宝石矿物偏光显微镜鉴定专业知识汇总教材

宝石矿物偏光显微镜鉴定专业知识汇总教材
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1.传播速度与物质折射率关系说法正确的是( A.传播速度越大,折射率越小)

2.光的振动方向与传播方向( B.垂直)

3.不属于光性均质体的是(C.锆石)。

4.方解石为一轴负晶,问斜交C轴的切片上,慢光的振动方向是 D.No )。

5.同种矿物的不同颗粒,测定的光性符号( D.一定相同)。

6.二轴晶的光轴面是( C.Ng-Np面)。

7.单斜晶系的光性方位是( B.b轴与光率体3个主轴之一重合,其余两个结晶轴与另两个主轴斜交)。

8.正交偏光镜间干涉结果相互削减( A A.R=nλ)。

9.矿物突起说法正确的是(A.无论是正突起还是负突起,矿物表面都是突起来的)。10.光率体椭圆半径与解理缝或双晶缝之间的夹角称为(B.消光角 B )。11.某矿物Ng-Np=0.018,Ng-Nm=0.008.则该矿物为( C C.二轴负晶)。

12.两矿片在正交偏光镜下45°的干涉色( D.不一定都低)。13某颗粒在正交偏光镜下为全消光,则该矿物颗粒( D.是均质体矿物或非均质体矿物垂直光轴切面)。 14.花岗岩显示干涉色为( C C.I级暗灰)。15.在正交偏光下矿物呈现高级白干涉色的原因是( B B.双折率高)。16.在试板孔中插入云母试板,转动物台一周的过程中,可观测到下列哪种情况( A.二次黄、二次蓝、四次灰白)17.某一轴负晶矿物No=1.658,Ne=1.485,该矿物在垂直光轴和平行光轴切面上的突起类型分别为( A.正中突起和闪突起)。18.云母试板适用于( B B.II级黄以上)干涉色的鉴定。19.矿物的多色性在下列哪种切面上最不明显(C.垂直光轴切面 C )。20.二轴晶光率体平行光轴面切片的干涉图特征是( D.闪图或瞬变干涉图)。 21.二轴晶除了⊥Bxa、⊥Bxo、⊥OA的切片外,能观察到Nm的切面有( D. 有无数个) 22.刚玉为一轴负晶,问斜交C轴的切片上,慢光的振动方向是( A A.No) 23.刚玉为一轴负晶,问斜交C轴的切片上,快光的振动方向是( D D.Ne' ) 24.将石英颗粒置于N=1.70的浸油中,该矿物的突起是( B B.负高突起) 25.两矿片在正交偏光镜下45°位置重叠时,其光率体椭圆半径的同名半径平行时,看到的干涉色比原来两矿片的干涉色( B.一定都高)26.判断矿物为均质体,只根据 B.任何切面都无干涉图)27.在一个双折射的矿物晶体中,沿光轴方向传播的光是( D.单折射的)。28.光率体主轴与3个结晶轴之间的关系称为(D.光性方位D )。29.花岗岩中长石颗粒显示干涉色为(D.I级暗灰)。30.垂直光轴切面在正交偏光下插入石膏(A.I级紫红A )31.在普通角闪石平行(010)切面上测得角闪石的消光角应记为(A.Ng∧Z )。32.石膏试板适用于( C C.II级黄以下)干涉色的鉴定。33.自然光转变为偏振光的作用过程中不包括( C.透射C )34.光性非均质体不包括( A A.尖晶石)

35.对双折射产生的两束偏光描述不正确的是( B )

A.振动方向垂直

B.振动方向平行

C.传播速度不同

D.相应折射率不等

36.晶体中不发生双折射的特殊方向称为( D )。

A.光学主轴

B.光率体主轴

C.法线

D.光轴

37.电气石晶体中有( A )根光轴。

A.1

B.2

C.3

D.无数

38.橄榄石晶体中有( B )根光轴。

A.1

B.2

C.3

D.无数

39.萤石晶体中有( D )根光轴。

A.1

B.2

C.3

D.无数

40.光波沿石英垂直光轴方向射入分解出的两束偏光中,( A )传播速度较大。

A.常光

B.非常光

C.偏光

D.单色光

41.光波沿电气石垂直光轴方向入射分解出的两束偏光中,( B )传播速度较大。

A.常光

B.非常光

C.偏光

D.单色光

42.光波沿石英垂直光轴方向射入分解出的两束偏光中,( B )折射率较大。

A.常光

B.非常光

C.偏光

D.单色光

43.光波沿电气石垂直光轴方向入射分解出的两束偏光中,( A )折射率较大。

A.常光

B.非常光

C.偏光

D.单色光

44.均质体光率体形状为( A )

A.球体

B.旋转椭球体

C.三轴不等椭球体

D.纺锤体

45.一轴晶光率体形状为( B )

A.球体

B.旋转椭球体

C.三轴不等椭球体

D.纺锤体

46.二轴晶光率体形状为( C )

A.球体

B.旋转椭球体

C.三轴不等椭球体

D.纺锤体

47.一轴晶光率体不同切面中,扁率最大的切面是( B )

A.⊥光轴切面

B.∥光轴切面

C.斜交光轴切面

D.无法判断

48.二轴晶光率体不同切面中,扁率最大的切面是( B )

A.⊥光轴切面

B.∥光轴面切面

C.斜交光轴切面

D.⊥Bxa切面

49.一轴晶光率体不同切面中,双折率最大的切面是( B )

A.⊥光轴切面

B.∥光轴切面

C.斜交光轴切面

D.无法判断

50.二轴晶光率体不同切面中,双折率最大的切面是( B )

A.⊥光轴切面

B.∥光轴切面

C.斜交光轴切面

D.无法判断

51.一轴晶光率体不同切面中,双折率最小的切面是( A )

A.⊥光轴切面

B.∥光轴切面

C.斜交光轴切面

D.无法判断

52.二轴晶光率体光学主轴中,最长轴是( A )

A.Ng轴

B.Nm轴

C.Np轴

D.无法判断

53.二轴晶光率体光学主轴中,最短轴是( C )

A.Ng轴

B.Nm轴

C.Np轴

D.无法判断

54.二轴晶光率体垂直光轴面的半任意切面中,必有一个半径是( B )

A.Ng

B.Nm

C.Np

D.No

55.二轴晶主轴面不包括( D )

A.NgNp面

B.NmNp面

C.NgNm面

D.Ng’Np’面

56.二轴正晶光轴角锐角平分线为( A )

A.Ng

B.Nm

C.Np

D.No

57.二轴负晶光轴角钝角平分线为( A )

A.Ng

B.Nm

C.Np

D.No

58.矿物在矿片中解理缝的可见程度受( D )控制

A.矿片厚度

B.矿物双折率

C.光程差

D.解理缝可见临界角

59.关于光性方位说法错误的是( C )

A.指光率体主轴和结晶轴的关系

B.指光率体在晶体中的位置

C.指正负光性在晶体中的表现形式

D.具体指光率体主轴和晶体a、b、c轴重合或斜交的关系

60.矿片对白光中各单色光波的不等量吸收称为( A )。

A.选择性吸收

B.双折射

C.混合-互补

D.色散

61.单偏光镜下转动物台时,许多有色非均质体矿片的颜色发生变化,这种由于光波在晶体中的振动方向不同而使矿片颜色发生改变的现象称为( B )。

A.吸收性

B.多色性

C.偏振性

D.发光性

62.在单偏光镜下转动物台时,许多有色非均质体矿片的颜色深浅发生变化,这种由于光波在晶体中的振动方向不同而使矿片颜色深浅发生改变的现象称为( A )。

A.吸收性

B.多色性

C.偏振性

D.发光性

63.白光照明下,贝克线的灵敏度为( A )。

A.0.001

B.0.0005

C.0.01

D.0.005

64.常用物镜不包括( B )。

A.4×

B.8×

C.25×

D.40×

65.偏光显微镜调节和校正的步骤不包括( D )

A.装卸镜头

B.调节焦距

C.校正中心

D.检查镜臂

66.聚光镜的作用是把下偏光透出的平行偏光高度会聚成( C )形偏光。

A.圆

B.柱

C.锥

D.放射

67.偏光显微镜载物台圆周边缘有360°刻度,并附有游标尺,可以直接读出载物台旋转角度,最小到( B )

A.度

B.分

C.秒

D.无法判断

68.下列矿物在单偏光下常具有闪突起的是( C )。

A.角闪石

B.电气石

C.白云母

D.橄榄石

69.下列矿物在单偏光下具有正高突起的是( A )。

A.橄榄石

B.石英

C.榍石

D.磷灰石

70.消光类型不包括( B )。

A.平行消光

B.四次消光

C.斜消光

D.对称消光

71.下列矿物在正交偏光下一定表现为全消光的是( C )

A.橄榄石

B.石英

C.萤石

D.磷灰石

72.下列矿物在正交偏光下有可能表现为全消光,也有可能表现为四次消光的是( D )

A.萤石

B.石榴石

C.尖晶石

D.橄榄石

73.下列宝玉石在正交偏光下表现为不消光的是( B )

A.橄榄石

B.玛瑙

C.石英

D.电气石

74.白光通过正交偏光镜间的矿片后,经干涉作用形成的颜色称为( C )。

A.颜色

B.互补色

C.干涉色

D.单色

75.下列矿物平行光轴切片有可能表现出高级白干涉色的是( A )。

A.方解石

B.角闪石

C.石英

D.橄榄石

76.干涉色色谱表中的要素不包括( D )。

A.干涉色级序

B.光程差

C.矿物双折率

D.异常干涉色

77.异常干涉色不包括( D )

A.柏林蓝

B.墨水蓝

C.锈褐色

D.I级灰

78.两个非均质体(除垂直光轴以外的)任意方向的切片,在正交偏光镜间45°位置重叠时,光波通过这两个矿片后,光程差的增减法则,称为( C )。

A.混合-互补法则

B.布拉维法则

C.补色法则

D.干涉法则

79.石膏试板在正交偏光镜间45°位置时呈现( C )干涉色。

A.I级灰

B.I级黄

C.I级紫红

D.II级蓝

80.如果矿片干涉色为I级黄,加入石膏试板后,异名半径平行时,干涉色变为( A )。

A.I级灰

B.II级黄

C.I级紫红

D.II级蓝

81.如果矿片干涉色为I级黄,加入石膏试板后,同名半径平行时,干涉色变为( B )。

A.I级灰

B.II级黄

C.I级紫红

D.II级蓝

82.云母试板在正交偏光镜间45°位置时呈现( A )干涉色。

A.I级灰白

B.I级黄

C.I级紫红

D.II级蓝

83.如果矿片干涉色为I级紫红,加入云母试板后,异名半径平行时,干涉色变为( B )。

A.I级灰

B.I级橙黄

C.I级紫红

D.II级蓝

84.石膏试板适用于( B )以下干涉色的矿片。

A.III级蓝

B.II级黄

C.II级紫红

D.II级蓝

85.两个光性非均质体不垂直于光轴的切片上下重叠时,若光率体椭圆切面的异名半径互相平行且光程差相等时,则总光程差为0,视域出现黑暗的现象称为( D )。

A.消光

B.全消光

C.全消色

D.消色

86.斜消光时,矿物光率体椭圆半径与解理缝或双晶缝或晶体边棱之间的夹角称为( B )。

A.解理缝可见临界角

B.消光角

C.光轴角

D.光孔角

87.长条状矿物切片,其延长方向与光率体椭圆长半径Ng或Ng’之间的夹角关系称为( C )。

A.光性

B.轴性

C.延性

D.延展性

88.锥光镜下所观察到的现象是锥形偏光束中,各个不同方向的入射偏光通过矿片后,到达上偏光所产生的消光和干涉效应总和。他们构成特殊的图像,称为( C )。

A.闪图

B.瞬变干涉图

C.干涉图

D.消光图

89.锥光下出现黑十字干涉图的切面类型为( A )。

A.一轴晶⊥光轴切面

B.二轴晶⊥光轴切面

C.一轴晶斜交光轴切面(倾角较大)

D.无法确定

90.可出现瞬变干涉图的切面类型为( A )。

A.一轴晶∥光轴切面

B.二轴晶⊥光轴切面

C.一轴晶斜交光轴切面(倾角较大)

D.无法确定

91.偏光显微镜下矿片的标准厚度为( B )mm。

A.0.01

B.0.03

C.0.05

D.0.1

92.二轴晶中,多色性最明显的切面是( D )。

A.⊥光轴切面

B.⊥Bxa切面

C.⊥Bxo切面

D.∥OAP切面

93.关于橄榄石矿物描述错误的是( B )。

A.二轴晶矿物

B.中级晶族矿物

C.光性非均质体

D.斜方晶系矿物

94.关于电气石矿物描述错误的是( A )。

A.二轴晶矿物

B.中级晶族矿物

C.光性非均质体

D.三方晶系矿物

95.二轴晶除了⊥Bxa、⊥Bxo、⊥OA的切片外,能观察到Nm的切面有( D )个。

A.1

B.2

C.3

D.无数

96.观察方解石的闪突起,应选择( A )切面才最明显。

A.∥OA

B.⊥OA

C.斜交OA

D.无法判定

97.观察白云母的闪突起,应选择( A )切面才最明显。

A.∥OAP

B.⊥OA

C.斜交OA

D.⊥Bxa

98.角闪石的多色性公式为:Ng=深绿,Nm=绿,Np=浅黄绿,其吸收性公式应为( A )。

A. Ng>Nm>Np

B.Ng<Nm<Np

C.Nm>Ng>Np

D.Ng>Np>Nm

99.单偏光镜下晶体光学性质观察、测定的主要特征不包括( D )。

A.颜色

B.多色性

C.突起

D.消光角

100.正交偏光镜下晶体光学性质观察、测定的主要特征不包括( B )。

A.消光类型

B.贝克线

C.干涉色

D.消光角

101.一轴晶垂直光轴的切面在正交偏光下的特点是( A )。

A.全消光

B.四次消光

C.不消光

D.对称消光

102.一轴晶平行光轴的切面在正交偏光下的特点是( B )。

A.全消光

B.四次消光

C.不消光

D.对称消光

103.一轴晶垂直光轴的切面在锥光镜下的特点是( A )。

A.黑十字干涉图

B.闪图

C.瞬变干涉图

D.横或竖的黑臂

104.影响光程差大小的因素不包括( D )。

A.矿物性质

B.矿片厚度

C.切片方向

D.突起等级

105.矿物在正交偏光镜间I级干涉色的色序特征是具有灰白色,而无( A )色。

A.蓝绿

B.紫红

C.橙黄

D.暗灰

106.二轴晶光率体形态为三轴不等椭球体,有( B )个圆切面。

A.1

B.2

C.3

D.无数

107.要准确测定普通辉石的消光角(Ng∧Z),必须选择( A )的切面。

A.∥OAP

B.⊥OA

C.斜交OA

D.⊥Bxa

108.二轴晶垂直Bxa切面干涉图的用途不包括( D )。

A.确定轴性

B.确定切面方向

C.测定光性符号

D.测定干涉色级序

109.二轴晶光率体主要切面类型不包括( B )。

A.⊥OA

B.∥OA

C.∥OAP

D.⊥Bxa

110.要测定矿物的轴性及光性正负,最好选择在正交偏光镜间干涉色( A )的切面。

A.最低

B.最高

C.居中

D.无法判断

111.对于一轴晶矿物来说,其延性总是和( A )相一致。

A.光性

B.轴性

C.多色性

D.吸收性

112.薄片中透明矿物的颜色是由于矿片对白光中各单色光( A )的结果。

A.选择性吸收

B.消光

C.全部吸收

D.定向吸收

113.二轴晶负光性光率体垂直Bxo的切面,其光率体椭园切面半径是( A )。

A.Nm和Np

B.Ng和Np

C.Ng和Nm

D.Ng’和Nm

114.二轴晶正光性光率体垂直Bxo的切面,其光率体椭园切面半径是( C )。

A.Nm和Np

B.Ng和Np

C.Ng和Nm

D.Ng’和Nm

115.光程差公式中的要素不包括( D )。

A.薄片厚度

B.双折率

C.光程差

D.光轴角

116.一轴晶垂直光轴切面干涉图的用途不包括( D )。

A.确定轴性

B.确定切面方向

C.测定光性符号

D.估测2V角大小

117.一轴晶斜交光轴切面的半径为( D )。

A.Ne和No

B.Ng和Np

C.Ne和No’

D.Ne’和No

118.白云母闪突起的变化规律是( A )。

A.正中-正低

B.正中-正高

C.负低-正中

D.负低-正低

119.方解石闪突起的变化规律是( C )。

A.正中-正低

B.正中-正高

C.负低-正中

D.负低-正低

120.斜长石常见双晶类型中为( B )。

A.格子状双晶

B.聚片双晶

C.卡斯巴双晶

D.穿插双晶

121.石榴石在偏光显微镜下的特征不包括( D )。

A.无多色性

B.全消光

C.无干涉图

D.黑十字干涉图

122.光率体是表示光波在晶体中传播时,光波的( D )与相应折射率值之间关系的一种光性指示体。

A.传播方向

B.偏振方向

C.入射方向

D.振动方向

123.单斜晶系光性方位特点是( B )与光率体三个主轴之一重合,其余两个结晶轴与另两个主轴斜交。

A.X晶轴

B.Y晶轴

C.Z晶轴

D.无法判断

124.沿Z轴延长的长条状矿物,当Ng与Z轴平行时,矿物的延性符号为( A )。

A.正

B.负

C.中性

D.无法判断

125.矿物的( A )在垂直光轴的切面上最不明显。

A.多色性

B.吸收性

C.光性

D.延性

126.一轴晶光率体的旋转轴永远是()轴。

A.Ne

B.No

C.Ne’

D.No’

127.一轴晶平行光轴切面的干涉图与二轴晶平行光轴面切面的干涉图特点完全一样,在( B )明确的情况下也可用作光性正负的测定。

A.延性

B.轴性

C.多色性

D.吸收性

128.在单偏光下,黑云母颜色最深时的解理缝方向可以代表( A )的振动方向。

A.下偏光

B.上偏光

C.单偏光

D.偏振光

129.矿片干涉色的高低取决于矿物性质和矿片厚度,在标准厚度下则受( B )的影响。A.切面半径 B.切面双折率 C.切面干涉色 D.切面干涉图

130.二轴晶中Bxa和Bxo的关系是( A )。

A.互相垂直

B.互相平行

C.斜交

D.无法判定

131.折射率反映光在物质中的传播速度和物质的( A )。

A.密度

B.硬度

C.延展性

D.光泽

132.石英光率体的特点是光波平行光轴振动时的折射率( A )垂直光轴振动时的折射率值。

A.大于

B.小于

C.等于

D.约等于

133.方解石光率体的特点是光波平行光轴振动时的折射率( B )垂直光轴振动时的折射率值。

A.大于

B.小于

C.等于

D.约等于

134.在一轴晶矿物中,平行光轴切面双折率( B )。

A.最小

B.最大

C.为零

D.无穷大

135.两个光轴之间锐角的平分线称为锐角等分线,以符号( A )表示。

A.Bxa

B.Bxo

C.OA

D.2V

136.二轴晶光率体中垂直主轴面的斜交切面,即垂直NgNp面、NgNm面及NmNp面的斜交切面,称为( B )。

A.任意切面

B.半任意切面

C.主轴面

D.光轴面

137.光率体在晶体中的位置,受到晶体( A )的支配,光性方位因晶系不同而异。

A.对称性

B.光性

C.多色性

D.延性

138.一般以符号( A )代表下偏光镜的振动方向。

A.PP

B.AA

C.XX

D.OO

139.单偏光镜的装置不包括( D )。

A.反光镜

B.下偏光镜

C.物镜

D.聚光镜

140.正交偏光镜的装置不包括( D )。

A.反光镜

B.下偏光镜

C.物镜

D.勃氏镜

141.锥光镜与单偏光晶及正交偏光镜最大的区别是( A )。

A.加聚光镜

B.加勃氏镜

C.加下偏光

D.加上偏光

142.矿物对光的选择性吸收有关的光学性质不包括( D )。

A.颜色

B.多色性

C.吸收性

D.干涉色

143.与矿物折射率值大小有关的光学性质不包括( D )。

A.突起

B.边缘

C.贝克线

D.颜色

144.矿物的解理在矿片中表现为沿一定方向平行排列的细缝,称为( B )。

A.裂理纹

B.解理缝

C.双晶缝

D.节理缝

145.薄片中解理缝的宽度和清楚程度,除与矿物解理的完善程度有关外,还与( A )有密切关系。

A.切片方向

B.矿片厚度

C.矿片双折率

D.矿片光性

146.在薄片中矿物的( B )一般表现为弯曲或不规则的细缝,有时也可以是平直而贯穿整个颗粒,但缝与缝之间的距离往往不等。

A.解理纹

B.裂理纹

C.节理纹

D.双晶纹

147.矿物在岩石薄片中呈现的颜色是矿物薄片在( D )光下所呈现的颜色。

A.反射

B.折射

C.散射

D.透射

148.矿片对白光中各单色光波选择性吸收后所呈现的颜色,遵循各单色光的( A )原理。

A.混合-互补

B.折射

C.吸收性

D.全反射

149.矿物在薄片中呈现的颜色,主要取决于矿物的化学成分,特别是矿物晶格中存在的( A )。

A.过渡元素

B.重金属元素

C.卤族元素

D.轻金属元素

150.观察贝克线时,把两物质的接触界线置于视域中心,适当缩小( D )以挡去倾斜度较大的光线,使视域变得较暗,贝克线将显得更清楚。

A.物镜倍数

B.聚光镜

C.视域

D.缩光圈

151.矿片表面光滑程度不同的现象称为( B )。

A.突起

B.糙面

C.边缘

D.光滑度

152.闪突起中发生明显改变的现象不包括( C )

A.边缘

B.糙面

C.贝克线

D.突起高低

153.下列矿物中,呈负高突起的矿物是( D )。

A.橄榄石

B.石英

C.正长石

D.萤石

154.下列矿物中,呈负低突起的矿物是( C )。

A.橄榄石

B.石英

C.正长石

D.萤石

155.下列矿物中,呈正低高突起的矿物是( B )。

A.橄榄石

B.石英

C.正长石

D.萤石

156.下列矿物中,呈正中突起的矿物是( D )。

A.橄榄石

B.石英

C.正长石

D.磷灰石

157.下列矿物中,呈正高突起的矿物是( A )。

A.橄榄石

B.石英

C.正长石

D.萤石

158.一轴晶或二轴晶中( C )方向的切片不具闪突起。

A.平行光轴

B.平行光轴面

C.垂直光轴

D.斜交光轴

159.正交偏光下,当矿片上光率体椭圆半径与AA、PP成45°夹角时,矿片( A ),这时的矿片位置称为45°位置。

A.最亮

B.最暗

C.四明四暗

D.明暗相间

160.光程差与( A )成正比。

A.矿物双折率

B.光性

C.矿片形状

D.光轴角大小

161.在观察测定一轴晶矿片干涉色时,必须在( A )的定向切片上测定干涉色。

A.平行光轴

B.垂直光轴

C.斜交光轴

D.平行光轴面

162.在观察测定二轴晶矿片干涉色时,必须在( D)的定向切片上测定干涉色。

A.平行光轴

B.垂直光轴

C.斜交光轴

D.平行光轴面

163.干涉色色谱表的横坐标表示( A )的大小。

A.光程差

B.双折率

C.矿片厚度

D.干涉色级序

164.干涉色色谱表的纵坐标表示( C )的大小。

A.光程差

B.双折率

C.矿片厚度

D.干涉色级序

165.干涉色色谱表中的斜线表示( B )的大小。

A.光程差

B.双折率

C.矿片厚度

D.干涉色级序

166.当两个矿片在正交偏光镜间45°位置重叠时,光波通过两个矿片后,其总光程差R的增减,取决于两个矿片的( A )。

A.重叠方式

B.干涉色

C.厚度

D.晶体特征

167.二轴晶光率体的Ng始终是( D )的。

A.竖直

B.水平

C.倾斜

D.无法判断

168.一轴晶光率体的Ne始终是( A )的。

A.竖直

B.水平

C.倾斜

D.无法判断

169.二轴晶光轴面(OAP)始终是( A )的。

A.竖直

B.水平

C.倾斜

D.无法判断

170.某矿物切面见不到解理缝,说明该矿物( D )。

A.一定不发育解理

B.一定发育解理

C.一定发育裂理

D.无法判断

171.非均质体矿物在薄片中一定( C )多色性。

A.有

B.无

C.可能出现

D.无法判断

172.电气石纵切面平行十字丝纵丝时,所见的颜色是( B )的颜色。

A.Ne

B.No

C.Ne’

D.No’

173.普通角闪石(010)面上多色性最明显,可以见到( A )的颜色。

A.Ng和Np

B.Ng和Nm

C.Nm和Np

D.Ng’和Np’

174.在岩石薄片中,矿物折射率愈小,其突起( D )。

A.愈高

B.愈低

C.一致

D.无法判断

175.将正长石置于折射率为1.70的浸油中所观察到的突起是( A )突起。

A.负高

B.负低

C.正低

D.正中

176.在同一岩石薄片中,同种矿物不同方向切面上,其干涉色( A )。

A.不同

B.相同

C.变化不大

D.无法判断

177.判断矿物的正负突起,必须借助( A )进行。

A.贝克线的移动规律

B.干涉色的变化

C.光性的变化

D.干涉图的变化

178.某矿物的干涉色为二级绿,在45°位置加云母试板,如同名半径平行时,干涉色变为( A )。

A.II级黄

B.II级蓝

C.II级紫红

D.III级绿

179.一轴晶的光轴往往与其( C )方向是一致的。

A.A轴

B.B轴

C.C轴

D.U轴

180.某矿物的最高干涉色为Ⅱ级蓝,因此该矿物的某些切面可能出现( A )。

A.I级紫红

B.II级紫红

C.II级黄

D.II级绿

181.二轴晶垂直光轴切面的干涉图用途不包括( D )。

A.确定轴性

B.判别光性

C.判别切面方向

D.估计折射率的大小

182.一轴晶垂直光轴切面的干涉图中,从中心到边缘放射线的方向就是( C )的方向。A.No B.Ne C.Ne’ D.No’

183.二轴晶最大双折率为( A )。

A.Ng-Np

B.Ng-Nm

C.Nm-Np

D.Ng’-Np’

184.当解理缝与薄片表面( A )时解理缝最清楚。

A.垂直

B.平行

C.斜交

D.近似垂直

185.单偏光下具有闪突起的矿物颗粒,正交偏光下其干涉色一般( A )。

A.较高

B.较低

C.为I级灰白

D.为高级白

186.石英为一轴晶,No=1.544,Ne=1.553,标准薄片厚度下,最高干涉色是( A )。

A.I级灰白

B.I级橙黄

C.I级紫红

D.II级蓝

187.方解石为一轴晶,No=1.658,Ne=1.486,最高干涉色达到( D )。

A.I级灰白

B.II级橙黄

C.III级紫红

D.高级白

188.某二轴晶矿物,Ng=1.705,Nm=1.700,Np=1.693,垂直Bxa切面干涉色是( A )。

A.I级灰白

B.II级橙黄

C.III级紫红

D.高级白

189.某颗粒干涉色为灰色,加石膏试板后,一个45°位变为蓝,那另一个45°一定变为( B )色。

A.灰白

B.黄

C.紫红

D.蓝

190.某颗粒加石膏试板后,一个45°位变为蓝,另一个45°位变为黄,那原来的干涉色一定是( A )。

A.I级灰白

B.II级橙黄

C.III级紫红

D.高级白

191.某颗粒干涉色加石膏试板后,两个45°位都变为绿色,说明原来的干涉色一定至少为( C )级。

A.I

B.II

C.III

D.IV

192.某颗粒干涉色加石膏试板后,只要有一个45°位变为I级,说明原来的干涉色一定不超过( B )级。

A.I

B.II

C.III

D.IV

193.某矿物颗粒干涉色加云母试板后,升高位变成绿色,降低位变成红色,则该矿物干涉色为( B )色。

A.紫红

B.蓝

C.黄

D.灰白

194.一轴晶矿物平行C轴切面为( A )消光。

A.平行

B.对称

C.斜

D.全

195.具有闪图干涉图的矿物颗粒,去掉锥光系统后,在正交镜下,其干涉色( A )。

A.较高

B.较低

C.不明显

D.无法判断

196.二轴晶垂直Bxa切面干涉图45°时,两个弯曲黑带顶点连线为( B )方向。

A.光轴

B.光轴面迹线

C.Bxa

D.Bxo

197.二轴晶垂直Bxa切面干涉图中,与两个弯曲黑带顶点连线方向相垂直的方向始终为( D )方向。

A.光轴

B.光轴面迹线

C.Bxa

D.Nm

198.二轴晶垂直Bxa切面干涉色一定( B )垂直Bxo切面干涉色。

A.高于

B.低于

C.等于

D.无法判断

199.二轴晶垂直OA切面干涉图45°位时,加试板后,弯曲黑带凸方与凹方干涉色变化正好( B )。

A.相同

B.相反

C.一致

D.无法判断

200.二轴晶闪图干涉图,去掉锥光系统后,在正交偏光间具有该矿物干涉色( A )。

A.最高

B.最低

C.中等

D.无法判断

一、判断(每题1分,共150分)

1.光由光疏介质射入光密介质时,永远不会发生全反射。(√)

2.光在晶体中传播方向一致,则折射率一样。(×)

3.折射定律表达为折射率为入射角与折射角的正弦之比,所以入射角越大,折射率越大;入射角越小,折射率越小。(×)

4.贝克线的移动规律是下降物台,贝克线总是向折射率大的物质移动。(√)

5.二轴晶光率体,当Np>Nm>Ng时,为负光性。(×)

6.一轴晶光率体切面始终有一个No,二轴晶光率体切面始终有一个Nm。(×)

7.矿物的多色性在垂直光轴的切面上最不明显。(√)

8.一轴晶光率体的旋转轴永远是Ne轴。(√)

9.光性方位指的是光率体在晶体中的摆放位置。(√)

10.二轴晶Bxa一定垂直Bxo。(√)

11.二轴晶Bxa和Bxo构成的切面一定与光轴面一致。(√)

12.二轴晶光率体的Ng始终是竖直的。(×)

13.一轴晶光轴Ne始终是竖直的,二轴晶光轴面(OAP)也始终是竖直的。(√)

14.在单偏光镜下,黑云母颜色最深时的解理缝方向可以代表下偏光的振动方向。(√)

15.某矿物切面见不到解理缝,说明该矿物一定不发育解理。(×)

16.非均质体矿物在薄片中一定有多色性。(×)

17.薄片中矿物有颜色的切面一定有多色性。(×)

18.电气石纵切面平行十字丝纵丝时,所见的颜色是No的颜色。(√)

19.普通角闪石(010)面上多色性最明显,可以见到Ng和Np的颜色。(√)

20.角闪石的多色性只有在垂直Bxa的切面上观察才最明显。(×)

21.在岩石薄片中透明矿物所呈现的颜色是矿片对白光中各单色光波折射和散射的结果。

(×)

22.矿片糙面的明显程度是受矿物软硬和矿片表面光滑程度的影响。(×)

23.在岩石薄片中,矿物突起愈低,其折射率就愈小。(×)

24.正突起就是矿物向上凸起,负突起就是矿物向下凹进。(×)

25.所有非均质体椭圆切面都具有闪突起。(×)

26.将石英置于折射率为1.70的浸油中所观察到的突起是负高突起。(√)

27.在同一岩石薄片中,同种矿物不同方向切面上,其干涉色不同。(√)

28.对于一轴晶矿物来说,其延性和光性总是一致的。(√)

29.判断矿物的正负突起,必须借助贝克线的移动规律进行。(√)

30.矿片干涉色的高低取决于矿物性质和矿片厚度,在标准厚度下则受切面双折射率的影响。

(√)31.某矿物的干涉色为二级绿,在45°位置加云母试板,如同名半径平行时,干涉色升高为二级蓝,如异名半径平行时,干涉色降低为二级黄。(×)32.当非均质体矿片上的光率体椭圆半径与上、下偏光的振动方向平行时,矿片就会变黑而消色。(×)

33.晶体的光轴往往与其C轴方向是一致的。(×)

34.矿物折射率与光波传播的速度紧密相关,因此光波在矿物中传播速度愈快,矿物折射率就愈大。(×)

35.要测定矿物的轴性和光性符号,应该选择在正交偏光下干涉色最高的切面。(×)

36.两非均质体矿片在正交镜间的45°位重迭,当异名半径平行时,因总光程差为零而使矿片变黑暗的现象,称为消色。(√)

37.某矿物的最高干涉色为Ⅱ级紫红,因此该矿物的某些切面可能出现Ⅰ级紫红。(√)

38.一轴晶平行光轴切面的干涉图与二轴晶平行光轴面切面的干涉图特点完全一样,在轴性

明确的情况下也不能用作光性正负的测定。(×)39.两非均质矿片在正交镜间的45°位置重叠,当异名半径平行时,总光程差等于两矿片光程差之差。(√)

40.同一岩石薄片中,同一种矿物的干涉色相同,不同种矿物的干涉色不同。(×)

41.二轴晶垂直光轴切面的干涉图用途有:确定轴性、光性、切面方向和估计折射率的大小。

(×)42.在一轴晶平行光轴切面的干涉图中,从中心到边缘干涉色逐渐升高的方向就是Ne的方向。(×)43.根据Ng、Nm和Np的相对大小可以确定二轴晶矿物的光性正负,当Ng-Nm < Nm―Np 时为正光性,当Ng―Nm > Nm―Np为负光性。(×)

44.中级晶族的光性方位是一轴晶光率体的旋转轴与晶体的三个结晶轴之一重合。(×)

45.要确定光率体切面方位,必须选择在正交偏光下干涉色最高的切面。(×)

46.在单偏光镜下,观察到了矿物的某些切面形态为正方形,我们可以认定这种矿物具有立方体晶形。(×)47.在利用楔形边法测定某矿片干涉色级序时,发现该矿物边缘最外圈呈现黄色,从边缘到中部一共经过2条红带,我们不能确定矿片的干涉色是否为3级。(√)

48.除真空外的任何介质的折射率总是大于1。(√)

49.光由光密介质射入光疏介质,一定发生全反射。(×)

50.均质体有无数个相同的N或只有一个N。(√)

51.非均质体有几个不同的N。(√)

52.自然光射入均质体中,基本仍为自然光,偏光射入仍为偏光,不发生双折射。(√)

53.自然光射入非均质体中一般发生双折射形成两种偏光;偏光射入非均质体中,按入射偏光传播,不发生双折射。(×)

54.光在晶体中传播方向一致,则N一样。(×)

55.光在晶体中振动方向一致,则N一样。(×)

56.一轴晶有Ne、No两个主折射率,二轴晶有Ng、Nm、Np三个主折射率。(√)

57.一轴晶No轴始终垂直于光轴。(√)

58.一轴晶正光性Ne>No,负光性Ne<No;二轴晶正光性Ng>Nm>Np,负光性Ng<Nm<Np。

(×)

59.一轴晶光率体切面始终有一个No,二轴晶光率体切面始终有一个Nm。(×)

60.无论是一轴晶还是二轴晶,具有最大双折率的切面一定平行光轴。(√)

61.一轴晶有一个光率体圆切面,二轴晶有两个光率体圆切面。(√)

62.二轴晶光轴面一定与NgNp面一致。(√)

63.二轴晶垂直光轴面的任意切面总有一个半径是Nm。(√)

64.一轴晶最大双折率为|Ne-No|,二轴晶最大双折率为Ng-Nm。(×)

65.二轴晶Bxa或Bxo不可能是Nm。(√)

66.一轴晶光率体的光轴始终是竖直的。(√)

67.二轴晶光率体的Ng轴始终是竖直的。(×)

68.一轴晶Ne与Z轴始终一致,二轴晶Ng与Z轴始终一致。(×)

69.二轴晶三个光率体主轴一定与三个结晶轴一致。(×)

70.二轴晶斜方晶系Ng、Nm、Np与X、Y、Z轴一致。(×)

71.二轴晶单斜晶系一定是Nm = Y。(×)

72.解理缝一般是暗色细缝。(√)

73.当解理缝与薄片表面垂直时解理缝最清楚。(√)

74.辉石和长石都发育两组解理,薄片中辉石见到解理的机会少,而长石机会多。(×)

75.手标本上见到某矿物有颜色,则薄片中一定也有颜色。(×)

76.均质体矿物在薄片中一定无多色性。(√)

77.非均质体矿物在薄片中一定有多色性。(×)

78.有颜色矿物的没有多色性的切面一般是光率体圆切面。(√)

79.有多色性的一轴晶只有NeNo面上有多色性,二轴晶只有NgNp面上有多色性。(×)

80.矿物突起越高,N越大,突起越低,N越小。(×)

81.提升物台时,贝克线向折射率大的物质方向移动。(×)

82.正交偏光镜间全消光的矿物颗粒一定是均质体。(×)

83.正交偏光镜间出现“四明四暗”现象的颗粒一定是非均质体。(√)

84.正交偏光镜间观察到的颜色为矿物自身的颜色。(×)

85.非均质体所有切面都可以出现“四明四暗”现象。(×)

86.干涉色与单偏光镜下颜色的形成原理类似。(×)

87.干涉色与光程差是一一对应的,只要干涉色颜色种类一样,则光程差一样。(×)

88.灰色和黄色干涉色一定属于I级干涉色。(×)

89.蓝色和绿色干涉色至少是II级或以上干涉色。(√)

90.相邻色序对比,紫红对应的光程差一定小于蓝色对应的光程差。(√)

91.同一级序内,紫红对应的光程差也一定小于蓝色对应的光程差。(√)

92.同一薄片中,具有不同干涉色的颗粒,一定是不同种矿物。(×)

93.同一薄片中,具有相同干涉色的颗粒,一定是同一种矿物。(×)

94.每一种非均质体矿物,只有一种干涉色。(×)

95.每一种非均质体矿物,只有一种最高干涉色。(√)

96.具有最高干涉色的切面一定平行光轴。(√)

97.平行光轴的切面,一定具有最高干涉色。(×)

98.单偏光下具有闪突起的矿物颗粒,正交偏光下其干涉色一般比较高。(√)

99.石英为一轴晶,No=1.544,Ne=1.553,标准薄片厚度下,最高干涉色是I级紫红。(×)100.方解石为一轴晶,No=1.658,Ne=1.486,最高干涉色达到高级白。(√)101.某二轴晶矿物,Ng=1.705,Nm=1.700,Np=1.693,垂直Bxa切面干涉色是灰色。(√)102.补色法则中,光率体半径同名平行时,结果干涉色一定比矿片原来的高。(√)103.补色法则中,光率体半径异名平行时,结果干涉色一定比矿片原来的低。(×)104.某矿物颗粒干涉色为灰色,加石膏试板后,一个45°位变为蓝,另一个45°位变为黄,干涉色都比原来的高,所以两个45°位都是光率体半径同名平行。(×)105.某颗粒干涉色为灰色,加石膏试板后,一个45°位变为蓝,那另一个45°一定变为黄。

(√)106.某颗粒加石膏试板后,一个45°位变为蓝,另一个45°位变为黄,那原来的干涉色一定是灰。(√)107.某颗粒加石膏试板后,一个45°位变为蓝,另一个45°位变为灰,那原来的干涉色一定是黄。(×)108.颗粒干涉色加石膏试板后,两个45°位都变为绿色,说明原来的干涉色一定至少为II 级。(×)109.某颗粒干涉色加石膏试板后,只要有一个45°位变为I级,说明原来的干涉色一定不超过II级。(√)110.原干涉色为蓝色,加云母试板后,升高位一定变成绿色,降低位一定变成红色。(√)111.某矿物颗粒,加云母试板后,一个45°位变成紫红色,另一个45°位变成绿色,则原

来的干涉色一定是蓝色。(×)112.原干涉色为黄色,加云母试板后,升高位一定变成红色,降低位一定变成绿色。(×)113.一轴晶矿物平行C轴切面为平行消光。(√)114.单斜晶系矿物普通角闪石Nm=b,其平行(100)的切面是平行消光,平行(010)的切面是斜消光,平行(001)的切面是对称消光。(√)115.正光性矿物一定是正延性,负光性矿物一定是负延性。(×)116.正交镜下全消光的矿物切面,在锥光镜下也全消光。(×)117.只有光率体切面为椭圆的矿物颗粒,在锥光镜下才有干涉图。(×)118.一轴晶垂直光轴切面干涉图就是一个黑十字。(×)119.正交镜下最高干涉色越高的矿物,其垂直OA切面干涉图干涉色色圈越多。(√)120.单偏光镜下具有闪突起的矿物,其垂直OA切面干涉图干涉色圈一般比较多。(√)121.一轴晶垂直OA切面,波向图中切线方向为No,放射线方向为Ne。(√)122.锥光镜下,一轴晶平行光轴切面观察到的干涉图为闪图。(√)123.某一轴晶矿物颗粒在锥光下出现一黑十字,且四个象限均为灰色,现插入石膏试板,发现一、三象限变成蓝色,二、四象限变为黄色,该矿物为负光性。(×)124.具有多圈干涉色色圈的垂直OA干涉图,从中心向外干涉色逐渐升高,加入石膏试板后,干涉色仍然从中心向外逐渐升高。(×)125.具有多圈干涉色色圈的垂直OA干涉图,加入石英楔试板后,发现二、四象限干涉色色圈连续向外移动,该矿物为正光性。(√)126.偏心干涉图一般只见黑十字一条横臂或一条竖臂,均无法判断视域外黑十字中心的位置。(×)127.当视域内见一条横臂,顺时针转物台,其向上移动,说明黑十字中心在视域右侧。(×)128.当视域内见一条竖臂,顺时针转物台,其向左移动,说明黑十字中心在视域下方。(√)129.当视域内见一条竖臂,逆时针转物台,其向左移动,继续逆时针转动物台,当该竖臂转到离开视域后,则下一步将会看到一条横臂从上方进入视域。(√)130.具有闪图干涉图的矿物颗粒,去掉锥光系统后,在正交镜下,一般具有比较高的干涉色。

(√)131.二轴晶垂直Bxa切面干涉图45°时,两个弯曲黑带顶点连线为光轴方向。(×)132.二轴晶垂直Bxa切面干涉图的色圈,也是以黑十字交点为中心的同心园色圈。(×)133.二轴晶垂直Bxa切面干涉图中,两个弯曲黑带顶点连线为NgNp面迹线方向。(√)134.二轴晶正光性垂直Bxa切面干涉图与负光性垂直Bxo切面干涉图一样。(×)135.二轴晶垂直Bxa切面干涉图中,两个弯曲黑带顶点凸方连线方向为Bxa投影方向。(√)136.二轴晶垂直Bxa切面干涉图中,两个弯曲黑带顶点凹方连线方向为Bxo投影方向。(√)137.二轴晶垂直Bxa切面干涉图中,与两个弯曲黑带顶点连线方向相垂直的方向始终为光轴方向。(×)138.二轴晶垂直Bxa切面干涉图中,弯曲黑带在II、IV象限时,加试板后,I、III象限干涉色变化一致,II、IV象限凸方与凹方干涉色变化也一致。(×)139.垂直Bxa切面干涉图,弯曲黑带在I、III象限的45°位时,从II、IV象限插入石膏试板,弯曲黑带顶点之间干涉色由灰变蓝,其光性符号是负。

(√)

140.垂直Bxa切面干涉图〔色圈多),弯曲黑带在I、III象限,从II、IV象限插入云母试板,两个弯曲黑带凹方各出现一个对称的小黑团,其光性符号是正。

(×)

141.二轴晶垂直OA切面干涉图与一轴晶垂直OA切面干涉图很类似。

(×)

142.二轴晶垂直OA切面干涉图相当于垂直Bxo切面干涉图的一半。

(×)

143.二轴晶垂直OA切面干涉图45°位时,加试板后,弯曲黑带凸方与凹方干涉色变化正好相反。

(√)

144.二轴垂直Bxo切面干涉图,也会出现一个粗大黑十字,也叫闪图。

(×)

145.二轴晶垂直Bxo切面干涉图与垂直Bxa切面干涉图类似,只是中心出露轴不同。(×)

146.二轴晶矿物NgNp面干涉图一定为闪图;反过来,具有闪图特点的切面,一定是NgNp 面。

(×)

147.二轴晶闪图干涉图,去掉锥光系统后,在正交偏光间具有该矿物最高干涉色。

(√)

148.二轴晶垂直Bxa切面干涉色一定低于垂直Bxo切面干涉色。

(√)

149.二轴晶垂直Bxa切面与垂直Bxo切面干涉色的相对高低,视光性不同而不同。

(×)

150.单偏光镜使用的显微镜部件包括目镜、物镜、上偏光镜和光源。(×)

金相显微镜在显微组织观察中的应用

金相显微镜在显微组织观察中的应用 ------大纲、实验指导书 大纲 实验学时:3 实验类型:综合 实验所属实验课程:光学分析实验教学模块 实验指导书名称:《材料光学技术实验》实验指导书 相关理论课程名称:材料科学与工程学导论、大学物理、金工实习 撰稿人:**** 日期:2011-7-28 一、目的与任务 了解、熟悉普通金相显微镜的操作、研究级显微镜的特点以及显微镜的基本成像原理。了解显微镜在金相研究中的作用、应用;熟悉测微目镜的使用原理及实际应用;明确不同倍率物镜在显微组织分析中的正常选取原则。掌握手绘记录一幅观察到的显微组织图像。了解显微镜技术的最新动向(介绍OLS4000激光共聚焦显微镜--根据具体情况增、删)。 二、内容、要求与安排方式 1、实验内容与要求 教师简要介绍显微镜的基本组成,操作技术,同学通过实际使用,熟悉普通金相显微镜的操作;了解高级显微镜的操作;养成良好的工作习惯。课后,依据参考资料,进一步了解金相显微镜的细致技术内容。 根据教师对于测微目镜、测微标尺的介绍,同学自己通过思考、操作,标定测微目镜中每个刻度在不同物镜条件下的实际尺度大小。 定量了解不同放大倍数组合下所观察的实际物理尺度的大小:比如,100×--1.8mm;500× --0.4mm的圆形区域。 根据透镜的几何放大原理,同学们自己确定显微镜分辨能力的主要决定者是谁;同时,根据光的波动性质,解释显微镜最小分辨能力。 要求学生全面掌握金相显微镜的操作技术,并能够在今后的实验中熟练操作实验室所拥有的常规型号的显微镜(4X1型、CK40M型)。 了解孔径光阑、视场光阑的作用以及应用。 针对具体样品,说明明场下“显微镜成像”的基本原理。同时,进一步理解为什么要进行磨光、抛光、腐蚀的操作后,才可以进行显微组织的分析。

金相显微镜使用说明

平和精工汽车配件有限公司 一:目的 为了指导使用人员正确使用及维护此实验仪器,避免因操作失误而影响测量数据的准确性,特制定本操作手册 二:适用范围 本手册只适用于C2003A型金相显微镜使用 三:测量环境: 温度:18~40℃ / 湿度: 55%以下 四:金相显微镜介绍 ●对观察不透明物体的反射照明显微镜一般通称为金相显微镜. ●电脑型金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机通过光电转换有机的结合在一起,不仅可以 在目镜上作显微观察,还能在计算机显示屏幕上观察实时动态图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印 ●金相显微镜的放大原理:显微镜是由两块透镜(物镜和目镜)组成,并借物镜、目镜两次放大、使 物体得到较高的倍数. ●金相显微镜各部件名称 1: 目镜 2:物镜 3:照明推杆4:照明推杆 5:起偏振片 6:视场光栏调节手柄 7:视场光栏调节螺钉 8:滤色片转盘 9:聚光镜调节手柄 10:孔径光栏调节手柄 11:灯箱固定螺钉 12:灯箱

13:三目头 14:粗动手轮 15:微动手轮 16:纵向手轮 17:横向手轮 18:载物台 19:检偏振片推杆 五:照射影像分析前准备 1:确认金相显微镜各配件是否完整无损. 2:确认仪器是否在合格有效期内. 3:试样准备 例如:测量钢材的渗碳层厚度 3-1 对试样进行切割(参照金相切割机操作手册) 3-2 对试样进行镶嵌(参照金相显微镜操作手册) 3-3 对试样进行抛光(参照金相显微镜操作手册) 3-4 对试样进行侵蚀 ( 在某些合金中,由于各相组织物的硬度差别较大,或由于各相本身色泽显著不同,抛光状态下能在显微镜中分辨出它的组织.但大部分的显微组织均需经过不同方向侵蚀,才能显示出各种组织来,常用的 金属组织侵蚀法有化学侵蚀及电解侵蚀法等.)

显微镜知识点及习题

练习使用显微镜 1、显微镜的结构与功能 目镜:放大物像(无螺纹,目长低)—靠近眼睛 镜筒:放置目镜 转换器:转换镜头,调换物镜 物镜:放大物像(有螺纹,物长高)—靠近被观察物体载物台:放置玻片标本 压片夹:固定玻片 通光孔:光线通过 遮光器:有大小不一的光圈,可调节光线强弱。 (光弱—大光圈,光强—小光圈,首先使用大光圈) 反光镜:有平面和凹面。(光弱—凹面,光强—平面)粗准焦螺旋:调节镜筒升降,调节焦距,幅度大 细准焦螺旋:调节镜筒升降,调节焦距,幅度小,可使物像更清晰。 调节光线强弱的结构有___________________________ 调焦的结构有________________________________ 放大物像的结构有_____________________________

2、使用显微镜 取镜安放,对光观察(三转一看) 转动转换器,使低倍物镜对准通光孔三转一看转动遮光器,使大光圈对准通光孔 转动反光镜,使凹面将光线反射 看物像,调节粗、细准焦螺旋 想一想,为什么对光时要用低倍物镜对准通光孔? 3、显微镜中的物像 显微镜中的物像和实物是上下颠倒,左右相反的。 显微镜中物像的移动方向和实物的移动方向是相反的。 如果显微镜视野中有污点,这个污点有可能在___________________________________。 1)要将显微镜视野中“右下方”的物像移动到视野的“中央”,应将载玻片() A.向左上方移动 B.向左下方移动 C.向右下方 移动 D.向右上方有移动 2)若显微镜下观察到的物像暗淡且偏左上方,则能使它明亮并位于视野中央的操作是() A.换用小光圈,玻片向右下方移动 B.换用小光圈,玻片向左上方移动 C.换用大光圈,玻片

期间核查实施办法

期间核查实施规定 一、目的: 保证检测设备量值的准确性、正确性,从而确保产品质量的稳定性、可靠性。 二、范围: 本规定适合公司的检测设备:光谱分析仪、拉力试验机、布氏硬度机、洛氏硬度机、金相显微镜、磁粉探伤机、热处理炉。 三、职责: 检验部门负责期间核查的组织实施 生产部门负责协助期间核查工作的实施。 四、核查要求: 1、光谱分析仪 1.1期间核查条件:温度:18~28℃、相对湿度:<60% 1.2期间核查要求 1.2.1期间核查项目:中低合金钢中元素定量分析 1.2.2.期间核查标准(方法):选取合适标准样品,将所测定元素的测量值与标样值进行比较,观察其RSD值是否小于允许值。 1.3期间核查周期:在两次检定之间对设备进行.期间核查两次,,其中一次是在刚检定以后进行。 1.4期间核查步骤:按相关检验标准操作,处理样品;按操作规程开机,检验进行元素测定;编制期间核查报告。 2、布氏硬度机 2、1期间核查条件:温度:常温 2、2期间核查要求 2.2.1期间核查项目:检查HB3000型布氏硬度计硬度HBW示值的误差 2.2.2核查标准(方法):用二等标准布氏硬度块校准 2.3期间核查周期:在两次检定之间对设备进行期间核查两次,其中一次是在刚检定以后进行 2.4期间核查步骤 2.4.1将二等标准布氏硬度块置于硬度计工作台上,调整硬度计的载荷和压头,使

之符合硬度块上所标明的标尺要求。 2.4.2在标准布氏硬度块上预压两个压痕,不记硬度值,然后至少压一个压痕,如果后(几)个硬度读数的平均值与标准块硬度值之差在GB/T231.2表2中规定的范围 之内时,则认为硬度计合格,如果超差,应进行直接检验。; 2.4.3编制期间核查报告 3、洛氏硬度计 3.1期间核查条件:温度:常温 3.2期间核查要求 3.2.1期间核查项目:检查HR-150型洛氏硬度计硬度HRC示值的误差。 3.2.2核查标准(方法):用二等标准洛氏硬度块校准。 3.3期间核查周期: 在两次检定之间对设备进行期间核查两次,其中一次是在刚检定以后进行。 3.4期间核查作业程序 3.4.1将HR-150型洛氏硬度计总载荷指示标记对准相应硬度块标尺所需的150kgf 线,压头相配。 3.4.2测量标准洛氏硬度块硬度值不少于4点,第一点不计,然后取后几点的算术平均值、计算示值误差,如果后(几)个硬度读数的平均值与标准块硬度值之差在JJG112-83表2 中规定的范围之内时,则认为硬度计合格,如果超差,应进行直接检验。 3.4.3编制期间核查报告 4、金相显微镜 4.1期间核查条件温度 15℃~30℃相对湿度≤70%RH 4.2期间核查要求 4.2.1期间核查项目:校核放大倍数;0.01mm分刻度物镜标准测微尺 4.3期间核查周期 在两次检定之间对设备进行期间核查两次,其中一次是在设备刚检定后不久进行。遇特殊情况可增加期间核查次数。 4.4期间核查程序 4.4.1将0.01mm分刻度物镜标准测微尺放置在显微镜载物台上,又将待检物镜装上并转到工作位置,把带有测微尺的目镜装上,然后对0.01mm分刻度物镜标准测微尺进行调焦,

金相显微镜

金相显微镜 电脑型金相显微镜或是数码金相显微镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成的高科技产品,可以在计算机上很方便地观察金相图像,从而对金相图谱进行分析,评级等以及对图片进行输出、打印。 金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机(数码相机)通过光电转换有机的结合在一起,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机(数码相机)显示屏幕上观察实时动态图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。 光学系统:ICCS光学系统,镜体:FEM设计,ACR位置编码 1、物境倍数:5X10X20X50X100X可选1.25X、2.5X、150X 2、目镜倍数:10X 3、视场数:20、22 4、物镜转盘:5孔 5、观察功能:明场、暗场、简易偏光、微分干涉 6、光源:12V50W卤素灯 7、可扩展性:可配图像分析系统(数码相机、摄像头、图像分析软件 电脑型金相显微镜:1、金相显微镜2、适配镜3、摄像器(CCD)4、A/D(图像采集)5、计算机 数码相机型金相显微镜:1、金相显微镜2、适配镜3、数码相机

金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支,既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征,亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。 特点: 1.采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型(ICCS)光学系统,为用户提供最锐利的图像。 2.采用5种上部部件和3种下部部件及两个立柱组合方式,可根据您对材料检测的要求和经济成本进行任意灵活的组合,可实现对透明材料、不透明材料以及荧光材料的分析,同时具有强大的升级空间,保证您未来的检测要求。 3.业界最大式样高度可达到380毫米的,给您提供非凡的操作空间。 4.贴近用户的灵活性,设备的部件升级无需专业人员,用户可自行操作完成。 放大系统是影响显微镜用途和质量的关键。主要由物镜和目镜组成。 显微镜的放大率为: M显=L/f物×250/f目=M物×M目式中[m1]M显——表示显

偏光显微镜原理方法

偏光显微镜的原理及应用(三) (2010-06-29 10:31:20) 三、光学显微分析方法 光学显微分析是利用可见光观察物体的表面新貌和内部结构,鉴定晶体的光学性质。透明晶体的观察可利用透射显微镜,如偏光显微镜。而对于不透明物体来说就只能使用反射式显微镜,即金相显微镜。利用偏光显微镜和金相显微镜进行晶体光学鉴定,是研究材料的重要方法之一。 偏光显微镜 偏光显微镜是目前研究材料晶相显微结构最有效的工具之一。随着科学技术的发展,偏光显微镜技术在不断地改进中,镜下的鉴定工作逐步由定性分析发展到定量鉴定,为显微镜在各个科学领域中的应用开辟了广阔的前景。 1. 偏光显微镜的构成 偏光显微镜的类型较多,但它们的构造基本相似。下面以XPT—7型偏光显微镜(图2.13)为例介绍其基本构成: 镜臂:呈弓形,其下端与镜座相联,上部装有镜筒。 1、目镜, 2、镜筒, 3、勃氏镜, 4、粗动手轮, 5、微调手轮, 6、镜臂, 7、镜座, 8、上偏光镜, 9、试板孔,10、物镜,11、载物台,12、聚光镜,13、锁光圈,14、下偏光镜,15、反光镜反光镜:是一个拥有平、凹两面的小圆镜,用于把光反射到显微镜的光学系统中去。当进行低倍研究时,需要的光量不大,可用平面镜,当进行高倍研究时,使用凹镜使光少许聚敛,可以增加视域的亮度。 下偏光镜:位于反光镜之上、从反光镜反射来的自然光,通过下偏光镜后,即成为振动方向固定的偏光,通常用PP代表下偏光镜的振动方向。下偏光镜可以转动,以便调节其振动方向。

锁光圈:在下偏光镜之上。可以自由开合,用以控制进入视域的光量。 聚光镜:在锁光圈之上。它是一个小凸透镜,可以把下偏光镜透出的偏光聚敛而成锥形偏光。聚光镜可以自由安上或放下。 载物台:是一个可以转动的圆形平台。边缘有刻度(0-360°),附有游标尺,读出的角度可精确至1/10度。同时配有固定螺丝,用以固定物台。物台中央有圆孔,是光线的通道。物台上有一对弹簧夹,用以夹持光片。 镜筒:为长的圆筒形,安装在镜臂上。转动镜臂上的粗动螺丝或微动螺丝可用以调节焦距。镜筒上端装有目镜,下端装有物镜,中间有试板孔、上偏光镜和勃氏镜。 物镜:由l-5组复式透镜组成的。其下端的透镜称前透镜,上端的透镜称后透镜。前透镜愈小,镜头愈长,其放大倍数愈大。每台显微镜附有3-7个不同放大倍数的物镜。每个物镜上刻有放大倍数、数值孔径(N.A)、机械筒长、盖玻璃厚度等。数值孔径表征了物镜的聚光能力,放大倍数越高的物镜其数值孔径越大,而对于同一放大倍数的物镜,数值孔径越大则分辨率越高。 目镜:由两片平凸透镜组成,目镜中可放置十字丝、目镜方格网或分度尺等。显微镜的总放大倍数为目镜放大倍数与物镜放大倍数的乘积。 上偏光镜:其构造及作用与下偏光镜相同,但其振动方向(以AA表示)与下偏光镜振动方向(以PP表示)垂直。上偏光镜可以自由推入或拉出。 勃氏镜:位于目镜与上偏光镜之间,是一个小的凸透镜,根据需要可推入或拉出。 此外,除了以上一些主要部件外,偏光显微镜还有一些其他附件,如用于定量分析的物台微尺、机械台和电动求积仪,用于晶体光性鉴定的石膏试板、云母试板、石英楔补色器等。 利用偏光显微镜的上述部件可以组合成单偏光、正交偏光、锥光等光学分析系统,用来鉴定晶体的光学性质。 2. 单偏光镜下的晶体光学性质 利用单偏光镜鉴定晶体光学性质时,仅使用偏光显微镜中的下偏光镜,而不使用锥光镜、上偏光镜和勃氏镜等光学部件,利用下偏光镜观察、测定晶体光学性质。单偏光下观察的内容有:晶体形态、晶体颗粒大小、百分含量、解理、突起,糙面、贝克线以及颜色和多色性等。 (1)晶体的形态 每一种晶体往往具有一定的结晶习性,构成一定的形态。晶体的形状、大小、完整程度常与形成条件、析晶顺序等有密切关系。所以研究晶体的形态,不仅可以帮助我们鉴定晶体,还可以用来推测其形成条件。需要注意的是,在偏光显微镜中见到的晶体形态并不是整个立体形态,仅仅是晶体的某一切片。切片方向不同,晶体的形态可完全不同。 在单偏光中还可见晶体的自形程度,即晶体边棱的规则程度。根据其不同的形貌特征可将晶体划分下列几个类型:

显微镜基础知识

显微镜基础知识 第一章:显微镜简史 随着科学技术的进步,人们越来越需要观察微观世界,显微镜正是这样的设备,它突破了人类的视觉极限,使之延伸到肉眼无法看清的细微结构。 显微镜是从十五世纪开始发展起来。从简单的放大镜的基础上设计出来的单透镜显微镜,到1847年德国蔡司研制的结构复杂的复式显微镜,以及相差,荧光,偏光,显微观察方式的出现,使之更广范地应用于金属材料,生物学,化工等领域。 第二章显微镜的基本光学原理 一.折射和折射率 光线在均匀的各向同性介质中,两点之间以直线传播,当通过不同密度介质的透明物体时,则发生折射现像,这是由于光在不同介质的传播速度不同造成的。当与透明物面不垂直的光线由空气射入透明物体(如玻璃)时,光线在其介面改变了方向,并和法线构成折射角。 二.透镜的性能 透镜是组成显微镜光学系统的最基本的光学元件,物镜、目镜及聚光镜等部件均由单个和多个透镜组成。依其外形的不同,可分为凸透镜(正透镜)和凹透镜(负透镜)两大类。 当一束平行于光轴的光线通过凸透镜后相交于一点,这个点称“焦点”,通过交点并垂直光轴的平面,称“焦平面”。焦点有两个,在物方空间的焦点,称“物方焦点”,该处的焦平面,称“物方焦平面”;反之,在像方空间的焦点,称“像方焦点”,该处的焦平面,称“像方焦平面”。 光线通过凹透镜后,成正立虚像,而凸透镜则成正立实像。实像可在屏幕上显现出来,而虚像不能。 三.影响成像的关键因素—像差 由于客观条件,任何光学系统都不能生成理论上理想的像,各种像差的存在影响了成像质量。下面分别简要介绍各种像差。 1.色差(Chromatic aberration) 色差是透镜成像的一个严重缺陷,发生在多色光为光源的情况下,单色光不产生色

认识显微镜的结构及其功能教学设计01

第2单元第3章细胞 第1节细胞的基本结构和协能 第一课时显微镜的构造和使用 教学目标: 知识目标 1、说出普通显微镜主要构件的名称和用途; 2、练习使用显微镜,学会规范的操作方法; 3、尝试使用低倍镜观察生物玻片标本; 能力目标 培养学生的观察能力、动手能力和分析表达力、 情感、态度和价值观 将基础知识的学习与实验操作有机结合,激发学生发现问题,主动学习的兴趣。教学重点 显微镜的使用方法;学生独立操作能力的培养 教学难点 规范使用显微镜,并掌握观察的方法; 课前准备 教师:准备显微镜,载玻片、纱布、擦镜纸。 学生:对照课本p32的图,认识显微镜的各部分名称。 教学过程 教学策略教师活动学生活动设计思路 创设情景

导入新课 1、前面我们已经了解生物多样性,它们所表现的生命特征大同小异,如生长、繁殖等,原来,除病毒外绝大多数生物都是由细胞构成的,细胞是生命活动的基本单位,要想看到细胞,必须要认识显微镜 1、听教师讲解,回顾旧知识。通过对旧知识的回顾,达到温故而知新的目的。 理清脉络 构建框架 (知识积累) 1、组织学生学习室验室规则; 2、用实物来逐一介绍显微镜的各个结构及其用途; 3、教师演示:显微镜的使用步骤; 1、认真听讲,了解室验室的相关规则; 2、边听教师介绍边结合p32图3?—2,来认识显微镜的结构; 3、认真听讲和观察教师的操作方法; 1、为以后有一个好的室验纪律打基础; 2、完成知识目标,为以后的实验打好基础; 3、完成知识目标,为后面的操作奠定基础; 学以致用 (知识运用) 1、要求学生开始进行操作; 2、教师巡视,指导点拨; 1、根据刚才所学到的知识,变理论为实践,动手做实验; 2、有问题的举手请教教师;通过亲自操作加深对显微镜各部分的认识,掌握显微镜的操作方法,完成三维目标; 课堂小结 (知识回顾) 1、引导学生完成p34讨论的1、2、3题;

4--偏光显微镜的基本操作及薄片的制备

4 偏光显微镜的基本操作及薄片的制备 偏光显微镜是对透明矿物的光学性质进行分析和观测的一种光学仪器。通过这种仪器能够比较迅速地对各种矿物相作出鉴定。它是对天然矿石、瓷制品以及其他人造无机固体材料进行相分析的一种十分有效的工具。 一、实验目的 1.了解偏光显微镜的构造、装置、使用与保养方法; 2.学会偏光显微镜的一般调节与校正; 3.了解薄片制作的全过程,并掌握其中关键步骤的操作。 二、实验原理 偏光显微镜的产品种类较多,各类型号虽不尽相同,但基本工作原理相近。各类产品都是由支架系统、光源和起偏系统、载物台系统、光学放大和检偏系统以及附属光学元件等几大部分组成。偏光显微镜的构造如图2.3.1-1所示。 图2.3.1-1 偏光显微镜结构示意图 1.目镜;2.目镜筒;3.勃氏镜手轮;4. 勃氏镜左右调节手轮; 5. 勃氏镜前后调节手轮; 6.检偏镜; 7.补偿器; 8.物镜定位器; 9.物镜座;10.物镜;11.旋转工作台;12.聚光镜;13.拉索透镜; 14.可变光栏;15.起偏镜;16.滤色片;17.反射镜;18.镜架; 19.微调手轮;20.粗调手轮。 三、仪器设备 偏光显微镜,切片机,磨片机,抛光机,抛光粉、无水乙醇,不同标号的磨料及砂纸,自凝牙托水、牙托粉,金属模具。

四、实验容 1.了解偏光显微镜的基本构造 (1)机械部分:镜座、镜壁、镜筒、升降镜筒的粗动及微调螺旋、载物台、载物台固定螺旋及游标尺、薄片固定夹。 (2)光学系统部分:反光镜、下偏光镜、锁光圈、聚光镜、物镜及校正螺丝、试板孔、上偏光镜、勃氏镜、目镜。 (3)附件:物镜校正螺丝、试板(石英试板、石膏试板、云母试板)。 2.学习装卸物镜 物镜一般选用中倍镜,其装卸有两种方法。 (1)弹簧夹型:将物镜上的小钉夹于弹簧夹的凹陷处,即可夹住物镜。 (2)转盘型:先将物镜安装在一个可以转动的圆盘上,再将需要的物镜转到镜筒的正下方,恰至被弹簧卡住为止。 3.调节照明 装上物镜与目镜后,轻轻推出上偏光镜与勃氏镜,打开锁光圈,调节光源至理想视域。4.调节焦距(对焦点) (1)将所观察的薄片置于载物台中心,用薄片夹夹紧(务必使薄片的盖玻片朝上,否则不能做准焦操作)。 (2)从侧面观察,转动粗动调焦螺旋,使镜筒下降或使载物台上升,至镜筒下端的物镜与载物台上的薄片比较靠近为止。若使用高倍物镜时,必须使物镜几乎与薄片接触为止。(3)从目镜中观察,转动粗动调焦螺旋,使镜筒缓缓上升,或使载物台缓缓下降,至视域物像基本清楚,再转动微动调焦螺旋,直至视城物像完全清晰为止。切勿在观察时用粗调手轮调节下降,否则物镜有可能碰到玻片硬物而损坏镜头,特别在高倍时,被观察面(样品面)距离物镜只有0.2~0.5mm,一不小心就会损坏镜头。 准焦以后,物镜前端与薄片平面之间的距离称工作距离(F.W.D.)。工作距离的长短与物镜的放大倍率有关。一般说来,物镜的放大倍率愈小,工作距离愈长,物镜的放大倍率愈大,工作距离愈短。在显微镜的说明书中可以查到不同放大倍率物镜的工作距离。 在调节焦距时,绝不能眼睛看着镜筒而下降镜筒或上升载物台。因为这样很容易使物镜与薄片相碰,不仅压碎薄片而且易损坏物镜。使用高倍物镜时,尤应注意。因为高倍物镜的工作距离很短,准焦后物镜几乎与薄片平面接触。如果薄片上的盖玻璃向下放时,不仅根本不能准焦,而且最容易压碎薄片及损坏物镜。初学者最好先使用低倍或中倍物镜准焦后,再换用高倍物镜准焦。 5.校正中心 在显微光学系统中,载物台旋转轴、物镜中轴和镜筒(目镜)中轴应当严格在一条直线上,

显微镜基础知识及主要参数说明

第一章:显微镜的几个重要光学技术参数 在镜检时,人们总是希望能清晰而明亮的理想图象,这就需要显微镜的各项光学技术参数达到一定的标准,并且要求在使用时,必须根据镜检的目的和实际情况来协调各参数的关系。只有这样,才能充分发挥显微镜应有的性能,得到满意的镜检效果。 显微镜的光学技术参数包括:数值孔径、分辨率、放大率、焦深、视场宽度、工作距离、覆盖差等。这些参数并不都是越高越好,它们之间是相互联系又相互制约的,在使用时,应根据镜检的目的和实际情况来协调参数间的关系,但应以保证分辨率为准。 1.数值孔径:(Numerical aperture)简写NA 数值孔径是判断物镜性能(分辨率,焦深和亮度)的关键要素,计算公式如下: N.A.=n×Sin(u/2) n = 试样与物镜之间介质的折射率(空气:n=1、油:n=1.515) u:孔径角又称“镜口角”,是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度,也是光轴与离物镜中心最远折射光形成的角度。孔径角越大,进入物镜的光通亮就越大,它与物镜的有效直径成正比,与焦点的距离成反比。 空气的折射率为n=1,孔径角最大不能超过180度,否则会因为物镜工作距离等于零而

无法工作。Sin(180/2)=1,所以空气介质的NA值小于1。 显微镜观察时,若想增大NA值,孔径角是无法增大的,唯一的办法是增大介质的折射率n值。基于这一原理,就产生了水浸系物镜和油浸物镜,因介质的折射率n值大于1,NA 值就能大于1。 数值孔径最大值为1.4,这个数值在理论上和技术上都达到了极限。目前,有用折射率高的溴萘作介质,溴萘的折射率为1.66,所以NA值可大于1.4。 这里必须指出,为了充分发挥物镜数值孔径的作用,在观察时,聚光镜的NA值应等于或略大于物镜的NA值,数值孔径与其他技术参数有着密切的关系,它几乎决定和影响着其他各项技术参数。它与分辨率成正比,与放大率成正比,与焦深成反比,NA值增大,视场宽度与工作距离都会相应地变小。 2.分辨率(Resolving power)

金相显微镜使用介绍

实验一利用金相显微镜观察金属的显微组织 一、实验目的 1、能正确地掌握基本的金相显微分析方法,正确地使用金相显微镜观察和分析金属显微组织。 2、分析含碳量对铁碳合金显微组织的影响,从而加深理解成分、组织与性能之间 的相互关系。 3、了解铸铁和部份有色金属的显微组织。 二、实验内容: 1、根据铁碳合金相图分析各类成分合金的组织形成过程,并通过对铁碳合金平衡组织的观察和分析,熟悉钢和铸铁的金相组织和形态特征,以进一步建立成分与组织之间相互关系的概念。 2、在金相显微镜下对各种试样进行观察和分析,并确定其所属类型。 3、对碳钢(纯铁、20#钢、45#钢、T8钢、T10钢、T12钢)平衡状态下的组织进行观察,分析含碳量不同时的组织变化、并初步绘制出其显微组织图像。 4、观察铸铁(灰口铁、可锻铸铁、球墨铸铁)显微组织中石墨的典型形状。 5、观察了解有色金属(铝ZL102、黄铜H70)的显微组织。 三、实验设备的使用和注意事项: (一)金相显微镜的构造和使用 1、金相显微镜的构造 本实验使用的金相显微镜的型号为4X型。它由光学系统、照明系统和机械系统三大部分组成。 金相显微镜的光学系统如图(一)所示。由灯泡1发出的光线经聚光透镜组2及反光镜8聚集到孔径光栏9,再经过聚光镜3聚集到物镜的后焦面,最后通过物镜平行照射到试样7的表面。从试样反射回来的光线复经物镜组6和辅助透镜5,由半反射镜4转向,经过辅助透镜以及棱镜造成一个被观察物体的倒立的放大实象,该象再经过目镜15的放大,就成为在目镜的视场中能看到的放大映象。

图(一)4X 型金相显微镜的光学系统图(二)4X型金相显微镜的外形结构图4X型金相显微镜的外形结构如图(二)所示。现分别介绍其各部件的功能及使用。 照明系统:在底座内装有一低压(6~8V,15W)灯泡作为光源,由变压器降压供电,靠调节次级电压(6~8V)来改变光的亮度。聚光镜、孔径光栏及反光镜等装置均安装在圆形底座上,视场光栏及另一聚光镜则安在支架上,它们组成显微镜的照明系统,使试样表面获得充分、均匀的照明。 显微镜调焦装置:在显微镜体的两侧有粗动的微动调焦手轮,两者在同一部位。随粗调手轮6的转动,支承载物台的弯臂作上下运动。在粗调手轮的一侧有制动装置,用以固定调焦正确后载物台的位置。微调手轮5使显微镜本体沿着滑轨缓慢移动。在右侧手轮上刻有分度格,每一格表示物镜座上下微动0.002毫米。与刻度盘同侧的齿轮箱上刻有二条白线,用以指示微动升降范围,当旋到极限位置时,微动手轮就自动被限制住,此时,不能再继续旋转而倒转回来使用。 载物台(样品台):用于放置金相样品,载物台和下面托盘之间有导架。用手推动,可使载物台在水平面上作一定范围的十字定向移动,以改变试样的观察部位。 孔径光栏和视场光栏:孔径光栏装在照明反射镜座上面,调整孔径光栏能够控制入射光束的粗细,以保证物象达到清晰的程度。视场光栏设在物镜支架下面,其作用是控制视场范围,使目镜中视场明亮而无阴影。在刻有直纹的套圈上还有两个调节螺钉,用来调整光栏中心。 物镜转换器:转换器呈球面形,上有三个螺孔,可安装不同放大倍数的物镜,旋动转换器可使各物镜镜头进入光路,与不同的目镜搭配使用,可获得各种放大倍数。 目镜筒:目镜筒呈现45°倾斜安装在附有棱镜的半球形座上,还可将目镜转向90°呈水平状态以配合照相装置进行金相摄影。 2、金相显镜的使用方法及注意事项 金相显微镜是一种精密的光学仪器,使用时要求细心谨慎。在使用显微镜工作之前首先应熟悉其构造特点及各主要部件的相互位置和作用,然后按照显微镜的使用规则进行操作。 (1)金相显微镜的使用规程: 1)首先将显微镜的光源插头插在变压器上,通过低压(6~8V)变压器通电源。 2)根据放大倍数选用所需的物镜和目镜,分别安装在物镜座上及目镜筒内,并使转换器转至固定位置(由定位器定位)。 3)试样放在样品台中心,使观察面朝下并用弹簧片压住。 4)转动粗调手轮先使载物台下降,同时用眼观察,使物镜尽可能接近试样表面(但不 得与试样相碰),然后相反转动粗调手轮,使载物台渐渐上升以调节焦距,当视场亮度增强

偏光显微镜使用

火山岩岩矿鉴定简易手册 (一)偏光显微镜的使用与调节 1 熟悉偏光显微镜的构造、装置、使用和维护保养方法 2 调节照明(对光) (1)装上低倍或中倍物镜,打开锁光圈,轻轻推出上偏光镜、勃氏镜及聚光镜 (2)转动反光镜至视域最亮为止。如果总是对不亮,可以轻轻抽出目镜或推入勃氏镜,然后转动反光镜至视域内看到光源为止。此时加上目镜或推出勃氏镜,视域必然最亮。 3 调节焦距(准焦) (1)将一薄片置于载物台上(注意必须使盖玻璃朝上),用弹簧夹夹住。 (2)从侧旁看物镜镜头,转动粗动螺丝,使镜筒下降,至物镜到最低位置(注意切勿压碎薄片)。 (3)从目镜中观察,同时转动粗动螺丝,使镜筒上升,当视域中刚刚出现物象时,改用微动螺丝,使物象清晰为止。 (4)换用高倍物镜,用同法调节焦距。 在调节焦距时,绝不能眼睛看着目镜下降镜筒,因为这样很容易压碎薄片并损坏物镜。在调节高倍物镜焦躁时,尤应注意。因为高倍物镜的焦躁很短,镜头几乎与薄片接触,若薄片盖玻璃朝下时,不但无法准焦,而且常有压碎薄片,割伤镜头的事故发生。 4 校正中心 在校正中心前,必须检查接物镜位置是否正确,如物镜没有安装在正确位置上,中心不但不能校正,而且往往容易损坏物镜和校正螺丝。校正中心时,如发现螺丝

旋转费力,或失效时,应立即报告,请求指导,切勿强力扭动。校正中心的方法,参阅教材的有关部分。 二颜色和多色性的观察,解理及解理夹角的测量 1 确定下偏光镜的振动方向 观察许多光学现象,必须知道下偏光镜的振动方向。为此,在进行单偏光镜下的晶体光性研究之前,必须确定下偏光镜振动方向,并使之固定,不要轻易改变。 (1)在一薄片中选择一个具清晰解理的黑云母,置视域中心。 (2)旋转物台使黑云母解理缝与东西十字丝平行。此时如果云母颜色最深,则东西十字丝方向即为下偏光镜振动方向。否则,则需转动下偏光镜,至黑云母颜色最深为止。 2 颜色、多色性及吸收性的观察 (1)使薄片中黑云母分别置视域中心,旋转物台使黑云母解理缝、电气石延长方向平行下偏光镜振动方向,观察颜色并注意颜色浓度。 (2)再旋转物台90度使解理缝或延长方向与下偏光镜振动方向垂直,观察颜色,并注意深浅变化。 (3)使黑云母解理或电气石延长方向与下偏光镜振动方向斜交,观察矿物颜色及其浓度,此时颜色及颜色浓度介于上述两种情况之间。 (4)将不具解理的黑云母,近于三角形的电气石切面置视域中心,旋转物台,观察颜色、浓度的变化。 (5)使角闪石具一组解理,两组解理的切片,分别置视域中心,旋转物台,观察颜色浓度的变化。 3 解理的观察及解理夹角的测量

显微镜的知识总结及常考知识点

生物科学:显微镜的知识总结 有关显微镜的知识在生物学中非常重要,也多次考过,现将有关知识总结如下: 1、若要把视野中上方的物像移到视野的正中心,则要将装片继续向上移动。若要把视野中左方的物像移到视野的正中心,则要将装片继续向左方移动,因为显微镜视野中看到的是倒像。 2、换高倍物镜后,应调节细准焦螺旋使物像变得清晰;视野会变暗,可调大光圈或改用反光镜的凹面镜来使视野变亮。 3、目镜越长,放大倍数越小;物镜越长,放大倍数越大。 4、物镜与载玻片之间的距离越小,放大倍数越大。 5、总放大倍数等于目镜放大倍数与物镜放大倍数的乘积;放大倍数是指细小物体长度或宽度的放大倍数。 6、放大倍数越大,视野中细胞越大、数目越少、视野越暗。 7、更换目镜,若异物消失,则异物在目镜上;更换物镜,若异物消失,则异物在物镜上、移动载玻片,若异物移动,则异物在载玻片上。 8、如何区别显微镜视野中的细胞核和液泡?一般来说,细胞核透光性不好,是深色的,液泡是浅色的。 此外仔细观察,液泡中液体是流动的,细胞核里面的结构是固定的,看起来有杂质的样子。1.显微镜的放大倍数等于目镜的放大倍数与物镜的放大倍数的乘积。放大倍数指的物体的宽度和长度的放大倍数,而不是面积和体积的放大倍数。 例1.一个细小物体若被放大50倍,这里“被放大50倍”是指该细小物体的() A.体积B.表面积C.像的面积D.长度或宽度 例2.如果使用10倍的目镜和10倍的物镜在视野中央观察到一个细胞,在只换40倍物镜的情况下,该细胞的物象比原先观察到的细胞直径放大了() A.4倍B.16倍C.100倍D.400倍 2.掌握目镜和物镜的结构特点以及镜头长短与放大倍数之间的关系。 目镜是无螺纹的,物镜是有螺纹的;镜头长度与放大倍数的关系:目镜的长度与放大倍数成反比,物镜的长度与放大倍数成正比;物镜越长与装片之间的距离就越短,物镜越短与装片之间的距离就越长。 例1.有一架光学显微镜的镜盒内有2个镜头,甲的一端有螺纹,乙无螺纹,甲乙分别为()A.目镜、物镜B.物镜、目镜C.均为物镜D.均为目镜答案:B 例2.显微镜头盒中的4个镜头。甲、乙镜头一端有螺纹,丙、丁皆无螺纹。甲镜头长3厘米,乙镜头长5厘米,丙镜头长3厘米,丁镜头长6厘米。请问:使用上述镜头观察某装片,观察清楚时物镜与装片之间距离最近的是;在同样的光源条件下,视野中光线最暗的一组镜头是。 解析:根据显微镜的结构可知,甲、乙镜头一端有螺纹为物镜,丙、丁无螺纹为目镜。物镜

金相显微镜检测高碳铬轴承钢总脱碳层厚度不确定度评定方法

金相显微镜检测高碳铬轴承钢总脱碳层厚度 测量不确定度评定方法 1 被测对象 直径为φ32的GCr15样品。 使用Axiovert 40 MAT型金相显微镜,放大倍率的不准确性为±1%。 2 引用文献 JJF 1059—1999 测量不确定度评定与表示 JJG 012—1996 金相显微镜检定规程 GB/T224—2008 钢的脱碳层深度测定法 3 环境条件 显微镜在下列条件下检定并正常工作: 1)室温15℃~30℃; 2)环境清洁,无震动;周围无腐蚀性气体; 3)安装在稳固的基础上,并调至水平。 4 测量基准 采用直径为φ38的GCr15样品。 5 测量过程 根据高碳铬轴承钢标准GB/T18254-2002,脱碳层深度按GB/T224-2008《钢的脱碳层深度测定法》标准检验。将样品置于显微镜下,在100×的镜头下观察,选出具有代表性的5个区域,每个区域进行5次测量,共得25个数据。按同样的方法,进行5人次测量。测量时,首先将测量位置清晰聚焦,然后从标尺上读取数据。。 6 评定结果的使用 在室温条件下高碳铬轴承钢总脱碳层厚度测量可使用本不确定度的评定结果。 7 数学模型 Y=X 式中:Y—被测试样的总脱碳层厚度读出值 X—被测试样的总脱碳层厚度检测结果 8 标准不确定度分量的评定 8.1由样品脱碳层本身的不均匀性及测定时的重复性所引入的不确定度分量u1(x)

对选定的GCr15样品进行脱碳层深度的测定,选择样品的5个区域,共进行了25次测定,数据见表1。 标准差为: 1s = (1) 为增加可靠性,在相同的测量条件下,另由4名本实验室人员对该样进行了测定,另4组测定结果见表2。 表2 GCr15样品脱碳层深度测定

宝石矿物偏光显微镜鉴定专业知识

1.传播速度与物质折射率关系说法正确的是( A.传播速度越大,折射率越小) 2.光的振动方向与传播方向( B.垂直) 3.不属于光性均质体的是(C.锆石)。 4.方解石为一轴负晶,问斜交C轴的切片上,慢光的振动方向是 D.No )。 5.同种矿物的不同颗粒,测定的光性符号( D.一定相同)。 6.二轴晶的光轴面是( C.Ng-Np面)。 7.单斜晶系的光性方位是( B.b轴与光率体3个主轴之一重合,其余两个结晶轴与另两个主轴斜交)。 8.正交偏光镜间干涉结果相互削减( A A.R=nλ)。 9.矿物突起说法正确的是(A.无论是正突起还是负突起,矿物表面都是突起来的)。10.光率体椭圆半径与解理缝或双晶缝之间的夹角称为(B.消光角 B )。11.某矿物Ng-Np=0.018,Ng-Nm=0.008.则该矿物为( C C.二轴负晶)。 12.两矿片在正交偏光镜下45°的干涉色( D.不一定都低)。13某颗粒在正交偏光镜下为全消光,则该矿物颗粒( D.是均质体矿物或非均质体矿物垂直光轴切面)。 14.花岗岩显示干涉色为( C C.I级暗灰)。15.在正交偏光下矿物呈现高级白干涉色的原因是( B B.双折率高)。16.在试板孔中插入云母试板,转动物台一周的过程中,可观测到下列哪种情况( A.二次黄、二次蓝、四次灰白)17.某一轴负晶矿物No=1.658,Ne=1.485,该矿物在垂直光轴和平行光轴切面上的突起类型分别为( A.正中突起和闪突起)。18.云母试板适用于( B B.II级黄以上)干涉色的鉴定。19.矿物的多色性在下列哪种切面上最不明显(C.垂直光轴切面 C )。20.二轴晶光率体平行光轴面切片的干涉图特征是( D.闪图或瞬变干涉图)。 21.二轴晶除了⊥Bxa、⊥Bxo、⊥OA的切片外,能观察到Nm的切面有( D. 有无数个) 22.刚玉为一轴负晶,问斜交C轴的切片上,慢光的振动方向是( A A.No) 23.刚玉为一轴负晶,问斜交C轴的切片上,快光的振动方向是( D D.Ne' ) 24.将石英颗粒置于N=1.70的浸油中,该矿物的突起是( B B.负高突起) 25.两矿片在正交偏光镜下45°位置重叠时,其光率体椭圆半径的同名半径平行时,看到的干涉色比原来两矿片的干涉色( B.一定都高)26.判断矿物为均质体,只根据 B.任何切面都无干涉图)27.在一个双折射的矿物晶体中,沿光轴方向传播的光是( D.单折射的)。28.光率体主轴与3个结晶轴之间的关系称为(D.光性方位D )。29.花岗岩中长石颗粒显示干涉色为(D.I级暗灰)。30.垂直光轴切面在正交偏光下插入石膏(A.I级紫红A )31.在普通角闪石平行(010)切面上测得角闪石的消光角应记为(A.Ng∧Z )。32.石膏试板适用于( C C.II级黄以下)干涉色的鉴定。33.自然光转变为偏振光的作用过程中不包括( C.透射C )34.光性非均质体不包括( A A.尖晶石) 35.对双折射产生的两束偏光描述不正确的是( B ) A.振动方向垂直 B.振动方向平行 C.传播速度不同 D.相应折射率不等 36.晶体中不发生双折射的特殊方向称为( D )。 A.光学主轴 B.光率体主轴 C.法线 D.光轴 37.电气石晶体中有( A )根光轴。 A.1 B.2 C.3 D.无数 38.橄榄石晶体中有( B )根光轴。 A.1 B.2 C.3 D.无数 39.萤石晶体中有( D )根光轴。 A.1 B.2 C.3 D.无数 40.光波沿石英垂直光轴方向射入分解出的两束偏光中,( A )传播速度较大。 A.常光 B.非常光 C.偏光 D.单色光 41.光波沿电气石垂直光轴方向入射分解出的两束偏光中,( B )传播速度较大。 A.常光 B.非常光 C.偏光 D.单色光 42.光波沿石英垂直光轴方向射入分解出的两束偏光中,( B )折射率较大。 A.常光 B.非常光 C.偏光 D.单色光 43.光波沿电气石垂直光轴方向入射分解出的两束偏光中,( A )折射率较大。

显微镜有关知识总结

显微镜有关知识总结 一、认识显微镜各部分的结构 二、显微镜的使用方法 1、取镜与安放 右手握镜臂,左手托镜座,保持镜身直立,放在自己身体的左前方。 2、对光 1)转动转换器,使低倍镜正对通光孔; 2)转动遮光器,使一个较大的光圈正对通光孔; 3)左眼注视目镜,右眼睁开,用手转动反光镜,对向光源,直至看到一个明亮的视野。 3、低倍镜的使用

1)放置装片 升高镜筒,把玻片标本放在载物台中央,用压片夹压住。 2)调焦 两眼从侧面注视物镜,转动粗准焦螺旋,让镜筒徐徐下降,直至物镜距玻片2-5mm处,然后左眼注视目镜,右眼睁开。转动粗准焦螺旋,使镜筒缓缓上升,直到看清物像为止。 3)低倍镜下观察 4、高倍镜的使用 在低倍物镜下将需要放大观察的标本部位移至视野中央,然后转动转换器,将高倍物镜对准通光孔正中央,直接调细准焦螺旋,直到看清物像。 5、使用后的整理 观察结束,应先将镜筒升高,再取下切片,然后转动转换器,使物镜与通光孔错开,做好清洁工作。再下降镜筒,使两个物镜位于载物台上通光孔的两侧,呈八字形。放回镜箱。 三、几个重要知识点: 1、显微镜的放大倍数等于目镜的放大倍数与物镜的放大倍数的乘积。放大倍数指的物体的宽度和长度的放大倍数,而不是面积和体积的放大倍数。 例1.一个细小物体若被放大50倍,这里“被放大50倍”是指该细小物体的() A.体积B.表面积C.像的面积D.长度或宽度

【答案:D】 例2.如果使用10倍的目镜和10倍的物镜,在视野中央观察到一个细胞。在只换40倍物镜的情况下,该细胞的物象比原先观察到的细胞直径放大了() A.4倍B.16倍C.100倍D.400倍 【答案:A】 2、掌握目镜和物镜的结构特点以及镜头长短与放大倍数之间的关系。目镜是无螺纹的,物镜是有螺纹的;镜头长度与放大倍数的关系:目镜的长度与放大倍数成反比,物镜的长度与放大倍数成正比;物镜越长,与装片之间的距离就越小;物镜越短,与装片之间的距离就越大。例1.有一架光学显微镜的镜盒内有2个镜头,甲的一端有螺纹,乙无螺纹,甲乙分别为() A.目镜、物镜B.物镜、目镜 C.均为物镜D.均为目镜 【答案:B】 例2.显微镜头盒中的4个镜头。甲、乙镜头一端有螺纹,丙、丁皆无螺纹。甲镜头长3厘米,乙镜头长5厘米,丙镜头长3厘米,丁镜头长6厘米。请问:使用上述镜头观察某装片,观察清楚时物镜与装片之间距离最近的是;在同样的光源条件下,视野中光线最暗的一组镜头是。 解析:根据显微镜的结构可知,甲、乙镜头一端有螺纹,为物镜。丙、丁无螺纹,为目镜;物镜越长,放大倍数越大,工作距离越短,即与

金相显微镜图象分析系统

《金相图象分析系统》是为从事金相检验的单位或个人专项开发的一套计算机软件系统。应用金相分析检验系统,用户可以迅速,准确地完成金相图像采集 ,图像处理,图像数据获取,评定级别以及资料的保存,打印等工作,不但大大提高工作效率,还能够完成许多过去用人工方法几乎无法完成的检验工作,是冶金行业生产,教学,科研人员的得力助手和必备工具。 主要功能: 图像采集:将显微镜的视场图像通过CCD传感器+视频采集卡或数码相机输入计算机,保存为金相图片。同时提供用户按照指定的放大倍数打印图象的功能,这两项功能配合使用,可省去复杂烦琐的金相摄影、洗相等暗室工作,大大提高了工作效率。 图像处理:提供以下方法处理显微镜采集的视场图像,使其更加符合图像分析的需要 1、区域处理:从视频图像中选择任意一个分析区域,软件系统只对所选区域进行分析处理并评定级别,区域外的图像均被忽略。 2、亮度调整:加亮或变暗整个图像。 3、调整对比度:调整图像中明暗之间的差别。 4、颜色调整:单独调整图像中红,绿,蓝三种颜色的深浅。 5、转换为灰度图像:把彩色图像变换为有256种深度的灰色图像。 6、锐化:放大图像中色彩之间的差别,使图像中原来模糊的部分变得更清晰。 7、柔化:缩小图像中色彩之间的差别,使图像中原来清晰的部分变得更模糊。 8、过缘增强;加亮图像中色彩变化较大的分界线,同时把其他颜色变暗。 9、边缘检测:加亮图像中色彩变化较大的分界线。 10、中值滤波去噪:图像色彩变化较大时,增大其中色彩较暗的像素,缩小图像中色彩较亮的像素,使其保持中间值。 11、二值化处理:根据临界值把图像转换为只有黑色和白色两种颜色的图像。 12、去除杂点:把图像中独立的黑色点变成白色。 13、断线处理:把断开的线连接起来,或延长断线。

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