将无法判别信号是远端传送来的微弱信号还是串扰杂讯。 3、PSNEXT（综合近端串扰）：实际上是一个计算值，而不是直接的测量结果。PSNEXT 是在每对线受到的单独来自其他三对线的NEXT 影响的基础上通过公式计算出来的。PSNEXT 和FEXT（随后介绍）是非常重要的参数，用于确保布线系统的性能能够支持象千兆以太网那样四对线同时传输的应用。 4、ACR（衰减串扰比）：表示的是链路中有效信号与噪声的比值。简单地将ACR 就是衰减与NEXT 的比值，测量的是来自远端经过衰减的信号与串扰噪声间的比值。例如有一位讲师在教师的前面讲课。讲师的目标是要学员能够听清楚他的发言。讲师的音量是一个重要的因素，但是更重要的是讲师的音量和背景噪声间的差别。如果讲师实在安静的图书馆中发言，即使是低声细语也能听到。想象一下，如果同一个讲师以同样的音量在热闹的足球场内发言会是怎样的情况。讲师

将不得不提高他的音量，这样他的声音（所需信号）与人群的欢呼声（背景噪声）的差别才能大到被听见。这就是ACR。ACR=衰减的信号-近端串扰的噪音 5、PSACR（综合衰减串扰比）：反映了三对线同时进行信号传输时对另一对线所造成的综合影响。它只要用于保证布线系统的高速数据传输，即多线对传输协议。 6、ELFEXT（等效远端串扰）：是远端串扰损耗与线路传输衰减的差值，以db 为单位。是信噪比的另一种方式，即两个以上的信号朝同一方向传输时的情况。 7、PSELFEXT(综合平衡等级远端串扰)：表明三对线缆处于通信状态时，对另一对线缆在远端所造成的干扰。 8、RL（回波损耗）：电信号在遇到端接点阻抗不匹配时，部分能量会反射回传送端。回波损耗表征了因阻抗不匹配反射回来的能量的大小，回波损耗对于全双工传输的应用非常重要。

光纤传输损耗测试-实验报告

光纤传输损耗测试-实验报告

华侨大学工学院 实验报告 课程名称：光通信技术实验 实验项目名称：实验1 光纤传输损耗测试 学院：工学院 专业班级：13光电 姓名：林洋 学号：1395121026 指导教师：王达成

2016 年05 月日 预习报告 一、实验目的 1）了解光纤损耗的定义 2）了解截断法、插入法测量光纤的传输损耗 二、实验仪器 20MHz双踪示波器 万用表 光功率计 电话机 光纤跳线一组 光无源器件一套（连接器，光耦合器，光隔离器，波分复用器，光衰减器） 三、实验原理 αλ，其含义为单位长度光纤引起的光纤在波长λ处的衰减系数为()

光功率衰减，单位是dB/km 。当长度为L 时， 10()()lg (/)(0) P L dB km L P αλ=- （公式1.1） ITU-T G.650、G.651规定截断法为基准测量方法，背向散射法（OTDR 法）和插入法为替代测量方法。本实验采用插入法测量光纤的损耗。 （1）截断法：（破坏性测量方法） 截断法是一个直接利用衰减系数定义的测量方法。在不改变注入条件下，分别测出长光纤的输出功率2()P λ和剪断后约2m 长度短光纤的输出功率1()P λ，按定义计算出()αλ。该方法测试精度最高。 偏置电路 注入系统 光源 滤模器 包层模 剥除器 被测光纤 检测器 放大器电平测量 图1.1 截断法定波长衰减测试系统装置 （2）插入法 插入法原理上类似于截断法，只不过用带活接头的连接软线代替短纤进行参考测量，计算在预先相互连接的注入系统和接受系统之间（参考条件）由于插入被测光纤引起的功率损耗。显然，功率 1 P 、 2 P 的测量 没有截断法直接，而且由于连接的损耗会给测量带来误差，精度比截断法差一些。所以该方法不适用于光纤光缆制造长度衰减的测量。但由于它具有非破坏性不需剪断和操作简便的优点，用该方法做成的便携式仪表，非常适用于中继段长总衰减的测量。图1.2示出了两种参考条件下的测试原理框图。

网络测试与分析报告

《网络测试与分析》实验报告 课程名称网络测试与分析 学生学院计算机学院 专业班级 学号 学生姓名 指导教师刘广聪

2016 年 12 月 31 日

一、网络测试基本理论问答 1、在网络综合布线中，双绞线的接线图测试有哪几种常见的测试方法？ 答：接线图测试主要是检查线路的连通性，检查安装连接的错误。主要内容包括端端连通性，开路(open)，短路(short)，错对(cross)，反接(reverse)，串绕(split)。接线图测试常用的测试方法有：端端连通性，开路测试、短路测试、对错测试、反接测试、串扰测试。与线序有关的故障：错对，反接，跨接等通过测试结果屏幕直接发现问题。与阻抗有关的故障：开路，短路等使用HDTDR定位。与串扰有关的故障：串绕使用HDTDX定位。 2、简述传输时延和时延偏离的基本概念。 答：传播时延是指一个信号从电缆一端传到另一端所需要的时间，它也与NVP 值成正比。在确定通道和永久链路的传输时延时，在1MHz~100MHz的范围内连接硬件的传输时延不超过2.5ns。所有类型通道配置的最大传输时延不应超过10MHz频率测得的555ns。所有类型的永久链路配置的最大传输时延不应超过在10MHz频率测得的498ns。 延迟偏离是在电缆里传播延迟最大的与最小的线对之间的传输时间差异。同一电缆中的各个线对之间由于缠绕比例不同，造成了长度的不同，从而导致了传输时延的差异。对于同时使用多个线对的传输数据协议，当信号通过不同的线对的到达时间相差过大时，就会造成数据丢失。一般要求在100米链路内的最长时间差异为50纳秒，但最好在35纳秒以内。 3、简述采用DTX网络测试仪测试线缆长度的基本原理。 答：采用DTX网络测试仪测试线缆长度的基本原理是通过时域反射计(TDR)的测试技术。DTX测试仪就是采用这一技术进行长度测量。测试仪从铜缆一端发出一个脉冲波，在脉冲波行进时如果碰到阻抗的变化，如开路、短路、或不正常接线时，就会将部分或全部的脉冲波能量反射回测试仪。依据来回脉冲波的延迟时间及已知的信号在铜缆传播的NVP(额定传播速率) 速率，测试仪就可以用NVP乘以光速再乘以往返传输时间的一半计算出脉冲波接收端到该脉冲波返回点的长度。 NVP=信号在电缆中的传输速度/光在真空中的速度*100% NVP是以光速的百分比来表示的，如69％。NVP的值会随着电缆彼此的不同略有差别，具体的NVP值可以从电缆的生产厂家公布的规格中获得。NVP通常取值在69%左右。 根据这个原理，我们可以知道，使用TDR技术测量出的长度为绕线的长度（并非物理距离），绕对之间长度可能有细微差别（对绞绞距的差别）。

超五类双绞线测试分析报告

超五类电缆测试分析报告 电缆类型：Cat 5E UTP Perm 测试仪器：LANTEK 6 [742057/742080] 测试结果参数分析： 接线图: 主机 1 2 3 4 5 6 7 8 | | | | | | | | 远端机 1 2 3 4 5 6 7 8 分析：通过上面的接线图可以看到，每个线对之间是平行连接的，所以这根被测的永久链路是一根平行线。 近端串扰: 合格 线对主机/远端机结果最坏极限值余量5,4-1,2 远端机合格 @ > 3,6-1,2 远端机合格 @ > 3,6-5,4 远端机合格 @ > 7,8-1,2 远端机合格 @ > 7,8-5,4 远端机合格 @ > 7,8-3,6 远端机合格 @ > 5,4-1,2 主机合格 @ > 3,6-1,2 主机合格 @ > 3,6-5,4 主机合格 @ > 7,8-1,2 主机合格 @ > 7,8-5,4 主机合格 @ > 7,8-3,6 主机合格 @ >

分析：首先说明一下近端串扰，它是指在同一端的各对线之间干扰从上面的数据表格可以看到，7,8-5,4的近端串扰最大，在时近端串扰是，与极限值一减之后，余量只有，可以看出这对线的近端串扰最大。总体来说各对线之间的近端串扰值是符合标准的。 回波损耗: 合格 线对主机/远端机结果最坏极限值余量1,2 远端机合格 @ > 5,4 远端机合格 @ > 3,6 远端机合格 @ > 7,8 远端机合格 @ > 1,2 主机合格 @ > 5,4 主机合格 @ > 3,6 主机合格 @ > 7,8 主机合格 @ >

分析：先解释一下回波损耗，它是指是电缆链路由于阻抗不匹配所产生的反射，是一对线自身的反射。当然这个损失是越小越好。从上面的数据可以看出5,4线对的损耗最大，余量只有。总体各对线都是合格的。 衰减: 合格 线对结果最坏极限值余量 1,2 合格 @ < 5,4 合格 @ < 3,6 合格 @ < 7,8 合格 @ < 分析：先解释一下衰减的含义，从字面上就很好了解，是指信号从一端到另一端的损耗，当然这样的损耗是越小越好，从上面得数据中可以看出，每一对线的衰减都很少，这也就是说，这根线的质量是很不错的。 衰减串扰比: 合格

光纤损耗测试方法及其注意事项

《中国有线电视》2009(10) C H I N A D I G I T A L C A B L ET V·经验点滴·中图分类号:T N943.6 文献标识码:B 文章编号:1007-7022(2009)10-1094-01 光纤损耗测试方法及其注意事项 ◆管　辉(吉林省广播电影电视局三三一台,吉林永吉132200) 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路在满足高带宽方面的巨大优势,光纤的使用越来越多,无论是布线施工人员还是网络维护人员都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的T I A/T S B-140测试标准,旨在说明正确的光纤测试步骤,该标准建议了两级测试,分别为:T i e r1(一级),使用光缆损耗测试设备(O L T S)来测试光缆的损耗和长度,并依靠O L T S或者可视故障定位仪(V F L)来验证极性;T i e r2(二级),包括一级的测试参数,还包括对已经安装的光缆链路的O T D R 追踪。 根据T S B-140标准,对于一条光纤链路来说,一级测试主要包括两个参数:长度和损耗。事实上,早在标准A N S I/T I A/E I A-526-14A和A N S I/T I A/E I A-526-7中,已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试定义了3种测试方法(长度的测量,取决于仪表是否支持,如果仪表支持,在测试损耗的同时,长度同时也会测量)。 1　如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试包含两大步骤:一是设置参考值(此时不接被测链路),二是实际测试(此时接被测链路),下面具体介绍标准中定义的3种测试损耗的方法(以双向测试为例)。 测试方法A:方法A设置参考值时,采用两条光纤跳线和一个连接器(考虑一个方向,见图1上半部分),设置参考值后,将被测链路接进来(见图1 下半部分),进行测试。我们不难发现,每个方向的测试结果中包括光纤和一端的连接器的损耗,因此方法A是用来测试这种光缆链路:光纤链路一端有连接器,另一端没有。 图1　测试方法A 测试方法B:方法B设置参考值时,只使用一条光纤跳线(考虑一个方向,见图2上半部分),设置参考值后,将被测链路接进来(见图2下半部分),进行测试。这种方法的测试结果中,包括光纤链路和两端连接的损耗,因此方法B是用来测试这种光缆链路:链路两端都有连接器,其连接器的损耗是整个损耗的重要部分,这就是室内光缆的常见例子。 从技术角度讲,测试结果还包括额外的光纤跳线(3～4)的损耗,但是其长度较短,损耗可以忽略不计。对室内光缆网络,这种方法提供了精确的光缆链路测试,因为它包括了光 图2　测试方法B 缆本身以及电缆两端的连接器。

fluke网络测试分析报告

Fluke网络测试结果分析报告 班级：330910 姓名：蔡卿莹 学号：33091012

一、实验背景 为了熟练掌握线缆测试的几个参数以及使用fluke测试仪器。我们制作了一根有缺陷的双绞线，测试这根双绞线的参数，看看哪几个参数能通过，哪几个会失败。这次我们小组主要测试了网线的RL回波损耗、传输时延、ACR衰减串扰比、NEXT近端串扰、接线图、电阻等等一些数据。 二、现场测试参数： 现场测试首先要确定测试时依据的国际标准或区域标准，这一点在FLUKE 的设备上非常容易实现，只需要在测试之前选择一项标准即可，FLUKE已经预先将常用的标准内置于其设备之中。为了确保现场测试的准确性和认证测试的权威性，一般都要测试多项技术参数，只有这些技术参数都符合标准规定，才能给出相应的认证。 三、实验过程： 这次试验主要测试有接线图、回波损耗、Next、插入损耗、ACR—F、电阻接线图： 接线图测试是为了测试所连通道或永久链路的双绞线其线序连接的正确性。 我们的测试结果为六号线路断开，所以接线图不合格。 回波损耗（RL）： 信号传输时，电缆阻抗的变化产生 RL ，因此，导致阻抗变化的因素都会影响RL 。这包括视频电缆的基本结构，即中心导体的尺寸、形状和组成，绝缘或介电材料的选择和制造，屏蔽方式和材料的选择，护套的打印方法也是影响回波损耗的因素。 它是反射系数的倒数，以分贝表示。RL的值在0dB到无穷大之间，回波损耗越小表示匹配越差，反之则匹配越好。0dB表示全反射，无穷大表示完全匹配。在移动通信中，一般要求回波损耗大于14dB（对应VSWR=1.5）。 回波损耗是由于阻抗不连续/不匹配所造成的反射 测量整个频率范围内信号反射的强度 产生原因：特性阻抗之间的偏离 线缆在生产过程中的变化

光纤传输损耗测试实验报告报告

华侨大学工学院 实验报告 课程名称：光通信技术实验 实验项目名称：实验1 光纤传输损耗测试 学院：工学院 专业班级：13光电 姓名：林洋 学号：1395121026 指导教师：王达成 2016 年05 月日

预 习 报 告 一、 实验目的 1）了解光纤损耗的定义 2）了解截断法、插入法测量光纤的传输损耗 二、 实验仪器 20MHz 双踪示波器 万用表 光功率计 电话机 光纤跳线一组 光无源器件一套（连接器，光耦合器，光隔离器，波分复用器，光衰减器） 三、 实验原理 光纤在波长λ处的衰减系数为()αλ，其含义为单位长度光纤引起的光功率衰减，单位是dB/km 。当长度为L 时， 10()()l g (/)(0) P L dB km L P αλ=- （公式1.1） ITU-T G .650、G .651规定截断法为基准测量方法，背向散射法（OTDR 法）和插入法为替代测量方法。本实验采用插入法测量光纤的损耗。 （1）截断法：（破坏性测量方法） 截断法是一个直接利用衰减系数定义的测量方法。在不改变注入条件下，分别测出长光纤的输出功率2()P λ和剪断后约2m 长度短光纤的输出功率1()P λ，按定义计算出()αλ。该方法测试精度最高。

图1.1 截断法定波长衰减测试系统装置 （2）插入法 插入法原理上类似于截断法，只不过用带活接头的连接软线代替短纤进行参考测量，计算在预先相互连接的注入系统和接受系统之间（参考条 件）由于插入被测光纤引起的功率损耗。显然，功率1P、2P的测量没有 截断法直接，而且由于连接的损耗会给测量带来误差，精度比截断法差一些。所以该方法不适用于光纤光缆制造长度衰减的测量。但由于它具有非破坏性不需剪断和操作简便的优点，用该方法做成的便携式仪表，非常适用于中继段长总衰减的测量。图1.2示出了两种参考条件下的测试原理框图。 （a） （b） 图1.2 典型的插入损耗法测试装置

G652D光纤宏弯损耗测试方法(精)

G652D光纤宏弯损耗测试方法 摘要：实现了一种全集成可变带宽中频宽带低通滤波器，讨论分析了跨导放大器-电容(OTA—C)连续时间型滤波器的结构、设计和具体实现，使用外部可编程电路对所设计滤波器带宽进行控制，并利用ADS软件进行电路设计和仿真验证。仿真结果表明，该滤波器带宽的可调范围为1～26 MHz，阻带抑制率大于35 dB，带内波纹小于0．5 dB，采用1．8 V电源，TSMC 0．18μm CMOS工艺库仿真，功耗小于21 mW，频响曲线接近理想状态。关键词：Butte 光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。 而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。 大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。 Φ32mm*1宏弯测试更为简便 两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。 用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。 分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下，对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计，最后将全部数据汇总，得到图2。 从整体数据汇总图可看出，Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1 所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的;还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。 10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。

光纤损耗测试方法及其注意事项

光纤损耗测试方法及其注意事项 1 引言 随着应用和用户对带宽需求的进一步增加，光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势逐步体现，光纤的使用越来越多。在施工中，无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/ TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试，分别为： Tier 1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性； Tier 2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。 根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。为了方便，本文中分别称为：方法A、方法B和方法C。TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。 本文主要就这三种方法各自的特点、操作方法、应该使用的场合进行分析和阐述。另外，对光纤链路的测试中需要注意的问题进行分析。 2 如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。 标准中定义了三种测试损耗的方法（以双向测试为例）： 2.1 测试方法A 方法A设置参考值时，采用两条光纤跳线和一个连接器（考虑一个方向，如图1）。设置参考值后，将被测链路接进来（如图2），进行测试。 图1 图2 每个方向的测试结果中包括光纤和一端的连接器的损耗。因此，方法 A 是用来测试这种光缆链路：光纤链路一端有连接器，另一端没有。 2.2 测试方法B 方法B设置参考值时，只使用了一条光纤跳线（考虑一个方向，如图3）。设置参考值后，将被测链路接进来（如图4），进行测试。 图3 图4 这种方法的测试结果中，包括光纤链路和两端连接的损耗。因此，方法B是用来测试这种光缆链路：链路两端都有连接器，其连接器的损耗是整个损耗的重要部分。这就是室内光缆的常见例子。 从技术角度讲，测试结果中还包括了额外的光纤跳线（3－4）的损耗，但是其长度较短，损耗可以忽略不计。对室内光缆网络，这种方法提供了精确的光缆链路测试，因为它包括了光缆本身以及电缆两端的连接器。 2.3 测试方法C 方法C设置参考值时，使用三条光纤和两个连接器（单方向，见图5），其中两个连接

光纤损耗测试方法及其注意事项

1引言 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试，分别为： Tier1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性； Tier2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。? 根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。为了方便，我们分别称为：方法A、方法B和方法C。TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。 那么这三种方法各有什么特点，怎么操作，应该在什么场合下使用呢？这正是本文要阐述的问题。另外，光纤链路的测试，不同于双绞线链路的测试，又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢？这也是本文想与读者分享的内容。 2如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。 下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法（以双向测试为例）。 2.1测试方法A 方法A设置参考值时，采用两条光纤跳线和一个连接器（考虑一个方向，如下图上半部分）。设置参考值后，将被测链路接进来（如下图下半部分），进行测试。

光缆接续损耗及互联网测试计算方法

工信部颁YDJ44-89《电信网光纤数字传输系统施工及验收暂行规定》简称《暂规》，对光纤接续损耗的测量方法做了规定，但没有规定明确的标准。原信产部郑州设计院在中国电信南九试验段以后的工程中提出了中继段单纤平均接续损耗0.08dB/个的设计标准，以后的干线工程均沿用。 1、光纤衰减：1310nm波长，0.35dB/km；1490nm波长，0.22dB/km。 2、光活动连接器插入衰减：0.5dB/个（尾纤连接）。 3、光纤熔接接头衰减：束状光缆0.1dB/每个接头，带状光缆0.2db/每个接头。 4、冷接子双向平均值为0.15dB/每个接头。 互联网(Dedicated Internet Access)测试计算方法： 在计算机网络、IDC机房中，其宽带速率的单位用bps(或b/s)表示；换算关系为：1Byte=8bit 1B=8b----------1B/s=8b/s(或1Bps=8bps) 1KB=1024B----------1KB/s=1024B/s 1MB=1024KB----------1MB/s=1024KB/s 在实际上网应用中，下载软件时常常看到诸如下载速度显示为128KB（KB/s），103KB/s等等宽带速率大小字样，因为ISP提供的线路带宽使用的单位是比特，而一般下载软件显示的是字节（1字节＝8比特），所以要通过换算，才能得实际值。然而我们可以按照换算公式换算一下： 128KB/s=128×8(Kb/s)=1024Kb/s=1Mb/s即：128KB/s=1Mb/s 理论上：2M（即2Mb/s）宽带理论速率是：256KB/s（即2048Kb/s），实际速率大约为80--200kB/s；(其原因是受用户计算机性能、网络设备质量、资源使用情况、网络高峰期、网站服务能力、线路衰耗，信号衰减等多因素的影响而造成的)。

光缆施工现场与验收的检测方法和标准

光缆施工现场及验收的检测方法与标准 光缆施工的现场测试很重要，它是为连接光端机总调测做准备。光缆内光纤的测试项目有传输衰减的测量，对多模光纤，当需要时测试基带响应。 单盘光缆测试的目的在于工厂产品的质量；施工布放后的测试是为检查布放过程有无损伤，并作为接续前的检查；接续中的测试是为了检查接头是否达到低损耗；接续后组成单元光缆段的测试，目的在于检查是否达到设计对传输总衰减和总基带响应要求，作为连接光端机总调测的准备。 单模光纤是以色散系数来表征色散的。单模光纤的色散系数本来很低，对于140Mbit/s 系统的限额为300ps/nm，因此当中继段长小于50km时，该限额有很大余量，施工过程可以不必测量；565Mbit/s五次群的限额为120ps/nm，因此有必要在设计中考虑，施工后进行验证测量。 1、现场传输衰减的测量 1.1 光纤的衰减 光信号沿光纤传输时，光功率的损失即为光纤的衰减，衰减A以分贝（dB）为单位，A=10lgP1/P2（dB） P1和P2分别是注入端和输出端的光功率。 1.2 光缆间增加注入系统

为了测量得到精确的结果，必须保证功率分配是稳态模，因此在光源与被测光缆间增加注入系统。注入系统由扰模器、滤模器和包层模剥除器组成的一种模拟装置；对多模光纤可以用1km以上，以一定曲率半径圈绕的光纤。 1.3 3种测试方法比较 CCITT建议G.651推荐了3种测试方法。即剪断法、和后向散射法。剪断法精度高但有破坏性；介入损耗法是非破坏性，精度不如剪断法；而后向散射法，即用光时域反射仪（OTDR）测量，功能全、精度高和无破坏性，测量数据可直接打印出来。 1.4 用光时域反射仪（OTDR）测量的优点 用光时域反射仪（OTDR）测试只需在光纤的一端进行，如图1、2所示，用这种仪表不仅可以测量光纤的衰减系数，还能提供沿光纤长度衰减特性的详细情况，检测光纤的物理缺陷或断裂点的位置，测定接头的衰减和位置，以及被测光纤的长度，这种仪器带有打印机，可以把测绘的曲线打印出来。

插入法测光纤的平均损耗系数

实验一 插入法测光纤的平均损耗系数 一．实验目的 1．掌握插入法测量光纤损耗系数的原理 2． 熟悉光纤多用表的使用方法 二．实验原理 最精确的光纤损耗测量方法是剪断法，这种方法首先在光纤输出端（远端）测量光功率，然后在不改变入射条件的情况下，在离光源几米长的光纤处剪断，再测量近端光功率，如图1.1所示。 图1.1 剪断法测量光纤损耗的示意图 但是这种方法是破坏性的。在工程中往往需要非破坏性测量，因此更常用插入法测量光纤的损耗。插入法测量光纤损耗的装置如图1.2所示。 图1.2 插入损耗法测量光纤损耗 光源 （a ）参考测量 光源 光纤活动连接器 2（b ） 被测光纤损耗测量 光源

光的发射和探测都通过光纤活动连接器连接。光源发出的光通过光的注入系统输入到短光纤中，并通过光纤活动连接器与光功率计接通。首先，测量短光纤的输出功率 () mW P λ1，然后通过光纤连接器接入被测光纤，测量长光纤的输出功率()mW P λ2， 则光纤的总损耗为 ()() ()dB P P A λλ21lg 10= （1-1） A 实际上是被测光纤的损耗与连接器损耗之和。如果忽略连接器损耗，被测光纤的长度为L ，则光纤的损耗系数为 ()km dB L A =α （1-2） 对于多模光纤，不同的模式分布对损耗有很大影响。不同的发射条件，可产生不同的模式分布，因此有不同的光纤损耗值。解决办法是在光的注入系统加一个扰模器，使多模光纤在短的传播长度内达到稳态模分布。对于单模光纤，光的注入系统是一个剥模器，可以滤除单模光纤的包层模。 三．实验设备 AV2498光纤多用表、 1310nmLD 光源、 待测光纤、 光纤跳线 四．实验步骤 1．将1310nmLD 光源打开预热30分钟。 2． 在激光耦合进光纤的起始端，用一定长度的光纤跳线在扰模器上缠绕，达到稳定 的模式输出后，在光纤跳线的另一端测量或连接待测光纤。 3．将光纤多用表电源开关拨到"单开"位置。 4．光纤多用表调零 。调零是在最小量程下进行,按“平均”键后，在遮光下进行(盖 上光输入保护盖)，按“调零”键即可。 5．测量方式的选择。用“波长”键设定波长为1310nm ，使之与被测波长相符。 6．按照图1.2(a)测出参考光功率P 0。将两端都带有标准FC/PC 活动接头的光纤跳线 的一端直接插入光纤多用表的光输入插座,另一端插入光源的光输出插座，测出参考光功率P 0。 7．按照图1.2(b)测出参考光通过待测光纤后的功率P S 。将待测光纤串到跳线的一端 和光纤多用表输入端之间，测出此时的功率P S 。 测试中可根据用户的习惯和测试特点随时按"W/dBm"键得到线性(W)、对数值(dBm)读数。 对数值(dBm)=10log(测量线性值/1mW) 8．算出光纤的损耗和损耗系数。 总损耗为：

关于光纤接续损耗测试以及分析

关于光纤接续损耗测试以及分析 作者：舒伟明 光纤接续损耗是光纤通信系统 性能指标中的一项重要参数，损耗值的大小直接影响到光传输系统的整体传输质量，在光缆施工和维护测试中，运用科学的测试分析方法，对提高整个光缆接续施工质量和维护工作极其重要，尤其是进一步研究光通信中长波长的单模光纤的通信性能、传输衰耗、测量精度和检查维修等方面有一定现实意义。 一、 光纤接续损耗分析 1、 光纤接续损耗产生的原因 1.1 本征损耗 本征损耗是光纤材料所固有的一种损耗，预制棒拉丝成纤后就确定了，这种损耗无法避免，引起光纤本征损耗的主要原因是散射和吸收，散射是由于材料密度不均匀而产生的瑞利散射，吸收主要是光纤材料中的杂质粒子对某些波长的光产生强烈的吸收。 1.2光纤的附加损耗 附加损耗是成纤后产生的损耗，主要是由于光纤受到弯曲和微弯所产生的，在成缆和光缆的施工过程中，都不可避免地要发生弯曲，因此就会产生附加损耗，对于单模光纤，对接的两根纤，由于模场直径，纤芯和包层的同心度、纤芯的不圆度参数的差异，会导致光纤接续损耗的产生，在两根光纤完全对准，且忽略端面间隙的情况下，接续损耗主要取决于光纤模场直径的差异，接续损耗的计算为：b=20lg[1/2(d1/d2+ d2/ d1)], d1与d2分别为两对接光纤的模场直径，从计算公式可以看出，两对接光纤的模场直径相等（即d1=d2）时，其接续损耗b=0。 2、 影响光纤接续损耗的原因

影响光纤接续损耗的原因，主要是光纤本身的结构参数和熔接机的熔接质量，同时还有一些人为因素和机械因素，比如光纤收容盘纤产生的弯曲损耗，光纤切割的断面质量，横向失配、纵向分离、轴向倾斜等。 二、光纤接续损耗测试分析 1、熔接机对接续损耗估算原理 熔接机接续是通过对光纤X轴和Y轴方向的错位调整，在轴心错位最小时进行熔接的，这种能调整轴心的方法称为纤芯直视法，这种方法不同于功率检测法，现场是无法知道接续损耗的确切数值的，在整个调整轴心和熔接接续过程中，通过摄像机把探测到所熔接纤芯状态的信息，送到熔接机的分析程序中，然后熔接机计算出接续损耗值，其实准确地说，这只能是说明光纤轴心对准的程度，并不含有光纤本身的固有特性所影响的损耗，而OTDR 的测试方法是后向散射法，它包含有光纤参数的不同形式的反射损耗，所以熔接机所显示的数据配合观察光纤接续断面情况只是粗略地估计了光纤接续点损耗的状况，不能作为光纤接续损耗的真实值。 2、OTDR的工作原理 背向散射法是将大功率的窄脉冲光注入待测光纤，然后在同一端检测沿光纤轴向向后返回的散射光功率，由于光纤材料密度不均匀，其本身的缺陷和掺杂成分不均匀，当脉冲通过光纤传输时，沿光纤长度上的每一点均会引起瑞利散射，其中总有一部分进入光纤的数值孔径角，沿光纤轴反向传输到输入端。瑞利散射光的波长与入射光的波长相同，其光功率与散射点的入射光功率成正比，测量沿光纤轴向返回的背向瑞利散射光功率可采集到沿光纤传输损耗的信息，从而测得光纤的衰减。 光时域反射仪通过光发送脉冲进入输入光纤，同时在输入端接收其中的菲涅尔反射光和瑞利背向散射光，再变成电信号，随时间在示波器上显示。 使用OTDR测试光纤接续损耗时，1550nm的波长对光纤弯曲的损耗较1310nm敏感，所以光纤接续损耗测试应选择1550nm波长，以便观察光缆敷设和光纤接续中是否会因光纤弯曲过度而造成损耗增大，但采用光源光功率计全程传输损耗测试时应对1310nm和1550nm两波长进行分测。

光纤测量实验报告

光纤测量实验报告 光纤损耗测量 一、实验目的 1、掌握光功率计的原理及使用方法 2、利用光功率计测量1310nm及1550nm光纤的损耗 二、实验装置 LD激光器，光功率计，直径不同的圆柱型物体若干，光纤跳线若干。 1、LD激光器 半导体激光器是以一定的半导体材料做工作物质而产生激光的器件。.其工作原理是通过一定的激励方式，在半导体物质的能带（导带与价带）之间，或者半导体物质的能带与杂质（受主或施主）能级之间，实现非平衡载流子的粒子数反转，当处于粒子数反转状态的大量电子与空穴复合时，便产生受激发射作用。电注入式半导体激光器，一般是由砷化镓（GaAs）、硫化镉（CdS）、磷化铟(InP)、硫化锌(ZnS)等材料制成的半导体面结型二极管，沿正向偏压注入电流进行激励，在结平面区域产生受激发射。 2、光功率计 光功率计是指用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗的仪器。 在光纤系统中，测量光功率是最基本的，非常像电子学中的万用表；在光纤测量中，光功率计是重负荷常用表。通过测量发射端机或光网络的绝对功率，一台光功率计就能够评价光端设备的性能。用光功率计与稳定光源组合使用，则能够测量连接损耗、检验连续性，并帮助评估光纤链路传输质量。 3、直径不同的圆柱型物体 分别有笔芯、针管、胶棒等圆柱型物体，如下图所示。 三、实验步骤 如下图所示，连接好实验装置后，首先将光纤拉直，在不进行缠绕的情况下测得初始光功率，再将光纤在不同的圆柱型外缠绕不同的圈数，分别记录下此时的光功率计显示的损耗值，列表分析数据并画出损耗曲线。

四、实验数据及结果分析 1、波长值为1310nm （初始光功率值为5.37dBm ） 2、波长值为1550nm （初始光功率值为2.40dBm ） （1）直径d=5mm

光纤通信测试法

光纤通信测试法（OTDR）的参数设置及常 用方法 光纤通信是以光波作载波以光纤为传输媒介的通信方式。光纤通信由于传输距离远、信息容量大且通信质量高等特点而成为当今信息传输的主要手段，是“信息高速公路”的基石。光纤测试技术是光纤应用领域中最广泛、最基本的一项专门技术。O TDR是光纤测试技术领域中的主要仪表，它被广泛应用于光缆线路的维护、施工之中，可进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。OTDR具有测试时间短、测试速度快、测试精度高等优点。 1 支持OTDR技术的两个基本公式 OTDR(Optical Time Domain Reflectometer，光时域反射仪)是利用光脉冲在光纤中传输时的瑞利散射和菲涅 尔反射所产生的背向散射而制成的高科技、高精密的光电一体化仪表。半导体光源(LED或LD)在驱动电路调制下输出光脉冲，经过定向光耦合器和活动连接器注入被测光缆线路成为入射光脉冲。 入射光脉冲在线路中传输时会在沿途产生瑞利散射光和菲涅尔反射光，大部分瑞利散射光将折射入包层后衰减，其中与光脉冲传播方向相反的背向瑞利散射光将会沿着

光纤传输到线路的进光端口，经定向耦合分路射向光电探测器，转变成电信号，经过低噪声放大和数字平均化处理，最后将处理过的电信号与从光源背面发射提取的触发信号同步扫描在示波器上成为反射光脉冲。 返回的有用信息由OTDR的探测器来测量，它们就作为被测光纤内不同位置上的时间或曲线片断。根据发射信号到返回信号所用的时间，再确定光在石英物质中的速度，就可以计算出距离(光纤长度)L(单位：m)，如式(1)所示。 式（1）中，n为平均折射率，△t为传输时延。利用入射光脉冲和反射光脉冲对应的功率电平以及被测光纤的长度就可以计算出衰减a(单位：dB／km)，如式(2)所示： 2 保障OTDR精度的五个参数设置 2．1 测试波长选择 由于OTDR是为光纤通信服务的，因此在进行光纤测试前先选择测试波长，单模光纤只选择1 310 nm或 1 550 nm。由于1 550 nm波长对光纤弯曲损耗的影响比1

光纤测试方案.doc

光纤测试方案 OTDR ：光纤测试方案（短光纤测试）及OM4光纤介 绍首先来看一下当前数据中心的 情况， 10G 已经不是什么新鲜事物了，而介质这块，铜缆双绞线也开始6A 化，光纤也逐步升级，而数据中心里的大部分光纤链路都小于200 米，这使得基于 VCSEL的 850nm 光收发器可以被大量使用，配合OM3光纤，光纤方案的成本更为降低，也使OM3成为万兆速率数据中心的首选。如表格 1 表格 2 所示， OM3光纤（ MM50 um MBW=2000），在同样插入损耗的情况下，与OM2 和 OM1光纤相比， OM3光纤的传输距离可以更远。而通道最大距离与模式带宽和通道最大插入损耗相关。例如，对于一个使用850nm OM3光纤的 300 米10GBase-SR 链路而言，所能被允许的最大插入损耗是2.6 分贝，而在 1000BASE-SX 网络中则为3.56 分贝，可以预见随着速率不断提升，损耗这块的要求也越来越高了。而即使 是在这2.6 分贝的最大允许损耗中，也被分为光纤本身所固有的损耗，以及光纤连接和连 接器损耗。 伴随数据中心 TIA-942 推行的结构化光布线系统的发展，在带来灵活易用的同时，也 对光纤测试带来了新的内容，引入的结构化布线，增加了连接器件，对接头连接器的插入损 耗有了更高的要求。 那么下面先来谈一下数据中心短光纤的测试面临的新的问题： 从目前光纤链路的测试来看，主要分成两个等级，第一等级为OLTS 测试，第二等级为OTDR测试；从实际验收来看更多的采用的是 OLTS 测试，即光源和光表的测试方式，其 原因除了测试设备相对价格低廉有关外，也和其使用简易程度有关，相对来说，使用第 二级别的 OTDR测试仪需要更专业的知识，需要读懂的曲线图，并且判定故障原因，这绝 非简单培训就可以上手的工作。另外，不论部署结构化光布线网络，还是模块化高密度 MPO方案时，多模光纤都被大量运用，此时用光纤元件标准测试通过，而用应用标准测 试则不一定过，两类标准门限值有所不同，测试时选标准不当，也会给后续网络运行埋下 故障隐患。 不仅如此，在选用OTDR（ Optical Time Domain Reflectometer,简称OTDR）测试仪时，死区的问题也是不能忽略的一大问题，OTDR的死区分为事件死区和衰减死区，事 件死区代表OTDR所能检测到的光缆的最短长度。死区越短，可检测到的光缆长度就越短。 如果事件死区比被测的光缆长度要短，那么就可以使用OTDR来测试这条链路。而衰减死区一般要大于事件死区，它的定义是可以测得的连续两个事件插入损耗数值的最小距离。 数据中心内网络的光缆链路通常都非常短，同时通道里还会有多个连接器和短的跳线。 在进行光缆测试时，应该使用具有短事件死区和衰减死区的OTDR测试仪。 标为例如，假设正在测试的光缆链路包含一根三米长的跳线，如果你的OTDR事件死区指 5 米，OTDR将会只检测到跳线的起始端，而检测不到终点。如果您使用的 OTDR事件

光纤验收测试方法

前言 在光纤工程项目中必须执行一系列的测试以便确保其完整性，一根光缆从出厂到工程安装完毕，需要 进行机械测试、几何测试、光测以及传输测试。前3个测试一般都是在工厂进行，传输测试则是光缆布线 系统工程验收的必要步骤。 国家标准《GB 50312-2007综合布线工程验收规范（含条文说明）》中明确要求对综合布线工程进行 验收测试：“综合布线工程电气测试包括电缆系统电气性能测试及光纤系统性能测试。电缆系统电气性能测 试项目应根据布线信道或链路的设计等级和布线系统的类别要求制定。各项测试结果应有详细记录，作为 竣工资料的一部分。” 布线系统测试可以从多个万面考虑，设备的连通性是最基本的要求；跳线系统是否有效可以很方便地 测试出来；通信线路的指标数据测试相对比较困难，一般都借助专业工具进行。 但国标中对光纤链路测试方法的描述非常简单，未给出详细的测试方法，对于目前在工程中常用的光 时域反射损耗测试（OTDR），国标中并未阐述。本文从光纤测试标准、测试参数、测试设备、测试方法 等几个方面进行简单的介绍，希望能对工程验收提供帮助。 一、参照标准 在国际标准IEC 61746、TIA/EIA TSB-107等标准中对光纤测试如光功率，OTDR等做了明确的规定，布线系统测试可以参照这些标准进行： 《GB 50312-2007综合布线工程验收规范（含条文说明）》 《IEC 61350功率计校准》 《IEC 61746 OTDR校准》 《G.650.1单模光纤与光缆的线性、确定性属性的定义与测试方法》 《G.650.2单模光纤与光缆的统计与非线性属性的定义与测试方法》 《IEC 60793》 《TIA/EIA TSB-107》 《TIA/EIA FOTP-169》 … 二、测试参数 光缆测试一般应执行以下几个重要参数： 端到端光纤链路损耗 每单位长度的衰减速率